CN102565720B - 用于电源供应单元的检测装置 - Google Patents

用于电源供应单元的检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102565720B
CN102565720B CN201110416058.0A CN201110416058A CN102565720B CN 102565720 B CN102565720 B CN 102565720B CN 201110416058 A CN201110416058 A CN 201110416058A CN 102565720 B CN102565720 B CN 102565720B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
unit
emitting component
component
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201110416058.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102565720A (zh
Inventor
金镇圣
康规喆
裴振祐
李喆浩
秋钟杨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of CN102565720A publication Critical patent/CN102565720A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102565720B publication Critical patent/CN102565720B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40—Testing power supplies
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/09—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B45/00—Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED]
    • H05B45/50—Circuit arrangements for operating light-emitting diodes [LED] responsive to malfunctions or undesirable behaviour of LEDs; responsive to LED life; Protective circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Arrangement Of Elements, Cooling, Sealing, Or The Like Of Lighting Devices (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及一种用于电源供应单元的检测装置，包括：主体单元，具备插入发光元件(LED，light emitting diode)的空间，以提供检测施加到所述发光元件的电源供应状态的检测环境；以及，检测单元，设置在所述主体单元的内部且与所述发光元件面对，用以检测电源供应异常时产生的所述发光元件的闪烁(flicker)。根据这种结构，由于能够定量地检测供应至发光元件的电源供应状态，从而能够提高发光元件的电源供应品质。

Description

用于电源供应单元的检测装置
技术领域
本发明涉及一种能够检测发光元件的品质的用于电源供应单元的检测装置。尤其涉及能够通过发光元件的闪烁(flicker)来检测电源供应装置的电源供应状态的用于电源供应单元的检测装置。
背景技术
发光元件(LED，light emitting diode)是通过将电能转换为光能来发光的光源，由于这种发光元件不仅具有诸如快速的响应速度及低电耗的优点，还具有长寿命带来的环保因素，所以广泛应用于诸如显示装置的背光光源或者照明设备的光源等多种产业领域。
这种发光元件通过预定的电源供应单元接收供电并发光。此时，当提供给发光元件的电源供应单元的电源供应状态不稳定时，引起诸如从发光元件产生的光发生闪变的闪烁(flicker)的误操作。即，所述发光元件的闪烁是在提供给发光元件的电源的电流无法形成均匀波形时产生。
另外，为了检测闪烁以确认所述电源供应状态，操作者一般的做法就是用肉眼确认制造出的发光元件。但是，通过操作者选别闪烁时，因操作者之间存在的差异，很难导出客观的信息。据此，最近被要求进行准确地检测发光元件的闪烁，从而提高供应到发光元件的电源供应品质的尝试。
发明内容
根据本发明的一实施例，公开了一种检测发光元件的闪烁而提高供应至发光元件的电源的供应品质的用于电源供应单元的检测装置。
根据本发明实施例的用于电源供应单元的检测装置包括：主体单元，具备插入发光元件(LED，light emitting diode)的空间，以提供检测施加到所述发光元件的电源供应状态的检测环境；以及，检测单元，设置在所述主体单元的内部且与所述发光元件面对，用以检测电源供应异常时产生的所述发光元件的闪烁(flicker)。
根据一方面，所述检测单元与所述发光元件面对的间隔能够被调整。
根据一方面，所述主体单元提供与外部隔离的暗室(darkroom)环境。
根据一方面，所述主体单元包括：第一主体，用以插入所述发光元件；第二主体，插入所述检测单元，且能够从所述第一主体分离；以及，盖，选择性地开放所述第二主体的至少一部分，以选择性地暴露所述检测单元。
根据一方面，所述检测单元包括：传感器部，用以检测所述发光元件产生的光的闪烁；以及，调节部，用以支撑所述传感器部，以调节所述传感器部和所述发光元件相隔的间距。
根据一方面，所述传感器部包括光敏二极管(photo diode)。
根据一方面，所述调节部包括：基座部件，用以支撑所述传感器部，以使所述传感器部与所述发光元件面对；设置有多个固定槽的支撑部件，该支撑部件贯通所述基座部件设置在所述主体单元且与所述基座部件和所述发光元件相互面对的方向并排；以及，固定部件，通过所述基座部件与设置在所还支撑部件的多个固定槽中的至少一个固定槽嵌合，以相对所述支撑部件选择性地固定所述基座部件的姿势。
根据一方面，在所述主体单元的内部设置有散热部件，用以释放所述发光元件产生的热量。
根据本发明一实施例的用于电源供应单元的检测装置包括：主体单元，具备插入发光元件(LED，light emitting diode)的空间；以及，检测单元，设置在所述主体单元的内部，通过从所述发光元件产生的光的闪烁(flicker)检测施加到所述发光元件的电源供应状态，其中，所述主体单元能够开放，以选择性地向外部露出所述发光元件及检测元件。
根据一方面，能够调整所述检测单元与所述发光元件相互面对的间距。
根据一方面，所述主体单元包括：第一主体，用以插入所述发光元件；第二主体，插入所述检测单元，且能够从所述第一主体分离；以及，盖，选择性地开闭与所述检测单元面对的、在所述第二主体的一侧面上贯通而形成的露孔。
根据一方面，所述检测单元包括：传感器部，用以检测所述发光元件产生的光的闪烁(flicker)；以及，调节部，该调节部用于调节所述传感器部和发光元件之间的间距，该调节部包括：基座部件，用以支撑所述传感器部，以使所述传感器部与所述发光元件相互面对；支撑部件，贯通所述基座部件设置在所述主体单元，且与所述基座部件和所述发光元件相互面对的方向并排；以及固定部件，通过所述基座部件固定在所述支撑部件，以相对所述支撑部件选择性地固定所述基座部件的姿势。
一方面，在所述主体单元的内部具备散热部件，用以释放所述发光元件产生的热量。
附图说明
图1为概略地示出根据本发明的一实施例的用于电源供应单元的检测装置的构成图；
图2为概略地示出根据本发明的一实施例的用于电源供应单元的检测装置的分解立体图；以及
图3为概略地示出图2所示的用于电源供应单元的检测装置的剖视图
具体实施方式
以下，参照附图所示的内容来详细说明根据本发明的实施例，但是，本不局限或受限于实施例
参照图1及图2，根据一实施例的用于电源供应单元的检测装置1包括主体单元10及检测单元20。
作为参考，本发明中说明的用于电源供应单元的检测装置1检测因向发光元件L(LED：Light Emitting Diode)提供电源的电源供应单元P(powersupply unit)的电源供应异常而产生的发光元件L的闪变(即，闪烁)。即，所还用于电源供应单元的检测装置1以发光元件L为媒介检测电源供应单元P的电源供应状态。
所述主体单元10具备插入发光元件L的空间，并提供发光元件L的检测环境在此，所述主体单元10形成隔离的暗室(darkroom)，以在检测发光元件L时阻止除从发光元件L发出的光以外的光进入到内部，进而准确地检测发光元件L。如图2所示，这种主体单元10包括第一主体11、第二主体12以及盖13。
所述第一主体11中插入发光元件L，该发光元件L与电源供应单元P连接，优选地，多个所述发光元件L同时被插入到第一主体11，以同时检测闪烁。同时，所述第一主体11中与发光元件L一起插入如同散热器(heat sink)的散热部件H，该散热部件H与发光元件L接触，由此释放发光元件L被驱动时产生的热量。
所述第二主体12中插入后述的检测单元20，且所述第二主体12能够从第一主体11分离。此时，例如，所述第二主体12相对第一主体11层叠设置在第一主体11的上部，从而能够在相互竖直的方向(Y方向)分离。据此，相互面对的第一主体11及第二主体12的下部分别形成开放的结构。
所述盖13选择性地开放所述第二主体12，以选择性地露出将后述的检测单元20。具体地，为进行检测单元20的维护或者检测条件变更，所述盖13选择性地露出内置于第二主体12的检测单元20。这种盖13设置为选择性地开闭贯通形成于第二主体12的一侧的露孔14。
所述检测单元20与发光元件L面对，且以能够调整与发光元件L相对的间隔的形式设置在主体单元10的内部，由此检测发光单元L产生的闪烁。为此，如图2及图3所示，所述检测单元20包括传感器部21和调节部24。
所述传感器部21检测因电源供应单元P的电源供应异常而导致的从发光元件产生的光的闪变(闪烁)。为此，所述传感器部21包括用于检测光的传感器22和与传感器22电气连接而处理经检测得到的信息的基板23在此，传感器22包含光敏二极管为例。
所述调节部24支撑传感器部21，并调整传感器部21和发光元件L相隔的间距G如图3所示，这种调节部24包含基座部件25，支撑部件26以及固定部件27。此时，经所述调节部24调节的传感器部21与发光元件L相隔的间距G举例为10mm至80mm，但并不局限于此。
所述基座部件25支撑所述传感器部21，以使传感器部21与发光元件L面对在图2及图3中，举例为随着所述发光元件L和传感器部21设置在相互竖直地层叠的第一主体11及第二主体12的内部，传感器部21和发光元件L也以图示的方向为基准相互竖直地在Y轴方向面对。但是，所述传感器部21和发光元件L也可以被布置为在图示为基准的水平方向(X轴方向)面对，对应于此，第一主体11及第二主体12的结合方向也可以变更为X轴方向，而不是Y轴方向。
作为参考，优选地，设置在所述基座部件25上的传感器部21的基板23能够整体分离，以方便维护。
所述支撑部件26贯通基座部件25而设置在主体单元10，使得基座部件25和发光元件L在相互面对的Y轴方向并排。所述支撑部件26通过贯通形成于没有设置传感器部21的基座部件25的一侧的连接槽25a与基座部件25连接，而且，所述支撑部件26的一端被固定在第二主体12的内面，另一端被固定在设置于第二主体12的支撑台12a，从而固定姿势根据这种结构，支撑部件25沿着所述支撑部件26在Y轴方向上升降，从而调整所支撑的传感器部21与发发元件L之间的间距G。
所述固定部件27通过基座部件25插入，嵌合固定在设置于支撑部件26上的多个固定槽26a中的一个固定槽26a。具体地，所述固定部件27沿着垂直于基座部件25和发光元件L相互面对的Y轴方向的方向(即，X轴方向)通过基座部件25的一端插入，由此插入到所述固定槽26a。如图1所示，这种固定部件27包括由检测者持握的持握端28和从持握端28延伸而插入到固定槽26a的固定端29。
作为参考，所述固定部件27最好是与设置在第二主体12上的露孔14面对，以选择性地被盖13露出。根据这种结构，当第二主体12的内部由所述盖13开放时，操作者能够通过露孔14方便地进入到主体单元10的内部而操作固定部件27。
以下，参照图2及图3说明具有如上结构的根据一实施例的用于电源供应单元的检测装置1的检测动作。
首先，如图2所示，在第一主体11及第二主体12的内部分别设置发光元件L及包含传感器部21的检测单元20。此时，所述发光元件L与电源供应单元P连接而发光。
所述第一主体11及第二主体12相互结合，由此如图3所示，第一主体11及第二主体12的内部被封闭而提供暗室环境。当设置于所述第一主体11的发光元件L运行时，与发光元件L面对的传感器部21的传感器22检测因电源供应异常而产生的发光元件L的运行中的闪变(即，闪烁)，并将检测结果提供给基板23。
另外，在调整分别设置在所述第一主体11及第二主体12的发光元件L和传感器部21相隔的间距G而要检测闪烁现象时，如图2所示，检测者分离出结合于第二主体12的露孔14的盖13而进入第二主体12的内部。之后，如图3所示，在分离出嵌合在设置于所述支撑部件26上的多个固定槽26a中的一个固定槽25a而固定的固定部件27之后，将解除固定力的基座部件25朝Y轴方向移动而放置在所需的位置。最后，操作者重新将被分离的固定部件27通过支撑部件26朝X轴方向插入，以使固定部件27嵌合到多个固定槽26a中的插入到基座部件25的连接槽25a内部的固定槽26a，从而重新固定基座部件25的位置。
而且，当检测者要更换所要检测的发光元件L时，将第二主体12相对第一主体11分离，由此使得插入到第一主体11的发光元件L暴露而进行更换。
根据这种结构，首先，通过检测发光元件产生的光的闪烁，能够定量检测而分析对于发光元件的电源供应异常。
第二，通过选择性地调整用于检测发光元件的闪变现象(闪烁)的检测单元与发光元件之间的间距，能够提供多种检测条件，因此有助于提升电源供应品质。
第三，在检测发光元件时，阻止了来自外部的光的流入而提供暗室环境，由此能够提高发光元件的检测准确率。
第四，通过选择性地开放主体单元的内部而露出发光元件，发光元件的更换将变得容易。
第五，通过盖的开闭动作，操作者能够方便地进入主体单元的内部而调整检测单元与发光元件之间的间距，从而能够提高检测作业效率。
以上说明中，虽然参考本发明的优选实施例进行了说明，但是本领域的熟练的技术人员应知，在不脱离本发明的思想及领域的范围之内，可以对本发明进行多种修改及变更。

Claims (10)

1.一种用于电源供应单元的检测装置，包括：
主体单元，具备插入发光元件的空间，以提供检测施加到所述发光元件的电源供应状态的检测环境；以及
检测单元，设置在所述主体单元的内部且与所述发光元件面对，用以检测电源供应异常时产生的所述发光元件的闪烁，
所述检测单元包括：
传感器部，用以检测所述发光元件产生的光的闪烁；以及
调节部，用以支撑所述传感器部，以调节所述传感器部和所述发光元件相隔的间距，
所述调节部包括：
基座部件，用以支撑所述传感器部，以使所述传感器部与所述发光元件面对；
设置有多个固定槽的支撑部件，该支撑部件贯通所述基座部件设置在所述主体单元且与所述基座部件和所述发光元件相互面对的方向并排；以及
固定部件，通过所述基座部件与设置在所述支撑部件的多个固定槽中的至少一个固定槽嵌合，以相对所述支撑部件选择性地固定所述基座部件的姿势。
2.根据权利要求1所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，所述检测单元与所述发光元件面对的间距能够被调整。
3.根据权利要求1所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，所述主体单元提供与外部隔离的暗室环境。
4.根据权利要求1所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，所述主体单元包括：
第一主体，用以插入所述发光元件；
第二主体，插入所述检测单元，且能够从所述第一主体分离；以及
盖，选择性地开放所述第二主体的至少一部分，以选择性地暴露所述检测单元。
5.根据权利要求1所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，所述传感器部包括光敏二极管。
6.根据权利要求1所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，在所述主体单元的内部设置有散热部件，用以释放所述发光元件产生的热量。
7.一种用于电源供应单元的检测装置，包括：
主体单元，具备插入发光元件的空间；以及
检测单元，设置在所述主体单元的内部，通过从所述发光元件产生的光的闪烁检测施加到所述发光元件的电源供应状态，
其中，所述主体单元能够开放，以选择性地向外部露出所述发光元件及检测元件，
所述检测单元包括：传感器部，用以检测所述发光元件产生的光的闪烁；以及，调节部，该调节部用于调节所述传感器部和发光元件之间的间距，该调节部包括：基座部件，用以支撑所述传感器部，以使所述传感器部与所述发光元件相互面对；支撑部件，贯通所述基座部件而设置在所述主体单元，且与所述基座部件和所述发光元件相互面对的方向并排；以及，固定部件，通过所述基座部件固定在所述支撑部件，以相对所述支撑部件选择性地固定所述基座部件的姿势。
8.根据权利要求7所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，所述检测单元被设置为与所述发光元件面对，且所述检测单元与所述发光元件相互面对的间距能够被调整。
9.根据权利要求7所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，所述主体单元包括：
第一主体，用以插入所述发光元件；
第二主体，插入所述检测单元且能够从所述第一主体分离；以及
盖，选择性地开闭与所述检测单元面对的、在所述第二主体的一侧面上贯通形成的露孔。
10.根据权利要求7所述的用于电源供应单元的检测装置，其中，在所述主体单元的内部具备散热部件，用以释放所述发光元件产生的热量。
CN201110416058.0A 2010-12-10 2011-12-09 用于电源供应单元的检测装置 Expired - Fee Related CN102565720B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2010-0126253 2010-12-10
KR1020100126253A KR101717667B1 (ko) 2010-12-10 2010-12-10 전원공급유닛용 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102565720A CN102565720A (zh) 2012-07-11
CN102565720B true CN102565720B (zh) 2015-01-14

Family

ID=45440142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110416058.0A Expired - Fee Related CN102565720B (zh) 2010-12-10 2011-12-09 用于电源供应单元的检测装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8779755B2 (zh)
EP (1) EP2463675B1 (zh)
KR (1) KR101717667B1 (zh)
CN (1) CN102565720B (zh)
TW (1) TWI448888B (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102928792A (zh) * 2012-11-06 2013-02-13 中山新特丽照明电器有限公司 Led驱动电源综合测试仪
KR102257672B1 (ko) * 2016-12-09 2021-05-28 삼성에스디아이 주식회사 전원 평가 장치
JP2019045232A (ja) * 2017-08-31 2019-03-22 セイコーエプソン株式会社 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
CN107831451B (zh) * 2017-10-17 2024-02-09 中山市金兴智能技术有限公司 一种led驱动电源综合测试仪
CN111812540A (zh) * 2020-07-21 2020-10-23 广州海关技术中心 一种用于谐波和闪烁试验的负载柜
CN112986787B (zh) * 2021-05-20 2021-07-30 江西省兆驰光电有限公司 一种发光二极管测试装置
CN113721164B (zh) * 2021-09-01 2024-05-07 航达康机电技术(武汉)有限公司 一种低成本高效航灯测试装置及其测试方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2564849Y (zh) * 2002-08-21 2003-08-06 财团法人工业技术研究院 光电照明模块

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58202849A (ja) * 1982-05-21 1983-11-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 放電ランプのチラツキの計測方法
US4953947A (en) 1986-08-08 1990-09-04 Corning Incorporated Dispersion transformer having multichannel fiber
US5239495A (en) 1989-06-23 1993-08-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Power supply control system for a portable computer
US5663763A (en) 1992-10-29 1997-09-02 Sony Corp. Picture signal encoding method and apparatus and picture signal decoding method and apparatus
KR20020069943A (ko) 2001-02-28 2002-09-05 김남식 다용도 내장 부재의 절곡부 성형 방법
JP4804084B2 (ja) * 2005-09-15 2011-10-26 三和シヤッター工業株式会社 電動シャッター
KR20070070652A (ko) * 2005-12-29 2007-07-04 노틸러스효성 주식회사 광센서 감지성능 측정장치
TW201001152A (en) * 2008-06-27 2010-01-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Power source alarm system and method thereof
JP2010096521A (ja) 2008-10-14 2010-04-30 Omron Corp ちらつき検知装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2564849Y (zh) * 2002-08-21 2003-08-06 财团法人工业技术研究院 光电照明模块

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Flickermeter used for different types of lamps;C.Rong 等;《9th International Conference on Electrical Power Quality and Utilisation》;20071009;第2页左栏第3-5段，图2 *
IEC闪变检测方法的数字化实现;刘亚洲 等;《继电器》;20000331;第28卷(第3期);第18-21页 *
JP昭58-202849A 1993.11.26 *
JP特开2007-77720A 2007.03.29 *
LED Lamp Flicker Caused by Interharmonics;Taekhyun Kim 等;《IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings 》;20080512;第1920-1925页 *

Also Published As

Publication number Publication date
US20120146622A1 (en) 2012-06-14
CN102565720A (zh) 2012-07-11
US8779755B2 (en) 2014-07-15
TW201234174A (en) 2012-08-16
EP2463675A1 (en) 2012-06-13
KR101717667B1 (ko) 2017-03-20
KR20120064972A (ko) 2012-06-20
TWI448888B (zh) 2014-08-11
EP2463675B1 (en) 2013-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102565720B (zh) 用于电源供应单元的检测装置
CN101283283B (zh) 插入件、测试托架及半导体测试装置
EP3020325A1 (en) Light source device and light source-use heat processing device
KR101191812B1 (ko) 조명 장치
JP5013980B2 (ja) 照明装置及び誘導灯
JP2010151794A (ja) 電子部品試験装置
EP2696659A2 (en) Energy-saving illumination device having brightness adjusting module
CN108529174A (zh) 一种coc老化与测试夹具
KR101191856B1 (ko) 엘이디 테스트 시스템 및 이의 테스트 방법
KR101648421B1 (ko) 방열판 성능 실험장치
CN102564579A (zh) 检测装置
JP5730242B2 (ja) 照明装置及び誘導灯
JP5683731B2 (ja) 照明装置及び誘導灯
KR101261724B1 (ko) 발열 패키지 테스트용 보드 챔버
CN102147442A (zh) 连接器检测治具
JP6340724B2 (ja) 光源ユニット及び照明器具
CN110133542A (zh) 灯源筛选装置、系统及筛选方法
JP2010249521A (ja) 発光デバイスの検査治具
KR101063242B1 (ko) 엘이디 램프 검사장치
TW201425795A (zh) Led燈條製作方法
JP2007078388A (ja) 電子部品試験装置
KR101538427B1 (ko) 분광 특성 시험용 엘이디 소켓
JP5661155B2 (ja) 照明装置
CN201190963Y (zh) 一种使用led的光源装置
JP5788060B2 (ja) 照明装置及び誘導灯

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: SAMSUNG LED CO., LTD.

Effective date: 20121122

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20121122

Address after: Gyeonggi Do Korea Suwon

Applicant after: SAMSUNG ELECTRONICS Co.,Ltd.

Address before: South Korea Gyeonggi Do Yongin

Applicant before: Samsung LED Co.,Ltd.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20150114