CN103208314A - 嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统，其方法包括：向存储器中写入预设测试数据；读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。本发明通过从外部输入与存储器存储数据类型相应的预设测试数据到芯片，利用芯片内部的逻辑转换在存储器上完成所述预设测试数据的写入和读取操作，根据写入和读取的数据是否相同来判断内存是否工作正常，既不会占用芯片硬件资源，影响系统性能，又能简单高效的测试内存的工作状态，非常实用。

Description

嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统

技术领域

本发明涉及嵌入式技术领域，尤其涉及一种嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统。

背景技术

随着片上系统（SOC）的发展，集成电路的规模越来越大，在电路中将集成越来越大的嵌入式存储器，目前整个系统芯片中嵌入式内存的面积已经超过了芯片的30%，甚至很多芯片中已经超过了60%。尤其鉴于嵌入式存储器的特殊结构，导致它可能产生的故障类型也是多种多样，为了保证芯片的可靠性，必须对嵌入式内存进行测试，现有技术中普遍采用的是在芯片中内建自测试逻辑的方案，但这样会额外耗费芯片的硬件资源，影响嵌入式系统的性能。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统，旨在不影响嵌入式系统的性能情况下高效的对内存进行测试。

为了达到上述目的，本发明提出一种嵌入式系统的内存测试方法，包括：

向存储器中写入预设测试数据；

读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；

将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。

优选地，所述向存储器中写入预设测试数据的步骤包括：

根据所述存储器存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据；

通过芯片内部的逻辑转换将所述预设测试数据写入所述存储器中。

优选地，所述根据比较结果判断内存工作是否正常的步骤包括：

当所述预设测试数据与所述写出数据相同时，判断内存工作正常；

当所述预设测试数据与所述写出数据不同时，判断内存工作不正常。

优选地，当被检测内存为多片存储器时，在所述将预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常的步骤之前还包括：

同时向所述多片存储器中写入预设测试数据；

同时读取所述多片存储器中写入的预设测试数据作为写出数据。

优选地，当需要提高测试能力时，所述向存储器中写入预设测试数据的步骤之前还包括：

增加需要测试的类型数据到所述预设测试数据中。

本发明还提出一种测试内存的嵌入式系统，包括：

写入模块，用于向存储器中写入预设测试数据；

读取模块，用于读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；

比较判断模块，用于将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。

优选地，所述写入模块包括：

选择单元，用于根据所述存储器存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据；

转换写入单元，用于通过芯片内部的逻辑转换将所述预设测试数据写入所述存储器中。

优选地，所述比较判断模块用于：

当所述预设测试数据与所述写出数据相同时，判断内存工作正常；

当所述预设测试数据与所述写出数据不同时，判断内存工作不正常。

优选地，还包括：

多片存储器写入模块，用于同时向多片存储器中写入预设测试数据；

多片存储器读取模块，用于同时读取多片存储器中写入的预设测试数据作为写出数据。

优选地，所述写入模块之前还包括：

升级模块，用于当需要提高测试能力时，增加需要测试的类型数据到所述预设测试数据中。

本发明提出的一种嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统，通过从外部输入与存储器存储数据类型相应的预设测试数据到芯片，利用芯片内部的逻辑转换在存储器上完成所述预设测试数据的写入和读取操作，根据写入和读取的数据是否相同来判断内存是否工作正常，既不会占用芯片硬件资源，影响系统性能，又能简单高效的测试内存的工作状态，非常实用。

附图说明

图1是本发明嵌入式系统的内存测试方法第一实施例的流程示意图；

图2是本发明嵌入式系统的内存测试方法第一实施例中向存储器中写入预设测试数据的流程示意图；

图3是本发明嵌入式系统的内存测试方法第二实施例的流程示意图；

图4是本发明嵌入式系统的内存测试方法第三实施例的流程示意图；

图5是本发明测试内存的嵌入式系统第一实施例的结构示意图；

图6是本发明测试内存的嵌入式系统第一实施例中写入模块的结构示意图；

图7是本发明测试内存的嵌入式系统第二实施例的结构示意图；

图8是本发明测试内存的嵌入式系统第三实施例的结构示意图。

为了使本发明的技术方案更加清楚、明了，下面将结合附图作进一步详述。

具体实施方式

本发明实施例的解决方案主要是：通过从外部输入与存储器存储数据类型相应的预设测试数据到芯片，利用芯片内部的逻辑转换在存储器上完成所述预设测试数据的写入和读取操作，根据写入和读取的数据是否相同来判断内存是否工作正常。

如图1所示，本发明第一实施例提出一种嵌入式系统的内存测试方法，包括：

步骤S101，向存储器中写入预设测试数据；

嵌入式系统中不同类型的存储器存储的数据类型不同，根据被检测的存储器中存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据，这样通过测试预设测试数据的存储情况即能判断被检测的存储器的工作状态。对芯片发送控制信号，通过所述芯片内部的逻辑转换在所述控制信号指定的位置将所述预设测试数据写入所述芯片被检测的存储器中。

步骤S102，读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；

对芯片发送控制信号，在所述控制信号指定的位置读取步骤S101中写入被检测的存储器中的预设测试数据，将读取的数据作为写出数据。

步骤S103，将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。

将步骤S102中读取的所述写出数据与步骤S101中写入的所述预设测试数据进行比较，当所述预设测试数据与所述写出数据相同时，说明被检测的存储器存储状况正常，则判断内存工作正常；当所述预设测试数据与所述写出数据不同时，说明被检测的存储器存储状况异常，不能正常读取写入的数据，则判断内存工作不正常。

具体地，如图2所示，上述步骤S101可以包括：

步骤S1011，根据所述存储器存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据；

步骤S1012，通过芯片内部的逻辑转换将所述预设测试数据写入所述存储器中。

本实施例通过上述方案，既不会占用芯片硬件资源，影响系统性能，又能简单高效的测试内存的工作状态，非常实用。

如图3所示，本发明第二实施例提出一种嵌入式系统的内存测试方法，在上述第一实施例的基础上，当被检测内存为多片存储器时，在步骤S103之前还包括：

步骤S104，同时向所述多片存储器中写入预设测试数据；

步骤S105，同时读取所述多片存储器中写入的预设测试数据作为写出数据。

本实施例与上述第一实施例的区别在于，当被检测内存为多片存储器时，采用并行的方式，在外部控制信号下同时将预设测试数据写入多片存储器中，并同时读取所述多片存储器中写入的所述预设测试数据作为写出数据，再将所述写出数据与所述预设测试数据比较的结果通过芯片的引脚输出，这样向多片存储器中同时进行写入和读取的操作极大的提高测试的效率，在需测试内存中多片存储器时，节省了测试所需的时间与精力。

如图4所示，本发明第三实施例提出一种嵌入式系统的内存测试方法，在上述第一实施例的基础上，在上述步骤S101之前还包括：

步骤S106，增加需要测试的类型数据到所述预设测试数据中。

本实施例与上述第一实施例的区别在于，当需要提高测试能力时，即需要测试内存中不同类型的存储器时，根据需要测试的存储器存储数据的类型，增加相应类型的数据到所述预设测试数据中，这样就升级了本实施例对不同类型存储器的测试能力，即增强了对各种类型的存储器的测试能力，且升级过程十分简易，花费代价不高。

如图5所示，本发明第一实施例提出一种测试内存的嵌入式系统，包括：写入模块501、读取模块502以及比较判断模块503，其中：

写入模块501，用于向存储器中写入预设测试数据；

嵌入式系统中不同类型的存储器存储的数据类型不同，根据被检测的存储器中存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据，这样通过测试预设测试数据的存储情况即能判断被检测的存储器的工作状态。对芯片发送控制信号，通过所述芯片内部的逻辑转换在所述控制信号指定的位置将所述预设测试数据写入所述芯片被检测的存储器中。

读取模块502，用于读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；

对芯片发送控制信号，在所述控制信号指定的位置读取写入模块501写入被检测的存储器中的预设测试数据，将读取的数据作为写出数据。

比较判断模块503，用于将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。

将读取模块502读取的所述写出数据与写入模块501写入的所述预设测试数据进行比较，当所述预设测试数据与所述写出数据相同时，说明被检测的存储器存储状况正常，则判断内存工作正常；当所述预设测试数据与所述写出数据不同时，说明被检测的存储器存储状况异常，不能正常读取写入的数据，则判断内存工作不正常。

具体地，如图6所示，所述写入模块501可以包括：选择单元5011以及转换写入单元5012，其中：

选择单元5011，用于根据所述存储器存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据；

转换写入单元5012，用于通过芯片内部的逻辑转换将所述预设测试数据写入所述存储器中。

本实施例通过上述方案，既不会占用芯片硬件资源，影响系统性能，又能简单高效的测试内存的工作状态，非常实用。

如图7所示，本发明第二实施例提出一种测试内存的嵌入式系统，在上述第一实施例的基础上，当被检测内存为多片存储器时，在比较判断模块503之前还包括：

多片存储器写入模块504，用于同时向多片存储器中写入预设测试数据；

多片存储器读取模块505，用于同时读取多片存储器中写入的预设测试数据作为写出数据。

本实施例与上述第一实施例的区别在于，当被检测内存为多片存储器时，采用并行的方式，在外部控制信号下同时将预设测试数据写入多片存储器中，并同时读取所述多片存储器中写入的所述预设测试数据作为写出数据，再将所述写出数据与所述预设测试数据比较的结果通过芯片的引脚输出，这样向多片存储器中同时进行写入和读取的操作极大的提高测试的效率，在需测试内存中多片存储器时，节省了测试所需的时间与精力。

如图8所示，本发明第三实施例提出一种测试内存的嵌入式系统，在上述第一实施例的基础上，所述写入模块501之前还包括：

升级模块506，用于当需要提高测试能力时，增加需要测试的类型数据到所述预设测试数据中。

本实施例与上述第一实施例的区别在于，当需要提高测试能力时，即需要测试内存中不同类型的存储器时，根据需要测试的存储器存储数据的类型，增加相应类型的数据到所述预设测试数据中，这样就升级了本实施例对不同类型存储器的测试能力，即增强了对各种类型的存储器的测试能力，且升级过程十分简易，花费代价不高。

本发明提出的一种嵌入式系统的内存测试方法及嵌入式系统，通过从外部输入与存储器存储数据类型相应的预设测试数据到芯片，利用芯片内部的逻辑转换在存储器上完成所述预设测试数据的写入和读取操作，根据写入和读取的数据是否相同来判断内存是否工作正常，既不会占用芯片硬件资源，影响系统性能，又能简单高效的测试内存的工作状态，非常实用。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种嵌入式系统的内存测试方法，其特征在于，包括：

向存储器中写入预设测试数据；

读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；

将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向存储器中写入预设测试数据的步骤包括：

根据所述存储器存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据；

通过芯片内部的逻辑转换将所述预设测试数据写入所述存储器中。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据比较结果判断内存工作是否正常的步骤包括：

当所述预设测试数据与所述写出数据相同时，判断内存工作正常；

当所述预设测试数据与所述写出数据不同时，判断内存工作不正常。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，当被检测内存为多片存储器时，在所述将预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常的步骤之前还包括：

同时向所述多片存储器中写入预设测试数据；

同时读取所述多片存储器中写入的预设测试数据作为写出数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，当需要提高测试能力时，所述向存储器中写入预设测试数据的步骤之前还包括：

增加需要测试的类型数据到所述预设测试数据中。

6.一种测试内存的嵌入式系统，其特征在于，包括：

写入模块，用于向存储器中写入预设测试数据；

读取模块，用于读取所述存储器中写入的预设测试数据作为写出数据；

比较判断模块，用于将所述预设测试数据与所述写出数据进行比较，根据比较结果判断内存工作是否正常。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述写入模块包括：

选择单元，用于根据所述存储器存储数据的类型选择相应类型的测试数据作为预设测试数据；

转换写入单元，用于通过芯片内部的逻辑转换将所述预设测试数据写入所述存储器中。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述比较判断模块用于：

当所述预设测试数据与所述写出数据相同时，判断内存工作正常；

当所述预设测试数据与所述写出数据不同时，判断内存工作不正常。

9.根据权利要求6、7或8所述的系统，其特征在于，还包括：

多片存储器写入模块，用于同时向多片存储器中写入预设测试数据；

多片存储器读取模块，用于同时读取多片存储器中写入的预设测试数据作为写出数据。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述写入模块之前还包括：

升级模块，用于当需要提高测试能力时，增加需要测试的类型数据到所述预设测试数据中。

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