CN102853811A - 光学式测距装置和电子设备 - Google Patents

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Abstract

一种光学式测距装置。把保持发光透镜(5)和受光透镜(6)的由金属构成的透镜框架(11)保持在由遮光性树脂构成的二次模制件(9)与三次模制件(10)之间。向形成在二次模制件(9)上表面的固定孔(9a)和形成在透镜框架(11)的通孔(11a)填充用于形成三次模制件(10)的遮光性树脂,以形成锚定(10a)。把透镜框架(11)由金属构成,由于即使周围温度变化和自身发热也几乎不热膨胀,所以几乎没有透镜之间距离变化量的差。由于利用锚定(10a)把透镜框架(11)固定在二次模制件(9)与三次模制件(10)之间,所以能够抑制在透镜框架(11)与二次模制件(9)和三次模制件(10)之间产生的由热膨胀系数差引起的滑移。

Description

光学式测距装置和电子设备
技术领域
本发明涉及光学对到测距对象物进行测定距离的光学式测距装置,特别是涉及在由于回流焊等温度变化而热膨胀或收缩的情况下,也具有高测距精度的光学式测距装置和安装它的电子设备。
背景技术
图17是用于说明一般三角测距法原理的图。
如图17所示,现有一般的光学式测距装置例如具有:发光元件201、受光元件202、发光透镜203和受光透镜204。
该光学式测距装置中,从配置在原点(0,0)的发光元件201射出的光束利用配置在A点(0,d)的发光透镜203而成为大致平行光束(发光轴205),作为点光向测距对象物211上的B点(0,y)照射。被测距对象物211反射的光束(受光轴206)由配置在C点(L,d)的受光透镜204(聚光透镜)聚光,在配置于沿x方向的轴上的受光元件202上的D点(L+1,0)成像,形成受光点。在此,当把通过C点(受光透镜204的中心)且与y轴平行的线与受光元件202的受光面交叉的点设定为E(L,0),则三角形ABC与三角形ECD相似。因此,到测距对象物211的距离y,通过受光元件202检测受光点的位置并测定ED(l),则能够通过下面的式(1)来计算。
y = L · d l - - - ( 1 )
如上所述,光学式测距装置检测在受光元件202上形成的受光点的位置,并根据式(1)来计算到测距对象物211的距离。为了能够正确地求该距离,就需要固定发光透镜203与受光透镜204之间的距离L和受光透镜204与受光元件202之间的距离d。
图18是表示利用上述原理的一般光学式测距装置300结构的剖视图。
如图18所示,光学式测距装置300具有:上述的发光元件201、受光元件202、发光透镜203和受光透镜204,且把它们由壳体301保持。壳体301一般为了价格低而由遮光性树脂形成。
该光学式测距装置300中,由于壳体301一般由具有大热膨胀系数的树脂形成,所以当周围温度变化则受其影响而伸缩。因此,例如周围温度上升而壳体伸长时,发光透镜203和受光透镜204分别向虚线表示的位置移动,使透镜之间的距离L变化(变大)。其结果是室温时的发光透镜203的光轴205a和受光透镜204的光轴206a分别变化成虚线表示光轴205b和光轴206b。在该状态下,尽管测距对象物211的位置没改变,但在受光元件202上形成的光点的位置与室温时相比却向外侧漂移了。例如这样在周围温度上升的情况下,测距对象物211被误测定成处于比实际近的位置。
专利文献1、2公开了能够消除这种不好情况的技术。图19是表示专利文献1记载的光学式测距装置400结构的剖视图。图20是表示专利文献2记载的光学式测距装置500结构的剖视图。
如图19所示,光学式测距装置400具有:发光元件401、受光元件402、投光透镜403(发光透镜)和受光透镜404。把收容发光元件401的组件405和投光透镜403固定在同一个第一壳体406,另一方面,把收容受光元件402的组件407和受光透镜404固定在同一个第二壳体408。把第一壳体406和第二壳体408由本体部409连接而构成本体壳体410。
该光学式测距装置400即使在本体壳体410产生热膨胀的情况下,在第一壳体406中也能够维持发光元件401与投光透镜403的位置关系,在第二壳体408中也能够维持受光元件402与受光透镜404的位置关系。由此,从受光元件402的中心到反射光的光点位置的距离不会产生变动,能够保持测定精度。
如图20所示,光学式测距装置500具有:成像透镜501a、501b、成像透镜501a、501b的保持部件502、CCD组件503a、503b(光传感器阵列)和CCD组件503a、503b的保持部件504。该光学式测距装置500的成像透镜501a、501b和保持部件502、504由没有吸湿性的塑料构成并由同一材料形成。
这种光学式测距装置500的成像透镜501a、501b和保持部件502、504由于热膨胀而整体均匀地伸展。由此,能够防止由温度变化引起的测距精度降低。
这样,上述的光学式测距装置400、500中,受、发光元件和保持透镜的部件由于周围温度变化而在均匀伸缩的情况下,能够保持受、发光元件与透镜的位置关系,以满足三角测量的原理。但光学式测距装置400、500在受、发光元件自身发热的情况下,由于装置整体的温度变化不均匀,所以受、发光元件近旁的部件和透镜近旁的部件成为不同的温度,结果是与之相应地以不同的伸缩量进行伸缩。因此,不能维持受、发光元件与透镜的位置关系。
关于在这样产生不均匀温度变化的情况下受光点位置的校正方法,在专利文献1、2中没有记载。因此,专利文献1、2所记载的技术不能防止由受、发光元件自身发热引起的测距精度降低,因此,不能满足地利用三角测距法的原理。
专利文献3公开了能够消除这种不好情况的技术。图21是表示专利文献3记载的光学式测距装置600结构的剖视图。
如图21所示,光学式测距装置600具有:一对透镜601a、601b、一对CCD组件602a、602b、透镜保持部件603、CCD保持部件604和温度传感器605、606。温度传感器605被安装在透镜保持部件603上的透镜602a、602b之间,温度传感器606被安装在CCD保持部件604上的CCD组件602a、602b之间。
这种光学式测距装置600使用温度传感器605、606的输出来求由CCD组件602a、602b内CCD芯片607a、607b(受光元件)自身发热引起的透镜保持部件603与CCD保持部件604的温度差。并利用该温度差来校正CCD芯片607a、607b上的物体像的漂移量。由此,能够校正由CCD芯片607a、607b自身发热引起的透镜保持部件603与CCD保持部件604的热膨胀的差,保持测距精度。
但光学式测距装置600为了防止测距精度降低就需要有温度传感器605、606。且不能把温度传感器605、606内藏在CCD芯片607a、607b等,必须配置成个别地与透镜保持部件603和CCD保持部件604接触。而且为了发送温度传感器605、606的输出信号则还需要配线。因此,光学式测距装置600的结构复杂,其结果是组装工时增加,难于便宜地提供光学式测距装置600。
于是,考虑仅设置温度传感器605、606中的某一个,以把光学式测距装置600的结构更简单化。但仅设置温度传感器605、606中的某一个则会招致下面说明的不好情况。
图22是表示现有光学式测距装置700结构的剖视图。
如图22所示,光学式测距装置700中,周围热把包括光学式测距装置700侧面的光学式测距装置700整体均匀地加热或冷却,使各部件膨胀或收缩。由此,使发光透镜703与受光透镜704之间的距离以及发光元件701与受光元件702之间的距离变化。另一方面,由向发光元件701和受光元件702的通电而引起的自身发热,把封固这些元件的遮光性树脂部705直接加热而膨胀。来自发光元件701和受光元件702的放射热以及从遮光性树脂部705向保持发光透镜703和受光透镜704的透镜保持部件706传导的热,间接地加热透镜保持部件706的透镜保持部分而膨胀。
因此,在产生自身发热的情况下,遮光性树脂部705和透镜保持部件706由于温度不同而按照固有的热膨胀系数随着各自的温度变化而膨胀。因此,发光透镜703与受光透镜704之间的距离变化量在由周围热加热光学式测距装置700的情况下,成为如箭头I所示那样,在由自身发热加热光学式测距装置700的情况下,成为如箭头J所示那样,各自的情况不同。
因此,为了分别预测由自身发热引起的两元件701、702之间的距离变化和两透镜703、704之间的距离变化,就必须具备分别个别地检测遮光性树脂部705温度和透镜保持部件706温度的温度传感器。
光学式测距装置600中透镜601a、601b之间的距离变化量,也是由周围热加热光学式测距装置600的情况与由自身发热加热光学式测距装置600的情况不同。因此,若把温度传感器605、606仅安装在透镜保持部件603或仅安装在CCD保持部件604,例如在温度上升的情况下,则是由于周围温度上升还是由于自身发热的影响而使温度变化就不明确。因此,不能正确掌握透镜601a、601b与CCD芯片607a、607b的位置关系,产生测距精度降低的问题。
于是,为了抑制由以周围热或自身发热为原因产生的热膨胀所引起的受、发光透镜之间的距离变化其本身,例如在图18所示的光学式测距装置300,考虑把保持发光透镜203和受光透镜204的壳体301的一部分由金属形成。具体说就是把保持发光透镜203和受光透镜204的部分由金属制的框架(透镜框架)构成,把该透镜框架安装在壳体301。通过这样把壳体301的一部分设定成是热膨胀系数小的金属制,则能够抑制由热膨胀引起的受、发光透镜之间距离的变化,能够消除由相应于周围热和自身发热产生的热膨胀所引起的受、发光透镜之间距离变化的不同。与把壳体301整体设定成金属制相比,能够抑制价格上升。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本国公开专利公报“特开2006-337320号公报(2006年12月14日公开)”
专利文献2:日本国公开专利公报“特开平11-281351号公报(1999年10月15日公开)”
专利文献3:日本国公开专利公报“特开2001-99643号公报(2001年4月13日公开)”
为了把光学式测距装置向电子设备安装,就需要把光学式测距装置安装在基板等上。在安装中,为了对发光元件和受光元件输入输出信号和供给电源,把设置在安装有发光元件和受光元件的引线框的多个端子向基板焊接。
随着近年来光学式测距装置的小型化,上述端子之间的间隔变狭窄。且要求高效率地大量生产安装有这种被小型化了的光学式测距装置的电子设备。接受该要求,而作为端子焊接的方法则对于回流焊的需要比现有的手工作业非常高涨。
当使光学式测距装置通过回流焊炉,则其一般地被短时间暴露在260℃以上的高温下。这时,形成受、发光透镜、受、发光元件、壳体、封固受、发光元件的元件封固部等各部分的各树脂就依据其热膨胀系数而膨胀,引线框和上述的透镜框架也同样地依据其热膨胀系数而膨胀。
但构成引线框和透镜框架的金属的热膨胀系数比树脂的热膨胀系数小。因此,在引线框与元件封固部的界面、透镜框架与壳体的界面以及透镜框架与透镜的界面就由于热膨胀系数的差而产生应力。在从回流焊炉出来时,光学式测距装置被相反地急剧冷却到室温附近。因此,在高温环境下膨胀了的光学式测距装置就急剧收缩。
在这种从加热到冷却的过程中,例如着眼于壳体和透镜框架时,在壳体与透镜框架的贴紧力不充分的情况下,在高温环境中的升温中则由于它们界面的应力而使透镜框架从壳体滑移。在向室温的急剧降温中,在它们的界面也有应力作用,使透镜框架从壳体滑移。因此,与进行回流焊的安装前相比,受、发光透镜与受、发光元件的相对位置关系有变化。其结果是如上述三角测距原理说明的那样,由于受光点的位置漂移而即使使用该位置来进行上述式(1)的计算,得到的距离也从正确的值偏离。
若冷却时与过热时产生完全相反的滑移,则壳体与透镜框架的位置关系就会返回到原来,不出现由回流焊引起的上述不好情况。但实际是壳体与透镜框架的位置关系不会返回到原来。
在着眼于壳体和透镜框架的界面时,由于加热时的膨胀和冷却时的收缩而在该界面产生的变形不是完全以正相反的矢量产生。例如由于回流焊的升温曲线与降温曲线不同,所以在上述界面的内部温度分布在加热时和冷却时是不对称的。因此,加热时产生的滑移与冷却时产生的滑移不同,受、发光透镜对受、发光元件的相对位置关系有变化。
由于即使这样使用金属制的透镜框架,在急剧的加热和冷却时在透镜框架与树脂部件的界面也产生滑移,所以出现测距精度下降的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高耐热且高精度的光学式测距装置。
本发明的光学式测距装置对到测距对象物进行测定的距离,具有:发光元件,其被安装在安装部件上;发光透镜,其把所述发光元件射出的光向所述测距对象物照射;受光元件,其被安装在所述安装部件上,检测所述测距对象物的反射光汇聚的位置;受光透镜,其把所述反射光向所述受光元件汇聚;透光性树脂体,其封固所述发光元件和所述受光元件;第一遮光性树脂体,其覆盖所述透光性树脂体,以形成所述射出光从所述发光元件到所述发光透镜的空间和所述反射光从所述受光透镜到所述受光元件的空间;透镜框架,其由金属形成,保持所述发光透镜和所述受光透镜;第二遮光性树脂体,其封固所述第一遮光性树脂体,且与所述第一遮光性树脂体一起来保持所述透镜框架,其中,在所述透镜框架形成有通孔,在所述第一遮光性树脂体或所述第二遮光性树脂体的任一个具有向另一个侧突出的凸部,该凸部贯通所述通孔并在从所述透镜框架突出的状态下,另一个与该凸部突出的部分结合。
在上述结构中,设置在第一遮光性树脂体或第二遮光性树脂体的任一个的凸部贯通透镜框架的通孔并在从透镜框架突出的突出部分与另一个结合。通过这样把第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体由凸部结合,使透镜框架在被保持在第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体的状态下进一步被凸部固定。因此,即使在对光学式测距装置进行回流焊处理时周围温度有变化,在透镜框架与第一和第二遮光性树脂体的界面有由热膨胀引起的应力作用的情况,它们也不会产生滑移。
因此,在回流焊处理后能够保持发光透镜和受光透镜与发光元件和受光元件的相对位置关系。因此,能够把光学式测距装置的耐热性和测距精度维持在高水平。
发明想效果
本发明的光学式测距装置通过是上述结构,能够容易谋求光学式测距装置的高耐热化和高精度化,有这样的效果。
附图说明
图1(a)是表示本发明实施例1光学式测距装置结构的俯视图;
图1(b)是图1(a)俯视图的M-M线向视剖视图;
图2是表示上述光学式测距装置中发光元件和受光元件的其他配置的侧视图;
图3(a)~图3(c)是表示在上述光学式测距装置中为了得到把透镜框架固定在二次模制件与三次模制件之间的保持结构的工序的剖视图;
图3(d)是表示与由上述工序得到的上述透镜框架保持结构不同的其他保持结构的剖视图;
图4表示实施例1的变形例,是表示把各两个固定孔和通孔配置在光学式测距装置长边侧的侧面结构的俯视图;
图5表示实施例1的变形例,是表示把各两个固定孔和通孔配置在对角位置的结构的俯视图;
图6表示实施例1的变形例,是表示配置有各四个固定孔和通孔的结构的俯视图;
图7表示实施例1的变形例,是表示配置有各六个固定孔和通孔的结构的俯视图;
图8(a)~图8(c)表示实施例1的变形例,是表示由于形成有透镜框架的保持结构而把透镜框架固定在二次模制件与三次模制件之间的工序的图;
图9(a)~图9(c)表示实施例1的变形例,是表示由于形成有透镜框架的其他保持结构而把透镜框架固定在二次模制件与三次模制件之间的工序的图;
图10(a)是表示本发明实施例2光学式测距装置结构的俯视图;
图10(b)是图10(a)俯视图的N-N线向视剖视图;
图11是表示设置在图10光学式测距装置的带透镜的透镜框架结构的俯视图;
图12(a)~图12(f)是表示图10光学式测距装置的各制造工序的剖视图;
图13是表示本发明实施例3光学式测距装置结构的剖视图;
图14(a)是表示图13光学式测距装置的带透镜的透镜框架结构的俯视图;
图14(b)是图14(a)俯视图的P-P线向视剖视图;
图15是表示本发明实施例4个人计算机结构的立体图;
图16(a)是相对本发明的实施例而表示比较例光学式测距装置结构的俯视图;
图16(b)是图16(a)俯视图的Q-Q线向视剖视图;
图17是用于说明一般三角测距法原理的图;
图18是表示一般测距装置结构的剖视图;
图19是表示专利文献1记载的测距装置结构的剖视图;
图20是表示专利文献2记载的测距装置结构的剖视图;
图21是表示专利文献3记载的测距装置结构的剖视图;
图22是用于说明测距装置中由周围热和自身发热引起的透镜之间距离变化量各自不同的图。
具体实施方式
[实施例1]
参照图1(a)、图1(b)、图2、图3(a)~图3(d)、图4~图7、图8(a)~图8(c)和图9(a)~图9(c),在以下说明本发明的一实施例。
[光学式测距装置的结构]
图1(a)和图1(b)是表示本发明一实施例光学式测距装置1结构的俯视图和剖视图。图2是表示光学式测距装置1中发光元件2和受光元件3配置的侧视图。
本实施例的光学式测距装置1是用于对到测距对象物进行测定距离的装置。如图1(a)和图1(b)所示,光学式测距装置1具有:发光元件2、受光元件3、引线框4、发光透镜5、受光透镜6、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件8、二次模制件9、三次模制件10和透镜框架11。
引线框4(安装部件)具有安装部4a和多个端子4b。安装部4a为了安装发光元件2和受光元件3而被形成平板状。端子4b从光学式测距装置1长边侧相对的两个外壁面向与M-M线方向正交的方向相互平行地延伸,且与安装部4a形成为一体。
发光元件2被安装在引线框4的安装部4a上的一端侧,且被由透光性树脂构成的发光侧一次模制件7(透光性树脂体)所封固。另一方面,受光元件3被安装在引线框4的安装部4a上的另一端的一侧,且被由与发光侧一次模制件7相同的透光性树脂构成的受光侧一次模制件8(透光性树脂体)所封固。这些发光侧一次模制件7和受光侧一次模制件8被由遮光性树脂构成的二次模制件9(第一遮光性树脂体)所覆盖。由此,能够防止光从发光元件2直接向受光元件3射入。
作为受光元件3则使用PSD(Position Sensitive Detector)、配置有多个光电二极管(PD)的线性传感器、图像传感器等。该受光元件3为了检测受光的反射光汇聚的点的位置,把受光光量变换成电信号,其内藏有对该电信号施加规定运算处理的信号处理部。或者也可以如图2所示,把信号处理部12作为区别于受光元件3的其他元件而安装在引线框4上
也可以代替引线框4而把发光元件2和受光元件3配置在表面形成有配线的基板(安装部件)上。
上述的二次模制件9具有开口部91、92。开口部91为了在发光元件2的上方开口而被形成盆状,开口部92在受光元件3的上方开口,且被形成具有比开口部91倾斜度大的倾斜面。在二次模制件9的上端部配置有发光透镜5和受光透镜6,其分别把开口部91、92覆盖。利用开口部91形成射出光从发光元件2到发光透镜5的空间,利用开口部92形成有向受光透镜6射入的来自测距对象物的反射光到受光元件3的空间。
发光透镜5具有透光性,把来自发光元件2的射出光变换成平行光束而向测距对象物照射。受光透镜6具有透光性,把来自测距对象物的反射光向受光元件3的受光面上汇聚。发光透镜5和受光透镜6被保持在透镜框架11,通过把该透镜框架11配置在二次模制件9上的规定位置而使其分别被配置在开口部91、92。发光透镜5和受光透镜6为了具有透光性而由透光性树脂形成。作为该透光性树脂而能够使用用于形成透镜的一般使用的公知透光性树脂(例如环氧树脂)。
也可以把发光透镜5和受光透镜6由同一透光性树脂构成,也可以分别由不同的透光性树脂构成。
由遮光性树脂构成的三次模制件10(第二遮光性树脂体)把二次模制件9的外周面和透镜框架11的上端面覆盖,且被形成得使发光透镜5和受光透镜6露出。由此,三次模制件10保持二次模制件9和透镜框架11。
二次模制件9和三次模制件10通过注塑成形而形成。作为构成二次模制件9和三次模制件10的遮光性树脂而能够使用公知的遮光性的树脂。作为这种树脂例如能够恰当地使用聚苯二甲酰胺、聚苯硫醚(PPS)、液晶聚合物(LCP,热膨胀系数:5E-5)。由遮光性树脂构成的二次模制件9和三次模制件10相对后述由金属构成的透镜框架11而具有大的热膨胀系数。
透镜框架11是由金属形成的长方形平板状。透镜框架11具有用于保持发光透镜5和受光透镜6的保持孔。作为构成透镜框架11的金属材料例如42合金(热膨胀系数:5.5E-6)是合适的,但并不限定于此。
透镜框架11在规定的位置形成有通孔11a。具体说就是,通孔11a在与连结发光透镜5和受光透镜6中心的M-M线正交的方向而形成在通过两透镜5、6之间中心的中心线CL上,且位于靠近对于M-M线对称的端子4b的位置。
另一方面,二次模制件9在规定的位置形成有固定孔9a。具体说就是,在把透镜框架11配置在二次模制件9上规定位置的状态下,把固定孔9a形成在与通孔11a重叠(一致)的位置(中心线CL上)。把成为三次模制件10一部分的锚定10a向固定孔9a和通孔11a嵌合。
图1(b)所示的固定孔9a是为了说明方便而描绘成位于图1(a)M-M线的截面,但实际上不存在于图示的位置。
在此,说明透镜框架11的保持结构。
图3(a)~图3(c)是表示为了形成上述保持结构(第一保持结构)而把透镜框架11固定在二次模制件9与三次模制件10之间的工序的剖视图。图3(d)是表示与上述保持结构不同的其他保持结构(第二保持结构)的剖视图。
如图3(a)所示,使通孔11a的位置与固定孔9a的位置一致,如图3(b)所示,把透镜框架11重叠在二次模制件9上。在该状态下通过注塑成形而形成三次模制件10。具体说就是,向安置有二次模制件9的模具内注入遮光性树脂,形成为三次模制件10把二次模制件9覆盖,透镜框架11作为二次模制件9与三次模制件10之间的嵌入零件而被插入。这时,如图3(c)所示,通过向固定孔9a和通孔11a填充遮光性树脂而无间隙地形成了锚定10a(凸部)。锚定10a贯通通孔11a而从透镜框架11向二次模制件9一侧突出,并以该突出部分与二次模制件9结合。这样就得到了第一保持结构。在该第一保持结构中,三次模制件10利用锚定10a而被固着在二次模制件9,透镜框架11被固定夹在二次模制件9与三次模制件10之间。
作为与由上述构成得到的保持结构不同的保持结构,也可以采用图3(d)所示的保持结构。
如图3(d)所示,该保持结构中,设置在二次模制件9的固定销9h(凸部)贯通透镜框架11的通孔11a而与三次模制件10结合。固定销9h被形成为在与二次模制件9的上表面垂直方向竖立。
为了得到上述保持结构,首先,使通孔11a的位置与二次模制件9的固定销9h的位置一致,使固定销9h通过通孔11a而从透镜框架11突出,把透镜框架11重叠在二次模制件9上。接着,在该状态下通过与上述同样的注塑成形来形成三次模制件10。这时,如图3(d)所示,固定销9h贯通通孔11a并从透镜框架11突出,当使形成三次模制件10的遮光性树脂向透镜框架11上流入,则把固定销9h的突出部分没有间隙地覆盖。这样就得到第二保持结构。该第二保持结构中,三次模制件10通过与固定销9h的突出部分结合而被固着在二次模制件9,透镜框架11被固定夹在二次模制件9与三次模制件10之间。
如上所述,在第一保持结构和第二保持结构中都是经由通孔11a而使二次模制件9与三次模制件10结合,并把透镜框架11固定在二次模制件9与三次模制件10之间。因此,在下面的说明中,为了方便而仅涉及在固定孔9a形成锚定10a的保持结构。
但对于第一保持结构和第二保持结构,在二次模制件9与三次模制件10之间的透镜框架11的固定结构则有下面的不同。
第一保持结构中,锚定10a是通过使向固定孔9a和通孔11a以没有间隙的状态流入的遮光性树脂固化而形成。因此,第一保持结构在向固定孔9a和通孔11a填充遮光性树脂之前,只要把固定孔9a和通孔11a正确地对准位置,就能够把透镜框架11以正确的位置固定在二次模制件9与三次模制件10之间。
相对地在第二保持结构中,为了插入固定销9h就需要在固定销9h与通孔11a之间设置间隙,因此,必须使通孔11a的直径比固定销9h的直径大。因此,由于第二保持结构在二次模制件9与通孔11a之间形成有间隙,所以有可能使透镜框架11的配置位置产生偏离。于是,为了极力缩小这种偏离,在能够使固定销9h贯通通孔11a的范围,设定成使固定销9h的直径与通孔11a的直径接近。
当这样把固定销9h与通孔11a的间隙设定小,则形成三次模制件10的遮光性树脂由于其粘性而不能向上述间隙流入。因此,不能得到第一保持结构那样的通孔11a的贴紧结构。于是,在形成三次模制件10时,要在使具有粘性的遮光性树脂能够流入的程度上考虑把上述间隙形成大。但若这样使间隙变大,则难于以高精度进行固定销9h与通孔11a的对准位置,所以更难于缩小上述偏离。得到通孔11a的贴紧结构与以高精度进行固定销9h与通孔11a的对准位置则处于权衡选择的关系。
因此,根据把透镜框架11高精度且牢固地固定在二次模制件9与三次模制件10之间的观点,可以说第一保持结构比第二保持结构被优选。
由于固定销9h是向通孔11a贯通,所以与后述定位销9g(参照图10(a)和图10(b))同样地能够作为把透镜框架11向二次模制件9上配置时的定位基准来利用。
上述结构的光学式测距装置1利用因金属构成的透镜框架11来保持发光透镜5和受光透镜6。由此,即使由于周围热或发光元件2和受光元件3的自身发热而使二次模制件9和三次模制件10热膨胀,透镜框架11也几乎不膨胀。因此,几乎没有由周围热和自身发热引起的发光透镜5与受光透镜6之间的距离变动量的差。因此,不会如上述测距装置600那样产生由周围热和自身发热引起的透镜之间距离变动量的不同,能够防止测距精度降低。由此,以简单的结构就能够防止由周围温度的变化和自身发热引起的测距精度降低。
[防止透镜框架滑移的效果]
在此,说明利用回流焊等而把光学式测距装置1放置在高温环境中或低温环境中时热膨胀或收缩的状态。
由遮光性树脂构成的二次模制件9和三次模制件10比由金属构成的透镜框架11而具有大的热膨胀系数。因此,在透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10的界面就产生由膨胀系数差引起的应力。在该应力比透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10的贴紧力大时,则在透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10之间就产生滑移。
但由于三次模制件10的锚定10a贯通透镜框架11并与二次模制件9的固定孔9a嵌合,所以透镜框架11被牢固地固定在二次模制件9与三次模制件10之间。由此,能够抑制透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10的滑移。因此,在向常温返回时,发光元件2和受光元件3与发光透镜5和受光透镜6的相对位置关系不会产生偏离。
在由于温度变化而光学式测距装置1膨胀(收缩)时,热膨胀系数小的透镜框架11的变化量比二次模制件9和三次模制件10的变化量小。因此,二次模制件9和三次模制件10在与透镜框架11的界面产生变形,其大小是越靠外侧越大。
光学式测距装置1中,两个固定孔9a和两个通孔11a在发光透镜5和受光透镜6之间被配置在对于透镜中心线对称配置。由此,透镜框架11在发光透镜5和受光透镜6之间是被两个锚定10a固定,所以抑制在变形大的透镜框架11周围部分的滑移。因此,能够保持发光元件2和受光元件3与发光透镜5和受光透镜6的相对位置关系。因此,能够容易谋求光学式测距装置1的高耐热化和高精度化。
光学式测距装置1中如上所述,把锚定10a在发光透镜5和受光透镜6之间的对称位置配置有两个。由此,在由周围温度不均匀引起的膨胀(收缩)不一样的情况下,能够防止由透镜框架11滑移引起的旋转。且由于由温度变化引起的应力被均匀分散,应力不会向一个固定孔9a集中,所以能够更有效地防止滑移。
因此,本实施例的光学式测距装置1,即使由于回流焊等而处于高温环境中和低温环境中,也能够保持发光元件2和受光元件3与发光透镜5和受光透镜6的相对位置关系,维持高的测距精度。
上述结构中,把二次模制件9形成为对于透镜中心线是大致对称的形状。由此,热膨胀(收缩)均匀,由于对于透镜中心线对称配置的各个锚定10a被作用的是取得平衡的应力,所以能够有效地防止透镜框架11的滑移。
优选形成上述二次模制件9和三次模制件10的遮光性树脂是同一树脂。由此,由于二次模制件9和三次模制件10具有相同的热膨胀系数,所以在其界面的膨胀(收缩)相同。因此,能够减轻向透镜框架11作用的变形应力。因此,容易防止透镜框架11的滑移。
作为形成二次模制件9和三次模制件10的遮光性树脂,例如能够使用上述的PPS。该PPS对于树脂的流动方向而具有2E-5左右的热膨胀系数。作为形成透镜框架11的金属,例如也可以使用铜或铜合金。该铜或铜合金具有与PPS同程度(或大致相等)的1.7E-5的热膨胀系数。通过把二次模制件9和三次模制件10与透镜框架11使用热膨胀系数同程度的材料形成,使它们的热膨胀(收缩)成为同程度。由此,能够使透镜框架11相对二次模制件9和三次模制件10更难于滑移。
如上所述,即使是二次模制件9和三次模制件10与透镜框架11的热膨胀(收缩)成为同程度,两者之间的滑移也不会完全消失。例如如前所述,由于回流焊的升温曲线与降温曲线不同而使加热时和冷却时的滑移不同,所以冷却后在二次模制件9和三次模制件10与透镜框架11之间产生偏离。因此,当然即使在该情况下利用锚定10a来阻止二次模制件9和三次模制件10与透镜框架11之间的滑移也是有效的。
把透镜框架11由热膨胀系数大的铜或铜合金来形成,与把受、发光透镜由树脂部件保持的现有光学式测距装置相同,由周围热和自身发热产生的热膨胀引起受、发光透镜之间距离的变化有不同。但为了使该不同消失而提高温度特性(抑制透镜框架11的热膨胀),在防止由回流焊引起的透镜框架11滑移必须优先的情况下,优选采用上述结构。
[变形例1]
说明本实施例的变形例。图4~图7是表示本实施例变形例光学式测距装置1主要部分结构的俯视图。
为了说明方便,图4~图7中省略了三次模制件10的记载。
(具有两个锚定的结构)
如图4所示,本变形例光学式测距装置1的二次模制件9具有两个固定孔9b,透镜框架11具有两个通孔11b。
通孔11b被形成在透镜框架11一个长边侧的两个顶角近旁。把通孔11b配置在相对中心线CL对称的位置。
在把透镜框架11配置在二次模制件9上规定位置的状态下,把固定孔9b形成在与通孔11b重叠的位置。
如图5所示,本变形例其他光学式测距装置1的二次模制件9具有两个固定孔9c,透镜框架11具有两个通孔11c。
一个通孔11c被形成在透镜框架11一个长边侧的一个顶角近旁。另一个通孔11c被形成在透镜框架11另一个长边侧的与上述顶角是对角关系的顶角近旁。
在把透镜框架11配置在二次模制件9上规定位置的状态下,把固定孔9c形成在与通孔11c重叠的位置。
上述结构中,在固定孔9b和通孔11b以及固定孔9c和通孔11c处形成锚定10a。即把锚定10a配置在固定孔9b和通孔11b以及固定孔9c和通孔11c的位置。这种结构把二次模制件9和三次模制件10由周围温度变化引起的膨胀(收缩)时产生大变形的透镜框架11周围部分(端部)进行固定。由此,透镜框架11不会相对二次模制件9和三次模制件10产生滑移。由于透镜框架11在两点被锚定10a固定,所以与图1(a)和图1(b)所示的结构同样地即使在不均匀膨胀时,透镜框架11也不会旋转。
(具有四个锚定的结构)
如图6所示,本变形例光学式测距装置1的二次模制件9具有四个固定孔9d,透镜框架11具有四个通孔11d。
通孔11d被形成在透镜框架11的四个顶角近旁。把通孔11d的位于透镜框架11同一长边侧顶角的彼此配置在相对中心线CL对称的位置。
在把透镜框架11配置在二次模制件9上规定位置的状态下,把固定孔9d形成在与通孔11d重叠的位置。
上述结构中,在固定孔9d和通孔11d处形成锚定10a。即把锚定10a配置在透镜框架11的四角。由此,能够把透镜框架11牢固地固定在二次模制件9与三次模制件10之间。
(具有六个锚定的结构)
如图7所示,本变形例光学式测距装置1的二次模制件9具有六个固定孔9e,透镜框架11具有六个通孔11e。
通孔11e有四个被形成在透镜框架11的四个顶角近旁,在透镜框架11的发光透镜5与受光透镜6之间的中心线CL上形成有两个。把通孔11e的位于透镜框架11同一长边侧顶角的彼此配置在相对中心线CL对称的位置。
在把透镜框架11配置在二次模制件9上规定位置的状态下,把固定孔9e形成在与通孔11e重叠的位置。
上述结构中,在固定孔9e和通孔11e处形成锚定10a。即把锚定10a配置在透镜框架11的四角以及发光透镜5与受光透镜6之间。由此,能够把透镜框架11更牢固地固定在二次模制件9与三次模制件10之间。
[变形例2]
说明本实施例的其他变形例。图8和图9是表示由于形成有透镜框架11的保持结构而使透镜框架11被固定在二次模制件9与三次模制件10之间的工序的图。
(透镜框架具有锚定的结构)
如图8(a)所示,透镜框架11在通孔11f的位置具有在与透镜框架11的表面垂直方向成筒状突出延伸的突出部11g。通孔11f在突出部11g内被形成到突出部11g的下端。另一方面,二次模制件9具有突出部11g进行嵌合形状的固定孔9f。
如图8(a)所示,把突出部11g对准在固定孔9f的位置,如图8(b)所示,通过使突出部11g与固定孔9f嵌合而把透镜框架11重叠在二次模制件9上。在该状态下如图8(c)所示,通过向透镜框架11上涂布遮光性树脂而形成三次模制件10。这时,通过向通孔11f填充遮光性树脂而形成锚定10a。这样,三次模制件10利用锚定10a就被固着在二次模制件9和透镜框架11。因此,透镜框架11就被固定夹在二次模制件9与三次模制件10之间。
如图8(c)所示,上述结构中不仅是锚定10a,而且包括由金属构成的透镜框架11的突出部11g也被嵌入在二次模制件9的固定孔9f。由此,在垂直于产生滑移的透镜框架11的面方向,将由突出部11g构成的金属锚定向二次模制件9打入。因此,与仅靠由遮光性树脂构成的锚定10a来固定透镜框架11的结构相比,能够把透镜框架11更牢固地固定在二次模制件9与三次模制件10之间。由此,能够更可靠地防止在透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10之间产生滑移。
在光学式测距装置1的制造中,在把透镜框架11向二次模制件9上重叠时,能够与固定孔9f嵌合的突出部11g有进行定位的功能。由此,透镜框架11的定位变容易,能够谋求光学式测距装置1的制造容易。
(具有防止透镜框架浮动功能的结构)
如图9(a)所示,透镜框架11与图8(a)所示结构同样地具有突出部11g。该突出部11g在与透镜框架11的面方向平行的方向具有贯通的横孔11h(孔)。另一方面,二次模制件9与图8(a)所示结构同样地具有固定孔9f。
如图9(a)所示,把突出部11g对准在固定孔9f的位置,如图9(b)所示,通过使突出部11g与固定孔9f嵌合而把透镜框架11重叠在二次模制件9上。在该状态下如图9(c)所示,通过向透镜框架11上涂布遮光性树脂而形成三次模制件10。这时,通过向通孔11f和横孔11h填充遮光性树脂而形成具有突起10b的锚定10a。这样,三次模制件10利用锚定10a就被固着在二次模制件9和透镜框架11。因此,透镜框架11就被固定夹在二次模制件9与三次模制件10之间地进行保持。
如图9(c)所示,上述结构与图8(b)所示结构同样地,在垂直于产生滑移的透镜框架11的面方向,将由突出部11g构成的金属锚定向二次模制件9打入。因此,能够更可靠地防止在透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10之间产生滑移。
由于利用突起10b也能够固定二次模制件9和透镜框架11,所以能够抵抗向透镜框架11表面方向的垂直方向作用的应力。因此,能够防止透镜框架11由于上述应力而浮动。
[实施例2]
参照图10(a)、图10(b)、图11和图12(a)~图12(f)在以下说明本发明的其他实施例。
本实施例对于与上述实施例1的结构元件具有同等功能的结构元件则付与同一符号而省略其说明。
[光学式测距装置的结构]
图10(a)和图10(b)是表示本发明其他实施例光学式测距装置21结构的俯视图和剖视图。图11是表示光学式测距装置21中带透镜的透镜框架22结构的俯视图。
图10(a)和图10(b)中,为了方便说明而省略了三次模制件10的记载。
如图10(a)和图10(b)所示,光学式测距装置21与光学式测距装置1同样地具有:发光元件2、受光元件3、引线框4、发光透镜5、受光透镜6、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件8和二次模制件9。且虽然图10(a)和图10(b)没表示,但光学式测距装置21具有三次模制件10。且光学式测距装置21具有图11所示的带透镜的透镜框架22。
二次模制件9在其上表面与上述图5所示的二次模制件9同样地,在其上表面具有两个固定孔9c,且具有两个定位销9g。
二次模制件9并不限定于固定孔9c,也可以具有图4所示的固定孔9b或图6所示的固定孔9d。
定位销9g被形成为在与二次模制件9的上表面垂直方向竖立。该定位销9g为了容易向定位用孔11i插入而在前端部分具有锥面。定位销9g在配置有发光透镜5的开口部91与配置有受光透镜6的开口部92之间的中心线CL上,被配置在对于N-N线(透镜中心线)成为相互对称的靠近端子4b的位置。
如图11所示,带透镜的透镜框架22把发光透镜5和受光透镜6保持在透镜框架11。该透镜框架11与图5所示透镜框架11同样地具有两个通孔11c,且还具有两个定位用孔11i。
透镜框架11并不限定于通孔11c,也可以具有图4所示的通孔11b或图6所示的通孔11d。
在把透镜框架11配置在二次模制件9上规定位置的状态下,定位用孔11i被配置成能够与定位销9g嵌合的大小和位置。把定位用孔11i配置在发光透镜5与受光透镜6之间的靠近两个长边处。
上述结构中,由于二次模制件9具有定位销9g,所以在光学式测距装置21的制造中,通过把定位销9g向定位用孔11i插入而能够进行透镜框架11的定位。由此,使透镜框架11的定位容易,能够谋求光学式测距装置21的制造容易。
在此,由于为了使定位销9g向定位用孔11i插入时不破损而被要求有一定的强度,所以需要设定成规定以上的直径。因此如图10(a)所示,在二次模制件9上表面的开口部91、92之间比较宽阔的中央部分来配置具有足够强度的定位销9g。另一方面,把用于形成锚定10a的固定孔9c不是配置在二次模制件9的中央部分,而是配置在没有设置端子4b的端部侧。
由于把定位销9g如上述那样形成得具有足够强度,所以与锚定10a同样地固定透镜框架11,对于防止二次模制件9和三次模制件与透镜框架11之间的滑移能够起作用。由于定位销9g(凸部)与图3(d)所示的上述固定销9h同样地与由注塑成形形成的三次模制件10结合,所以具有与固定销9h同样的保持透镜框架11的效果。
但为了能够把定位销9g向定位用孔11i插入,在插入状态下在定位销9g与定位用孔11i之间设置有间隙。因此,在二次模制件9和三次模制件10与透镜框架11之间就由于上述间隙而产生微小的偏差。因此,按照更减少发光元件2和受光元件3与发光透镜5和受光透镜6的相对位置关系偏差的观点,优选使用把遮光性树脂向固定孔9c和通孔11c没有间隙地填充而形成的锚定10a。
[光学式测距装置的制造]
说明光学式测距装置21的制造顺序。图12(a)~图12(f)是表示光学式测距装置21的制造中各工序的剖视图。
图12(d)~图12(f)所示的定位用孔11i是为了说明方便而描绘成位于透镜中心线(图10(a)N-N线)的截面,但实际上不存在于图示的位置。
首先如图12(a)所示,把发光元件2和受光元件3配置在引线框4上。在该状态下利用Au导线(未图示)把发光元件2和受光元件3与端子4b电连接。
接着,如图12(b)所示,通过用透光性树脂封固发光元件2而形成发光侧一次模制件7。同时,通过用透光性树脂封固受光元件3而形成受光侧一次模制件8。
如图12(c)所示,在其他工序用透光性树脂把发光透镜5和受光透镜6形成在透镜框架11。在该透镜框架11,并且在与定位销9g对应的位置预先形成有定位用孔11i。
然后如图12(d)所示,由遮光性树脂形成二次模制件9。这时,在二次模制件9上表面的开口部91、92之间的区域形成有定位销9g。
进而如图12(e)所示,通过把定位销9g插入在定位用孔11i而把透镜框架11配置在二次模制件9上。
且如图12(f)所示,由遮光性树脂形成三次模制件10,光学式测距装置21被完成。
实施例1的光学式测距装置1也能够与上述工序同样地进行制造。由于光学式测距装置1不具有定位销9g,所以省去由定位销9g进行的透镜框架11的定位工序。但光学式测距装置1也可以在二次模制件9设置与定位销9g同样的定位销,在透镜框架11设置与定位用孔11i同样的定位用孔。由此,能够实施图12(e)所示那样的透镜框架11的定位工序。这时,优选在为了形成锚定10a而发光透镜5和受光透镜6之间的区域没被使用的图4、图5和图6所示的结构来设置上述的定位销和定位用孔。
[实施例3]
参照图13、图14(a)和图14(b)在以下说明本发明的又其他实施例。
本实施例对于与上述实施例1的结构元件具有同等功能的结构元件则付与同一符号而省略其说明。
[光学式测距装置的结构]
图13是表示本发明又其他实施例光学式测距装置31结构的剖视图。图14(a)和图14(b)是表示光学式测距装置31中带透镜的透镜框架32结构的俯视图和剖视图。
图14(a)中,为了方便说明而省略了通孔的记载。
如图13所示,光学式测距装置31与光学式测距装置1同样地具有:发光元件2、受光元件3、引线框4、发光侧一次模制件7、受光侧一次模制件8、二次模制件9和三次模制件10。且光学式测距装置31具有带透镜的透镜框架32。
如图14(a)和图14(b)所示,带透镜的透镜框架32具有薄膜部33。薄膜部33是在安装有发光透镜5和受光透镜6部分以外的透镜框架11的表面、反面或两面的区域,由与形成发光透镜5和受光透镜6的树脂相同的树脂所一体形成。
在上述结构的光学式测距装置31中,由于带透镜的透镜框架32的透镜框架11被薄膜部33所覆盖,所以透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10不接触。由此,在图13中以虚线表示的U部、V部和W部处是带透镜的透镜框架32与二次模制件9和三次模制件10以树脂彼此之间来接触,贴紧被提高。因此,与透镜框架11与二次模制件9和三次模制件10接触的结构相比,能够更减少产生滑移。
例如为了要在发光透镜5的三次模制件10外侧端部的U部产生滑移,就需要在三次模制件10的中心侧的V部和相反侧外侧端部的W部也同样地产生滑移。因此,只要没有非常大的应力作用,就不会产生滑移。因此,能够期望对于防止滑移有大的效果。
但V部的透镜框架11下面侧的薄膜部33有可能由于其膜厚度而成为从发光元件2射出的光的波导路,成为直接向受光元件3侧射入的通路。因此,对于薄膜部33要优选采用光不会侵入的膜厚度设计和在薄膜部33内有光的迷宫那样的薄膜结构。
上述结构中,把薄膜部33由与形成发光透镜5和受光透镜6的树脂相同的树脂一体形成。由此,在把发光透镜5和受光透镜6形成在透镜框架11时,能够同时形成薄膜部33。因此,能够容易形成薄膜部33。
[实施例4]
参照图15在以下说明本发明的又其他实施例。
图15是表示作为电子设备的个人计算机(个人计算机)51的立体图。
如图15所示,电脑51具有本体部52和显示部53。在显示部53的上边缘部分的上端部安装有光学式测距装置54。作为光学式测距装置54而能够使用上述高耐热且高性能的光学式测距装置1、21、31中的任一个。
该电脑51通过光学式测距装置54而能够正确检测到在电脑51前是否有人。由此,当在电脑51前没有人时,则把电脑51的动作切换成睡眠模式,能够更有效地进行省能源化。
由于光学式测距装置54是高耐热且高性能,所以能够利用回流焊而容易以短时间大量地向基板安装。
能够安装光学式测距装置54的电子设备并不限定于是电脑51。例如能够把光学式测距装置54使用在非接触操作。具体地在厨房家电和卫生保健机器中,能够把光学式测距装置54作为以非接触使动作ON/OFF的非接触开关来利用。在手沾湿或脏了的情况下而检测到手的距离来进行音量控制等,能够利用光学式测距装置54来进行电子设备的操作。
[比较例]
参照图16(a)和图16(b)在以下说明本发明的比较例。
图16(a)和图16(b)是表示本比较例光学式测距装置61结构的俯视图和剖视图。
如图16(a)和图16(b)所示,光学式测距装置61具有:发光元件62、受光元件63、引线框64、发光透镜65、受光透镜66、基座67、壳体68和透镜框架69。
形成在引线框64上的发光元件62和受光元件63被由遮光性树脂构成的基座67所封固。基座67具有:把来自发光元件62的射出光和向受光元件63的射入光相互遮光的遮光壁67a、在侧面形成的侧壁67b。且为了覆盖侧壁67b而形成有由遮光性树脂构成的壳体68。
透镜框架69由金属形成平板状,保持发光透镜65和受光透镜66。该透镜框架69被固定夹在基座67与壳体68之间地进行保持。
上述结构的光学式测距装置61的透镜框架69被由金属形成,该金属具有比形成基座67和壳体68的遮光性树脂的热膨胀系数小的热膨胀系数。由此,即使由于周围热或发光元件62和受光元件63的自身发热而使基座67和壳体68热膨胀,透镜框架69也几乎不膨胀。因此,几乎没有由周围热和自身发热引起的发光透镜65与受光透镜66之间的距离变动量的差。因此,不会如上述光学式测距装置600那样产生由周围热和自身发热引起的透镜之间距离变动量的不同,能够防止测距精度降低。
但在对光学式测距装置61进行回流焊的焊接时,虽然时间短但周围温度上升到260℃左右。因此,一方面构成发光透镜65、受光透镜66、基座67和壳体68的树脂膨胀大,一方面构成引线框64和透镜框架69的金属其热膨胀系数比树脂小而几乎不膨胀。
因此,在基座67和壳体68与透镜框架69的界面处由热膨胀系数差引起的应力大。其结果是透镜框架69相对构成基座67和壳体68的树脂而滑移。当产生该滑移,则回流焊后返回到常温时,与回流焊前的发光透镜65和受光透镜66与发光元件62和受光元件63的相对位置关系就有变化。因此,由上述三角测量原理得到的反射光的点位置就变化,所以产生测距值从正确值漂移的不好情况。
相对地,上述各实施例的光学式测距装置1、21、31利用锚定10a来保持透镜框架11,所以能够抑制产生上述的滑移。因此,对于回流焊的高热也能够防止测距精度降低。
[附记事项]
本实施例还能够有下面的表现。
光学式测距装置对到测距对象物进行测定的距离,具有:发光元件,其被安装在安装部件上;发光透镜,其把所述发光元件射出的光向所述测距对象物照射;受光元件,其被安装在所述安装部件上,检测所述测距对象物的反射光汇聚的位置;受光透镜,其把所述反射光向所述受光元件汇聚;透光性树脂体,其封固所述发光元件和所述受光元件;第一遮光性树脂体,其封固所述透光性树脂体;透镜框架,其由金属形成,设置有所述发光透镜和所述受光透镜;第二遮光性树脂体,其封固所述第一遮光性树脂体,且与所述第一遮光性树脂体一起来保持所述透镜框架,其中,在所述透镜框架的规定位置形成有通孔,所述第一遮光性树脂体在与所述透镜框架的通孔一致的位置形成有固定孔,所述第二遮光性树脂体具有通过向所述通孔和所述固定孔填充遮光性树脂而形成的填充部。
在上述结构中,第二遮光性树脂体具有填充部,其是由把遮光性树脂通过形成在透镜框架的通孔而向形成在第一遮光性树脂体的固定孔填充所形成。由此,透镜框架在被第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体保持的状态下进而被填充部所固定。因此,即使在对光学式测距装置进行回流焊处理时周围温度有变化,在透镜框架与第一和第二遮光性树脂体的界面处有由热膨胀引起的应力作用的情况下,它们也不会产生滑移。
填充部是通过使以没有间隙的状态向通孔和固定孔流入的遮光性树脂固化所形成。相对地,在代替填充部而把销等固定部向通孔和固定孔插入的结构中,为了插入固定部则需要在固定部与通孔和固定孔之间设置间隙,在第一和第二遮光性树脂体与透镜框架之间产生由该间隙引起的偏离。由于填充部不产生这种间隙,所以能够消除第一和第二遮光性树脂体与透镜框架之间的偏离。
因此,在回流焊处理后能够保持发光透镜和受光透镜与发光元件和受光元件的相对位置关系。因此,能够把光学式测距装置的耐热性和测距精度维持在高水平。
本实施例的光学式测距装置进而还能够有下面的表现。
光学式测距装置对到测距对象物进行测定的距离,具有:发光元件,其被安装在安装部件上;发光透镜,其把所述发光元件射出的光向所述测距对象物照射;受光元件,其被安装在所述安装部件上,检测所述测距对象物的反射光汇聚的位置;受光透镜,其把所述反射光向所述受光元件汇聚;透光性树脂体,其封固所述发光元件和所述受光元件;第一遮光性树脂体,其覆盖所述透光性树脂体,以形成所述射出光从所述发光元件到所述发光透镜的空间和所述反射光从所述受光透镜到所述受光元件的空间;透镜框架,其由金属形成,保持所述发光透镜和所述受光透镜;第二遮光性树脂体,其封固所述第一遮光性树脂体,且与所述第一遮光性树脂体一起来保持所述透镜框架,其中,在所述透镜框架形成有通孔,在所述第一遮光性树脂体或所述第二遮光性树脂体的任一个具有向另一个的一侧突出的凸部,该凸部贯通所述通孔并在从所述透镜框架突出的状态下,另一个与该凸部突出的部分结合。
在所述光学式测距装置中,所述第一遮光性树脂体在与所述透镜框架的所述通孔一致的位置形成有固定孔,所述第二遮光性树脂体具有所述凸部,优选该凸部是通过向所述通孔和所述固定孔填充遮光性树脂所形成。
在上述结构中,设置在第二遮光性树脂体的凸部是通过向通孔和所述固定孔填充遮光性树脂所形成。由此,能够得到第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体的结合结构。由于把凸部与通孔和固定孔贴紧,所以能够把透镜框架牢固地固定在第一和第二遮光性树脂体。
或者优选在所述光学式测距装置中,所述第一遮光性树脂体具有所述凸部,所述第二遮光性树脂体通过把遮光性树脂覆盖在所述透镜框架上来与所述凸部结合。
在上述结构中,第二遮光性树脂体通过把遮光性树脂覆盖在透镜框架上来与设置在第一遮光性树脂体的凸部结合。由此,能够得到第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体的结合结构。且使凸部贯通通孔,在把透镜框架配置在第一遮光性树脂体上时,能够把凸部作为透镜框架的定位基准使用。因此,在制造光学式测距装置时,能够容易进行把透镜框架向第一遮光性树脂体上配置时的定位。
所述光学式测距装置中,优选在所述发光透镜和所述受光透镜之间至少形成两个所述通孔。
上述结构中,由于在受、发光透镜之间至少形成两个通孔,所以把固定孔也形成在相同位置。由此,在周围温度变化时,透镜框架不会以固定孔为中心而向旋转方向滑移。且由于把透镜框架固定在发光透镜与受光透镜之间,所以能够抑制第一和第二遮光性树脂体与透镜框架在热膨胀的差影响大的透镜框架的端部进行滑移。因此,能够缩小对于发光透镜和受光透镜与发光元件和受光元件的相对位置关系所给予的影响。
所述光学式测距装置中,优选在所述透镜框架的端部侧至少形成两个所述通孔。
上述结构中,由于在透镜框架的端部侧至少形成有两个通孔,所以把固定孔也形成在相同位置。由此,在周围温度变化时,透镜框架不会以固定孔为中心而向旋转方向滑移。且由于在透镜框架的端部侧来固定透镜框架,所以能够抑制第一和第二遮光性树脂体与透镜框架在热膨胀的差影响大的透镜框架的端部进行滑移。因此,能够缩小对于发光透镜和受光透镜与发光元件和受光元件的相对位置关系所给予的影响。
所述光学式测距装置中,优选把所述通孔形成在所述透镜框架的四角。
上述结构中,由于把通孔形成在透镜框架的四角,所以把固定孔也形成在相同位置。由此,在周围温度变化时,透镜框架不会以固定孔为中心而向旋转方向滑移。且由于在透镜框架的四角来牢固地固定透镜框架,所以更能够抑制第一和第二遮光性树脂体与透镜框架在热膨胀的差影响大的透镜框架的端部进行滑移。因此,能够更缩小对于发光透镜和受光透镜与发光元件和受光元件的相对位置关系所给予的影响。
优选所述通孔不仅是在四角,进而在所述发光透镜与所述受光透镜之间还形成有两个。
上述结构中,由于把通孔形成在透镜框架的四角和在受光透镜之间形成有两个,所以把固定孔也形成在相同位置。由此,透镜框架在有可能产生滑移的所有区域被固定。因此,能够更加有力地抑制由周围温度变化引起的滑移。因此,能够更加缩小对于发光透镜和受光透镜与发光元件和受光元件的相对位置关系所给予的影响。
所述光学式测距装置中,优选所述通孔的位置通过连结所述发光透镜中心与所述受光透镜中心的透镜中心线的中心,且对于与该透镜中心线正交的中心线是对称的。
上述结构中,由于把固定孔配置在上述位置,所以由周围温度变化引起的应力被均匀分散。由此,应力不会集中在一个固定孔,能够更有效地防止滑移。
所述光学式测距装置中,优选所述透镜框架具有在与所述透镜框架的表面垂直方向突出的突出部,在该突出部内形成有所述通孔,使所述突出部与所述固定孔嵌合。
上述结构中,利用通过通孔填充的遮光性树脂来固定第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体。由于透镜框架具有的突出部与固定孔嵌合,所以成为突出部在产生滑移的应力所作用的透镜框架的表面的垂直方向向固定孔打桩。由此,透镜框架向第一遮光性树脂体的固定力被增加,能够更有效地防止滑移。
所述光学式测距装置中,优选所述突出部在与所述透镜框架的面方向平行的方向形成有贯通的孔。
上述结构中,由于在突起部形成有上述孔,所以利用通过该孔填充的遮光性树脂而能够固定第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体。由此,在周围温度变化时,透镜框架对于要使透镜框架托起的应力也被固定,所以能够更有效地防止滑移。
光学式测距装置中,优选在所述透镜框架的表面、反面或两面形成有薄膜,其由形成所述发光透镜和所述受光透镜的透光性树脂所形成。
上述结构中,由于在透镜框架的表面、反面或两面形成有薄膜,其由形成发光透镜和受光透镜的透光性树脂所形成,所以使金属制的透镜框架与第一和第二遮光性树脂体之间的贴紧性被提高。由此,能够防止透镜框架滑移。
光学式测距装置中,优选所述第一遮光性树脂体对于连结所述发光透镜中心与所述受光透镜中心的透镜中心线被形成为大致对称。
上述结构中,由于第一遮光性树脂体对于透镜中心线被形成为对称,所以在周围温度变化时第一遮光性树脂体是对称膨胀。由此,能够避免应力向特定的固定孔集中。因此,能够有效地防止滑移。
光学式测距装置中,优选把所述第一遮光性树脂体和所述第二遮光性树脂体由同一树脂形成。
上述结构中,由于把第一遮光性树脂体和第二遮光性树脂体由同一树脂形成,所以能够使周围温度变化时的膨胀在两遮光性树脂体之间相等。由此,能够减少向透镜框架与第一和第二遮光性树脂体的界面作用的应力,能够防止透镜框架的滑移。
光学式测距装置中,优选形成所述透镜框架的金属的热膨胀系数与所述第一遮光性树脂体和所述第二遮光性树脂体的热膨胀系数大致相等。特别是通过使形成所述透镜框架的金属是铜或铜合金而使金属与遮光性树脂体的热膨胀系数大致相等。
上述结构中,由于金属与遮光性树脂体的热膨胀系数大致相等,所以在周围温度变化时能够使向透镜框架与第一和第二遮光性树脂体的界面作用的应力最小化。由此,能够更防止透镜框架的滑移。
通过使金属与遮光性树脂体的热膨胀系数大致相等,与把受、发光透镜由树脂部件保持的现有光学式测距装置相同,由周围热和自身发热产生的热膨胀引起受、发光透镜之间距离的变化有不同。但为了使该不同消失而提高温度特性(抑制透镜框架的热膨胀),在防止由回流焊引起的透镜框架滑移必须优先的情况下,优选采用上述结构。
本发明的电子设备安装有上述任一光学式测距装置。
由此,把光学式测距装置安装在电脑、厨房家电、卫生保健机器等电子设备,能够作为检测到人的距离来控制机器,作为非接触开关和非接触操纵器来控制电子设备的传感器来利用。
本发明并不限定于上述实施例,在本发明内容所示的范围能够有各种变更。即对于组合在本发明内容所示的范围适当变更的技术机构所得到的实施例也被包含在本发明的技术范围。
工业上的利用可能性
本发明的光学式测距装置能够恰当地利用在由回流焊焊接来向电子设备安装的情况。
符号说明
1光学式测距装置    2发光元件    3受光元件
4引线框(安装部件)    5发光透镜    6受光透镜
7发光侧一次模制件(透光性树脂体)
8受光侧一次模制件(透光性树脂体)
9二次模制件(第一遮光性树脂体)    9a~9f固定孔
9g定位销(凸部)    9h固定销(凸部)
10三次模制件(第二遮光性树脂体)    10a锚定(凸部)
10b突起    11透镜框架    11a~11f通孔    11g突出部
11h横孔    11i定位用孔   21光学式测距装置
22带透镜的透镜框架    31光学式测距装置
32带透镜的透镜框架    33薄膜部    51个人计算机(电子设备)

Claims (16)

1.一种光学式测距装置,对到测距对象物进行测定的距离,其特征在于,
具有:发光元件,其被安装在安装部件上;
发光透镜,其把所述发光元件射出的光向所述测距对象物照射;
受光元件,其被安装在所述安装部件上,检测所述测距对象物的反射光汇聚的位置;
受光透镜,其把所述反射光向所述受光元件汇聚;
透光性树脂体,其封固所述发光元件和所述受光元件;
第一遮光性树脂体,其覆盖所述透光性树脂体,以形成所述射出光从所述发光元件到所述发光透镜的空间和所述反射光从所述受光透镜到所述受光元件的空间;
透镜框架,其由金属形成,保持所述发光透镜和所述受光透镜;
第二遮光性树脂体,其封固所述第一遮光性树脂体,且与所述第一遮光性树脂体一起来保持所述透镜框架,
在所述透镜框架形成有通孔,
在所述第一遮光性树脂体或所述第二遮光性树脂体的任一个具有向另一个的一侧突出的凸部,该凸部贯通所述通孔并在从所述透镜框架突出的状态下,另一个与该凸部突出的部分结合。
2.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,
在所述第一遮光性树脂体在与所述透镜框架的所述通孔一致的位置形成有固定孔,
所述第二遮光性树脂体具有所述凸部,该凸部是通过向所述通孔和所述固定孔填充遮光性树脂所形成。
3.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,
所述第一遮光性树脂体具有所述凸部,
所述第二遮光性树脂体通过把遮光性树脂覆盖在所述透镜框架上来与所述凸部结合。
4.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,
在所述发光透镜和所述受光透镜之间至少形成两个所述通孔。
5.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,在所述透镜框架的端部一侧至少形成两个所述通孔。
6.如权利要求5所述的光学式测距装置,其特征在于,把所述通孔形成在所述透镜框架的四角。
7.如权利要求6所述的光学式测距装置,其特征在于,在所述发光透镜与所述受光透镜之间形成有两个所述通孔。
8.如权利要求4所述的光学式测距装置,其特征在于,所述通孔的位置通过连结所述发光透镜中心与所述受光透镜中心的透镜中心线的中心,且对于与该透镜中心线正交的中心线是对称的。
9.如权利要求2所述的光学式测距装置,其特征在于,所述透镜框架具有在与所述透镜框架的表面垂直方向突出的突出部,在该突出部内形成有所述通孔,
使所述突出部与所述固定孔嵌合。
10.如权利要求9所述的光学式测距装置,其特征在于,所述突出部在与所述透镜框架的面方向平行的方向形成有贯通的孔。
11.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,所述透镜框架的表面、反面或两面形成有薄膜,该薄膜由形成所述发光透镜和所述受光透镜的透光性树脂所形成。
12.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,所述第一遮光性树脂体对于连结所述发光透镜中心与所述受光透镜中心的透镜中心线被形成为大致对称。
13.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,把所述第一遮光性树脂体和所述第二遮光性树脂体由同一树脂形成。
14.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,形成所述透镜框架的金属的热膨胀系数与所述第一遮光性树脂体和所述第二遮光性树脂体的热膨胀系数大致相等。
15.如权利要求1所述的光学式测距装置,其特征在于,形成所述透镜框架的金属是铜或铜合金。
16.一种电子设备,其特征在于,安装有权利要求1到15任一项所述的光学式测距装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104061858A (zh) * 2014-06-27 2014-09-24 广州广船国际股份有限公司 一种法兰空间相对位置测量仪
CN106526721A (zh) * 2015-09-10 2017-03-22 原相科技股份有限公司 多截面式光学元件及其光学侦测装置
CN107015236A (zh) * 2015-10-15 2017-08-04 阿自倍尔株式会社 光电传感器
CN107205491A (zh) * 2015-02-05 2017-09-26 菲利普莫里斯生产公司 具有锚定加热器的气溶胶生成装置
CN109417107A (zh) * 2016-07-14 2019-03-01 京瓷株式会社 光传感器用封装体、光传感器装置以及电子模块
CN110392820A (zh) * 2018-02-20 2019-10-29 三菱电机株式会社 绝对编码器
CN111722243A (zh) * 2020-06-28 2020-09-29 上海兰宝传感科技股份有限公司 基于激光三角测量系统低温漂输出的温度补偿测距方法
CN113721340A (zh) * 2020-05-20 2021-11-30 理光工业解决方案有限公司 透镜单元、图像投影装置以及光学装置

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013243340A (ja) * 2012-04-27 2013-12-05 Canon Inc 電子部品、実装部材、電子機器およびこれらの製造方法
JP6296687B2 (ja) * 2012-04-27 2018-03-20 キヤノン株式会社 電子部品、電子モジュールおよびこれらの製造方法。
JP5885690B2 (ja) 2012-04-27 2016-03-15 キヤノン株式会社 電子部品および電子機器
US11125966B2 (en) * 2013-06-14 2021-09-21 James Alan Monroe Lens alignment system and method
JP2015038920A (ja) * 2013-08-19 2015-02-26 ソニー株式会社 撮像装置および電子機器
EP2881983B1 (en) 2013-12-05 2019-09-18 ams AG Interposer-chip-arrangement for dense packaging of chips
EP2881753B1 (en) * 2013-12-05 2019-03-06 ams AG Optical sensor arrangement and method of producing an optical sensor arrangement
DE102015109775B3 (de) * 2015-06-18 2016-09-22 RobArt GmbH Optischer Triangulationssensor zur Entfernungsmessung
DE102015114883A1 (de) 2015-09-04 2017-03-09 RobArt GmbH Identifizierung und Lokalisierung einer Basisstation eines autonomen mobilen Roboters
DE102015119501A1 (de) 2015-11-11 2017-05-11 RobArt GmbH Unterteilung von Karten für die Roboternavigation
DE102015119865B4 (de) 2015-11-17 2023-12-21 RobArt GmbH Robotergestützte Bearbeitung einer Oberfläche mittels eines Roboters
DE102015121666B3 (de) 2015-12-11 2017-05-24 RobArt GmbH Fernsteuerung eines mobilen, autonomen Roboters
DE102016102644A1 (de) 2016-02-15 2017-08-17 RobArt GmbH Verfahren zur Steuerung eines autonomen mobilen Roboters
US11069667B2 (en) * 2016-03-31 2021-07-20 Stmicroelectronics Pte Ltd Wafer level proximity sensor
FR3056524B1 (fr) * 2016-09-28 2018-10-12 Valeo Systemes D'essuyage Systeme de detection pour vehicule automobile
EP3590014B1 (de) 2017-03-02 2021-11-17 Robart GmbH Verfahren zur steuerung eines autonomen, mobilen roboters
JP6616369B2 (ja) * 2017-09-20 2019-12-04 京セラ株式会社 受発光素子モジュール
CN110098180B (zh) * 2018-01-31 2023-10-20 光宝新加坡有限公司 晶圆级感应模块及其制造方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000331577A (ja) * 1999-05-18 2000-11-30 Omron Corp 光電センサ並びにその製造方法
US20070296950A1 (en) * 2006-06-07 2007-12-27 Honda Motor Co., Ltd. Optical device and mobile apparatus
CN101387513A (zh) * 2008-08-28 2009-03-18 上海科勒电子科技有限公司 距离检测感应装置
CN101387512A (zh) * 2008-08-28 2009-03-18 上海科勒电子科技有限公司 距离检测感应装置
CN101655350A (zh) * 2008-08-20 2010-02-24 夏普株式会社 光学式测距传感器和电子仪器
JP2011043433A (ja) * 2009-08-21 2011-03-03 Sharp Corp 光学式測距センサ、および、それを搭載した電子機器

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH071716Y2 (ja) * 1988-12-02 1995-01-18 オムロン株式会社 光電スイッチ
JPH06109553A (ja) * 1992-09-30 1994-04-19 Komatsu Ltd 温度検知器
JPH11281351A (ja) 1998-01-28 1999-10-15 Fuji Electric Co Ltd 測距装置
JP2001099643A (ja) 1999-07-23 2001-04-13 Fuji Electric Co Ltd 測距装置
JP2002016196A (ja) 2000-04-24 2002-01-18 Fuji Electric Co Ltd リードフレーム、およびそれを用いた樹脂封止形半導体装置
JP2002083917A (ja) 2000-06-28 2002-03-22 Noge Denki Kogyo:Kk 表面に突起を有するリードフレーム、リードフレームの製造方法、半導体装置、および、半導体装置の製造方法
JP3777590B2 (ja) * 2000-12-28 2006-05-24 日本電気株式会社 光トランシーバ
JP4222792B2 (ja) * 2002-06-26 2009-02-12 シャープ株式会社 測距センサおよびそれを用いた電子機器ならびに測距センサの製造方法
JP4016275B2 (ja) * 2003-06-25 2007-12-05 富士電機デバイステクノロジー株式会社 測距装置
JP4050271B2 (ja) 2004-12-07 2008-02-20 シャープ株式会社 対物レンズホルダー、それを備えた対物レンズ駆動装置、及び光ディスク記録再生装置
JP4588544B2 (ja) 2005-06-06 2010-12-01 シャープ株式会社 光学式測距センサ
JP2009097872A (ja) * 2007-10-12 2009-05-07 Sharp Corp 光学式測距センサ、物体検出装置、洗浄便座、および光学式測距センサの製造方法
JP5079826B2 (ja) 2010-02-09 2012-11-21 シャープ株式会社 光学式測距センサおよび電子機器
JP5425014B2 (ja) 2010-08-04 2014-02-26 シャープ株式会社 光学式測距装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000331577A (ja) * 1999-05-18 2000-11-30 Omron Corp 光電センサ並びにその製造方法
US20070296950A1 (en) * 2006-06-07 2007-12-27 Honda Motor Co., Ltd. Optical device and mobile apparatus
CN101655350A (zh) * 2008-08-20 2010-02-24 夏普株式会社 光学式测距传感器和电子仪器
CN101387513A (zh) * 2008-08-28 2009-03-18 上海科勒电子科技有限公司 距离检测感应装置
CN101387512A (zh) * 2008-08-28 2009-03-18 上海科勒电子科技有限公司 距离检测感应装置
JP2011043433A (ja) * 2009-08-21 2011-03-03 Sharp Corp 光学式測距センサ、および、それを搭載した電子機器

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104061858A (zh) * 2014-06-27 2014-09-24 广州广船国际股份有限公司 一种法兰空间相对位置测量仪
CN107205491A (zh) * 2015-02-05 2017-09-26 菲利普莫里斯生产公司 具有锚定加热器的气溶胶生成装置
CN106526721A (zh) * 2015-09-10 2017-03-22 原相科技股份有限公司 多截面式光学元件及其光学侦测装置
CN106526721B (zh) * 2015-09-10 2018-05-25 原相科技股份有限公司 多截面式光学元件及其光学侦测装置
CN107015236A (zh) * 2015-10-15 2017-08-04 阿自倍尔株式会社 光电传感器
CN107015236B (zh) * 2015-10-15 2019-10-11 阿自倍尔株式会社 光电传感器
CN109417107A (zh) * 2016-07-14 2019-03-01 京瓷株式会社 光传感器用封装体、光传感器装置以及电子模块
CN110392820A (zh) * 2018-02-20 2019-10-29 三菱电机株式会社 绝对编码器
CN110392820B (zh) * 2018-02-20 2020-05-01 三菱电机株式会社 绝对编码器
CN113721340A (zh) * 2020-05-20 2021-11-30 理光工业解决方案有限公司 透镜单元、图像投影装置以及光学装置
CN111722243A (zh) * 2020-06-28 2020-09-29 上海兰宝传感科技股份有限公司 基于激光三角测量系统低温漂输出的温度补偿测距方法

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