CN102087867B - 光记录介质、光记录介质驱动装置及光记录介质驱动方法 - Google Patents

光记录介质、光记录介质驱动装置及光记录介质驱动方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供光记录介质、光记录介质驱动装置及光记录介质驱动方法，其中，光记录介质驱动装置包括：光学拾取器，对光记录介质从一个物镜照射第一激光和第二激光，其中光记录介质包括大容量层以及倾斜检测面；聚焦控制部，对第一激光和第二激光中的每一个执行相对于光记录介质的各预定位置的聚焦控制；跟踪控制部，控制物镜的位置以执行第一激光和第二激光对所述光记录介质的跟踪控制；以及倾斜控制部。

Description

光记录介质、光记录介质驱动装置及光记录介质驱动方法
技术领域
本发明涉及一种利用光的照射来执行信号记录和再现的光记录介质、及用于其记录和再现的驱动装置和驱动方法。 
背景技术
作为利用光的照射执行信号记录和再现的光记录介质，例如，广泛使用所谓的光盘(如CD(压缩盘)、DVD(数字通用盘)、以及BD(蓝光光盘：商标))。 
关于与在广泛使用的光记录介质(如CD、DVD、BD等)的下一代中扮演主要角色的光记录介质有关的现状，首先，申请人提出了所谓的大容量记录型光记录介质，如在日本未审查专利申请公开第2008-135144和2008-176902号中所记载的。 
这里，大容量记录是通过相对于至少具有覆盖层101和大容量层(bulk layer)102的光记录介质依次改变聚焦位置并执行激光照射从而在大容量层102内执行多层记录，来实现大记录容量的技术，如图12所示。 
关于大容量记录，在日本未审查专利申请公开第2008-135144号中公开了被称作所谓的微全息照相模式的记录技术。 
如图13A和13B所示，微全息照相模式大致分为正片型微全息照相模式和负片型微全息照相模式。 
在微全息照相模式中，所谓的全息照相记录材料用作大容量层102的记录材料。作为全息照相记录材料，例如，广泛使用光聚合型光敏聚合物等。 
如图13A所示，正片型微全息照相模式是将两束相对的光束(光束A和光束B)会聚在同一位置上来形成微小的干涉图案(全息图)从而将光束设定为记录痕迹的方法。 
此外，图13B所示的负片型微全息照相模式是将通过激光照射预先形成的干涉图案擦除(这是与正片型微全息照相模式相逆的思想)从而将擦除部分设定为记录痕迹的方法。 
图14A和14B是用于示出负片型微全息照相模式的示图。 
在负片型微全息照相模式中，在执行记录操作前，如图14A所示，预先对大容量层102执行用于形成干涉图案的初始化处理。具体地，如图所示，光束C和D是相对的并且由平行光照射，从而在整个大容量层102中形成干涉图案。 
以这种方式，在通过预先进行的初始化处理形成干涉图案之后，如图14B所示，通过形成擦除痕迹来执行信息记录。具体地，通过在集中在任意层位置上的状态下对应于记录信息执行激光照射，来利用擦除痕迹执行信息记录。 
此外，作为另一种大容量记录方法，申请人提出了利用空隙记录(void recording)(空孔记录)模式的记录方法作为另一种大容量记录方法，如在日本未审查专利申请公开第2008-176902号中所记载的。 
空隙记录模式是一种以相对高的能量对例如由诸如光聚合型光敏聚合物的记录材料形成的大容量层102执行激光照射从而在大容量层102中记录空孔(空隙)的方法。如在日本未审查专利申请公开第2008-176902号中所记载的，以这种方式形成的空孔部分变为具有与大容量层102中其它部分不同的折射率的部分，这可以提高边界部分中光的反射率。因此，空孔部分用作记录痕迹，从而通过形成空孔痕迹来实现信息记录。 
由于空隙记录模式不形成全息图，所以仅通过从一侧执行光照射就可以实现记录。即，没有必要以与正片型微全息照相模式的情况相同的方式来将两束光束会聚在同一位置上来形成记录痕迹，并且不要求用于将两束光束会聚在同一位置上的高的位置控制精确度。 
发明内容
这里，将考虑以与负型微全息照相模式或空隙记录模式相同的方式，从记录介质的一侧执行激光照射来执行记录和再现的情况。 
原理与这些模式不同，但是仅从具有大容量层的体积型记录介质的一侧入射光以及仅在大容量层102中改变聚焦位置来执行多层记录的概念是相同的。 
在记录模式中，要形成在大容量层102中的各个记录层自身不具有地址信息。更准确地，记录层通过记录痕迹的记录来形成，并且在记录之前是不存在的。 
通常，在现有技术的光盘中，形成被称作摆动槽(wobbling groove)的之字形引导槽(guidance groove)，并且通过检测频率来获得位置信息。然而，在负片型微全息照相模式或空隙记录模式中，由于不预先在大容量层102中形成包括摆动槽的记录层，所以在这些模式中不能给出每个记录层的地址信息。 
因此，考虑给予基准面地址信息，并且使各个记录层被记录为对应于基准面。在那种情况下，为了使基准面的地址信息对应于各个记录层的记录信息，需要校正记录期间由于光盘歪斜而产生的光斑偏差。 
将基于图15A～15C进行描述。图15A示意性地示出了用作在负片型微全息照相模式或空隙记录模式中使用的光记录介质的光盘100的截面结构。在这种情况下，在覆盖层101和大容量层102之间形成基准面103。 
例如，在基准面103上形成摆动槽以给出地址信息。 
如图所示，关于光盘100的记录再现装置从一个物镜200照射两个系统的激光LZ1和LZ2。激光LZ1变为记录激光，以及激光LZ2变为伺服激光。 
此外，激光LZ2在基准面103上执行聚焦控制，从而根据关于激光LZ2的基准面103的返回光的信息执行跟踪控制或地址解码。 
另一方面，激光LZ1用于利用在光盘100的深度方向上距离在基准面103上经受聚焦控制的激光LZ2的偏移(offset)来执行聚焦控制。此外，通过激光LZ1在大容量层102中形成记录痕迹，从而形成记录层。 
这里，为了使基准面103的地址信息对应于通过激光LZ1形成的记录层的记录信息，如图15A所示，要求激光LZ1和LZ2的光斑的径向偏差几乎为0。 
如果存在光盘100与光学系统(物镜200)之间相对状态的倾斜，由此，如图15B所示，由于光盘100相对于激光入射光轴的歪斜，所以对于两个光斑存在在光盘100的径向上的聚焦位置偏差Δx，利用摆动槽的记录数据和地址的对应变得不准确。 
此外，图15C示出了入射光轴J、倾斜量θ、激光LZ1和LZ2的光斑的聚焦位置偏差Δx、在光盘厚度方向上激光LZ1和LZ2间的距离Δt、光盘100的折射率N、以及光盘厚度t。光斑的聚焦位置偏差Δx为Δx＝(θ/N)·Δt。 
为了解决光斑偏差，需要在记录等期间适当地执行光学系统与光盘100之间的相对位置的倾斜校正。 
因此，在本发明中，期望解决在以与负片型微全息照相模式或大容量记录模式相同的方式执行从记录介质的一侧向大容量层的激光照射来执行记录和再现的情况下所产生的间题。即，期望使两个系统的激光中的光斑的聚焦位置的偏差能够被适当地校正以执行记录等。 
根据本发明实施方式的光记录介质具有大容量层，在该大容量层上通过激光照射记录光记录信息，并且在该大容量层上形成其上记录有光记录 信息的多个记录层；以及倾斜检测面，当从激光入射面侧观看时，该倾斜检测面形成在大容量层的内侧。 
此外，光记录介质还包括基准面，当从激光入射面侧观看时，具有包括地址信息的沟槽的该基准面形成在大容量层的正面侧。 
可选地，倾斜检测面形成为具有地址信息的沟槽或凹槽(pit)行。 
根据本发明实施方式的光记录介质驱动装置包括：光学拾取器，对光记录介质从一个物镜照射第一和第二激光，其中光记录介质具有大容量层在该大容量层上通过激光照射记录光记录信息，并且在该大容量层上形成其上记录有光记录信息的多个记录层，光记录介质还具有倾斜检测面，当从激光入射面侧观看时，该倾斜检测面形成在大容量层的内侧；聚焦控制部，对第一和第二激光中每一个执行相对于光记录介质的预定位置的聚焦控制；跟踪控制部，控制物镜的位置以执行第一和第二激光对光记录介质的跟踪控制；倾斜控制部，基于来自倾斜检测面的第一或第二激光的激光的返回光的信息，改变向光记录介质入射的第一和第二激光的入射光轴相对于光记录介质的倾斜状态，从而执行倾斜校正。 
这里，在光记录介质中，在设置形成有包括地址信息的沟槽的基准面(当从激光入射面侧观看时，该基准面形成在大容量层的正面侧)的情况下，第一和第二激光是具有彼此不同波长的激光，其中第一激光具有短波长。当执行倾斜校正时，在已经对第二激光执行相对于基准面的聚焦控制的状态下，聚焦控制部对第一激光执行相对于倾斜检测面的聚焦控制，并且倾斜控制部基于来自倾斜检测面的第一激光的返回光的信息执行倾斜校正。 
此外，当在光记录介质上执行记录时，在已经执行倾斜校正的状态下，聚焦控制部对第二激光执行相对于基准面的聚焦控制，跟踪控制部基于来自基准面的第二激光的返回光的信息执行跟踪控制，并且在已经对第一激光执行相对于记录层形成位置的聚焦控制的状态下，聚焦控制部利用第一激光执行光记录信息的记录。 
此外，当在光记录介质上执行记录时，从来自基准面的第二激光的返回光的信息获得地址信息。 
此外，在将光记录介质中的倾斜检测面形成为具有地址信息的沟槽或凹槽行的情况下，第一和第二激光是具有相同波长的激光，并且当执行倾斜校正时，聚焦控制部对第二激光执行相对于倾斜检测面的聚焦控制，并且倾斜控制部基于来自倾斜检测面的第二激光的返回光的信息执行倾斜校正。 
此外，当在光记录介质上执行记录时，在已经执行倾斜校正的状态下，聚焦控制部对第二激光执行相对于倾斜检测面的聚焦控制，跟踪控制部基于来自倾斜检测面的第二激光的返回光的信息执行跟踪控制，并且在已经对第一激光执行相对于记录层形成位置的聚焦控制的状态下，聚焦控制部通过第一激光执行光记录信息的记录。 
此外，当在光记录介质上执行记录时，从来自倾斜检测面的第二激光的返回光的信息获得地址信息。 
根据本发明另一实施方式的光记录介质驱动方法基于来自倾斜检测面的第一或第二激光的激光的返回光的信息，改变入射到光记录介质的第一和第二激光的入射光轴相对于光记录介质的倾斜状态以执行倾斜校正。 
在本发明实施方式中，当从光记录介质的激光入射面侧观看时，倾斜检测面设置在大容量层的内侧。例如，倾斜检测面是具有沟槽或凹槽行的反射面。两个系统的激光中的一个经受相对于倾斜检测面的聚焦控制，从而根据返回光的信息执行倾斜校正。 
根据本发明的实施方式，通过在利用倾斜检测面而不产生两个系统的激光的光斑位置偏差的状态下执行倾斜校正，可以在恰好对应于记录在基准面或倾斜检测面上的地址信息的状态下进行对大容量层记录信息。 
此外，特别地，通过在光盘厚度方向上距离激光入射面的距离延长的位置上设定倾斜检测面，容易从推挽信号等获得用于倾斜校正的倾斜量的检测信息。 
附图说明
图1是本发明第一实施方式的记录介质的示意图。 
图2是在第一实施方式的记录期间的伺服控制的示意图。
图3是在第一实施方式的倾斜校正期间的伺服控制的示意图。 
图4是实施方式的厚度方向距离与推挽信号之间的关系的示意图。 
图5是第一实施方式的记录再现光学系统的示意图。 
图6是第一实施方式的倾斜校正处理的流程图。 
图7是第二实施方式的记录介质的示意图。 
图8是在第二实施方式的记录期间的伺服控制的示意图。 
图9是在第二实施方式的倾斜校正期间的伺服控制的示意图。 
图10是第二实施方式的记录再现光学系统的示意图。 
图11是第二实施方式的倾斜校正处理的流程图。 
图12是微全息照相记录的示意图。 
图13A和图13B是正片型和负片型微全息照相记录的示意图。 
图14A和图14B是负片型微全息照相记录的示意图。 
图15A～图15C是由于光盘歪斜而导致的光斑偏差的示意图。 
具体实施方式
下文，将以下列顺序描述本发明的实施方式。 
<1.第一实施方式> 
[1-1光记录介质的结构] 
[1-2伺服控制] 
[1-3记录再现光学系统] 
[1-4倾斜校正处理] 
<2.第二实施方式> 
[2-1光记录介质的结构] 
[2-2伺服控制] 
[3-3记录再现光学系统] 
[3-4倾斜校正处理] 
<1.第一实施方式> 
[1-1光记录介质的结构] 
图1示出了第一实施方式的光记录介质(记录介质1)的截面结构图。 
图1所示的记录介质1是圆盘状光记录介质，并且对要被旋转和驱动的记录介质1执行激光照射，从而执行痕迹记录(信息记录)。此外，记录信息的再现也通过用激光照射要被旋转和驱动的记录介质1来执行。 
此外，光记录介质涉及通过光的照射来执行记录信息的再现的记录介质。 
在本实例的情况下，假设光记录介质用在例如负片型微全息照相模式或空隙记录模式下。 
首先，如图14A和14B所示，在负片型全息照相模式下，在执行记录动作之前，对大容量层预先执行用于形成干涉图案的初始化处理。以这种方式，在通过预先进行的初始化处理形成干涉图案之后，通过形成擦除痕迹来执行信息记录。 
具体地，通过在集中在任意的记录层位置的状态下对应于记录信息执行激光照射，信息记录通过擦除的痕迹被执行。 
此外，形成所谓的空孔(空隙)作为记录痕迹的空隙记录模式以相当高的能量对由例如以光聚合型光敏聚合物为例的记录材料形成的大容量层执行激光照射，从而在大容量层中记录空孔(空隙)。以这种方式形成的空孔部分变为具有与大容量层中其它部分不同的折射率的部分，这可以 提高边界部分中的光的反射率。因此，空孔部分用作记录痕迹，从而实现利用孔痕迹的形成的信息记录。 
然而，稍后描述的实施方式不仅可应用于负片型微全息照相模式或空隙记录模式，还可应用于用于伺服和用于记录的两个系统的激光从记录介质1的一面侧照射来在大容量层上执行信息记录的应用。 
在图1中，记录介质1是所谓的大容量型光记录介质，如图所示，在起始于其上层侧(激光入射面侧)的厚度方向上，依次形成覆盖层2、基准面3、大容量层5、以及倾斜检测层4。 
此外，在本说明书中，使用诸如“厚度方向”或“深度方向”的术语，但是“厚度方向”或“深度方向”指的是作为与激光的入射方向平行的方向的记录介质的厚度方向。 
在记录介质1中，覆盖层2由例如以聚碳酸酯或丙烯为例的树脂形成，并且如图所示，基准面3形成在覆盖层的下表面侧。 
在基准面3上，设置有凸凹截面形状，其对应于用于引导记录和再现位置的引导槽的形成。当从盘平面的方向观看时，引导槽形成为螺旋状。 
引导槽被形成为连续槽或凹槽行。例如，在引导槽是沟槽的情况下，通过以之字形(摆动)方式周期性地形成沟槽，可以通过之字形的周期信息执行地址信息的记录。下文，将描述基准面3被形成为其上记录有地址信息的连续槽(摆动槽)。 
通过使用形成有凹凸形状的压模作为之字形引导槽(摆动槽)来将凹凸形状转印至覆盖层的下表面侧的注模等来形成覆盖层2。在覆盖层2的凹凸形状表面上形成选择反射膜，从而形成基准面3。 
本文中，在与记录介质1有关的记录模式中，独立于用于对作为记录层的大容量层5执行痕迹记录的记录光(下文，第一激光)，另外照射伺服光(下文，第二激光)，以获得基于基准面3的跟踪或聚焦的误差信号。 
这时，如果第二激光到达大容量层5，那么存在第二激光不利地影响大容量层5中的痕迹记录的忧虑。为此，需要具有反射第二激光而允许第一激光穿过的选择性的反射膜。 
在本实例的情况下，由于例如第一激光具有405nm的波长，第二激光具有660nm的波长，所以它们是具有彼此不同的波长的激光。 
为了与此对应，作为选择反射膜，使用具有反射具有与第二激光相同的波长带的光而允许其它波长的光穿过的波长选择性的选择反射膜。 
在基准面3的下层侧(当从激光入射面侧观看时为内侧)，形成大容量层5。 
作为形成大容量层5的材料(记录材料)，可以根据诸如负片型微全息照相模式或空隙记录模式的记录方法采用合适的材料。例如，在空隙记录模式的情况下，采用塑料材料。 
关于大容量层5，对大容量层5的深度方向上预定的各位置，依次聚焦激光以通过形成痕迹来执行信息记录。 
因此，在已经完成记录的记录介质1中，在大容量层5中形成多个记录层L。在图中，如记录层L0～L(n)所示，形成多(n+1)个记录层。 
尽管大容量层5的厚度尺寸等是不确定的，但是例如在考虑通过具有NA为0.85的光学系统照射蓝激光(波长405nm)的情况下，适于在深度方向上距离盘表面(覆盖层2的表面)50μm～300μm的位置处形成记录层。这是在考虑球面象差校正而确定的范围。 
在图1中，示出了在距离盘表面50μm～300μm的位置处形成记录层的实例。 
当然，当层间隙变窄时，可以形成多(n+1)个记录层L。 
此外，在各记录层L中，在利用形成在基准面3中的沟槽执行跟踪伺服的状态下执行痕迹记录。因此，当从盘平面方向观看时形成在记录层L上的痕迹行被形成为螺旋状。 
在大容量层5的下层侧(当从激光入射面观看时为内侧)上，形成倾斜检测面4。 
倾斜检测面4具有由沟槽或凹槽行形成的凹凸截面形状。当在盘面方向观看时，例如，沟槽或凹槽行形成为螺旋状。 
通过凹凸形状的反射膜的膜的形成来形成倾斜检测面4。 
此外，不在倾斜检测面4上记录地址信息。倾斜检测面可以具有单个的沟槽或凹槽行。如稍后所描述的，用第一激光照射倾斜检测面4，从而通过返回光来检测倾斜量。 
倾斜检测面4形成在例如距覆盖层2的表面300μm的深度位置上。 
[1-2伺服控制] 
接下来，将基于图2和3描述在记录/再现以及稍后描述的倾斜校正期间施加给作为大容量型光记录介质的记录介质1的伺服控制。 
如上所述，对于记录介质1，形成记录痕迹，并且照射用于根据记录痕迹执行信息再现的第一激光和作为具有与第一激光不同的波长的伺服光的第二激光。 
尽管在下面图5中进行描述，但是经由共用物镜(图5中的物镜21)将第一激光和第二激光照射到记录介质1。 
这里，如图1所示，在记录介质1的大容量层5上，不在作为记录对象的各层位置上形成具有由凹槽、沟槽等形成的引导槽的反射面，这与关于诸如以DVD(数字通用盘)或蓝光盘(商标)为例的光盘的现状的多层光盘是不同的。为此，在尚未形成痕迹的记录期间，利用第一激光自身的反射光不可以执行对第一激光的聚焦伺服或跟踪伺服。 
从这点上，在对记录介质1进行记录期间，利用作为伺服光的第二激光的反射光来执行对第一激光的跟踪伺服和聚焦伺服。 
具体地，关于记录期间的第一激光的聚焦伺服，首先，设置用于第一激光的聚焦机构(图5中由透镜17和18以及透镜驱动部19组成的扩束 器(expander))，该聚焦机构能够独立仅改变第一激光的聚焦位置。此外，基于以基准面3为基准的图2中的偏移，通过控制用于第一激光的聚焦机构(扩束器)来执行聚焦伺服。 
本文中，如上所述，经由共用物镜用第一激光和第二激光照射记录介质1。此外，通过利用来自基准面3的第二激光的反射光(返回光)控制物镜来执行第二激光的聚焦伺服。 
以此方式，经由共用物镜照射第一激光和第二激光，并且通过基于来自基准面3的第二激光的反射光控制物镜来执行第二激光的聚焦伺服，从而第一激光的聚焦位置基本上追随在基准面3上。即，换句话说，通过基于来自基准面3的第二激光的反射光的物镜的聚焦伺服，对于与第一激光的聚焦位置有关的记录介质1的表面变动提供追随功能。 
此外，通过上述的用于第一激光的聚焦机构，使第一激光的聚焦位置偏移了(offset)偏移值of。结果，可以使第一激光的聚焦位置追随大容量层5中所需的深度位置。 
图2示出与大容量层5中设定的信息记录层L0～L(n)的情形对应的各偏移的实例。即，示出了对应于记录层L0的层位置设定偏移of-L0、对应于记录层L1的层位置设定偏移of-L1、...以及对应于记录层L(n)的层位置设定偏移of-L(n)的情况。 
通过利用偏移值of驱动用于第一激光的聚焦机构，可以在从作为记录层L0的层位置到作为记录层L(n)的层位置之中适当地选择在深度方向上形成痕迹的位置(记录位置)。 
此外，通过利用如上所述的经由共用物镜照射第一激光和第二激光的事实执行使用来自基准面3的第二激光的反射光的物镜的跟踪伺服，来执行记录期间对第一激光的跟踪伺服。 
此外，利用在基准面3上形成其上记录有地址信息的摆动槽的事实，从来自基准面3的第二激光的反射光信息取得记录期间的地址信息的获取。 
另一方面，在再现期间，如图1所示，由于在大容量层5上形成记录层L，所以可以获得来自记录层L的第一激光的反射光。结果，在再现期间，可利用第一激光自身的反射光来执行对第一激光的聚焦伺服。 
具体地，通过基于第一激光的反射光控制上述用于第一激光的聚焦机构来执行再现期间对第一激光的聚焦伺服。 
此外，同样在再现期间，通过基于第二激光的反射光执行物镜的跟踪伺服来实现第一激光的跟踪伺服。 
本文中，同样在再现期间，为了读取记录在基准面3上的地址信息，执行施加至基准面3的第二激光的聚焦伺服和跟踪伺服。 
即，同样在再现期间，以与记录期间相同的方式，执行物镜的位置控制，以基于第二激光的反射光来实现施加至基准面3的第二激光的聚焦伺服和服踪伺服。 
总之，如下执行第一实施方式的情形的伺服控制。 
第一激光侧 
在记录期间，通过利用第二激光的反射光驱动共用物镜以及利用使用用于第一激光的聚焦机构(扩束器)提供的偏移来执行聚焦伺服。 
通过利用第二激光的反射光驱动物镜来自动地执行跟踪伺服。 
在再现期间，通过利用第一激光的反射光驱动用于第一激光的聚焦机构(扩束器)来执行聚焦伺服。 
同样在再现期间，通过利用第二激光的反射光驱动物镜来自动地执行第一激光的跟踪伺服。 
第二激光侧 
在记录期间和再现期间，通过利用第二激光的反射光驱动物镜来执行聚焦伺服和跟踪伺服。 
此外，在再现期间，在完成对预定地址的访问并且实际开始记录层L的再现之后，可以不使用第二激光。即，由于其在已经形成记录痕迹行之后，所以可以基于来自记录层L的第一激光的反射光来执行物镜的聚焦伺服和跟踪伺服，并且可以读取记录在记录痕迹行中的数据中的地址。 
接下来，将基于图3来描述倾斜校正期间的伺服。 
在本实施方式中，如稍后描述的，在记录和再现操作之前，改变记录介质1上的第一激光和第二激光的入射光轴相对于记录介质1的倾斜状态，以执行倾斜校正。具体地，可以通过对倾斜方向上面向记录介质1的物镜的驱动、对包括物镜的光学拾取器的全体的驱动、以及对装载有记录介质1的轴机构的驱动等来实现倾斜校正。即，可以采用能够相对于记录介质1的平面调整激光轴入射角度的方法。在本实施方式中，描述了驱动物镜来执行倾斜校正的实例。 
如图3所示，当执行倾斜校正时，对第二激光进行相对于基准面3的聚焦控制。即，通过利用来自基准面3的第二激光的反射光(返回光)控制物镜来执行第二激光的聚焦伺服。 
此外，从来自倾斜检测面4的第一激光的反射光(返回光)获得用于倾斜校正的信息。 
同样在这种情况下，通过基于来自基准面3的第二激光的反射光对物镜进行聚焦伺服，对于与第一激光的聚焦位置有关的记录介质1的表面变动可提供追随功能。因此，通过用于第一激光的聚焦机构(扩束器)，将第一激光的聚焦位置偏移了图3所示的偏移值of-TM。偏移of-TM是根据深度方向上基准面3和倾斜检测面4间的距离所设定的值。 
结果，可以使第一激光的聚焦位置能够追随大容量层5的内侧上的倾斜检测面4。 
此外，在想要在记录介质1上的特定位置上执行倾斜校正的情况下(这是想要获取地址信息的情况)，由于在基准面3上形成其上记录有地 址信息的摆动槽，所以可以从来自基准面3的第二激光的反射光信息来获得。 
本实施方式的记录介质1在大容量层5的内侧上设置倾斜检测面4，从而基于第一激光的反射光信息相对于倾斜检测面4执行倾斜校正。 
尽管稍后将描述，从来自倾斜检测面4的反射光信息可获得的推挽信号或RF信号被设定为用于倾斜量检测的信号。 
将描述在大容量层5的内侧上设置倾斜检测面4的意图。 
为了良好地执行倾斜检测，推挽信号或RF信号的电平波动相对于倾斜量很大是适合的。即，如果在合适的倾斜状态下，最大的推挽信号电平(振幅)，推挽信号电平随着倾斜量增加而下降，那么推挽信号可以用作倾斜量检测的信号。 
本文中，将考虑平行平板倾斜情况下的彗形象差。彗形象差由以下公式表示。 
(1/6)·{(N2-1)/(N3λ)}·NA3tanθ·t 
本文中，N是介质折射率，θ是相对于记录介质平面的激光入射角，t是厚度，λ是激光波长，以及NA是开口数。 
于是，光斑位置距离激光入射面的厚度t越大，以及NA越大，彗形象差就越大，从而推挽信号的电平相应地下降。 
为此，为了根据入射角θ来获得振幅水平差，优选高NA和的大的厚度t。 
在大容量层5的内侧设置倾斜检测面4的原因是为了使厚度t变大。在这种情况下，在图1所示的实例中，t＝300μm。 
图4示出了径向倾斜量与推挽信号电平之间的关系。 
t＝300μm，NA＝0.85，以及λ＝405nm的情况是粗实线。 
t＝100μm，NA＝0.85，以及λ＝405nm的情况是点划线。 
t＝300μm，NA＝0.65，以及λ＝657nm的情况是虚线。 
t＝50μm，NA＝0.65，以及λ＝657nm的情况是细实线。 
从图4可见，在低NA的情况(虚线和细实线)下或在薄的厚度t的情况(点划线和细实线)下，根据倾斜量的推挽信号电平的波动是微小的。在这种情况下，难以将推挽信号电平的波动用作倾斜量的估计值。 
另一方面，在粗实线的情况下，当在大的厚度t和大的NA状态下使用λ＝405nm的第一激光时，可以看出，根据倾斜量的振幅变化明显地呈现在推挽信号电平上。 
本文中，虽然已经描述了推挽信号电平，但是对于RF信号的电平波动同样是成立的。
即，在本实例中，在大容量层5的内侧设置倾斜检测面4增加了厚度t，从而利用推挽信号电平等提高了倾斜检测灵敏度。 
[1-3记录再现光学系统] 
图5示出了用于对图1的记录介质1执行记录和再现的记录再现装置10(记录介质驱动装置)的构造。 
通过图中的主轴电动机39旋转和驱动对记录再现装置10装载的记录介质1。 
此外，在记录再现装置10中，设置用于使用第一激光和第二激光来照射以这种方式被旋转和驱动的记录介质1的光学拾取器OP。 
在光学拾取器OP中，设置第一激光二极管11，其是用于执行通过形成记录痕迹进行的信息记录以及执行由记录痕迹所记录的信息的再现的第一激光的光源；以及第二激光二极管12，其是伺服光的第二激光的光源。 
本文中，上述的第一激光和第二激光具有彼此不同的波长。在本实例的情况下，第一激光的波长约为405nm(所谓的蓝紫色激光)，第二激光的波长约为660nm(红色激光)。 
此外，在光学拾取器OP中，设置有物镜21，其是用于记录的记录介质1的第一激光和第二激光的输出端。物镜21的NA为0.85。 
此外，设置用于感测来自记录介质1的第一激光的反射光的第一光电检测器25和用于感测来自记录介质1的第二激光的反射光的第二光电检测器34。 
在光学拾取器OP中，形成有光学系统，该光学系统用于将从第一激光二极管11发射的第一激光引导至物镜21，以及将从记录介质1入射到物镜21上的第一激光的反射光引导至第一光电检测器25。 
第一激光的路径由实线来表示。 
首先，从第一激光二极管11发射的第一激光经由准直仪13变为平行光，并且然后入射至偏光分束器14。 
将偏光分束器14配置为允许经由准直仪13入射的第一激光穿过。 
已经透过偏光分束器14的第一激光穿过液晶元件15和1/4波长板16。 
本文中，设置液晶元件15以执行例如以彗形象差或象散象差为例的所谓的轴外象差的校正。 
已穿过1/4波长板16的第一激光入射到包括透镜17和18、以及透镜驱动部19的扩束器上。透镜17是固定透镜而透镜18是可移动透镜，以通过透镜驱动部19在平行于第一激光的光轴的方向上驱动透镜18，从而对第一激光执行独立的聚焦控制。 
扩束器(透镜驱动部19)在记录期间基于控制器50的指令使第一激光的聚焦位置移动，并且在再现期间基于来自第一激光聚焦伺服电路36的输出信号执行第一激光的聚焦控制。 
已穿过扩束器的第一激光入射到分色镜20上。将分色镜20配置为使具有与第一激光相同的波长段的光透过而反射其它波长的光。因此，入射到扩束器的第一激光透过分色镜20。 
因此，经由物镜21对记录介质1照射已透过分色镜20的第一激光。 
对于物镜21，设置调节器22，其将物镜21保持为在聚焦方向(靠近以及远离记录介质1)上和跟踪方向(与聚焦方向垂直的方向：记录介质1的径向方向)上是可移动的。此外，调节器22将物镜21保持为在倾斜方向(相对于记录介质1的激光轴的倾斜方向)上是可移动的。 
分别从第二激光聚焦伺服电路42和跟踪伺服电路43向聚焦线圈和跟踪线圈提供驱动电流，从而调节器22使物镜21分别在聚焦方向和跟踪方向上位移。 
此外，从倾斜伺服电路37提供驱动电流，从而调节器22使物镜21在倾斜方向上位移。 
在再现期间，根据如上所述的第一激光对记录介质1的照射，可获得来自记录介质1(具体地，在大容量层5中要进行再现的记录层L)的第一激光的反射光。以这种方式获得的第一激光的反射光经由物镜21被引导至分色镜20，并且透过分色镜20。 
已透过分色镜20的第一激光的反射光穿过构成扩束器的透镜17和透镜18，然后经由1/4波长板16和液晶元件15入射至偏光分束器14。 
本文中，入射到偏光分束器14上的第一激光的反射光(回路光)被配置为，通过1/4波长板16的作用和记录介质1的反射作用使其偏振方向与从第一激光二极管11侧入射至偏光分束器14的第一激光(去路光)的偏振方向相差90°。结果，如上所述入射的第一激光的反射光被偏光分束器14反射。 
被偏光分束器14反射的第一激光的反射光被引导至图中的聚光透镜23侧。此外，反射光经由聚光透镜23和柱面透镜24而会聚在第一光电检测器25的检测面上。 
此外，在光学拾取器OP中，还形成用于将从第二激光二极管12发射的第二激光引导至物镜21以及用于将从记录介质1入射到物镜21上的第二激光的反射光引导至第二光电检测器34的光学系统。 
第二激光的路径由虚线表示。 
如图所示，从第二激光二极管12发射的第二激光通过准直仪26变成平行光，并且入射至偏光分束器27。将偏光分束器27配置为使经由准直仪26入射的第二激光(去路光)透过。 
已透过偏光分束器27的第二激光经由1/4波长板28以及透镜29和30入射到分色镜20上。 
如上所述，分色镜20被配置为使具有与第一激光相同的波长段的光透过而反射其它波长的光。因此，如图所示，第二激光被分色镜20反射，并且经由物镜21照射到记录介质1。 
此外，对应于以这种方式第二激光对记录介质1的照射所获得的第二激光的反射光(来自基准面3的反射光)经由物镜21被分色镜20反射，并且穿过透镜30和29以及1/4波长板28，然后入射到偏光分束器27。 
以与上述第一激光相同的方式，从记录介质1侧入射的第二激光的反射光(回路光)被配置为，通过1/4波长板28的作用和记录介质1的反射作用使其偏振方向与去路光的偏振方向相差90°。因此，作为回路光的第二激光的反射光被偏光分束器27反射。 
此外，被反射的第二激光的反射光被平面镜31反射，并且经由聚光透镜29和柱面透镜33会聚在第二光电检测器34的检测面上。 
本文中，尽管省略了图示描述，但是在记录再现装置10中，设置有用于在跟踪方向上滑动整个光学拾取器OP的滑动驱动部，从而通过滑动驱动部对光学拾取器OP的驱动可以使激光的照射位置在大范围内位移。 
此外，在记录再现装置10中，设置有记录处理部40、第一激光矩阵电路35、第一激光聚焦伺服电路36、倾斜伺服电路37、再现处理部38、 第二激光矩阵电路41、第二激光聚焦伺服电路42、跟踪伺服电路43、地址解码器44、以及控制器50。 
首先，将要对记录介质1记录的数据(记录数据)输入到记录处理部40。记录处理部40对所输入的记录数据执行误差校正码的添加或预定的记录调制编码，从而获得记录调制数据行，其为要实际记录在记录介质1上的二进制数据行“0”和“1”。 
此外，基于记录调制数据行执行光策略(light strategy)，从而产生激光驱动信号。此外，将激光驱动信号提供给第一激光二极管11，从而执行第一激光二极管11的发光驱动。 
记录处理部40对应于来自控制器50的指令(控制信号CNT)执行这种处理。 
第一激光矩阵电路35包括与来自作为第一光电检测器25的多个感光元件的输出电流对应的电流电压转换电路、矩阵计算/放大电路等，从而通过矩阵计算处理产生所需要的信号。 
具体地，产生对应于再现信号的高频信号(再现信号RF)、用于聚焦伺服控制的聚焦误差信号FE、用于倾斜伺服的推挽信号P/P等。 
本文中，在本实例的聚焦误差信号FE中，存在两种信号，即基于第一激光的反射光的信号和基于第二激光的反射光的信号。下文中，为了将这两种信号相互区分开，在第一激光矩阵电路35中产生的聚焦误差信号FE被称作聚焦误差信号FE-1。 
在第一激光矩阵电路35中产生的再现信号RF被提供给再现处理部38。此外，聚焦误差信号FE-1被提供给第一激光聚焦伺服电路36。推挽信号P/P被提供给倾斜伺服电路37和第一激光聚焦伺服电路36。 
再现处理部38关于在第一激光矩阵电路35中产生的再现信号RF执行用于恢复记录数据的再现处理(诸如二进制处理、记录调制码的解码和误差校正处理等)，从而获得再现的记录数据的再现数据。 
此外，在再现期间，还执行从再现数据中提取地址信息。地址信息被提供给控制器50。 
此外，第一激光聚焦伺服电路36基于聚焦误差信号FE-1产生聚焦伺服信号，并基于聚焦伺服信号控制透镜驱动部19的驱动，从而对第一激光执行聚焦伺服控制。 
在记录期间或倾斜校正期间，第一激光聚焦伺服电路36对应于从控制器50提供的指令(控制信号CNT)根据预定的偏移of(参见图2和3)驱动透镜驱动部19。 
此外，在再现期间，第一激光聚焦伺服电路36通过根据第一激光的反射光驱动透镜驱动部19来执行第一激光的聚焦伺服控制。 
此外，在再现期间，第一激光聚焦伺服电路36执行透镜驱动部19的驱动控制，从而对应于从控制器50提供的指令(控制信号CNT)执行形成在记录介质1上的记录层L间的层间跃变动作或对所需要的信息记录面L的聚焦伺服的引入。 
此外，在稍后描述的倾斜校正期间，第一激光聚焦伺服电路36还根据推挽信号P/P执行扩束器(透镜驱动部19)的微小调整。 
倾斜伺服电路37向调节器22提供倾斜驱动信号，并且作为调节器22在倾斜方向上进行的用于倾斜校正的动作驱动物镜21。此外，利用要输入的推挽信号P/P确定是否存在最优倾斜状态。 
如图4所述，推挽信号P/P在最优的倾斜状态下为最大的振幅水平。因此，倾斜伺服电路37在倾斜方向上驱动调节器22的同时执行对推挽信号P/P的电平为最大化的倾斜校正位置寻找的操作。 
倾斜伺服电路37基于来自控制器50的指令(控制信号CNT)执行该操作。在本实例的情况下，控制器50控制倾斜伺服电路37以在记录操作或再现操作前执行倾斜校正。 
此外，在本实例中，描述了在倾斜校正中使用推挽信号P/P，但是利用再现信号RF的电平或诸如波动值的另一指标执行倾斜状态的确定。 
另一方面，关于第二激光侧，第二激光矩阵电路41包括对应于来自作为第二光电检测器34的多个感光元件的输出电流的电流电压转换电路、矩阵计算/放大电路等，并且通过矩阵计算处理产生需要的信号。 
具体地，第二激光矩阵电路41产生用于伺服控制的聚焦误差信号FE-2、跟踪误差信号TE、以及用于地址提取的推挽信号P/P。 
聚焦误差信号FE-2被提供给第二激光聚焦伺服电路41，跟踪误差信号TE被提供给跟踪伺服电路43。推挽信号P/P被提供给地址解码器44。 
第二激光聚焦伺服电路42基于聚焦误差信号FE-2产生聚焦伺服信号，并且基于聚焦伺服信号驱动调节器22的聚焦线圈，从而执行对物镜21的聚焦伺服控制。如上所述，在记录和再现期间基于第二激光的反射光来执行物镜21的聚焦伺服控制。 
第二激光聚焦伺服电路42驱动聚焦线圈，使得对应于来自控制器50控制信号CNT执行对形成在记录介质1上的基准面3的聚焦伺服的引入。 
此外，聚焦伺服控制可以使用象散象差方法、SSD(光斑尺寸检测)方法、差动象散象差方法等。 
跟踪伺服电路43基于来自第二激光矩阵电路41的跟踪误差信号TE产生跟踪伺服信号，并基于跟踪伺服信号驱动调节器22的跟踪线圈。如上所述，在记录和再现期间基于第二激光的反射光来执行物镜21的跟踪伺服控制 
此外，跟踪伺服控制可以使用PP(推挽)方法、DPP(差动推挽式)方法等。 
地址解码器44对输入的推挽信号P/P中的地址信息执行解码。 
由于第二激光会聚在基准面3上，所以其反射光具有形成在基准面3上的摆动槽的信息。 
第二激光矩阵电路41将摆动槽的信息作为推挽信号P/P提供给地址解码器44。地址解码器44解码推挽信号P/P中的地址信息以向控制器50提供地址信息。 
控制器50由包括诸如CPU(中央处理单元)或ROM(只读存储器)的存储器(存储装置)的微型计算机构成，并且根据存储在例如ROM等中的程序执行处理。此外，控制器50提供各部分所需要的控制信号CNT、从而执行对记录再现装置10的总体控制。 
在记录期间，控制器50基于图2所示的对应于各层位置所设定的偏移值of，执行第一激光的聚焦位置的控制(深度方向上记录位置的选择)。即，控制器50通过指示第一激光聚焦伺服电路36基于对应于要进行记录的层位置设定的偏移值of驱动透镜驱动部19，来在深度方向上执行记录位置的选择。 
偏移值of存储在控制器50中的ROM、闪存等中。通过设定偏移值of-L0～of-L(n)，来设定记录介质1中各记录层L0～L(n)的位置。 
如上所述，在记录期间基于第二激光的反射光来执行跟踪伺服控制。为此，在记录期间，控制器50指示跟踪伺服电路43基于跟踪误差信号TE执行跟踪伺服控制。 
此外，在记录期间，控制器50指示第二激光聚焦伺服电路42基于聚焦误差信号FE-2执行聚焦伺服控制(对物镜21的聚焦伺服控制)。 
另一方面，在再现期间，控制器50对第一激光聚焦伺服电路36进行指示，从而使第一激光聚焦到记录要被再现的数据的记录层L。即，对于第一激光，控制器50执行以记录层L为对象的聚焦伺服控制。 
此外，同样在再现期间，控制器50通过跟踪伺服电路43基于跟踪误差信号TE执行跟踪伺服控制。 
此外，在再现期间，控制器50通过第二激光聚焦伺服电路42基于聚焦误差信号FE-2执行聚焦伺服控制(物镜21的聚焦控制)。 
[1-4倾斜校正处理] 
将描述通过记录再现装置10执行的倾斜校正处理。 
控制器50控制各部分以在例如记录操作和再现操作之前执行倾斜校正。 
图6是在由记录再现装置10执行记录操作前的倾斜校正处理的流程图。将各步骤的操作配置成基于控制器50的指令来执行各部分。 
首先，作为步骤F101，相对于倾斜检测面4执行第一激光的聚焦控制。 
在这种情况下，第二激光聚焦伺服电路42控制调节器22，使得第二激光通过物镜21聚焦在基准面3上。此外，第一激光聚焦伺服电路36驱动扩束器的透镜驱动部19，使得可以获得图3的偏移of-TM。结果，第一激光在倾斜检测面4上受到聚焦控制。 
然而，在这种情况下，由于第一激光仅使用偏移of-TM进行聚焦控制，由于厚度误差达到记录介质1的倾斜检测面4，所以不能准确的说这就是最优的聚焦状态。 
因此，作为步骤F102，执行第一激光聚焦伺服电路36中的聚焦偏移调整或扩束器的微小调整，使得输入至第一激光聚焦伺服电路36的推挽信号P/P的电平最大化。此外，可以检测此时的再现信号RF，从而执行调整以使再现信号RF最大。 
当在步骤F101和F102中完成聚焦控制时，接下来，在步骤F103和F104中，通过倾斜伺服电路37执行校正操作。 
首先，在步骤F103中，倾斜伺服电路37确认要输入的推挽信号P/P的电平，从而检测倾斜量。此外，倾斜量还可以根据再现信号RF的抖动来检测倾斜量。 
此外，在步骤F104中，根据倾斜量来驱动调节器22，从而在倾斜方向上驱动物镜21。 
在那个状态下，在步骤F105中，第一激光聚焦伺服电路36再次执行聚焦偏移调整和扩束器的微小调整。 
此外，确认推挽信号P/P的电平是否是最大。即，确认作为表示倾斜量指标的推挽信号P/P的电平，从而确认倾斜量是否为最优(≈零)。 
这时，如果倾斜量＝零(或在预定允许的范围内)，则倾斜校正完成且处理前进至步骤F106。 
另一方面，如果倾斜量不是零或不在预定允许的范围内，那么处理返回至步骤F103以继续倾斜校正。即，倾斜伺服电路37在那时再次根据推挽信号P/P的电平检测倾斜量，从而根据倾斜量在倾斜方向上驱动物镜21。 
重复该处理直到在步骤F105中倾斜量＝零(或在预定允许的范围内)。 
在步骤F105中已经完成倾斜校正之后，在步骤F106中开始进行记录。在这种情况下，第二激光通过第二激光聚焦伺服电路42在基准面3上经受聚焦控制，并且跟踪伺服电路43执行跟踪控制。 
此外，对于第一激光，第一激光聚焦伺服电路36控制扩束器(透镜驱动部19)，从而给出对应于要进行记录的记录层L的深度位置的偏移of(参见图2)。 
在这种状态下，根据从第二激光的返回光获得的地址信息，确认记录介质1上的绝对位置，从而从预定的地址开始利用第一激光进行的痕迹记录。 
如上所述，根据第一实施方式，通过在记录开始之前执行倾斜校正，在消除第一激光和第二激光之间的光斑偏差的状态下执行记录。 
因此，利用摆动槽而记录在基准面3上的地址信息与记录层L中的记录信息之间的对应关系变为最优。结果，在地址信息记录在基准面3上的记录介质1中，在大容量层5上没有地址信息的情况下，实现了在大容量层5上的正确记录。 
此外，甚至在再现期间，期望执行与图6的步骤F101～F105相同的倾斜校正。结果，基于从基准面3获得的地址信息，正确地执行对再现位置的访问。 
<2.第二实施方式> 
[2-1光记录介质的结构] 
接下来，将描述第二实施方式 
在图7中示出了第二实施方式的光记录介质(记录介质1A)的截面结构。 
以与第一实施方式的记录介质1相同的方式，记录介质1A同样是盘状光记录介质，并且对要被旋转和驱动的记录介质1A执行激光照射以执行痕迹记录(信息记录)。此外，通过对要被旋转和驱动的记录介质1A照射激光来执行记录信息的再现。 
此外，例如，在负片型微全息照相模式、空隙记录模式等下，用于伺服和用于记录的两个系统的激光从记录介质1A的一面侧进行照射，从而对大容量层执行信息记录。 
图2的记录介质1A是大容量型光记录介质，并且在厚度方向上从激光入射面起依次形成有覆盖层2、大容量层5、以及基准及倾斜检测面6。 
记录介质1A与第一实施方式的记录介质1的不同之处在于，未在覆盖层2与大容量层5之间设置基准面3，而大容量层5的内侧处的基准及倾斜检测面6具有基准面功能和倾斜检测面功能的双重功能。 
覆盖层2或大容量层5与第一实施方式的记录介质1相同。 
在基准及倾斜检测面6上，设置有凹凸截面形状。当从盘平面的方向观看时，凹凸形状形成为螺旋状。此外，在凹凸形状上形成反射膜。 
通过连续槽或凹槽行来形成凹凸形状。例如，在沟槽的情况下，通过以周期的之字形(摆动)方式形成沟槽，来利用之字形的周期信息记录地 址信息。下文中，将描述基准及倾斜检测面6被形成为其上记录有地址信息的连续槽(摆动槽)。 
关于大容量层5，将激光依次地聚焦到大容量层5在深度方向上的各预定位置，从而通过形成痕迹来执行信息记录。 
因此，在已经完成记录的记录介质1A中，在大容量层5中形成多个记录层L。在图中，如由记录层L0～L(n)所示，形成多(n+1)个记录层。 
尽管大容量层5的厚度尺寸等是不确定的，但是例如在考虑通过NA为0.85的光学系统照射蓝色激光(波长405nm)的情况下，适于在深度方向上距离盘表面(覆盖层2的表面)50μm～300μm的位置上形成记录层。这是考虑到球面象差校正所确定的范围。在图7中，示出了在距离盘表面50μm～300μm的位置上形成记录层的实例。 
此外，为此，基准及倾斜检测面6形成在距离覆盖层2的表面300μm的深度位置上。 
此外，在各记录层L中，在使用形成在基准及倾斜检测面6上的沟槽进行跟踪伺服的状态下执行痕迹记录。因此，当从盘平面观看时，形成在记录层L上的痕迹行被形成为螺旋状。 
[2-2伺服控制] 
将参照图8和图9来描述记录和再现期间以及倾斜校正期间以记录介质1A为对象的伺服控制。 
在第二实施方式的情况下，对于记录介质，照射通过一个激光二极管形成而被分割成光学系统中的两个系统的路径的蓝色激光(例如，405nm)。 
尽管将在图10中对其进行描述，但是第一路激光用于形成记录痕迹以及根据记录痕迹执行信息再现，而第二路激光用于伺服。 
尽管稍后将在图10中对其进行描述，但是第一路激光和第二路激光在光学系统路径上彼此是分离的，然后再被引导至共用物镜(图10中物镜21)，从而从物镜21照射至记录介质1A。 
在记录介质1A的大容量层5中，在要进行记录的每层位置上不形成具有由凹槽、沟槽等构成的引导槽的反射面。为此，在尚未形成痕迹的记录期间，难以利用第一激光自身的反射光执行对第一路激光的聚焦伺服或跟踪伺服。 
因此，在记录介质1A的记录期间，利用作为伺服光的第二路激光的反射光执行对第一路激光的跟踪伺服和聚焦伺服。 
具体地，关于记录期间的第一路激光的聚焦伺服，首先，设置能够独立仅改变第一路激光的聚焦位置的第一路激光聚焦机构(由图10中的透镜55和56以及透镜驱动部57组成的扩束器)。此外，如图8所示，基于使用基准及倾斜检测面6作为基准的偏移of，通过控制第一路激光的聚焦机构(扩束器)来执行聚焦伺服。 
如上所述，第一路激光和第二路激光经由共用物镜照射至记录介质1A。此外，通过利用来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光(返回光)控制物镜来执行第二路激光的聚焦伺服。 
以此方式，经由共用物镜照射第一路激光和第二路激光，并且通过基于来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光控制物镜来执行第二路激光的聚焦伺服，从而第一路激光的聚焦位置基本上追随基准及倾斜检测面6。 
换句话说，通过基于来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光的物镜的聚焦伺服，对于与第一路激光的聚焦位置有关的记录介质1A的平面变化提供追随功能。 
此外，通过上述的第一路激光聚焦机构，使第一路激光的聚焦位置偏移了偏移值of。结果，可以使第一路激光的聚焦位置追随大容量层5中所需的深度位置。 
图8示出了与大容量层5中设定的信息记录层L0～L(n)的情形对应的各偏移的实例。即，示出了对应于记录层L0的层位置设定偏移of-L0、对应于记录层L1的层位置设定偏移of-L1、...以及对应于记录层L(n)的层位置设定偏移of-L(n)的情况。 
通过利用偏移值of驱动第一路激光的聚焦机构，可以在从作为记录层L0的层位置到作为记录层L(n)的层位置之中适当选择在深度方向上形成痕迹的位置(记录位置)。 
此外，通过利用如上所述的经由共用物镜照射第一路激光和第二路激光的事实，执行使用来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光的物镜的跟踪伺服，来实现记录期间对第一路激光的跟踪伺服。 
此外，利用在基准及倾斜检测面6上形成其上记录有地址信息的摆动槽的事实，从来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光信息取得记录期间的地址信息的获取。 
另一方面，在再现期间，如图7所示，由于在大容量层5上形成记录层L，所以可以获得来自记录层L的第一路激光的反射光。结果，在再现期间，可利用第一路激光自身的反射光来执行对第一路激光的聚焦伺服。 
具体地，通过基于第一路激光的反射光控制上述第一路激光的聚焦机构来执行再现期间对第一路激光的聚焦伺服。 
此外，同样在再现期间，通过基于第二路激光的反射光执行物镜的跟踪伺服来实现第一路激光的跟踪伺服。 
本文中，同样在再现期间，为了读取记录在基准及倾斜检测面6上的地址信息，执行以基准及倾斜检测面6为对象的第二路激光的聚焦伺服和跟踪伺服。 
即，同样在再现期间，以与记录期间相同的方式，执行物镜的位置控制，以基于第二路激光的反射光实现以基准及倾斜检测面6为对象的第二路激光的聚焦伺服和跟踪伺服。 
接下来，将基于图9描述倾斜校正期间的伺服。 
同样在该第二实施方式中，在记录和再现操作之前，改变记录介质1A上的第一路和第二路激光的入射光轴相对于记录介质1A的倾斜状态以执行倾斜校正。作为实例，通过在倾斜方向上驱动物镜来执行倾斜校正。 
如图9所示，当执行倾斜校正时，第二路激光相对于基准及倾斜检测面6经受聚焦控制。即，通过利用来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光(返回光)控制物镜来执行第二路激光的聚焦伺服。 
此外，没有特别限定第一路激光。 
用于倾斜校正的信息从来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光(返回光)获得。 
此外，在想要在记录介质1A上的特定位置上执行倾斜校正的情况下(这是想要获取地址信息的情况)，由于在基准及倾斜检测面6上形成其上记录有地址信息的摆动槽，所以可以从来自基准及倾斜检测面6的第二路激光的反射光信息来获得地址信息。 
第二实施方式的记录介质1A同样在大容量层5的内侧上设置基准及倾斜检测面6，并且基于第二路激光的反射光信息相对于基准及倾斜检测面6执行倾斜校正。执行大容量层5的内侧上的用于倾斜校正的基准及倾斜检测面6的设置，以可以使从覆盖层2的表面到基准及倾斜检测面6的厚度t尽可能的大。 
即，以与第一实施方式的倾斜检测面4的情况相同的方式，其是为了使从反射光信息获得的推挽信号或RF信号成为用于倾斜控制的更可取的信号，从而提高倾斜检测敏感度(参见图4及其描述)。 
[2-3记录再现光学系统] 
图10示出了用于对图7的记录介质1A执行记录和再现的记录再现装置10A(记录介质驱动装置)的构造。 
通过图中的主轴电动机39旋转和驱动对记录再现装置10A装载的记录介质1A。 
此外，在记录再现装置10A中，设置用于使用第一路激光和第二路激光照射以这种方式旋转和驱动的记录介质1A的光学拾取器OP。 
在光学拾取器OP中，设置第一激光二极管51，其输出具有约405nm波长的蓝紫激光。 
来自激光二极管51的激光被分割为光学系统中的第一路径和第二路径。第一路激光用在通过形成记录痕迹执行的信息记录中以及由记录痕迹记录的信息的再现中，第二路激光用在通过驱动物镜21执行的聚焦伺服、跟踪伺服、以及倾斜校正中。 
此外，作为至记录介质1A的第一路激光和第二路激光的输出端的物镜21的NA是0.85。 
此外，设置有用于感测来自记录介质1A的第一路激光的反射光的第一光电检测器70和用于感测来自记录介质1A的第二路激光的反射光的第二光电检测器67。 
第一路激光的路径由实线来表示，第二路激光的路径由虚线来表示。 
首先，从激光二极管51发射的激光经由准直仪52变为平行光，然后入射到偏光分束器53。 
偏光分束器53通过偏振分割入射激光。例如，偏光分束器53使P偏振分量穿过，而将S偏振分量反射。 
偏光分束器53的穿过分量(例如，P偏振分量)变为第一路激光。 
第一路激光通过液晶元件54执行诸如以彗形象差或象散象差为例的所谓的轴外象差的校正。 
已通过液晶元件54的第一路激光入射到包括透镜55和56、以及透镜驱动部57的扩束器上。透镜56是固定透镜而透镜55是可移动透镜， 从而通过透镜驱动部57在平行于第一路激光的光轴方向上驱动透镜55，从而扩束器对第一路激光执行独立的聚焦控制。 
扩束器(透镜驱动部57)在记录期间基于控制器50的指令使第一路激光的聚焦位置移动，并且在再现期间基于来自第一路激光聚焦伺服电路73的输出信号执行第一路激光的聚焦控制。 
已通过扩束器的第一路激光入射到具有预定反射率的分束器58上，并且一部分第一路激光穿过。此外，第一路激光穿过1/4波长板71，并且经由物镜21照射至记录介质1A。 
物镜21通过调节器22保持为在聚焦方向、跟踪方向、以及倾斜方向上是可移动的。 
调节器22利用来自第二路聚焦伺服电路76、跟踪伺服电路43、以及倾斜伺服电路37的驱动电流使物镜21在各方向上位移。 
在再现期间，根据如上所述的第一路激光对记录介质1A的照射，可获得来自记录介质1A(具体地，大容量层5中要进行再现的记录层L)的第一路激光的反射光。以这种方式获得的第一路激光的反射光经由物镜21和1/4波长板71被引导至分束器58，并且其一部分穿过分束器58。 
穿过分束器58的第一路激光的反射光经由构成扩束器的透镜56和透镜55以及液晶元件54入射至偏光分束器53。 
本文中，以这种方式入射到偏光分束器53的第一路激光的反射光(回路光)被配置为，通过1/4波长板71的作用和记录介质1A的反射作用使其偏振方向与第一路激光的去路光的偏振方向相差90°。结果，如上所述入射的第一路激光的反射光被偏光分束器53反射。 
被偏光分束器53反射的第一路激光的反射光经由聚光透镜68和柱面透镜69会聚在第一光电检测器70的检测面上。 
另一方面，第二路激光为如下。 
在从激光二极管51发射的激光中，被偏光分束器53反射的分量(例如，S偏振分量)变为第二路激光。 
第二路激光被引导至偏光分束器59。同样在偏光分束器59中，以与偏光分束器53相同的方式，例如通过反射S偏振分量，第二路激光被引导至液晶元件60侧。此外，在通过液晶元件60经受象差校正之后，第二路激光入射至包括透镜61和62以及透镜驱动部63的扩束器。透镜62是固定透镜而透镜61是可移动透镜，从而通过透镜驱动部63在平行于第二路激光的光轴方向上驱动透镜61，从而扩束器对第二路激光执行独立的聚焦控制。 
已通过扩束器的第二路激光被平面镜64反射并入射到分束器58上，其一部分被反射。此外，第二路激光穿过1/4波长板71，并且经由物镜21照射至记录介质1A。 
此外，对应于第二路激光以此方式对记录介质1A的照射而获得的第二路激光的反射光(来自基准及倾斜检测面6的反射光)经由物镜21和1/4波长板71后被分束器58部分反射。此外，反射光经由平面镜、透镜62和61以及液晶元件60入射到偏光分束器59上。 
这时，以与第一路激光的情况相同的方式，第二路激光的反射光(回路光)被配置为，通过1/4波长板71的作用和记录介质1A的反射作用使得其偏振方向与去路光的偏振方向相差90°。结果，作为回路光的第二路激光的反射光穿过偏光分束器59。 
此外，穿过偏光分束器59的第二路激光的回路光经由聚光透镜65和柱面透镜66会聚在第二光电检测器67的检测面上。 
此外，在本实例的情况下，由于回路光被具有预定透射率的分束器58分割，所以存在第一路径的回路光中还混合有部分第二路径的回路光的情况。然而，由于第二路径的回路光例如为P偏振分量，所以其穿过偏光分束器53。因此，仅第一路激光的回路光分量入射至第一光电检测器70。 
类似地，存在第二路径的回路光中还混合有部分第一路径的回路光的情况。然而，由于第一路径的回路光为例如S偏振分量，所以其被偏光分束器59和53反射。因此，仅第二路激光的回路光分量入射至第二光电检测器67。 
此外，在记录再现装置10A中，设置有记录处理部40、第一路矩阵电路72、第一路聚焦伺服电路73、倾斜伺服电路37、再现处理部38、第二路矩阵电路75、第二路聚焦伺服电路76、跟踪伺服电路43、地址解码器44、以及控制器50。 
首先，将要对记录介质1A记录的数据(记录数据)输入到记录处理部40。记录处理部40对所输入的记录数据执行误差校正码的添加或预定的记录调制编码，从而获得记录调制数据行，其是要实际记录在记录介质1A上的二进制数据行“0”和“1”。 
此外，基于记录调制数据行执行光策略，从而产生激光驱动信号。此外，将激光驱动信号提供给激光二极管51，从而执行激光二极管51的发光驱动。 
第一路矩阵电路72包括与来自作为第一光电检测器70的多个感光元件的输出电流对应的电流电压转换电路、矩阵计算/放大电路等，从而通过矩阵计算处理产生所需要的信号。 
具体地，产生对应于再现信号的高频信号(再现信号RF)、以及用于聚焦伺服控制的聚焦误差信号FE-1。 
在第一路矩阵电路72中产生的再现信号RF被提供给再现处理部38。此外，聚焦误差信号FE-1被提供给第一路聚焦伺服电路73。 
再现处理部38关于在第一路矩阵电路72中产生的再现信号RF执行用于恢复如上所述的记录数据的再现处理(诸如二进制处理、记录调制码的解码和误差校正处理等)，从而获得再现的记录数据的再现数据。 
此外，在再现期间，还执行从再现数据中提取地址信息。地址信息被提供给控制器50。 
此外，第一路聚焦伺服电路73基于聚焦伺服信号FE-1产生聚焦伺服信号，并且基于聚焦伺服信号控制透镜驱动部57的驱动，从而对第一路激光执行聚焦伺服控制。 
在记录期间，第一路激光聚焦伺服电路73基于由控制器50指示的偏移of(参见图8)执行透镜驱动部57的驱动控制。此外，在再现期间，第一路聚焦伺服电路73执行透镜驱动部57的驱动控制，从而对应于来自控制器50的指令执行形成在记录介质1A上的记录层L间的层间跃变动作或对所要的记录面L的聚焦伺服的引入。 
另一方面，关于第二路激光侧，第二路矩阵电路75包括与来自作为第二光电检测器67的多个感光元件的输出电流对应的电流电压转换电路、矩阵计算/放大电路等，并且通过矩阵计算处理产生所需要的信号 
具体地，第二路矩阵电路75产生用于伺服控制的聚焦误差信号FE-2、跟踪误差信号TE、以及用于地址提取或倾斜校正的推挽信号P/P。 
聚焦误差信号FE-2被提供给第二路聚焦伺服电路76，并且跟踪误差信号TE被提供给跟踪伺服电路43。推挽信号P/P被提供给地址解码器44、倾斜伺服电路37、以及第二路聚焦伺服电路76。 
第二路聚焦伺服电路76基于聚焦误差信号FE-2产生聚焦伺服信号，并且基于聚焦伺服信号驱动调节器22的聚焦线圈，从而执行对物镜21的聚焦伺服控制。在记录和再现期间基于第二路激光的反射光执行物镜21的聚焦伺服控制。 
此外，第二路聚焦伺服电路76甚至可通过驱动透镜驱动部63执行独立于第一路激光的第二路激光的聚焦伺服。 
第二路聚焦伺服电路76适当地驱动调节器22和透镜驱动部63中的一个或两个，使得对应于来自控制器50的控制信号CNT执行至形成在记录介质1A上的基准及倾斜检测面6的聚焦伺服的引入。 
此外，第二路聚焦伺服电路76在倾斜校正期间还根据推挽信号P/P控制扩束器(透镜驱动部63)。 
跟踪伺服电路43基于来自第二路矩阵电路75的跟踪误差信号TE产生跟踪伺服信号，并且基于跟踪伺服信号驱动调节器22的跟踪线圈。在记录和再现期间基于第二路激光的反射光来执行物镜21的跟踪伺服控制。 
地址解码器44对输入的推挽信号P/P中的地址信息执行解码。 
由于第二激光会聚在基准及倾斜检测面6上，所以其反射光具有形成在基准及倾斜检测面6上的摆动槽的信息。 
第二路矩阵电路75将摆动槽的信息作为推挽信号P/P提供给地址解码器44。地址解码器44解码推挽信号P/P中的地址信息，从而向控制器50提供地址信息。 
倾斜伺服电路37向调节器22提供倾斜驱动信号，并且作为调节器22在倾斜方向上进行的用于倾斜校正的动作驱动物镜21。此外，利用要输入的推挽信号P/P，确定是否存在最优的倾斜状态。即，倾斜伺服电路37在倾斜方向上驱动调节器22的同时执行对推挽信号P/P的点评为最大化的倾斜校正位置寻找的操作。 
倾斜伺服电路37基于来自控制器50的控制信号CNT执行操作。控制器50控制倾斜伺服电路37以在记录操作或再现操作前执行倾斜校正。 
如图5所描述的，控制器50提供各部分需要的控制信号CNT，从而执行对记录再现装置10A的总体控制。 
例如，在记录期间，控制器50基于图8所示的对应于各层位置所设定的偏移值of，执行第一路激光的聚焦位置的控制(深度方向上记录位置的选择)。即，控制器50通过基于对应于要进行记录的层位置设定的偏移值of指示第一路激光聚焦伺服电路73驱动透镜驱动部57，来执行深度方向上的记录位置的选择。 
偏移值of存储在控制器50的ROM、闪存等中。通过偏移值of-L0～of-L(n)值的设定，设定记录介质1A中各记录层L0～L(n)的位置。 
此外，由于在记录期间基于第二路激光的反射光执行跟踪伺服控制，所以在记录期间，控制器50指示跟踪伺服电路43基于跟踪误差信号TE执行跟踪伺服控制。 
此外，在记录期间，控制器50指示第二路聚焦伺服电路76基于聚焦误差信号FE-2执行聚焦伺服控制(对物镜21的聚焦伺服控制)。 
此外，尽管没有示出，但在记录再现装置10A中，设置有用于在跟踪方向上以滑动方式滑动整个光学拾取器OP的滑动驱动部。 
[2-4倾斜校正处理] 
将描述通过记录再现装置10A执行的倾斜校正处理。 
控制器50控制各部分以在例如记录操作和再现操作之前执行倾斜校正。 
图11是在通过记录再现装置10A执行记录操作前的倾斜校正处理的流程图。将各步骤的操作配置成基于控制器50的指令来执行每一部分。 
首先，作为步骤F201，相对于基准及倾斜检测面6执行第二路激光的聚焦控制。 
在这种情况下，第二路聚焦伺服电路76控制调节器22，使得第二路激光通过物镜21而会聚在基准及倾斜检测面6上。 
接下来，作为步骤F202，执行第二路聚焦伺服电路76中的聚焦偏移调整或通过第二路径的扩束器(透镜驱动部63)的驱动的微小调整，使得输入至第二路聚焦伺服电路76的推挽信号P/P的电平最大。此外，可以检测此时的再现信号RF，从而执行调整以使再现信号RF最大。 
接下来，在步骤F203和F204中，通过倾斜伺服电路37执行校正操作。 
首先，在步骤F203中，倾斜伺服电路37确认要输入的推挽信号P/P的电平，从而检测倾斜量。此外，倾斜量还可以根据再现信号RF的抖动来检测。 
此外，在步骤F204中，根据倾斜量来驱动调节器22，从而在倾斜方向上驱动物镜21。 
在那个状态下，在步骤F205中，第二路聚焦伺服电路76再次执行聚焦偏移调整和扩束器的微小调整。 
此外，确认推挽信号P/P的电平是否是最大。即，确认作为表示倾斜量指标的推挽信号P/P的电平，从而确认倾斜量是否为最优(≈零)。 
这时，如果倾斜量＝零(或在预定允许的范围内)，则倾斜校正完成且处理前进至步骤F206。 
另一方面，如果倾斜量不是零或不在预定允许的范围内，那么处理返回到步骤F203以继续倾斜校正。即，倾斜伺服电路37在那时再次根据推挽信号P/P的电平检测倾斜量，从而根据倾斜量在倾斜方向上驱动物镜21。 
重复该处理直到在步骤F205中倾斜量＝零(或在预定允许的范围内)。 
在步骤F205中已经完成倾斜校正之后，在步骤F206中开始进行记录。在这种情况下，第二路激光通过第二路聚焦伺服电路76在基准及倾斜检测面6上经受聚焦控制，并且跟踪伺服电路43执行跟踪控制。 
此外，关于第一路激光，第一路聚焦伺服电路73控制第一路径的扩束器(透镜驱动部57)，从而给出对应于要进行记录的记录层L的深度位置的偏移(参见图8)。 
在这种状态下，根据从第二路激光的返回光获得的地址信息，确认记录介质1A上的绝对位置，从而从预定的地址开始利用第一路激光进行的痕迹记录。 
如上所述，通过在记录开始之前执行倾斜校正，在消除第一路激光和第二路激光之间的光斑偏差的状态下执行记录。 
因此，通过摆动槽而记录在基准及倾斜检测面6上的地址信息与记录层L中的记录信息之间的对应关系变为最优。结果，在地址信息记录在基 准及倾斜检测面6上的记录介质1A中，在大容量层5上没有地址信息的情况下，实现了在大容量层5上的正确记录。 
此外，甚至在再现期间，期望执行与图11的步骤F201～F205相同的倾斜校正。结果，基于从基准及倾斜检测面6获得的地址信息，正确地执行对再现地址的访问。 
尽管上述已经描述了一些实施方式，但是本发明不局限于这些实施方式。 
例如，如第一实施方式的记录介质1的构造，没有必要在盘状记录介质1的整个区域上形成倾斜检测面4。即，如果指定了用于执行倾斜检测的径向位置，那么可以在径向位置上设置倾斜检测面4。 
此外，在第一实施方式中，还可以将倾斜检测面4的沟槽构造为其上记录有地址信息的摆动槽或凹槽行，并且在倾斜检测期间仅使用第一激光。 
本申请包含于2009年12月4日向日本专利局提交的日本优先权专利中请JP 2009-276318中公开的相关主题，其全部内容结合于此作为参考。 
本领域技术人员应当理解，根据设计要求和其它因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替换，只要它们在所附权利要求书或其等同物的范围内。 

Claims (9)

1.一种光记录介质，包括：
大容量层，在所述大容量层中通过激光照射记录光记录信息，并且在所述大容量层中形成其上记录有光记录信息的多个记录层，在所述光记录介质的各所述记录层之间的位置上未形成具有引导槽的反射面；
倾斜检测面，当从激光入射面侧观看时，所述倾斜检测面形成在所述大容量层的内侧，并且不在所述倾斜检测面上记录地址信息；以及
基准面，当从所述激光入射面侧观看时，具有包含地址信息的沟槽的所述基准面形成在所述大容量层的正面侧。
2.一种光记录介质驱动装置，包括：
光学拾取器，对光记录介质从一个物镜照射第一激光和第二激光，其中所述光记录介质包括：大容量层，在所述大容量层上通过激光照射记录光记录信息，并且在所述大容量层上形成其上记录有光记录信息的多个记录层；以及倾斜检测面，当从激光入射面侧观看时，所述倾斜检测面形成在所述大容量层的内侧；
聚焦控制部，对所述第一激光和所述第二激光中的每一个执行相对于所述光记录介质的各预定位置的聚焦控制；
跟踪控制部，控制所述物镜的位置以执行所述第一激光和所述第二激光对所述光记录介质的跟踪控制；以及
倾斜控制部，基于来自所述倾斜检测面的所述第一激光或所述第二激光的激光的返回光的信息，改变至所述光记录介质的所述第一激光和所述第二激光的入射光轴相对于所述光记录介质的倾斜状态，从而执行倾斜校正，
其中，在所述光记录介质中，设置形成有包含地址信息的沟槽的基准面，当从所述激光入射面侧观看时，所述基准面在所述大容量层的正面侧，
其中，所述第一激光和所述第二激光是具有彼此不同波长的激光，其中所述第一激光具有短波长，
其中，当执行所述倾斜校正时，在已经对所述第二激光执行相对于所述基准面的聚焦控制的状态下，所述聚焦控制部对所述第一激光执行相对于所述倾斜检测面的聚焦控制，以及
其中，所述倾斜控制部基于来自所述倾斜检测面的所述第一激光的返回光的信息执行所述倾斜校正。
3.根据权利要求2所述的光记录介质驱动装置，
其中，当对所述光记录介质执行记录时，
在已经执行所述倾斜校正的状态下，
所述聚焦控制部对所述第二激光执行相对于所述基准面的聚焦控制，并且所述跟踪控制部基于来自所述基准面的所述第二激光的返回光的信息执行所述跟踪控制，以及
所述聚焦控制部在已经执行至记录层形成位置的所述第一激光的聚焦控制的状态下，执行通过所述第一激光进行的所述光记录信息的记录。
4.根据权利要求3所述的光记录介质驱动装置，
其中，当对所述光记录介质执行记录时，从来自所述基准面的所述第二激光的返回光的信息获得所述地址信息。
5.根据权利要求2所述的光记录介质驱动装置，
其中，所述倾斜控制部基于作为来自所述倾斜检测面的返回光的信息的推挽信号、或RF信号的抖动执行所述倾斜校正。
6.一种光记录介质驱动装置，包括：
光学拾取器，对光记录介质从一个物镜照射第一激光和第二激光，其中所述光记录介质包括：大容量层，在所述大容量层上通过激光照射记录光记录信息，并且在所述大容量层上形成其上记录有光记录信息的多个记录层；以及倾斜检测面，当从激光入射面侧观看时，所述倾斜检测面形成在所述大容量层的内侧；
聚焦控制部，对所述第一激光和所述第二激光中的每一个执行相对于所述光记录介质的各预定位置的聚焦控制；
跟踪控制部，控制所述物镜的位置以执行所述第一激光和所述第二激光对所述光记录介质的跟踪控制；以及
倾斜控制部，基于来自所述倾斜检测面的所述第一激光或所述第二激光的激光的返回光的信息，改变至所述光记录介质的所述第一激光和所述第二激光的入射光轴相对于所述光记录介质的倾斜状态，从而执行倾斜校正，
其中，所述光记录介质中的所述倾斜检测面被形成为具有地址信息的沟槽或凹槽行，
其中，所述第一激光和所述第二激光是具有相同波长的激光，
其中，当执行所述倾斜校正时，所述聚焦控制部对所述第二激光执行相对于所述倾斜检测面的聚焦控制，以及
其中，所述倾斜控制部基于来自所述倾斜检测面的所述第二激光的返回光的信息执行所述倾斜校正。
7.根据权利要求6所述的光记录介质驱动装置，
其中，当对所述光记录介质执行记录时，
在已经执行所述倾斜校正的状态下，
所述聚焦控制部对所述第二激光执行相对于所述倾斜检测面的聚焦控制，
所述跟踪控制部基于来自所述倾斜检测面的所述第二激光的返回光的信息执行所述跟踪控制，以及
所述聚焦控制部在已经对所述第一激光执行相对于所述记录层形成位置的聚焦控制的状态下，执行通过所述第一激光进行的所述光记录信息的记录。
8.根据权利要求7所述的光记录介质驱动装置，
其中，当对所述光记录介质执行记录时，从来自所述倾斜检测面的所述第二激光的返回光的信息获得所述地址信息。
9.一种光记录介质驱动装置的光记录介质驱动方法，所述光记录介质驱动装置包括：
光学拾取器，对光记录介质从一个物镜照射第一激光和第二激光，其中所述光记录介质包括：大容量层，在所述大容量层上通过激光照射记录光记录信息，并且在所述大容量层上形成其上记录有光记录信息的多个记录层；以及倾斜检测面，当从激光入射面侧观看时，所述倾斜检测面形成在所述大容量层的内侧；
聚焦控制部，对所述第一激光和所述第二激光中的每一个执行相对于所述光记录介质的各预定位置的聚焦控制；
跟踪控制部，控制所述物镜的位置以执行所述第一激光和所述第二激光对所述光记录介质的跟踪控制；以及
其中，基于来自所述倾斜检测面的所述第一激光或所述第二激光的返回光的信息，改变至所述光记录介质的所述第一激光和所述第二激光的入射光轴相对于所述光记录介质的倾斜状态，从而执行倾斜校正，
其中，在所述光记录介质中，设置形成有包含地址信息的沟槽的基准面，当从所述激光入射面侧观看时，所述基准面在所述大容量层的正面侧，
其中，所述第一激光和所述第二激光是具有彼此不同波长的激光，其中所述第一激光具有短波长，
其中，当执行所述倾斜校正时，在已经对所述第二激光执行相对于所述基准面的聚焦控制的状态下，所述聚焦控制部对所述第一激光执行相对于所述倾斜检测面的聚焦控制，以及
其中，所述倾斜控制部基于来自所述倾斜检测面的所述第一激光的返回光的信息执行所述倾斜校正。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4596284B2 (ja) * 2008-05-26 2010-12-08 ソニー株式会社 光ディスク装置及びフォーカス制御方法
CN102629476A (zh) * 2011-02-04 2012-08-08 Tdk股份有限公司 光记录再现方法及装置、光记录介质及其制造方法
JP5675460B2 (ja) * 2011-03-30 2015-02-25 日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 ディスク装置
JP2012208982A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Hitachi Consumer Electronics Co Ltd 光ディスク装置及び記録方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1813293A (zh) * 2003-12-16 2006-08-02 松下电器产业株式会社 光盘装置及光盘
WO2008099708A1 (ja) * 2007-02-16 2008-08-21 Sanyo Electric Co., Ltd. 記録媒体、光ピックアップ装置および記録再生装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
HUP0401338A2 (en) * 2004-06-29 2006-02-28 Optimal Optik Kft Optical mead and multiplexing methods for reflection type holographic storage
JPWO2007000801A1 (ja) * 2005-06-27 2009-01-22 富士通株式会社 光情報記録再生装置
WO2007083308A1 (en) * 2006-01-18 2007-07-26 Mempile Inc. Optical data carrier and method for reading/recording data therein
JP2008021348A (ja) * 2006-07-11 2008-01-31 Ricoh Co Ltd 光情報記録媒体、光情報記録再生光学系、及び光情報記録再生装置
JP2008176902A (ja) 2006-10-23 2008-07-31 Sony Corp 光情報記録媒体
JP2008135144A (ja) 2006-10-23 2008-06-12 Sony Corp 光情報記録装置及び光情報記録方法並びに光情報再生装置及び光情報再生方法
JP4389184B2 (ja) * 2007-06-29 2009-12-24 ソニー株式会社 光情報記録再生装置
JP4538761B2 (ja) * 2008-05-16 2010-09-08 ソニー株式会社 光ディスクの初期化装置及び製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1813293A (zh) * 2003-12-16 2006-08-02 松下电器产业株式会社 光盘装置及光盘
WO2008099708A1 (ja) * 2007-02-16 2008-08-21 Sanyo Electric Co., Ltd. 記録媒体、光ピックアップ装置および記録再生装置

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