CN104182317B - 一种dmi总线信号完整性测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种DMI总线信号完整性测试方法,在设计的板卡上增加一个CPU?XDP接口,通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路;测试软件使用Intel?EVTS,通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接;通过测试软件不断调整电压及时序,找出电压的余量和时序的余量,再根据Intel规范中,对电压及时序余量值的要求,来确认实际DMI信号是否符合设计要求。该测试方法不像传统的测试方法依赖示波器,仅用一个XDP治具和测试软件便能完成测试,相对于用示波器进行测试,这种方法大大减小了人为操作带来的误差,提升了测试的准确度;且一次就可以把4条数据线测试完成,避免了重复操作,提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,具体涉及一种DMI总线信号完整性测试方法。
背景技术
DMI全称为DirectMediaInterface,即直接媒体接口,是英特尔(Intel)用来连接南桥和北桥的总线。DMI采用点对点的连接方式,采用差分信号与专门的时钟进行传输。每组DMI由4对TX(发送)线及4对RX(接收)线组成。
DMI2.0速率已经达到5GT/s,DMI3.0的速率将达到8GT/s,随着速率的不断提高,出现信号完整性问题的风险也随之增大。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:为精确量测这些高速信号,本申请提出一种简便有效的DMI总线信号完整性测试方法。该测试方法不像传统的测试方法依赖示波器,仅用一个XDP治具和测试软件便能完成测试,相对于用示波器进行测试,这种方法大大减小了人为操作带来的误差,提升了测试的准确度;且一次就可以把4条数据线测试完成,避免了重复操作,提高了测试效率。
注:从IntelCoreCPU开始,随着调试复杂度的增强,在ITP的基础上,Intel定义了一个新的调试接口叫XDP,(eXtendDebugPort),标准封装模式为60Pin。
本发明所采用的技术方案为:
一种DMI总线信号完整性测试方法,在设计的板卡上增加一个CPUXDP接口,通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路;测试软件使用IntelEVTS,通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接;
通过测试软件不断调整Voltage(电压)及Timing(时序),如果电压调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个电压下DMI工作出现异常;第一个出现的不能正常工作的电压即为电压的Margin(余量);
如果时序调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个时序下DMI工作出现异常;第一个出现的不能正常工作的时序即为时序的Margin(余量);
然后再根据Intel规范中,对电压及时序Margin值的要求,来确认实际DMI信号是否符合设计要求。
所述测试方法具体实施过程如下:
1)搭建测试平台,建立DMI测试的脚本,该脚本的作用是不断调整Voltage(电压)及Timing(时序),并检测调整后DMI还能否正常工作;建立脚本时要注意选择正确的被测数据线及端口等信息,脚本建立完成后保存;
2)运行步骤1)中建立的脚本,脚本自动进行Voltage及Timing的Margin采集,采集完成后显示Complete(完成);
3)测试完毕后导出测试结果;
4)结果分析,根据Intel规范的要求分析测试结果,判断是否满足测试需求。
一种DMI总线信号完整性测试系统,所述系统包括IntelEVTS、USB-XDP3和XDP,其中IntelEVTS为测试的控制台;USB-XDP3为连接控制台和被测设备的媒介;XDP为被测设备上设计的XDP接口,用于与USB-XDP3的连接。
本发明的有益效果为:本发明的测试方法不像传统的测试方法依赖示波器,仅用一个XDP治具和测试软件便能完成测试,相对于用示波器进行测试,这种方法大大减小了人为操作带来的误差,提升了测试的准确度;且一次就可以把4条数据线测试完成,避免了重复操作,提高了测试效率。
附图说明
图1为本发明测试系统示意图;
图2为本发明测试原理示意图;
图3为本发明DMImargin测试结果。
具体实施方式
下面参照附图,通过具体实施方式对本发明进一步说明:
一种DMI总线信号完整性测试方法,在设计的板卡上增加一个CPUXDP接口,通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路;测试软件使用IntelEVTS,通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接;
通过测试软件不断调整Voltage(电压)及Timing(时序),如果电压调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个电压下DMI工作出现异常;第一个出现的不能正常工作的电压即为电压的Margin(余量);
如果时序调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个时序下DMI工作出现异常;第一个出现的不能正常工作的时序即为时序的Margin(余量);
然后再根据Intel规范中,对电压及时序Margin值的要求,来确认实际DMI信号是否符合设计要求。
所述测试方法具体实施过程如下:
1)搭建测试平台,建立DMI测试的脚本,该脚本的作用是不断调整Voltage(电压)及Timing(时序),并检测调整后DMI还能否正常工作;建立脚本时要注意选择正确的被测数据线及端口等信息,脚本建立完成后保存;
2)运行步骤1)中建立的脚本,如图2所示,脚本自动进行Voltage及Timing的Margin采集,采集完成后显示Complete;
3)测试完毕后导出测试结果,如图3所示;
4)结果分析,根据Intel规范的要求分析测试结果,判断是否满足测试需求。如:Intel要求Voltage的margin要大于等于15.7,Timing的margin要大于等于10.7,满足这个要求的测试结果即可判断为测试通过。
如图1所示,一种DMI总线信号完整性测试系统,所述系统包括IntelEVTS、USB-XDP3和XDP,其中IntelEVTS为测试的控制台;USB-XDP3为连接控制台和被测设备的媒介;XDP为被测设备上设计的XDP接口,用于与USB-XDP3的连接。
Claims (2)
1.一种DMI总线信号完整性测试方法,其特征在于:在设计的板卡上增加一个CPUXDP接口,通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路;测试软件使用IntelEVTS,通过USB-XDP3实现测试软件和被测设备的连接,其中IntelEVTS为测试的控制台,USB-XDP3为连接控制台和被测设备的媒介,XDP为被测设备上设计的XDP接口,用于与USB-XDP3的连接;
通过测试软件不断调整电压及时序,如果电压调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个电压下DMI总线工作出现异常,第一个出现的使得DMI总线不能正常工作的电压即为电压的余量;
如果时序调整到某一个值后接收到的数据和发送的数据不一致,那就表明在这个时序下DMI总线工作出现异常,第一个出现的使得DMI总线不能正常工作的时序即为时序的余量;
然后再根据Intel规范中对电压及时序余量值的要求,来确认实际DMI总线信号是否符合设计要求。
2.根据权利要求1所述的一种DMI总线信号完整性测试方法,其特征在于,所述测试方法具体实施过程如下:
1)搭建测试平台,建立DMI总线信号完整性测试的脚本,该脚本的作用是不断调整电压及时序,并检测调整后DMI总线还能否正常工作;
2)运行步骤1)中建立的脚本,脚本自动进行电压及时序的余量采集,采集完成后显示完成;
3)测试完毕后导出测试结果;
4)结果分析,根据Intel规范中对电压及时序余量值的要求,分析测试结果,判断是否满足测试需求。
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