CN103425582A - 一种qpi总线信号完整性测试方法 - Google Patents
一种qpi总线信号完整性测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103425582A CN103425582A CN2013103652835A CN201310365283A CN103425582A CN 103425582 A CN103425582 A CN 103425582A CN 2013103652835 A CN2013103652835 A CN 2013103652835A CN 201310365283 A CN201310365283 A CN 201310365283A CN 103425582 A CN103425582 A CN 103425582A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- qpi
- testing
- margin
- voltage
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
本发明公开了一种QPI总线信号完整性测试方法,步骤如下:首先在机器上增加CPUXDP接口,通过该接口形成一个完整的QPI数据采集回路;通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接;若测试结果为Pass,则连接正确;若结果为Fail,则有问题,需要重新确认;然后通过测试软件自动进行Voltage及Timing的Margin采集,采集完毕后会显示Complete;测试完毕后导出测试结果,当Voltage的margin要大于等于15.7,Timing的margin要大于等于10.25时,测试通过。本发明的测试方法减小了人为操作带来的误差,提升了测试的准确度;避免了重复操作,提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及Intel架构服务器领域,具体地说是一种QPI总线信号完整性测试方法。
背景技术
QPI全称为QuickPath Interconnect,译为快速通道互联,是Intel提出的CPU之间互联的通道。QPI是一种基于包传输的串行式高速点对点连接协议,采用差分信号与专门的时钟进行传输。一组QPI具有20条数据传输线,以及发送(TX)和接收方(RX)的时钟信号。
在Intel Romley平台,QPI速率已经高达8GT/s,随着QPI速率的提升,出现信号完整性问题的风险也随之增大。传统的测试方法依赖示波器,传统的测试方法需要人为反复操作,不但测试的工作效率很低,而且因为人为操作带来的误差导致测试数据不准确,需要多次校对才能采纳测试数据。
发明内容
本发明的技术任务是提供一种QPI总线信号完整性测试方法。
本发明的技术任务是按以下方式实现的,该方法步骤如下:首先在机器上增加CPU XDP接口,通过该接口形成一个完整的QPI数据采集回路;通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接;通过测试软件可以确认连接是否正确,若测试结果为Pass,则连接正确;若结果为Fail,则连接可能有问题,需要重新确认;
测试软件的测试结果为Pass后建立QPI测试脚本,在脚本中选择要测试的数据线及端口信息;脚本建立完毕后保存并运行,测试软件会自动进行Voltage及Timing的Margin采集,采集完毕后会显示Complete;测试完毕后导出测试结果,根据Intel要求分析测试结果,看是否满足测试需求,当Voltage的margin要大于等于15.7,Timing的margin要大于等于10.25时,测试通过。
所述的测试软件使用ASSET ScanWorks。
所述的Voltage为QPI信号的电压值,相当于量测QPI信号眼图的眼高。
所述的Timing为QPI信号的时序,相当于量测QPI信号眼图的眼宽。
本发明的一种QPI总线信号完整性测试方法和现有技术相比,这种测试方法不像传统的测试方法依赖示波器,仅用一个XDP治具和测试软件便能完成测试,这种方法大大减小了人为操作带来的误差,提升了测试的准确度;且一次就可以把20条数据线测试完成,避免了重复操作,提高了测试效率。
附图说明
附图1为一种QPI总线信号完整性测试方法的流程图。
具体实施方式
实施例1:
在机器上增加CPU XDP接口,确认XDP的TD1及TDO接口分别连接到CPU0及CPU1,使QPI有一个完整的数据采集回路,然后运行ASSET ScanWorks软件的SPV(Scan Path Verify,译为扫描路径验证)可以确认连接是否正确,若SPV结果为Pass,则连接正确,若结果Fail,则连接可能有问题,需要重新确认。
SPV结果为Pass后可以建立QPI测试脚本,在脚本中选择要测试的数据线及端口等信息;脚本建立完毕后保存并运行,ASSET ScanWorks会自动进行Voltage及Timing的Margin(余量)采集,所述的Voltage为QPI信号的电压值,相当于量测QPI信号眼图的眼高,所述的Timing为QPI信号的时序,相当于量测QPI信号眼图的眼宽,采集完毕后会显示Complete;测试完毕后导出测试结果:Voltage的margin等于15.7,Timing的margin等于10.25,可判断为测试通过。
实施例2:
在机器上增加CPU XDP接口,确认XDP的TD1及TDO接口分别连接到CPU0及CPU1,使QPI有一个完整的数据采集回路,然后运行ASSET ScanWorks软件的SPV(Scan Path Verify,译为扫描路径验证)可以确认连接是否正确,若SPV结果为Pass,则连接正确,若结果Fail,则连接可能有问题,需要重新确认。
SPV结果为Pass后可以建立QPI测试脚本,在脚本中选择要测试的数据线及端口等信息;脚本建立完毕后保存并运行,ASSET ScanWorks会自动进行Voltage及Timing的Margin(余量)采集,所述的Voltage为QPI信号的电压值,相当于量测QPI信号眼图的眼高,所述的Timing为QPI信号的时序,相当于量测QPI信号眼图的眼宽,采集完毕后会显示Complete;测试完毕后导出测试结果:Voltage的margin等于17,Timing的margin等于12,可判断为测试通过。
实施例3:
在机器上增加CPU XDP接口,确认XDP的TD1及TDO接口分别连接到CPU0及CPU1,使QPI有一个完整的数据采集回路,然后运行ASSET ScanWorks软件的SPV(Scan Path Verify,译为扫描路径验证)可以确认连接是否正确,若SPV结果为Pass,则连接正确,若结果Fail,则连接可能有问题,需要重新确认。
SPV结果为Pass后可以建立QPI测试脚本,在脚本中选择要测试的数据线及端口等信息;脚本建立完毕后保存并运行,ASSET ScanWorks会自动进行Voltage及Timing的Margin(余量)采集,所述的Voltage为QPI信号的电压值,相当于量测QPI信号眼图的眼高,所述的Timing为QPI信号的时序,相当于量测QPI信号眼图的眼宽,采集完毕后会显示Complete;测试完毕后导出测试结果:Voltage的margin等于14,Timing的margin等于9,可判断为测试没通过,需要查找问题所在,解决问题后重新测试。
Claims (4)
1.一种QPI总线信号完整性测试方法,其特征在于,首先在机器上增加CPU XDP接口,通过该接口形成一个完整的QPI数据采集回路;通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接;通过测试软件可以确认连接是否正确,若测试结果为Pass,则连接正确;若结果为Fail,则连接可能有问题,需要重新确认;
测试软件的测试结果为Pass后建立QPI测试脚本,在脚本中选择要测试的数据线及端口信息;脚本建立完毕后保存并运行,测试软件会自动进行Voltage及Timing的Margin采集,采集完毕后会显示Complete;测试完毕后导出测试结果,根据Intel要求分析测试结果,看是否满足测试需求,当Voltage的margin要大于等于15.7,Timing的margin要大于等于10.25时,测试通过。
2.根据权利要求1所述的一种QPI总线信号完整性测试方法,其特征在于,所述的测试软件使用ASSET ScanWorks。
3.根据权利要求1所述的一种QPI总线信号完整性测试方法,其特征在于,所述的Voltage为QPI信号的电压值,相当于量测QPI信号眼图的眼高。
4.根据权利要求1所述的一种QPI总线信号完整性测试方法,其特征在于,所述的Timing为QPI信号的时序,相当于量测QPI信号眼图的眼宽。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2013103652835A CN103425582A (zh) | 2013-08-19 | 2013-08-19 | 一种qpi总线信号完整性测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2013103652835A CN103425582A (zh) | 2013-08-19 | 2013-08-19 | 一种qpi总线信号完整性测试方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103425582A true CN103425582A (zh) | 2013-12-04 |
Family
ID=49650365
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2013103652835A Pending CN103425582A (zh) | 2013-08-19 | 2013-08-19 | 一种qpi总线信号完整性测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN103425582A (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103646140A (zh) * | 2013-12-05 | 2014-03-19 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种基于numa计算机体系结构的xdp设计方法 |
CN104182317A (zh) * | 2014-08-20 | 2014-12-03 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种dmi总线信号完整性测试方法 |
CN105045697A (zh) * | 2015-06-24 | 2015-11-11 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种pcie信号完整性测试系统和方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102439888A (zh) * | 2011-09-05 | 2012-05-02 | 华为技术有限公司 | 一种快速通道互连链路监控方法和设备及系统 |
CN102681925A (zh) * | 2011-03-10 | 2012-09-19 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 串行外围设备接口总线测试系统及方法 |
CN102739472A (zh) * | 2012-06-29 | 2012-10-17 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种服务器高频数据传输的稳定性测试方法 |
-
2013
- 2013-08-19 CN CN2013103652835A patent/CN103425582A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102681925A (zh) * | 2011-03-10 | 2012-09-19 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 串行外围设备接口总线测试系统及方法 |
CN102439888A (zh) * | 2011-09-05 | 2012-05-02 | 华为技术有限公司 | 一种快速通道互连链路监控方法和设备及系统 |
CN102739472A (zh) * | 2012-06-29 | 2012-10-17 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种服务器高频数据传输的稳定性测试方法 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
ALAN SGUIGNA: ""Embedded instruments unlock validation & test for Xeon 5500 processor boards"", 《HTTP://WWW.EMBEDDED.COM/DESIGN/TEST-AND-MEASUREMENT/4207424/EMBEDDED-INSTRUMENTS-UNLOCK-VALIDATION---TEST-FOR-XEON-5500-PROCESSOR-BOARDS》 * |
JAY NEJEDLO等: ""Intel® IBIST,the full vision realized"", 《2009 INTERNATIONAL TEST CONFERENCE》 * |
RICHARDSON: ""New white paper reveals shrinking eye diagrams and signal integrity problems on high-speed buses"", 《HTTP://WWW.ASSET-INTERTECH.COM/COMPANY/PRESS/PRESS-RELEASE/NEW-WHITE-PAPER-REVEALS-SHRINKING-EYE-DIAGRAMS-AND-SIGNAL-INTEGRITY》 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103646140A (zh) * | 2013-12-05 | 2014-03-19 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种基于numa计算机体系结构的xdp设计方法 |
CN103646140B (zh) * | 2013-12-05 | 2017-02-08 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种基于numa计算机体系结构的xdp设计方法 |
CN104182317A (zh) * | 2014-08-20 | 2014-12-03 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种dmi总线信号完整性测试方法 |
CN105045697A (zh) * | 2015-06-24 | 2015-11-11 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种pcie信号完整性测试系统和方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102169846B (zh) | 一种在集成电路晶圆测试过程中实现多维变量密码并行写入的方法 | |
CN108535631A (zh) | 一种测试芯片内部信号眼图的测试方法及系统 | |
CN101770417B (zh) | 基于jtag的硬件故障注入系统及故障注入方法 | |
CN102222032B (zh) | 一种1394总线的故障注入装置的故障注入方法 | |
CN104569794A (zh) | 一种基于边界扫描结构的fpga在线测试仪及测试方法 | |
CN107491369A (zh) | 一种快速pcie3.0信号完整性的检测方法及系统 | |
CN113014339B (zh) | PCIe外插卡接收通道的质量测试方法、装置及设备 | |
CN104008033A (zh) | I2c总线测试系统及方法 | |
CN103425582A (zh) | 一种qpi总线信号完整性测试方法 | |
CN105515893A (zh) | 一种确定采样点位置的方法 | |
CN103675576B (zh) | 基于边界扫描的芯片连接测试系统及其方法 | |
CN108776723B (zh) | 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质 | |
CN114740329A (zh) | 数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪 | |
CN104793097A (zh) | 无人机线缆网自动测试系统及测试方法 | |
CN204129151U (zh) | 触摸屏测试机 | |
CN104182317B (zh) | 一种dmi总线信号完整性测试方法 | |
CN107765202A (zh) | 集成电路测试系统中交流测量单元的在线校准系统及方法 | |
CN106257257A (zh) | 一种检测光模块星座图的方法、装置及虚拟矢量分析仪 | |
CN110212996A (zh) | 频谱仪校准系统、并行校准方法及自动排配校准方法 | |
KR101192556B1 (ko) | 디지털 회로 검증시스템 설계방법 및 그 검증시스템 | |
CN113949654A (zh) | 一种用于m.2接口的测试治具及其使用方法 | |
CN107908912A (zh) | 一种自动检查线路电源与地连接的方法 | |
CN106897504A (zh) | 对ip模块进行开发形成参数化单元的方法 | |
CN107872358B (zh) | 一种针对hdlc协议的自动化仿真测试方法 | |
CN112198422A (zh) | 一种高速信号频率测量与信号完整性的测试方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20131204 |
|
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |