TWI448888B - 用於電源供應單元之測試裝置 - Google Patents

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Description

用於電源供應單元之測試裝置
本申請案係主張於2010年12月10日向韓國智慧財產局所提出申請之韓國專利申請案第10--2010-0126253號之優先權，於此併入該專利申請案所揭露之內容以供參考。
本發明係有關於一種用於電源供應單元之測試裝置，用於測試發光二極體(LED)之品質之測試裝置，尤係有關於一種能經由LED的閃爍測試電源供應單元的電源供應狀態的用於電源供應單元之測試裝置。
發光二極體(LED)是指藉由轉換電能為光能發光之光源。發光二極體呈現高響應率和低電源消耗。此外，LED具有長壽命，因此對環境友善。因此，LED被廣泛用於各個領域，如顯示裝置的背光源或照明的光源。
LED藉由經由預定的電源供應單元供應電源發光。當藉由電源供應單元供應的電源是不穩定的，LED發出的光可能閃爍指示故障。也就是說，供應LED之電源之電流波形不平衡時發生LED之閃爍。
一般而言，製造之LED之電源供應狀態顯示的閃爍是藉由操作者肉眼檢視。然而，當藉由操作者檢查閃爍時，由於操作者之間的個體差異，很難獲得客觀的數據。因此，需要準確地檢測LED的閃爍的方法，以增加關於該LED之電源供應之品質。
本發明之一態樣係提供一種用於電源供應單元之測試裝置，測試裝置藉由檢測LED的閃爍提高關於LED的電源供應的品質。
根據本發明之一態樣，提供一種用於電源供應單元之測試裝置，測試裝置包括：本體單元，配置成定義收置發光二極體(LED)之空間以及提提供測試環境以測試施加於LED之電源之供應狀態；以及測試單元，安裝在本體單元以面對LED，並配置成檢測電源供應異常時發生之該LED閃爍。
該測試單元可配置為，使得關於該LED的距離是可調的。
該本體單元可提供與外部隔離之暗室環境。
該本體單元可包括：第一本體，配置成收置該發光二極體；第二本體，配置成收置該測試單元以及與該第一本體可分離；以及蓋體，配置成選擇性地開啟至少一部分之該第二主體，從而選擇性地暴露該測試單元。
該測試單元可包括：感測單元，配置成檢測該LED產生的光的閃爍；以及調整單元，配置成支撐該感測單元和調整該感測單元和該LED之間的距離。
該感測單元可包括光二極體(photodiode)。
該調整單元可包括：夾持構件，配置成支撐該感測單元使得該感測單元面對該LED；支撐構件，藉由通過該夾持構件平行於其中該夾持構件和該LED相互面對的方向安裝於該本體單元，並配置成包含複數固定凹陷；以及固定 構件，配置成經由該夾持構件嚙合該支撐構件之該複數固定凹陷之至少一者，從而選擇性地固定關於該支撐構件之該夾持構件位置。
該本體單元可包括熱輻射構件，設置於該本體單元以輻射從該LED產生的熱。
根據本發明之另一態樣，提供一種用於電源供應單元之測試裝置，該測試裝置包括：本體單元，配置成包含收置發光二極體(LED)之空間；以及測試單元，安裝在該本體單元，並配置成經由該LED產生的光的閃爍測試施加於該LED之電源的供應狀態，其中該本體單元是可開啟以選擇地暴露該LED和該測試單元至外部。
該測試單元可面對該發光二極體，使得關於該LED的距離是可調的。
該本體單元可包括：第一本體，配置成收置該發光二極體；第二本體，配置成收置該測試單元以及與該第一本體可分離；以及蓋體，配置成選擇性地暴露穿過該第二主體之一側表面形成之露出孔，該一側表面面對該測試單元。
該測試單元可包括：感測單元，配置成檢測該LED產生的該光的該閃爍；以及調整單元，配置成調整該感測單元和該LED之間的距離，其係藉由包括：夾持構件，支撐該感測單元使得該感測單元面對該LED；支撐構件，藉由通過該夾持構件平行於其中該夾持構件和該LED相互面對的方向安裝於該本體單元；以及固定構件，配置成選擇性地固定關於該支撐構件該夾持構件的位置。
該本體單元可包括熱輻射構件，設置於該本體單元以輻射從該LED產生的熱。
將更詳細參照本發明例示性實施例，其例子繪示於所附圖示中，其中全篇類似參考元件符號表示類似元件。以下敘述例示性實施例，以藉由參照圖示說明本發明。
第1圖係為根據本發明實施例之用於電源供應單元之測試裝置之示意圖。第2圖係為根據本發明實施例之用於電源供應單元之測試裝置之爆炸的透視示意圖。
參照第1和2圖，根據本發明實施例，用於電源供應單元P之測試裝置1，包括本體單元10和測試單元20。
測試裝置1可以檢測發光二極體(LED)L的閃爍。閃爍是由供應電源至LED L之電源供應單元P之異常電源供應造成。也就是說，用於電源供應單元P之測試裝置1經由LED L測試電源供應單元P的電源供應狀態。
本體單元10可包括收置LED L之空間，相應地提供LED L的測試環境。本體單元10可形成隔離之暗室環境，以於LED L的準確測試的LED L的測試時遮蔽除了LED L產生的光的外部光。如第2圖所示，本體單元10可包括第一本體11、第二本體12、和蓋體13。
第一本體11可收置連接電源供應單元P的LED L。所有複數LED L可插入第一本體11用於同步檢測閃爍。此外，第一本體11可包括熱輻射構件H，例如散熱器(heat sink)，以輻射與LED L接觸驅動時產生的熱。熱輻射構件 H隨著LED L插入第一本體11。
以下將描述第二本體12可插入測試單元20，並配置為與第一本體11分離。在這裡，第二本體12可堆疊在第一本體11之上部上，在垂直方向即Y軸方向可分離。因此，相互面對之第一本體11之上部和第二本體12之下部可分別開啟。
蓋體13可選擇性地開啟第二本體12，從而選擇性地暴露測試單元20。特別是，蓋體13選擇性地暴露在第二本體12內建之測試單元20，致使測試條件的維護和修理或變化。為此目的，蓋體13可配置為選擇性開啟和關閉經由第二本體12的一側形成的露出孔14。
測試單元20可安裝在本體單元10以面對LED L，使得關於LED L的距離是可調的。測試單元20檢查在LED L發生之閃爍。為此目的，測試單元20可包括如第2和3圖所示之感測單元21和調整單元24。
感測單元21可檢測藉由電源供應單元P的電源供應執行異常時發生的LED L的閃爍。為此功能，感測單元21可包括檢測光之感測器22，與電連接感測器22以處理檢測之資訊之基板23。根據本實施例，感測器22包括光二極體。
調整單元24可支撐感測單元21，從而調整感測單元21和LED L之間的距離G。如第3圖所示，調整單元24可包括夾持構件25、支撐構件26和固定構件27。根據本實施例，感測單元21和LED L之間的距離G是在約10毫 米(mm)至約80毫米的範圍之內，但是，不限於此。
夾持構件25可支撐感測單元21，使感測單元21和LED L相互面對。參照第2和3圖，因為LED L和感測單元21置於垂直堆疊的第一本體11和第二本體12，感測單元21和LED L在垂直方向即Y軸方向相互面對。然而，感測單元21和LED L可在水平方向即X軸方向相互面對。在這種情況下，第一本體11和第二本體12可在X軸方向連接。
為維護和修理，提供至夾持構件25之感測單元21之基板23可完全分開。
支撐構件26可藉由通過夾持構件25安裝於本體單元10，平行其中夾持構件25和LED L相互面對的Y軸方向。支撐構件26可藉由經由夾持構件25之一側形成之連接孔25a連接到夾持構件25，該一側不設置感測單元21。支撐構件26之一端固定於第二本體12之內。支撐構件26的另一端藉由形成於第二本體12的支撐端12a固定，使支撐構件26的位置固定。根據上述配置，夾持構件25在Y軸方向沿支撐構件26上下移動，從而調整感測21和LED L之間的距離G。
固定構件27經由該夾持構件25插入而且固定於在支撐構件26提供之至少一複數固定凹陷26a。具體而言，固定構件27經由x軸方向之夾持構件25之一端，插入複數固定凹陷26a之至少一者，即垂直於其中夾持構件25和LED L相互面對之Y軸方向。如第3圖所示，固定構件27 包括由操作者抓握之抓握端28，和自抓握端28延伸之固定端29，插入複數固定凹陷26a之至少一者。
固定構件27可面對形成於第二本體12的露出孔，以便藉由該蓋體13有選擇性地暴露。根據上述配置，當第二本體12之內側由蓋體13開啟，操作者可方便地經由露出孔14使用本體單元10內部和操作固定構件27。
現在將參考第2和3圖說明根據本發明實施例之用於電源供應單元之測試裝置1之測試操作。
第3圖係為第2圖所示之用於電源供應單元之測試裝置之剖視示意圖。
如第2圖所示，LED L和包括感測單元21的測試單元20分別設置於第一本體11和第二本體12。LED L經由與電源供應單元P之連接發光。
第一本體11和第二本體12相互連接，藉由該第一本體11和第二本體12定義之內部空間密封，而實現暗室環境。當操作置於第一本體11之LED L時，面對LED L的感測單元21之感測器22可檢測由不正常電源供應產生的LED L的閃爍，並可提供基板23檢測之閃爍之資訊。
當藉由調整在第一本體11和第二本體12分別提供的LED L和感測單元21之間的距離G檢測閃爍時，操作者可以分開與第二本體12之露出孔14連接之蓋體13，如第2圖所示，而進入第二本體12內部。接下來，操作者可分開藉由與複數固定凹陷26a嚙合(engagement)固定之固定構件27，複數固定凹陷26a係如第3圖所示形成於支撐構件 26，然後在Y軸方向移動釋放的夾持構件25到所需的位置。最後，操作者可以重新插入固定構件27至複數固定凹陷26a之一，其在X軸方向設置於夾持構件25的連接孔25a。因此，操作者重新定位和固定夾持構件25。
當操作者要更換測試之LED L，第二本體12與第一本體11分開，使得插入第一本體11的LED L暴露。
根據上述結構，藉由檢測LED產生的光的閃爍，關於LED的電源供應可被規則地檢測和分析。
由於選擇性的調整LED和檢測的LED之閃爍之測試單元之間的距離，可提供各種測試條件。因此，可增加電源供應品質。
由於LED測試時藉由阻擋外部光線提供暗室環境，可增加測試的準確性。
由於本體單元內部是選擇性開啟暴露LED，可方便LED的更換。
此外，操作者經由可開啟蓋體可以輕鬆地進入本體單元內部。因此，可增加測試之可操作性。
上述實施例係用以例示性說明本發明之原理及其功效，而非用於限制本發明。任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下，對上述實施例進行修改。因此本發明之權利保護範圍，應如後述之申請專利範圍所列。
1‧‧‧測試裝置
10‧‧‧本體單元
11‧‧‧第一本體
12‧‧‧第二本體
12a‧‧‧支撐端
13‧‧‧蓋體
14‧‧‧露出孔
20‧‧‧測試單元
21‧‧‧感測單元
22‧‧‧感測器
23‧‧‧基板
24‧‧‧調整單元
25‧‧‧夾持構件
25a‧‧‧連接孔
26‧‧‧支撐構件
26a‧‧‧凹陷
27‧‧‧固定構件
28‧‧‧抓握端
29‧‧‧固定端
H‧‧‧熱輻射構件
L‧‧‧LED
P‧‧‧電源供應單元
本發明的這些及/或其它態樣、特徵、和優點，將從 下述實施例結合所附圖示的說明變得清楚且更容易明瞭，其中：第1圖係為根據本發明實施例之用於電源供應單元之測試裝置之示意圖；第2圖係為根據本發明實施例之用於電源供應單元之測試裝置之爆炸的透視示意圖；第3圖係為第2圖所示之用於電源供應單元之測試裝置之剖視示意圖。
1‧‧‧測試裝置
10‧‧‧本體單元
20‧‧‧測試單元
L‧‧‧LED
P‧‧‧電源供應單元

Claims (10)

  1. 一種用於電源供應單元之測試裝置，該測試裝置包括：本體單元，配置成定義收置發光二極體(LED)之空間以及提供測試環境以測試施加於LED之電源之供應狀態；以及測試單元，安裝在該本體單元以面對該LED，並配置成檢測電源供應異常時發生之該LED閃爍，其中該該測試單元包括：感測單元，配置成檢測該LED產生的光閃爍；以及調整單元，配置成支撐該感測單元和調整該感測單元和該LED之間的距離，該調整單元包括：夾持構件，配置成支撐該感測單元使得該感測單元面對該LED；支撐構件，藉由通過該夾持構件平行於其中該夾持構件和該LED相互面對的方向安裝於該本體單元，並配置成包含複數固定凹陷；以及固定構件，配置成經由該夾持構件嚙合該支撐構件之該複數固定凹陷之至少一者，從而選擇性地固定關於該支撐構件之該夾持構件位置。
  2. 如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中配置該測試單元使得關於該LED的距離是可調的。
  3. 如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中該本體單元提供與外部隔離之暗室環境。
  4. 如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中，該本體單元包括：第一本體，配置成收置該發光二極體；第二本體，配置成收置該測試單元以及與該第一本體可分離；以及蓋體，配置成選擇性地開啟至少一部分之該第二主體，從而選擇性地暴露該測試單元。
  5. 如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中該感測單元包括光二極體。
  6. 如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中該本體單元包括熱輻射構件，設置於該本體單元以輻射從該LED產生的熱。
  7. 一種用於電源供應單元之測試裝置，該測試裝置包括：本體單元，配置成包含收置發光二極體(LED)之空間；以及測試單元，安裝在該本體單元，並配置成經由該LED產生的光閃爍測試施加於該LED之電源的供應狀態，其中該測試單元包括：感測單元，配置成檢測該LED產生的光閃爍；以及調整單元，配置成調整該感測單元和該LED之間的距離，其係藉由包括：夾持構件，支撐該感 測單元使得該感測單元面對該LED；支撐構件，藉由通過該夾持構件平行於其中該夾持構件和該LED相互面對的方向安裝於該本體單元；以及固定構件，配置成選擇性地固定關於該支撐構件該夾持構件的位置；其中該本體單元是可開啟以選擇地暴露該LED和該測試單元至外部。
  8. 如申請專利範圍第7項之測試裝置，其中該測試單元面對該發光二極體使關於該LED的距離是可調的。
  9. 如申請專利範圍第7項之測試裝置，其中，該本體單元包括：第一本體，配置成收置該發光二極體；第二本體，配置成收置該測試單元以及與該第一本體可分離；以及蓋體，配置成選擇性地暴露穿過該第二主體之一側表面形成之露出孔，該一側表面面對該測試單元。
  10. 如申請專利範圍第7項之測試裝置，其中該本體單元包括熱輻射構件，設置於該本體單元以輻射從該LED產生的熱。
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