CN102483440A - 调制后的被测试信号的测试装置以及测试方法 - Google Patents

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Abstract

测试装置(2)对来自DUT(1)的调制后的被测试信号(S1)进行测试。交叉定时数据生成部(10)用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示被测试信号(S1)的电平分别与多个阈值进行交叉的定时。期望值数据生成部(30)用于生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将被测试信号(S1)所期望的期望值波形(S2)与多个阈值进行比较时期望值波形与各阈值进行交叉的定时。定时比较部(40)对交叉定时数据与定时期望值数据进行比较。

Description

调制后的被测试信号的测试装置以及测试方法
技术领域
本发明涉及测试装置。
背景技术
一直以来，有线数字通信的主流是利用时分复用(TDM)方式的2值传输，在进行大容量传输的情况下，通过并行传输、高速传输来实现。当达到并行传输的物理极限时，则进行串行传输，即利用高速接口(I/F)电路进行数个Gbps～10Gbps以上的数据速率的高速传输。但是，数据速率的高速化也有极限，因传输线路的高频损失和反射而出现BER(Bit Error Rate(比特误码率))恶化的问题。
另一方面，无线数字通信方式是在载波信号中搭载多比特信息进行发送接收。总之，数据速率不受载波频率的直接限制。例如，作为最基本的正交调制解调方式的QAM(Quadrature Amplitude Modulation(正交调幅))传输方式，能够用一个信道来实现4值传输。关于64QAM，能够用一个载波来实现64值传输。也就是说，即使不提高载波频率，也能够利用这种多值调制方式提高传输容量。
这种调制解调方式不局限于无线通信，也能够用于有线通信，并已经以PAM(Pulse Amplitude Modulation(脉冲振幅调制))、QPSK(Quadrature Phase ShiftKeying(四相相移键控))或DQPSK(Differential QPSK(差分四相相移键控))的方式开始被应用。尤其是在光通信领域中，在一条光纤上能搭载多少信息在成本方面是很重要的，技术发展趋势正从2值TDM转移到利用了这些数字调制的传输。
发明内容
发明所要解决的课题
在不久的将来，这种数字调制解调方式有可能应用于以存储器和SoC(System On a Chip(单片系统))为首的设备之间的有线接口，但现状是，并不存在能够对这种设备进行大批量测试的多信道的测试装置。
虽然存在对现有无线通信设备进行测试的混合测试装置和RF(RadioFrequency(无线电频率))测试模块，但由于现有无线通信设备中的用于I/O(输入输出)的通信端口(I/O端口)通常仅限于一个或数个，因此以往的测试装置和测试模块只包括数个通信端口。因而，在存储器等具有数十～数百信道以上的I/O端口的设备的测试中，使用这些测试装置和测试模块是很困难的。
另外，在现有的RF信号的测试装置中，将从DUT(Device Under Test(被测试设备))输出的信号进行A/D(模拟数字)转换，对该结果所得的庞大数据进行信号处理(还包括软件处理)，由此来判断期望值。因而，测试时间会变长。
并且，现有测试装置的数字针(digital pin)基本上仅能假定为2值(根据情况为3值，即还包括高阻抗状态Hi-Z)的信号测试，不具有数字调制信号的解调功能。
如果将存储器和MPU(Micro Processing Unit(微处理器))这类设备的I/O都转换为数字调制方式，则数十～数百信道以上的I/O均存在于一个设备中，需要数百个同时进行测试。总之，需要具有用数千个信道进行数字调制解调信号的输入输出的测试装置，由于测试装置的CPU资源也有极限，因此要求在硬件水平上的实时测试。
除此之外，如果能够利用对测试信号进行实时测试的测试装置，则对制造者来说是非常有用的，所述测试信号通过振幅调制(AM)、频率调制(FM)、幅移键控(ASK)、相移键控(PSK)等各种方式进行调制。
本发明是鉴于这种状况而完成的，其某一实施方式的目的之一例如在于，提供能够对调制后的被测试信号进行高速测试的测试装置、测试方法。
用于解决课题的手段
本发明的一个实施方式涉及对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试的测试装置。测试装置包括：交叉定时测定部，其用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；期望值数据生成部生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示其在将被测试信号所期望的期望值波形与多个阈值进行比较时期望值波形与各阈值进行交叉的定时；比较部，其用于比较交叉定时数据与定时期望值数据。
当根据该方式时，能够基于被测试信号的电平发生变化的定时，而不是基于对被测试信号进行解调所得的基带信号，对被测试设备的好坏和被测试信号的波形质量进行评价。
本发明的另一实施方式也是测试装置。该测试装置包括：交叉定时测定部，其用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；波形再形成部，其通过接收每个阈值的交叉定时数据，并在时间方向和振幅方向进行插补，从而再次形成被测试信号的波形。
根据该方式，通过对再次形成的波形实施各种信号处理，即使不使用高价的频谱分析仪和数字化仪等，也能够用单个测试装置进行时间域、频率域的解析、以及调制解析。
此外，任意组合以上的构成要素或者在方法、装置等之间转换了本发明的特征的方案，作为本发明的实施方式都是有效的。
发明效果
根据本发明的某一实施方式，能够对调制后的被测试信号进行高速测试。
附图说明
图1为表示本发明第一实施方式的测试装置的结构框图。
图2为表示锁存器阵列(latch array)的结构例的电路图。
图3(a)为表示交叉定时数据生成部的动作的时间图；图3(b)为表示期望值波形和多个阈值以及定时期望值数据的图。
图4(a)～(c)为表示通过定时比较部进行比较处理之一例的图。
图5为表示本发明第二实施方式的测试装置的结构框图。
图6为表示各种调制波被交叉定时数据生成部采样的状态的图。
图7为表示由波形再形成部进行再次构筑的波形图。
图8为表示第一变形例的测试装置的一部分结构的框图。
图9为表示第二变形例的测试装置的结构框图。
图10为表示对电平比较部中的振幅期望值数据与判断数据进行比较处理的示意图。
具体实施方式
下面以优选实施方式为基础，并参照附图来说明本发明。对于各附图所示的同一或同等的构成要素、部件、处理，标注同一符号，并适当地省略重复说明。另外，实施方式不是对发明进行限定而只是示例，在实施方式中所记载的所有特征及其组合，并不一定是发明的实质。
实施方式所涉及的测试装置是将具有数字调制后的数字数据的发送接收接口的被测试设备(DUT)作为测试对象。即，将图像信号进行数字调制后提供给DUT，而且将从DUT输出的进行了数字调制后的数据与期望值进行比较，从而进行好坏判断。测试装置除了具有好坏判断的功能之外，还可以具有进行了数字调制后的数据的波形解析、星座图(constellation map)的生成功能等。
数字调制包括：APSK(振幅相移键控)、QAM(正交振幅调制)、QPSK(四相相移键控)、BPSK(两相相移键控)、FSK(频移键控)等。虽然假设DUT是例如以存储器和MPU为首的具有多信道的I/O端口的设备，但不受上述限制。
(第一实施方式)
图1为表示本发明第一实施方式的测试装置2的结构框图。图1的测试装置2包括按DUT1的I/O端口设置的多个I/O端子PIO。测试装置2的I/O端子PIO分别经由传输通路与DUT1对应的I/O端口相连接，并输入来自DUT1的调制后的被测试信号S1。I/O端口PIO的个数是任意的，在存储器和MPU的情况下，设置有数十～数百个以上，但在图中为了易于理解和简化说明，而仅仅表示单一的I/O端子PIO以及与此相关的数据块(block)。
测试装置2在每个I/O端子PIO上，都包括交叉定时数据生成部10、期望值数据生成部30、定时比较部40这三个功能块，下面按照顺序分别进行说明。
(1-a)交叉定时数据生成部
交叉定时数据生成部10用于生成交叉定时数据DCRS，所述交叉定时数据DCRS表示被测试信号S1的电平分别与多个阈值V0～VN(N为自然数)进行交叉的定时。
具体而言，交叉定时数据生成部10包括：多值比较器12；阈值电平设定部14；时间数字转换器16；实时定时发生器(下面也称为定时发生器)22。可以在每个交叉定时数据生成部10中设置实时定时发生器22，也可以在多个交叉定时数据生成部10中共有一个实时定时发生器22。
多值比较器12是将被测试信号S1的电平与多个阈值V0～VN进行比较，并生成表示与各个阈值V0～VN的比较结果的比较数据DCMP0～DCMPN。例如，第i(0≤i≤N)个比较数据DCMPi在S1＞Vi时为1(高电平)；在S1＜Vi时为0(低电平)。需要说明的是，高电平、低电平的分配可以相反。在本实施方式中，以等间距配置有阈值V0～VN。但是，本发明不受上述限制，根据对被测试信号S1实施的调制方式，并不一定是等间距最合适，也可以是不相等的间距。总之，只要根据DUT1的种类、调制方式等对阈值V0～VN进行适当设定即可。
此外，在该情况下，比较数据DCMP0～DCMPN是以某一比特为分界进行1和0变化(或者取全0或全1)的所谓温度计码(thermometer code)。下面，将比较数据DCMP0作为最下位比特、DCMPN作为最上位比特的(N+1)个比特的组总称为比较码DCMP。
根据被测试信号S1的调制方式来设定阈值的个数N+1即可。例如在16QAM的情况下，只要包括4比特(N＝16)左右的等级即可。在其他的调制方式中，有时2比特(N＝4)、3比特(N＝8)、5比特(N＝32)左右的等级最合适。
阈值电平设定部14用于生成阈值V0～VN。例如，阈值电平设定部14为D/A转换器，其用于生成能够根据来自外部的数字控制信号进行调节的阈值。阈值可以根据DUT1的种类、调制方式等进行动态控制，也可以预先精度良好地校准至规定值。
根据通信协议，有时容许来自DUT1的被测试信号S1的振幅变化、或容许DC偏置变化。在该情况下，阈值电平设定部14可以测定出被测试信号S1的振幅和DC偏置，并根据测定结果进行阈值V0～VN的最优化。
时间数字转换器16通过接收每个阈值V0～VN的比较数据DCMP0～DCMPN，并测定比较数据DCMP0～DCMPN分别发生变化的定时，从而生成交叉定时数据DCRS0～DCRSN。在本实施方式中，对交叉定时数据DCRS0～DCRS0由每个阈值所生成的情况进行说明。此外，在最简化的方式中，可以生成单一的交叉定时数据DCRS，所述交叉定时数据DCRS用于表示多个比较数据DCMP中的任意一个发生变化的定时。
时间数字转换器16包括锁存器阵列18和编码器20。图2为表示锁存器阵列18的结构例的电路图。
定时发生器22用于产生各边缘的相位每次以规定的采样间隔Ts进行移动的K相(K为整数)多选通信号STRB1～STRBK。采样间隔Ts可根据被测试信号S1的符号率(频率)和调制方式进行设定。例如，将采样期间Ts设定为，被测试信号S1的符号期间Tsym(符号率的倒数)的整数分之一(例如1/8倍)。即，锁存器阵列18以规定的频率对比较数据DCMP0～DCMPN进行过采样(oversampling)。
锁存器阵列18在每个比较数据DCMP0～DCMPN中分别具有K个触发器FF1～FFk。第i个比较数据DCMPi被输入到与之相对应的K个触发器中。在K个触发器的时钟端子中，分别输入K相多选通信号STRB1～STRBK。各个触发器FF1～FFk的输出数据为K比特的温度计码(下面称之为定时码TC)。例如，FF1的输出被分配为最上位比特(MSB)，FFk的输出被分配为最下位比特(LSB)。
定时发生器22以测试速率(周期TRATE)为基准，可以重复产生选通信号STRB1～STRBK。对重复的测试速率赋予标记(j)。
第i个定时码TCi表示被测试信号S1与第i个阈值Vi进行交叉的定时。具体而言，当第i个定时码TCi的值的变化点在第j个测试速率中位于上位第L比特(1≤L≤K)时，则t＝j×TRATE+(L×Ts)，并表示交叉定时(从测试开始后的经过时间)。能够通过对定时码TCi进行优先编码来计算数值L。编码器20用于接收定时码TC，并产生用于表示交叉定时t的交叉定时数据DCRS0～DCRSN。交叉定时数据DCRS0～DCRSN的数据形式是任意的，可以包括j与L一对数值。
图3(a)为表示交叉定时数据生成部10的动作的时间图。实线表示被测试信号S1；虚线表示由多值比较器12进行了数字化的比较码DCMP。此外，图3(a)表示N＝5的情况。
另外，交叉定时列t0’～ts’表示比较码DCMP的值发生变化的定时。
以上是交叉定时数据生成部10的结构和动作。需要说明的是，交叉定时数据生成部10的结构不受上述结构的限制，也可以由其他的电路形式来构成。
(1-b)期望值数据生成部
然后返回到图1，对期望值数据生成部30进行说明。
测试装置2可明确由DUT1输出的被测试信号S1是根据哪种模式数据的。将其称之为期望值或基带期望值模式。期望值模式发生器32用于产生2值的基带期望值模式PAT。期望值模式PAT是相当于1个符号的数据，其在16QAM时为4比特。期望值模式PAT的比特数根据调制方式来设定。
符号化电路34通过数字信号处理，假设以与DUT1相同的方式对基带期望值模式PAT进行数字多值调制，生成其结果所得的期望值波形S2。而且，期望值模式发生器32在将被测试信号S1所期望的期望值波形S2与多个阈值V0～VN进行比较时，通过数字信号处理来生成定时期望值数据DTEXP，所述定时期望值数据DTEXP表示期望值波形S2与各阈值V0～VN进行交叉的定时。图3(b)为表示期望值波形S2和阈值V0～VN以及定时期望值数据DTEXP的图。定时期望值数据DTEXP包括期望值交叉定时t0、t1…。
另外，符号化电路34c用于输出表示定时期望值数据DTEXP的速率的速率设定数据RATE。定时发生器22接收速率设定数据RATE，并与速率时钟同步生成选通信号STRB，所述选通信号STRB包括与该值相对应的间隔的边缘列。
(1-c)定时比较部
定时比较部40通过对交叉定时数据DCRS(t0’、t1’…)与定时期望值数据DTEXP(t0、t1、…)进行比较，来判断DUT1的好坏、或者确定其不良位置。
如果忽视量子化的误差(时间方向以及振幅方向)，则在生成了理想的被测试信号S1时，所测定出的交叉定时数据DCRS与定时期望值数据DTEXP一致。
图4(a)～(c)为表示通过定时比较部40进行比较处理之一例的图。
当通过波形变形等，测定出的交叉定时数据DCRS表示与定时期望值数据DTEXP相比偏离了允许量ΔT范围的值时，则能够判断出DUT1不良。只要设定期望值定时t的上限值与下限值的窗口，对测定出的交叉定时t’是否被包含在窗口内进行判断即可。在图4(a)中相对于阈值V3的交叉定时t8’偏离了期望值t8的范围。
图4(b)表示来自DUT1的被测试信号S1发生振幅劣化的情况。图4(c)表示被测试信号S1发生DC偏置的情况。由于振幅劣化和DC偏置，所测定出的交叉定时t’偏离了期望值定时t。因此，根据本实施方式的测试装置2，能够检测出上述不良情况。
(第二实施方式)
图5为表示本发明第二实施方式的测试装置2a的结构框图。测试装置2a包括波形再形成部50和波形解析部52来代替第一实施方式的定时比较部40，或者在第一实施方式的定时比较部40的基础上还包括波形再形成部50和波形解析部52。并省略了与图1重复的数据块的说明。
波形再形成部50用于接收每个阈值V0～VN的交叉定时数据DCRS0～DCRSN。这些数据无非是以(tk、Vi)列的形式表现出被测试信号S1。k为表示采样的标记号码的整数。另外，i(0≤i≤N)为表示阈值电平的标记号码。波形再形成部50通过在时间方向和振幅方向进行插补，从而以数字值再次形成被测试信号S1的波形。
图6为表示各种调制波被交叉定时数据生成部10采样的状态的图。一般的采样是以时间轴方向为基准进行的，而本实施方式的特点为，以振幅方向的阈值V0～VN为基准进行采样。
图7表示由波形再形成部50进行再次构筑的波形图。白色圆表示以阈值为基准进行采样的点；黑色圆表示被插补的点。波形再形成部50为能够执行线性插补、多项式插补、三次样条插补等信号处理的DSP(Digital Signal Processor(数字信号处理器))或者计算机。若考虑到后面的信号处理的方便性，则优选为，波形再形成部50沿时间轴方向等间距地对每个阈值V的交叉定时数据DCRS进行插补。将被插补的波形数据S3输入到波形解析部52中。
波形解析部52对被再次形成的波形数据S3实施信号处理，并进行被测试信号S1的时间域或频率域的解析和调制解析。例如，对波形数据S3实施傅里叶变换(快速傅里叶变换、FFT)，在变换为频率域的基础上，可以进行被测试信号S1的频谱解析和相位噪声解析(单边带相位噪声频谱解析)等。另外，在时间域上，可以进行被测试信号S1的眼图(eye diagram)解析和抖动解析。而且，当被测试信号S1是进行了调制后的信号时，可以对波形数据S3应用调制解析，并进行星座图的制作等。
根据图5的测试装置2a，即使不使用频谱分析仪和数字化仪，也能够用单个测试装置进行时间域、频率域的解析、以及调制解析。
综上所述，以实施方式为基础对本发明进行了说明。本实施方式仅是示例，在上述的各个构成要素和各处理过程的组合上可以有各种变形例，而且本领域的技术人员也明白上述的变形例在本发明的范围内。下面对这些变形例进行说明。
(第一变形例)
图8为表示第一变形例的测试装置2b的一部分结构的框图。这些变形例也能够应用于图1的测试装置2以及图5的测试装置2a中的任一实施方式。由于位于多值比较器12后面的结构与图1或图5或其组合的装置相同，因而被省略。
测试装置2b在多值比较器12前面包括电平调节部13。电平调节部13具有能使被测试信号S1的振幅成分和DC偏置中的至少一个发生变化的功能，可以由可变衰减器、可变放大器和电平移位器(level shifter)中的任意一个、或它们的组合来构成电平调节部13。电平调节部13对被测试信号S1的峰值电压、振幅、DC偏置等进行测定，并由此控制衰减率、增益、偏置量。该控制可以利用所谓的AGC(Automatic Gain Control(自动增益控制))电路。
根据该变形例，当允许被测试信号S1发生振幅变化和DC偏置变化时，能够在排除了这些影响的状态下对DUT1进行评价。
(第二变形例)
图9为表示第二变形例的测试装置2c的结构框图。图9的变形例为，在图1、图5的构成要素的基础上，还包括再定时处理部70以及电平比较部72。
如上所述，定时比较部40用于判断被测试信号S1与某个阈值电平进行交叉的定时是否与期望值一致。而电平比较部72用于判断在被测试信号S1的某个定时的振幅电平是否与期望值一致。
期望值数据生成部30c包括期望值模式发生器32以及符号化电路34c。期望值模式发生器32用于生成表示来自DUT1的期望值数据的期望值模式PAT。
符号化电路34c接收期望值模式PAT，并对其进行符号化，从而除了生成定时期望值数据DTEXP，还生成了振幅期望值数据DAEXP。定时期望值数据DTEXP的符号化处理如上所述。振幅期望值数据DAEXP的生成处理如下执行。
1.在规定间距的每个采样点，对根据期望值模式PAT的被调制信号波形进行量子化处理。该量子化是假想的，不需要在符号化电路34c中实际生成被调制信号波形。
2.生成表示在被调制信号波形的每个采样点的振幅电平属于多个振幅段SEG0～SEGN+1中的哪一个的振幅期望值数据DAEXP。
可以通过从存储器中读取按期望值模式PAT的每个值预先准备的振幅期望值数据DAEXP，进行符号化处理。或者，可以通过数值的演算处理进行符号化处理。
多值比较器12、阈值电平设定部14、锁存器阵列18和再定时处理部70将被测试信号S1转换为能够与振幅期望值数据DAEXP进行比较的信号形式。在本说明书中，将该转换处理称为解调，其与通过混合频率来提取基带信号的一般的解调处理不同。
多值比较器12用于将被测试信号S1与阈值V0～VN进行比较，来生成多个比较数据DCMP0～DCMPN，所述阈值V0～VN用于规定多个振幅段SEG0～SEGN+1的边界。
阈值电平设定部14根据振幅段数、输入的被测试信号S1的电压范围和调制方式，来设定多值比较器12的阈值电平。
锁存器阵列18与图1和图5所示的锁存器阵列18进行相同的动作。即、在选通信号STRB规定的每个采样定时锁存由多值比较器12输出的比较数据DCMP0～DCMPN。
由锁存器阵列18锁存的数据(下面称为判断数据)TC0～TCN表示在各采样定时，被测试信号S1属于第几个振幅段数。
再定时处理部70用于接收由锁存器阵列18锁存的判断数据TC0～TCN。再定时处理部70为了与后面的电平比较部72进行同步处理，将判断数据TC0～TCN进行再定时处理，使其与振幅期望值数据DAEXP的速率一致。
符号化电路34c输出振幅期望值数据DAEXP的同时，也输出用于表示采样点的时间间隔的定时数据TD。定时发生器70生成包括脉冲边缘列PE1的选通信号STRB，所述脉冲边缘列PE1具有与定时数据TD相对应的间隔。
符号化电路34c用于输出表示振幅期望值数据DAEXP的速率的速率设定数据RATE。定时发生器70接收速率设定数据RATE，并生成具有与该值对应的频率的第二脉冲边缘列PE2。再定时处理部70用于使来自锁存器阵列18的多个判断数据TC0～TCN与第二脉冲边缘列PE2的定时同步。
电平比较部72接收由再定时处理部68进行再定时的判断数据TC0～TCN和振幅期望值数据DAEXP，根据这些数据，在各采样定时对来自DUT1的被测试信号S1的振幅是否属于所期望的振幅段进行判断。
以上是测试装置2c的结构，之后说明其动作。
图10为表示在电平比较部72中，对振幅期望值数据和判断数据进行比较处理的示意图。在图10中，实线的波形表示被测试信号S1。振幅被分割为多段SEG0～SEGN+1。
单点划线表示与所期望符号的被调制信号波形、即期望值波形S2对应的窗口，由振幅期望值数据DAEXP进行定义。在16QAM的情况下，从符号化电路34c输出了振幅期望值数据DAEXP，所述振幅期望值数据DAEXP对与16个符号相对应的窗口进行定义。可以根据调制方式、格雷编码等符号化方式、预期的振幅误差、相位误差，来设定每个符号的窗口。图10表示与符号(0100)相对应的期望值窗口。
电平比较部72对用于定义窗口的振幅期望值数据DAEXP和判断数据TC0～TCN表示的被测试信号S1的振幅电平进行比较。其结果为，能够判断出被测试信号S1的符号是否与期望值一致。
如脉冲边缘PE1a所示，可以将1个采样定时配置在窗口的时间宽度Tw的中央。或者如脉冲边缘PE1b所示，可以配置在窗口的两端。在这种情况下，能够实施如文字所示的窗口测试。而且，如PE1所示，可以将脉冲边缘的频率尽可能设定得较高，对被测试信号S1进行高级的数字化转换。
以上是测试装置2c的动作。根据该测试装置2c，能够从时间轴方向和振幅方向的两方面来评价被测试信号S1。
另外，在图1中增加了再定时处理部70和电平比较部72的结构、在图5中增加了再定时处理部70和电平比较部72的结构，作为本发明的实施方式都是有效的。
(其他的变形例)
在实施方式中，关于对DUT1和测试装置2进行连接的传输线路，不管其是有线还是无线都可以。另外，本发明的测试装置不但能够用于调制后的信号，而且也能够用于各种模拟信号的全部测试。
一般来自DUT1的被测试信号S1与测试装置2内部的速率时钟同步生成。在这种情况下，定时发生器22向锁存器阵列18提供的选通信号(脉冲边缘列)STRB可以与速率时钟同步生成。
如果被测试信号S1不与速率时钟同步生成，可以在被测试信号S1的始端预先插入作为训练序列的前置数据(preamble data)，利用训练序列再生基准时钟，并且与再生后的基准时钟同步地生成选通信号STRB。
虽然根据实施方式对本发明进行了说明，但实施方式仅表示了本发明的原理、应用，关于实施方式，在不脱离由权利要求书规定的本发明思想的范围内，可以包括很多变形例和配置的变更。
附图标记的说明
Figure BPA00001515028200121
产业上的可利用性
本发明能够用于测试装置。

Claims (10)

1.一种测试装置，其对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试，其特征在于，包括：
交叉定时测定部，其用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；
期望值数据生成部，其用于生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将所述被测试信号所期望的期望值波形与所述多个阈值进行比较时所述期望值波形与各阈值进行交叉的定时；
比较部，其用于比较所述交叉定时数据与所述定时期望值数据。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述交叉定时测定部包括：
多值比较器，其是将所述被测试信号的电平与所述多个阈值进行比较，并生成按各个阈值表示比较结果的比较数据；
时间数字转换器，其通过接收每个所述阈值的所述比较数据，并测定所述比较数据发生变化的定时，从而生成所述交叉定时数据。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述时间数字转换器包括：
锁存器阵列，其以规定的频率，对来自所述多值比较器的比较数据进行采样；
编码器，其根据由所述锁存器阵列输出的锁存数据，来生成所述交叉定时数据。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的测试装置，其特征在于，还包括波形再形成部，其通过接收每个阈值的所述交叉定时数据，并在时间方向和振幅方向进行插补，从而再次形成所述被测试信号的波形。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述波形再形成部沿时间轴方向等间距地对每个阈值的所述交叉定时数据进行插补。
6.一种方法，其对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试，其特征在于，包括以下步骤：
生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；
生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将所述被测试信号所期望的期望值波形与所述多个阈值进行比较时所述期望值波形与各阈值进行交叉的定时；
对所述交叉定时数据与所述定时期望值数据进行比较。
7.一种测试装置，其对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试，其特征在于，包括：
交叉定时测定部，其用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；
波形再形成部，其通过接收每个阈值的所述交叉定时数据，并在时间方向和振幅方向进行插补，从而再次形成所述被测试信号的波形。
8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，还包括波形解析部，其对由所述波形再形成部再次形成的所述被测试信号的波形进行解析。
9.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述波形再形成部沿时间轴方向等间距地对每个阈值的所述交叉定时数据进行插补。
10.一种方法，其是对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：
生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；
通过接收每个阈值的所述交叉定时数据，并在时间方向和振幅方向进行插补，从而再次形成所述被测试信号的波形。
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