CN102792147B - 在颗粒分析器中产生脉冲参数 - Google Patents

Abstract

提供一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法。该方法包括，利用分别沿着探询区域的沿着安置的触发探询器和一个以上的次级探询器探询颗粒样品，基于对来自颗粒样品的第一颗粒的探询产生各个脉冲，基于触发脉冲确定初级脉冲检测窗口，基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲，基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲，和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。还提供相应的设备。

Description

在颗粒分析器中产生脉冲参数

优先权声明

这个专利申请要求在2010年3月10日提交的第61/312,616号美国临时专利申请的优先权，其全部通过参考被结合在此。

技术领域

这个发明涉及使用颗粒分析器的颗粒样品的分析。

背景技术

颗粒分析器使得颗粒样品的快速分析能够检测样品的各种特性以及检测单个颗粒的特性。一些颗粒分析器还包含根据一个以上的检测特性来对颗粒进行分类的功能。

诸如流式细胞仪和血液学分析器的颗粒分析器经常用于分析诸如血液或组织的生物细胞样品。在流式细胞仪中，细胞样品在沿着样品的流路的探询区域中经受探询。典型地，鞘液中的细胞一个一个地通过流动池，其中，它们被包含一个以上的光束的探针探询。例如，一个以上的激光源可以沿着细胞流的流动的通道位于流动池中。在其他流式细胞仪中，诸如在喷气式流式细胞仪中，鞘液中的细胞被流动池外的一个以上的探针探询。用于每个经过的细胞产生一些测量数据。当细胞通过探询区域时，通过检测器来测量诸如光散射、光损失和荧光的结果的光特性。测量的光特性用于对于每个受探询的细胞产生相应的电脉冲。分析该电脉冲，以确定诸如脉冲峰值、脉冲宽度和脉冲区域的细胞的参数。分类流式细胞仪例如可以将不同类型的细胞分类到容器中。

在被探询之前，可以使用各种荧光染料和/或试剂来制备细胞样品以标记特殊的细胞类型。每种荧光染料和/或试剂可以约定不同类型的细胞。当细胞通过探询区域时，激光源激发荧光染料和/或试剂。通过增加可以检测的不同荧光染料和/或试剂的数目，可以对于细胞类型的增加范围的存在分析细胞样品。然而，例如每个激光源可能仅仅激发限定波长范围之内的荧光染料。因此，理想的是，使用多个激光源，以便能够实现较宽的波长和频率的范围的检测。

但是，如果光源之间的距离过小，那么沿着细胞流的流路安置的多个激光源可能导致增加的重合和溢出。重合，即，在检测窗口之内的一个以上颗粒的检测，导致来自分析样品的受影响的颗粒的异常。溢出，即，由相邻的光源产生的光响应的检测，导致由于补偿溢出作用的需要而引起的低效率。因此，为了避免增加的重合和溢出，以彼此之间具有实质距离的方式安置激光源。通过增加多个激光源之间的距离，可以通过减少重合和溢出来提高颗粒分析器的效率。光源之间增加的距离还能够实现颗粒大小的范围的分析，从而更加增加了颗粒分析器的实用性。然而，增加激光源之间的距离导致出乎意料的发现，该发现是当激光源之间的距离增加时，对于颗粒产生的参数常常是不准确的。

因此，希望提高在利用多个光源的颗粒分析器中产生的参数的准确度。

发明内容

本发明针对颗粒分析器数据的分析。在一个实施例中，一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，包括：利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口；基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲；基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。

在另一个实施例中，一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，包括：利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口；基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定次级脉冲检测窗口；检测施加于所述第一颗粒的干扰信号的特性；基于干扰信号的特性，偏移所述次级脉冲检测窗口；识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的测量参数。

又一个实施例是包含至少一个处理器、颗粒探询器和脉冲分析器的颗粒分析器。颗粒探询器被配置为：利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；以及基于对来自所述颗粒样品的第一细胞的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲。该脉冲分析器包含配置为基于触发脉冲确定初级脉冲检测窗口的初级脉冲检测窗口生成器、配置为基于包含初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定与一个所述次级探询器相对应的搜索间隔的次级脉冲检测窗口生成器、以及次级脉冲参数产生器。次级脉冲检测窗口生成器还可以被配置为基于对第一颗粒的探询，动态地调整对于激光延迟变化的搜索间隔。次级脉冲参数产生器被配置为识别调整的搜索间隔中的次级脉冲，以及处理次级脉冲以确定次级脉冲的峰值。

以下参考附图详细描述本发明的进一步的特征和优势，以及各个实施例的构成与操作。注意，本发明不局限于在此描述的具体实施例。在此呈现的这种实施例只是用于说明的目的。基于在此涵盖的教导,其他的实施例对相关领域的技术人员来说是显而易见的。

附图说明

图1是根据本发明的实施例的示范性的颗粒分析器。

图2是示范性的脉冲及其相应的检测窗口的图示。

图3是在颗粒分析器中引入干扰信号的效果的图示。

图4是脉冲的特性相对于施加于细胞流的干扰信号的特性的图示。

图5是根据本发明的实施例的脉冲分析器的图示。

图6是根据本发明的实施例的在颗粒分析器中准确地产生参数的方法的图示。

图7是根据本发明的实施例的将搜索间隔扩大到次级脉冲检测窗口以外的方法的图示。

图8是根据本发明的实施例的用于计算脉冲的峰值的方法的图示。

图9是根据本发明的实施例的确定次级脉冲检测窗口的方法的图示。

图10是施加于液流的干扰信号的相位和脉冲相对于相应的脉冲检测窗口的到达时间之间的关系的图示。

图11是根据本发明的实施例的调整次级脉冲检测窗口的方法的图示。

当连同附图时，从以下阐明的详细说明，本发明的特征和优势将变得更明显。在附图中，类似的参考数字通常表示相同的、功能类似的和/或结构类似的元件。通常，其中元件首次出现的附图由相应的参考数字中的最左边的数字表示。

具体实施方式

本发明涉及颗粒分析。虽然在此参考对于特殊应用的说明性的实施例来描述本发明，但是应当理解的是，本发明并不局限于此。获取此处的教导的那些本领域的技术人员将认识到其范围之内的其他的变形、应用和实施例，以及本发明将具有显著的实用性的其他的技术领域。

如在以上的背景技术部分中描述的，希望诸如激光源和检测器的多个光学探询器可以用来探询细胞样品。各自能够激励和检测来自一部分频谱的光、并且沿着样品的流路中的探询区域的长度安置的多个激光探询器，能够使得细胞样品遍及大范围的波长和频率经受探询，从而增加细胞样品通过颗粒分析器的单独流动的实用性和有效性。诸如减少激光的成本、增加各种荧光染料的可行性以及增加处理能力的可行性的其他因素便于颗粒分析器的发展，该颗粒分析器比常规装置具有更大数量的可用的光学探询器。然而，发明人发现增加光学探询器的数目，更特别的是增加光学探询器之间的距离可能引入非预期的后果以及描述颗粒的特性的参数的产生中的不一致。在一些诸如分类流式细胞仪的颗粒分析器中，其中，流过探询区域的细胞流被干扰（例如，以便于形成液滴从而允许分类），在具有较大数量的光学探询器的装置中，根据传统方法产生参数所涉及的误差可能是实际存在的。本发明的实施例允许在具有多个光学探询器中产生准确的参数，诸如脉冲峰值脉冲宽度和脉冲区域。通过实现多个光学探询器的使用，本发明的实施例增加颗粒分析器的能力以检测单独流动的各种颗粒特性。通过使得多个光学探询器能够彼此以实质上的距离被放置，同时仍然产生准确的参数，本发明的实施例通过缩小或者排除重合和溢出来增加颗粒分析器的效率。此外，通过允许多个光学探询器彼此以实质距离被放置，本发明的实施例能够例如通过使用不同的喷嘴配置来实现各种大小的颗粒的分析。

颗粒分析器

图1是根据本发明的实施例颗粒分析器100的图示。颗粒分析器100例如可以是分类流式细胞仪。颗粒分析器100包含一个以上的处理器102、内存103、存储器104、颗粒探询器105和脉冲分析器106。在一些实施例中，颗粒分析器100还可以包含数据分析器107和显示器108。

一个以上的处理器102可以包含一个以上的中央处理器（CPU）、现场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）、数字信号处理器（DSP）或者类似的指令处理装置。内存103大体包括诸如随机存取内存的易失性内存，诸如随机存取内存的易失性内存用于数据和处理指令的临时存储。存储器104大体包括用于存储处理指令、配置数据、颗粒数据和处理结果的非易失性存储器。存储器104可以包含计算机可读的存储介质，诸如硬盘、闪存存储器、光盘、软盘等等。颗粒探询器105使得颗粒样品能够受到探询区域中的多个光源的探询。脉冲分析器106包含产生与颗粒样品中的单个颗粒相对应的参数的功能。例如，脉冲分析器106接受为通过颗粒探询器105为各个颗粒产生的输入电脉冲，并且产生诸如脉冲峰值、脉冲宽度和脉冲区域的参数。以下相对于图5进一步描述脉冲分析器106。然后在脉冲分析器106中产生的参数被数据分析器107处理，并且使用显示器108来被报告和/或显示。通信基础结构109使颗粒分析器100的各种部件相互连接，并且可以包含连接装置，诸如外围装置部件互连标准（PCI）总线、通用串行总线（USB）、火线、以太网、或类似装置。

数据分析器107接收由脉冲分析器106产生的参数，并且通过分类、计数和分析该数据来进一步报告和/或处理该数据。数据分析器107可以包含对于错误的数据过滤接收数据的功能。本发明的一些实施例改进了提交给诸如数据分析器107的数据分析器的参数的质量。在一些实施例中，数据分析器107和/或显示器108可以是在颗粒分析器100的外部。例如，数据分析器107可以被配置在单独的计算机上，单独的计算机通过网络（未显示）结合到颗粒分析器100。在实施例中，数据分析器107可以包含分析软件，该分析软件诸如是来自贝克曼考尔特的SUMMIT^TM流式细胞术数据分析软件。

颗粒探询器105包含颗粒样品分配区域112、样品喷嘴113、探询区域114、多个光源116、多个光学检测器118和电脉冲产生器120。颗粒样品分配区域112提供用于保持颗粒样品126和鞘液128。颗粒样品例如可以是全血样品或通过添加一个以上的荧光染料和/或试剂而制备的全血样品。

喷嘴113使得包含鞘液的颗粒样品的注入能够被注入到探询区域114中。通常，喷嘴113被配置为注入流体动力集中的颗粒样品，以使诸如颗粒130的颗粒成一列纵队地一个颗粒接在另一个颗粒之后地流过探询区域114。在一些实施例中，喷嘴113可以被配置成具有喷嘴的尺寸（即，喷嘴的直径）以及鞘液压力。

遍及探询区域114的长度，安置多个光源116和多个相应的光学检测器118。在一些实施例中，探询区域114可以包含流动池。在一些实施例中，诸如在喷气式流式细胞仪中，探询区域可以包含在颗粒样品的流路中而不在流动池之内的区域。配对的光源和相应的检测器可以称为探询器。在图解的实施例中，显示七个光源116和七个相应的光学检测器118沿着探询区域的长度安置。在实施例中，光源116可以包含具有不同波长的激光源。在探询区域中，当每个颗粒通过与各个光源相对应的检测区域时，各个光源116照射每个颗粒，并且的包含光扩散和/或荧光的结果的光学信号被相应的检测器118检测。每个检测器可以包含小孔（没有单独显示）和光学检测器，以便检测光扩散和/或荧光。通过电脉冲产生器120，将来自每个检测器的光学信号转换为各个诸如电压信号的电信号。与通过探询器探询单个细胞所产生的光响应相对应的结果的电信号被称为脉冲。通过脉冲分析器106处理该脉冲，以识别与颗粒相对应的各种参数，并且将该参数提供给数据分析器107。基于识别的参数，脉冲分析器106还可以例如通过控制组件（未显示）来控制颗粒探询器105的操作，以便执行这样的任务，如配置喷嘴、配置光源和检测器以及配置可选择的颗粒分类器122。

在一些实施例中，颗粒分类器122被用于根据各种特性来分类颗粒。与颗粒分类器122关联的是颗粒充电装置136和干扰产生器124。干扰产生器124可以与喷嘴113关联，以产生注入到探询区域中的颗粒流的干扰。在实施例中，干扰产生器124在喷嘴出口上方，位于诸如喷嘴113的喷嘴组件中。例如，通过干扰生成器可以产生与正弦波相对应的压力波。配置该压力波以使颗粒流可以在液滴形成区域132中确定性地形成液滴，理想地，每个液滴包含单个颗粒。在实施例中，干扰产生器124包含具有可配置的振荡频率的压电晶体振荡器。在实施例中，干扰波的频率、振幅和相位是可配置的。液滴形成区域132在探询区域中的颗粒流的通道中的光学探询器之后出现。通过充电装置136，电荷可以被施加于每个液滴。在实施例中，充电装置136位于液滴形成区域132中。在另一个实施例中，充电装置可以位于探询区域之前。例如，位于探询区域上方的充电装置可以通过鞘液将电荷传送到液滴形成区域132中的液滴。液滴根据包含在液滴中的颗粒的特性被充电。当液滴进入分类器时，带电板138将液滴引导到一个容器140。颗粒分类器122被配置为使得每个容器140收集具有类似特性的颗粒。

颗粒样品的探询包含将有或者没有干扰的样品注射到探询区域中，并且沿着探询区域通过探针探询颗粒。如以前所述的，每个探询器使得表示相同颗粒的相同或不同方面的脉冲被产生。脉冲分析器106从颗粒探询器105接收包含产生的脉冲的信号流，并且被配置为识别与每个单独的颗粒和探询器相对应的脉冲。

可以基于各种标准来确定各个光源116之间的空间间隔，各种标准诸如是光源的数目、探询区域的长度、颗粒大小、可以被产生以促进液滴形成的压力波的振幅、光源的功率、细胞事件率、容许误差的级别等等。

通过允许与相邻的光谱频率相对应的信号溢出彼此的检测范围，将光源安置成彼此接近能够增加光谱的重叠。因为需要其他的补偿来获得用于分析的有效的信号，所以不希望光谱的重叠。然而，当光源进一步被隔开时，至于颗粒实际上通过检测器的检测区域的时间以及在检测区域中预期的时间，能够出现变化。当诸如通过使用干扰产生器124来引入颗粒流的干扰时，颗粒之中的速度的变化被增加，这接着可能导致检测脉冲中增加的错误。对于发明人的学识，常规的颗粒分析器没有认识到内部探询器间隔、脉冲在次级探询器的到达时间、以及施加于细胞流的干扰信号之间的关系。本发明的实施例结合了颗粒分析器中的特征，以克服当这种关系存在时产生的参数中的不准确性。

图2是脉冲、脉冲检测窗口以及脉冲检测阈值的图示。通过生成与特殊的探询器相对应的脉冲检测窗口，以及然后找到相对于那个检测窗口的脉冲，脉冲分析器106检测来自颗粒探询器的输入信号流中的脉冲。例如，在脉冲检测窗口203之内看到脉冲201。当相应的信号保持在脉冲检测阈值205或在脉冲检测阈值205以上时，脉冲201被检测作为脉冲。脉冲检测阈值205可以被预先配置。在触发探询器中，基于阈值以上的脉冲的持续时间来确定检测窗口宽度。该触发探询器可以是用户可选的。例如，最靠近探询区域的入口的探询器可以被选为触发探询器。可以基于细胞样品的类型和/或希望的分析类型来选择触发探询器。与该触发探询器相对应的脉冲和脉冲检测窗口可以分别被称为初级脉冲和初级脉冲检测窗口。非触发探询器、相应的脉冲和相应的检测窗口分别被称为次级探询器、次级脉冲和次级脉冲检测窗口。激光延迟（LD）是初级脉冲检测窗口和次级脉冲检测窗口之间在时间上的距离。该激光延迟可以取决于各个探询器和各个颗粒的速度之间的空间距离。

激光延迟变化

图3是差异的图示，当沿着探询区域安置多个光学探询器以致实质上的激光延迟存在于探询器之间时，通过将干扰引入到颗粒流来引起该差异。如上所述，该干扰可以是引入颗粒流的压力波。可以使用安置在喷嘴113之内或喷嘴113附近的干扰产生器124来引入干扰。图表301图解当没有干扰时，基于与触发探询器相对应的脉冲的FITC（一种荧光）和侧向散射测量。图表305图解当已经引入干扰时，基于与第一探询器相对应的脉冲，对于相同样品的相同测量。图表301和305图解了与触发探询器相对应的脉冲基本上不受该干扰的影响，即，尽管可以准确地判断与第一探询器相对应的脉冲的干扰。在这个实例中，触发探询器被配置为七个探询器中的第一探询器，即，最靠近喷嘴的探询器。

然而，图表302和306代表基于与最后的探询器相对应的脉冲的荧光测量，最后的探询器离第一探询器最远。如荧光测量中的窄的变化所示，图表302图解了当没有干扰时，即使在第七探询器，也可以在没有实质上的误差的情况下测量脉冲。然而，如由荧光测量中的宽的变化所示，图表306图解了当干扰存在于颗粒流中时，与远的探询器相对应的测量可能具有实质上的变化。

图4是脉冲相对于相应的脉冲检测窗口的示范性的图示。脉冲401和403分别显示了在一些干扰（例如，15V的干扰信号振幅）和比较高级别的干扰（例如，40V的干扰信号振幅）的情况下，为触发探询器（即，初级探询器）检测的脉冲准确地被安置在相应的脉冲检测窗口之内。当干扰信号振幅在15V时，脉冲407和408分别代表在探询区域中的触发探询器前的探询器处的相应的脉冲以及安置在触发探询器之后的探询器处的相应的脉冲，脉冲407和408图解了它们可能在相应的脉冲检测窗口之前或之后具有脉冲的实质上的一部分。脉冲410和411图解了当干扰信号振幅增加时，脉冲相对于相应的脉冲检测窗口的到达的差异增加。例如，可以相对于脉冲检测窗口的中心来测量预期的到达时间。基于相应的脉冲检测窗口的与预期的到达时间相比的脉冲的到达时间的差异被称为激光延迟变化（LDV）。因此，激光延迟变化随着干扰振幅的增加而增加。

脉冲分析器

图5是脉冲分析器106的图示。根据实施例，脉冲分析器106包含初级脉冲检测窗口生成器502、初级脉冲参数产生器504、次级脉冲检测窗口生成器506和次级脉冲参数产生器508。当然，基于产生的参数来控制颗粒探询器105的诸如控制组件（未显示）的其他部件可以包含在脉冲分析器106中。脉冲分析器106可以以软件、固件、硬件或它们的任何组合被实现。在实施例中，以FPGA固件实现脉冲分析器106。

在实施例中，初级脉冲检测窗口生成器502被配置为对于探询区域中检测的每个颗粒确定初级脉冲检测窗口。以下参考图6描述初级脉冲检测窗口的确定。

在实施例中，初级脉冲参数产生器504被配置为基于初级脉冲，对于每个颗粒，确定诸如脉冲峰值、脉冲宽度和脉冲区域的参数。以下参考图6描述初级脉冲参数的确定。

在实施例中，次级脉冲检测窗口生成器506被配置为对于探询区域中检测的各个颗粒，确定与一个以上的次级探询器相对应的搜索间隔。次级脉冲检测窗口生成器506还包含基于激光延迟变化来调整搜索间隔的功能。以下参考图6描述对于次级脉冲的搜索间隔的确定和调整。

在实施例中，次级脉冲参数产生器508被配置为基于初级脉冲，对于每个颗粒，确定诸如脉冲峰值、脉冲宽度和脉冲区域的参数。以下参考图6描述次级脉冲参数的确定。

产生参数的方法

图6是根据本发明的实施例，对于颗粒分析器中的颗粒样品，产生测量参数的方法600的流程图，测量参数诸如是脉冲峰值、脉冲宽度、脉冲区域。

在步骤602中，为了诸如流式细胞仪的颗粒分析器中的分析而制备细胞的样品。样品制备可以包含利用荧光标记细胞（还称为染色）。如上所述，荧光约定特定的细胞类型，并且当利用适当的激光照射细胞样品时，可被用于识别那些细胞类型。

在步骤604中，在探询区域中探询细胞的样品。颗粒样品的探询包含将有或者没有干扰的样品注射到探询区域中，并且沿着探询区域通过探针探询颗粒。

制备的细胞样品连同鞘液一起被输入到颗粒分析器。通过配置诸如喷嘴尺寸和鞘液压力的各种特征，可以控制对于探询区域的输入。例如，喷嘴尺寸被配置为适应各种颗粒类型。鞘液压力可以确定颗粒流被注入到探询区域中的速率。因此，可以根据探询区域之内的希望的颗粒的平均速度来配置鞘液压力。

在一些实施例中，干扰信号可以施加于颗粒流。例如，当颗粒流离开喷嘴时，干扰产生器可以将正弦波形式的压力引入颗粒流。随着颗粒流过探询区域，干扰可以增加（相对于没有干扰）颗粒之中的速度差异。

沿着探询区域的长度，即，沿着探询区域之内的细胞样品的流路，安置多个光学探询器。在实施例中，光学探询器是7个诸如激光二极管的激光源和相应的光学检测器。激光可以具有可能重叠或可能不重叠的波长范围。光学检测器能够感测光散射、荧光及其他光学特性。当每个颗粒通过由激光源照射的探询区域时，相应的检测器收集产生的光学信号。用这样的方式，对于每个颗粒，收集与每个使用中的光学探询器相对应的光学信号。

在步骤606中，产生与探询相对应的脉冲。然后由每个光学检测器收集的光学信号被转换为各个电脉冲。在实施例中，可以通过诸如光电二极管、光电倍增管等等的装置来完成光学信号到电信号的光电转换。在实施例中，可以通过颗粒探询器105来执行步骤604和606。

在步骤608中，检测初级脉冲。初级脉冲是相对于初级脉冲测量相同颗粒的其他脉冲的脉冲。初级脉冲与触发探询器关联，触发探询器即是相对于触发探询器测量所有其他的探询的探询器。在实施例中，触发光学探询器是在颗粒流动的通道中的第一探询器。在其他实施例中，可以选择该触发探询器作为其他探询器中的任何一个。如上所述，用户可以基于样品的类型和分析的类型来选择不同的光学探询器作为触发探询器。

在步骤610中，确定初级脉冲检测窗口。由该初级脉冲来限定该初级脉冲检测窗口。初级脉冲检测窗口的两个边缘位于初级脉冲超过预定的脉冲检测阈值的点处，即，分别在上升边缘和下降边缘上。因此，在实施例中，初级脉冲检测窗口的宽度等于在脉冲超过脉冲检测阈值的点之间测量的初级脉冲的宽度。

在步骤612中，可选择地，计算与初级脉冲相对应的参数。在实施例中，计算的参数包含初级脉冲的峰值、宽度和区域。在实施例中，初级脉冲检测窗口之内的脉冲的最高值被确定作为脉冲峰值。例如，跟踪保持电路可被用于确定该峰值。在另一个实施例中，诸如先入先出（FIFO）缓冲器的存储缓冲器可以在初级脉冲检测窗口的起点被初始化为零值，并且当贯穿整个初级脉冲检测窗口检查脉冲时，用比缓冲器中的电流值高的每个连续值来更新存储缓冲器。

在实施例中，初级脉冲宽度被确定作为初级脉冲的上升边缘上的半峰值点和下降边缘上的半峰值点之间的距离（持续时间）。其他实施例可以使用脉冲的前边缘和后边缘（与预定的脉冲检测阈值交叉的点）之间的距离，或在脉冲的上升和下降边缘上的一些百分比峰值点之间的距离。

通过对预定百分比的峰值的脉冲进行积分来确定初级脉冲区域。因此，通过在与预定百分比的峰值相对应的点之间的曲线之下的区域来限定脉冲区域。在另一个实施例中，可以通过对与预定的脉冲检测阈值的交叉点之间的脉冲进行积分来确定脉冲区域。

相对于触发初级脉冲的颗粒，可以对于每个探询器重复步骤614-620，对于每个探询器，产生脉冲。在步骤614中，确定搜索间隔，其中，检测与次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲。该搜索间隔限定持续时间，在该持续时间中，期待在脉冲的进入流中可检测次级脉冲。在实施例中，可以基于初级脉冲检测窗口和从触发探询器到选择的次级探询器的激光延迟来确定搜索间隔。例如，该搜索间隔可以集中在离开初级脉冲检测窗口一段距离处，该距离对应于各个触发探询器和次级探询器之间的激光延迟。可以对于每个触发探询器和次级探询器对来预定激光延迟。在另一个实施例中，可以基于触发探询器和次级探询器探询器之间的空间距离、以及探询区域中的颗粒的平均速度来确定激光延迟。颗粒的速度可以从喷嘴、鞘液压力的已知的规格被确定，或者可以基于初级脉冲检测窗口的宽度被推测。在又一其他的实施例中，可以基于动态测量来确定颗粒的速度，动态测量诸如是例如测量将要通过探询器检测颗粒所经过的时间，探询器之间的距离被已知的。同样，如上相对于图4所述的，如果有的话，采用的干扰的振幅可以影响颗粒的速度，而且可以影响与到达相应的次级探询器的颗粒相关的延迟。

搜索间隔的持续时间可以被配置为等于初级脉冲检测窗口的宽度。在另一个实施例中，搜索间隔的持续时间被配置为等于初级脉冲检测窗口加上预定扩展。预定窗口扩展可以被相等地增加到搜索间隔的两侧，以便保持搜索窗口的中心和初级脉冲检测窗口的中心之间的距离。在另一个实施例中，可以根据预定设置来设定搜索间隔持续时间。引入该扩展以在某种程度上适应相对于原始检测窗口的脉冲到达的变化。扩展的大小可以被静态地设定，可以基于相应的初级脉冲检测窗口的大小被设定，或者可以根据干扰的强度被确定。例如，较大的扩展可以被配置用于较大的干扰的振幅，而且较小的扩展可以被配置用于小的振幅。

在实施例中，确定次级脉冲检测窗口，以使它对应于搜索间隔。相对于选择的探询器，次级脉冲检测窗口是时间间隔，在该时间间隔期间，对于相应的次级脉冲的存在，初始地检查脉冲的进入流。重合和溢出的检测例如是基于初级脉冲检测窗口和/或次级脉冲检测窗口。脉冲检测窗口的大小（即，设置持续时间）必须平衡在使得窗口过大并且允许增加的重合事件和使得窗口小并且允许脉冲落在窗口之外之间的折衷。使得脉冲检测窗口大还可能导致脉冲检测窗口与相邻的探询器的脉冲检测窗口重叠的问题。

在步骤616中，基于激光延迟变化来调整搜索间隔。在实施例中，搜索间隔最初对应于次级脉冲检测窗口。根据该实施例，搜索间隔被扩大以便包含次级脉冲检测窗口之前和/或之后的持续时间，所以即使相应的脉冲由于激光延迟变化而相对于次级脉冲检测窗口已经早或晚到达，相应的脉冲也可以被检测。图7是实施例的图示，在该实施例中，通过扩大到次级脉冲检测窗口以外来调整搜索间隔。在另一个实施例中，次级脉冲检测窗口包含扩大的持续时间。例如，可以基于在颗粒离开喷嘴时的干扰的状态或振幅来确定扩大的持续时间。

根据一些实施例，例如，其中搜索间隔包含次级脉冲检测窗口以及扩大的持续时间的实施例，以及其中搜索间隔对应于扩大的次级脉冲检测窗口的实施例，可以动态地修改搜索间隔以避免相邻的窗口之间的冲突。例如，一旦检测到扩大的搜索间隔的冲突，搜索间隔就可以被缩短或调整，以便不与冲突的搜索间隔重叠。

在另一个实施例中，搜索间隔对应于次级脉冲检测窗口，并且通过转移或移动搜索间隔来调整搜索间隔，以便相对于它的初始位置出现时间向前或向后。基于预期的激光延迟变化是否将导致脉冲在初始位置之前或之后到达来移动搜索间隔。图11是实施例的图示，在该实施例中，搜索间隔和/或相应的次级脉冲检测窗口基于预期的激光延迟变化，相对于它的初始位置被移动。

在步骤618中，关于调整的搜索间隔，检测相应的次级脉冲。在实施例中，与次级脉冲检测窗口相对应的脉冲被确定作为在相应的脉冲检测窗口之内具有它的实质上的一部分的脉冲。在实施例中，如果看到一个以上的脉冲至少局部地在窗口之内，那么在窗口之内较多的脉冲被认为是与各个窗口相对应的脉冲。在另一个实施例中，认为是具有较高峰值的脉冲。在其他实施例中，可以调整各个窗口以便仅仅包含单个脉冲。

在步骤620中，确定与次级脉冲相对应的参数。在实施例中，已经在步骤618中找到相应的次级脉冲，不管这样的部分的全部是否位于次级探询窗口之内，都认为是由阈值脉冲检测值以上和/或预定百分比的峰值以上的脉冲限定的脉冲。例如，在实施例中，在扩大的搜索间隔之内检测的脉冲的部分被认为随着相应的次级脉冲检测窗口之内的部分一起。例如，在响应于预期的激光延迟变化而移动脉冲检测窗口的另一个实施例中，可以基于脉冲基本上在次级脉冲检测窗口之内的部分检测次级脉冲。

处理该次级脉冲以便基于脉冲检测阈值以上的全部的脉冲确定脉冲峰值。在实施例中，可以采用跟踪保持电路以便确定脉冲的峰值。例如，对于相同脉冲的峰值，对于从任何先前的确定值开始的较高值，可以跟踪该脉冲，相同脉冲的峰值诸如是在生成相应的次级脉冲检测窗口时确定的峰值。在另一个实施例中，诸如FIFO缓冲器的存储缓冲器可以在次级脉冲超过脉冲检测阈值的点被初始化为零值，并且当脉冲被检查时，用比缓冲器中的电流值高的每个连续值来更新存储缓冲器。在又一个实施例中，用对于相同脉冲的任何先前峰值确定的值，诸如在次级脉冲检测窗口生成的时候确定的峰值，来初始化FIFO缓冲器，并且当脉冲被检查时，用比缓冲器中的电流值高的每个连续值来更新FIFO缓冲器。

还可以处理该次级脉冲以确定脉冲宽度。在实施例中，次级脉冲宽度被确定作为初级脉冲的上升边缘上的半峰值点和下降边缘上的半峰值点之间的距离（持续时间）。其他实施例可以使用脉冲的前边缘和后边缘（例如，与预定的脉冲检测阈值交叉的点）之间的距离，或在脉冲的上升边缘和下降边缘上的一些百分比峰值点之间的距离。

通过对预定百分比的峰值以上的脉冲进行积分来确定次级脉冲区域。因此，通过在与预定百分比的峰值相对应的点之间的曲线之下的区域来限定脉冲区域。在另一个实施例中，可以通过对与预定的脉冲检测阈值的交叉点之间的脉冲进行积分来确定脉冲区域。

通过移动到各个脉冲检测窗口之外对于次级脉冲计算脉冲参数实质上得到了那些参数的准确度中的改进。例如，次级脉冲的峰值传统地被确定作为各个脉冲检测窗口之内的最高值，并且因此在实际的峰值在窗口之外（例如，在包含窗口扩展的窗口之外）的情况下，不能返回脉冲的实际的峰值。在本发明的实施例中，通过移动到检测窗口以外以跟踪次级脉冲，即使当脉冲的实质上的一部分位于检测窗口之外，也可以准确地确定参数。

检测脉冲检测窗口之外的脉冲

图7是生成扩大到相应的脉冲检测窗口以外的搜索间隔的方法700的图示。在实施例中，方法700执行调整如上所述的步骤616的处理步骤。

在步骤702中，检测次级脉冲在相应的次级脉冲检测窗口之内的部分。例如，次级脉冲检测窗口可以在如上所述的步骤614中被生成。在实施例中，相应于对于正在被探询的颗粒的最初的搜索间隔，限定次级脉冲检测窗口。

如上所述，由于激光延迟变化，与受探询的颗粒相对应的脉冲可以具有它到达次级脉冲检测窗口之前或之后的部分。在步骤702中，确定脉冲在次级脉冲检测窗口之内的部分。

在步骤704中，搜索间隔被增加以包含相应的次级脉冲检测窗口之前和/或之后的区域。例如，如果脉冲在次级脉冲检测窗口之内的部分表示脉冲相对于窗口的中心早到达，那么通过扩大成包含次级脉冲检测窗口之前的时间间隔来调整搜索窗口。如果脉冲在次级脉冲检测窗口之内的部分表示脉冲相对于窗口的中心晚到达，那么通过扩大成包含次级脉冲检测窗口之后的时间间隔来调整搜索窗口。在另一个实施例中，如果确定脉冲在之前和之后两者都超过次级脉冲检测窗口，那么通过扩大成包含次级脉冲检测窗口之前和之后两者的时间间隔来调整搜索窗口。然后，调整的搜索窗口被用于确定次级脉冲的参数，例如如上所述的步骤618-620。

确定次级脉冲的峰值

图8是根据本发明的实施例的确定次级脉冲的峰值的方法800。在实施例中，可以在步骤620中执行方法800。

在步骤802中，脉冲峰值被初始化为检测窗口之内的相应脉冲的最高值。

在步骤804中，确定用于脉冲检测的阈值。在实施例中，该阈值被确定作为预定百分比的电流峰值。在另一个实施例中，该阈值被确定作为初级脉冲的预定百分比的峰值。在又一其他的实施例中，阈值可以是噪音阈值以上的绝对值或额定值。

在步骤806中，处理包含脉冲在检测窗口之外的部分的脉冲，以便确定实际的峰值。例如，在实施例中，在脉冲检测窗口之外但是在搜索间隔之内的脉冲在它超过检测阈值的点处的起点被处理。在实施例中，在脉冲的处理期间，检测的脉冲的高达那个点的最高值被反复地存储在存储缓冲器中。在处理脉冲完成时保留在缓冲器中的值被当作是次级脉冲的峰值。

在实施例中，在处理脉冲的第一迭代中实现步骤802，并且在处理的第二迭代中实现步骤804和806。例如，在处理来自颗粒探询器的输入脉冲信号的第一迭代中，脉冲分析器可以生成用于初级探询器和次级探询器的窗口。还可以在处理的第一迭代期间确定用于初级探询器的参数。同样，用于每个次级脉冲，可以在处理的第一迭代期间确定最初的峰值（例如，诸如以上的步骤802中）。在处理的第二迭代中，有时还称为脉冲信号的再处理，通过移动到窗口的边界以外，次级脉冲相对于先前确定的次级窗口的确定和次级脉冲的处理可以被实现。

在实施例中，通过以在脉冲分析器中被接收和被数字化的顺序在FIFO中存储脉冲或它们的一部分来实现脉冲的再处理。可以在处理的第一迭代中处理FIFO中的缓冲器。基于与相关的检测窗口相对应的缓冲器的位置，并且如果相关的缓冲器在FIFO中仍然可用，那么可以在处理的第二迭代中处理与检测窗口相对应的缓冲器之前和之后的缓冲器。

设置次级脉冲检测窗口

图9图解根据本发明的实施例的用于生成搜索间隔和/或次级脉冲检测窗口的方法900。在实施例中，方法900可以包含在如上所述的步骤614的处理中以便生成搜索间隔和/或次级脉冲检测窗口。

在步骤902中，确定初级脉冲检测窗口出现的时间。在实施例中，该时间被确定作为窗口起始的时间。在另一个实施例中，该时间被确定作为在窗口的中间点处的时间。

在步骤904中，确定初级脉冲检测窗口的持续时间。通过其中初级脉冲保持在脉冲检测阈值以上的持续时间，确定初级脉冲检测窗口的持续时间（还称为窗口的宽度）。

在步骤906中，确定初级探询器和隶属的次级探询器之间的距离。在实施例中，可以基于配置信息来确定这个距离。

在步骤908中，确定颗粒的速度。在实施例中，基于鞘液压力配置或喷嘴配置来确定颗粒的平均速度。在实施例中，可以基于初级脉冲的宽度来确定颗粒的速度。在另一个实施例中，可以基于喷嘴的配置来确定颗粒的速度，通过该喷嘴，细胞的样品被注入到探询区域中。例如，喷嘴可以被配置为以预定流速注入细胞流。

在步骤910中，确定次级窗口的出现时间。在实施例中，基于初级脉冲检测窗口的出现时间、从初级探询器到次级探询器的距离、以及颗粒的速度，计算次级窗口的出现时间。在实施例中，该出现时间被确定作为窗口的前边缘出现的时间。在另一个实施例中，该出现时间是在窗口的中间点处的时间。该出现时间被测量以符合确定初级脉冲的出现时间的方式。基于各个窗口的中心，测量在初级和次级脉冲检测窗口之间距离，将消除由改变脉冲检测阈值而引入的变化。例如，因为窗口的前边缘的位置基于脉冲到达阈值的点而改变，所以如果从窗口的前边缘测量距离，那么改变脉冲检测阈值就改变了初级脉冲检测窗口的出现时间。

在步骤912中，配置次级脉冲检测窗口的宽度。在实施例中，次级脉冲检测窗口的宽度被确定为初级脉冲检测窗口的宽度加上窗口扩展。基于诸如相应的激光延迟和施加于细胞流的干扰振幅的因素，窗口扩展的持续时间被预先配置或被动态地确定。如上所述，当动态地确定次级脉冲检测窗口的宽度时，各个窗口的宽度可以被调整以避免与相邻的窗口的冲突或交叠。

预示的窗口调整

图10是引入细胞流的干扰信号的相位如何冲击颗粒在各个探询器处的到达的图示1000，干扰信号诸如是通过干扰产生器124被施加于颗粒流的干扰信号。在显示的实例中，触发探询器被配置为第一探询器（即，最靠近喷嘴的探询器）。图表1002、1004、1006和1008分别显示对于探询器2、4、5和7的激光延迟变化中的改变，探询器2、4、5和7位于到触发探询器增加的距离。同样地，图表1010、1012、1014和1016分别显示在探询器2、4、5和7看到的激光延迟变化的对应物，作为施加于细胞流的干扰信号的相位的功能。图表图解了激光延迟的变化，即，到达时间的变化，随着离开初级探询器的距离增加而增加。图表还图解了激光延迟，例如，颗粒在次级窗口的到达时间，是与干扰信号的相位有关的。例如，图表1010-1016图解了波形，该波形将每个次级窗口处的激光延迟表示为干扰信号的事件相位的功能。干扰信号可以是正弦波形状的波形。例如，干扰波的振幅中的变化可以是正弦波。图表1010-1016显示与在干扰产生器产生的正弦波相对应的正弦波，干扰产生器将干扰信号引入到细胞流。图表1018图解在静态设定的窗口1020的中间点之前到达的颗粒1021和在静态设定的窗口1020的中间点之后到达的颗粒1022。种群1021和1022分别对应于图表1010-1016中所示的正弦波的顶部和底部处的颜色门控值的集合。因此，可以看出，在次级探询器处相对于静态设定的窗口的到达可以被视为干扰信号的作用，或更具体地，被视为干扰信号的相位。

图11是根据本发明的实施例的预示地确定次级脉冲检测窗口的方法1100。在实施例中，方法1100可以在如上所述的步骤616中执行，以调整搜索间隔和/或相应的次级脉冲检测窗口。

在步骤1102中，相对于颗粒确定干扰信号的相位。例如，判断干扰信号的相位，例如，判断它是否在正弦波的正相位或负相位中。这个可以通过跟踪干扰波的相位以及将它与第一探询器处的颗粒相关来判断。在实施例中，在第一探询器看到的颗粒与经受预定延迟的干扰信号的相位有关。

在步骤1104中，根据本发明的实施例，确定次级脉冲检测窗口。在实施例中，基于干扰信号相对于颗粒的相位，移动静态设定或动态确定次级脉冲检测窗口。例如，如果颗粒与表示干扰信号的正弦波的正的部分有关，那么检测窗口可以从它的当前位置被提前，而且如果该颗粒与表示干扰信号的正弦波的负的部分有关，那么检测窗口可以相对于它的当前位置被延迟。此外，在实施例中，可以基于在与颗粒有关的位置处的正弦波的振幅来调整检测窗口的窗口宽度。例如，可以对于较大的振幅使窗口较宽，并且对于较小的振幅使窗口较窄。

为了图解说明和描述已经呈现本发明的上述说明。并不打算穷举或限制本发明为公开的精确形式，并且根据以上教导可以有其他的修改和变化。为了最佳说明本发明的原理和它的实际应用，选择和描述本实施例，从而使其它本领域的技术人员能够为了适于特殊的使用打算，在各种实施例和各种修改中最佳运用本发明。附加的权利要求意图解释包括本发明的其它可选择的实施例，除了现有技术限制的范围。

Claims (24)

1.一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，其特征在于，包括：

(a)利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；

(b)基于对来自所述颗粒样品的第一颗粒的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；

(c)基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口；

(d)基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲；

(e)基于对所述第一颗粒的所述探询，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；

(f)识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和

(g)处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：(h)处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的脉冲宽度值。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述脉冲宽度值是所述次级脉冲的预定百分比的所述峰值。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整步骤(e)包含：

基于对所述第一颗粒的所述探询确定调整的大小；和

按所述调整的所述大小的比例，增加所述搜索间隔。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述搜索间隔包含次级脉冲检测窗口，所述次级脉冲检测窗口基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素被确定，并且其中，所述调整步骤(e)包含：

识别所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口中的部分；和

扩展所述搜索间隔以包含所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口之外的部分。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述次级脉冲检测窗口的持续时间基本上等于所述初级脉冲检测窗口的持续时间加上预定的窗口扩展。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，处理所述次级脉冲步骤(g)包含：

(i)基于所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口内部的部分，为所述次级脉冲确定最初的峰值；

(ii)以所述最初的峰值的预定阈值检测所述次级脉冲；和

(iii)反复地存储对于所述次级脉冲检测的最高值。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，在所述次级脉冲的再处理期间执行步骤(ii)-(iii)。

9.如权利要求5所述的方法，其特征在于，确定搜索间隔步骤(d)包含：

对于所述初级脉冲检测窗口确定出现时间；

确定所述触发探询器和所述次级探询器之间的所述激光延迟；和

基于所述初级脉冲检测窗口的出现时间和所述激光延迟，计算对于次级脉冲检测窗口的出现时间。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，基于从所述触发探询器到所述次级探询器的分隔距离以及所述第一颗粒的速度，确定所述激光延迟。

11.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述确定搜索间隔步骤(d)进一步包含：

确定所述初级脉冲检测窗口的持续时间；和

基于所述初级脉冲检测窗口的所述持续时间，设置所述次级脉冲检测窗口的持续时间。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述设置所述次级脉冲检测窗口的所述持续时间进一步基于预定的窗口扩展。

13.如权利要求10所述的方法，其特征在于，从所述初级脉冲检测窗口的中心测量所述距离。

14.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(c)包含：

检测所述触发脉冲上的与预定的脉冲阈值相对应的第一和第二位置；和

基于所述第一和第二位置确定所述初级脉冲检测窗口。

15.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述搜索间隔包含次级脉冲检测窗口，所述次级脉冲检测窗口基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素被确定，并且其中，所述调整步骤(e)包含：

检测施加于所述第一颗粒的干扰信号的特性；和

基于包含所述初级脉冲检测窗口和所述干扰信号的所述特性的因素，偏移所述次级脉冲检测窗口。

16.如权利要求15所述的方法，其特征在于，在喷嘴处施加所述干扰信号，所述颗粒样品通过所述喷嘴，并且其中，所述喷嘴被安置在所述探询器之前。

17.如权利要求15所述的方法，其特征在于，所述特性包含所述干扰信号的相位，在所述干扰信号的相位期间，所述信号被施加于所述第一颗粒。

18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述干扰信号是正弦波。

19.如权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

(h)报告所述次级脉冲的所述峰值。

20.一种在颗粒分析器中为颗粒样品产生测量参数的方法，其特征在于，包括：

(a)利用分别沿着探询区域的长度安置的探询器来探询所述颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；

(b)基于对来自所述颗粒样品的第一颗粒的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；

(c)基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口；

(d)基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定次级脉冲检测窗口；

(e)检测施加于所述第一颗粒的干扰信号的特性；

(f)基于所述干扰信号的所述特性，偏移所述次级脉冲检测窗口；

(g)识别偏移的次级脉冲检测窗口中的所述次级脉冲；和

(h)处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的测量参数。

21.一种颗粒分析器，其特征在于，包括：

至少一个处理器；

颗粒探询器，被结合到所述至少一个处理器，并且被配置为：

利用分别沿着流动颗粒的长度安置的探询器来探询颗粒样品，所述探询器包含触发探询器和一个以上的次级探询器；和

基于来自所述颗粒样品的第一颗粒的所述探询，产生各个脉冲，其中，所述脉冲包含与所述触发探询器相对应的触发脉冲以及与所述次级探询器中的一个次级探询器相对应的次级脉冲；和

脉冲分析器，被结合到所述至少一个处理器，并且包括：

初级脉冲检测窗口生成器，配置为：

基于所述触发脉冲确定初级脉冲检测窗口；

次级脉冲检测窗口生成器，配置为：

基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素，确定搜索间隔以找到所述次级脉冲；

基于所述第一颗粒，对于激光延迟变化动态地调整所述搜索间隔；和

次级脉冲参数产生器，配置为：

识别所述调整的搜索间隔中的所述次级脉冲；和

处理所述次级脉冲以确定所述次级脉冲的峰值。

22.如权利要求21所述的颗粒分析器，其特征在于，进一步包括：

数据分析器，被结合到所述至少一个处理器，并且配置为从所述脉冲分析器接收参数；和

结合到所述至少一个处理器的显示器。

23.如权利要求21所述的颗粒分析器，其特征在于，所述搜索间隔包含次级脉冲检测窗口，所述次级脉冲检测窗口基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素被确定，并且其中，所述次级脉冲检测窗口生成器进一步被配置为：

识别所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口中的部分；和

扩展所述搜索间隔以包含所述次级脉冲在所述次级脉冲检测窗口之外的部分。

24.如权利要求21所述的颗粒分析器，其特征在于，所述搜索间隔包含次级脉冲检测窗口，所述次级脉冲检测窗口基于包含所述初级脉冲检测窗口和激光延迟的因素被确定，并且其中，所述次级脉冲检测窗口生成器进一步被配置为：

检测施加于所述第一颗粒的干扰信号的特性；和

基于包含所述初级脉冲检测窗口和所述干扰信号的所述特性的因素，偏移所述次级脉冲检测窗口。