CN102226087A - 透明导电膜湿法蚀刻液组合物 - Google Patents

透明导电膜湿法蚀刻液组合物 Download PDF

Info

Publication number
CN102226087A
CN102226087A CN2011101095471A CN201110109547A CN102226087A CN 102226087 A CN102226087 A CN 102226087A CN 2011101095471 A CN2011101095471 A CN 2011101095471A CN 201110109547 A CN201110109547 A CN 201110109547A CN 102226087 A CN102226087 A CN 102226087A
Authority
CN
China
Prior art keywords
ammonium
wet etching
nesa coating
fluid composition
etching fluid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2011101095471A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102226087B (zh
Inventor
张军
常积东
李承孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xi'an Dongwang Fine Chemical Co Ltd
Original Assignee
Xi'an Dongwang Fine Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xi'an Dongwang Fine Chemical Co Ltd filed Critical Xi'an Dongwang Fine Chemical Co Ltd
Priority to CN 201110109547 priority Critical patent/CN102226087B/zh
Publication of CN102226087A publication Critical patent/CN102226087A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102226087B publication Critical patent/CN102226087B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

本发明提供一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物。该透明导电膜湿法蚀刻液组合物包含(1)0.5-10wt%的草酸;(2)0.1-50wt%的乙酸;(3)0.01-10wt%的铵盐;(4)0.001-10wt%的表面活性剂;(5)余量水。该蚀刻液组合物蚀刻速率均匀稳定,无残留,不腐蚀配线。

Description

透明导电膜湿法蚀刻液组合物
技术领域
本发明涉及透明导电膜湿法蚀刻液组合物,尤其涉及一种可在等离子显示器(PDP),液晶显示器(LCD),有机发光二极管显示器(OLED)等中用作像素电极的透明导电膜如氧化铟锌(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻液。
背景技术
由于透明导电膜如氧化铟锌(ITO)具有多种独特的性质,如低电阻率、高可见光透过率、膜层硬度强且对基底附着力大、优良的化学稳定性等,因而,已经广泛地应用于LCD、PDP、OLED等平面显示领域。
目前,ITO蚀刻方法主要为湿法蚀刻,采用各种无机酸/盐或有机酸的水溶液组合物。常用的无机酸有盐酸、硫酸、磷酸、硝酸、碘酸、氢溴酸,有机酸有草酸、乙酸、柠檬酸。其中,盐酸+硝酸体系,蚀刻反应剧烈,生产中无法精确控制;另外,盐酸、硝酸的挥发造成体系组分含量不恒定,以及对环境的污染。磷酸体系,蚀刻后有残渣。三氯化铁体系,蚀刻速率快,但是侧蚀量也大,且对环境污染大。碘酸或氢溴酸体系,虽然蚀刻性好,但易游离出卤素单质或挥发,不稳定且毒性大。草酸体系,蚀刻速率慢,需要较高温度条件,且低温时易析出草酸晶体。
发明内容
为了解决现有技术的不足,本发明提供一种改良的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物蚀刻速率均匀稳定,无残留,不腐蚀配线,不含易挥发物质。
本发明的技术方案如下:
一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物为草酸和乙酸的水溶液,其中草酸含量为0.5-10wt%;乙酸含量为0.1-50wt%。这里所讲的酸的含量均是指其有效成分占蚀刻液组合物的质量分数。
本发明的蚀刻液组合物若还含有0.01-10wt%铵盐,效果较佳。
上述的铵盐优选硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的一种或两种。实际上,一般常用的铵盐均能够应用于本发明。
本发明的蚀刻液组合物若还含有0.001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、乙酸配合使用,效果较佳;或者蚀刻液组合物若还含有0.001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、乙酸、铵盐配合使用,效果更佳。
上述的表面活性剂优选阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的一种或两种。
上述蚀刻液组合物中,草酸含量为1-7wt%;乙酸含量为1-30wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水;此种配比效果较佳。
上述的表面活性剂优选Gemini型表面活性剂。此时的蚀刻液组合物配比也采用:草酸含量为1-7wt%;乙酸含量为1-30wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水;则效果更佳。
本发明的蚀刻液组合物的最佳配比为:草酸含量为2-4wt%;乙酸含量为5-20wt%;铵盐含量为0.5-5wt%;表面活性剂含量为0.1-5wt%;余量为水。
经验证,以本发明的上述基础配方0.5-10wt%草酸、0.1-50wt%乙酸为基本方案制得的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,能够用于等离子显示器(PDP)、液晶显示器(LCD)、有机发光二极管显示器(OLED)透明导电膜氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻。
本发明具有稳定的蚀刻能力,蚀刻后无残渣,同时对铝、钼等金属配线无腐蚀,不含易挥发物质,不污染环境。
具体实施方式
本发明提供如下透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其含有
(1)0.5-10wt%的草酸;
(2)0.1-50wt%的乙酸;
(3)余量水。
本发明中,草酸起均匀蚀刻的作用。草酸的含量为0.5-10wt%,优选1-7wt%,更优选2-4wt%.当含量小于0.5wt%时,蚀刻速率小,蚀刻效果差;当含量大于10wt%时,得不到更好的蚀刻效果,且易结晶析出。
本发明中,乙酸起促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的作用。乙酸的含量为0.1-50wt%,优选1-30wt%,更优选5-20wt%.当含量小于0.1wt%时,起不到促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的作用;当含量大于50wt%时,得不到更好的促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的的效果。
本发明中,还可以添加铵盐。铵盐起辅助调节蚀刻速率平稳的作用。铵盐的含量为0.01-10wt%,优选0.1-8wt%,更优选0.5-5wt%.当含量小于0.01wt%时,起不到辅助调节蚀刻速率作用;当含量大于10wt%时,得不到更好的辅助调节蚀刻速率的效果。作为具体例,可以选自铵盐选自硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的1种或2种。
本发明中,还可以添加表面活性剂。表面活性剂的含量为0.001-10wt%,优选0.01-10wt%,更优选0.1-5wt%.当含量小于0.001wt%时,起不到润湿作用;当含量大于10wt%时,得不到更好的润湿的效果,并引起体系泡沫增多。表面活性剂可以选自阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的1种或2种。由于Gemini型表面活性剂和单链单头基表面括性剂相比较,具有高表面活性和优良的润湿性,所以为优选。具体例可以选自硫酸酯盐型、磺酸盐型、羧酸盐型、季铵盐型Gemini型表面活性剂中的1种或2种。
本发明中的水优选超纯水。
下面详细说明本发明的实施例。所述实施例用于对本发明进行进一步说明,但本发明并不限于以下实施例。
一、蚀刻液制备
室温搅拌条件下,在超纯水中加入乙酸、草酸,搅拌至完全溶解均匀,过滤,得到所需蚀刻液组合物。
二、蚀刻效果
本实验所用表面电阻8-10Ω,膜厚约150nm的ITO玻璃基板。对玻璃基板进行清洗,烘干处理。保持蚀刻液温度为45℃,将处理过的玻璃基板浸入蚀刻液中5分钟。取出清洗,烘干后,显微镜观察。
蚀刻效果:250倍显微镜观察蚀刻5分钟后的玻璃基板是否有残渣。
不同组分含量的蚀刻液实施例和比较例的蚀刻效果如表1所示。
A:示无残渣,
B:几处残渣,
C:少量残渣,
D:较多残渣。
表1不同浓度蚀刻液的蚀刻效果(45℃,5min.)
Figure BDA0000058384030000041
Figure BDA0000058384030000051
其中,A:表示铵盐;B:表示表面活性剂,具体可以采用以下试剂:
A1:硫酸铵
A2:硫酸氢胺
A3:硝酸铵
A4:碳酸铵
A5:碳酸氢铵
A6:甲酸铵
A7:乙酸铵
A8:丙酸铵
A9:草酸铵
A10:苯甲酸铵
B1:十二烷基硫酸三乙醇胺
B2:月桂醇硫酸钠
B3:木质素磺酸铵
B4:十二烷基苯磺酸铵
B5:十八烷基二羟乙基甜菜碱
B6:AEO7(C12脂肪醇聚氧乙烯(7)醚)
B7:氯化十二烷基二甲基苄基铵
B8:聚氧乙烯聚氧丙烯丁基醚
B9:Gemini型
选择不同的蚀刻温度:40℃,55℃,和60℃时,蚀刻时间:2分钟,测试不同组分含量的蚀刻液的蚀刻效果。如表2所示。
表2不同温度下的蚀刻效果
  40℃   45℃   50℃   55℃   60℃
  实施例1   B   A   A   A   A
  实施例2   A   A   A   A   A
  实施例3   A   A   A   A   A
  实施例4   B   B   A   A   A
  实施例5   A   A   A   A   A
  实施例6   A   A   A   A   A
  实施例7   A   A   A   A   A
  实施例8   A   A   A   A   A
  实施例9   A   A   A   A   A
  实施例10   B   B   B   A   A
  实施例11   B   B   A   A   A
  实施例12   A   A   A   A   A
  实施例13   A   A   A   A   A
  实施例14   B   A   A   A   A
  实施例15   B   B   B   A   A
  实施例16   B   A   A   A   A
  实施例17   A   A   A   A   A
  实施例18   B   A   A   A   A
  实施例19   B   A   A   A   A
  实施例20   A   A   A   A   A
  比较例1   D   D   D   C   C
  比较例2   D   C   C   C   B
  比较例3   D   D   D   D   D
  比较例4   D   D   D   D   C
根据上述铵盐、表面活性剂可选取的具体试剂的物理、化学性质,可理论推知,分别采用其在上述可选范围内的其他各种具体试剂及其混合物,依照上述配比取值范围,得到的剥离液组合物也能够起到基本相同的效果。

Claims (10)

1.一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物为草酸和乙酸的水溶液,其中草酸含量为0.5-10wt%;乙酸含量为0.1-50wt%。
2.根据权利要求1所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物还含有0.01-10wt%铵盐。
3.根据权利要求2所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:所述的铵盐选自硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的一种或两种。
4.根据权利要求1至3任一所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物还含有0.001-10wt%表面活性剂。
5.根据权利要求4所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:所述的表面活性剂选自阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的一种或两种。
6.根据权利要求5所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:所述的表面活性剂为Gemini型表面活性剂。
7.根据权利要求5所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物中,草酸含量为1-7wt%;乙酸含量为1-30wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水。
8.根据权利要求6所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物中,草酸含量为1-7wt%;乙酸含量为1-30wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水。
9.根据权利要求8所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其特征在于:该蚀刻液组合物中,草酸含量为2-4wt%;乙酸含量为5-20wt%;铵盐含量为0.5-5wt%;表面活性剂含量为0.1-5wt%;余量为水。
10.如权利要求1所述的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,用于等离子显示器(PDP)、液晶显示器(LCD)、有机发光二极管显示器(OLED)透明导电膜氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻。
CN 201110109547 2011-04-29 2011-04-29 透明导电膜湿法蚀刻液组合物 Expired - Fee Related CN102226087B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110109547 CN102226087B (zh) 2011-04-29 2011-04-29 透明导电膜湿法蚀刻液组合物

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110109547 CN102226087B (zh) 2011-04-29 2011-04-29 透明导电膜湿法蚀刻液组合物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102226087A true CN102226087A (zh) 2011-10-26
CN102226087B CN102226087B (zh) 2013-09-04

Family

ID=44807085

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 201110109547 Expired - Fee Related CN102226087B (zh) 2011-04-29 2011-04-29 透明导电膜湿法蚀刻液组合物

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102226087B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105038799A (zh) * 2014-04-30 2015-11-11 王丽 一种对ito膜进行刻蚀的刻蚀液
CN109575922A (zh) * 2019-01-16 2019-04-05 苏州晶瑞化学股份有限公司 一种oled用ito蚀刻液及其制备方法和应用

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101245462A (zh) * 2007-02-13 2008-08-20 峻科技有限公司 蚀刻液组合物与蚀刻方法
CN101572281A (zh) * 2009-06-08 2009-11-04 无锡尚德太阳能电力有限公司 制备具有掺镓氧化锌绒面的衬底的方法以及通过该方法制备的衬底

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101245462A (zh) * 2007-02-13 2008-08-20 峻科技有限公司 蚀刻液组合物与蚀刻方法
CN101572281A (zh) * 2009-06-08 2009-11-04 无锡尚德太阳能电力有限公司 制备具有掺镓氧化锌绒面的衬底的方法以及通过该方法制备的衬底

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105038799A (zh) * 2014-04-30 2015-11-11 王丽 一种对ito膜进行刻蚀的刻蚀液
CN105038799B (zh) * 2014-04-30 2017-12-12 盐城华星光电技术有限公司 一种对ito膜进行刻蚀的刻蚀液
CN109575922A (zh) * 2019-01-16 2019-04-05 苏州晶瑞化学股份有限公司 一种oled用ito蚀刻液及其制备方法和应用

Also Published As

Publication number Publication date
CN102226087B (zh) 2013-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100364910C (zh) 含有多成分的玻璃基板用的微细加工表面处理液
CN104445971B (zh) 蚀刻液
CN102241985A (zh) 透明导电膜湿法蚀刻液组合物
CN102983101B (zh) 液晶显示装置用阵列基板的制造方法
KR101518055B1 (ko) 금속막 에칭액 조성물
JP5423674B2 (ja) 無アルカリガラス基板のエッチング方法及び表示デバイス
CN102177219A (zh) 透明导电膜蚀刻剂
CN102732254A (zh) 透明导电膜用蚀刻液组合物
CN104893728A (zh) 一种用于ITO/Ag/ITO薄膜的低张力的蚀刻液
TW201518546A (zh) 蝕刻液組成物及蝕刻方法
CN101838111B (zh) 玻璃基板蚀刻液及其制备方法
CN104388090A (zh) 一种草酸系ito蚀刻液及其制备方法和应用
JP4949416B2 (ja) Ito膜用のエッチング液組成物、および、それを利用したito膜のエッチング方法
CN103880293A (zh) 一种玻璃二次强化用蚀刻液及其制备方法和应用
CN111423883A (zh) 一种有源矩阵有机发光二极体显示器用阳极蚀刻液
CN102226087B (zh) 透明导电膜湿法蚀刻液组合物
CN101880129A (zh) 玻璃基板减薄蚀刻液及其制备方法与应用
JP5275180B2 (ja) 有機発光ダイオード表示装置のエッチング液組成物
CN101774767B (zh) 一种平板显示用玻璃基板蚀刻液
KR20130084717A (ko) 식각 조성물 및 이를 이용한 표시 기판의 제조 방법
KR20120070101A (ko) 몰리브덴과 티타늄을 포함하는 합금막 또는 인듐 산화막용 식각액 조성물
JP2005197397A (ja) エッチング液組成物及びエッチング方法
CN104962287A (zh) 液晶面板制造工艺中的ito膜蚀刻液及其制备方法
CN103107130B (zh) 用于液晶显示器的阵列基板及其制造方法,蚀刻液组合物和形成金属配线的方法
TWI527881B (zh) 用於歐姆接觸層的蝕刻劑組成物及平板顯示裝置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130904

Termination date: 20140429