CN103069487B - 磁记录介质的矫顽磁力判定方法 - Google Patents

磁记录介质的矫顽磁力判定方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种能判定磁记录介质的矫顽磁力而不易受磁头、磁记录介质的特性、记录电流值的偏差的影响的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。该磁记录介质的矫顽磁力判定方法用于通过磁头对要形成在低矫顽磁力的磁介质或高矫顽磁力的磁介质中的磁信息进行记录,具有:磁信息记录步骤(步骤S5),在该磁信息记录步骤(步骤S5)中交替地使用适合于对低矫顽磁力的磁介质进行写入的第一记录电流值、以及适合于对高矫顽磁力的磁介质进行写入的第二记录电流值来将磁信息写入磁记录介质;磁信息再现步骤(步骤S6),在该磁信息再现步骤(步骤S6)中,对磁记录介质中已写入的磁信息进行再现;以及判定步骤(步骤S7),在该判定步骤(步骤S7)中,将用第一记录电流值所写入的磁信息的第一再现输出A与用第二记录电流值所写入的磁信息的第二再现输出B进行比较,从而判定磁记录介质的矫顽磁力。

Description

磁记录介质的矫顽磁力判定方法
技术领域
本发明涉及磁记录介质的矫顽磁力判定方法,尤其涉及适用于具有对磁记录介质的不同矫顽磁力进行判定的功能的磁卡读取器等介质处理装置的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。
背景技术
一般而言,介质处理装置的磁头与设置在磁卡或存折等磁记录介质上的磁条等磁记录部相抵接,并使磁头进行相对移动,从而对记录在磁记录部内的磁信息进行写入、读取(记录、再现)。近年来,在这种磁记录介质的介质处理装置中,对磁卡等磁记录介质(以下称为“磁卡”)的磁条等磁记录部的不同的矫顽磁力的大小进行了标准化。例如,除了一直以来被标准化的具有低矫顽磁力(例如,300~400Oe)(Oe:奥斯特、oersted)的磁卡(以下称为“低矫顽磁力的磁卡”)以外,磁记录部新标准化了具有高矫顽磁力(例如,2750Oe)的磁卡(以下,称为“高矫顽磁力的磁卡”)。此处,高矫顽磁力的磁卡利用必须由磁记录部施加更高的逆磁场(一般而言,2750Oe以上)、被磁化的磁信息才会变为零的磁性材料成形而成,低矫顽磁力的磁卡利用只要磁记录部施加较低的逆磁场(一般而言,65Oe以下)、就能使被磁化的磁信息变为零的磁性材料成形而成。
近年来,为了提高记录在磁卡中的磁信息的可靠性等,或者出于保护记录在磁卡的磁记录部中的磁信息的观点,越来越多地使用了高矫顽磁力的磁卡,但低矫顽磁力的磁卡也得到了广泛的普及,因而高矫顽磁力的磁卡和低矫顽磁力的磁卡被混在一起进行使用。
一般而言,在对低矫顽磁力或高矫顽磁力这样的矫顽磁力不同的磁卡进行写入时,若不设定与矫顽磁力相对应的合适的写入电流,则无法得到合适的再现输出。因此,为了根据磁卡的矫顽磁力来设定合适的写入电流,需要判定磁卡是高矫顽磁力的磁介质还是低矫顽磁力的磁介质。作为对矫顽磁力进行判定的矫顽磁力判定方法,例如,是利用磁头对从卡插入口插入的低矫顽磁力的磁卡或高矫顽磁力的磁卡上形成的磁信息进行再现或进行记录的磁卡的矫顽磁力判定方法,利用只能将低矫顽磁力的磁卡的磁信息消去的电流将所插入的磁卡的磁信息消去,然后,对磁卡的磁信息进行再现,在磁信息为破坏状态的情况下,将所插入的磁卡判定为低矫顽磁力的磁卡。已知有根据无法识别预先确定的应当记录在磁卡中的特定的磁信息来判定磁信息的破坏状态的矫顽磁力判定方法(例如,参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2000-155816号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
然而,在专利文献1中记载的矫顽磁力判定方法中,通过对一定输出值以上的残留输出峰数进行计数来判定磁信息是否被破坏,因此,由进行判定的输出电平及残留输出峰数来确定判定结果,因而存在该判定输出电平及判定残留输出峰数的阈值设定会对判定结果产生较大影响的问题。
此外,由于矫顽磁力的判定结果取决于磁头的饱和特性、再现输出,因此,存在容易受饱和特性、再现输出的偏差的影响的问题。
此外,在专利文献1中记载的矫顽磁力判定方法中,判定结果取决于写入磁信息的高矫顽磁力用的记录电流值和消去磁信息的低矫顽磁力用的电流值,因此,存在这些电流值的设定及偏差会影响判定结果的问题。
近年来,低矫顽磁力的磁卡中也在逐渐混杂着使用具有较高矫顽磁力的磁卡(例如,650Oe),因此,低矫顽磁力用的电流值的设定开始会对判定结果产生较大的影响。
此外,还存在利用低矫顽磁力用的电流值进行DC消去之后的再现输出容易因磁头的特性、记录电流值、磁卡与磁头之间的间隔、及磁卡的特性等而发生变动的问题。例如,在插入翘曲的磁卡时或磁条上附着有垃圾等时等,磁条与磁头的距离比通常时的要大,因此,磁通的变化与通常时不同,其结果是,存在错误地判定磁卡的矫顽磁力的问题。
本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供一种能判定磁记录介质的矫顽磁力而不易受磁头、磁记录介质的特性、记录电流值的偏差的影响的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。
解决技术问题所采用的技术方案
为了解决上述技术问题,本发明提供以下的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。
(1)该磁记录介质的矫顽磁力判定方法是用于通过磁头对要形成在低矫顽磁力的磁介质或高矫顽磁力的磁介质中的磁信息进行记录的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,具有:磁信息记录步骤,在该磁信息记录步骤中,交替地使用适合于对所述低矫顽磁力的磁介质进行写入的第一记录电流值、以及适合于对所述高矫顽磁力的磁介质进行写入的第二记录电流值将磁信息写入所述磁记录介质;磁信息再现步骤,在该磁信息再现步骤中,对所述磁记录介质中已写入的磁信息进行再现;以及判定步骤,在该判定步骤中,将用所述第一记录电流值所写入的磁信息的第一再现输出与用所述第二记录电流值所写入的磁信息的第二再现输出进行比较,从而判定所述磁记录介质的矫顽磁力。
根据本发明,将用适合于对低矫顽磁力的磁介质进行写入的第一记录电流值所写入的磁信息的第一再现输出与用适合于对高矫顽磁力的磁介质进行写入的第二记录电流值所写入的磁信息的第二再现输出进行比较,由此能基于再现输出差来判定磁记录介质是低矫顽磁力的磁介质还是高矫顽磁力的磁介质。
因此,在本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法中,磁头的再现输出的偏差不易影响判定结果,因此,能得到可靠性高的判定结果。
(2)磁记录介质的矫顽磁力判定方法的特征在于,在所述判定步骤中,在所述第一再现输出>所述第二再现输出时,判定所述磁记录介质为低矫顽磁力的磁介质,在其他情况下判定所述磁记录介质为高矫顽磁力的磁介质。
根据本发明,对于容易识别的低矫顽磁力的磁介质,在第一再现输出>第二再现输出的情况下,判定磁记录介质为低矫顽磁力的磁介质,由此,在无法判定磁信息的再现输出差的情况下也能识别为是高矫顽磁力的磁介质,因此,能可靠地得到判定结果。
(3)磁记录介质的矫顽磁力判定方法的特征在于,在所述磁信息记录步骤之前,具有对所述磁记录介质中已写入的磁信息进行再现以确认有无磁信息的确认步骤。
根据本发明,能事先确认磁记录介质中是否写入了磁信息,因而能根据有无磁信息来转移至合适的处理步骤。例如,在磁记录介质中没有写入磁信息的情况下,能直接转移至磁信息记录步骤。
(4)磁记录介质的矫顽磁力判定方法的特征在于,在所述确认步骤中,在所述磁记录介质中写入了磁信息的情况下,具备利用能对所述高矫顽磁力的磁介质的磁信息进行消去的消去电流值来消去该磁信息的消去步骤。
根据本发明,在磁记录介质中写入了磁信息的情况下,利用能对高矫顽磁力的磁介质的磁信息进行消去的消去电流值来消去磁信息,由此能基于在磁信息记录步骤中写入的磁信息的再现输出差来判定矫顽磁力,因而能排除磁记录介质中已写入的磁信息对判定结果带来的影响。
(5)磁记录介质的矫顽磁力判定方法的特征在于,在所述判定步骤中,在所述第一再现输出>所述第二再现输出时,判定所述磁记录介质为低矫顽磁力的磁介质,在所述第一再现输出<所述第二再现输出时,判定所述磁记录介质为高矫顽磁力的磁介质。
根据本发明,能根据磁记录介质的饱和特性,在第一再现输出>第二再现输出时,识别出磁记录介质为低矫顽磁力的磁介质,在第一再现输出<第二再现输出时,识别出磁记录介质为高矫顽磁力的磁介质,因此,能明确地判定磁记录介质是低矫顽磁力介质还是高矫顽磁力介质。
(6)磁记录介质的矫顽磁力判定方法的特征在于,在所述磁信息记录步骤中,将所述磁记录介质的要记录磁信息的磁记录部在长度方向上进行划分,对该划分后所得到的每个比较区域交替地使用所述第一记录电流值和所述第二记录电流值来将磁信息写入所述磁记录部。
根据本发明,将磁信息记录部形成在进行了例如2至10划分后得到的比较区域中,对该划分后得到的每个比较区域交替地使用第一记录电流值和第二记录电流值来将磁信息写入磁信息记录部,由此能抑制因磁记录介质的变形、磁特性的偏差、磁记录介质与磁头之间的间隔的偏差所引起的再现输出的偏差,因而能得到可靠性更高的判定结果。
本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法中,例如求出多个比较区域中用相同记录电流值所写入的磁信息的再现输出的平均值,并比较再现输出的平均值,由此能抑制再现输出的偏差,从而得到可靠性高的判定结果。
(7)磁记录介质的矫顽磁力判定方法的特征在于,在所述判定步骤中,求出所述第一再现输出与所述第二再现输出的差或比率,并求出所述磁记录介质的矫顽磁力。
根据本发明,通过求出第一再现输出与第二再现输出的差或比率,能推定磁记录介质的矫顽磁力的值,能提高低矫顽磁力的磁介质和高矫顽磁力的磁介质的识别精度。
发明效果
如以上说明的那样,本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法不易受磁头、磁记录介质的特性、记录电流值的偏差的影响,能明确地判定磁记录介质的矫顽磁力。
附图说明
图1是表示用于实施本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法的介质处理装置的磁头及磁头的控制电路的框图。
图2是表示各矫顽磁力的磁介质的饱和特性的图。
图3是表示低矫顽磁力的磁介质的再现输出波形的图。
图4是表示高矫顽磁力的磁介质的再现输出波形的图。
图5是表示对不同记录电流值的磁信息进行记录的比较区域的一个示例的图。
图6是表示本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法的一个实施例的流程图。
图7是表示磁记录介质的矫顽磁力的判定状况的图。
图8是表示磁记录介质的矫顽磁力的判定状况的图。
图9是表示本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法的其它实施例的流程图。
具体实施方式
本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法是用于通过磁头来对要形成在低矫顽磁力的磁介质或高矫顽磁力的磁介质中的磁信息进行记录的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,具有:磁信息记录步骤,在该磁信息记录步骤中,交替地使用适合于对所述低矫顽磁力的磁介质进行写入的第一记录电流值、以及适合于对所述高矫顽磁力的磁介质进行写入的第二记录电流值来将磁信息写入所述磁记录介质中;磁信息再现步骤,在该磁信息再现步骤中,对所述磁记录介质中已写入的磁信息进行再现;以及判定步骤,在该判定步骤中,将用所述第一记录电流值所写入的磁信息的第一再现输出与用所述第二记录电流值所写入的磁信息的第二再现输出进行比较,从而判定所述磁记录介质的矫顽磁力。
以下,参照附图对用于实施本发明的优选方式进行说明。
[介质处理装置的结构]
图1是表示用于实施本发明所涉及的判定方法的介质处理装置的磁头及磁头的控制电路的框图。图2是表示各矫顽磁力介质的饱和特性的图。图3是表示低矫顽磁力介质的再现输出波形的图。图4是表示高矫顽磁力介质的再现输出波形的图。图5是表示对不同记录电流值的磁信息进行记录的比较区域的一个示例的图。
作为本发明所涉及的具有对磁记录介质的不同的矫顽磁力进行判定的功能的介质处理装置,例如有磁卡读取器。对于该磁卡读取器,将磁卡(磁记录介质)插入主体部的插入口来通过辊等传送单元传送到主体部的内部,并且通过设置在传送路径上的磁头进行磁信息的写入(记录)或读取(再现)。
作为磁记录介质的磁卡20例如是厚度为0.7~0.8mm左右的矩形的氯乙烯制的卡。如图1所示,对于磁卡20,在其表面上形成有记录了磁信息的磁记录部(磁条)21。另外,磁记录介质除了磁卡20以外也可以是厚度为0.18~0.36mm左右的PET(聚对苯二甲酸乙二酯)卡、规定厚度的纸卡等。
本实施方式中,磁卡读取器与例如300Oe的低矫顽磁力的磁卡和2750Oe的高矫顽磁力的磁卡这两种磁卡相对应来作为不同的矫顽磁力介质。
如图1所示,这种磁卡读取器包括控制电路10及磁头4。
控制电路10具有控制部1、磁R/W-IC2、记录电流电路3、磁头4、运算放大器7。
控制部1具有:对磁头4及该控制电路整体进行控制的CPU1A;对磁条21中已写入的磁信息的矫顽磁力进行判定的矫顽磁力判定单元1B;将磁条21划分为以低矫顽磁力写入的区域和以高矫顽磁力写入的区域的比较区域设定单元1C;以及对适合于在由比较区域设定单元1C所确定的区域进行写入的记录电流进行切换的矫顽磁力切换单元1D。此外,CPU1A具有存放对控制电路进行控制的程序的ROM以及将其控制数据以能读取的方式进行存储的RAM。
另外,本实施方式中,CPU1A除了对磁头4和控制电路进行控制以外,例如,还对传送磁卡20的传送机构(未图示)进行控制。
矫顽磁力判定单元1B对写入磁条21、检测磁记录介质的位置的传感器等(未图示)磁卡读取器整体的磁信息的矫顽磁力进行判定。具体而言,由图2所示的波形来表示低矫顽磁力的磁卡及高矫顽磁力的磁卡的饱和特性,但利用低矫顽磁力的磁卡和高矫顽磁力的磁卡的饱和特性的再现输出(峰值)的差来识别磁卡20的矫顽磁力。如图2所示,低矫顽磁力的磁卡中,第一记录电流Ia下的再现输出值A>第二记录电流Ib下的再现输出值B,再现输出值A成为低矫顽磁力的磁卡时的再现输出峰值,但对于高矫顽磁力的磁卡则未成为峰值。接下来,第二记录电流Ib下的再现输出值A'<第二记录电流Ib下的再现输出值B'。再现输出值B'成为高矫顽磁力的磁卡的再现输出峰值,但对于低矫顽磁力的磁卡则不是峰值。另外,再现输出A或A'相当于“第一再现输出值”,再现输出值B或B'相当于“第二再现输出值”。
本实施方式中,利用再现头6对磁卡20中已写入的磁信息进行再现,如图3及图4所示,得到一定频率的再现输出波形。矫顽磁力判定单元1B将用第一记录电流Ia所写入的磁信息的再现输出值A与用第二记录电流Ib所写入的磁信息的再现输出值B进行比较。
例如,图3是表示低矫顽磁力的磁卡20的再现输出波形的图,再现输出值(大致为再现输出峰值)A>再现输出值B,因此,基于图2所示的饱和特性判定磁卡20为低矫顽磁力介质。此外,图4是表示高矫顽磁力的磁卡20的再现输出波形的图,再现输出值A'<再现输出值(大致为再现输出峰值)B',因此,基于图2所示的饱和特性判定磁卡20为高矫顽磁力介质。
另外,本实施方式中,对记录在磁卡20中的磁信息以磁卡读取器等F2F记录方式中的1F频率进行写入。即,图3、图4所示的再现输出波形是1F频率的波形。一般而言,作为磁卡读取器等介质处理装置中使用的磁记录方式,已知有通过F及2F这两种频率的组合来将二值的磁信息记录到磁卡20中的FM调制方式。更具体而言,1F是在一定时间内发生一次变化的磁信息,2F是在一定时间内发生两次变化的磁信息。而且,1F的磁信息作为二值化表示“0”,此外,2F的磁信息作为二值化表示“1”。另外,也可以以2F频率来写入磁信息。
比较区域设定单元1C用于在磁条21上设定长度方向上划分为两个以上的区域。将每个比较区域中不同的记录电流值的磁信息记录到划分后得到的区域(比较区域)中。具体而言,在图3所示的比较区域22中,“A”所示的区域是以适合于对低矫顽磁力介质进行写入的第一记录电流Ia写入了磁信息的区域,“B”所示的区域是以适合于对高矫顽磁力介质进行写入的第二记录电流Ib写入了磁信息的区域。同样,在图4所示的比较区域22中,“A'”所示的区域是以适合于对低矫顽磁力介质进行写入的第一记录电流Ia写入了磁信息的区域,“B'”所示的区域是用适合于对高矫顽磁力介质进行写入的第二记录电流Ib写入了磁信息的区域。
对于磁卡20,即使在一定的记录电流值及记录频率下进行写入,有时也会出现图5所示的再现输出波形的峰值不均匀的情况。作为其主要原因,可以认为是不同部位上的磁卡20的磁特性(矫顽磁力、介质厚度)的偏差、以及不同部位上的磁卡20的变形所引起的磁条与磁头之间的间隔的偏差等。
因此,为了在再现输出波形的峰值不均匀的情况下也能提高判定精度,如图5所示那样,将磁条21在长度方向上划分成两个以上,使用记录头5将每个比较区域22中不同的记录电流值的磁信息写入到磁条21上。本实施方式中,如图5所示,对于比较区域22,设定为将磁条21在长度方向上五等分。更详细而言,对于采用本实施方式中的磁卡读取器的情况,将磁条21设定为五等分,并将磁卡20相对于磁头4进行等速传送,因此,设定为等时间划分。
另外,对于比较区域22,将磁条21划分得越细就越能提高判定的精度,但考虑到CPU1A的处理能力、记录电流值进行切换的记录电流电路3的响应时间能力、及再现输出波形的峰值的不均匀程度等,对于本发明的每个适用装置分别决定划分数。磁卡读取器等介质处理装置中,优选将磁条21划分成2至10个。本实施方式中,在比较区域22中,对被划分的各比较区域进行了等分,但并不限于此。此外,在整个磁条21中,在再现输出波形的峰值均匀的情况下,无需划分磁条21,只需对整个磁条21各使用一次第一记录电流Ia和第二记录电流Ib来写入磁信息即可。
矫顽磁力切换单元1D用于切换适合于在由比较区域设定单元1C所确定的比较区域22内进行写入的记录电流。
磁头4包括记录头5和再现头6,记录头5将磁信息写入(记录)到磁卡20中,再现头6对记录在磁卡20中的磁信息进行读取(再现)。本实施方式中,记录头5例如是2750Oe的高矫顽磁力用的记录头,通过改变记录电流的大小也可用作300Oe的低矫顽磁力用的记录头。
另外,图2是表示低矫顽磁力的磁卡和高矫顽磁力的磁卡的饱和特性的图,横轴是记录电流值,纵轴是再现输出值。在图2中,粗实线表示低矫顽磁力的磁卡的再现输出与第一记录电流Ia的关系。细实线表示高矫顽磁力的磁卡的再现输出与第二记录电流Ib的关系。
此处,对于记录电流值,通常将能取得再现输出的饱和电流值Iap的80%的输出的记录电流的1.5倍至5倍左右的电流值设定为第一记录电流Ia。对于由此设定的第一记录电流Ia,以对于电流的变动而输出变动较少的部分进行磁记录,因此,可以认为其作为记录电流是最合适的。同样,将能取得高矫顽磁力(2750Oe)的磁卡的饱和电流值Ibp的80%的输出的记录电流的1.5倍至5倍左右的电流值设为第二记录电流Ib。
记录电流电路3将适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia、或者适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib提供给记录头5,从而利用适合于磁卡20的矫顽磁力的记录电流值来记录磁信息。具体而言,如上所述,如图2所示,将第一记录电流Ia及第二记录电流Ib提供给记录头5。
另外,本实施方式中,在对记录在低矫顽磁力及高矫顽磁力的磁卡20中的磁信息进行消去的情况下也使用磁头5。具体而言,将记录头5对磁卡20的DC消去(直流消去)设定为仅能消去低矫顽磁力(300Oe)的电流值(例如,20~30mA左右)以及能消去低矫顽磁力和高矫顽磁力(2750Oe)双方的电流(例如,120mA以上)。
磁R/W-IC2是配置在记录电流电路3与CPU1A之间、并根据来自CPU1A的指令来控制记录电流电路3对于记录头5的磁写入电流的控制电路。本实施方式中,磁R/W-IC2在将磁信息写入(记录)到设置在磁卡20上的磁条21中的磁头5及读取(再现)磁信息的再现头6之间进行信号控制。由此,记录头5能应对低矫顽磁力(300Oe)及高矫顽磁力(2750Oe)。此外,本实施方式中,磁R/W-IC2在从CPU1A接收到输入输出要求时进行对磁头4的输入输出控制。
运算放大器7对由再现头6读取到的磁卡20的磁信息进行放大,并作为再现输出输入到CPU1A的模拟端口。
[矫顽磁力判定方法的一个实施例]
接下来,对由上述磁卡读取器进行的磁卡的矫顽磁力判定方法进行说明。图6是表示本发明所涉及的磁卡的矫顽磁力判定方法的一个实施例的流程图。
图6所示的磁卡20的矫顽磁力判定方法用于通过记录头5对要形成在低矫顽磁力或高矫顽磁力的磁卡20中的磁信息进行记录,其主要的步骤包括:磁信息记录步骤,在该磁信息记录步骤中,在低矫顽磁力的磁卡20的写入中交替地使用第一记录电流值Ia和第二记录电流值Ib来将磁信息写入磁卡20中;磁信息再现步骤,在该磁信息再现步骤中,对磁卡20中已写入的磁信息进行再现;以及判定步骤,在该判定步骤中,将用适合于对低矫顽磁力介质进行写入的第一记录电流值所写入的磁信息的再现输出值A与用适合于对高矫顽磁力介质进行写入的第二记录电流值所写入的磁信息的再现输出值B进行比较,从而判定磁卡20的矫顽磁力。
如图6所示,磁卡读取器利用传感器等检测出插入到卡插入口中的磁卡20,并将磁卡20收入到主体部的内部(步骤S1)。首先,在磁卡读取器中,将磁卡20从卡插入口插入。
利用未图示的辊等传送单元将从卡插入口插入的磁卡20传送到主体部的内部,并利用设置在传送路径上的再现头6对形成在磁条21上的磁信息进行读取(步骤S2)。
CPU1A对由再现头6所读取到的再现输出中是否含有磁信息进行确认(步骤S3)。另外,该步骤S3称为确认步骤。
在CPU1A判定为磁卡20中写入了磁信息的情况下,记录电流电路3将能消去高矫顽磁力的磁卡20的磁信息的消去电流提供给记录头5,从而对记录在磁卡20中的磁信息进行DC消去(直流消去)(步骤S4)。利用用作直流消去头的记录头5对记录在磁条21上的磁信息进行直流消去,从而使磁条21的磁化状态均匀化。另外,该步骤S4称为消去步骤。
另一方面,在步骤S3中,在CPU1A判定为磁卡20中未写入磁信息的情况下,不进行消去步骤(步骤S4),转移至下一个磁信息记录步骤(S5)。
记录头5用第一或第二记录电流Ia、Ib在磁条21上写入(记录)判定用的磁信息(步骤S5)。另外,该步骤S5称为磁信息记录步骤。此处,CPU1A的比较区域设定单元1C如图5所示那样对磁化状态均匀化后的磁条21在长度方向上设定五等分的比较区域22。此外,控制部1经由磁R/W-IC2从再现头6切换到记录头5。由记录电流电路3将适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia、或者适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib提供给记录头5。使记录头5在被传送的磁卡20的磁条21上滑动,从而将磁信息写入(记录)到磁条21上。
本实施方式中,在所设定的各比较区域22中,用适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia来将判定用的磁信息写入到由“A”表示的区域中。接下来,用适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib来将判定用的磁信息写入到由“B”表示的区域中。另外,本实施方式中,对于记录在磁卡20中的磁信息,用磁卡读取器等F2F记录方式中的1F频率来进行写入。
如上所述,即使在一定的记录电流值及记录频率下对比较区域22进行写入,有时也会出现图5所示那样再现输出波形的峰值不均匀的情况。作为其主要原因,可以认为是不同部位上的磁卡20的磁特性(矫顽磁力、介质厚度)的偏差、不同部位上的磁卡20的变形所引起的磁条与磁头之间的间隔的偏差等。
本实施方式中,将适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia、以及适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib按此顺序交替地进行记录,但也可以与其相反,将适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib、以及适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia按此顺序交替地进行记录。
再现头6对写入磁卡20中的磁信息进行读取(再现)(步骤S6)。另外,该步骤S6称为磁信息再现步骤。此处,对于控制部1,在将磁信息写入到磁卡20的磁条21之后,使用未图示的传送单元等使磁卡20的传送方向反转。而且,经由磁R/W-IC2从记录头5切换到再现头6。再现头6在磁条21上滑动,并输出再现信号。例如,如图3及图4所示,对CPU1A输入一定频率的再现输出波形。
CPU1A的矫顽磁力判定单元1B将由再现头6从各比较区域22读取到的判定用磁信息与用适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia所写入的磁信息的再现输出值A、以及用适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib所写入的磁信息的再现输出值B进行比较,从而判定磁卡20的矫顽磁力(步骤S7)。另外,该步骤S7称为判定步骤。
本实施方式中,在矫顽磁力判定单元1B中,能基于图2所示那样的低矫顽磁力或高矫顽磁力的饱和特性,在再现输出A>再现输出B(图3)时判定磁卡20为低矫顽磁力的磁介质,在再现输出A'<再现输出B'(图4)时判定磁卡20为高矫顽磁力的磁介质。另外,作为对再现输出A与再现输出B进行比较的方法,也可以求出再现输出A与再现输出B的差或比率,从而求出磁卡20的矫顽磁力。由此,能推定磁卡20的矫顽磁力的值,提高低矫顽磁力的磁介质和高矫顽磁力的磁介质的识别精度。
(本实施方式的主要效果)
本实施方式的矫顽磁力判定方法将用适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia所写入的磁信息的再现输出A与用适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib所写入的磁信息的再现输出B进行比较来进行判定。由此,能判定磁卡20是低矫顽磁力的磁介质还是高矫顽磁力的磁介质。由此,本实施方式的矫顽磁力判定方法基于再现输出(再现输出峰值)的大小来判定磁卡20的矫顽磁力,因此,以往那样的再现头6的再现输出的偏差不易影响判定结果,能得到可靠性高的判定结果。
此外,本实施方式中,磁卡读取器由通常所使用的电路及软件所构成,因此,不必为了实施本实施方式的矫顽磁力判定方法而追加新的电路、机构,因而能降低成本。
此外,本实施方式中,由于在磁信息记录步骤(步骤S5)之前具有对磁卡20中已写入的磁信息进行再现以确认有无磁信息的确认步骤(步骤S3),因此,能事先确认磁卡20中是否写入了磁信息,能根据磁信息的有无来转移至合适的处理步骤,例如,在磁卡20中没有写入磁信息的情况下,能直接转移至磁信息记录步骤(步骤S5)。
接下来,在确认步骤(步骤S3)中,在磁卡20中写入了磁信息的情况下,具备利用能消去高矫顽磁力的磁卡20的磁信息的消去电流值来消去磁信息的消去步骤(步骤S4),因此,能在磁信息记录步骤(步骤S5)中对用第一或第二记录电流Ia、Ib所写入的判定用的磁信息的再现输出进行比较来判定矫顽磁力,能排除已经写入磁卡20中的磁信息对判定结果带来的影响。而且,本实施方式中,利用能消去高矫顽磁力的磁卡20的磁信息的消去电流值来消去磁信息,因此,即使磁卡20为低矫顽磁力的磁介质,也能消去其磁信息。
而且,在磁信息记录步骤(步骤S5)中,将磁卡20的要记录磁信息的磁条21在长度方向上设定成比较区域(本实施方式中划分为五等分),对该划分后得到的每个比较区域22交替地使用第一记录电流Ia和第二记录电流Ib来将磁信息写入磁条21。由此,能抑制因磁卡20的变形、磁特性的偏差、以及磁卡20与磁头4之间的间隔的偏差所引起的再现输出的偏差,因而能得到可靠性更高的判定结果。由此,在再现输出波形的峰值不均匀的情况下,对每个比较区域22交替地使用第一记录电流Ia和第二记录电流Ib来将磁信息写入磁条21,由此能提高判定的精度。
[矫顽磁力判定方法的其它实施例]
图9是表示本发明所涉及的磁卡的矫顽磁力判定方法的其它实施例的流程图。
图9所示的磁卡20的矫顽磁力判定方法中,磁卡读取器利用传感器等来检测插入到卡插入口中的磁卡20,并将磁卡20收入到主体部的内部(步骤S11/相当于图6所示的步骤S1)。
记录头5用第一或第二记录电流Ia、Ib在磁条21上写入判定用的磁信息(步骤S12)。具体而言,交替地使用适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia、以及者适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib来将磁信息写入磁卡20中。另外,该步骤S12称为磁信息记录步骤,相当于图6所示的步骤S5。
另外,在磁信息记录步骤(步骤S12)中,与上述实施方式相同,将磁卡20的要记录磁信息的磁条21在长度方向上设定成比较区域(本实施方式中划分为五等分),对该划分后得到的每个比较区域22交替地使用第一记录电流Ia和第二记录电流Ib来将磁信息写入磁条21。
再现头6对写入磁卡20中的磁信息进行读取(再现)(步骤S13)。另外,该步骤S13称为磁信息再现步骤,相当于图6所示的步骤S5。步骤S13与步骤S5相同,再现头6对已写入磁卡20的磁信息进行再现,例如,如图3及图4所示,对CPU1A输入一定频率的再现输出波形。
CPU1A的矫顽磁力判定单元1B将由再现头6从各比较区域22读取到的判定用磁信息与用适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia所写入的磁信息的再现输出值A、以及用适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib所写入的磁信息的再现输出值B进行比较,从而判定磁卡20的矫顽磁力。另外,该步骤S14称为判定步骤,相当于图6所示的步骤S7。
判定步骤(步骤S14)与图6所示的判定步骤(步骤S6)不同,在再现输出A>再现输出B时判定磁卡20为低矫顽磁力的磁介质,在其他情况下判定磁卡20为高矫顽磁力的磁介质。如图2所示,高矫顽磁力的磁卡20的再现输出的差值(B'-A')通常小于低矫顽磁力的磁卡20的再现输出的差值(A-B)。因此,判定步骤(步骤S14)中也会产生难以识别高矫顽磁力的磁卡20的再现输出的差值(B'-A')的情况(B'=A'),但此时如果不是A'>B',则判定为是高矫顽磁力的磁介质,由此能避免无法判定的情况。因此,能可靠地得到判定结果。
图9所示的实施方式中,对于容易识别的低矫顽磁力的磁卡20,在再现输出A>再现输出B的情况下判定磁卡20为低矫顽磁力的磁介质,由此,即使在无法判定磁信息的再现输出差的情况下也能识别出是高矫顽磁力的磁介质。
[其它实施方式]
对于本发明的矫顽磁力判定方法,例如在得到图7及图8所示的再现输出(再现输出峰值)的情况下,分别求出用同一记录电流值写入到多个比较区域中的磁信息的再现输出(再现输出A及再现输出B)的平均值,能通过比较该再现输出的平均值来判定磁卡20的矫顽磁力。由此,通过比较再现输出的平均值来抑制再现输出的偏差,由此能得到可靠性更高的判定结果。
此外,上述的磁信息记录步骤中,交替地使用适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia、以及者适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib来将磁信息写入磁卡20,但并不限于此。例如,可以包括交替使用三种以上的记录电流值来将磁信息写入磁记录介质的单元。如果是这样的方法,则在磁信息记录步骤中,交替使用三种以上的记录电流值将磁信息写入磁记录介质,从而能识别多种矫顽磁力,例如,低矫顽磁力(例如,650Oe以下)、中矫顽磁力(例如,1500Oe左右)、高矫顽磁力(例如,2750Oe以上),而不限于低矫顽磁力的磁介质和高矫顽磁力的磁介质的识别。
另外,在整个磁条21中,在再现输出波形的峰值均匀的情况下,无需划分磁条21,比较区域设定单元1C可以设定为对整个磁条21各使用一次第一记录电流Ia和第二记录电流Ib来写入磁信息。
此外,本实施方式中,将比较区域作为整个磁条21进行了说明,但并不限于此,比较区域也可以是长度方向的规定区域。具体而言,可以是整个磁条21的长度的一半左右、例如前半部分或后半部分,也可以进一步将例如磁条21的长度方向的正中间附近设定为比较区域。
本实施方式中,如图5所示,将适合于对低矫顽磁力的磁卡20进行写入的第一记录电流Ia(再现输出A区域)、以及适合于对高矫顽磁力的磁卡20进行写入的第二记录电流Ib(再现输出B区域)按此顺序交替地进行记录,但也可以与其相反,将适合于对高矫顽磁力的磁卡进行写入的第二记录电流Ib、以及适合于对低矫顽磁力的磁卡进行写入的第一记录电流Ia按此顺序交替地进行记录。
此外,本实施方式中,设置了确认步骤(步骤S3),但也可以不设置确认步骤(S3)、而始终进行消去步骤(步骤S4)。
工业上的实用性
本发明所涉及的磁记录介质的矫顽磁力判定方法可用于能明确地判定磁记录介质的矫顽磁力而不会受磁头、磁记录介质的特性、记录电流值的偏差的影响的磁记录介质的矫顽磁力判定方法。
标号说明
1CPU
2磁R/W-IC
3记录电流电路
4磁头
5记录头
6再现头
7运算放大器
10磁卡读取器(介质处理装置)
20磁卡(磁记录介质)
21磁条(磁记录部)
22比较区域

Claims (8)

1.一种磁记录介质的矫顽磁力判定方法,该磁记录介质的矫顽磁力判定方法用于通过磁头对要形成在低矫顽磁力的磁介质或高矫顽磁力的磁介质中的磁信息进行记录,其特征在于,具有:
磁信息记录步骤,在该磁信息记录步骤中,在所述磁记录介质的长度方向上的不同位置处交替地使用适合于对所述低矫顽磁力的磁介质进行写入的第一记录电流值、以及适合于对所述高矫顽磁力的磁介质进行写入的第二记录电流值来将磁信息写入所述磁记录介质;
磁信息再现步骤,在该磁信息再现步骤中,对所述磁记录介质中已写入的磁信息进行再现;以及
判定步骤,在该判定步骤中,将用所述第一记录电流值所写入的磁信息的第一再现输出与用所述第二记录电流值所写入的磁信息的第二再现输出之差进行比较,从而判定所述磁记录介质的矫顽磁力。
2.如权利要求1所述的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,
在所述判定步骤中,在所述第一再现输出>所述第二再现输出时,判定所述磁记录介质为低矫顽磁力的磁介质,在其他情况下判定所述磁记录介质为高矫顽磁力的磁介质。
3.如权利要求1所述的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,
在所述磁信息记录步骤之前,具有对所述磁记录介质中已写入的磁信息进行再现来确认有无磁信息的确认步骤。
4.如权利要求3所述的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,
在所述确认步骤中,在所述磁记录介质中写入了磁信息的情况下,具备利用能对所述高矫顽磁力的磁介质的磁信息进行消去的消去电流值来消去该磁信息的消去步骤。
5.如权利要求3所述的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,
在所述判定步骤中,在所述第一再现输出>所述第二再现输出时,判定所述磁记录介质为低矫顽磁力的磁介质,在所述第一再现输出<所述第二再现输出时,判定所述磁记录介质为高矫顽磁力的磁介质。
6.如权利要求1至5中任一项所述的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,
在所述磁信息记录步骤中,将所述磁记录介质的要记录磁信息的磁记录部在长度方向上进行划分,对该划分后得到的每个比较区域交替地使用所述第一记录电流值和所述第二记录电流值来将磁信息写入所述磁记录部,
在所述判定步骤中,对在多个比较区域中用相同记录电流值所写入的磁信息的再现输出进行比较,从而判定所述磁记录介质的矫顽磁力。
7.如权利要求3所述的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,
在所述判定步骤中,求出所述第一再现输出与所述第二再现输出的差或比率,并求出所述磁记录介质的矫顽磁力。
8.如权利要求6所述的磁记录介质的矫顽磁力判定方法,其特征在于,
在所述判定步骤中,求出所述第一再现输出与所述第二再现输出的差或比率,并求出所述磁记录介质的矫顽磁力。
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