CN1901048B - 光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘装置，可以与有无伪信号的产生无关地在信号面上聚焦，该光盘装置具有物镜，并且包含：光学拾取器，输出基于光盘的反射光的信号；驱动部，使上述光学拾取器的物镜相对于光盘面相对移动；以及聚焦控制部，在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，在物镜与光盘面的距离为规定距离范围期间，进行从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号的聚焦检测动作。

Description

光盘装置

本申请要求日本专利申请2005-209257的优先权，该申请通过引用结合在本申请中。

技术领域

本发明涉及包含CD-ROM、CD-R、CD-RW驱动器或者DVD驱动器、Blue-Ray Disc(蓝光盘)驱动器等的光盘装置及其控制方法。

背景技术

近年来，光盘媒体的种类呈现多样化。不论是什么样的光盘媒体都具有多层构造，并且在媒体表面侧的保护层的内侧具有记录了信号的信号面，在这一点上是共同的。但另一方面很多参数不同，例如盘媒体的厚度、表面到信号面的距离、信号面的个数(例如，DVD最多具有2层的信号面)以及在从信号面读出信息时应使用的激光的波长等。

因此，以往一般是针对每种光盘媒体使用专用的驱动器。但是，如果必须针对每种光盘媒体购入并设置专用的驱动器，则使用者必须熟悉各驱动器的操作，并且经济负担也大。于是，人们追求可以应对多种类型的光盘媒体的驱动器(光盘装置)。为了获得这样的驱动器，人们开发出这样一种技术：利用光盘媒体的每种类型在读出时所使用的光源(激光)的波长不同的特点，使用具有波长选择性的光学元件，从而用一个物镜来改变透镜数值孔径。

用于这样的驱动器的光学拾取器如图5所示，构成为包含输出多种波长的激光的发光元件11、光束分离器12、光电探测器13和物镜体14。物镜体14包括物镜14L和包含衍射光栅的全息元件14H。

发光元件11例如是输出3个相互不同波长的激光的半导体激光元件(所谓的3波长激光器)。这里，在使3个波长对应例如蓝光盘和DVD(数字通用光盘)、CD(高密度磁盘)的情况下，控制成对蓝光盘输出405nm波长的激光、对DVD输出650nm波长的激光，对CD输出780nm波长的激光。

光束分离器12将发光元件11输出的光导向物镜体14侧。此外，光束分离器12将被媒体反射后通过物镜体14输入的光导向光电探测器13侧。光电探测器13具有配置成例如N×N的矩阵状的多个光检测元件。该光电探测器13具有用于测定光束束径的例如柱面透镜。由光束分离器12引导的光经由该柱面透镜到达多个感光元件中的每一个。然后，光电探测器13分别输出通过多个感光元件分别检测出的光强度信号。

物镜体14的全息元件14H使经由物镜体14引导的、被媒体反射后的激光折射，从而形成与其波长相对应的数值孔径(NA)，然后将其导向光束分离器12。另外，物镜14L是非球面透镜，使通过光束分离器12和全息元件14H从发光元件11导入的激光折射并输出，从而使其在离开针对其每种波长不同的规定焦距F的位置处形成焦点。另外，该物镜14L会聚被媒体反射后的激光，并将其导向全息元件14H。

从光电探测器13输出的信号(RF信号)生成表示激光相对光盘媒体的记录面的聚焦偏离的信号(聚焦误差信号：FE信号)和到达感光元件后的光的强度之和的信号(引入(プルイン)信号：PI信号)。通常还可以从该光电探测器13输出的信号生成表示跟踪误差的信号(TE信号)等，但在此省略其详细的说明。

这里，FE信号是如图6(a)所示的信号。即，FE信号在聚焦的情况下近似为“0”。并且是在以聚焦位置为中心、使光盘媒体与物镜体14的距离变动时，物镜体14离开聚焦位置规定的距离时分别具有正负峰值的信号。以下将该信号波形称为聚焦误差波形。

另外，PI信号是如图6(b)所示的信号。即，该PI信号在聚焦的位置上具有峰值。图6(a)、6(b)分别是表示FE信号以及PI信号的概略的说明图。

使用该光学拾取器时，控制物镜体14和媒体表面的距离，使物镜14L到媒体内部的信号面的距离为上述焦距F，即可以聚焦在信号面上，从而可以对应于多种光盘媒体来读出信号。这里，是否聚焦通过以下判断：使用上述FE信号以及/或者PI信号，例如在FE信号的绝对值越过峰值后下降了规定阈值(接近“0”)时判断为聚焦。或者在PI信号超过了规定阈值时判断为聚焦。

在具有2层以上的信号面的光盘媒体中，适当地控制物镜和媒体的位置关系的技术在特开2002-269770号公报(对应美国专利申请公开US2002/136103)中公开。

但是，如果使用上述现有的光学拾取器来应对多种光盘媒体，则会产生以下情况：在一面使物镜体14向光盘媒体移动、一面捕捉信号面上的反射光之前，在该物镜体14内改变数值孔径时不需要的无用光作为光盘媒体的表面或信号面的反射光在物镜体14内部反射，从而检测出至少一个伪信号(Fake)。

这里，由于作为对象的光盘媒体的种类或性质不同，会产生以下情况：与信号面上的反射光有关的FE信号和PI信号与FE信号或PI信号中的伪信号的信号形状类似，从而识别困难。例如，在低反射率的媒体(CD-RW等)中，在Fake的产生原因是表面反射的情况下，有时信号面的反射光的强度小于Fake的强度。

发明内容

本发明鉴于上述问题而作出，其目的之一是提供一种可以与有无伪信号的产生无关地在信号面上聚焦的光盘装置。

用于解决上述现有例的问题的本发明是一种光盘装置，其特征在于，具有物镜，并且包含：光学拾取器，输出基于光盘的反射光的信号；驱动部，使上述光学拾取器的物镜相对于光盘面相对移动；以及聚焦控制部，在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，在物镜与光盘面的距离为规定距离范围期间，进行从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号的聚焦检测动作。

附图说明

图1是表示本发明实施方式的光盘装置的例子的结构框图；

图2是表示在本发明实施方式的光盘装置中，基于来自光学拾取器的输出信号而生成的信号的例子的说明图；

图3是表示本发明实施方式的光盘装置的聚焦控制处理的例子的流程图；

图4是表示本发明实施方式的光盘装置的聚焦控制处理中的聚焦检测处理的例子的流程图；

图5是表示光学拾取器的结构例的概要图；

图6是表示焦点位置附近的聚焦误差信号和引入信号的概要的说明图。

具体实施方式

下面参照附图对本发明的实施方式进行说明。如图1所示，本发明实施方式的光盘装置具有媒体支持部21、主轴电动机22、光学拾取器23、两轴致动器24、进给电动机25、驱动放大器26、RF放大器27、伺服信号处理部28、伺服处理控制部29以及信号处理部30。

媒体支持部21可旋转地支持光盘媒体。此外，该媒体支持部21利用由主轴电动机22传递的动力使光盘媒体旋转。光学拾取器23与图5所示的光学拾取器相同，具有一个物镜和可以放射出具有3个或3个以上的相互不同的波长的光的激光器，并且选择性地放射出例如与蓝光盘、DVD、CD相对应的各波长的激光。另外，该光学拾取器23在此可通过两轴致动器24在光盘媒体的矢径方向以及垂直于光盘媒体的面的方向这2个方向(两轴)上移动。

两轴致动器24由进给电动机25驱动。该两轴致动器24具有在垂直于光盘媒体的面的方向上移动光学拾取器23的致动器(聚焦控制致动器)。由此控制光学拾取器23中包含的物镜体14与光盘媒体的表面的距离。

驱动放大器26针对进给电动机25控制其驱动量。另外，该驱动放大器26按照从伺服信号处理部28输入的信号来驱动两轴致动器24中的聚焦控制致动器。利用上述两轴致动器24和驱动放大器26实现本发明的驱动部。

RF放大器27基于光学拾取器23输出的、多个光检测元件各自的输出信号，生成并输出FE信号以及/或者PI信号。伺服信号处理部28可以利用例如DSP(数字信号处理器)来实现，用于检测RF放大器27输出的PI信号的峰值。另外，针对该PI信号检测其是否超过了预先规定的PI信号阈值(FOK：Focus OK(聚焦成功))。而且，该伺服信号处理部28针对RF放大器27输出的FE信号，进行使用预先规定的FE信号阈值(FZC：Focus Zero Cross(聚焦过零))的规定处理。有关该处理后面详述。伺服信号处理部28将这些检测结果或规定处理结果输出给伺服处理控制部29。

另外，伺服信号处理部28按照从伺服处理控制部29输入的指示，向驱动放大器26输出与聚焦控制致动器的驱动有关的信号。伺服处理控制部29例如为微型计算机，含有执行模块和存储元件。在该伺服处理控制部29的存储元件中，保存有应执行的程序或各种参数，执行模块按照保存在该存储元件中的程序进行处理。该伺服处理控制部29接收由伺服信号处理部28输入的信号(与PI信号的峰值检测结果有关的信号或与FE信号有关的处理结果信号)等的输入，并基于这些信号，执行将光学拾取器23与光盘媒体的距离设定为在信号面上聚焦的位置的处理(聚焦控制处理)。有关该聚焦控制处理后面详述。利用这些伺服信号处理部28和伺服处理控制部29，来实现本发明的聚焦控制部。

信号处理部30基于RF放大器27输出的信号，对记录在光盘媒体上的信号进行解调。然后该信号处理部30输出解调后的信号。

在此，对伺服信号处理部28以及伺服处理控制部29中的处理的具体内容进行叙述。在本实施方式中，伺服处理控制部29以光学拾取器23发出的光的焦点位于从光盘媒体的表面靠近物镜体14侧的位置(下面称为初始位置)为起点，以一定的速度使光学拾取器23相对移动，使其接近光盘媒体的表面(盘面)，并在聚焦到信号面上的位置处使光学拾取器23的移动停止。

即，伺服处理控制部29首先向伺服信号处理部28输出将光学拾取器23移动到初始位置的指示。伺服信号处理部28根据该指示向驱动放大器26输出与聚焦控制致动器的驱动有关的信号，将光学拾取器23移动到初始位置。

然后，伺服处理控制部29指示伺服信号处理部28，使光学拾取器23以大致恒定的速度向盘面移动。伺服信号处理部28根据该指示向驱动放大器26输出与聚焦控制致动器的驱动有关的信号，开始光学拾取器23的相对移动。

伺服信号处理部28基于光学拾取器23输出的信号生成FE信号和PI信号。该信号伴随着光学拾取器23的移动，例如如图2所示变化。即，光学拾取器23发出的光首先在光盘媒体表面上聚焦，形成表面反射光后入射到光学拾取器23。利用该表面反射形成FE信号和PI信号分别具有峰值的曲线(表面反射：S)。

然后，在光学拾取器23接近盘面时出现伴随表面反射的多个伪信号群(F1、F2、...)。从这里使光学拾取器23进一步接近盘面时，出现信号面上的反射光(T)。

伺服处理控制部29在进行了使光学拾取器23以大致恒定的速度从初始位置开始移动的指示后，作为聚焦控制处理，开始图3所示的处理。首先，利用PI信号和FE信号中的至少一个，在表面反射信号(S)出现之前待机(S1)。在检测到表面反射信号后，伺服处理控制部29启动未图示的计时器(S2)。

然后，伺服处理控制部29在处理S2中检查启动后的计时器的计时时刻是否超过预先规定的超时时间Tout(S3)，如果没有超过，则检查是否出现FE信号的聚焦误差波形或PI信号的峰值(S4)。在此检测伪信号的出现。在处理S4中没有检测出伪信号时，返回处理S3，继续进行处理。而在处理S4中检测出伪信号时，取得计时器的计时时刻，作为表示检测出规定的伪信号、例如第一个伪信号的时刻的信息(伪信号检出时刻)Tfake1(S5)。另外，利用光学拾取器23的移动速度信息V，通过移动速度信息V和Tfake1的相乘求出从检测出表面反射S开始到检测出第一个伪信号为止，光学拾取器23的移动距离(伪信号检出位置)Pfake1。

此外，由于光盘媒体分别按照标准规定了从表面到信号面的距离(基板厚度)的下限以及上限，因此按照与各光盘媒体相对应的波长，针对对应的每种光盘媒体，将与各光盘媒体相关的基板厚度的下限值作为检测开始位置Pmask、将上限值作为检测结束位置Plimit存储在伺服处理控制部29中。

这里，对于在所有波长范围内都没有出现伪信号Fake的光盘媒体，也可以不预先存储这些检测开始位置Pmask和检测结束位置Plimit。这种情况下，伺服处理控制部29基于另外检测出的光盘种类信息，检查是否是出现伪信号Fake的光盘媒体，是出现伪信号Fake的光盘媒体时，读出与该检测出的光盘媒体的种类相关联地存储的检测开始位置Pmask和检测结束位置Plimit。

伺服处理控制部29然后在处理S5中通过

Tmask＝Tfake1×Pmask/Pfake1

Tlimit＝Tfake1×Plimit/Pfake1

分别计算检测开始时间Tmask和检测结束时间Tlimit。

另外，Tout的值最好大于此处测定的Tfake1。因而，例如预先通过实验得到Tfake1的测定值，然后将Tout设定为大于所测定的Tfake1的值。

伺服处理控制部29在计时器的计时时刻超过Tmask前待机(S6)，在计时器的计时时刻超过Tmask时，开始聚焦检测处理(S7)。

另外，在处理S3中计时器的计时时刻超过了预先规定的Tout时，即在检测出伪信号之前花费了Tout以上的时间时，视为在媒体支持部21上放置了不对应的光盘媒体，从而输出表示错误的信号(S8)。

在以上的说明中，利用与光盘媒体相关的基板厚度的下限值来确定检测开始时间Tmask，但也可以更简单地将该Tmask确定为：

Tmask＝Tfake1×τ。

这里的τ为1以上的参数。一般情况下，在光盘媒体的面相对水平面具有倾角的情况下，从光学拾取器23到光盘媒体的表面的距离随着光盘媒体的旋转发生变化(所谓的面摆动)。因此，从检测出伪信号Fake的位置到信号面的距离会发生变化。另外，由于光盘媒体的种类不同，在离基于表面反射的伪信号Fake近的位置上会产生基于记录层上的反射光的伪信号Fake。照顾到这种情况，可以设定τ使得Tmask在观测到这些伪信号Fake的期间之后。例如，可以是τ＝1.25。

通过该处理，在光学拾取器23的物镜14L与光盘面的距离移动超过Tmask的时间后的距离范围内执行聚焦检测处理。即，在以一定的速度V驱动光学拾取器23时，在光学拾取器23的物镜14L与光盘面的距离小于Pmask＝Tmask×V的距离范围内，进行根据光学拾取器23的输出信号来检测光盘的信号面上的反射信号的聚焦检测动作。

下面对伺服处理控制部29的聚焦检测处理(聚焦检测动作)进行说明。在该处理中，伺服处理控制部29如图4所示，检查计时器的计时时刻是否超过在处理S5中计算的Tlimit(S11)。这里，在计时器的计时时刻超过在处理S5中计算的Tlimit时，转移到处理S8，视为在媒体支持部21上设置了不对应的光盘媒体，从而输出表示错误的信号(A)。

另一方面，当在处理S11中计时器的计时时刻没有超过在处理S5中计算的Tlimit时，检查PI信号是否超过规定的阈值FOK(S12)，在没有超过时，返回处理S11并继续进行处理。

当在处理S12中PI信号超过规定的阈值FOK时，利用FE信号进行聚焦在信号面上的处理。在该处理中，使用与FE信号相关的2个阈值FZC1和FZC2(FZC1>FZC2)。即，根据FE信号的聚焦误差波形，在沿接近光盘面的方向移动时，随着接近聚焦位置，信号取正的峰值，然后成为急剧变小的值，从而在聚焦位置上近似为“0”。因此，这里在暂时超过第1阈值FZC1并接着低于第2阈值FZC2的时刻判断为已聚焦。在这些阈值FOK、FZC1、FZC2因光盘媒体的种类而不同时，针对每种光盘媒体预先设定这些阈值FOK、FZC1、FZC2，并预先检测出是放置了什么样的光盘媒体(从使用者接收输入等)，从而取得并利用与该检测出的种类的光盘媒体相关联地设定的阈值。

即，当在处理S12中PI信号超过规定的阈值FOK时，伺服处理控制部29进一步检查计时器的计时时刻是否超过在处理S5中计算的Tlimit(S13)。这里，当计时器的计时时刻超过在处理S5中计算的Tlimit时，执行重试处理(S14)。有关重试处理后面详述。

另一方面，当在处理S13中计时器的计时时刻没有超过在处理S5中计算的Tlimit时，检查FE信号是否超过第1阈值FZC1(S15)，在没有超过时返回处理S13并继续进行处理。

另外，当在处理S15中FE信号超过第1阈值FZC1时，进一步检查计时器的计时时刻是否超过在处理S5中计算的Tlimit(S16)。这里，在计时器的计时时刻超过在处理S5中计算的Tlimit时，转移到处理S14，执行重试处理(S14)。

另一方面，当在处理S16中计时器的计时时刻没有超过在处理S5中计算的Tlimit时，检查FE信号是否低于第2阈值FZC2(S17)，在不低于时返回处理S16，继续进行处理。

另一方面，当在处理S17中FE信号低于第2阈值FZC2时，视为在该时刻在信号面上聚焦，从而停止光学拾取器23向垂直于盘面的方向的移动，并指示闭合聚焦伺服环路(接通聚焦伺服)(聚焦锁定控制：S18)。

另外，在处理S14的重试处理中，向伺服信号处理部28输出将光学拾取器23移动到初始位置的指示，并按照规定的方法更新第1、第2阈值FZC1、FZC2，返回处理S1并重复进行处理。在此，阈值的更新例如通过使FZC1、FZC2分别降低一定比例等方法进行。此外，在上述说明中使用了第1、第2阈值，但也可以例如只使用这里的第2阈值FZC2来进行二值化，从而在超过FZC2时使FE信号为“H”、没有超过时使FE信号为“L”，并在检测到该二值化后的FE信号的下降沿时，视为在该时刻聚焦在信号面上，从而停止光学拾取器23向垂直于盘面的方向的移动，指示闭合聚焦伺服环路(接通聚焦伺服)(聚焦锁定控制)。

如这里的处理S11、S13、S16，从光学拾取器23的相对移动开始后的规定基准时刻(在此为表面反射的检出时刻)开始，在经过了预先设定的检测结束时间的时刻，停止聚焦检测动作，从而可以降低光学拾取器23接触光盘媒体的机会。即，由此以光学拾取器23的聚焦方向的移动速度为V，在从Tmask×V到Tlimit×V之间的规定距离范围内进行聚焦检测处理。

此外，也可以在该图3、图4所示的处理(聚焦控制处理)的执行过程中，停止光盘媒体的旋转。

另外，在本例中，以第一个出现的伪信号Fake(F1)为基准来控制屏蔽时间，但不限于此，也可以对应所使用的光学系统的特性，例如以第2个出现的伪信号Fake(F2)为基准。对于作为该基准的伪信号Fake，可以按下述条件进行选择：是可出现的伪信号Fake当中、在较为接近表面反射的位置上产生的伪信号Fake，并且信号电平比较大、且稳定出现。

并且，在此前的说明中，规定每次测量Tfake1，但由于Tfake1或Pfake1这样的参数一般依赖于光学拾取器23的特性，因此也可以针对每种光学拾取器23，在制造光盘装置时，使用从表面到信号面的距离(D)为已知的基准盘来检测Tfake1，同时使用从聚焦到表面反射到聚焦到信号面的时间Tsignal，通过

Pfake1＝(Tfake1/Tsignal)×D

来确定Pfake1，并在伺服处理控制部29中存储这些Tfake1以及pfake1。

而且，这里预先设定了与PI信号有关的阈值FOK或与FE信号有关的阈值FZC1、2，但伺服处理控制部29也可以在进行聚焦控制处理之前，在预先确定的预搜索距离范围内使光学拾取器23相对于光盘媒体相对移动，进行预搜索控制处理，并基于在此期间根据来自光学拾取器23的输出信号生成的PI信号或FE信号，来确定上述各阈值。

这里，预搜索距离范围例如以检测出表面反射的位置为基准预先确定。而且，伺服处理控制部29也可以测量在预搜索控制处理期间输入的PI信号的峰值电平(最大值)或FE信号的峰值电平(最大/最小值)，并通过基于该测量结果的规定方法来确定FOK或FZC1、2。

作为具体例子，也可以针对PI信号的峰值电平的值PImax，使用规定的比例值η(0<η<1)，取阈值FOK为FOK＝η×PImax。对于FZC1、2也可以同样预先确定各自对应的比例值，并使用该比例值进行设定。这样，在反射率因光盘媒体的种类而变化时，不需要另外检测所设置的光盘媒体的种类，就可使阈值不同。

而且，在此前的说明中，以光学拾取器23的初始位置作为离开光盘面的位置，在使光学拾取器23从该初始位置向盘面方向移动的同时，检测表面反射或伪信号、信号面上的反射光，但也可以与之相反，以比聚焦到信号面上的位置更靠近盘面的位置为初始位置，在使光学拾取器23从该初始位置向离开盘面的方向移动的同时，检测信号面上的反射光。此时，在聚焦到比信号面更靠近盘内侧时，也出现伪信号，因此通过从初始位置开始相对移动并在移动规定距离(时间经过)后进行聚焦检测处理，来降低伪信号导致的影响。

此外，例如在第一个出现的伪信号Fake的强度F1与后续出现的伪信号Fake的强度F2，...Fn相比大规定比率以上时，即F1>>F2...Fn时，可以在检测出F1之前的时间停止聚焦检测处理，在检测出F1后开始聚焦检测处理。

另外，伺服处理控制部29也可以使用在图4的处理S18中停止光学拾取器23的移动的时刻的计时器的计时时刻Tsignal和光学拾取器23的移动速度V，通过

Psignal＝Tsignal×V

来计算从光盘媒体的表面到信号面的距离Psignal，并输出该计算结果。另外，还可以使用该计算结果来控制用于进行光学拾取器23的聚焦方向的移动的聚焦控制致动器，从而将该计算结果用于规定的处理。

而且，伺服处理控制部29也可以在进行聚焦控制处理之前，在预先确定的预搜索距离范围内使光学拾取器23相对于光盘媒体相对移动，进行预搜索控制处理，并基于在此期间根据来自光学拾取器23的输出信号而生成的PI信号或FE信号，来确定Tmask或Tlimit的值。

即，在预搜索控制处理期间，基于所输入的PI信号或FE信号，例如在PI信号中，在接近信号面的位置上的伪信号的峰值与聚焦到信号面上时的峰值相比低于规定比例时，从检测出表面反射的时刻开始使计时器计时，生成与该时刻后的PI信号的峰值及其检出时刻相关联地记录的表格。然后，对于该生成的表格，从i＝1开始顺序地比较第i个记录的峰值Pki和第i+1个记录的峰值Pki+1，检索出Pkn+1/Pkn>α的n。这里的α为1或1以上的规定的比例阈值。伺服处理控制部29以该检索出的第n个记录中所记录的时刻作为信号面跟前的伪信号的检出时刻Tfakelast，将第n+1个记录中所记录的时刻作为聚焦到信号面上的时刻(Tsignal)而取得。

伺服处理控制部29基于这些取得的信息确定Tsignal>Tmask≥Tfakelast的Tmask。例如，可以按照Tmask＝(Tsignal+Tfakelast)/2等来确定。

而且，伺服处理控制部29确定Tlimit，使得Tlimit≥Tsignal。例如可以按照Tlimit＝1.2×Tsignal来确定。

这样，通过在预先取得表示在规定距离范围内PI信号或FE信号如何变化的信息后进行聚焦控制处理，还可以应对例如因环境(温度或湿度)条件而使fake1等的值波动的情况。

根据本实施方式，在产生伪信号的位置范围内检测是否聚焦等，从而不停止光学拾取器的聚焦方向的移动动作，可以与有无伪信号的产生无关地聚焦到信号面上。

另外，产生伪信号的位置等的信息除了用于此处的聚焦控制外，也可以用于反射率的测量、使用相同波长的光的多种光盘间的种类判别(例如CD、CD-R、CD-RW的区别)等的处理。

尽管以优选或示例性实施方式说明了本发明，但本发明不限于此。

Claims (11)

1.一种光盘装置，其特征在于，包括：

光学拾取器，具有物镜并且输出基于光盘的反射光的信号；

驱动部，使上述光学拾取器的物镜相对于光盘面相对移动；以及

聚焦控制部，在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，在物镜与光盘面的距离为规定距离范围的期间，进行从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号的聚焦检测动作，

上述聚焦控制部在进行上述聚焦检测动作之前，进行通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面在预定的预搜索距离范围内相对移动的预搜索控制动作，并基于在上述预搜索控制动作期间的上述光学拾取器的输出信号，来确定上述规定距离范围。

2.一种光盘装置，其特征在于，包括：

光学拾取器，具有物镜并且输出基于光盘的反射光的信号；

驱动部，使上述光学拾取器的物镜相对于光盘面相对移动；以及

聚焦控制部，在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，在物镜与光盘面的距离为规定距离范围的期间，进行从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号的聚焦检测动作，

上述聚焦控制部在进行上述聚焦检测动作之前，进行通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面在预定的预搜索距离范围内相对移动的预搜索控制动作，并基于在上述预搜索控制动作期间上述光学拾取器的输出信号，来确定与上述信号面上的反射信号的检测有关的参数，并且在聚焦检测动作中，使用该确定的参数，在物镜与光盘面的距离为规定距离范围期间，从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号。

3.一种光盘装置，其特征在于，包括：

光学拾取器，具有物镜并且输出基于光盘的反射光的信号；

驱动部，使上述光学拾取器的物镜相对于光盘面相对移动；以及

聚焦控制部，在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，在物镜与光盘面的距离为规定距离范围的期间，进行从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号的聚焦检测动作，

上述驱动部以实质上恒定的速度使上述物镜从规定初始位置开始相对于光盘面的相对移动，

上述聚焦控制部从上述相对移动开始后的规定基准时刻起，在经过了预先设定的检测开始时间后，通过从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号，来进行在规定距离范围期间的聚焦检测动作。

4.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：

上述规定的基准时刻是检测出伴随上述光盘面上的表面反射的伪信号的时刻，

上述检测开始时间根据从上述相对移动开始起、到上述规定的基准时刻为止的时间来确定。

5.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：

上述规定的基准时刻是检测出伴随上述光盘面上的表面反射的伪信号的时刻，

上述检测开始时间根据从在上述相对移动开始后检测出基于上述光盘面上的表面反射的反射信号的时刻起、到检测出上述伪信号的时刻为止的时间来确定。

6.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：

上述聚焦控制部从上述相对移动开始后的规定基准时刻起，在经过了预先设定的检测结束时间的时刻，停止聚焦检测动作。

7.一种光盘装置，其特征在于，包括：

光学拾取器，具有物镜并且输出基于光盘的反射光的信号；

驱动部，使上述光学拾取器的物镜相对于光盘面相对移动；以及

检测部，在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，从规定的定时开始，在规定时间范围的期间，从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号，

上述驱动部以实质上恒定的速度使上述物镜从规定初始位置开始相对于光盘面的相对移动，

上述检测部从上述相对移动开始后的规定基准时刻起，在经过了预先设定的检测开始时间后，从上述光学拾取器的输出信号检测光盘的信号面上的反射信号。

8.根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于：

上述规定的定时是根据检测出伴随上述光盘面上的表面反射的伪信号的时刻而确定的定时，

上述规定时间范围是从上述规定的定时开始、到在上述光学拾取器的物镜到达上述光盘面的定时以前确定的时刻为止的范围。

9.一种光盘装置，其特征在于，具备：

光学拾取器，具有物镜并且输出基于光盘的反射光的信号；

驱动部，使上述光学拾取器的物镜以实质上恒定的速度从规定初始位置开始相对于光盘面相对移动；以及

检测部，在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，从检测出伴随上述光盘面上的表面反射的伪信号的时刻起，在经过了预先设定的检测开始时间后，从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号，

其中，上述检测开始时间根据从在上述相对移动开始后检测出基于上述光盘面上的表面反射的反射信号的时刻起、到检测出上述伪信号的时刻为止的时间来确定。

10.一种光盘装置的控制方法，以光盘装置作为控制对象，该光盘装置包括：

光学拾取器，具有物镜并且输出基于光盘的反射光的信号；和

驱动部，使上述光学拾取器的物镜以实质上恒定的速度从规定初始位置开始相对于光盘面相对移动，

上述控制方法在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，从上述相对移动开始后的规定基准时刻起，在经过了预先设定的检测开始时间后，在物镜与光盘面的距离为规定距离范围期间，从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号，并且

将该信号面上的反射信号的检测结果用于设定物镜和光盘面的距离的处理。

11.一种光盘装置的控制方法，以光盘装置作为控制对象，该光盘装置具备：

光学拾取器，具有物镜并且输出基于光盘的反射光的信号；和

驱动部，使上述光学拾取器的物镜以实质上恒定的速度从规定初始位置开始相对于光盘面相对移动，

上述控制方法包括以下步骤：在通过上述驱动部使上述物镜相对于光盘面相对移动的同时，从检测出伴随上述光盘面上的表面反射的伪信号的时刻起，在经过了预先设定的检测开始时间后，从上述光学拾取器的输出信号检测出光盘的信号面上的反射信号，

其中，上述检测开始时间根据从在上述相对移动开始后检测出基于上述光盘面上的表面反射的反射信号的时刻起、到检测出上述伪信号的时刻为止的时间来确定，并且

将上述信号面上的反射信号的检测结果用于设定物镜与光盘面的距离的处理。

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