CN110632499A - 基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质。所述基于测试对象的测试向量生成方法包括：根据测试对象获取一个或多个测试文件；对所述测试文件进行处理得到待输出数据；利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。基于本发明的技术方案，提高了测试向量的生成效率，并且生成的测试向量的可读性高，便于测试向量的在线调试。

Description

基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质

技术领域

本公开涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种基于测试对象的测试向 量生成方法及存储介质。

背景技术

随着科学技术的发展，集成电路产业得到了快速的提升，制造集成电路产 品的质量与可靠性要求也得到进一步提高。为了保证集成电路产品达到使用要 求，需要对集成电路进行测试。以IC芯片的测试过程为例，在利用自动化测 试设备(ATE，Automatic TestEquipment)对被测器件进行各项测试时，首先 需要生成测试向量，并以生成的测试向量作为激励信号输入到被测器件中，从 而根据被测器件的输出响应来检测被测器件是否合格，因此可见测试向量的生 成对IC芯片的测试效率及测试结果都至关重要。

现有技术中，测试向量的生成过程是由测试工程师将测试需求提交给设计 工程师，并由设计工程师使用电子设计自动化(EDA，Electronics Design Automation)软件仿真得到波形文件，再利用转换工具转换为自动化测试设备 ATE使用的测试向量。以上这种使用EDA软件仿真出波形文件再由转换工具 转换为测试向量的方式，导致测试向量的生成效率降低，并且转换出的测试向 量的可读性差，也不便于测试向量的在线调试。

发明内容

本公开提供一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质，以解决相 关技术存在的测试向量的生成效率低，转换出的测试向量的可读性差，也不便 于测试向量的在线调试的问题。

为解决上述技术问题，本公开实施例的第一方面，提供一种基于测试对象 的测试向量生成方法，包括：

根据测试对象获取一个或多个测试文件；

对所述测试文件进行处理得到待输出数据；

利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波 形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。

在本实施例的一些实施方式中，根据测试对象获取一个或多个测试文件， 包括：

根据测试对象的测试需求确定一个或多个测试文件，所述测试文件包括数 据文件和/或伪代码；其中，所述数据文件为测试对象可识别的程序文件。

在本实施例的一些实施方式中，对所述测试文件进行处理得到待输出数 据，包括：

对所述数据文件进行分析处理，和/或

对所述伪代码进行编译处理，得到处理后的待输出数据。

在本实施例的一些实施方式中，当所述数据文件为多个时，对所述测试文 件进行处理得到待输出数据，还包括：将多个所述数据文件依次载入并进行处 理，直至多个所述数据文件被依次处理完成。

在本实施例的一些实施方式中，所述测试需求包括对所述测试对象的功能 进行测试，所述测试向量包括功能测试向量。

在本实施例的一些实施方式中，利用预定的编译器将所述待输出数据编译 为波形格式的数据之前，所述方法还包括：根据所述测试对象的调试端口协议， 确定与所述调试端口协议对应的编译器。

在本实施例的一些实施方式中，利用预定的编译器将所述待输出数据编译 为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对 象的测试向量，包括：

利用与调试端口协议对应的编译器，将所述待输出数据编译为符合所述调 试端口协议要求的波形格式的数据，所述波形格式的数据包括所述调试端口协 议的数据波形；

对所述数据波形执行转化操作，得到所述测试对象的测试向量。

在本实施例的一些实施方式中，对所述数据波形执行转化操作，得到所述 测试对象的测试向量之后，所述方法还包括：在所述测试向量中添加格式信息 以及注释信息，所述格式信息包括可用于自动测试设备的测试向量的格式信 息。

在本实施例的一些实施方式中，所述测试对象为IC芯片。

本公开实施例的第二方面，提供一种存储介质，其上存储有计算机程序， 该程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项所述方法的步骤。

本公开实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：

通过根据测试对象获取一个或多个测试文件，并对测试文件进行处理得到 待输出数据；利用预定的编译器将待输出数据编译为波形格式的数据，并将波 形格式的数据进行转化，以便生成测试对象的测试向量。基于本发明的技术方 案，无需设计工程师使用EDA软件输出仿真波形文件，再利用转换工具转换 为ATE使用的测试向量，而是通过输入测试对象的测试文件，对测试文件进 行处理得到待输出数据，最后直接将待输出数据编译、转化为测试对象的测试 向量，从而提高了测试向量的生成效率，并且生成的测试向量的可读性高；另 外，由于无需通过测试工程师将测试需求提交给设计工程师，也无需将测试向 量的调试结果反馈给设计工程师，因此也极大方便了测试向量的在线调试。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施 例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述 中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来 讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为相关技术中功能测试向量的生成及调试过程的流程图；

图2为本公开实施例提供的一种基于测试对象的测试向量生成方法的流程 示意图；

图3为本公开实施例中功能测试向量的生成及调试过程的流程图；

图4为本公开实施例提供的一种基于测试对象的测试向量生成装置的结构 示意图；

图5为本公开实施例中SWD协议数据波形图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合 本说明书实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描 述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。 基于本公开实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得 的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

集成电路测试是集成电路生产制造过程中的重要环节，通过对集成电路的 测试，可以检测生产出的集成电路的精确度及稳定性。对集成电路的测试通常 需要利用自动化测试设备ATE来完成，而通过ATE对集成电路进行测试时， 需要输入测试向量作为激励信号输入到被测器件中，继而完成对被测器件的检 测。对于简单的集成电路(如门电路)，其ATE测试向量一般可以按照ATE 向量格式手工完成；而对于一些集成度高，功能复杂的集成电路(如IC芯片) 而言，其测试向量数据庞大，一般不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向 量，因此，有必要探寻一种高效快捷的方法，完成测试向量的生成。

需要说明的是，本公开是以集成电路中的IC芯片作为被测器件而言的， 即本发明中测试对象可以为IC芯片，IC芯片测试包括对IC芯片的基本参数、 功能、性能等指标进行的测试，不同的测试所需要的测试向量不尽相同，本发 明以下实施例是以IC芯片的功能测试作为具体应用场景来说的，此时，生成 的测试向量为功能测试向量。由于IC芯片也可以仅用IC来表示，因此，以下 实施例中的IC与IC芯片具有相同意义。

图1为相关技术中功能测试向量的生成及调试过程的流程图。在功能测试 向量的生成及调试过程中，首先是由测试工程师(IC test engineer)将测试需 求(Demand)提交给设计工程师(Designer)，并由设计工程师使用电子设计 自动化(EDA)软件对IC功能行为进行仿真得到*.wlf、*.vcd、*.fsdb等格式 的波形文件，再根据波形文件专用的转换工具(Converter)转换为自动化测试 设备ATE可识别的测试向量文件(Pattern file)。功能测试向量经过测试工程 师调试、分析，将结果反馈给设计工程师，直至功能测试向量调试通过。

可以看出，相关技术中是由测试工程师将测试需求提交给设计工程师，设 计工程师使用EDA软件仿真得到波形文件，再由转换工具转换为ATE使用的 功能测试向量。上述这种功能测试向量的生成方法中，必须加入仿真操作才可 以得到功能测试向量，换言之其功能测试向量的生成与仿真操作不可分离，并 且需要测试工程师与设计工程师相互协作才能完成功能测试向量的生成及调 试。

相关技术中使用EDA软件仿真出波形文件再由转换工具转换为测试向量 的方式，导致测试向量的生成过程更加复杂，降低了测试向量的生成效率，并 且转换出的功能测试向量的可读性较差；另外，由于需要测试工程师与设计工 程师相互协作才能完成对测试向量的调试，因此，也不利于测试向量的在线调 试，不便于测试工程师分析问题和修改功能测试向量，从而降低了功能测试向 量的调试效率。

基于上述应用场景，并针对相关技术存在的问题，需要提供一种高效便捷， 生成测试向量的可读性高，便于测试向量在线调试的测试向量生成方法。上述 应用场景不构成对本说明书实施例的限定。

图2为本公开实施例提供的一种基于测试对象的测试向量生成方法的流程 示意图，该方法具体可以包括以下步骤：

步骤S210，根据测试对象获取一个或多个测试文件。

在本实施例的一些实施方式中，测试对象可以是指放置在自动化测试设备 中的被测器件，在本公开实施例中测试对象可以为IC芯片。本公开实施例是 以IC芯片的功能测试作为应用场景进行描述的，功能测试(Function Test)是 指在IC芯片量产测试中用于在接近或高于被测器件(即IC芯片)实际工作频 率的情况下，检测IC芯片的功能和性能。功能测试一般在ATE上进行，功能 测试向量(Function Pattern)是指在ATE上使用通道资源模拟各种波形，对被 测器件进行功能测试时需要输入的测试向量。

进一步地，在一些实施方式中，所述根据测试对象获取一个或多个测试文 件，可以包括以下内容：

根据测试对象的测试需求确定一个或多个测试文件，测试文件包括数据文 件和/或伪代码；其中，数据文件为测试对象可识别的程序文件。

在实际应用中，根据对不同测试对象的测试需求的不同，可以获得不同的 测试文件，其中，测试需求包括对IC芯片的基本参数、功能以及性能等指标 的测试。当测试目标为对IC芯片的功能加以测试，那么也可以视为对IC芯片 的功能测试，生成的测试向量为功能测试向量。

进一步地，测试文件可以由数据文件和/或伪代码组成，其中，数据文件的 格式包括但不限于：hex、bin、dat等数据文件格式，数据文件的格式还可以采 用自定义的数据文件格式；数据文件可以是通过编译器对原始数据文件进行编 译得到的，而原始数据文件则是根据测试系统的需求，利用C语言或者汇编语 言生成的原始程序文件，因此，通过对原始数据文件进行编译便能够生成测试 对象可识别的程序文件(即数据文件)。伪代码可以根据测试系统的需求直接 生成，不需要进行编译便可得到。

步骤S220，对所述测试文件进行处理得到待输出数据。

在本实施例的一些实施方式中，根据测试文件的不同，对测试文件进行处 理的方式也不完全相同，具体地：

对数据文件进行分析处理，和/或对伪代码进行编译处理，得到处理后的待 输出数据。

进一步地，对数据文件进行分析处理时，根据数据文件格式的不同，可以 采取不同的分析处理方式，例如：当数据文件为bin、dat等格式的数据文件时， 由于这类格式的数据文件仅包含有二进制数据，因此直接对其进行读取就可以 使用，不需要进行特别的分析处理操作；而针对hex格式文件等这类使用ASCII 码储存的数据文件时，由于这类数据文件往往包含文件格式、地址、数据、校 验、结束等信息，因此可以通过对这类数据文件的内容进行分析，从而获得hex 文件的地址与数据内容，并建立hex文件的地址与数据内容之间的对应关系。

在本实施例的一些实施方式中，当数据文件为多个时，还可以将多个数据 文件依次载入并进行处理，直至多个数据文件被依次处理完成。在实际应用中， 可以在本公开实施例中增加批处理模式的功能，通过批处理模式可以将所有输 入的数据文件自动依次载入并进行处理，直至所有输入的数据文件被全部处理 完毕。在批量生成功能测试向量的应用场景中，使用批处理模式可以快速生成 所需的功能测试向量。

进一步地，对伪代码进行编译处理可以通过以下方式实现：将常用功能打 包成的伪代码进行函数翻译，从而实现伪代码的编译处理。

在本实施例的一些实施方式中，根据前段输入内容(即测试文件)的不同， 处理得到的待输出数据的内容也不相同，具体地，生成的待输出数据中可以包 含数据、地址以及操作指令，也可以仅包含数据。

步骤S230，利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据， 并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。

在本实施例的一些实施方式中，在利用预定的编译器将待输出数据编译为 波形格式的数据之前，还可以根据测试对象的调试端口协议，确定与调试端口 协议对应的编译器。在实际应用中，所述调试端口协议包括但不限于：SWD、 JTAG、SPI、UART、TIC等常用的传输协议。

进一步地，利用与调试端口协议对应的编译器，将待输出数据编译为符合 调试端口协议要求的波形格式的数据，波形格式的数据包括调试端口协议的数 据波形；对数据波形执行转化操作，得到测试对象的测试向量。

更进一步地，对数据波形执行转化操作，得到测试对象的测试向量之后， 还可以在测试向量中添加格式信息以及注释信息，所述格式信息包括可用于自 动测试设备的测试向量的格式信息。

下面以一具体应用场景为例，对步骤S230的操作过程进行说明如下：

在本实施例的具体场景中，以SWD协议作为调试端口协议，对待输出数 据进行编译和转化，生成Chroma 3380系列自动化测试设备使用的功能测试向 量，该功能测试向量的生成过程可以包括以下内容：

假设经过步骤S210-步骤S220的处理得到包含以下内容的待输出数据：

地址	0x20000000
		数据	0x20004368
操作	写入(Write)

如表1所示，经过前段解析生成的待输出数据包含地址、数据以及操作指 令。

由SWD传输协议规定，写入数据需要调用AP接口(Access Port)，需要 先写入目标的地址(TAR)，再写入目标的数据(DRW)，故操作流程为APWriteTAR 0x20000000+APWriteDRW 0x20004368。

SWD传输除地址线外还需要一根时钟线，地址线每一位对应时钟线跳变 一个周期。按照SWD传输协议，可以得到如图5所示的SWD协议数据波形。

根据Chroma 3380系列自动化测试设备对测试向量格式的要求，数据线、 时钟线需要各使用一个通道，因此将数据波形以ASCII文本格式写成 SWD_DATA与SWD_CLOCK两列，进一步地还可以再添加DEC_File、 Pin_List、Time_set、Label、comment等ATE设备支持的格式信息，以及方便 阅读、调试的注释信息，最后输出保存为测试向量文件。

基于以上本公开实施例的内容，通过步骤S210-步骤S230的操作便可以生 成对测试对象进行测试所需要的功能测试向量，下面继续结合上述具体实施 例，对功能测试向量在IC芯片测试中所起到的作用及原理进行简要说明。功 能测试向量通常是模拟某一种通信协议发送或接收一段数据，它的作用可以包 括以下三种：

作用一：模拟SWD等调试端口协议向IC芯片的Rom(储存)或Ram(内 存)里下载编译好的程序，程序可以为C语言或汇编语言经过编译器编译生成 的hex格式文件；

作用二：模拟SWD等调试端口协议读写IC芯片内的Rom(储存)、Ram (内存)或寄存器，从而直接控制芯片行为，一般使用伪代码描述对IC芯片 的控制操作；

作用三：模拟某种通信协议发送数据，数据可以被打包为仅包含有二进制 数据的格式(如bin、dat等)。

需要说明的是，以上功能测试向量在实际应用场景中所起到的作用不构成 对本发明功能测试向量的应用场景的限定，并且以上对功能测试向量作用的描 述，并非仅包含以上实现方式，例如：在实际应用中，还可以通过将写入数据 的操作编写为伪代码来实现向IC芯片内下载程序；或者，将寄存器的操作地 址与数据编辑为二进制数据，再通过SWD等调试端口协议发送，从而实现类 似伪代码直接控制芯片行为的操作。

在本说明书以上实施例内容的基础上，对利用本发明进行IC芯片测试的 过程进行说明，图3为本公开实施例中功能测试向量的生成及调试过程的流程 图。测试工程师可利用本发明技术方案直接生成功能测试向量，经调试分析后 可立即修改功能测试向量，并再次调试直至功能测试向量通过。本发明省去了 由测试工程师与设计工程师的沟通，以及设计工程师使用EDA工具输出仿真 波形文件再转换为功能测试向量的步骤，也使得测试工程师可以不依赖于设计 工程师对功能测试向量进行独立调试。

本发明可应用于IC芯片量产调试时，利用输入的测试文件快速、批量地 生成功能测试向量，以简化功能测试向量的生成过程，提高了功能测试向量的 生成效率和调试效率。本发明可以在生成的功能测试向量中自动加入大量注释 信息，增加了功能测试向量的可读性，特别适用于在IC芯片量产调试时生成 各类功能向量工程调试的向量表。

基于同样的思路，本公开实施例还提供了一种基于测试对象的测试向量生 成装置，如图4为本公开实施例提供的一种基于测试对象的测试向量生成装置 的结构示意图，该装置400主要包括：

获取模块401，用于根据测试对象获取一个或多个测试文件；

处理模块402，用于对所述测试文件进行处理得到待输出数据；

生成模块403，用于利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式 的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向 量。

在本实施例的一些实施方式中，所述获取模块401具体用于：

根据测试对象的测试需求确定一个或多个测试文件，所述测试文件包括数 据文件和/或伪代码；其中，所述数据文件为测试对象可识别的程序文件。

在本实施例的一些实施方式中，所述处理模块402具体用于：

对所述数据文件进行分析处理，和/或

对所述伪代码进行编译处理，得到处理后的待输出数据。

在本实施例的一些实施方式中，当所述数据文件为多个时，所述处理模块 402还用于：将多个所述数据文件依次载入并进行处理，直至多个所述数据文 件被依次处理完成。

在本实施例的一些实施方式中，所述测试需求包括对所述测试对象的功能 进行测试，所述测试向量包括功能测试向量。

在本实施例的一些实施方式中，所述生成模块403还用于：根据所述测试 对象的调试端口协议，确定与所述调试端口协议对应的编译器。

在本实施例的一些实施方式中，所述生成模块403进一步用于：

利用与所述调试端口协议对应的编译器，将所述待输出数据编译为符合所 述调试端口协议要求的波形格式的数据，所述波形格式的数据包括所述调试端 口协议的数据波形，对所述数据波形执行转化操作，得到所述测试对象的测试 向量。

在本实施例的一些实施方式中，还包括添加模块404，具体用于：

在所述生成模块403生成测试向量之后，在所述测试向量中添加格式信息 以及注释信息，所述格式信息包括可用于自动测试设备的测试向量的格式信 息。

在本实施例的一些实施方式中，所述测试对象为IC芯片。

本公开还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序 被处理器执行时实现上述任一项可选实施例所述的方法步骤。

其中，在所述处理器上运行的计算机程序被执行时所实现的方法可参照本 公开基于测试对象的测试向量生成方法的具体实施例，此处不再赘述。

所述处理器可以是一种集成电路芯片，具有信息处理能力。所述处理器可 以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理 器(NetworkProcessor，NP)等。

虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明，但是应该理解的是， 这些实施例仅仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示 例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权 利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权 利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以 理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。

Claims (10)

1.一种基于测试对象的测试向量生成方法，其特征在于，包括：

根据测试对象获取一个或多个测试文件；

对所述测试文件进行处理得到待输出数据；

利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据测试对象获取一个或多个测试文件，包括：

根据测试对象的测试需求确定一个或多个测试文件，所述测试文件包括数据文件和/或伪代码；其中，所述数据文件为测试对象可识别的程序文件。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述测试文件进行处理得到待输出数据，包括：

对所述数据文件进行分析处理，和/或

对所述伪代码进行编译处理，得到处理后的待输出数据。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述数据文件为多个时，对所述测试文件进行处理得到待输出数据，还包括：

将多个所述数据文件依次载入并进行处理，直至多个所述数据文件被依次处理完成。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试需求包括对所述测试对象的功能进行测试，所述测试向量包括功能测试向量。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据之前，所述方法还包括：

根据所述测试对象的调试端口协议，确定与所述调试端口协议对应的编译器。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量，包括：

利用与调试端口协议对应的编译器，将所述待输出数据编译为符合所述调试端口协议要求的波形格式的数据，所述波形格式的数据包括所述调试端口协议的数据波形；

对所述数据波形执行转化操作，得到所述测试对象的测试向量。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，对所述数据波形执行转化操作，得到所述测试对象的测试向量之后，所述方法还包括：

在所述测试向量中添加格式信息以及注释信息，所述格式信息包括可用于自动测试设备的测试向量的格式信息。

9.如权利要求1-8中任一所述的方法，其特征在于，所述测试对象为IC芯片。

10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1至9中任一项所述方法的步骤。

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