CN102233334B - 电子组件测试分类机的测试装置 - Google Patents

Abstract

一种电子组件测试分类机的测试装置，配置于具有测试站及载送装置的机台上方，并于机架的一侧装设第一取料机构及第二取料机构，第一、二取料机构各具有第一、二升降结构及第一、二横移结构，用以分别带动底面两侧具有第一、二取放器的第一、二直压杆架作升降及横向移动，使得第一、二取料机构的第一、二取放器可各别作动于测试站及载送装置的第一、二入、出料载台间移载待测/已测电子组件，并利用第一、二直压杆架使第一、二取放器保持较佳的水平度，以平整压抵待测电子组件执行测试作业；由此，第一、二取料机构可同侧配置而使机构设计更加简易且不占空间，并各别作动以缩短作业时间，以及使各电子组件于测试时均匀受力而提升测试质量。

Description

电子组件测试分类机的测试装置

技术领域

本发明涉及一种可同侧配置第一、二取放机构，而使机构设计简易且不占空间，并使作动时序的搭配上更加缩短作业时间，及提升测试质量的电子组件测试分类机的测试装置。

背景技术

请参阅图1，为中国台湾发明第86108470号「构件的交接装置」专利案，其装配于测试站11及载送装置12的侧方，该测试站11装配有信号连接至测试机的测试座111，而载送装置12于测试站11的前方设有第一入、出料载台121、122，用以载送待测/已测电子组件，并于测试站11的后方设有第二入、出料载台123、124，用以载送待测/已测电子组件，交接装置13于机架131的一侧装配有横向驱动源132，用以带动承架133作横向位移，该承架133的前面装设有具第一取放器135的第一L型悬臂134及第二取放器137的第二L型悬臂136，另于机架131上装配有第一、二垂直向驱动源138、139，用以分别带动第一、二传动件140、141作升降位移，而第一、二传动件140、141则连结于第一、二L型悬臂134、136，于执行取放待测/已测电子组件作业时，该交接装置13可先控制横向驱动源132带动承架133及第一、二L型悬臂134、136作横向位移，使第一、二取放器135、137同步于测试座111与第一入、出料载台121、122及第二入、出料载台123、124间作横向位移，接着利用第一、二垂直向驱动源138、139带动第一、二传动件140、141作升降位移，而使第一、二取放器135、137可于测试座111与第一入、出料载台121、122及第二入、出料载台123、124上取放已测/待测电子组件，并使位于测试座111上方的第一取放器135或第二取放器137下压待测电子组件，使待测电子组件的接脚与测试座111的接点相接触而执行测试作业；然而，由于第一、二取放器135、137必须于测试座111与第一入、出料载台121、122及第二入、出料载台123、124间作同步的横向位移，此一同动设计将会导致当第二取放器137已于第二入料载台123上完成取料作业后，若测试座111尚未完成测试作业，由于第一取放器135压抵待测电子组件执行测试作业，而会使第二取放器137必须于原位置上等待第一取放器135于测试座111上取出已测电子组件后，方可同步位移，以致第一、二取放器135、137的作动时序受到限制及增加等待作业时间；再者，由于第一、二取放器135、137压抵待测电子组件的下压力会直接影响测试质量，因而第一、二取放器135、137必须保持在相同的下压力，方可确保各待测电子组件于相同下压条件下所测试出的品质，但该第一、二取放器135、137配置于第一、二L型悬臂134、136上，于下压待测电子组件时，可能产生较差的水平度，而无法确保以相同的下压力下压待测电子组件，进而影响测试质量。

请参阅图2，为本申请人先前申请中国台湾发明第94127219号「IC测试分类机」专利案，是于机台上配置有测试站21、载送装置22及检测装置23等，该测试站21装配有信号连接至测试机的测试座211，而载送装置22于测试站21的前、后方设有入、出料载台221、222，用以载送待测/已测电子组件，检测装置23配置于测试站21的上方，并于第一、二机架231、232的侧面分别装设第一取料机构及第二取料机构，第一、二取料机构各以第一、二垂直向驱动源233、234用以带动第一、二支架235、236升降位移，第一、二支架235、236的侧面各设有具第一取放器238的第一L型悬臂237及具第二取放器240的第二L型悬臂239，另设有第一、二横向驱动源241、242用以分别驱动第一、二连结架243、244作横向位移，并以第一、二连结架243、244各连结于第一、二L型悬臂237、239，于执行取放待测/已测电子组件作业时，第一、二横向驱动源241、242可利用第一、二连结架243、244而分别带动第一、二L型悬臂237、239及第一、二取放器238、240以回旋循环交替的方式于测试座211及入、出料载台221、222间作横向位移，并以第一、二垂直向驱动源233、234带动第一、二支架235、236及第一、二L型悬臂237、239作升降位移，使第一、二取放器238、240于测试座211及入、出料载台221、222上取放已测/待测电子组件，且使位于测试座211上方的第一取放器238或第二取放器240可下压待测电子组件，使待测电子元件的接脚与测试座211的接点相接触而执行测试作业；然而，该检测装置23虽可使第一、二取放器238、240各别作横向位移，以避免作动时序受到限制及增加等待作业时间，但该第一、二取料机构的第一、二L型悬臂237、239及第一、二取放器238、240采用对向设置，且以回旋循环交替的方式作动，不仅机构设计上较为复杂，亦相当占用空间。

因此，如何设计一种机构设计简易且不占空间，并可各别作动而使作动时序的搭配上更加缩短作业时间，以及使电子组件均匀受力而提升测试质量的测试装置，即为本领域业者研发的目标。

发明内容

本发明的目之一，是提供一种电子组件测试分类机的测试装置，其毋须相互等待及同步作动，使得作动时序的搭配上更加便利，而缩短作业时间，达到有效提升使用效能的目的。

本发明的目之二，是提供一种电子组件测试分类机的测试装置，该测试装置的第一、二取料机构配置于机架的同一侧面，不仅机构设计简易，亦有效缩减占用空间，达到利于空间配置的实用效益。

本发明的目之三，是提供一种电子组件测试分类机的测试装置，该测试装置的第一、二取料机构分别于第一、二直压杆架的底面设有第一、二取放器，使得第一、二取放器保持较佳的水平度，并以相同下压力道压抵待测电子组件，使待测电子组件均匀受力而执行测试作业，达到提升测试质量的实用效益。

为达上述目的，本发明一种电子组件测试分类机的测试装置，该测试装置配置于具有测试站及载送装置的机台上，载送装置于测试站的前方设有第一入、出料载台，并于测试站的后方设有第二入、出料载台，该测试装置包含：机架，设于机台上；第一取料机构，其装设于机架的一侧面，具有第一升降结构及第一横移结构，用以分别带动底面具有第一取放器的第一直压杆架作升降及横向移动，使得第一取放器于测试站及载送装置的第一入、出料载台间移载待测/已测电子组件；第二取料机构，其装设于机架供配置第一取料机构的同一侧面上，具有第二升降结构及第二横移结构，用以分别带动底面具有第二取放器的第二直压杆架作升降及横向移动，使得第二取放器于测试站及载送装置的第二入、出料载台间移载待测/已测电子组件。

其中，该第一取料机构的第一升降结构于机架上设有第一垂直向驱动源用以驱动一第一承架作升降移动，第一承架与第一直压杆架间则设有相互配合的第一横向滑轨及第一横向滑座，用以带动第一直压杆架及第一取放器作升降移动。

其中，该第一升降结构的第一垂直向驱动源由第一垂直向马达、第一皮带轮组及第一垂直向螺杆所组成，并以第一垂直向螺杆供装设第一承架，另于第一承架与机架间设有相互配合的第一垂直向滑座及第一垂直向滑轨，用以辅助第一承架升降移动，又该第一直压杆架于底面相对于其直杆位置的两侧设有第一取放器。

其中，该第一取料机构的第一横移结构设有第一横向驱动源用以驱动一第一传动架作横向移动，第一传动架与第一直压杆架间则设有相互配合的第一垂直向滑座及第一垂直向滑轨，用以带动第一直压杆架及第一取放器作横向移动。

其中，该第一横移结构的第一横向驱动源为第一横向线性马达组，并以第一转子连结第一传动架，另于测试站的外部设有外罩，该外罩的上方与第一传动架间设有相互配合的第一横向滑座及第一横向滑轨，用以辅助第一传动架作横向移动。

其中，该第二取料机构的第二升降结构于机架上设有第二垂直向驱动源用以驱动一第二承架作升降移动，第二承架与第二直压杆架间则设有相互配合的第二横向滑轨及第二横向滑座，用以带动第二直压杆架及第二取放器作升降移动。

其中，该第二升降结构的第二垂直向驱动源由第二垂直向马达、第二皮带轮组及第二垂直向螺杆所组成，并以第二垂直向螺杆供装设第二承架，另于第二承架与机架间设有相互配合的第二垂直向滑座及第二垂直向滑轨，用以辅助第二承架升降移动，又该第二直压杆架系于底面相对于其直杆位置的两侧设有第二取放器。

其中，该第二取料机构的第二横移结构设有第二横向驱动源用以驱动一第二传动架作横向移动，第二传动架与第二直压杆架间则设有相互配合的第二垂直向滑座及第二垂直向滑轨，用以带动第二直压杆架及第二取放器作横向移动。

其中，该第二横移结构的第二横向驱动源为第二横向线性马达组，并以第二转子连结第二传动架，另于测试站的外部设有外罩，该外罩的上方与第二传动架间系设有相互配合的第二横向滑座及第二横向滑轨，用以辅助第二传动架作横向移动。

其中，该测试装置于测试站的外部设有外罩，并于外罩的内顶面设有为CCD的取像机构。

本发明的功效在于：其毋须相互等待及同步作动，使得作动时序的搭配上更加便利，而缩短作业时间，达到有效提升使用效能的目的；不仅机构设计简易，亦有效缩减占用空间，达到利于空间配置的实用效益；使得第一、二取放器保持较佳的水平度，并以相同下压力道压抵待测电子组件，使待测电子组件均匀受力而执行测试作业，达到提升测试质量的实用效益。

附图说明

图1为背景技术中第86108470号专利案的示意图；

图2为背景技术中第94127219号专利案的检测装置示意图；

图3为本发明测试分类机的测试站、载送装置及测试装置配置图；

图4为本发明测试装置的前视图；

图5为本发明测试装置的侧视图；

图6为本发明测试装置的使用示意图(一)；

图7为本发明测试装置的使用示意图(二)；

图8为本发明测试装置的使用示意图(三)；

图9为本发明测试装置的使用示意图(四)；

图10为本发明测试装置的使用示意图(五)；

图11为本发明测试装置的使用示意图(六)；

图12为本发明测试装置的使用示意图(七)；

图13为本发明测试装置的使用示意图(八)。

附图标记说明：

背景技术：测试站11；测试座111；载送装置12；第一入料载台121；第一出料载台122；第二入料载台123；第二出料载台124；测试装置13；机架131；横向驱动源132；承架133；第一L型悬臂134；第一取放器135；第二L型悬臂136；第二取放器137；第一垂直向驱动源138；第二垂直向驱动源139；第一传动件140；第二传动件141；测试站21；测试座211；载送装置22；入料载台221；出料载台222；检测装置23；第一机架231；第二机架232；第一垂直向驱动源233；第二垂直向驱动源234；第一支架235；第二支架236；第一L型悬臂237；第一取放器238；第二L型悬臂239；第二取放器240；第一横向驱动源241；第二横向驱动源242；第一连结架243；第二连结架244。

本发明：测试站30；测试座31；外罩32；载送装置40；第一入料载台41；第一出料载台42；第二入料载台43；第二出料载台44；测试装置50；机架51；第一垂直向滑轨511A；第二垂直向滑轨511B；第一垂直向马达52A；第二垂直向马达52B；第一皮带轮组53A；第二皮带轮组53B；第一垂直向螺杆54A；第二垂直向螺杆54B；第一承架55A；第二承架55B；第一横向滑轨551A；第二横向滑轨551B；第一垂直向滑座552A；第二垂直向滑座552B；第一直压杆架56A；第二直压杆架56B；第一横向滑座561A；第二横向滑座561B；第一垂直向滑轨562A；第二垂直向滑轨562B；第一取放器57A；第二取放器57B；第一横向线性马达组58A；第二横向线性马达组58B；第一转子581A；第二转子581B；第一传动架59A；第二传动架59B；第一垂直向滑座591A；第二垂直向滑座591B；第一横向滑座592A；第二横向滑座592B；第一横向滑轨60A；第二横向滑轨60B；CCD(Charge-coupled Device，电荷耦合元件)61；电子组件71、72。

具体实施方式

为使贵审查员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图3、图4、图5，该测试分类机于机台上配置有测试站30、载送装置40及测试装置50等，该测试站30具有信号连接至测试机的测试座31，载送装置40于测试站30的前方设有第一入、出料载台41、42，并于后方设有第二入、出料载台43、44，该测试装置50可直接装配于机台上或相关装置的上方，本实施例系于机台上固设有一外罩32，并于外罩32上配置测试装置50，该测试装置50于外罩32的顶面固设有机架51，并于机架51的一侧面装设有第一取料机构及第二取料机构，第一、二取料机构分别具有第一、二升降结构及第一、二横移结构，各第一、二升降结构于机架51上分别设有第一、二垂直向驱动源，第一、二垂直向驱动源各由第一、二垂直向马达52A、52B与第一、二皮带轮组53A、53B及第一、二垂直向螺杆54A、54B所组成，并以第一、二垂直向螺杆54A、54B各螺合一侧面具第一、二横向滑轨551A、551B的第一、二承架55A、55B，第一、二承架55A、55B与机架51间设有相互配合的第一、二垂直向滑座552A、552B及第一、二垂直向滑轨511A、511B，用以辅助第一、二承架55A、55B作升降移动，而第一、二承架55A、55B的第一、二横向滑轨551A、551B则供顶面具第一、二横向滑座561A、561B的第一、二直压杆架56A、56B滑置组装，第一、二直压杆架56A、56B于底面相对于其直杆位置的两侧设有第一、二取放器57A、57B，且于侧面各设有第一、二垂直向滑轨562A、562B，第一、二横移结构分别设有一为第一、二横向线性马达组58A、58B的第一、二横向驱动源，并以第一、二横向线性马达组58A、58B的第一、二转子581A、581B各连结一第一、二传动架59A、59B，第一、二传动架59A、59B于相对应第一、二直压杆架56A、56B的第一、二垂直向滑轨562A、562B位置设有相互配合滑置的第一、二垂直向滑座591A、591B，第一、二传动架59A、59B与外罩32的顶面间设有相互配合的第一、二横向滑座592A、592B及第一、二横向滑轨60A、60B，用以辅助第一、二传动架59A、59B带动第一、二直压杆架56A、56B平稳移动，另于外罩32的内顶面设有一为CCD61的取像机构，用以扫瞄测试站30的测试座31。

请参阅图6、图7，于执行电子组件测试作业时，该载送装置40的第一入料载台41可承载待测电子组件71移动至测试站30的侧方，测试装置50的第一取放器57A因位于第一入料载台41的上方，第一取料机构即可控制第一垂直向马达52A经第一皮带轮组53A而带动第一垂直向螺杆54A旋转，使第一垂直向螺杆54A带动第一承架55A下降移动，第一承架55A即以第一横向滑轨551A及第一横向滑座561A而带动第一直压杆架56A作下降移动，该第一直压杆架56A即以第一垂直向滑轨562A沿第一传动架59A的第一垂直向滑座591A向下移动，使第一取放器57A于第一入料载台41内取出待测电子组件71，并反向上升移动复位，此时，取像机构的CCD61可先行扫瞄测试站30的测试座31中是否残留有受损电子组件余屑或灰尘等异物，如扫瞄出测试座31具有异物，即可事先将异物排除，以防止后续置入的电子组件压抵于异物而造成损坏，以大幅降低IC损坏率，若无，则继续执行测试作业；请参阅图8，于第一取放器57A取出待测电子组件71后，第一取料机构即控制第一横向线性马达组58A的第一转子581A带动第一传动架59A作横向移动，第一传动架59A利用第一垂直向滑座591A及第一垂直向滑轨562A而带动第一直压杆架56A移动，第一直压杆架56A即以第一横向滑座561A沿第一承架55A的第一横向滑轨551A作横向移动，使第一取放器57A将待测电子组件71移载至测试站30的测试座31上方；请参阅图9、图10，第一取料机构控制第一垂直向马达52A经第一皮带轮组53A而带动第一垂直向螺杆54A旋转，使第一垂直向螺杆54A带动第一承架55A下降移动，第一承架55A则带动第一直压杆架56A作下降移动，令第一取放器57A将待测电子组件71置入于测试站30的测试座31中而执行测试作业，由于第一直压杆架56A使各第一取放器57A配置于直杆的两侧，使得各第一取放器57A可保持较佳的水平度，并以相同下压力道压抵待测电子组件71，使待测电子组件71均匀受力而执行测试作业，以提升测试质量，当第一取放器57A压抵待测电子组件71执行测试作业时，由于载送装置40的第二入料载台43已承载待测电子组件72移动至测试站30的侧方，该测试装置50即可驱动第二垂直向马达52B经第二皮带轮组53B而带动第二垂直向螺杆54B旋转，使第二垂直向螺杆54B带动第二承架55B下降移动，第二承架55B即利用第二横向滑轨551B及第二横向滑座561B而带动第二直压杆架56B作下降移动，第二直压杆架56B即以第二垂直向滑轨562B沿第二传动架59B的第二垂直向滑座591B向下移动，使第二取放器57B可各别作动，而于第二入料载台43内取出待测电子组件72，并反向上升移动复位；请参阅图11，于测试站30的测试座31执行测试作业完毕后，即可控制第一垂直向马达52A经第一皮带轮组53A及第一垂直向螺杆54A而带动第一承架55A及第一直压杆架56A上升移动，使第一取放器57A于测试座31中取出已测电子组件71；请参阅图5、图12、图13，由于载送装置40的第一出料载台42已移动至测试站30的侧方，测试装置50即控制第一横向线性马达组58A的第一转子581A带动第一传动架59A作横向移动，第一传动架59A即带动第一直压杆架56A移动，使第一直压杆架56A带动第一取放器57A将已测电子组件71移载至第一出料载台42上方，接着控制第一垂直向马达52A经第一皮带轮组53A及第一垂直向螺杆54A而带动第一承架55A下降移动，第一承架55A即带动第一直压杆架56A下降移动，使第一取放器57A将已测电子组件71置入于第一出料载台42上，并反向上升复位，当取像机构的CCD61扫瞄测试站30的测试座31中并无残留异物后，即可控制第二横向线性马达组58B的第二转子581B带动第二传动架59B作横向移动，该第二传动架59B即利用第二垂直向滑座591B及第二垂直向滑轨562B而带动第二直压杆架56B移动，该第二直压杆架56B以第二横向滑座561B沿第二承架55B的第二横向滑轨551B作横向移动，使第二取放器57B将待测电子组件72移载至测试站30的测试座31上方，再控制第二垂直向马达52B经第二皮带轮组53B及第二垂直向螺杆54B而带动第二承架55B及第二直压杆架56B作下降移动，使第二取放器57B将待测电子组件72置入压抵于测试站30的测试座31中执行测试作业，因此，第一、二取料机构的第一、二取放器57A、57B可各别作动于测试站30的测试座31及载送装置40的第一入、出料载台41、42、第二入、出料载台43、44间移载待测/已测电子组件而依序执行测试作业。

据此，本发明的机构设计简易且不占空间，并可各别作动而使作动时序的搭配上更加缩短作业时间，以及提升测试质量，实为一深具实用性及进步性的设计，然未见有相同的产品及刊物公开，从而允符发明专利申请要件，爰依法提出申请。

唯上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，故举凡数值的变更或等效组件的置换，或依本发明申请专利范围所作的均等变化与修饰，都应仍属本发明专利涵盖的范畴。

Claims (10)

1.一种电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，该测试装置配置于具有测试站及载送装置的机台上，并配置于测试站的外罩上方，载送装置于测试站的前方设有第一入、出料载台，并于测试站的后方设有第二入、出料载台，该测试装置包含：

直立机架，设于机台的外罩上方一侧；

第一取料机构，其装设于直立机架的一侧面，具有第一升降结构及第一横移结构，其中，该第一取料机构的第一升降结构于直立机架上设有第一垂直向驱动源用以驱动一第一承架作升降移动，且该第一取料机构的第一横移结构设有第一横向驱动源用以驱动一第一传动架，该外罩的上方与该第一传动架间则设有相互配合的横向滑座及横向滑轨，以使第一传动架于外罩之顶面作横向移动，进而用以分别带动底面具有第一取放器的第一直压杆架作升降及横向移动，使得第一取放器于测试站及载送装置的第一入、出料载台间移载待测／已测电子组件；

第二取料机构，其装设于直立机架供配置第一取料机构的同一侧面上，具有第二升降结构及第二横移结构，其中，该第二取料机构的第二升降结构于直立机架上设有第二垂直向驱动源用以驱动一第二承架作升降移动，且该第二取料机构的第二横移结构设有第二横向驱动源用以驱动一第二传动架，该外罩的上方与该第二传动架间则设有相互配合的横向滑座及横向滑轨，以使第二传动架于外罩之顶面作横向移动，进而用以分别带动底面具有第二取放器的第二直压杆架作升降及横向移动，使得第二取放器于测试站及载送装置的第二入、出料载台间移载待测／已测电子组件。

2.根据权利要求1所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，第一承架与第一直压杆架间则设有相互配合的第一横向滑轨及第一横向滑座，用以带动第一直压杆架及第一取放器作升降移动。

3.根据权利要求2所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，该第一升降结构的第一垂直向驱动源由第一垂直向马达、第一皮带轮组及第一垂直向螺杆所组成，并以第一垂直向螺杆供装设第一承架，另于第一承架与直立机架间设有相互配合的第一垂直向滑座及第一垂直向滑轨，用以辅助第一承架升降移动，又该第一直压杆架于底面相对于其直杆位置的两侧设有第一取放器。

4.根据权利要求1所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，第一传动架与第一直压杆架间则设有相互配合的第一垂直向滑座及第一垂直向滑轨，用以带动第一直压杆架及第一取放器作横向移动。

5.根据权利要求4所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，该第一横移结构的第一横向驱动源为第一横向线性马达组，并以第一转子连结第一传动架，另于测试站外部的外罩上方与第一传动架间设有相互配合的第一横向滑座及第一横向滑轨，用以辅助第一传动架作横向移动。

6.根据权利要求1所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，第二承架与第二直压杆架间则设有相互配合的第二横向滑轨及第二横向滑座，用以带动第二直压杆架及第二取放器作升降移动。

7.根据权利要求6所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，该第二升降结构的第二垂直向驱动源由第二垂直向马达、第二皮带轮组及第二垂直向螺杆所组成，并以第二垂直向螺杆供装设第二承架，另于第二承架与直立机架间设有相互配合的第二垂直向滑座及第二垂直向滑轨，用以辅助第二承架升降移动，又该第二直压杆架系于底面相对于其直杆位置的两侧设有第二取放器。

8.根据权利要求1所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，第二传动架与第二直压杆架间则设有相互配合的第二垂直向滑座及第二垂直向滑轨，用以带动第二直压杆架及第二取放器作横向移动。

9.根据权利要求8所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，该第二横移结构的第二横向驱动源为第二横向线性马达组，并以第二转子连结第二传动架，另于测试站外部的外罩上方与第二传动架间系设有相互配合的第二横向滑座及第二横向滑轨，用以辅助第二传动架作横向移动。

10.根据权利要求1所述的电子组件测试分类机的测试装置，其特征在于，该测试装置于测试站外部的外罩的内顶面设有为CCD的取像机构。