CN102240967A - 可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术 - Google Patents

可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术 Download PDF

Info

Publication number
CN102240967A
CN102240967A CN2011101755823A CN201110175582A CN102240967A CN 102240967 A CN102240967 A CN 102240967A CN 2011101755823 A CN2011101755823 A CN 2011101755823A CN 201110175582 A CN201110175582 A CN 201110175582A CN 102240967 A CN102240967 A CN 102240967A
Authority
CN
China
Prior art keywords
zinc oxide
single crystal
oxide single
polishing
grinding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2011101755823A
Other languages
English (en)
Inventor
林文文
黄丰
林璋
林钟潮
黄嘉魁
陈达贵
陈赛英
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujian Institute of Research on the Structure of Matter of CAS
Original Assignee
Fujian Institute of Research on the Structure of Matter of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujian Institute of Research on the Structure of Matter of CAS filed Critical Fujian Institute of Research on the Structure of Matter of CAS
Priority to CN2011101755823A priority Critical patent/CN102240967A/zh
Publication of CN102240967A publication Critical patent/CN102240967A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

本发明提供了一种满足光电器件外延生长的氧化锌单晶衬底的抛光技术,通过了单晶粗磨、粘片上盘、机械粗磨、机械精磨、机械粗抛,化学机械精抛、清洗和封装这些步骤获得了表面10μm×10μm范围内表面均方根粗糙度小于1nm的氧化锌单晶衬底。此发明涉及到氧化锌单晶衬底粘片过程中所使用的粘结剂、粘片技术和下盘技术,研磨和抛光过程中所使用的研磨液、抛光液和研磨厚度控制技术。利用此发明所获取的氧化锌单晶衬底可以用以外延生长半导体光电器件。

Description

可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术
技术领域
本发明涉及可满足同质外延/近失配外延生长半导体薄膜的ZnO单晶衬底抛光方法。
背景技术
氧化锌是一种直接带隙的Ⅱ-Ⅵ族宽禁带化合物半导体材料,具有禁带宽度大(3.37 eV)、激子结合能高(60 meV)、可进行湿化学刻蚀等优异特性,在光电子器件如高效发光二极管(LED)、激光二极管(LD)、紫外探测器、大功率微波器件、透明电极以及太阳能电池等方面有着广阔的应用前景,它的应用将会带来数字化存储、探测与通讯技术的革命,并将彻底改变人类传统照明历史。此外,ZnO 材料还具有优异的压电特性和气敏特性,可用于制备高性能的声换能器,声表面波器件(SAW)和可燃气体传感器件。
目前蓝宝石和SiC单晶是ZnO/GaN薄膜外延最常用的衬底,然而,由于大的晶格失配和不同的热膨胀系数,异质外延出来的ZnO/GaN基薄膜光电器件具有比较高的缺陷密度, 通常认为,高浓度的缺陷会引入非辐射复合中心,从而严重影响光电器件的发光性能。同质外延/近失配外延方法有望获取高质量的外延薄膜,进而提高光电器件性能,因此,ZnO单晶材料的同质外延/近失配外延有可能解决ZnO/GaN基光电子器件研究中的这一关键问题.成为目前国际上这一领域的研究重点。对于单晶衬底材料来说,其表面平整程度对于外延薄膜质量影响重大,获取超光滑表面是提高外延薄膜质量的先决条件。目前,化学机械抛光技术已经成功应用在蓝宝石、硅等单晶衬底上,人们在这些单晶衬底上超光滑的表面上获取了高质量的外延薄膜,因此,使用化学机械抛光技术也有望在ZnO单晶衬底上获取超光滑表面,进而提高ZnO单晶衬底上外延薄膜的质量。
发明内容
本发明的目的在于提供一种氧化锌单晶衬底的抛光技术,以获取超光滑表面以用于同质外延/近失配外延薄膜生长。
本发明的技术解决方案如下:
一种氧化锌单晶衬底的抛光方法,包括以下流程:
1)单晶粗磨:使用320~500 Cw的砂纸对切割好的,厚度为1.0 mm左右的氧化锌单晶的表面进行人工粗磨,所述的氧化锌晶片表面无切割锯痕;
2)粘片上盘:使用320~500 Cw的砂纸将粗磨好的,厚度为0.8 mm左右的氧化锌晶片进行倒角(倒角位置见附图1),将倒角好的晶片放在控温/冷却加压粘片机的平台上进行加热,加热温度为80-110 ℃,再使用加热的专用粘结剂趁热涂抹在晶片上表面,最后用直径为9 cm的圆柱形不锈钢压饼压在晶片上,晶片所受到的压力为100~200 g/cm2;保温5 min后,冷却,将粘有氧化锌晶片的不锈钢压饼放在精密研磨抛光机。
3)机械粗磨:在精密研磨抛光机a上,采用铸铁研磨盘研磨,研磨压力为100~200 g/cm2;研磨盘转速为30-84 r/min,,采用平均粒径为10μm的SiC磨料离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为10~40 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面无磨料划痕,厚度达到0.65 mm;
4)机械细磨:在精密研磨抛光机b上,采用聚氨酯抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,研磨液采用平均粒径为7 μm的Al2O3磨料和去离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为30~60 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面表面光亮、疏水性好,无划痕,厚度达到0.60 mm左右;
5)机械粗抛:在精密研磨抛光机c上,采用聚氨酯抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,研磨液采用pH值为9,平均粒径为3.5 μm的CeO2磨料和去离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为30~60 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面无凹坑、无云雾状、无弧坑、波纹和桔皮,厚度达到0.55 mm左右;
6)化学机械精抛:在精密研磨抛光机d上,采用无纺布抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,抛光液采用平均粒径为50 nm的SiO2乳浊液,抛光液的流速为5~25 ml/min,抛光时间为60~90 min,所述的氧化锌单晶要求达到在原子力显微镜下观测无划痕,10 μm×10 μm范围内表面均方根粗糙度小于1 nm,而且厚度为0.485~0.515 mm;
7)清洗:在100级洁净室,将粘有化学机械抛光完毕的氧化锌单晶的不锈钢压饼放在控温/冷却加压粘片机上,均匀加热,控制温度为90~120 ℃,待粘结剂熔化后,用镊子取出氧化锌单晶放入温度为50-60 ℃的汽油内浸泡10 min,以除去单晶表面粘附的剩余粘结剂,接着放入温度为50-60 ℃的无水酒精内,超声清洗10~15 min,再用去离子水淋洗3~4 min,最后使用纯度为99.99%的氩气吹干;
8)封装:在100 级洁净室,放入弹性膜盒,被二层透明高弹性保护膜紧紧的悬空固定。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的专用粘结剂是由化学式为C20H30O2的松香和酯化蜡组成,其重量比为1:1~1:1.4。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于氧化锌单晶的Zn面先抛光,O面后抛光。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于氧化锌单晶先粘结在一块稍大于单晶的、厚度为0.2 mm的铜片上,再把带有氧化锌单晶的铜片粘结在圆柱形不锈钢压饼上(见附图2)。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于多块氧化锌单晶在一块圆柱形压饼压力作用下同时在研磨盘上进行抛光
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于圆柱形不锈钢压饼边缘上粘结好硬度大于氧化锌单晶、厚度和氧化锌单晶等同的三块玻璃片(见附图3),玻璃片起到均匀多块氧化锌单晶减薄速度。
所述的氧化锌单晶下盘方法,其特征在于在加热情况下使用镊子推动粘有氧化锌单晶的铜片,再加热后从铜片上取走氧化锌单晶(附图4)。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的平均粒径为10 μm的SiC磨料离子水悬浊液,其成分是SiC和去离子水,两者重量为1:5~1:10。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的平均粒径为7 μm的Al2O3磨料离子水悬浊液,其成分是Al2O3和去离子水,两者重量为1:5~1:10。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的pH值为9,平均粒径为3.5 μm的CeO2磨料离子水悬浊液,其成分是CeO2和溶有KOH的去离子水,两者重量为1:5~1:10,
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的pH值为10,平均粒径为50 nm的SiO2乳浊液,其成分是SiO2胶粒和溶有KOH的去离子水,SiO2的重量比为 32%(wt)。
本发明的技术效果:
    利用本发明方法对氧化锌单晶进行抛光,得到表面光滑和洁净的氧化锌单晶衬底,符合外延的光电薄膜器件对衬底平整度的要求。所述的表面光滑指的是表面10 μm×10 μm范围内表面均方根粗糙度小于1 nm(附图5);所述的表面洁净指的是晶片结晶度为100级,开盒即可用。
附图说明
附图1为氧化锌单晶倒角示意图;
附图2为氧化锌单晶粘片上盘示意图;
附图3为三块等厚玻璃片粘盘位置示意图;
附图4为氧化锌单晶下盘示意图;
附图5为抛光完的氧化锌单晶原子力显微镜形貌图(10 μm×10 μm范围内表面均方根粗糙度小于0.5 nm,30 μm×30 μm范围内表面均方根粗糙度小于1 nm)。
具体实施方式
本发明提供的可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光方法具体步骤如下:
1)单晶粗磨:使用320~500 Cw的砂纸对切割好的,厚度为1.0 mm左右的氧化锌单晶的表面进行人工粗磨,所述的氧化锌晶片表面无切割锯痕;
2)粘片上盘:使用320~500 Cw的砂纸将粗磨好的,厚度为0.8 mm左右的氧化锌晶片进行倒角(倒角位置见附图1),将倒角好的晶片放在控温/冷却加压粘片机的平台上进行加热,加热温度为80-110 ℃,再使用加热的专用粘结剂趁热涂抹在晶片上表面,最后用直径为9 cm的圆柱形不锈钢压饼压在晶片上,晶片所受到的压力为100~200 g/cm2;保温5 min后,冷却,将粘有氧化锌晶片的不锈钢压饼放在精密研磨抛光机。
3)机械粗磨:在精密研磨抛光机a上,采用铸铁研磨盘研磨,研磨压力为100~200 g/cm2;研磨盘转速为30-84 r/min,,采用平均粒径为10μm的SiC磨料离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为10~40 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面无磨料划痕,厚度达到0.65 mm;
4)机械细磨:在精密研磨抛光机b上,采用聚氨酯抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,研磨液采用平均粒径为7 μm的Al2O3磨料和去离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为30~60 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面表面光亮、疏水性好,无划痕,厚度达到0.60 mm左右;
5)机械粗抛:在精密研磨抛光机c上,采用聚氨酯抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,研磨液采用pH值为9,平均粒径为3.5 μm的CeO2磨料和去离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为30~60 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面无凹坑、无云雾状、无弧坑、波纹和桔皮,厚度达到0.55 mm左右;
6)化学机械精抛:在精密研磨抛光机d上,采用无纺布抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,抛光液采用平均粒径为50 nm的SiO2乳浊液,抛光液的流速为5~25 ml/min,抛光时间为60~90 min,所述的氧化锌单晶要求达到在原子力显微镜下观测无划痕,10 μm×10 μm范围内表面均方根粗糙度小于1 nm,而且厚度为0.485~0.515 mm;
7)清洗:在100级洁净室,将粘有化学机械抛光完毕的氧化锌单晶的不锈钢压饼放在控温/冷却加压粘片机上,均匀加热,控制温度为90~120 ℃,待粘结剂熔化后,用镊子取出氧化锌单晶放入温度为50-60 ℃的汽油内浸泡10 min,以除去单晶表面粘附的剩余粘结剂,接着放入温度为50-60 ℃的无水酒精内,超声清洗10~15 min,再用去离子水淋洗3~4 min,最后使用纯度为99.99%的氩气吹干;
8)封装:在100 级洁净室,放入弹性膜盒,被二层透明高弹性保护膜紧紧的悬空固定。
所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的专用粘结剂是由化学式为C20H30O2的松香和酯化蜡组成,其重量比为1:1~1:1.4。
 
根据上述实验步骤,通过改变技术参数列出以下4个实施例。
1)              单晶粗磨:要求氧化锌晶片表面无切割锯痕
项目 方案1 方案2 方案3 方案4
砂纸规格(Cw) 320 400 500 400
手工粗磨时间(min) 25 30 35 40
2)粘片上盘:要求氧化锌单晶和铜片粘结牢固
项目 方案1 方案2 方案3 方案4
加热温度(℃) 80 85 100 110
加热时间(min) 10 8 6 4
冷却时间(min) 6 8 12 15
粘片压力(g/cm2 100 125 150 200
保温时间(min) 5 7 8 10
3)              机械粗磨:
项目 方案1 方案2 方案3 方案4
研磨压力(g/cm2 100 125 175 200
研磨盘转速(r/min) 30 45 60 80
研磨液流速(mL/min) 20 25 30 45
研磨时间(min) 12 25 30 40
SiC:H2O重量比 1:5 1:7 1:8 1:10
4)              机械细磨:
项目 方案1 方案2 方案3 方案4
研磨压力(g/cm2 130 150 170 180
研磨盘转速(r/min) 50 60 70 80
研磨液流速(mL/min) 20 25 35 45
研磨时间(min) 35 45 50 60
Al2O3:H2O重量比 1:5 1:7 1:8 1:10
5)              机械粗抛:
项目 方案1 方案2 方案3 方案4
研磨压力(g/cm2 130 150 170 180
研磨盘转速(r/min) 50 60 70 80
研磨液流速(mL/min) 20 25 35 45
研磨液pH值 9 9.5 10 10
研磨时间(min) 30 45 50 60
CeO2:H2O重量比 1:5 1:7 1:8 1:10
6)              化学机械精抛:
项目 方案1 方案2 方案3 方案4
研磨压力(g/cm2 130 150 170 180
研磨盘转速(r/min) 50 60 70 80
研磨液流速(mL/min) 15 25 35 40
研磨液pH值 9 9.5 10 10
研磨时间(min) 60 70 80 90
10 μm×10 μm范围内表面均方根粗糙度(nm) 0.567 0.635 0.623 0.299
30 μm×30 μm范围内表面均方根粗糙度(nm) 0.951 0.967 0.958 0.916
7)              清洗:
项目 方案1 方案2 方案3 方案4
加热温度(℃) 90 95 108 120
汽油温度(℃) 50 55 60 60
汽油浸泡时间(min) 10 12 17 20
超声清洗时间(min) 10 12 14 15
去离子水淋洗时间(min) 1 2 3 4
   经过原子力显微镜测试其表面平整度,表明经过此方法抛光过的氧化锌单晶在10 μm×10 μm范围内表面均方根粗糙度小于1 nm,洁净度为100级,此衬底单晶可用以外延光电薄膜器件。
同理,根据权利要求限定的保护范围和本说明书给出的技术解决方案,还能给出多个实施案例,都属于本发明的保护范围。 

Claims (10)

1.一种氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于包括下列步骤;
1)单晶粗磨:使用320~500 Cw的砂纸对切割好的,厚度为1.0 mm左右的氧化锌单晶的表面进行人工粗磨,所述的氧化锌晶片表面无切割锯痕;
2)粘片上盘:使用320~500 Cw的砂纸将粗磨好的,厚度为0.8 mm左右的氧化锌晶片进行倒角,将倒角好的晶片放在控温/冷却加压粘片机的平台上进行加热,加热温度为80-110 ℃,再使用加热的专用粘结剂趁热涂抹在晶片上表面,最后用直径为9 cm的圆柱形不锈钢压饼压在晶片上,晶片所受到的压力为100~200 g/cm2;保温5 min后,冷却,将粘有氧化锌晶片的不锈钢压饼放在精密研磨抛光机;
3)机械粗磨:在精密研磨抛光机a上,采用铸铁研磨盘研磨,研磨压力为100~200 g/cm2;研磨盘转速为30-84 r/min,,采用平均粒径为10μm的SiC磨料离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为10~40 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面无磨料划痕,厚度达到0.65 mm;
4)机械细磨:在精密研磨抛光机b上,采用聚氨酯抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,研磨液采用平均粒径为7 μm的Al2O3磨料和去离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为30~60 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面表面光亮、疏水性好,无划痕,厚度达到0.60 mm左右;
5)机械粗抛:在精密研磨抛光机c上,采用聚氨酯抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,研磨液采用pH值为9,平均粒径为3.5 μm的CeO2磨料和去离子水悬浊液,研磨液的流速为15~45 ml/min,研磨时间为30~60 min,所述的氧化锌单晶要求达到表面无凹坑、无云雾状、无弧坑、波纹和桔皮,厚度达到0.55 mm左右;
6)化学机械精抛:在精密研磨抛光机d上,采用无纺布抛光盘作为研磨平台,研磨压力为130~180 g/ cm2,抛光盘转速为30-84 r/min,抛光液采用平均粒径为50 nm的SiO2乳浊液,抛光液的流速为5~25 ml/min,抛光时间为60~90 min,所述的氧化锌单晶要求达到在原子力显微镜下观测无划痕,10 μm×10 μm范围内表面均方根粗糙度小于1 nm,而且厚度为0.485~0.515 mm;
7)清洗:在100级洁净室,将粘有化学机械抛光完毕的氧化锌单晶的不锈钢压饼放在控温/冷却加压粘片机上,均匀加热,控制温度为90~120 ℃,待粘结剂熔化后,用镊子取出氧化锌单晶放入温度为50-60 ℃的汽油内浸泡10 min,以除去单晶表面粘附的剩余粘结剂,接着放入温度为50-60 ℃的无水酒精内,超声清洗10~15 min,再用去离子水淋洗3~4 min,最后使用纯度为99.99%的氩气吹干;
8)封装:在100 级洁净室,放入弹性膜盒,被二层透明高弹性保护膜紧紧的悬空固定。
2. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的专用粘结剂是由化学式为C20H30O2的松香和酯化蜡组成,其重量比为1:1~1:1.4。
3. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于氧化锌单晶的Zn面先抛光,O面后抛光。
4. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于氧化锌单晶先粘结在一块稍大于单晶的、厚度为0.2 mm的铜片上,再把带有氧化锌单晶的铜片粘结在圆柱形不锈钢压饼上。
5. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于多块氧化锌单晶在一块圆柱形压饼压力作用下同时在研磨盘上进行抛光。
6. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于圆柱形不锈钢压饼边缘上粘结好硬度大于氧化锌单晶、厚度和氧化锌单晶等同的三块玻璃片,玻璃片起到均匀多块氧化锌单晶减薄速度。
7. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的平均粒径为10 μm的SiC磨料离子水悬浊液,其成分是SiC和去离子水,两者重量为1:5~1:10。
8. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的平均粒径为7 μm的Al2O3磨料离子水悬浊液,其成分是Al2O3和去离子水,两者重量为1:5~1:10。
9. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的pH值为9,平均粒径为3.5 μm的CeO2磨料离子水悬浊液,其成分是CeO2和溶有KOH的去离子水,两者重量为1:5~1:10。
10. 根据权利要求1所述的氧化锌单晶衬底的抛光方法,其特征在于所述的pH值为10,平均粒径为50 nm的SiO2乳浊液,其成分是SiO2胶粒和溶有KOH的去离子水,SiO2的重量比为 32%(wt)。
CN2011101755823A 2011-06-24 2011-06-24 可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术 Pending CN102240967A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011101755823A CN102240967A (zh) 2011-06-24 2011-06-24 可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011101755823A CN102240967A (zh) 2011-06-24 2011-06-24 可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102240967A true CN102240967A (zh) 2011-11-16

Family

ID=44959309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2011101755823A Pending CN102240967A (zh) 2011-06-24 2011-06-24 可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102240967A (zh)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102729132A (zh) * 2012-06-25 2012-10-17 中国科学院上海技术物理研究所 一种无蜡研磨精抛碲锌镉晶片的方法
CN102990503A (zh) * 2012-11-09 2013-03-27 中国电子科技集团公司第四十六研究所 用于CdS晶片的抛光方法
CN103231302A (zh) * 2013-04-12 2013-08-07 同济大学 一种获取超光滑表面低亚表面损伤晶体的方法
CN103286672A (zh) * 2012-02-29 2013-09-11 上海硅酸盐研究所中试基地 快速获得具有原子台阶表面的SiC晶片抛光方法
CN103692336A (zh) * 2013-12-18 2014-04-02 电子科技大学 一种制备用于热释电探测器的钽酸锂晶片的方法
CN104319319A (zh) * 2014-10-31 2015-01-28 广东德力光电有限公司 一种led芯片的研切方法
CN105269450A (zh) * 2015-10-22 2016-01-27 盐城工学院 氧化镓衬底的超精密加工方法
CN106098868A (zh) * 2016-07-06 2016-11-09 湘能华磊光电股份有限公司 一种led芯片的加工和清洗方法
CN106098865A (zh) * 2016-06-27 2016-11-09 山东浪潮华光光电子股份有限公司 一种改善led用蓝宝石衬底研磨掉边的方法
CN108237442A (zh) * 2016-12-23 2018-07-03 蓝思科技(长沙)有限公司 一种超薄陶瓷指纹识别片的加工工艺
CN110625460A (zh) * 2019-09-18 2019-12-31 北京遥测技术研究所 一种晶圆级异质结构的平坦化工艺方法
CN110788739A (zh) * 2019-10-31 2020-02-14 云南北方昆物光电科技发展有限公司 一种锑化铟单晶片的抛光方法
CN111785611A (zh) * 2020-08-07 2020-10-16 厦门陆远科技有限公司 一种薄硅片的制作方法
CN112894591A (zh) * 2021-01-14 2021-06-04 沈阳航空航天大学 一种针对航空金属材料的抛光工艺
CN113752093A (zh) * 2020-06-05 2021-12-07 化大兰天密封技术(天津)有限公司 一种碳化硅研磨抛光方法
CN114396880A (zh) * 2021-12-01 2022-04-26 杭州鸿星电子有限公司 一种标准化的smd石英晶体振荡器检测方法
CN116372781A (zh) * 2023-04-20 2023-07-04 山东欣立得光电科技有限公司 一种led屏幕衬底自动化清洗抛光系统

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1457506A (zh) * 2001-02-20 2003-11-19 日立化成工业株式会社 抛光剂及基片的抛光方法
JP2005057054A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp 半導体ウェーハおよびその製造方法
JP2007103427A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Tokyo Denpa Co Ltd 酸化亜鉛単結晶基板の製造方法
CN101125416A (zh) * 2007-09-14 2008-02-20 中国科学院上海光学精密机械研究所 氧化锌单晶衬底级基片的抛光方法
CN101130229A (zh) * 2006-08-22 2008-02-27 北京有色金属研究总院 一种磷化镓晶片双面抛光方法
CN101602185A (zh) * 2009-06-22 2009-12-16 中国科学院上海硅酸盐研究所 碳化硅单晶表面多级化学机械抛光方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1457506A (zh) * 2001-02-20 2003-11-19 日立化成工业株式会社 抛光剂及基片的抛光方法
JP2005057054A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp 半導体ウェーハおよびその製造方法
JP2007103427A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Tokyo Denpa Co Ltd 酸化亜鉛単結晶基板の製造方法
CN101130229A (zh) * 2006-08-22 2008-02-27 北京有色金属研究总院 一种磷化镓晶片双面抛光方法
CN101125416A (zh) * 2007-09-14 2008-02-20 中国科学院上海光学精密机械研究所 氧化锌单晶衬底级基片的抛光方法
CN101602185A (zh) * 2009-06-22 2009-12-16 中国科学院上海硅酸盐研究所 碳化硅单晶表面多级化学机械抛光方法

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103286672A (zh) * 2012-02-29 2013-09-11 上海硅酸盐研究所中试基地 快速获得具有原子台阶表面的SiC晶片抛光方法
CN103286672B (zh) * 2012-02-29 2015-11-04 上海硅酸盐研究所中试基地 快速获得具有原子台阶表面的SiC晶片抛光方法
CN102729132A (zh) * 2012-06-25 2012-10-17 中国科学院上海技术物理研究所 一种无蜡研磨精抛碲锌镉晶片的方法
CN102990503A (zh) * 2012-11-09 2013-03-27 中国电子科技集团公司第四十六研究所 用于CdS晶片的抛光方法
CN102990503B (zh) * 2012-11-09 2015-07-29 中国电子科技集团公司第四十六研究所 用于CdS晶片的抛光方法
CN103231302A (zh) * 2013-04-12 2013-08-07 同济大学 一种获取超光滑表面低亚表面损伤晶体的方法
CN103231302B (zh) * 2013-04-12 2015-04-29 同济大学 一种获取超光滑表面低亚表面损伤晶体的方法
CN103692336A (zh) * 2013-12-18 2014-04-02 电子科技大学 一种制备用于热释电探测器的钽酸锂晶片的方法
CN104319319A (zh) * 2014-10-31 2015-01-28 广东德力光电有限公司 一种led芯片的研切方法
CN105269450B (zh) * 2015-10-22 2017-12-22 盐城工学院 氧化镓衬底的超精密加工方法
CN105269450A (zh) * 2015-10-22 2016-01-27 盐城工学院 氧化镓衬底的超精密加工方法
CN106098865A (zh) * 2016-06-27 2016-11-09 山东浪潮华光光电子股份有限公司 一种改善led用蓝宝石衬底研磨掉边的方法
CN106098868A (zh) * 2016-07-06 2016-11-09 湘能华磊光电股份有限公司 一种led芯片的加工和清洗方法
CN108237442A (zh) * 2016-12-23 2018-07-03 蓝思科技(长沙)有限公司 一种超薄陶瓷指纹识别片的加工工艺
CN110625460A (zh) * 2019-09-18 2019-12-31 北京遥测技术研究所 一种晶圆级异质结构的平坦化工艺方法
CN110788739A (zh) * 2019-10-31 2020-02-14 云南北方昆物光电科技发展有限公司 一种锑化铟单晶片的抛光方法
CN113752093A (zh) * 2020-06-05 2021-12-07 化大兰天密封技术(天津)有限公司 一种碳化硅研磨抛光方法
CN111785611A (zh) * 2020-08-07 2020-10-16 厦门陆远科技有限公司 一种薄硅片的制作方法
CN112894591A (zh) * 2021-01-14 2021-06-04 沈阳航空航天大学 一种针对航空金属材料的抛光工艺
CN114396880A (zh) * 2021-12-01 2022-04-26 杭州鸿星电子有限公司 一种标准化的smd石英晶体振荡器检测方法
CN116372781A (zh) * 2023-04-20 2023-07-04 山东欣立得光电科技有限公司 一种led屏幕衬底自动化清洗抛光系统
CN116372781B (zh) * 2023-04-20 2023-11-07 山东欣立得光电科技有限公司 一种led屏幕衬底自动化清洗抛光系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102240967A (zh) 可用于光电器件衬底的氧化锌单晶抛光技术
CN100469531C (zh) 氧化锌单晶衬底级基片的抛光方法
CN103921205B (zh) 一种6英寸铌酸锂晶片或钽酸锂晶片的生产工艺
CN101673668B (zh) 一种氮化镓晶体抛光的方法
CN102172879B (zh) 基于固结磨料抛光垫的软脆lbo晶体的加工方法
CN102107391A (zh) 一种SiC单晶晶片的加工方法
CN101378002A (zh) 一种用于GaN外延的衬底的加工方法
CN103231302B (zh) 一种获取超光滑表面低亚表面损伤晶体的方法
Huo et al. Nanogrinding of SiC wafers with high flatness and low subsurface damage
CN104465363B (zh) 一种利用合成树脂锡盘的碳化硅单晶片化学机械抛光方法
TW200933736A (en) Method for the producing a semiconductor structure
CN106784189B (zh) 单晶氧化镓衬底基片表面原子级台阶结构的制备方法
CN110314896A (zh) 一种半导体衬底材料抛光方法
JP2016139751A (ja) サファイア基板の研磨方法及び得られるサファイア基板
CN105161397B (zh) 一种异形半导体晶片、制备方法及晶片支承垫
CN109988510A (zh) 一种抛光液及其制备方法和碳化硅晶体的加工方法
CN109972204A (zh) 超薄超平晶片和制备该超薄超平晶片的方法
CN110788739A (zh) 一种锑化铟单晶片的抛光方法
CN101174597A (zh) GaN单晶衬底和GaN单晶衬底的表面加工方法
CN106129220B (zh) 一种led芯片的制作方法及其制作设备
CN102837227A (zh) 一种液体抛光单晶硅片的方法
JP6327519B2 (ja) 炭化珪素単結晶基板の加工方法、及び治具付き炭化珪素単結晶基板
CN102303268A (zh) 一种软脆薄膜超光滑无损伤纳米磨削加工方法
CN106711032B (zh) 适用于硬脆易解理单晶氧化镓晶片的高效低损伤研磨方法
CN109551312A (zh) 一种钛宝石的表面冷加工方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20111116