CN108776723B - 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质,将描述自检关系文档输入至自检关系输入模块,通过调用已有的API接口,可以从文档中解析得到系统内自检关系;自检关系分配验证模块,可以通过导入已建立完毕的ATML模型与系统自检关系,得到系统自检关系与测试站端口间关系;自检适配器连线关系自动生成模块,通过系统自检与测试站端口间关系,得出自检适配器端口间连线关系;自检适配器连线关系导出模块,将自检适配器端口间连接关系导出生成XML格式文档。利用面向信号思想指导自检适配器连线关系的开发,减少系统集成人员的开发工作,降低系统专用型、增强系统复用性。
Description
技术领域
本发明涉及测试系统技术领域,尤其涉及测试系统自检适配器连线生成方法、装置设备及存储介质。
背景技术
测试系统自检是指在使用测试系统对被测件进行测试之前对测试系统的可用性进行的一种检查。该检查的内容主要包括测试系统内测试仪器与开关设备是否能正常工作、系统控制计算机与测试仪器之间的通讯是否正常、信号连接线路是否完好、激励信号输出是否正确、响应信号测量是否准确等。测试系统功能正常是对被测件准确测试的前提,因此测试系统自检是自动测试中重要且不可缺少的构成环节之一,自检适配器(ITA,Interface Test Adapter)又是完成测试系统自检不可或缺的组成部分。
在自动化测试系统中,测试程序(TPS)开发采用的技术直接与测试系统性能挂钩,目前测试程序开发技术主要有两种,一种是面向仪器的测试程序开发技术,一种是面向信号的测试程序开发技术。面向仪器的测试程序开发技术的核心特征是采用仪器操作描述测试程序,而面向信号的测试程序为了屏蔽具体的仪器操作,采用与具体仪器无关的信号属性进行开发。
目前测试系统的自检程序普遍采用面向仪器方式开发。在面向仪器方式开发的自检程序中,自检适配器的连线关系,需要自检流程设计人员先将自检流程设计完毕后,才能利用自检流程完成自检适配器内部连线关系,指导自检适配器的物理层的开发工作。在这种面向仪器的自检适配器连线关系的开发方式下,首先面临人工开发工作量大的问题;其次在开发完毕后难以进行简便地针对性修改;最后自检适配器连线关系是针对某系统的,专用性强,难以进行复用,开发工作量大且系统可裁剪性与可扩充性弱。
为简化自检适配器连线关系的开发过程,解决目前面向仪器的开发方式进行自检开发过程中,自检适配器内部连线的逻辑关系的问题,本专利提出基于面向信号的测试系统自检适配器连线生成方法及装置,依赖于测试系统软件对于面向信号(ATML)开发方式的支持,本发明利用自检适配器连线自动生成方法解决适配器连线逻辑关系开发工作量大且难以进行针对性改动的问题;利用面向信号的方式解决难以复用和专用型强的问题,提高系统可裁剪性与可扩充性。
目前仪器的开发方式开发自检适配器连线逻辑关系需要经过以下步骤,如图1所示:
1、根据测试系统中需要自检的资源收集相关资料并整理;
2、设计该测试系统的自检方法;
3、利用该自检方法,分析系统内部需要自检的激励或测量信号连接逻辑关系,得到自检逻辑关系;
4、利用自检逻辑关系,分析测试站端口所需的连接关系,得到测试站端口连接关系;
5、利用测试站端口连接关系,设计自检适配器内部连接关系;
6、重复步骤3至步骤5,修改自检逻辑/测试站端口连接关系/自检适配器,直至自检适配器内部连接关系能否满足自检需求,则结束。
在这种自检适配器连线关系的开发方式下,首先面临人工开发工作量大的问题;其次在开发完毕后难以进行简便地针对性修改;最后自检适配器连线关系是针对某系统进行开发,具有专用性,难以进行复用,开发工作量大且系统可裁剪性与可扩充性差。
发明内容
本发明的目的就是为了解决上述问题,提供测试系统自检适配器连线生成方法、装置设备及存储介质,利用面向信号思想指导自检适配器连线关系的开发,减少系统集成人员的开发工作,降低系统专用型、增强系统复用性。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
测试系统自检适配器连线生成方法,包括以下步骤:
步骤一、输入描述自检关系文档;
步骤二、经过自检关系解析模块,通过调用已有的API接口,将文档中系统自检关系进行解析,得到系统内信号互检的对应关系;
步骤三、将ATML模型输入测试站端口连接关系生成模块,进行解析ATML模型,得到仪器能力模型、测试站模型,再次解析得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤四、将信号互检对应关系输入测试站端口连接关系生成模块,解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤五、将步骤四得到的虚拟回路关系输入自检适配器连线关系生成模块,生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤六、通过自检适配器连线关系导出模块导出生成自检适配器连线;
步骤七、判断自检适配器连线是否能满足步骤二解析得到的系统内信号互检关系,若不满足则返回步骤三调整虚拟回路创建过程,若满足则结束。
所述步骤一描述自检关系文档具体包括:*.txt、*.doc、*.docx或*.xml。
所述步骤二包括:
步骤2.1、判断步骤一输入文档的格式类型;
步骤2.2、如果是*.txt类型文档,则调用.net框架下的API进行解析;
步骤2.3、如果是*.doc、*.docx、*.xml类型,则调用开源API进行解析;
步骤2.4、其它类型则结束,并提示格式错误;
步骤2.5、判断解析得到的数据是否代表自检关系,若不代表自检关系,则返回步骤2.1重新进行解析,若代表自检关系则结束。
所述步骤三包括:
所述步骤3.1、输入ATML模型;
所述步骤3.2、提取ATML模型中仪器模型及测试站模型所需信息;
所述步骤3.3、解析仪器模型和测试站模型,得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
所述步骤3.4、输入自检关系解析模块得到的信号互检对应关系;
所述步骤3.5、通过解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
所述步骤3.6、利用测试站模型判断目前虚拟回路是否可以满足实际物理连接与自检需求,若不可以满足则返回步骤3.5进行调整,若满足则结束。
所述步骤五包括:
步骤5.1、将测试站连接关系生成模块得到的虚拟回路输入自检适配器连线关系生成模块;
步骤5.2、提取测试站端口关系,在适配器模型中建立与测试站端口对应的适配器端口,并同时连接相关的适配器端口;
步骤5.3、最终形成仪器能力对应的信号模型-测试站端口-适配器端口-适配器连线-适配器端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型,这一完整回路;
步骤5.4、判断该回路能否满足自检需求,若不满足则返回步骤5.2修改端口关系,若满足则继续;
步骤5.5、通过所述步骤5.3的回路关系生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线,结束。
所述步骤六包括:
步骤6.1、输入自检适配器连线关系生成模块生成的适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤6.2、根据IEEE1671标准中对于适配器模型的定义,设计需要保存内容在XML中的数据结构;
步骤6.3、通过调用微软提供的XMLDocument类,按照步骤6.2中的定义的数据结构进行导出并保存成XML格式;
步骤6.4、验证保存之后XML格式的适配器模型是否满足IEEE1671标准,若不满足则返回步骤2修改数据结构,若满足则结束。
采用所述测试系统自检适配器连线生成方法的生成装置,包括:
自检关系解析模块,接收描述自检关系文档,通过调用已有的API接口,从文档中解析得到系统内自检关系;
测试站端口连接关系生成模块,通过导入已建立完毕的ATML模型与系统自检关系,得到系统自检关系与测试站端口间关系;
自检适配器连线关系生成模块,通过系统自检与测试站端口间关系,得出自检适配器端口间连线关系;
自检适配器连线关系导出模块,将自检适配器端口间连接关系导出生成XML格式文档。
所述ATML模型包括:
信号库,信号库包括STDBSCLib、STDTSFLib及自定义信号库;
仪器模型,仪器模型包含仪器的基本信息、仪器能力、仪器接口信息、仪器能力映射、仪器驱动程序及连接器信息;
测试站模型,测试站模型包含测试站基本信息、构成测试站的仪器、测试站接口信息、测试站连线及连接器信息;
连接器配置,连接器配置包含连接器类型、连接器型号及连接器管脚信息;
所述仪器模型、测试站模型的接口信息中连接器信息均引用连接器配置。
一种计算机设备,包括:
存储器,用于存储有测试系统自检适配器连线生成方法的计算机程序;
处理器,与存储器相连,用于执行存储器上的计算机程序;所述处理器执行所述程序时实现以下步骤:
步骤一、输入描述自检关系文档;
步骤二、经过自检关系解析模块,通过调用已有的API接口,将文档中系统自检关系进行解析,得到系统内信号互检的对应关系;
步骤三、将ATML模型输入测试站端口连接关系生成模块,进行解析ATML模型,得到仪器能力模型、测试站模型,再次解析得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤四、将信号互检对应关系输入测试站端口连接关系生成模块,解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤五、将步骤四得到的虚拟回路关系输入自检适配器连线关系生成模块,生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤六、通过自检适配器连线关系导出模块导出生成自检适配器连线;
步骤七、判断自检适配器连线是否能满足步骤二解析得到的系统内信号互检关系,若不满足则返回步骤三调整虚拟回路创建过程,若满足则结束。
一种计算机可读存储介质,其上存储测试系统自检适配器连线生成方法的计算机程序,当处理器执行时使得处理器执行以下步骤:
步骤一、输入描述自检关系文档;
步骤二、经过自检关系解析模块,通过调用已有的API接口,将文档中系统自检关系进行解析,得到系统内信号互检的对应关系;
步骤三、将ATML模型输入测试站端口连接关系生成模块,进行解析ATML模型,得到仪器能力模型、测试站模型,再次解析得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤四、将信号互检对应关系输入测试站端口连接关系生成模块,解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤五、将步骤四得到的虚拟回路关系输入自检适配器连线关系生成模块,生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤六、通过自检适配器连线关系导出模块导出生成自检适配器连线;
步骤七、判断自检适配器连线是否能满足步骤二解析得到的系统内信号互检关系,若不满足则返回步骤三调整虚拟回路创建过程,若满足则结束。
本发明的有益效果:
1、提出将适配器连线的生成方法由自检方案人工创建,转化为由自检方案输入后程序自动创建;
2、提出利用基于面向信号开发测试系统软件这一趋势潮流,利用面向信号思想指导自检适配器连线关系的开发,减少系统集成人员的开发工作,降低系统专用型、增强系统复用性;
3、提出利用适配器连线自动生成技术,用于生成适配器连线关系,进一步指导适配器物理层连线的开发工作,提高系统的可裁剪性与可扩充性。
本发明的核心在于,提出将适配器连线的生成方法由自检方案人工创建,转化为由自检方案输入后程序自动创建;提出利用面向信号思想指导自检适配器连线关系的开发,减少系统集成人员的开发工作,降低系统专用性、增强系统复用性;提出适配器连线自动生成技术,用于生成适配器连线关系,进一步指导适配器物理层连线的开发工作,提高系统的可裁剪性与可扩充性。
附图说明
图1为现有技术方案的流程图;
图2为本发明装置的结构图;
图3为本发明方法的具体流程图;
图4为步骤二的具体流程图;
图5为步骤三的具体流程图;
图6为步骤五的具体流程图;
图7为步骤六的具体流程图。
具体实施方式
下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。
测试系统自检适配器连线生成方法、装置是基于面向信号的测试系统自检适配器连线生成装置,包含自检关系解析模块、测试站连接关系生成模块、自检适配器连线关系生成模块、自检适配器连线关系导出模块四部分,如图2所示。
将描述自检关系文档(*.txt文档、*.doc文档、*.docx文档或*.xml文档)输入至自检关系输入模块,通过调用已有的API接口,可以从文档中解析得到系统内自检关系;
测试站连接关系生成模块,可以通过导入已建立完毕的ATML模型与系统自检关系,得到系统自检关系与测试站端口间关系;
自检适配器连线关系自动生成模块,通过系统自检与测试站端口间关系,得出自检适配器端口间连线关系;
自检适配器连线关系导出模块,将自检适配器端口间连接关系导出生成XML格式文档。
ATML模型由信号库模型、仪器模型、测试站模型、适配器模型组成:
1)信号库包括STDBSCLib(IEEE 1641标准BSC层)、STDTSFLib(IEEE 1641标准TSF层)及自定义信号库,自定义信号库中是由基本信号库中的信号组合而成;
2)仪器模型包含仪器的基本信息(包含文字描述、程控地址等)、仪器能力、仪器接口信息(端口与连接器)、仪器能力映射(仪器能力与端口的对应关系)、仪器驱动程序(仪器驱动与信号驱动)、连接器信息;
3)测试站模型包含测试站基本信息、构成测试站的仪器、测试站接口信息(端口与连接器)、测试站连线(仪器端口与测试站端口连接关系)、连接器信息;
4)适配器模型包含适配器基本信息、适配器接口信息(端口与连接器)。
其中适配器模型中,适配器连线关系分为三种:测试站端口与适配器端口间连线、UUT端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线。在通常用于UUT测试的适配器模型中,这三种适配器连线关系都会出现,而当在一个适配器模型中仅出现测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线两种连线关系时,该适配器模型就是自检适配器模型。因此在本专利中得到的适配器模型的连线关系,仅包含测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线两种连线关系。
测试系统自检适配器连线生成方法,如图3所示,包括:
步骤一、输入描述自检关系文档(*.txt、*.doc、*.docx或*.xml);
步骤二、经过自检关系解析模块,通过调用已有的API接口,将文档中系统自检关系进行解析,得到系统内信号互检的对应关系;
步骤三、将ATML模型输入测试站端口连接关系生成模块,通过解析ATML模型,得到仪器能力模型、测试站模型,再次解析得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤四、将信号互检对应关系输入测试站端口连接关系生成模块,通过解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤五、将步骤四得到的虚拟回路关系输入自检适配器连线关系生成模块,生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤六、通过自检适配器连线关系导出模块导出生成自检适配器连线;
步骤七、判断自检适配器连线是否能满足步骤二解析得到的系统内信号互检关系,若不满足则返回步骤三调整虚拟回路创建过程,若满足则结束。
所述步骤二自检关系解析模块流程如图4所示,具体步骤为:
步骤2.1、输入描述自检关系的文档(*.txt、*.doc、*.docx或*.xml);
步骤2.2、判断该输入文档的格式类型;
步骤2.3、如果是*.txt类型文档,则调用.net框架下的API(System.IO中的File类)进行解析;
步骤2.4、如果是*.doc、*.docx、*.xml类型,则调用开源API(DocumentFormat.OpenXml.Packaging中OpenXmlPackage类)进行解析;
步骤2.5、其它类型则结束,并提示格式错误;
步骤2.6、判断解析得到的数据是否代表自检关系,若不代表自检关系,则返回步骤2.2重新进行解析,若代表自检关系则结束。
所述步骤三测试站连接关系生成模块流程如图5所示,具体步骤为:
步骤3.1、输入ATML模型;
步骤3.2、提取ATML模型中仪器模型、测试站模型等所需信息;
步骤3.3、解析仪器模型和测试站模型,得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤3.4、输入自检关系解析模块得到的信号互检对应关系;
步骤3.5、通过解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤3.6、利用测试站模型判断目前虚拟回路是否可以满足实际物理连接与自检需求,若不可以满足则返回步骤3.5进行调整,若满足则结束。
所述步骤五自检适配器连线关系生成模块流程如图6所示,具体步骤为:
步骤5.1、将测试站连接关系生成模块得到的虚拟回路输入自检适配器连线关系生成模块;
步骤5.2、提取测试站端口关系,在适配器模型中建立与测试站端口对应的适配器端口,并同时连接相关的适配器端口;
步骤5.3、最终形成仪器能力对应的信号模型-测试站端口-适配器端口-适配器连线-适配器端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型,这一完整回路;
步骤5.4、判断该回路能否满足自检需求,若不满足则返回步骤5.2修改端口关系,若满足则继续;
步骤5.5、通过这一回路关系生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线,结束。
所述步骤六自检适配器连线关系导出模块流程如图7所示,具体步骤为:
步骤6.1、输入自检适配器连线关系生成模块生成的适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤6.2、根据IEEE1671标准中对于适配器模型的定义,设计需要保存内容在XML中的数据结构;
步骤6.3、通过调用微软提供的XMLDocument类,按照步骤2中的定义的数据结构进行导出并保存成XML格式;
步骤6.4、验证保存之后XML格式的适配器模型是否满足IEEE1671标准,若不满足则返回步骤6.2修改数据结构,若满足则结束。
本发明提出了基于面向信号的测试系统自检适配器连线生成方法及装置,针对现采用面向仪器方式开发自检适配器连线关系方法的缺点,提出将适配器连线的生成方法由自检方案人工创建,转化为由自检方案输入后程序自动创建,降低人工开发工作量;提出利用基于面向信号开发测试系统软件这一趋势潮流,利用面向信号思想指导自检适配器连线关系的开发,减少系统集成人员的开发工作,降低系统专用型、增强系统复用性;提出利用适配器连线自动生成技术,用于生成适配器连线关系,进一步指导适配器物理层连线的开发工作,提高系统的可裁剪性与可扩充性。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述,但并非对本发明保护范围的限制,所属领域技术人员应该明白,在本发明的技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。
Claims (10)
1.测试系统自检适配器连线生成方法,其特征是,包括以下步骤:
步骤一、输入描述自检关系文档;
步骤二、经过自检关系解析模块,通过调用已有的API接口,将文档中系统自检关系进行解析,得到系统内信号互检的对应关系;
步骤三、将ATML模型输入测试站端口连接关系生成模块,进行解析ATML模型,得到仪器能力模型、测试站模型,再次解析得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤四、将信号互检对应关系输入测试站端口连接关系生成模块,解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤五、将步骤四得到的虚拟回路关系输入自检适配器连线关系生成模块,生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤六、通过自检适配器连线关系导出模块导出生成自检适配器连线;
步骤七、判断自检适配器连线是否能满足步骤二解析得到的系统内信号互检关系,若不满足则返回步骤四调整虚拟回路创建过程,若满足则结束。
2.如权利要求1所述测试系统自检适配器连线生成方法,其特征是,所述步骤一描述自检关系文档具体包括:*.txt、*.doc、*.docx或*.xml。
3.如权利要求1或2所述测试系统自检适配器连线生成方法,其特征是,所述步骤二包括:
步骤2.1、判断步骤一输入文档的格式类型;
步骤2.2、如果是*.txt类型文档,则调用.net框架下的API进行解析;
步骤2.3、如果是*.doc、*.docx、*.xml类型,则调用开源API进行解析;
步骤2.4、其它类型则结束,并提示格式错误;
步骤2.5、判断解析得到的数据是否代表自检关系,若不代表自检关系,则返回步骤2.1重新进行解析,若代表自检关系则结束。
4.如权利要求1所述测试系统自检适配器连线生成方法,其特征是,所述步骤三包括:
步骤3.1、输入ATML模型;
步骤3.2、提取ATML模型中仪器模型及测试站模型所需信息;
步骤3.3、解析仪器模型和测试站模型,得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤3.4、输入自检关系解析模块得到的信号互检对应关系;
步骤四包括:步骤3.5、通过解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤3.6、利用测试站模型判断目前虚拟回路是否可以满足实际物理连接与自检需求,若不可以满足则返回步骤3.5进行调整,若满足则结束。
5.如权利要求1所述测试系统自检适配器连线生成方法,其特征是,所述步骤五包括:
步骤5.1、将测试站连接关系生成模块得到的虚拟回路输入自检适配器连线关系生成模块;
步骤5.2、提取测试站端口关系,在适配器模型中建立与测试站端口对应的适配器端口,并同时连接相关的适配器端口;
步骤5.3、最终形成仪器能力对应的信号模型-测试站端口-适配器端口-适配器连线-适配器端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型,这一完整回路;
步骤5.4、判断该回路能否满足自检需求,若不满足则返回步骤5.2修改端口关系,若满足则继续;
步骤5.5、通过所述步骤5.3的回路关系生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线,结束。
6.如权利要求1所述测试系统自检适配器连线生成方法,其特征是,所述步骤六包括:
步骤6.1、输入自检适配器连线关系生成模块生成的适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤6.2、根据IEEE1671标准中对于适配器模型的定义,设计需要保存内容在XML中的数据结构;
步骤6.3、通过调用微软提供的XMLDocument类,按照步骤6.2中的定义的数据结构进行导出并保存成XML格式;
步骤6.4、验证保存之后XML格式的适配器模型是否满足IEEE1671标准,若不满足则返回步骤6.2修改数据结构,若满足则结束。
7.采用权利要求1所述测试系统自检适配器连线生成方法的生成装置,其特征是,包括:
自检关系解析模块,接收描述自检关系文档,通过调用已有的API接口,从文档中解析得到系统内自检关系;
测试站端口连接关系生成模块,通过导入已建立完毕的ATML模型与系统自检关系,得到系统自检关系与测试站端口间关系;
自检适配器连线关系生成模块,通过系统自检与测试站端口间关系,得出自检适配器端口间连线关系;
自检适配器连线关系导出模块,将自检适配器端口间连接关系导出生成XML格式文档。
8.如权利要求7所述的生成装置,其特征是,所述ATML模型包括:
信号库,信号库包括STDBSCLib、STDTSFLib及自定义信号库;
仪器模型,仪器模型包含仪器的基本信息、仪器能力、仪器接口信息、仪器能力映射、仪器驱动程序及连接器信息;
测试站模型,测试站模型包含测试站基本信息、构成测试站的仪器、测试站接口信息、测试站连线及连接器信息;
连接器配置,连接器配置包含连接器类型、连接器型号及连接器管脚信息;
所述仪器模型、测试站模型的接口信息中连接器信息均引用连接器配置。
9.一种计算机设备,包括:
存储器,用于存储有测试系统自检适配器连线生成方法的计算机程序;
处理器,与存储器相连,用于执行存储器上的计算机程序;其特征是,所述处理器执行所述程序时实现以下步骤:
步骤一、输入描述自检关系文档;
步骤二、经过自检关系解析模块,通过调用已有的API接口,将文档中系统自检关系进行解析,得到系统内信号互检的对应关系;
步骤三、将ATML模型输入测试站端口连接关系生成模块,进行解析ATML模型,得到仪器能力模型、测试站模型,再次解析得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤四、将信号互检对应关系输入测试站端口连接关系生成模块,解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤五、将步骤四得到的虚拟回路关系输入自检适配器连线关系生成模块,生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤六、通过自检适配器连线关系导出模块导出生成自检适配器连线;
步骤七、判断自检适配器连线是否能满足步骤二解析得到的系统内信号互检关系,若不满足则返回步骤四调整虚拟回路创建过程,若满足则结束。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储测试系统自检适配器连线生成方法的计算机程序,其特征是,当处理器执行时使得处理器执行以下步骤
步骤一、输入描述自检关系文档;
步骤二、经过自检关系解析模块,通过调用已有的API接口,将文档中系统自检关系进行解析,得到系统内信号互检的对应关系;
步骤三、将ATML模型输入测试站端口连接关系生成模块,进行解析ATML模型,得到仪器能力模型、测试站模型,再次解析得到仪器能力对应的信号模型与测试站端口间的连接关系;
步骤四、将信号互检对应关系输入测试站端口连接关系生成模块,解析测试站端口连接关系,得到仪器能力对应的信号模型-测试站端口-测试站端口-仪器能力对应的信号模型这一虚拟回路;
步骤五、将步骤四得到的虚拟回路关系输入自检适配器连线关系生成模块,生成适配器模型中测试站端口与适配器端口间连线、适配器端口与适配器端口间连线;
步骤六、通过自检适配器连线关系导出模块导出生成自检适配器连线;
步骤七、判断自检适配器连线是否能满足步骤二解析得到的系统内信号互检关系,若不满足则返回步骤四调整虚拟回路创建过程,若满足则结束。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810501630.5A CN108776723B (zh) | 2018-05-23 | 2018-05-23 | 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810501630.5A CN108776723B (zh) | 2018-05-23 | 2018-05-23 | 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108776723A CN108776723A (zh) | 2018-11-09 |
CN108776723B true CN108776723B (zh) | 2022-02-08 |
Family
ID=64027464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810501630.5A Active CN108776723B (zh) | 2018-05-23 | 2018-05-23 | 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN108776723B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111964724B (zh) * | 2020-08-18 | 2022-10-28 | 中电科思仪科技股份有限公司 | 一种基于面向仪器的测试描述模型的描述方法及装置 |
CN114441947A (zh) * | 2021-12-24 | 2022-05-06 | 成都天奥测控技术有限公司 | 一种基于atml的自动测试系统信号路由方法 |
CN117371378B (zh) * | 2023-09-14 | 2024-07-12 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种测试站含有开关的适配器配置设计方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103983298A (zh) * | 2014-04-22 | 2014-08-13 | 航天东方红卫星有限公司 | 一种基于MAC Panel的小卫星一体化综合测试系统 |
CN113068452B (zh) * | 2012-12-05 | 2015-12-23 | 中国人民解放军第五七二0工厂 | 一种自动测试系统软件开发平台的构建方法 |
-
2018
- 2018-05-23 CN CN201810501630.5A patent/CN108776723B/zh active Active
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CN103983298A (zh) * | 2014-04-22 | 2014-08-13 | 航天东方红卫星有限公司 | 一种基于MAC Panel的小卫星一体化综合测试系统 |
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Title |
---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108776723A (zh) | 2018-11-09 |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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