CN102901742A - 一种用x射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法 - Google Patents
一种用x射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜化学成分的方法,技术方案是:熔剂和试样的比例为8:1.5,用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔制成玻璃片后,直接用X射线荧光光谱分析仪扫描,测定镍、铬、铜的强度,根据强度与含量确定线性关系,然后根据镍、铬、铜的强度,计算其中镍、铬、铜的含量。本发明的积极效果是:在测定钙、镁、硅、铝、钛、锰、磷等元素的同时测定镍、铬、铜的含量,准确度和精密度均优于传统的化学分析方法;具有科学性、先进性、适用性、可推广性,分析时间短、准确度高、重复性好、无污染等特点。
Description
技术领域
本发明涉及一种用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜化学成分的方法,属于冶金化学分析试验技术领域。
背景技术
在钢铁企业,铁矿作为主要原材料之一,所含的化学成分对最终的钢产品有着重要的影响,其中铁矿中的镍、铬、铜三种元素在冶炼的过程中很难被除去,而该三种元素在不同的钢种中,有着不同的要求,因此,从原材料开始对合理控制镍、铬、铜的含量非常重要。而传统的化学分析方法,只能单个元素分析,样品前处理复杂,环节多,操作难度大,耗时长(单个样品需一周时间)、消耗试剂多、重复性差,尤其是对于低含量的样品,化学法测定困难相应更大,而且重复性明显不好。
发明内容
本发明的目的是提供一种用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法,分析时间短,没有化学污染,准确度高、重复性好,解决背景技术存在的上述问题。
本发明的技术方案是:
熔剂和试样的比例为8:1.5,用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔制成玻璃片后,直接用X射线荧光光谱分析仪扫描,测定镍、铬、铜的强度,根据强度与含量确定线性关系,然后根据镍、铬、铜的强度,计算其中镍、铬、铜的含量。
本发明根据样品中镍、铬、铜的含量确定了样品与熔剂的合理比例;通过对常规样片的扫描,确定了仪器的分析条件;通过对标准样片进行待测元素强度的扫描,根据强度与含量绘制工作曲线,进而测定铁矿中的化学成分。
本发明采用玻璃熔片法制样,该方法操作简单,分析速度快,可在分析Ni、Cr、Cu的同时分析铁矿中的CaO、MgO、SiO2、Al2O3、TiO2、P、MnO等成分,通过确认,该方法具有科学性、先进性、适用性、分析时间短、准确度高、重复性好、检出限低、污染少等特点。重复性和再现性均优于传统的化学方法。
本发明的积极效果是:本发明优于传统的化学分析方法;同时该方法又可以作为GB/T 6730.62-2005的一个补充,在测定钙、镁、硅、铝、钛、锰、磷、钡的同时测定镍、铬、铜的含量。该方法具有科学性、先进性、适用性、可推广性,分析时间短、准确度高、重复性好、无污染等特点,通过正确度验证,表明此方法具有极高的准确度和精密度。
具体实施方式
下面通过实施例对本发明做进一步说明。
用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法,包含如下工艺步骤:熔剂和试样的比例为8:1.5,用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔制成玻璃片后,直接用X射线荧光光谱分析仪扫描,测定镍、铬、铜的强度,根据强度与含量确定线性关系,然后根据镍、铬、铜的强度,计算其中镍、铬、铜的含量。
更具体的实施方式:
1、主要设备:
a)、波长色散X射线荧光光谱分析仪:
检测器为扫描型流气正比计数器和闪烁计数器;
最大功率:4kW;
b)、制样设备:
高频熔样炉或红外熔样炉。
2、化学试剂:
a)、氧化剂LiNO3:300mg/ml;
b)、脱膜剂LiBr:200mg/ml。
c)、熔剂LiB4O7+LiBO2:67%+33%
注:以上试剂均为分析纯以上级别。
3、玻璃样片的制备
称取8.0000g熔剂,1.5000g试样,加1ml 300mg/ml的LiNO3,1ml 200mg/ml的LiBr,首先,在600℃下预氧化3min,在1100℃下熔融7min,后4min摇摆,熔融完全后,倒模,样片冷却至室温备用。
由于考虑到试样量为1.5g,为了避免腐蚀坩埚,而且样片容易倾倒,特提高了氧化剂LiNO3和脱模剂LiBr的浓度和含量。
4、绘制工作曲线
a)、标准样品的选择
根据日常检测样品的含量,选择适合的一系列标样,按3熔制玻璃片。
表1:标准样品
标样编号 | Sum(%) | Fe2O3(%) | CaO(%) | MgO(%) | SiO2(%) | Al2O3(%) | TiO2(%) | P(%) | S(%) | Ni(%) | Cr(%) | Cu(%) | V2O5(%) | Co(%) | MnO(%) |
GBW07224 | 91.27 | 38.159 | 6.38 | 6.16 | 20.33 | 8.26 | 10.63 | 0.01 | 0.687 | 0.0094 | 0.0067 | 0.02 | 0.313 | 0.018 | 0.288 |
GBW07225 | 99.69 | 39.389 | 7.5 | 6.17 | 25.47 | 10.29 | 9.72 | 0.0119 | 0.566 | 0.0083 | 0.0099 | 0.015 | 0.258 | 0.016 | 0.264 |
GBW07226 | 102.16 | 72.644 | 1.48 | 3.49 | 5.55 | 5.11 | 12.34 | 0.0026 | 0.57 | 0.014 | 0.024 | 0.021 | 0.558 | 0.02 | 0.336 |
GBW07227 | 98.18 | 18.915 | 11.62 | 8.32 | 36.33 | 11.47 | 10.74 | 0.0115 | 0.446 | 0.0048 | 0.0033 | 0.0065 | 0.059 | 0.0098 | 0.242 |
YSBC19701 | 99.82 | 38.159 | 8.21 | 6.41 | 26.85 | 10.33 | 8.73 | 0.015 | 0.544 | 0.0088 | 0.0046 | 0.015 | 0.252 | 0.014 | 0.277 |
YSBC19702 | 102.49 | 72.029 | 1.8 | 3.57 | 6.44 | 5.56 | 11.46 | 0.007 | 0.648 | 0.0182 | 0.0184 | 0.0272 | 0.55 | 0.0179 | 0.343 |
YSBC19703 | 96.21 | 20.831 | 9.16 | 9.4 | 33.99 | 13.5 | 7.43 | 0.025 | 1.49 | 0.0184 | 0.0042 | 0.0422 | 0.076 | 0.0247 | 0.216 |
GSB03-2037-06 | 101.17 | 92.77 | 1.36 | 1.72 | 3.51 | 1.18 | 0.084 | 0.0064 | 0.409 | I | I | 0.008 | I | I | 0.119 |
YSBC11704-08 | 102.57 | 95.289 | 0.11 | 0.2 | 6.63 | 0.19 | 0.008 | 0.013 | 0.06 | I | I | 0.0011 | I | I | 0.069 |
GSB03-2022-06 | 94.29 | 87.97 | 0.118 | 0.109 | 3.43 | 2.12 | 0.069 | 0.068 | 0.038 | 0.0027 | 0.0054 | 0.0014 | I | 0.0009 | 0.356 |
GSB03-2023-06 | 96.32 | 89.027 | 0.144 | 0.156 | 4.2 | 2.39 | 0.073 | 0.078 | 0.02 | 0.0024 | 0.0027 | 0.0015 | I | 0.001 | 0.22 |
GSB03-2024-06 | 94.9 | 88.798 | 0.021 | 0.101 | 2.92 | 2.06 | 0.068 | 0.067 | 0.013 | 0.0033 | 0.0038 | 0.0018 | I | 0.0015 | 0.839 |
GSB03-2025-06 | 98.12 | 94.846 | 0.02 | 0.063 | 1.02 | 1.42 | 0.076 | 0.034 | 0.007 | 0.0008 | 0.0015 | 0.0085 | I | 0.0009 | 0.62 |
GSB03-2026-06 | 98.61 | 95.032 | 0.028 | 0.091 | 1.79 | 1.36 | 0.061 | 0.055 | 0.0066 | 0.0019 | 0.003 | 0.0014 | I | 0.0008 | 0.177 |
801-6 | 95.65 | 88.284 | 0.02 | 0.0531 | 4.17 | 2.06 | 0.068 | 0.06 | 0.0093 | 0.0033 | 0.005 | 0.002 | I | I | 0.913 |
804-2 | 99.38 | 95.69 | 0.069 | 0.0164 | 2.503 | 0.96 | 0.031 | 0.05 | 0.0132 | 0.0028 | 0.0244 | T | I | I | 0.021 |
850-4 | 99.72 | 93.888 | 0.41 | 0.79 | 4.12 | 0.4 | 0.056 | 0.013 | 0.006 | I | 0 | 0.008 | I | I | 0.025 |
110604045Q | 1.23 | I | I | I | I | I | I | I | I | I | 1.23 | I | I | I | I |
b)、扫描常规样片,确定分析条件
选择化学成分较高的常规试样进行扫描,一般无干扰的kα1线作为分析谱线,最大峰位为实际检测峰位;分光晶体的一般选择原则是LiF适合Ni~Te范围内的大部分元素,PET适合于Al~Cl范围内的元素,OVO-55适合于O~Mg范围内的元素;光管电压、电流、准直器狭缝等因素要综合考虑,确保检测器接收到的光子强度不高于500kcps;PHA窗口分析尽在不引入其它谱线信号的同时尽可能加大窗口;背景一般两边对称时选择单点作为背景,当待测信号强高于背景信号10倍以上时,可以忽略背景强度,以缩短扫描时间;分析时间在扫描信号偏差小于0.3%时作为分析结束时间。最终确定最佳分析条件如下:
表2:分析条件
c)、扫描标样强度,制作并优化工作曲线
在已确定的分析条件下,扫描标准样品,数据处理器自动制作工作曲线,由于标准样品已知成分含量不能全部在95~105%范围内,因此本实验中只能采用固定α系数校正;样品采用熔融法制成玻璃片,基体效应小,无干扰元素。优化后工作曲线信息如下:
表3:工作曲线信息
检测项目 | 斜率,(%/kcps) | 截距,% | 线性范围,% | SD,% |
CaO | 0.08467 | 0.044 | 0.02-11.62 | 0.0741 |
MgO | 0.4394 | -0.012 | 0.02-9.40 | 0.128 |
SiO2 | 0.6377 | -0.0128 | 1.02-26.86 | 0.143 |
Al2O3 | 0.5408 | -0.0129 | 1.02-26.86 | 0.143 |
MnO | 0.02223 | 0.0016 | 0.02-0.91 | 0.0214 |
TiO2 | 0.07202 | 0.02 | 0.3-12.34 | 0.0182 |
P | 0.2531 | 0.001 | 0.0026-0.078 | 0.0023 |
Ni | 0.01379 | 0.0009 | 0.002-0.018 | 0.0023 |
Cr | 0.01017 | 0.0044 | 0.007-1.20 | 0.00178 |
Cu | 0.007692 | 0.012 | 0.011-0.040 | 0.0021 |
5、正确度实验
a)、准确度实验
根据以上样品熔制方法和分析条件对现有样品进行分析,数据如下:
表4:与ICP-AES法和北钢院的比对数据表
b)、精密度实验
对同一样片连续扫描10次,计算得到数据如下:
表5:精密度实验数据
检测项目 | CaO/% | MgO/% | SiO2/% | Al2O3/% | TiO2/% | P/% | Cr/% | Ni/% | Cu/% |
1 | 0.056 | 0.62 | 5.23 | 7.40 | 0.156 | 0.074 | 0.95 | 0.51 | 0.015 |
2 | 0.057 | 0.62 | 5.24 | 7.37 | 0.159 | 0.073 | 0.95 | 0.51 | 0.014 |
3 | 0.057 | 0.61 | 5.24 | 7.39 | 0.159 | 0.071 | 0.95 | 0.51 | 0.014 |
4 | 0.058 | 0.60 | 5.28 | 7.40 | 0.158 | 0.072 | 0.95 | 0.51 | 0.014 |
5 | 0.058 | 0.61 | 5.27 | 7.37 | 0.158 | 0.072 | 0.95 | 0.51 | 0.014 |
6 | 0.058 | 0.61 | 5.29 | 7.41 | 0.159 | 0.071 | 0.96 | 0.51 | 0.015 |
7 | 0.058 | 0.61 | 5.26 | 7.43 | 0.156 | 0.072 | 0.96 | 0.51 | 0.014 |
8 | 0.057 | 0.60 | 5.25 | 7.41 | 0.160 | 0.078 | 0.96 | 0.51 | 0.015 |
9 | 0.058 | 0.59 | 5.34 | 7.27 | 0.157 | 0.069 | 0.96 | 0.51 | 0.014 |
10 | 0.059 | 0.60 | 5.28 | 7.30 | 0.158 | 0.070 | 0.95 | 0.50 | 0.015 |
Average | 0.058 | 0.61 | 5.27 | 7.38 | 0.158 | 0.072 | 0.95 | 0.51 | 0.014 |
S.D. | 0.001 | 0.009 | 0.032 | 0.051 | 0.001 | 0.002 | 0.005 | 0.003 | 0.001 |
以上数据表明该分析方法有较高的准确度和精密度,重复性和再现性均优于传统的化学方法。
对实际试样进行分析,按上述内容将试样熔制成玻璃片,采用以上分析条件和工作曲线进行分析,测得数据如下:
表6:常规实验数据
检测项目 | CaO/% | MgO/% | SiO2/% | Al2O3/% | TiO2/% | P/% | Mn% | Cr/% | Ni/% | Cu/% |
110701487Q | 0.75 | 0.81 | 11.18 | 1.26 | 0.59 | 0.028 | 0.071 | 0.017 | 0.005 | 0.004 |
Claims (4)
1.一种用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法,其特征在于包含如下工艺步骤:熔剂和试样的比例为8:1.5,用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔制成玻璃片后,直接用X射线荧光光谱分析仪扫描,测定镍、铬、铜的强度,根据强度与含量确定线性关系,然后根据镍、铬、铜的强度,计算其中镍、铬、铜的含量。
2.根据权利要求1所述之用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法,其特征在于玻璃样片的制备过程,熔剂中的偏硼酸锂和四硼酸锂所占比例为33%和67%。
3.根据权利要求1或2所述之用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法,其特征在于玻璃样片的制备过程,还需加入氧化剂和脱膜剂,氧化剂为1ml 300mg/ml的LiNO3,脱膜剂为1ml 200mg/ml的LiBr。
4.根据权利要求3所述之用X射线荧光光谱分析法测定铁矿石中镍铬铜的方法,其特征在于玻璃样片的制备过程是在600℃下预氧化3min,1100℃下熔融7min,至少摇摆4min。
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Legal Events
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---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20130130 |