CN102037363B - 自动分析装置 - Google Patents

自动分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102037363B
CN102037363B CN200980118245.1A CN200980118245A CN102037363B CN 102037363 B CN102037363 B CN 102037363B CN 200980118245 A CN200980118245 A CN 200980118245A CN 102037363 B CN102037363 B CN 102037363B
Authority
CN
China
Prior art keywords
reagent
mentioned
information
calibration
reagent container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN200980118245.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102037363A (zh
Inventor
山口卓也
松原茂树
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of CN102037363A publication Critical patent/CN102037363A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102037363B publication Critical patent/CN102037363B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613—Quality control
    • G01N35/00663—Quality control of consumables
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00722—Communications; Identification
    • G01N35/00732—Identification of carriers, materials or components in automatic analysers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613—Quality control
    • G01N35/00663—Quality control of consumables
    • G01N2035/00673—Quality control of consumables of reagents
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00722—Communications; Identification
    • G01N35/00732—Identification of carriers, materials or components in automatic analysers
    • G01N2035/00742—Type of codes
    • G01N2035/00782—Type of codes reprogrammmable code
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00693—Calibration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00712—Automatic status testing, e.g. at start-up or periodic

Abstract

本发明涉及自动分析装置。本发明的目的在于提供一种在存储装置损坏时也能在短时间内重新使用的自动分析装置。在分析装置处理部(33)存储有包含利用试剂的精度管理试样的测定结果和测定日期时间及测定的装置信息的精度管理信息，以及包含用试剂的校准结果和该校准的测定日期时间及测定的装置信息的校准信息的至少一种。试剂管理部(32)从设置于收放在容纳试剂的试剂收放部(7)的试剂容器(8)上的试剂容器ID标签读出信息，并将信息写入该试剂容器ID标签上。分析装置处理部(33)通过试剂管理部(32)对试剂容器ID标签写入精度管理信息或校准信息。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明涉及分析来源于生物体的试样的成分的自动分析装置，尤其是涉及关于试剂信息的保持具有特征的自动分析装置。
背景技术
在分析来源于生物体的试样的自动分析装置中，将用于识别为分析而使用的试剂的ID粘贴在试剂容器上，通过读取该ID来进行对各种试剂在哪种测定项目中使用的信息的识别。至今，作为识别ID标牌，公知的是使用条型码(例如，参照专利文献1-日本特开2005-10115号公报)。
在此，条型码虽具有标牌的制作容易且便宜等优点，但存在由于标牌的污染及表面附着水分等主要原因而不能读取或误读等问题。
另外，由于一旦已制成、粘贴的条型码不能重写，因而作为ID信息只能写入试剂制造时所决定的信息。
另一方面，校准结果的信息及精度管理试样的测定结果的信息一般存储在自动分析装置主体的存储装置中。作为存储装置，虽可使用硬盘驱动器(HDD)等，但对于自动分析装置的情况，例如机器周期为1.8秒的场合，每1.8秒对HDD存取而进行数据的读写，向HDD的存取频度高，使HDD的寿命缩短。例如，由于HDD的损坏而丢失存储在内部的校准结果的信息及精度管理试样的测定结果的信息的情况下，需要再次实行校准，或者进行精度管理试样的测定。在近年来的自动分析装置中，分析项目增多的结果，所使用的试剂的数量也达到例如70种。对这样大量的试剂实施校准的场合，需要数小时，自动分析装置直到能重新使用需要很长时间。
发明内容
本发明的目的在于提供一种在存储装置损坏时也能在短时间内重新使用的自动分析装置。
(1)为实现上述发明目的，本发明的自动分析装置，具备存储校准信息的分析装置处理部，上述校准信息包含利用试剂进行的校准结果和该校准的测定日期时间及进行测定的装置信息，该自动分析装置具备从设置于收放在容纳试剂的试剂收放部的试剂容器上的试剂容器ID标签读出信息，并将信息写入该试剂容器ID标签的试剂管理部，上述分析装置处理部通过上述试剂管理部对上述试剂容器ID标签写入上述校准信息，上述分析装置处理部，从上述试剂容器ID标签读出的上述校准信息中，判定上述装置信息是否不同，判定上述测定日期时间是否超过了规定的期间，并且根据测定结果判定校准线是否异常，当上述装置信息被判定为相同、被判定为没有超过上述规定的期间、并且上述校准线被判定为正常的情况下，不用再次实施校准，利用上述校准线进行一般的检测物测定。
采用这种结构，在存储装置损坏时也能在短时间内重新使用。
(2)在上述(1)中，优选上述分析装置处理部存储有包含利用试剂进行的精度管理试样的测定结果和测定日期时间及进行测定的装置信息的精度管理信息，上述分析装置处理部通过上述试剂管理部对上述试剂容器ID标签写入上述精度管理信息，上述分析装置处理部，从上述试剂容器ID标签读出的上述精度管理信息中，判定上述精度管理信息的上述装置信息与上述校准信息的上述装置信息是否相同，判定上述精度管理信息的上述测定日期时间是否在规定的时间内，并且判定上述精度管理信息的上述测定结果是否在精度管理值的范围内，显示装置，当上述精度管理信息的装置信息与上述校准信息的装置信息被判定为相同、上述精度管理信息的上述测定日期时间被判定为在上述规定的时间内、并且上述精度管理信息的上述测定结果被判定为在精度管理值的范围外的情况下，显示是否实施校准。
(3)在上述(1)中，优选利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的校准信息，并且具有显示已读取的校准信息的显示装置。
(4)在上述(1)中，优选具有显示由上述分析装置处理部判断的是否需要实施校准的显示装置。
(5)在上述(1)中，优选利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的校准信息，并且上述分析装置处理部具有校准装置，该校准装置用于在已读取的校准信息是在规定期间以前测定的结果的情况下，自动地进行校准测定。
(6)在上述(1)中，上述试剂收放部，收放了分别容纳在多个试剂容器中的多种试剂，对于使用多种试剂进行分析的测定项目，将多个试剂容器成对使用的情况下，将多个试剂容器的一个试剂容器的试剂的校准信息写入与多个试剂容器成对的试剂容器的试剂容器标签上，通过读出一个试剂容器或成对的试剂容器的至少一个的试剂容器标签的校准信息，来识别成对的试剂容器，用该成对的试剂进行分析。
本发明的效果是，根据本发明，在存储装置损坏时也能在短时间内重新使用。
附图说明
图1是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置的总体结构的系统结构图。
图2是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置所使用的试剂容器的结构的主视图。
图3是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置的向试剂容器标签读写信息的结构的方框图。
图4是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置的使用了试剂容器信息的分析方法的流程图。
图中：
1-分析装置操作部，2-试样容器，3-运送架，4-试样分注机构，5-反应盘，6-反应容器，7-试剂收放部，8-试剂容器，9-试剂分注机构，10-搅拌机构，11-光度计，12-清洗机构，13-低温箱开口部，18-试剂容器的标牌，19-试剂容器的标签，20-试剂的制造厂名，21-试剂的项目名，22-试剂的有效期限，31-分析装置，32-试剂管理部，33-分析装置处理部，34-分析装置的显示装置。
具体实施方式
下面，使用图1～图4对本发明的一个实施方式的自动分析装置的结构及动作进行说明。
首先，使用图1对本实施方式的自动分析装置的总体结构进行说明。
图1是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置的总体结构的系统结构图。
在运送架3上架设有加入了试样的试样容器2。运送架3被运送到试样分注机构4A、4B附近的运送架3A的位置。在反应盘5上架设有多个反应容器6。试样分注机构4A、4B根据来自操作部1的指示，从运送架3A的试样容器2抽吸测定用的试样，并分别分注到多个反应容器6中。反应盘5可在圆周方向转动。之所以设置两个试样分注机构4A、4B是为了提高每单位时间的处理能力。
在本实施方式中，具有两个试剂收放部7A、7B。试剂收放部7A、7B的内部为低温箱，在低温状态下保存多个试剂容器8。在试剂容器8中分别保存有不同的试剂。在试剂收放部7A、7B的上部设有盖，在盖的一部分上设有用于抽吸试剂的开口部13A、13B、13C、13D。在试剂收放部7A的附近设有两个试剂分注机构9A、9B。另外，在试剂收放部7B的附近设有两个试剂分注机构9C、9D。在试剂收放部7A的上部设有试剂信息管理部32A。另外，在试剂收放部7B的上部设有试剂信息管理部32B。如使用图2后文所述，试剂容器8粘贴有能用电波或电磁波读出写入信息的试剂容器标签。试剂容器标签例如是RFID。试剂信息管理部32A、32B从试剂容器标签读出有关试剂的信息，并在试剂容器标签上写入信息。
用试样分注机构4A、4B分注了测定试样的反应容器6能够通过反应盘5的转动而移动到由试剂分注机构9A、9B、9C、9D进行试剂分注的位置。另外，试剂收放部7A、7B能转动，但试剂收放部7A、7B的盖却不转动。试剂收放部7A、7B通过转动而能够将规定的试剂定位在开口部13A、13B、13C、13D下方的位置。试剂分注机构9A通过开口部13A抽吸规定的试剂，并将试剂分注到已分注了测定试样的反应容器6中。另外，试剂分注机构9B通过开口部13B抽吸规定的试剂，并将试剂分注到已分注了测定试样的反应容器6中。同样地，试剂分注机构9C通过开口部13C抽吸规定的试剂，并将试剂分注到已分注了测定试样的反应容器6中。并且，试剂分注机构9D通过开口部13D抽吸规定的试剂，并将试剂分注到已分注了测定试样的反应容器6中。
已分注了试样和试剂的反应容器6被移动到搅拌机构10A、10B的位置进行搅拌。根据测定的项目，由于分析所使用的试剂使用一种、两种或三种以上，因而所需要的试剂依次使用试剂分注机构9A、---、9D进行抽吸，并分注到反应容器6中进行搅拌。
在试样和试剂的搅拌结束后，若经过规定的反应时间，则将反应容器6移动到光度计11的位置。光度计11由光源灯、分光用衍射光栅及光检测器构成。使用光度计11对试样的化学反应的发色进行测光和分析。
分析后，为了对下一个试样进行分析，利用清洗机构12对反应容器6进行清洗。在抽吸用于进行分析的试样后，将架设了试样容器的运送架3从分析部搬出。
另外，根据从操作部1发出的指示，试剂容器8移动到试剂信息管理部32A、32B的位置，从试剂容器标签读出每个试剂容器的各个信息，或将各个信息写入试剂容器标签。
下面，使用图2对实施方式的自动分析装置所使用的试剂容器的结构进行说明。
图2是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置所使用的试剂容器的结构的主视图。
在设置于试剂收放部7的试剂容器8上，粘贴有在以视觉辨认装入试剂容器内的试剂信息的标牌中，埋入利用电波或电磁波进行读出或写入的试剂容器标签的标牌18。在试剂容器的标牌18上可以视觉辨认从试剂制造时就不会变化的试剂的制造厂名20、项目名21、有效期限22等信息，相同的信息写入试剂容器标签19。在试剂容器标签19还写入以下说明的校准的结果及精度管理试样的测定结果。
分析装置使用试剂测定一个或多个已知浓度的试样(校准试样)，根据表示浓度和吸光度的关系的数据作成校准线，取得用于进行测定值的校正的数据。将此过程称为校准。使用通过校准取得的浓度和吸光度的关系输出一般试样的分析结果。校准是为了修正分析装置对一般检测物的测定数据的设备误差及试剂批次间的差等而进行的。在试剂容器标签19上写入有校准的结果、实施校准的时间以及进行了校准的分析装置的ID等。另外，将相同的信息存储在图1所示的分析装置处理部33中的HDD等的存储部中。
另外，为了确认测定值的校正(校准)是否正常，通过定期测定以稳定的基准范围的浓度制造的精度管理试样(控制试样)来确认测定值的稳定性。在试剂容器标签19上写入有精度管理试样的测定结果、实施精度管理试样的时间以及进行了精度管理试样的分析装置的ID等。另外，将相同的信息存储在分析装置处理部33中的HDD等的存储部中。
一般地，在分析开始前实施校准，在校准后测定精度管理试样并确认装置和试剂处于能正常分析的状态后，开始一般试样的分析。如果在此刻超过了精度管理值的范围的场合，则在进行了更换试剂、调整装置等的处理后再次实施校准与精度管理试样的测定。然后，定期测定精度管理试样，一边确认试剂和装置的状态，一边继续进行一般试样的分析。如果定期测定的精度管理试样的测定结果超过了精度管理值的范围的场合，则再次实施校准，然后测定精度管理试样并确认其状态。
下面，使用图3对本实施方式的自动分析装置的向试剂容器标签读写信息进行说明。
图3是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置的向试剂容器标签读写信息的结构的方框图。
在用分析装置31对精度管理试样进行分析前、分析中或分析后，将试剂容器8移动到写入试剂容器标签的信息的试剂信息管理部32的位置。然后，通过设置于试剂收放部7的试剂信息管理部32将精度管理试样的分析结果以及装置的序列号等的ID及测定日期时间写入到精度管理用试剂的试剂容器8的试剂容器标签上。另外，将相同的信息存储在分析装置处理部33中的HDD等的存储部中。
另外，利用试剂信息管理部32读出的精度管理信息通过显示在分析装置的显示装置34上，使用者便能看到所需要的试剂的精度管理信息，还可以进行印刷或数据的保存等。
另外，在用分析装置31对校准试样进行分析前、分析中或分析后，将试剂容器8移动到写入试剂容器标签的信息的试剂信息管理部32的位置。然后，通过设置于试剂收放部7的试剂信息管理部32将校准试样的分析结果以及装置的序列号等的ID及测定日期时间写入到校准用试剂的试剂容器8的试剂容器标签上。另外，将相同的信息存储在分析装置处理部33中的HDD等的存储部中。
另外，利用试剂信息管理部32读出的校准信息通过显示在分析装置的显示装置34上，使用者便能看到所需要的试剂的校准信息，还可以进行印刷或数据的保存等。
至今，精度管理信息及校准信息虽然只存储在分析装置处理部中的HDD等的存储部中，但在本实施方式中，还将这些信息写入到校试剂容器的试剂容器标签上。其结果，例如，即使在由于HDD的损坏而丢失存储在内部的校准结果的信息及精度管理试样的测定结果的信息的情况下，也不必重新实行校准，或者进行精度管理试样的测定，由于可以使用在试剂容器标签上写入的信息，因而不需要再次进行校准就能在短时间内重新使用自动分析装置。
下面，使用图4对本实施方式的自动分析装置的使用了试剂容器信息的分析方法进行说明。
图4是表示本发明的一个实施方式的自动分析装置的使用了试剂容器信息的分析方法的流程图。
在步骤S10中，分析装置处理部33使用试剂信息管理部32从试剂容器的试剂容器标签读出校准信息。
接着，在步骤S20中，分析装置处理部33由已读出的校准信息中判定装置ID是否不同。在为不同时，在步骤S90中，分析装置处理部33通过自动地显示在显示部34上以便使用试剂实施校准，有助于使用者进行判定，使用方法被简化。另外，在校准试样设置在分析装置中的情况下，通过在没有使用者的指示而自动地对校准试样进行分析，从而能简化操作方法。
另外，在步骤S20中，若判定为装置ID是相同的，则接着，在步骤S30中，分析装置处理部33判定测定日期时间是否超过了规定的期间。当超过了规定的期间时，则在步骤S90中，分析装置处理部33自动地显示在显示部34上以便使用试剂实施校准。
另外，在步骤S30中，若判定为未超过规定的期间，则接着，在步骤S40中，分析装置处理部33判定校准线是否异常。若判定为异常，则在步骤S90中，分析装置处理部33自动地显示在显示部34上以便使用试剂实施校准。
另外，在步骤S50中，利用已读出的精度管理信息，分析装置处理部33判定装置ID是否相同。在相同的情况下，在步骤S60中，分析装置处理部33判定精度管理试样的测定日期时间是否在规定的时间内。在规定的时间内的情况下，在步骤S70中，分析装置处理部33判定测定结果是否在精度管理值的范围内。在范围外的情况下，在步骤S90中，分析装置处理部33自动地显示在显示部34上以便使用试剂实施校准。
另外，在步骤S50中，在判定为没有相同装置的精度管理信息的情况下，在步骤S60中，在判定为比规定时间久的情况下，在步骤S70中，在判定为精度管理值为范围内的情况下，在步骤S80中，分析装置处理部33通过使用上述校准线并用于一般的检测物测定的浓度运算，由于不用再次实施校准就能进行一般的检测物测定，因而能够缩短测定时间并降低校准试样的使用量。
此外，在以上的说明中，虽然采用了对校准信息和精度管理信息两者进行检查，但也可以只对校准信息进行检查。
另外，对于每个测定了精度管理试样的测定结果的经历的装置，通过纪录在试剂容器标签上，并用分析装置将从试剂容器标签读取的精度管理试样的测定结果的经历信息显示在显示装置34上或进行印刷，使用者便可以得到有关该试剂的状态的信息。
另外，对于使用多种试剂进行分析的测定项目，在多种试剂被分别容纳在多个试剂容器中，将多个试剂容器成对使用的情况下，通过将使用多个试剂容器的一个试剂容器的试剂进行了分析的精度管理信息和校准信息的任何一个或两者写入与多个试剂容器成对的试剂容器的试剂容器标签上，通过读出一个试剂容器或成对的试剂容器的至少一个的试剂容器标签的信息，就能认识成对的试剂容器，用该成对的试剂进行分析。
如以上的说明那样，根据本实施方式，在存储装置损坏时也能在短时间内重新使用。
另外，通过使用包含能够写入试剂制造后所产生的试剂信息的ID标签的试剂容器，可以简化分析操作。
另外，通过在试剂制造厂制造试剂时，将与该试剂相对应的校准试样的批次、基准曲线等信息预先写入试剂容器的试剂标签，通过用分析装置将已进行的校准结果及预先写入标签上基准曲线显示在显示装置34上或者进行印刷，使用者便能得到有关此时的校准结果及试剂状态的信息。
另外，通过在试剂制造厂制造试剂时，将用该试剂测定的控制试样的种类、批次、目标值等精度管理信息预先写入试剂容器的试剂标签，通过用分析装置将已进行的精度管理测定结果及预先写入的精度管理信息显示在显示装置34上或者进行印刷，使用者便能得到有关该试剂状态的信息。
另外，通过将用该试剂的校准结果及精度管理信息的全部经历预先写入试剂标签，在测定结果有什么异常的情况下，有利于根据与经历信息的比较而迅速地查明异常的原因。
另外，读出已写入试剂容器的试剂标签的信息的读取装置及显示装置可以是分析装置以外的计算机设备。由此，与分析装置的用户使用状况无关，通过用装置以外的计算机设备来读取试剂标签信息，在异常时可以加快查明异常的原因。

Claims (6)

1.一种自动分析装置，具备存储校准信息的分析装置处理部，上述校准信息包含利用试剂进行的校准结果和该校准的测定日期时间及进行测定的装置ID信息，该自动分析装置的特征在于，
具备从设置于收放在容纳试剂的试剂收放部的试剂容器上的试剂容器ID标签读出信息，并将信息写入该试剂容器ID标签的试剂管理部，
上述分析装置处理部通过上述试剂管理部对上述试剂容器ID标签写入上述校准信息，
上述分析装置处理部，从上述试剂容器ID标签读出的上述校准信息中，判定上述装置ID信息是否不同，判定上述测定日期时间是否超过了规定的期间，并且根据测定结果判定校准线是否异常，
当上述装置ID信息被判定为相同、被判定为没有超过上述规定的期间、并且上述校准线被判定为正常的情况下，不用再次实施校准，利用上述校准线进行一般的检测物测定。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
上述分析装置处理部存储有包含利用试剂进行的精度管理试样的测定结果和测定日期时间及进行测定的装置ID信息的精度管理信息，上述分析装置处理部通过上述试剂管理部对上述试剂容器ID标签写入上述精度管理信息，
上述分析装置处理部，从上述试剂容器ID标签读出的上述精度管理信息中，判定上述精度管理信息的上述装置ID信息与上述校准信息的上述装置ID信息是否相同，判定上述精度管理信息的上述测定日期时间是否在规定的时间内，并且判定上述精度管理信息的上述测定结果是否在精度管理值的范围内，
显示装置，当上述精度管理信息的装置ID信息与上述校准信息的装置ID信息被判定为相同、上述精度管理信息的上述测定日期时间被判定为在上述规定的时间内、并且上述精度管理信息的上述测定结果被判定为在精度管理值的范围外的情况下，显示是否实施校准。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的校准信息，并且具有显示已读取的校准信息的显示装置。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
具有显示由上述分析装置处理部判断的是否需要实施校准的显示装置。
5.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
利用上述试剂管理部读取已写入上述试剂容器ID标签的校准信息，并且上述分析装置处理部具有校准装置，该校准装置用于在已读取的校准信息是在规定期间以前测定的结果的情况下，自动地进行校准测定。
6.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
上述试剂收放部，收放了分别容纳在多个试剂容器中的多种试剂，
对于使用多种试剂进行分析的测定项目，将多个试剂容器成对使用的情况下，将多个试剂容器的一个试剂容器的试剂的校准信息写入与多个试剂容器成对的试剂容器的试剂容器标签上，
通过读出上述一个试剂容器的试剂容器标签的校准信息或上述成对的试剂容器的至少一个试剂容器的试剂容器标签的校准信息，来识别成对的试剂容器，用该成对的试剂进行分析。
CN200980118245.1A 2008-05-22 2009-04-21 自动分析装置 Active CN102037363B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008134621 2008-05-22
JP2008-134621 2008-05-22
PCT/JP2009/057936 WO2009142087A1 (ja) 2008-05-22 2009-04-21 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102037363A CN102037363A (zh) 2011-04-27
CN102037363B true CN102037363B (zh) 2014-05-07

Family

ID=41340021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200980118245.1A Active CN102037363B (zh) 2008-05-22 2009-04-21 自动分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9075030B2 (zh)
EP (1) EP2282211B1 (zh)
JP (1) JP5277245B2 (zh)
CN (1) CN102037363B (zh)
WO (1) WO2009142087A1 (zh)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011203115A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Sysmex Corp 試料分析装置
CN102192995B (zh) * 2010-03-11 2015-06-10 希森美康株式会社 试样分析装置和试剂管理方法
JP5669528B2 (ja) * 2010-11-17 2015-02-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5535047B2 (ja) * 2010-11-18 2014-07-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
EP2455766B1 (en) * 2010-11-22 2019-06-19 F.Hoffmann-La Roche Ag Temporary Store
CN103384833B (zh) * 2010-11-29 2014-10-15 株式会社日立高新技术 自动分析装置
DE102011077124A1 (de) 2011-06-07 2012-12-13 Robert Bosch Gmbh Kartusche, Zentrifuge sowie Verfahren
DE102011077115A1 (de) 2011-06-07 2012-12-13 Robert Bosch Gmbh Kartusche, Zentrifuge sowie Verfahren
JP5855372B2 (ja) * 2011-07-07 2016-02-09 シスメックス株式会社 検体分析装置及びコンピュータプログラム
JP2013210266A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Sysmex Corp 検体処理装置、検体分析装置、検体分析システム、検体処理システムおよび検体処理方法
JP2013210265A (ja) * 2012-03-30 2013-10-10 Sysmex Corp 検体分析装置、精度管理用検体ユニットおよび精度管理方法
JP6087138B2 (ja) * 2012-12-28 2017-03-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 遺伝子検査装置、遺伝子検査方法及びプログラム
EP2767835B1 (de) * 2013-02-14 2018-10-24 Mettler-Toledo GmbH Verfahren zur Überprüfung eines Analysegeräts
US9513303B2 (en) 2013-03-15 2016-12-06 Abbott Laboratories Light-blocking system for a diagnostic analyzer
WO2014144759A1 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Abbott Laboratories Linear track diagnostic analyzer
CN105164511B (zh) 2013-03-15 2019-03-22 雅培实验室 诊断分析器系统的自动试剂管理器
EP4332978A2 (en) 2013-04-05 2024-03-06 F. Hoffmann-La Roche AG Analysis method for a biological sample
CN103994898B (zh) * 2014-06-04 2017-04-19 上海宏莘科技发展有限公司 自动取样机的开门式出料系统
US20160238627A1 (en) 2015-02-13 2016-08-18 Abbott Laboratories Decapping and capping apparatus, systems and methods for use in diagnostic analyzers
CN108027378A (zh) 2015-09-04 2018-05-11 株式会社日立高新技术 自动分析装置
WO2020021837A1 (ja) * 2018-07-27 2020-01-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析システム
JP2020139875A (ja) * 2019-02-28 2020-09-03 シスメックス株式会社 検体分析装置及び検体分析方法
CN112071407A (zh) * 2019-06-10 2020-12-11 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种信息识别方法、样本分析设备和可读存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6080364A (en) * 1997-04-10 2000-06-27 Hitachi, Ltd. Automatic analyzer and support system therefor
US6275150B1 (en) * 1998-07-14 2001-08-14 Bayer Corporation User interface for a biomedical analyzer system
CN1932515A (zh) * 2005-09-12 2007-03-21 株式会社日立高新技术 自动分析装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4326342A1 (de) * 1993-08-05 1995-02-09 Boehringer Mannheim Gmbh Verfahren zur Analyse von Probenflüssigkeiten
US5663545A (en) * 1995-08-23 1997-09-02 Ljl Biosystems Inc. Labware identification system
JP3889877B2 (ja) * 1997-04-10 2007-03-07 株式会社日立製作所 自動分析装置およびその支援システム
IT1310317B1 (it) * 1999-09-15 2002-02-11 Diesse Diagnostica Senese Spa Metodo e mezzi per la gestione di dati in un laboratorio
GB0013619D0 (en) * 2000-06-06 2000-07-26 Glaxo Group Ltd Sample container
JP4527249B2 (ja) * 2000-07-10 2010-08-18 興和株式会社 キュベット管理装置及びそれを用いた管理方法
JP2002048800A (ja) * 2000-07-31 2002-02-15 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置
JP2003315343A (ja) * 2002-04-24 2003-11-06 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置及びネットワークシステム
JP4130905B2 (ja) 2003-06-23 2008-08-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US8772037B2 (en) * 2004-07-22 2014-07-08 Wako Pure Chemical Industries, Ltd. Analysis assisting method, analyzer, remote computer, data analyzing method, program, and reagent container
DE102004048864A1 (de) * 2004-10-07 2006-04-13 Roche Diagnostics Gmbh Analytisches Testelement mit drahtloser Datenübertragung
US20060157549A1 (en) * 2005-01-14 2006-07-20 Stein Israel M Smart cards for automated sample analysis devices
EP1895305A1 (en) 2005-05-17 2008-03-05 Wako Pure Chemical Industries, Ltd. Connected reagent container
JP2007187446A (ja) * 2006-01-11 2007-07-26 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2007315784A (ja) * 2006-05-23 2007-12-06 Olympus Corp 自動分析装置、自動分析装置の試薬在庫管理方法、および自動分析装置の試薬在庫管理用プログラム
JP2007322326A (ja) 2006-06-02 2007-12-13 Olympus Corp キャリブレーション有効期限管理方法、キャリブレーション有効期限管理用プログラム、および自動分析装置
US7688207B2 (en) * 2006-07-28 2010-03-30 Abbott Laboratories Inc. System for tracking vessels in automated laboratory analyzers by radio frequency identification
EP1936373A1 (en) * 2006-12-20 2008-06-25 Tanita Corporation Test fluid measurement device and sensitivity calibration method thereof
JP4969292B2 (ja) * 2007-03-30 2012-07-04 シスメックス株式会社 試料分析装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6080364A (en) * 1997-04-10 2000-06-27 Hitachi, Ltd. Automatic analyzer and support system therefor
US6275150B1 (en) * 1998-07-14 2001-08-14 Bayer Corporation User interface for a biomedical analyzer system
CN1932515A (zh) * 2005-09-12 2007-03-21 株式会社日立高新技术 自动分析装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特开2007-187446A 2007.07.26

Also Published As

Publication number Publication date
US9075030B2 (en) 2015-07-07
JP5277245B2 (ja) 2013-08-28
JPWO2009142087A1 (ja) 2011-09-29
US20110090066A1 (en) 2011-04-21
EP2282211B1 (en) 2020-07-29
EP2282211A4 (en) 2015-10-28
WO2009142087A1 (ja) 2009-11-26
EP2282211A1 (en) 2011-02-09
CN102037363A (zh) 2011-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102037363B (zh) 自动分析装置
US11280733B2 (en) Automatic analyzer
EP2068153B1 (en) Automatic analyzer
US8758684B2 (en) Automatic analyzer
EP2835649A1 (en) Automatic analysis device
US20100001876A1 (en) Analyzer and analysis method
US20120282141A1 (en) Automatic analyzer
US9429586B2 (en) Automatic analyzer
EP1895305A1 (en) Connected reagent container
US20130280130A1 (en) Automatic analyzer
CN101632024A (zh) 分析装置以及分析方法
JP4734145B2 (ja) 自動分析装置
US11940455B2 (en) Consumable management system for laboratories
JP2007315784A (ja) 自動分析装置、自動分析装置の試薬在庫管理方法、および自動分析装置の試薬在庫管理用プログラム
US10185850B2 (en) Method for storing temporary data in a memory of an RFID tag associated with a consumable of a laboratory instrument and system comprising a laboratory instrument, consumable and RFID tag
JP5255825B2 (ja) 自動分析装置
CN115298550A (zh) 自动分析系统
JP4484561B2 (ja) 分析装置
EP1965215A2 (en) Automatic analyzer

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant