CN102572170A - 原稿检测装置、图像形成装置以及原稿检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明的实施方式提供了一种原稿检测装置、图像形成装置以及原稿检测方法，该原稿检测装置包括：发光元件、光接收元件、发光控制部和检测处理部。发光元件，向原稿检测位置投射光。光接收元件，输出将来自原稿检测位置的光进行光电转换后得到的电信号。发光控制部，改变发光元件发射的光的光量。检测处理部，根据在发光元件的输出值中有无随着发光控制部控制的光量变化而产生的输出值的变化，而检测在原稿检测位置有无原稿。

Description

原稿检测装置、图像形成装置以及原稿检测方法

相关申请的交叉参考

本申请基于并要求于2010年10月14日提交的美国临时申请第61/393328号；第61/393330号；第61/393317号；第61/393320号；第61/393324号；第61/393325号；第61/393326号；第61/393331号；第61/393332号的优先权权益，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本说明书记载的实施方式涉及原稿检测装置、图像形成装置以及原稿检测方法。

背景技术

例如，有一种数字复合机，其扫描仪具有检测有无原稿和检测原稿尺寸的原稿检测装置。原稿检测装置基于反射型或透射型传感器产生的信号检测有无原稿。例如，反射型或透射型传感器向检测位置投射用于检测有无原稿的光，基于将接收的来自上述检测位置的光进行光电转换后得到的输出值，检测有无原稿。但是，如果传感器接收了除用于检测有无原稿而投射的光以外的干扰光，则检测有无原稿时可能产生错误。要求原稿检测装置能够通过辨别干扰光而高精度地检测有无原稿。

发明内容

通常根据实施方式，原稿检测装置包括：发光元件、光接收元件、发光控制部和检测处理部。发光元件向原稿检测位置投射光。光接收元件输出将来自原稿检测位置的光进行光电转换后得到的电信号。发光控制部改变由发光元件发射的光的光量。检测处理部，根据在发光元件的输出值中有无随着发光控制部控制的光量变化而产生的输出值的变化，检测在原稿检测位置有无原稿。

附图说明

图1是表示数字复合机的结构示例的简要图。

图2是表示扫描仪的结构示例的简要图。

图3是表示数字复合机控制系统的结构示例的框图。

图4是表示扫描仪中原稿检测传感器的配置示例的图。

图5是表示扫描仪中原稿检测传感器的配置示例的图。

图6是表示扫描仪中原稿检测传感器的另一个配置示例的图。

图7是表示数字复合机中原稿检测位置和原稿尺寸的关系的图。

图8A是表示关于第1原稿检测处理的投射光的光量的图。

图8B是表示接收了图8A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。

图9A是表示关于第2原稿检测处理的投射光的光量的图。

图9B是表示接收了图9A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。

图10A是表示关于第3原稿检测处理的投射光的光量的图。

图10B是表示接收了图10A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。

图11A是表示关于第4原稿检测处理的投射光的光量的图。

图11B是表示接收了图11A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。

图12A是表示关于第5原稿检测处理的投射光的光量的图。

图12B是表示关于第5原稿检测处理的放大器的增益的图。

图12C是表示接收了图12A所示光量的光的光接收元件的输出经过图12B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

图13A是表示关于第6原稿检测处理的投射光的光量的图。

图13B是表示关于第6原稿检测处理的放大器的增益的图。

图13C是表示接收了图13A所示光量的光的光接收元件的输出经过图13B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

图14A是表示关于第7原稿检测处理的投射光的光量的图。

图14B是表示关于第7原稿检测处理的放大器的增益的图。

图14C是表示接收了图14A所示光量的光的光接收元件的输出经过图14B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

图15A是表示关于第8原稿检测处理的投射光的光量的图。

图15B是表示关于第8原稿检测处理的放大器的增益的图。

图15C是表示接收了图15A所示光量的光的光接收元件的输出经过图15B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

图16A是表示关于第9原稿检测处理的投射光的光量的图。

图16B是表示关于第9原稿检测处理的放大器的增益的图。

图16C是表示接收了图16A所示光量的光的光接收元件的输出经过图16B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

图17A是表示关于第10原稿检测处理的投射光的光量的图。

图17B是表示关于第10原稿检测处理的放大器的增益的图。

图17C是表示接收了图17A所示光量的光的光接收元件的输出经过图17B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

图18A是表示关于第11原稿检测处理的投射光的光量的图。

图18B是表示关于第11原稿检测处理的放大器的增益的图。

图18C是表示接收了图18A所示光量的光的光接收元件的输出经过图18B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

图19A是表示关于第12原稿检测处理的投射光的光量的图。

图19B是表示关于第12原稿检测处理的放大器的增益的图。

图19C是表示接收了图19A所示光量的光的光接收元件的输出经过图19B所示增益的放大器放大后的输出值的图。

具体实施方式

以下，参照附图对实施例进行详细说明。

图1是表示具备了实施例所涉及的图像形成装置1的一个示例的数字复合机1(MFP：多功能外围设备)的结构示例图。图1所示数字复合机包括扫描仪2和打印机3。扫描仪2用作读取原稿表面图像的图像读取装置。扫描仪2将原稿表面上的图像转换成图像数据。打印机3在图像形成介质上打印图像。例如，数字复合机1通过，将经过扫描仪2读取的原稿表面上的图像由打印机3打印到图像形成介质上来实现复印功能。

扫描仪2读取设置于指定位置的原稿表面的图像。扫描仪2通过光学扫描原稿表面，将原稿M的图像作为图像数据读取。例如，在纸张上打印(复印)原稿表面的图像时，由扫描仪2读取的原稿表面的图像数据传送给打印机3。打印机3基于所提供的图像数据在用作图像形成介质的纸张上形成图像。打印机3向排纸托盘5输出形成了图像的纸张。

接着，对扫描仪2的结构进行说明。

图2是表示作为图像形成装置的数字复合机1所搭载的扫描仪2的结构示例的简要图。

图2所示结构示例中，扫描仪(图像读取装置)2具有设置作为读取对象的原稿的稿台玻璃9。稿台玻璃9上，以指定位置(例如左上)为基准设置原稿M。光源7向稿台玻璃9上设置的原稿M照射光。光源7例如由疝气灯构成。另外，反射器8将光源7的光进行反射后，照射到稿台玻璃9上设置的原稿M。

第1反射镜10、第2反射镜11和第3反射镜12将来自稿台玻璃9上的原稿M的反射光导向聚光透镜13。聚光透镜13将由第1反射镜10、第2反射镜11和第3反射镜12引导的光汇聚，并成像于CCD传感器14。CCD传感器14由将入射光转换成电信号的光电转换元件构成。

原稿放置台盖(稿台盖)15将设置于稿台玻璃9上的原稿M固定。稿台盖15具有可以开关的结构。开关16用于检测稿台盖15的开关状态。例如，开关16处于“开”的状态时，检测到稿台盖15处于关闭状态，开关16处于“关”的状态时，检测到稿台盖15处于打开状态。

另外，图2所示结构示例扫描仪2具有，用于检测稿台玻璃9上有无原稿以及原稿尺寸的原稿检测装置。原稿检测装置由用于检测有无原稿的多个APS传感器构成。检测原稿的传感器(APS传感器)由发光元件(以下也称为发光APS传感器)17和光接收元件(以下也称为光接收APS传感器)20构成。

APS传感器可以是透射型传感器也可以是反射型传感器。图2所示结构示例是表示透射型APS传感器的设置示例。图2所示结构示例中，发射用于检测原稿的光的发光APS传感器17分别配置于稿台盖15的位于稿台玻璃9一侧的表面上的指定的位置上，光接收APS传感器20配置于在稿台玻璃9下侧移动的第1滑动架19上。

第1滑动架19上搭载了光源7、驱动光源7的逆变器、反射器8、第1反射镜10以及光接收APS传感器20。另外，第2滑动架上搭载了第2反射镜11和第3反射镜12。第1滑动架19移动，通过稿台玻璃9使光源7发射的光照射在整个原稿表面上。第2滑动架21以第1滑动架19的速度的1/2的速度向与第1滑动架19相同方向移动。

第1滑动架19上搭载的光接收APS传感器20接收来自发光APS传感器17的光。光接收APS传感器20配置于第1滑动架19上位于稿台玻璃9的一侧(即，原稿表面一侧)。另外，光接收APS传感器20配置于原稿扫描方向(图像读取方向)上原稿扫描(读取)位置的前方一侧。光接收APS传感器20配置于比读取原稿M的图像靠前的(在读取图像的方向的前方一侧)，能够接收发光APS传感器17的光的位置上。

接着，对数字复合机1的控制系统的结构进行说明。

图3是表示数字复合机1的控制系统的结构示例的框图。

如图3所示，数字复合机1具有控制包括扫描仪2和打印机3在内整个系统的主控制部23。主控制部23与扫描仪2和打印机3相连接。

主控制部23具有系统控制部30和页存储器31。系统控制部30由处理器、存储器和各种接口构成。系统控制部30通过由处理器执行存储于存储器内的程序综合控制整个系统。例如，系统控制部30对扫描仪2和打印机3发出操作指示。另外，系统控制部30也可以进行以下控制：从扫描仪2获取作为读取图像的图像数据；向打印机3输出作为印刷用图像的图像数据。页存储器31通过系统控制部30的控制来存储图像数据。

另外，扫描仪2具有扫描仪控制部24。扫描仪控制部24包括处理器25、驱动部26以及图像处理部29。处理部25例如为CPU(Central ProcessingUnit：中央处理器)。处理器25通过执行存储在存储器内的程序来执行各种运算处理。图像处理部29处理由CCD传感器14输出的图像数据。

驱动部26包括：电机驱动器41，驱动各种驱动系列的电机32；发光控制部42，驱动发光APS传感器17；检测处理部43，处理来自光接收APS传感器20的检测信号；逆变器驱动器44，驱动逆变器28使光源7点亮，等等各种驱动器。另外，发光控制部42和检测处理部43用作APS传感器的驱动器。

另外，通过由处理器25控制电机驱动器41驱动电机32，以使得第1滑动架19以及第2滑动架21移动。读取原稿M的全部图像时，处理器25通过在放置于稿台玻璃9上的原稿M的下方移动第1滑动架19，对整个原稿表面进行光学扫描。第2滑动架21，通过以第1滑动架19的速度的1/2的速度向同一方向移动，使得从原稿表面到CCD传感器14的光程长度始终保持不变。待机状态时，第1滑动架19在位于副扫描方向上的扫描起点位置(原点：Home position)上待机。

检测设置于稿台玻璃9上的原稿时，扫描仪2的传感器25通过，由发光控制部42控制的配置于稿台盖15背面的发光APS传感器17来发射用于检测原稿的光。发光APS传感器17发射用于检测有无原稿的光之后，处理器25通过电机驱动器41使得第1滑动架19向副扫描方向移动。

发光控制部42控制由发光APS传感器17发射的光的光量。光接收APS传感器20对接收的光进行光电转换。光接收APS传感器20配置成可以接收由发光APS传感器17向检测位置发射的光。图2所示结构示例中，光接收APS传感器20搭载于第1滑动架19上。光接收APS传感器20将接收的光进行光电转换后得到的电信号输出到驱动部26中的检测处理部43。

检测处理部43通过解析来自光接收APS传感器20的各种输出信号，来检测稿台玻璃9上的各个检测位置上有无原稿。例如，检测处理部43由放大器43a、处理电路43b、以及计时器43c等构成。处理电路43b由例如包含比较器等的电路构成。检测处理部43向处理器25输出表示各检测位置上有无原稿的信号。另外，在后面详细说明关于使用检测处理部43的原稿检测处理的例子。

处理器25基于来自检测处理部43的表示各个检测位置上有无原稿的信号，检测放置于稿台玻璃9上的原稿M的尺寸。检测处理部43也可以直接向处理器25输出来自各个光接收APS传感器20的输出信号。这种情况下，处理器25只要能够判定有无原稿即可。另外，检测处理部43由放大器43a构成，也可以将来自各光接收APS传感器20的输出信号放大后再由处理器25处理。这种情况下，处理器25只要能够判定考虑由检测处理部43放大率后有无原稿即可。

另外，读取放置于稿台玻璃9上的原稿表面的图像时，处理器25通过由逆变器驱动器44驱动控制逆变器28以使得配置在第1滑动架19上的光源7发光。光源7发出的光直接或经由反射器8反射之后，照射在稿台玻璃9上的原稿表面上。由原稿表面反射的光经由第1反射镜10、第2反射镜11和第3反射镜12，由聚光透镜13聚光，在CCD传感器14上成像。CCD传感器14的输出(图像输出)，输入到图像处理部29。

图像处理部29通过A/D转换以及黑点校正等信号处理对CCD传感器14输出的图像数据进行处理。系统控制部30将由图像处理部29施行信号处理之后的图像数据储存在页存储器31中。例如，根据需要，系统控制部30将储存在页存储器31中的图像数据输出到打印机3。另外，系统控制部30也可以将页存储器31中储存的图像数据输出到外部设备。

打印机3具有打印控制部33和图像形成部34。打印控制部33按照主控制部23的系统控制部30的指示，控制图像形成部34进行图像形成处理。图像形成部34是在图像形成介质上形成图像的打印机。图像形成装置34可以是任何方式的打印机。例如，图像形成装置34可以是电子照相式打印机，也可以是喷墨式打印机，也可以是热转印式打印机。

接着，对构成原稿检测装置的传感器(APS传感器)的结构示例进行说明。

构成原稿检测装置的APS传感器可以是透射型传感器，也可以是反射型传感器。在此，如图2所示，假定APS传感器是由发光元件(以下也称为发光APS传感器)17和光接收元件(以下也称为光接收APS传感器)20构成的透射型传感器进行说明。另外，APS传感器是由反射型传感器构成的情况中，只要和以下说明同样，其结构能够检测在各检测位置上有无原稿即可。

图2所示结构示例中，发光APS传感器17分别配置在稿台盖15靠近稿台玻璃9一侧的表面(以下也称为稿台盖的背面)上的多个指定位置上。在稿台盖15关闭的状态下，发光APS传感器17设置为，能够对稿台玻璃9表面垂直照射用于检测原稿的光。

另外，图2所示结构示例中，光接收APS传感器20设置于在稿台玻璃9下方朝副扫描方向移动的第1滑动架19上。光接收APS传感器20设置于第1滑动架19上，以使得通过由发光APS传感器17的光照射的检测位置。为了检测稿台玻璃9上的原稿，光接收APS传感器20接收由发光APS传感器17发射的光，并输出表示接收的光量的电信号。

图4是表示稿台盖15背面上发光APS传感器17(17A～17E、35)的第1配置例的图。图5是表示第1滑动架19上搭载的光接收APS传感器20(20A～20D)的位置的图。

在此，图4是表示稿台盖15的背面的图。图4中，稿台盖15的右侧表示扫描仪2的右侧，稿台盖15的下侧表示扫描仪2的后侧，稿台盖15的上侧表示扫描仪2的前侧。图4中副扫描方向是从左向右的方向。图4中主扫描方向是从下向上的方向。并且，稿台玻璃9上放置原稿的基准位置O位于图4所示稿台盖15的左下侧。

另外，图5是表示从稿台玻璃9上方俯视的第1滑动架19的图。图5中，第1滑动架19的右侧表示扫描仪2的右侧，第1滑动架19的下侧表示扫描仪2的前侧，第1滑动架19的上侧表示扫描仪2的后侧。图5中副扫描方向是从左向右的方向。图5中主扫描方向是从上向下的方向。并且，图5中稿台玻璃9上放置原稿的基准位置O位于稿台玻璃9的左上侧。

图4和图5所示H1～H4表示主扫描方向(图4和图5的上下方向)的位置。另外，图4所示V1～V4和图5所示VX表示副扫描方向(图4和图5的左右方向)的位置。以下的说明中，V1～V4和H1～H4的交点用VnHm(n和m是1、2、3、4中任一值)表示，VX(X为变量)和H1～H4的交点用VXHn(n是1、2、3、4中任一值)表示。

如图4所示，稿台盖15的背面上设置有发光APS传感器17A～17E，作为用于检测放置于稿台玻璃9上的原稿尺寸的APS传感器。发光APS传感器17A～17E分别配置于V2H1、V2H2、V2H3、V2H4和V3H1上。并且，稿台盖15的背面还设置了发光APS传感器35，用于检测稿台玻璃9上有无原稿。发光APS传感器35配置于V1H1的位置。

另外，数字复合机1中，发光APS传感器17和发光APS传感器35，与光接收APS传感器20成对配置，构成透射型传感器(APS传感器)。例如，图4所示发光APS传感器35和图5所示VXH1的光接收元件20A，其功能是作为用于检测图4所示V1H1位置上有无原稿的APS传感器。另外，第1滑动架19位于待机位置(原点)时，光接收APS传感器20A如果配置在与发光APS传感器35相对的位置上(即，如果将原点的VX设定为V1)，则能够立刻检测出稿台玻璃9上是否放置了原稿。

另外，图4所示发光APS传感器17A和图5所示VXH1的光接收元件20A，用作检测V2H1位置上有无原稿的APS传感器。图4所示发光APS传感器17B和图5所示VXH2的光接收元件20B，用作检测V2H2位置上有无原稿的APS传感器。图4所示发光APS传感器17C和图5所示VXH3的光接收元件20C，用作检测V2H3位置上有无原稿的APS传感器。图4所示发光APS传感器17D和图5所示VXH4的光接收元件20D，用作检测V2H4位置上有无原稿的APS传感器。图4所示发光APS传感器17E和图5所示VXH1的光接收元件20A，用作检测V3H1位置上有无原稿的APS传感器。

另外，图6是表示稿台盖15背面上发光APS传感器17(17A′～17E′)的第2配置例的图。与图6所示第2配置例的发光APS传感器17相对的光接收APS传感器20优选为如图5所示搭载于第1滑动架上的光接收APS传感器。即，原稿检测装置可以通过由图6所示的发光APS传感器和图5所示的光接收APS传感器构成的APS传感器来得以实现。

图6所示的第2配置例中，发光APS传感器17A～17E分别配置于V1H1、V1H2、V1H3、V1H4和V3H1上。图6所示的第2配置例与图4所示的第1配置例的区别在于：省略了仅仅用于检测有无原稿的发光APS传感器，改变了除发光APS传感器17E以外的各发光APS传感器在副扫描方向上的配置位置。

另外，第1滑动架19位于待机位置(原点)时，光接收APS传感器20A～20D如果配置在能够与发光APS传感器17A～17D相对的位置上(即，将原点时的VX设定为V1)，则即使扫描仪2处于待机状态，光接收APS传感器20也能够检测出稿台玻璃9上是否放置了原稿。图6所示V1H1、V1H2、V1H3和V1H4的各发光APS传感器17以及图5所示VXH1、VXH2、VXH3和VXH4的各光接收APS传感器20是用于检测出以基准位置O为基准放置于稿台玻璃9上的原稿M的横向长度(主扫描方向的长度)的APS传感器。

另外，由发光APS传感器17、35和光接收APS传感器20构成的APS传感器是透射型传感器。透射型传感器即使在对作为读取对象的原稿M为高浓度时进行检测也很少产生错误。为此，由上述APS传感器构成的原稿检测装置，能够确切地检测出有无原稿M，能够实现不考虑原稿的种类而确切地检测出原稿的尺寸。

另外，构成原稿检测装置的APS传感器也可以是反射型传感器。例如，反射型APS传感器是通过一体形成发光元件和光接收元件而构成的。即使是这种反射型APS传感器，也可以采用APS传感器的驱动器，通过发光控制部42能够控制由发光元件向检测位置投射的用于检测原稿的光的光量，通过检测处理部43能够处理光接收元件将接收的光进行光电转换后得到的电信号。反射型APS传感器易于安装在装置内部，安装位置自由度高。反射型APS传感器例如，可以搭载在第1滑动架19上，也可以安装在第1滑动架19下方的固定位置上，还可以安装在稿台盖15的背面侧。

图7是表示原稿检测位置和原稿尺寸关系的图。图7所示例子中，作为检测对象的原稿的尺寸采用AB系列的尺寸。另外，图7所示例子中，第1～第5的检测位置是指，光接收APS传感器20接收从发光APS传感器17发射的光的光接收位置。

例如，发光APS传感器是图4所示第1配置例的情况时，第1检测位置RP1表示发光APS传感器17A发射的光被光接收APS传感器20A接收时的光接收位置。另外，发光APS传感器是图6所示第2配置例的情况时，第1检测位置表示发光APS传感器17A′发射的光被光接收APS传感器20A接收时的光接收位置。发光APS传感器如图4所示第1配置例时，第2、第3、第4、第5检测位置RP2、RP3、RP4、RP5分别表示发光APS传感器17B、17C、17D、17E发射的光被光接收APS传感器20B、20C、20D、20A接收时的光接收位置。发光APS传感器如图6所示第2配置例时，第2、第3、第4、第5检测位置RP2、RP3、RP4、RP5分别表示发光APS传感器17B′、17C′、17D′、17E′发射的光被光接收APS传感器20B、20C、20D、20A接收时的光接收位置。

第1～第5检测位置与放置于稿台玻璃9上的原稿的尺寸之间具有如图7所示的关系。基于上述关系，处理器25通过由APS传感器检测的第1～第5各检测位置上有无原稿的检测结果来检测以基准位置O为基准放置于稿台玻璃9上的原稿的尺寸。即，处理器25的功能也可以是作为尺寸检测部，利用由APS传感器的检测结果来检测放置于稿台玻璃9上的原稿尺寸。

接着，对通过APS传感器进行原稿检测处理进行说明。

另外，以下的说明中，APS传感器不仅是如图2至图5所示的透射型传感器，也可以假定为反射型传感器。

首先，对第1原稿检测处理进行说明。

图8A和图8B是用于说明第1原稿检测处理的图。图8A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图8B是表示接收了图8A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。第1原稿检测处理中，发光控制部42使得投射到原稿检测位置的投射光(APS传感器的发光元件发出的光)的光量阶段性增加。

图8A所示例中，发光控制部42将从开始发光(时间t0)到时间t1期间，投射到检测位置的投射光的光量控制为P/2。当时间到达t1时，发光控制部42将投射光的光量从P/2变为P。从经过时间t1开始到发光结束(时间t2)期间，发光控制部42将投射光的光量控制为P。

接收如图8A所示阶段性增加光量的光的APS传感器的光接收元件，如图8B所示，随着阶段性增加的光量的变化输出阶段性增加的输出值。即，图8B所示例中，在向原稿检测位置投射的投射光的光量为P/2的t0到t1期间，光接收元件的输出值为V/2。另外，图8B所示例中，在向原稿检测位置投射的投射光的光量为P的t1到t2期间，光接收元件的输出值为V。

当检测位置上不存在原稿时，如图2至图5所示透射型APS传感器，使得光接收APS传感器20直接接收由发光APS传感器17投射的投射光。从而，当检测位置上不存在原稿时，随着阶段性增加的投射光的光量透射型APS传感器输出阶段性增加的输出值。另外，当检测位置上存在原稿时，反射型APS传感器接收由原稿表面反射的投射光。从而，当检测位置上存在原稿时，随着阶段性增加的光量反射型APS传感器输出阶段性增加的输出值。

除用于检测有无原稿的投射光以外的干扰光包括：室内灯光或外光等由周围环境入射的光。这种干扰光被假定为以一定的光量，随时入射到APS传感器的光接收元件。为此，可以认为干扰光的光量不具有如图8A所示的阶段性的变化。从而，检测处理部43通过检测出APS传感器的光接收元件输出的输出值中随着阶段性的光量的变化而产生的变化，来排除干扰光。

即，第1原稿检测处理中，检测处理部43具有如下结构：通过检测出随着阶段性增加的光量的变化而产生的输出值的变化，从而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。例如，实现第1原稿检测处理的检测处理部43，可以通过以下结构例来实现。

作为实现第1原稿检测处理的结构例，检测处理部43的结构为用于检测出，从t0到t1期间的输出值与从t1到t2期间的输出值的差分值是否在规定的阈值以上。这种结构例的检测处理部43，输出从t0到t1期间的输出值与从t1到t2期间的输出值的差分值，可以通过将有无原稿作为信号输出的处理电路43b来实现表示该差分值是否在规定的阈值以上的信号。另外，第1原稿检测处理中可以省略放大器43a，也可以设定一定的放大率。

这种结构的检测处理部43，APS传感器如果是透射型传感器，当上述差分值在规定的阈值以上时，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。APS传感器如果是反射型传感器，当上述差分值在规定的阈值以上时，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。

另外，作为实现第1原稿检测处理的其他结构例，检测处理部43的结构也可以设置为，将从t0到t1期间的输出值与第1阈值进行比较的同时，将从t1到t2期间的输出值与第2阈值进行比较。这种结构例的检测处理部43，可以通过将表示从t0到t1期间的输出值是否在第1阈值以上且从t1到t2期间的输出值是否在第2阈值以上的信号，作为表示有无原稿的信号而输出的处理电路43b来实现。

这种结构的检测处理部43，APS传感器如果是透射型传感器，当从t0到t1期间的输出值在第1阈值以上且从t1到t2期间的输出值在第2阈值以上时，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。APS传感器如果是反射型传感器，当从t0到t1期间的输出值在第1阈值以上且从t1到t2期间的输出值在第2阈值以上时，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。

接着，对第2原稿检测处理进行说明。

图9A和图9B是用于说明第2原稿检测处理的图。图9A是表示投射到检测位置的用于检测原稿的投射光的光量的图。图9B是表示接收了图9A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。第2原稿检测处理中，发光控制部42使投射到原稿检测位置的投射光(APS传感器的发光元件发出的光)的光量阶段性减少。

图9A所示例中，发光控制部42将从开始发光(时间t0)到时间t1期间，投射到检测位置的投射光的光量控制为P。当经过时间t1后(时间到达t1时)，发光控制部42将投射光的光量从P变为P/2。从时间t1开始到发光结束(时间t2)期间，发光控制部42将投射光的光量控制为P/2。

接收了阶段性减少的光量的光接收元件，随着光量的变化输出阶段性减少的输出值。如图9B所示，接收了如图9A所示阶段性减少光量的光时，APS传感器的光接收元件，在向原稿检测位置投射的投射光的光量为P的t0到t1期间内输出值为V，在向原稿检测位置投射的投射光的光量为P/2的t1到t2的期间内输出值为V/2。

当检测位置上不存在原稿时，如图2至图5所示的透射型APS传感器，使光接收APS传感器20直接接收由发光APS传感器17投射的投射光。从而，当检测位置上不存在原稿时，随着阶段性减少的投射光的光量，透射型APS传感器输出阶段性减少的输出值。另外，当检测位置上存在原稿时，反射型APS传感器接收由原稿表面反射的投射光。从而，当检测位置上存在原稿时，随着阶段性减少的投射光的光量反射型APS传感器输出阶段性减少的输出值。

另外，像上述第1原稿检测处理中所说明的那样，干扰光的光量不会如图9A所示阶段性减少。从而，检测处理部43通过检测出APS传感器将从检测位置接收的光进行光电转换后输出的输出值中随着阶段性的光量的变化而产生的变化来排除干扰光。即，第2原稿检测处理中，检测处理部43通过检测出随着阶段性减少的光量的变化而产生的输出值的变化，输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。

实现第2原稿检测处理的检测处理部43通过检测出随着阶段性减少的光量的变化而产生的输出值的变化，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。例如，通过在与上述实现第1原稿检测处理的检测处理部具有相同结构的处理电路上，设定用于检测随着阶段性减少的光量的变化而产生的输出值的变化的阈值，可以得到实现第2原稿检测处理的检测处理部43。

根据上述第1和第2原稿检测处理，通过检测出，阶段性改变向原稿检测位置投射的投射光的光量，将从检测位置接收的光进行光电转换后输出的输出值中随着投射光光量的变化而产生的变化，检测有无原稿。据此，可以排除由用于检测原稿的投射光以外的干扰光输出，能够实现高精度的原稿检测。另外，第1和第2原稿检测处理，由于只要检测出随着阶段性的光量变化而产生的阶段性的输出值的变化即可，可以用比较器等简单的电路结构来实现用于处理光接收元件的输出的处理电路。

接着，对第3原稿检测处理进行说明。

图10A和图10B是用于说明第3原稿检测处理的图。图10A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图10B是表示接收了图10A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。如图10A所示第3原稿检测处理中，发光控制部42使得投射到原稿检测位置的投射光(APS传感器的发光元件发出的光)的光量以一定的比例连续增加。

图10A所示例中，发光控制部42将从开始发光(时间t0)到时间t2期间，投射到检测位置的投射光的光量从P/2开始到P为止以一定的比例(一次函数)连续增加。接收了连续增加的光量的APS传感器的光接收元件，随着光量的变化输出连续增加的输出值。即，图10B所示例中，在向原稿检测位置投射的投射光的光量为P/2的时间t0处，光接收元件的输出值变为V/2，在向检测位置投射的投射光的光量从P/2增加到P的时间t0到时间t2期间，光接收元件的输出值按照一次函数的关系从V/2增加到V。

当检测位置上不存在原稿时，如图2至图5所示的透射型APS传感器，使光接收APS传感器20直接接收由发光APS传感器17投射的投射光。从而，当检测位置上不存在原稿时，随着连续增加的投射光的光量透射型APS传感器输出连续增加的输出值。另外，当检测位置上存在原稿时，反射型APS传感器接收由原稿表面反射的投射光。为此，当检测位置上存在原稿时，随着连续增加的光量反射型APS传感器输出连续增加的输出值。

如上所述，干扰光以一定的光量被接收，或光量随时发生变化。因而，干扰光的光量不具有如图10A所示的连续增加的变化。从而，第3原稿检测处理的检测处理部43，通过检测出APS传感器的光接收元件输出的输出值中随着连续增加的光量的变化而产生的变化，排除干扰光。

即，第3原稿检测处理中，检测处理部43通过检测出随着连续增加的光量的变化而产生的输出值的变化，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。例如，实现第3原稿检测处理的检测处理部43，可以通过以下结构例来实现。

作为实现第3原稿检测处理的结构例，检测处理部43进行：从t0到t2期间抽取多个时间点的输出值，检测出抽样的多个输出值之间的差分值是否在随着光量随着时间的变化而设定的阈值以上。上述检测处理部43可以通过，计算出在计时器43c计时的多个时间点抽样的多个输出值的差分值，将表示该差分值是否在相应于光量随着时间的变化而规定的阈值以上的信号作为表示有无原稿的信号而输出的处理电路43b来实现。

这种结构的检测处理部43，如果APS传感器是透射型传感器，则当上述差分值在相应于光量随着时间的变化而规定的阈值以上时，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。另外，如果APS传感器是反射型传感器，则当上述差分值在相应于光量随着时间的变化而规定的阈值以上时，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。另外，第3原稿检测处理中，检测处理部43的放大器43a可以省略，也可以设定一定的放大率。

另外，作为实现第3原稿检测处理的其他结构例，检测处理部43的结构也可以设置为进行：在从t0到t2期间抽取多个时间点的多个输出值，检测出取样后的各输出值是否在相应于取样的各时间点而设定的阈值以上。这种检测处理部43，可以通过将表示取样的全部输出值是否在相应于各自的取样时间点而设定的阈值以上的信号作为表示有无原稿的信号而输出的处理电路43b来实现。

这种结构的检测处理部43，如果APS传感器是透射型传感器，则当全部输出值在相应于各自的取样时间点而设定的阈值以上时，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。另外，如果APS传感器是反射型传感器，则当全部输出值在相应于各自的取样时间点而设定的阈值以上时，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。

接着，对第4原稿检测处理进行说明。

图11A和图11B是用于说明第4原稿检测处理的图。图11A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图11B是表示接收了图11A所示光量的光的光接收元件的输出值的图。如图11A所示第4原稿检测处理中，发光控制部42使得投射到原稿检测位置的投射光的光量以一定的比例连续减少(变化)。如图11A所示，接收了连续减少的光量的光接收元件，如图11B所示，随着连续减少的光量的变化输出连续减少的输出值。

图11A所示例中，发光控制部42将从开始发光(时间t0)到时间t2期间，投射到检测位置的投射光的光量从P开始到P/2为止以一定的比例(一次函数)连续变化。图11B所示例中，在向原稿检测位置投射的投射光的光量为P的时间t0处，APS传感器的光接收元件(光接收APS传感器20)的输出值为V。另外，图11B所示例中，从t0到t2期间内，APS传感器的光接收元件的输出值随着透射光的光量的减少，按照一次函数的关系从V变化到V/2。

从而，当检测位置上不存在原稿时，随着连续减少的投射光的光量透射型APS传感器输出连续减少的输出值。另外，当检测位置上存在原稿时，随着连续减少的光量反射型APS传感器输出连续减少的输出值。

如上所述，干扰光以一定的光量被接收，或光量随时发生变化。因而，干扰光的光量不具有如图11A所示的连续减少的变化。从而，第4原稿检测处理的检测处理部43，通过检测出APS传感器的光接收元件输出的输出值中随着连续减少的光量的变化而产生的变化，排除干扰光。

第4原稿检测处理中，检测处理部43构成为进行：通过检测出随着连续减少的光量的变化而产生的输出值的变化，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。实现第4原稿检测处理的检测处理部43进行：通过检测出随着连续减少的光量的变化而产生的输出值的变化，从而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。通过在与上述第3原稿检测处理具有相同结构的检测处理部上，设定用于检测出随着连续减少的光量的变化而产生的输出值的变化的阈值，可以得到实现第4原稿检测处理的检测处理部43。

如上所述，第3和第4原稿检测处理中，发光控制部通过APS传感器的发光元件连续改变向原稿检测位置投射的用于检测原稿的投射光的光量，检测处理部通过检测出，将从原稿检测位置接收的光进行光电转换后由APS传感器的光接收元件输出的输出值中随着投射光光量的变化而产生的变化，输出表示有无原稿的信号。根据上述第3和第4原稿检测处理，能够实现排除了用于检测原稿的投射光以外的干扰光的输出值的具有高精度的原稿检测。

接着，对第5原稿检测处理进行说明。

图12A、图12B和图12C是用于说明第5原稿检测处理的图。图12A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图12B是表示将接收了图12A所示光量的光的光接收元件的输出值放大的放大器的增益的图。图12C是表示将接受了图12A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图12B所示增益的放大器放大后的输出值的图。即，接收了图12A所示光量的光的光接收元件的输出值，通过设定为图12B所示增益的放大器之后，变成如图12C所示固定值的输出值。

第5原稿检测处理中，如图12A和图12B所示，阶段性增加向检测位置投射的投射光的光量，并且，随着光量阶段性的增加而减少输出信号的放大率。图12B所示增益是能够抵消随着图12A所示光量的增加而增加的输出值的增加部分的放大率。

图12A所示例中，发光控制部42在从时间t0到时间t1期间，投射到检测位置的投射光的光量控制为P/2。当时间到达t1时，发光控制部42将投射光的光量从P/2变为P。从时间t1开始到发光结束时间t2期间，发光控制部42将投射光的光量控制为P。在投射光的光量设定为P/2的从时间t0到时间t1期间，放大器43a将增益设定为G。投射光的光量从P/2变为P时(时间t1处)，放大器43a将增益从G变为G/2。在投射光的光量设定为P的时间t1到时间t2期间，放大器43a将增益设定为G/2。

发光控制部42阶段性增加投射到原稿检测位置的投射光的光量。检测处理部43的放大器43a，随着由发光控制部42产生的投射光的光量的变化而改变增益。放大器43a只要是能够，与发光控制部42控制的光量变化同步改变增益的设备即可。例如，处理器25可为能够使得发光控制部42控制发光元件发射的投射光的光量以及放大器43a的增益。这种情况下，处理器25只要能够同步执行增加投射光光量的控制和随着输出信号而减小放大率的控制即可。另外，发光控制部42也可以同步控制光量的变化和放大器43a的增益。

图12C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P/2的时间t0到时间t1期间放大器43a的增益为G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。另外，图12C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P的时间t1到时间t2期间放大器43a的增益为G/2，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。即，图12C所示例中，从t0到t2期间，接收了图12A所示光的光接收元件的输出经放大后的输出值，总是保持为固定值(V/2)。

如果改变使光接收元件的输出放大的增益，以一定的光量入射到光接收元件的干扰光的成分的输出值，随着增益的变化而变化。另外，也可以由随时入射到光接收元件的干扰光，其输出值产生变动。即，干扰光的成分，不能作为固定值的输出值出现。从而，第5原稿检测处理中，通过在光接收元件的输出经放大后的输出值中检测出指定的固定值，可以排除干扰光。例如，随着增益而产生的输出值的变化部分，可以作为干扰光的成分被排除。

第5原稿检测处理中，检测处理部43的处理电路43b执行：通过检测出经过阶段性增加的光量的变化和阶段性减少的放大器43a的增益而变成固定值的输出值，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。例如，实现第5原稿检测处理的检测处理部43，可以通过如下结构例来实现。

作为实现第5原稿检测处理的结构例，检测处理部43执行：检测出，从t0到t1期间经放大器43a放大后的输出值与从t1到t2期间经放大器43a放大后的输出值的差分值是否在规定的阈值以下。这种结构例的检测处理部43可以通过，输出从t0到t1期间放大器43a的输出值与从t1到t2期间放大器43a的输出值的差分值，将表示该差分值是否在规定的阈值以下的信号作为表示有无原稿的信号而输出的处理电路43b来实现。

这种结构的检测处理部43，如果APS传感器是透射型传感器，则当上述差分值在规定的阈值以下时(放大后的输出值在阈值范围内为固定值的情况)，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。如果APS传感器是反射型传感器，当上述差分值未达到规定的阈值时(放大后的输出值在阈值范围内为固定值的情况)，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。

另外，作为实现第5原稿检测处理的其他结构例，检测处理部43的结构也可以设置为，将从t0到t1期间的输出值与阈值进行比较的同时，将从t1到t2期间的输出值与该阈值进行比较。这种结构例的检测处理部43，可以通过将，表示从t0到t1期间的输出值是否在阈值以上，并且从t1到t2期间的输出值是否也在该阈值以上的信号作为表示有无原稿的信号而输出的处理电路43b来实现。

这种其他结构例的检测处理部43，如果APS传感器是透射型传感器，则当从t0到t1期间的输出值在阈值以上，并且从t1到t2期间的输出值在阈值以上时，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。如果APS传感器是反射型传感器，则当从t0到t1期间的输出值在阈值以上，并且从t1到t2期间的输出值也在阈值以上时，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。

接着，对第6原稿检测处理进行说明。

图13A、图13B和图13C是用于说明第6原稿检测处理的图。图13A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图13B是表示将接收了图13A所示光量的光的光接收元件的输出值进行放大的放大器的增益的图。图13C是表示将接受了图13A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图13B所示增益的放大器放大后的输出值的图。即，接收了图13A所示光量的光的光接收元件的输出值，通过设定为图13B所示增益的放大器之后，变成如图13C所示固定值的输出值。

第6原稿检测处理中，如图13A和图13B所示，阶段性减少向原稿检测位置投射的投射光的光量，并且，随着光量阶段性的减少而增大输出信号的放大率。图13B所示增益是能够抵消随着图13A所示光量的减少而变小的输出值的减少部分的放大率。

图13A所示示例中，发光控制部42将从开始发光时间t0到时间t1期间，投射到检测位置的投射光的光量控制为P。当时间到达t1时，发光控制部42将投射光的光量从P变为P/2。从时间t1开始到发光结束时间t2期间，发光控制部42将投射光的光量控制为P/2。与此对应，在投射光的光量设定为P的时间t0到时间t1期间，放大器43a将增益设定为G/2。投射光的光量从P变为P/2时(时间t1处)，放大器43a将增益从G/2变为G。在投射光的光量设定为P的时间t1到时间t2期间，放大器43a将增益设定为G。

发光控制部42阶段性减少投射到原稿检测位置的投射光的光量。检测处理部43的放大器43a，随着由发光控制部42产生的投射光的光量的减少而增大增益。放大器43a只需与发光控制部42控制的光量变化同步改变增益的放大器即可。例如，处理器25可为能够使得发光控制部42控制发光元件发射的投射光的光量以及放大器43a的增益。这种情况下，处理器25如果能够同步执行减少投射光的光量的控制和随着输出信号而增大放大率的控制即可。另外，发光控制部42也可以同步控制光量的变化和放大器43a的增益。

图13C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P的时间t0到时间t1期间放大器43a的增益为G/2，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。另外，图13C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P/2的时间t1到时间t2期间放大器43a的增益为G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。即，图13C所示例中，从t0到t2期间，接收了图13A所示光量的光的光接收元件的输出经放大后的输出值，总是保持为固定值(V/2)。

如果改变使光接收元件的输出放大的增益，则以一定的光量入射到光接收元件的干扰光的成分的输出值随着增益的变化而变化。另外，也可由随时入射到光接收元件的干扰光，其输出值产生变动。即，干扰光的成分，不能作为固定值的输出值出现。从而，第6原稿检测处理中，通过在光接收元件的输出经放大后的输出值中检测出指定的固定值，可以排除干扰光。例如，随着增益而产生的输出值的变化部分，可以作为干扰光的成分被排除。

第6原稿检测处理中，检测处理部43执行：通过检测出随着阶段性减少的光量的变化而产生的输出值的变化，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。实现第6原稿检测处理的检测处理部43执行：通过检测出随着阶段性减少的光量的变化而产生的输出值的变化，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。例如，通过在与上述第5原稿检测处理具有相同结构的检测处理部上，设定用于检测出随着阶段性减少的光量的变化而产生的输出值的变化的阈值，可以得到实现第6原稿检测处理的检测处理部43。

如上所述，第5和第6原稿检测处理中，发光控制部通过APS传感器的发光元件阶段性改变向原稿检测位置投射的用于检测原稿的投射光的光量，检测处理部通过检测出，阶段性地改变放大器的增益从而抵消随着投射光光量的变化而产生的输出值的变化，使APS传感器的光接收元件的输出经过放大器放大后的输出值变为固定值，继而输出表示有无原稿的信号。根据上述第5和第6原稿检测处理，能够实现排除了用于检测原稿的投射光以外的干扰光的输出值的具有高精度的原稿检测。

接着，对第7原稿检测处理进行说明。

图14A、图14B和图14C是用于说明第7原稿检测处理的图。图14A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图14B是表示将接收了图14A所示光量的光的光接收元件的输出值进行放大的放大器的增益的图。图14C是表示将接受了图14A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图14B所示增益的放大器放大后的输出值的图。即，接收了图14A所示光量的光的光接收元件输的出值，通过设定为图14B所示增益的放大器之后，变成如图14C所示固定值的输出值。

第7原稿检测处理中，如图14A和图14B所示，以一定的比例连续增加向检测位置投射的投射光的光量，并且，随着光量的连续增加而减小输出信号的放大率。图14B所示增益是能够抵消，随着图14A所示光量的增加而变大的输出值的增加部分的变化的放大率。

图14A所示例中，发光控制部42从开始发光时间t0到时间t2期间，使投射到检测位置的投射光的光量从P/2到P以一定的比例连续(按一次函数)变化。随着由发光控制部42控制的光量的变化，如图14B所示，放大器43a在时间t0到时间t2期间使增益从G变为G/2。图14C所示例中，增益G使对应于光量P/2的输出值变为V/2，增益G/2使对应于光量P的输出值变为V/2。即，图14C所示例中，在投射到原稿检测位置的投射光的光量从P/2到P以一定比例变化的期间内(t0到t2期间)，由于放大器43a的增益从G到G/2以一定比例变化，因而光接收元件的输出经放大后的输出值总是保持为固定值(V/2)。

另外，放大器43a只要是能随着发光控制部42控制的光量的变化而改变增益的设备即可。例如，处理器25可为能够使得发光控制部42控制发光元件发射的投射光的光量以及放大器43a的增益即可。这种情况下，处理器25如果能够同步执行以一定的比例增加投射光的光量的控制和随着输出信号而以一定的比例减小放大率的控制即可。另外，发光控制部42也可以同步控制光量的变化和放大器43a的增益。

如果改变使光接收元件的输出放大的增益，则以一定的光量入射到光接收元件的干扰光的成分的输出值将随着增益的变化而变化。另外，也可以通过随时入射到光接收元件的干扰光，使其输出值产生变动。即，干扰光的成分，不能作为固定值的输出值出现。从而，第7原稿检测处理中，通过在光接收元件的输出经放大后的输出值中检测出指定的固定值，可以排除干扰光。例如，随着增益而产生的输出值的变化部分，可以作为干扰光的成分被排除。

第7原稿检测处理中，检测处理部43的处理电路43b执行：通过检测出经过连续增加的光量的变化和连续减小的放大器43a的增益而变成固定值的输出值，从而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。例如，实现第7原稿检测处理的检测处理部43，可以通过以下结构例来实现。

作为实现第7原稿检测处理的结构例，检测处理部43构成以执行：在从t0到t2期间的多个时间点抽取经过放大器43a放大的输出值，检测出抽样的各输出值之间的差分值是否在规定的阈值以下。这种结构例的检测处理部43可以通过，输出在从t0到t2期间的多个时间点抽样的放大器43a的多个输出值之间的差分值，将表示该差分值是否在规定的阈值以下的信号作为表示有无原稿的信号而输出的处理电路43b来实现。

上述差分值是表示输出值取样的两个时间点之间的输出值的变化。例如，如果上述差分值为0，则表示输出值变动为0。即，上述差分值在规定的阈值以下，则表示输出值的变动量在规定的范围内(阈值以下)。从而，为了能够容易地检测出从t0到t2期间随着增益的变化而产生的输出值的变化，计算差分值的两个输出值相隔较长间隔取样为好。

这种结构的检测处理部43，如果APS传感器是透射型传感器，则当上述差分值在规定的阈值以下时(放大后的输出值的变化在阈值的范围内时)，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。如果APS传感器是反射型传感器，则当上述差分值未达到所规定的阈值时(放大后的输出值的变化在阈值的范围内时)，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。

另外，作为实现第7原稿检测处理的其他结构例，检测处理部43的结构也可以设置为执行，从t0到t2期间在多个时间点对放大器43a的输出值取样，将取样的各输出值与一个阈值相比较。这种结构的检测处理部43，可以通过将有无原稿作为信号输出的处理电路43b来实现，表示在从t0到t2期间的多个时间点取样的多个输出值是否全部都在阈值以上的信号。

这种其他结构例的检测处理部43，如果APS传感器是透射型传感器，则当从t0到t2期间的多个输出值全部都在阈值以上时，输出表示在该APS传感器的检测位置上没有原稿的信号。如果APS传感器是反射型传感器，则当从t0到t2期间的多个输出值全部都在阈值以上时，检测处理部43输出表示在该APS传感器的检测位置上有原稿的信号。

接着，对第8原稿检测处理进行说明。

图15A、图15B和图15C是用于说明第8原稿检测处理的图。图15A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图15B是表示将接收了图15A所示光量的光的光接收元件的输出值进行放大的放大器的增益的图。图15C是表示将接受了图15A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图15B所示增益的放大器放大后的输出值的图。即，接收了图15A所示光量的光的光接收元件的输出值，通过设定为图15B所示增益的放大器之后，变成如图15C所示固定值的输出值。

第8原稿检测处理中，如图15A和图15B所示，以一定的比例连续减少向检测位置投射的投射光的光量，并且，随着光量的连续减少而增大输出信号的放大率。图15B所示增益为了抵消随着图15A所示光量的减少而变小的输出值的减少部分而使得放大输出值的放大率增大。

图15A所示例中，发光控制部42从开始发光时间t0到时间t2期间，使投射到检测位置的投射光的光量从P到P/2以一定的比例连续(按一次函数)变化。随着由发光控制部42控制的光量的变化，如图15B所示，放大器43a在时间t0到时间t2期间使增益从G/2变为G。图15C所示例中，增益G/2使对应于光量P的输出值变为V/2，增益G使对应于光量P/2的输出值变为V/2。即，图15C所示例中，在投射到原稿检测位置的投射光的光量从P到P/2以一定比例变化的期间内(t0到t2期间)，由于放大器43a的增益从G/2到G以一定比例变化，因而光接收元件的输出经放大后的输出值总是保持为固定值(V/2)。

另外，放大器43a只要是能随着发光控制部42控制的光量的变化而改变增益的设备即可。例如，处理器25可为使得发光控制部42控制发光元件发射的投射光的光量以及放大器43a的增益即可。这种情况下，处理器25如果能够同步执行以一定的比例减少投射光的光量的控制和随着输出信号而以一定的比例增大放大率的控制即可。另外，发光控制部42也可以同步控制光量的变化和放大器43a的增益。

如上所述，干扰光的成分不能作为固定值的输出值出现。从而，第8原稿检测处理中，也可以将随着增益而产生的输出值的变部化分等，作为干扰光的成分排除。即，与第7原稿检测处理同样，第8原稿检测处理也可以通过，在光接收元件的输出经放大后的输出值中检测出指定的固定值来排除干扰光。

第8原稿检测处理中，检测处理部43的处理电路43b具有的结构以执行：通过检测出经过连续减少的光量和连续增大的放大器43a的增益而变成固定值的输出值，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。例如，实现第8原稿检测处理的检测处理部43，可以通过与上述实现第7原稿检测处理的检测处理部相同的结构例来实现。

如上所述，第7和第8原稿检测处理中，发光控制部通过APS传感器的发光元件连续改变向原稿检测位置投射的用于检测原稿的投射光的光量，检测处理部通过检测出，连续改变放大器的增益从而抵消随着投射光光量的变化而产生的输出值的变化，使APS传感器光接收元件的输出经过放大器放大后的输出值变为固定值，而输出表示有无原稿的信号。根据上述第7和第8原稿检测处理，能够实现排除了用于检测原稿的投射光以外的干扰光的输出值的具有高精度的原稿检测。

接着，对第9原稿检测处理进行说明。

图16A、图16B和图16C是用于说明第9原稿检测处理的图。图16A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图16B是表示将接收了图16A所示光量的光的光接收元件的输出值进行放大的放大器的增益的图。图16C是表示将接受了图16A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图16B所示增益的放大器放大后的输出值的图。即，接收了图16A所示光量的光的光接收元件的输出值，通过设定为图16B所示增益的放大器之后，变成如图16C所示的输出值。

第9原稿检测处理中，如图16A和图16B所示，阶段性增加向检测位置投射的投射光的光量，并且，与阶段性增加光量同步也增大输出信号的放大率。图16B所示增益是，将随着图16A所示光量的增加而增大的输出值的增加部分进一步增大的放大率。

图16A所示例中，发光控制部42，在从时间t0到时间t1期间，将投射到检测位置的投射光的光量控制为P/2，在从时间t1开始到发光结束时间t2期间，将投射光的光量控制为P。放大器43a，在投射光的光量设定为P/2的时间t0到时间t1期间将增益设定为G，在投射光的光量设定为P的时间t1到时间t2期间将增益设定为2G。

图16C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P/2的时间t0到时间t1期间放大器43a的增益为G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。另外，图16C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P的时间t1到时间t2期间放大器43a的增益为2G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为2V。即，图16C所示例中，接收了图16A所示光的光接收元件的输出经放大后的输出值，在t0到t1期间变为V/2，在t1到t2期间变为2V(V/2的4倍)。

检测处理部43的放大器43a，随着由发光控制部42产生的投射光的光量的变化而改变增益。放大器43a只需为与发光控制部42控制的光量变化同步改变增益的设备即可。例如，处理器25可使得发光控制部42控制发光元件发射的投射光的光量以及放大器43a的增益。这种情况下，处理器25只需同步执行增加投射光光量的控制和随着输出信号而增大放大率的控制即可。另外，发光控制部42也可以同步控制光量的变化和放大器43a的增益。

如上所述，干扰光以一定的光量、随时入射到APS传感器的光接收元件中。因而，第9原稿检测处理的检测处理部43通过检测出，在APS传感器光接收元件的输出经放大后的输出值中，随着投射光光量的阶段性增加和放大器增益的阶段性增加而产生的变化，可以排除干扰光。

实现第9原稿检测处理的检测处理部43具有的结构以执行：通过检测出随着阶段性增加的光量和阶段性增大的放大器增益而阶段性增加的输出值的变化，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。由于实现第9原稿检测处理的检测处理部43能够检测出阶段性增加的输出值的变化，因而可以通过与实现第1原稿检测处理的检测处理部相同的结构来实现。

但是，第9原稿检测处理除了阶段性增加的投射光的光量以外，还可以处理阶段性增大增益的放大器的输出值。从而，实现第9原稿检测处理的检测处理部43的处理电路43b，必须检测出比第1原稿检测处理更大的输出值的变化。为此，实现第9原稿检测处理的检测处理部43的处理电路43b，设定有大变化量的、与阶段性增大的输出值的变化对应的阈值。

接着，对第10原稿检测处理进行说明。

图17A、图17B和图17C是用于说明第10原稿检测处理的图。图17A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图17B是表示将接收了图17A所示光量的光的光接收元件的输出值进行放大的放大器的增益的图。图17C是表示将接受了图17A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图17B所示增益的放大器放大后的输出值的图。即，接收了图17A所示光量的光的光接收元件的输出值，通过设定为图17B所示增益的放大器之后，变成如图17C所示的输出值。

第10原稿检测处理中，如图17A和图17B所示，阶段性减少向检测位置投射的投射光的光量，并且，与阶段性减少光量同步还减小输出信号的放大率。图17B所示增益是使得随着图17A所示光量的减少而减小的输出值进一步减小的放大率。图17A所示例中，发光控制部42，在从发光开始时间t0到时间t1期间，将投射到检测位置的投射光的光量控制为P，在从时间t1开始到发光结束时间t2期间，将投射光的光量控制为P/2。放大器43a，在投射光的光量设定为P的时间t0到时间t1期间将增益设定为2G，在投射光的光量设定为P/2的从时间t1到时间t2期间将增益设定为G。

图17C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P的时间t0到时间t1期间放大器43a的增益为2G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为2V。另外，图17C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P/2的时间t1到时间t2期间放大器43a的增益为G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。即，图17C所示例中，接收了图17A所示光的光接收元件的输出经过图17B所示增益的放大器放大后的输出值，在t0到t1期间变为2V，在t1到t2期间变为V/2(2V的1/4倍)。

与上述第9原稿检测处理的检测处理部相同，第10原稿检测处理的检测处理部43通过检测出，在APS传感器光接收元件的输出经放大后的输出值中，随着投射光光量的阶段性减少和放大器增益的阶段性减少而产生的变化，可以排除干扰光。实现第10原稿检测处理的检测处理部43具有如下结构：通过检测出，随着阶段性减少的光量和阶段性减小的放大器增益而阶段性减少的输出值的变化，从而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。

即，由于实现第10原稿检测处理的检测处理部43能够检测出阶段性减少的输出值的变化，因而可以通过与实现第1原稿检测处理的检测处理部同样的结构来实现。但是，第10原稿检测处理除了投射光的光量阶段性减少以外，还可以处理阶段性减小增益的放大器的输出值。从而，实现第10原稿检测处理的检测处理部43的处理电路43b，设定有大变化量的、与阶段性减小的输出值的变化对应的阈值。

如上所述，第9和第10原稿检测处理中，发光控制部通过APS传感器的发光元件阶段性改变向原稿检测位置投射的用于检测原稿的投射光的光量，检测处理部阶段性改变放大器的增益从而使随着投射光光量的变化而产生的输出值的变化进一步放大，通过检测出放大后输出值的变化，而输出表示有无原稿的信号。根据上述第9和第10原稿检测处理，能够实现排除了用于检测原稿的投射光以外的干扰光的输出值的具有高精度的原稿检测。

接着，对第11原稿检测处理进行说明。

图18A、图18B和图18C是用于说明第11原稿检测处理的图。图18A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图18B是表示将接收了图18A所示光量的光的光接收元件的输出值进行放大的放大器的增益的图。图18C是表示将接受了图18A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图18B所示增益的放大器放大后的输出值的图。即，接收了图18A所示光量的光的光接收元件的输出值，通过设定为图18B所示增益的放大器之后，变成如图18C所示的输出值。

第11原稿检测处理中，如图18A和图18B所示，连续增加向检测位置投射的投射光的光量，并且，对应于光量连续增加的比例输出信号的放大率也连续增大。图18B所示增益是使得随着图18A所示光量的增加而增大的输出值的增加部分进一步增大的放大率。

图18A所示例中，发光控制部42在从开始发光时间t0到时间t2期间，使投射到检测位置的投射光的光量从P/2以一定的比例连续增加到P。放大器43a在从开始发光时间t0到时间t2期间，使增益从G以一定的比例连续增加到2G。通过发光控制部42进行的投射光光量的控制以及放大器43a的增益的设定等，例如，可以按照处理器25的控制指示来执行。

图18C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P/2的时间t0处放大器43a的增益为G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。另外，图18C所示例中，由于在投射到检测位置的投射光的光量为变为P的时间t2处放大器43a的增益为2G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为2V。即，图18C所示例中，接收了图18A所示光的光接收元件的输出经放大后的输出值，在t0到t2期间按一定比例，从V/2，增加到2V(V/2的4倍)。

第11原稿检测处理的检测处理部43通过检测出，在APS传感器光接收元件的输出经放大后的输出值中，随着投射光光量的连续增加和放大器增益的连续增大而产生的变化，可以排除干扰光。实现第11原稿检测处理的检测处理部43具有的结构以执行：通过检测出随着连续增加的光量和连续增大的放大器增益而连续增加的输出值的变化，而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。由于实现第11原稿检测处理的检测处理部43能够检测出连续增加的输出值的变化，因而可以通过与实现第3原稿检测处理的检测处理部相同的结构来实现。

但是，第11原稿检测处理除了投射光的光量连续增加以外，还可以处理连续增大增益的放大器的输出值。从而，实现第11原稿检测处理的检测处理部43的处理电路43b，必须检测出比第3原稿检测处理更大的输出值的变化。为此，实现第11原稿检测处理的检测处理部43的处理电路43b，设定有大变化量的、与连续增大的输出值的变化对应的阈值。

接着，对第12原稿检测处理进行说明。

图19A、图19B和图19C是用于说明第12原稿检测处理的图。图19A是表示投射到检测位置的投射光的光量的图。图19B是表示将接收了图19A所示光量的光的光接收元件的输出值进行放大的放大器的增益的图。图19C是表示将接受了图19A所示光量的光的光接收元件的输出值，进一步经过图19B所示增益的放大器增幅后的输出值的图。即，接收了图19A所示光量的光的光接收元件的输出值，通过设定为图19B所示增益的放大器之后，变成如图19C所示的输出值。

第12原稿检测处理中，如图19A和图19B所示，连续减少投射向检测位置的投射光的光量，并且，与光量连续减少同步减小输出信号的放大率。图19B所示增益是使得随着图19A所示光量的减少而减小的输出值进一步减小的放大率。图19A所示例中，发光控制部42在从开始发光时间t0到时间t2期间，使投射到检测位置的投射光的光量从P以一定的比例连续减少到P/2。放大器43a在时间t0到时间t2期间，使增益从2G以一定的比例连续减少到G。另外，通过发光控制部42进行的投射光光量的控制以及放大器43a的增益的设定，例如，可以按照处理器25的控制指示来实行。

图19C所示例中，由于在投射到原稿检测位置的投射光的光量为P的时间t0处，放大器43a的增益为2G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为2V。另外，图19C所示例中，由于在投射到检测位置的投射光的光量变为P/2的时间t2处，放大器43a的增益为G，光接收元件的输出经放大后的输出值变为V/2。即，图19C所示例中，接收了图19A所示光的光接收元件的输出经放大后的输出值，在t0到t2期间按一定比例，从2V减少到V/2(2V的1/4倍)。

第12原稿检测处理的检测处理部43通过检测出，在APS传感器光接收元件的输出经放大后的输出值中，随着投射光光量的连续减少和放大器增益的连续减小而产生的变化，可以排除干扰光。实现第12原稿检测处理的检测处理部43具有的结构以执行：通过检测出，随着连续减少的光量和连续减小的放大器增益而连续减少的输出值的变化，从而输出表示原稿检测结果(有无原稿)的信号。由于实现第12原稿检测处理的检测处理部43能够检测出连续减少的输出值的变化，因而可以通过与实现第3原稿检测处理的检测处理部相同的结构来实现。

但是，第12原稿检测处理除了投射光的光量连续减少以外，还可以处理连续减小增益的放大器的输出值。从而，实现第12原稿检测处理的检测处理部43的处理电路43b，必须检测出比第3原稿检测处理更大的输出值的变化。为此，实现第12原稿检测处理的检测处理部43的处理电路43b，设定有大变化量的、与连续减小的输出值的变化对应的阈值。

如上所述，第11和第12原稿检测处理中，发光控制部通过APS传感器的发光元件连续改变向原稿检测位置投射的用于检测原稿的投射光的光量，检测处理部连续改变放大器的增益从而使随着投射光光量的变化而产生的输出值的变化进一步放大，通过检测出放大后输出值的变化，而输出表示有无原稿的信号。根据上述第11和第12原稿检测处理，能够实现排除了用于检测原稿的投射光以外的干扰光的输出值的具有高精度的原稿检测。

如上所述，根据各实施例，原稿检测装置的功能包括：改变投射到原稿检测位置的投射光的光量；在将来自原稿检测位置的光进行光电转化后得到的输出值中，检测出随着上述光量变化有无输出值的变化；将表示上述随着光量变化有无输出值变化的信号，作为表示原稿检测位置上有无原稿的信号输出。通过这种原稿检测装置，能够辨别向原稿检测位置投射的投射光和投射光以外的干扰光，从而能够实现高精度的原稿检测。

虽然已描述了本发明的某些实施方式，但是，这些实施方式仅是对本发明进行示例性说明，而并不是为了限制本发明的范围。实际上，本文所描述的各种新的方法和系统可以体现为其他各种形式。并且，在不脱离本发明的精神的前提下，可以对本文中所描述的方法和系统的形式作各种省略、替换和改变。所附的权利要求书及其等同物涵盖这些落入本发明的范围和精神的形式或修改。

Claims (20)

1.一种原稿检测装置，包括：

发光元件，向原稿的检测位置投射光；

光接收元件，输出将来自所述检测位置的光进行光电转化后得到的电信号；

发光控制部，改变所述发光元件发射的光的光量；以及

检测处理部，根据在所述光接收元件的输出值中有无随着所述发光控制部控制的光量变化而产生的输出值的变化，检测在所述检测位置有无原稿。

2.根据权利要求1所述的原稿检测装置，其中，

所述发光控制部阶段性改变光量；

所述检测处理部在所述光接收元件的输出值中检测随着阶段性变化的光量而产生的输出值的变化。

3.根据权利要求1所述的原稿检测装置，其中，

所述发光控制部连续改变光量；

所述检测处理部在所述光接收元件的输出值中检测随着连续变化的光量而产生的输出值的变化。

4.根据权利要求1所述的原稿检测装置，还包括：

放大器，放大所述光接收元件的输出值；以及

增益控制部，改变所述放大器的增益，

其中，

所述检测处理部在所述放大器的输出值中检测随着所述光量的变化和所述增益的变化而产生的输出值的变化。

5.根据权利要求4所述的原稿检测装置，其中，

所述增益控制部改变增益，以抵消随着由所述发光控制部控制的光量的变化而产生的输出值的变化。

6.根据权利要求5所述的原稿检测装置，其中，

所述发光控制部阶段性地改变光量；

所述增益控制部阶段性地改变增益，以抵消随着所述光量的变化而产生的输出值的阶段性变化。

7.根据权利要求5所述的原稿检测装置，其中，

所述发光控制部连续改变光量；

所述增益控制部连续改变增益，以抵消随着所述光量的变化而产生的输出值的连续变化。

8.根据权利要求4所述的原稿检测装置，其中，

所述增益控制部改变所述放大器的增益，以使得随着由所述发光控制部控制的光量的变化而产生的输出值的变化进一步放大。

9.根据权利要求8所述的原稿检测装置，其中，

所述发光控制部阶段性地改变光量；

所述增益控制部阶段性地改变增益，以使得随着所述光量的变化而产生的输出值的阶段性变化进一步放大。

10.根据权利要求8所述的原稿检测装置，其中，

所述发光控制部连续改变光量；

所述增益控制部连续改变增益，以使得随着所述光量的变化而产生的输出值的连续变化进一步放大。

11.一种图像形成装置，包括：

发光元件，向原稿的检测位置投射光；

光接收元件，输出将来自所述检测位置的光进行光电转化后得到的电信号；

发光控制部，改变所述发光元件发射的光的光量；

检测处理部，根据在所述光接收元件的输出值中有无随着所述发光控制部控制的光量变化而产生的输出值的变化，检测在所述检测位置有无原稿；

读取部，读取由所述检测处理部检测到的原稿的图像；以及

图像形成部，在图像形成介质上形成由所述读取部读取的原稿的图像。

12.根据权利要求11所述的图像形成装置，其中，

所述发光控制部阶段性地改变光量；

所述检测处理部在所述光接收元件的输出值中检测随着阶段性变化的光量而产生的输出值的变化。

13.根据权利要求11所述的图像形成装置，其中，

所述发光控制部连续改变光量；

所述检测处理部在所述光接收元件的输出值中检测随着连续变化的光量而产生的输出值的变化。

14.根据权利要求11所述的图像形成装置，还包括：

放大器，放大所述光接收元件的输出值；以及

增益控制部，改变所述放大器的增益，

其中，

所述检测处理部在所述放大器的输出值中检测随着所述光量的变化和所述增益的变化而产生的输出值的变化。

15.根据权利要求14所述的图像形成装置，其中，

所述增益控制部改变增益，以抵消随着由所述发光控制部控制的光量的变化而产生的输出值的变化。

16.根据权利要求15所述的图像形成装置，其中，

所述发光控制部阶段性地改变光量；

所述增益控制部阶段性地改变增益，以抵消随着所述光量的变化而产生的输出值的阶段性变化。

17.根据权利要求15所述的图像形成装置，其中，

所述发光控制部连续改变光量；

所述增益控制部连续改变增益，以抵消随着所述光量的变化而产生的输出值的连续变化。

18.根据权利要求14所述的图像形成装置，其中，

所述增益控制部改变所述放大器的增益，以使得随着由所述发光控制部控制的光量的变化而产生的输出值的变化进一步放大。

19.根据权利要求18所述的图像形成装置，其中，

所述发光控制部阶段性地改变光量；

所述增益控制部阶段性地改变增益，以使得随着所述光量的变化而产生的输出值的阶段性变化进一步放大。

20.一种原稿检测方法，包括：

向原稿的检测位置投射光；

输出将来自所述检测位置的光进行光电转化后得到的电信号；

改变向所述检测位置投射的光的光量；以及

输出表示在所述电信号的输出值中有无随着所述光量的变化而产生的输出值的变化的信号作为表示在所述检测位置有无原稿的信号。

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