KR101095858B1

KR101095858B1 - 테스트 스터브 생성 방법 및 그 장치

Info

Publication number: KR101095858B1
Application number: KR1020080131779A
Authority: KR
Inventors: 김철홍; 한태만
Original assignee: 한국전자통신연구원
Priority date: 2008-12-22
Filing date: 2008-12-22
Publication date: 2011-12-22
Also published as: KR20100073185A

Abstract

본 발명은 테스트 스터브 생성 방법 및 그 장치에 관한 것으로, 테스트 환경에 테스트 스터브 반환값 생성 모듈을 추가하고, 다양한 테스트 케이스에 비례해서 테스트 스터브의 반환값을 동적으로 생성함으로써, 기존에서와 같이 테스트 케이스와 상관없이 일정한 값만을 반환하여 테스트의 효율이 반감하게 되는 문제점을 해결할 수 있다. 또한, 본 발명은 다양한 테스트 케이스에 따라서 테스트 스터브의 반환값을 동적으로 생성함으로써 테스트의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

매개변수, 타입, 반환값, 테스트 드라이버

Description

테스트 스터브 생성 방법 및 그 장치{METHOD FOR CREATING OF TEST STUB AND ITS APPARATUS}

본 발명은 테스트 스터브 생성 방법 및 그 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게 설명하면 테스트 환경에 테스트 스터브 반환값 생성 모듈을 추가함으로써, 다양한 테스트 케이스에 비례해서 테스트 스터브의 반환값을 동적으로 생성할 수 있는 방법 및 그 장치에 관한 것이다.

본 발명은 지식경제부 및 정보통신연구진흥원의 IT성장동력기술개발사업의 일환으로 수행한 연구로부터 도출된 것이다[과제관리번호: 2008-S-017-01, 과제명: 차량 전장용 통합제어 SW 플랫폼 개발].

주지된 바와 같이, 소프트웨어 테스트 자동화 기술은 정형적 모델로부터 테스트 케이스를 자동 생성하거나, 테스트 드라이버를 자동으로 생성하는 분야에 대한 연구가 진행된다.

이러한 소프트웨어 테스트 자동화 기술은 기 공지된 기술로서 내장 시스템 소프트웨어를 테스트하는데 필요한 테스트 스크립트와 테스트 드라이버를 자동으로 생성할 수 있는 기술을 제공하는데, 이 기술은 테스트 스크립트의 오류를 방지하고, 내장 시스템 소프트웨어를 테스트하는 데 소요되는 시간을 최소화 할 수 있고, 각종 함수들의 정보를 가지고 있는 인터페이스 명세표, 메시지 시퀀스 차트와 결정 테이블에 기초하여 테스트 드라이버를 생성하고, 인터페이스 명세표를 이용하여 테스트 드라이버를 자동으로 생성한다.

또한, 소프트웨어 컴포넌트 개발 시에 아키텍처 설계상의 요구사항이 만족하는지를 즉시 확인할 수 있도록 하여 컴포넌트 개발 시에 발생하는 오류를 조기에 줄여줄 수 있는 테스트 드라이버를 생성할 수 있는 기술을 제공하는데, 이 기술은 아키텍처 모델의 컴포넌트 인터페이스에 특정한 스냅샷 정보를 입력함으로써 컴포넌트의 상태 정보를 저장하는 상태 변수를 추출하고 상태 변수를 설정 및 확인하는 인터페이스를 추가함으로써 컴포넌트의 단위 테스트가 원활하게 이루어질 수 있도록 하며, 상태 변수에 접근하는 인터페이스를 이용하여 테스트 환경을 설정하는 테스트 준비 코드와 인터페이스 수행 후에 적절한 상태에 이르렀는지 확인하는 테스트 확인 코드를 생성하여 테스트 드라이버 코드를 자동으로 생성하는 것이다.

그러나, 상술한 바와 같은 종래 기술에서와 같이 언급된 테스트 자동화 기술은 테스트의 신뢰성과 그 효율을 극대화시키는데 한계가 있으며, 지금까지의 테스트 방법 및 도구에 관한 연구 및 특허는 주로 테스트 케이스 자동 생성 및 테스트 드라이버 자동생성 등에 중점을 두어 왔기 때문에 테스트 스터브의 경우, 입력되는 테스트 케이스와 상관없이 일정한 값만을 반환하여 테스트의 효율이 반감하게 되는 문제점이 있다.

이에, 본 발명의 기술적 과제는 상술한 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 테스트 환경에 테스트 스터브 반환값 생성 모듈을 추가함으로써, 다양한 테스트 케이스에 비례해서 테스트 스터브의 반환값을 동적으로 생성할 수 있는 테스트 스터브 생성 방법 및 그 장치를 제공한다.

본 발명의 일 관점에 따른 테스트 스터브 생성 방법은, 반환값 생성을 위한 매개변수를 입력하는 단계와, 매개변수를 기반으로 파라미터가 필요 없는 메소드를 호출하지 않는 경우 파라미터의 타입과 반환값의 타입이 동등한가를 체크하는 단계와, 체크결과에서 파라미터의 타입과 반환값의 타입이 동등하지 않은 경우, 반환값을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명의 다른 관점에 따른 테스트 스터브 생성 장치는, 매개변수를 입력하는 매개변수 입력부와, 매개변수를 기반으로 파라미터가 필요 없는 메소드를 호출하지 않는 경우 파라미터의 타입과 반환값의 타입이 동등한가를 체크하는 타입 체크부와, 파라미터의 타입과 반환값의 타입이 동등하지 않은 경우, 반환값을 생성하는 반환값 생성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

본 발명은 테스트 환경에 테스트 스터브 반환값 생성 모듈을 추가하고, 다양한 테스트 케이스에 비례해서 테스트 스터브의 반환값을 동적으로 생성함으로써, 기존에서와 같이 테스트 케이스와 상관없이 일정한 값만을 반환하여 테스트의 효율이 반감하게 되는 문제점을 해결할 수 있다.

또한, 본 발명은 다양한 테스트 케이스에 따라서 테스트 스터브의 반환값을 동적으로 생성함으로써 테스트의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 동작 원리를 상세히 설명한다. 하기에서 본 발명을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 스터브 생성 장치에 대한 블록 구성도로서, 테스트 드라이버(10)와 SUT(Software Under Test, 이하 SUT라 함) 모듈(20)과 다수의 테스트 스터브(30)와 테스트 스터브 반환값 생성 모듈(40) 등을 포함할 수 있다.

여기서, 테스트 드라이버(10)와 SUT 모듈(20)과 다수의 테스트 스터브(30)는 분리된(isolated) 테스트 환경에서 수행되는 단위 테스트로서 상술한 구성의 테스트 장비(harness)가 요구된다.

즉, 테스트 드라이버(10)와 SUT 모듈(20)과 다수의 테스트 스터브(30)의 관계에 대하여 설명하면, 일 예로, 클래스 B의 인스턴스인 어떤 객체가 테스트 대상인 SUT 모듈(20)이라고 할 때, 테스트 드라이버(10)에서는 클래스 A의 인스턴스의 역할을 대신 수행하고, 다수의 테스트 스터브(30)는 클래스 C와 클래스 D의 인스턴스의 역할을 대신 수행하게 된다. 테스트 드라이버(10)를 구성하고 있는 요소는 테스트 조건 설정, 테스트 데이터 준비, 테스트 대상 모듈(또는 메소드) 호출, 테스트 대상 모듈 수행 결과 획득, 오류 존재 여부 판단 등이다.

다수의 테스트 스터브(30) 중 임의의 테스트 스터브의 형태는 표 1

의 알고리즘에서와 같이 표현될 수 있다.

상술한 바와 같은 단위 테스트는 다양한 테스트 케이스를 생성하여 테스트 대상 모듈에 적용하더라도 다수의 테스트 스터브(30)가 일정한 값만을 반환함에 따라 도 1에 도시된 바와 같이 테스트 스터브 반환값 생성 모듈(40)을 추가하여 새로운 테스트 환경을 구성할 수 있다.
이에 테스트 스터브 반환값 생성 모듈(40)에서는 테스트 대상 모듈에 적용한 다양한 테스트 스터브들의 각 테스트 스터브에 대한 매개변수를 토대로 반환값을 생성하여 출력할 수 있으며, 테스트 드라이버(10)에서는 이를 토대로 테스트 대상 모듈의 수행 결과 획득, 오류 존재 여부 판단 등을 수행할 수 있다.

다시 말하여, 테스트 스터브 반환값 생성 모듈(40)이 도 1에 도시된 바와 같이 추가됨에 따라 개선된 다수의 테스트 스터브(30)의 형태는 표 2

의 알고리즘에서와 같이 표현된다.

여기서, 다수의 테스트 스터브(30)를 활용함에 따라 SUT 모듈(20)과 직접적으로 연동하는 모듈의 구현이 완전하게 이루어지지 않아도 단위 모듈의 테스트를 수행할 수 있다. 예컨대, 클래스 D의 구현이 완전히 이루어지지 않고, 단지 메소드들의 시그너처(signature)만 정의되어 있을 경우에도 스터브를 생성하여 테스트 수행을 가능하게 할 수 있다.

도 2는 도 1에 도시된 테스트 스터브 반환값 생성 모듈(40)로서, 매개변수 입력부(41)와 타입 체크부(43)와 반환값 생성부(45)로 이루어져 있는 블록 구성도이며, 이러한 구성도를 바탕으로 테스트 스터브 반환값 생성 모듈(40)에 대하여 설명하면 도 3의 흐름도와 같다.

즉, 도 3을 참조하면, 리턴_밸유_제너레이션_펑션(return_value_generation_fuction(t(R)){(t(P1), v(P1)), (t(P2), v(P2)),..., (t(Pi), v(Pi))}에서와 같이, 매개변수 입력부(41)를 통해 반환값 생성을 위해 테스트 대상 모듈에 적용된 테스트 스터브의 매개변수들을 입력(S301)으로 받아들인다. 여기서, t(R)는 반환값의 타입을 의미하고, t(Pi)는 테스트 스터브에서 i번째 파라미터의 타입을 의미하며, v(Pi)는 테스트 스터브에서 i번째 파라미터 값을 의미한다.

매개변수들을 받아들인 다음에, 파라미터의 타입과 값의 쌍을 의미하는 param_list, 이 param_list = Ø인가를 판별(S303)한다.

상기 판별(S303)결과, param_list = Ø로서 파라미터가 필요 없는 메소드를 호출하는 경우 (v(R) = default_construct(t(R))를 수행한다. 여기서, (v(R) = default_construct(t(R))에서와 같이 해당 타입에 대한 기본 반환값을 생성, 예컨대, 정수형의 경우 7, 문자열의 경우 “hello” 등과 같은 데이터를 생성(S305)한다.

반면에, 상기 판별(S303)결과, param_list ≠ Ø로서 파라미터가 필요 없는 메소드를 호출하지 않는 경우 (for some i, t(R) == t(Pi))에서와 같이 타입 체크부(43)를 통해 i번째 파라미터의 타입과 반환값의 타입이 동등한가를 체크(S307)한다.

상기 체크(S307)결과, i번째 파라미터의 타입과 반환값의 타입이 동등할 경우, (v(R) = gen_return_value_1(v(Pi))에서와 같이 i번째 파라미터의 데이터 값을 이용하여 반환값을 생성(S309)한다. 여기서, gen_return_value_1()은 표 3

의 알고리즘에서와 같이 표현된다.

반면에, 상기 체크(S307)결과, i번째 파라미터의 타입과 반환값의 타입이 동등하지 않은 경우, (for all i, t(R) !=t(Pi))에서와 같이 모든 파라미터 타입이 같지 않은 경우로, 반환값 생성부(45)를 통해 반환값 타입이 문자열, 숫자, 객체 중 어느 하나인 경우의 반환값을 생성(S311)한다.

여기서, 반환값 타입이 문자열, 숫자, 객체인 경우의 반환값을 생성하는 과정은 도 4에 도시된 흐름도와 같다.

즉, 도 4를 참조하면, (t(R)〓‘string’)에서와 같이 반환값 타입이 문자열인가를 판단(S401)한다.

상기 판단(S401)결과, 반환값 타입이 문자열인 경우, (gen_string())를 수행하여 문자열을 생성(S403)한다. 여기서, gen_string()은 표 4

의 알고리즘에서와 같이 표현된다.

상기 판단(S401)결과, 반환값 타입이 문자열이 아닌 경우, (t(R)〓‘numeric’에서와 같이 반환값 타입이 숫자인가를 체크(S405)한다.

상기 체크(S405)결과, 반환값 타입이 숫자인 경우 (gen_numeric())를 수행하여 숫자를 생성(S407)한다. 여기서, gen_numeric()은 표 5

의 알고리즘에서와 같이 표현된다.

상기 체크(S405)결과, 반환값 타입이 숫자가 아닌 경우 (t(R)==’object’)에서와 같이 반환값 타입이 객체인가를 판별(S409)한다.

상기 판별(S409)결과, 반환값 타입이 객체인 경우 (gen_object())를 수행하여 객체를 생성(S411)한다. 여기서, gen_object()는 표 6

의 알고리즘에서와 같이 표현된다.

상기 판별(S409)결과, 반환값 타입이 객체가 아닌 경우 문자열인가를 판단하는 S401 과정부터 수행된다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 다양한 테스트 케이스에 따라서 테스트 스터브의 반환값을 동적으로 생성함으로써 테스트의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

한편, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되지 않으며, 후술되는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 스터브 생성 장치에 대한 블록 구성도,

도 2는 도 1에 도시된 테스트 스터브 반환값 생성 모듈에 대한 블록 구성도,

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 스터브 반환값 생성 모듈에 대하여 흐름도,

도 4는 도 3에 도시된 반환값 타입이 문자열, 숫자, 객체인 경우의 반환값 생성을 위한 흐름도.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

10 : 테스트 드라이버 20 : SUT 모듈

30 : 다수의 테스트 스터브 40 : 테스트 스터브 반환값 생성 모듈

Claims

테스트 드라이버를 토대로 복수의 테스트 케이스인 테스트 스터브를 테스트 대상 모듈에 적용하여, 적용된 테스트 스터브에서 반환값의 타입, i번째 파라미터의 타입 및 값을 포함하는 매개변수를 테스트 스터브 반환값 생성 모듈 내 매개변수 입력부에서 입력 받는 단계와,

타입 체크부에서 상기 매개변수의 체크 결과 파라미터가 필요 없는 메소드가 호출되지 않은 경우 상기 파라미터의 타입과 반환값 타입이 동등한가를 체크하는 단계와,

반환값 생성부에서 상기 파라미터의 타입과 반환값 타입이 동등하지 않은 경우, 상기 파라미터의 타입과 동등한 반환값을 생성하는 단계

를 포함하는 테스트 스터브 생성 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 반환값은, 문자열과 숫자와 객체중 어느 하나의 타입인 테스트 스터브 생성 방법.
제 2 항에 있어서,

상기 반환값을 생성하는 단계는,

상기 반환값 타입이 상기 문자열인 경우, 상기 문자열을 생성하는 단계와,

상기 반환값 타입이 상기 문자열이 아닌 경우, 상기 반환값 타입이 상기 숫자인가를 체크하는 단계와,

상기 체크결과에서 상기 반환값 타입이 상기 숫자인 경우 상기 숫자를 생성하는 단계와,

상기 체크결과에서 상기 반환값 타입이 상기 숫자가 아닌 경우 상기 반환값 타입이 상기 객체인가를 판별하는 단계와,

상기 판별결과에서 상기 반환값 타입이 상기 객체인 경우 상기 객체를 생성하는 단계

를 포함하는 테스트 스터브 생성 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 생성 방법은,

상기 매개변수를 기반으로 파라미터가 필요 없는 상기 메소드를 호출하는 경우 해당 타입에 대한 기본 반환값을 생성하는 테스트 스터브 생성 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 생성 방법은,

상기 파라미터의 타입과 반환값 타입이 동등한 경우, 파라미터의 데이터 값을 이용하여 상기 반환값을 생성하는 테스트 스터브 생성 방법.
테스트 드라이버를 토대로 복수의 테스트 케이스인 테스트 스터브를 테스트 대상 모듈에 적용하여, 적용된 테스트 스터브에서 반환값의 타입, i번째 파라미터의 타입 및 값을 포함하는 매개변수를 입력받는 매개변수 입력부와,

상기 매개변수의 체크 결과 파라미터가 필요 없는 메소드가 호출되지 않은 경우 상기 파라미터의 타입과 반환값 타입이 동등한가를 체크하는 타입 체크부와,

상기 파라미터의 타입과 반환값 타입이 동등하지 않은 경우, 상기 파라미터의 타입과 동등한 반환값을 생성하는 반환값 생성부

를 포함하는 테스트 스터브 생성 장치.
제 6 항에 있어서,

상기 반환값은, 문자열과 숫자와 객체 중 어느 하나의 타입인 테스트 스터브 생성 장치.
제 7 항에 있어서,

상기 반환값 생성부는,

상기 반환값 타입이 상기 문자열인 경우 상기 문자열을 생성하고, 상기 반환값 타입이 상기 숫자인 경우 상기 숫자를 생성하며, 상기 반환값 타입이 상기 객체인 경우 상기 객체를 생성하는 테스트 스터브 생성 장치.
제 6 항에 있어서,

상기 타입 체크부는,

상기 매개변수를 기반으로 파라미터가 필요 없는 상기 메소드를 호출하는 경우 해당 타입에 대한 기본 반환값을 생성하는 테스트 스터브 생성 장치.
제 6 항에 있어서,

상기 반환값 생성부는,

상기 파라미터의 타입과 반환값 타입이 동등한 경우, 파라미터의 데이터 값을 이용하여 상기 반환값을 생성하는 테스트 스터브 생성 장치.