CN101996647B - 光盘装置和光盘再现方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘装置和光盘再现方法，能够补偿主光束和副光束的光量比偏差，得到按照设计值的再现性能的光盘装置。该光盘装置具有发出激光的光源、驱动上述光源的光源驱动部、将上述激光分割成多个光束的光学元件、控制上述光学元件的光学元件控制部、将上述激光聚光在上述光盘上的部件、和检测在上述光盘上反射的上述激光的检测部，通过切换上述光学元件的光束分割功能的有效和无效进行上述光盘的再现，调整激光的出射功率。

Description

光盘装置和光盘再现方法

技术领域

本发明涉及使用激光对光盘进行再现的光盘装置。

背景技术

作为背景技术，例如，有专利文献1中揭示的技术。在专利文献1中揭示了“当引入跟踪伺服系统时，选择基于推挽法的跟踪误差信号”，“在引入伺服系统后，根据基于3光束法的跟踪误差信号进行跟踪控制”的方式。

[专利文献1]日本专利特开平8-30989号

发明内容

当再现光盘时，作为使光点追随光盘上的轨道的方式，正在用DPP(Differential Push-Pull：微分推挽)方式和3光束方式等。DPP方式是用衍射光栅将激光分割成主光束和副光束，生成由主光束产生的主推挽信号和由副光束产生的副推挽信号的方式。通过在副推挽信号上乘上对透镜位移的灵敏度进行补偿的系数，将取得与主推挽信号之差的信号用作跟踪误差信号，能够对由透镜位移引起的偏离进行补偿，使光点追随轨道中心。3光束方式是用衍射光栅将激光分割成主光束和副光束，将由副光束生成的信号的强度变化作为跟踪误差信号的方式。

在DPP方式和3光束方式中，为了记录再现使用主光束，副光束只用于跟踪伺服系统。因为激光的功率控制通常对分割光束前的激光进行，所以存在着当主光束和副光束的光量比与设计值不同时，记录再现性能恶化了那样的课题。即，当主光束的光量高时，存在着使记录在光盘中的信号恶化的可能性，当主光束的光量低时发生由信号振幅低下引起的再现性能恶化。这种与设计值的偏离是由衍射光栅的特性偏差等引起的。

本发明的目的是提供能够补偿主光束和副光束的光量比偏差的光盘装置或光盘再现方法。

作为一个例子，本发明的光盘装置，从光盘再现信息，其特征在于：具有，发出激光的光源；驱动上述光源的光源驱动部；将上述激光分割成多个光束的光学元件；控制上述光学元件的光学元件控制部；将上述激光聚光于上述光盘的部件；和检测在上述光盘上反射的上述激光的检测部；切换上述光学元件的光束分割功能的有效和无效而进行上述光盘的再现，并进行激光的出射功率的调整。

另外，本发明的光盘再现方法，使用将激光分割成多个光束的光学元件，进行光盘的再现，其特征在于：切换上述光学元件的光束分割功能的有效和无效而进行上述光盘的再现，并进行激光的出射功率的调整

如果根据本发明，则能够补偿主光束和副光束的光量比偏差，得到按照设计值的再现性能。

附图说明

图1(a)是表示按照本发明的光盘装置的一个实施例的方框构成图。

图1(b)是按照本发明的光盘装置的探测器的构成图。

图2(a)是记录型光盘上的光点的示意图的例子。

图2(b)是再现专用光盘上的光点的示意图的例子。

图3是在将光盘插入到按照本发明的光盘装置中后到再现开始的操作程序图的例子。

图4是表示按照本发明的光盘装置的，在开始再现后温度发生变化时的工作的操作程序图的例子。

符号说明

101……微机，102……激光驱动器，103……激光二极管，104……分束器，105……功率监视器，106……衍射光栅，107……衍射光栅驱动器，108……物镜，109……光盘，110……偏振分束器，111……探测器，112……波形均衡器，113……信号处理器，114……主探测器，115……副探测器，201……沟槽，202……岸面，203……主光点，204……副光束，205……凹坑

具体实施方式

下面，我们用附图说明本发明的实施例。

此外，以后“出射功率”表示从物镜出射的激光的功率。另外，“发光功率”表示激光二极管发出的激光的功率。

[实施例1]

图1(a)是表示根据本发明的光盘装置的一个实施例的方框构成图。此外，省略了关于与本实施例没有直接关联的块的记载。

微机101，通过未图示的ATAPI等的接口，与PC等的主机装置进行通信。另外，微机101，对激光驱动器102进行发光控制，激光驱动器102根据微机101的控制输出驱动激光二极管103的电流。激光二极管103以对应于激光驱动器102的驱动电流的发光功率进行发光。功率监视器105经过分束器104检测激光二极管103的发光功率，将检测出的功率变换成电压值输出到微机101。这里检测出的发光功率是用衍射光栅分割激光前的总光量。衍射光栅106，与衍射光栅驱动器107的控制相应地将激光切换到一个光束和三个光束。作为切换一个光束和三个光束的方式，例如可以考虑在激光光程中加入取出衍射光栅106的方式。不限定于通过这样机械地使衍射光栅加入取出将激光切换到一个光束和三个光束的部件，也可以通过用光学部件或电气部件切换光学元件的特性将激光切换到一个光束和三个光束。物镜108使激光聚光在光盘109上。

在光盘109上反射的激光，作为光的强度保存光盘的信息。当进行再现时，由偏振分束器110反射激光，使激光聚光在探测器111上。探测器111检测聚光的激光，将与激光强度相应的信号输出到波形均衡器112。波形均衡器112，对由探测器111检测出的信号波形进行均衡化、放大等的处理，输出到信号处理器113。信号处理器113对由波形均衡器112输出的信号波形，进行模拟/数字变换、均衡化、解码等的信号处理，将解码后的数据输出到微机101。

在图1的例子中，将虚线所示的框内的块102～108，110，111搭载在激光头上。此外，在图1中表示了分离地搭载了激光二极管103和功率监视器105的例子，但是也可以封装功率监视器，使用将检测出的功率输出到微机101的激光二极管。另外，这里表示了由衍射光栅驱动器107控制衍射光栅106的例子，但是也可以不用衍射光栅驱动器107，由微处理机101驱动衍射光栅106。另外，作为分割激光的单元表示了衍射光栅106的例子，但是也可以用液晶元件等分割激光。

图1(b)是详细地表示探测器111的例子。探测器111具有接收主光束的反射光的主探测器114和接收副光束的反射光的副探测器115。

在图2(a)中，表示将光聚光在使衍射光栅的功能有效时的光盘上的光点的示意图。在光盘上刻着沟槽201和岸面202，它们成为使光点追随的引导体。203和204分别表示由衍射光栅分割的主光束和副光束的光点，两者的光量比通常约为15∶1。用图1(b)主探测器114接收主光束的反射光，用副探测器115接收副光束的反射光。因为再现信号只由主探测器115生成，所以当主光束对副光束的光量比比设计值低时，引起再现性能的降低。另一方面，当主光束对副光束的光量比比设计值高时，存在着消去了记录在光盘上的数据的可能性。副探测器，当用DPP法时生成副推挽信号，当用3光束法时生成跟踪误差信号。因为当使衍射光栅的功能无效时，从物镜出射的光束为一个，所以只将由主光束产生的光点203聚光在光盘上。

此外，这里表示了将数据记录在沟槽(groove)201上的例子，但是既可以记录在岸面(land)202上，也可以记录在沟槽和岸面两者中。

另外，图2(a)表示了记录型光盘的例子，但是当为再现专用光盘时，如图2(b)所示的那样凹坑205成为引导体。

在图3中，表示在将光盘插入到按照本发明的光盘装置中后到再现开始的操作程序图的例子。此外，对于与本实施例没有直接关联的动作予以省略。

在步骤301装载光盘。在步骤302发出激光。在步骤303使衍射光栅的功能无效，从物镜出射一个光束。用图1(a)的功率监视器105监视这时的出射功率，能够将它调整到例如0.3mW等的所要功率。在步骤304开始了聚焦和跟踪等的伺服控制后，在步骤305测定再现信号振幅。在步骤306使衍射光栅的功能有效，形成三个光束。保持在步骤302中的激光的发光功率不变，在步骤307测定再现信号振幅。通过比较这时的再现信号振幅和在步骤305测定的再现信号振幅，能够得到主光束和副光束的光量比。例如，我们看到当在步骤305测定的再现信号振幅为300mV，在步骤307测定的再现信号振幅为250mV时，主光束和副光束的光量比(副∶主∶副)为1∶10∶1。在步骤308，根据得到的光量比调整激光的出射功率。如上述那样，当主光束和副光束的光量比为1∶10∶1时，例如为了在0.3mW出射主光束只要以总出射功率成为0.36mW的方式进行调整就行。在进行了以上的调整后，在步骤309开始再现。此外，测定的再现信号振幅的位置既可以是用户数据区域，也可以是OPC区域和预写入区域等，预先记录着试验用信号的地方。

如以上那样，因为通过切换衍射光栅的有效无效功能能够得到主光束和副光束的光量比，能够用所要的再现功率进行再现，所以能够提高再现品质和可靠性。

此外，通过切换一个光束和三个光束再现的数据既可以是用户数据区域的用户数据，也可以是在记录功率的调整等中用的试写入区域的数据。

在图4中，表示在按照本发明的光盘装置中在开始再现后温度发生变化时的工作的操作程序图的例子。

在步骤401开始再现。在步骤402，例如，用设置在驱动器内部的传感器和设置在激光头中的传感器测定光盘装置的内部温度。作为测定温度的详细的地方，可以举出激光二极管和衍射光栅，液晶元件等温度依赖性高的元件的周围。如果在步骤402测定的温度对上次测量时的温度在规定值以上变化，则在步骤403使衍射光栅无效在步骤404测定再现信号振幅。在步骤405使衍射光栅有效，在步骤406测定再现信号振幅。通过比较这时的再现信号振幅和在步骤404测量的再现信号振幅，能够得到主光束和副光束的光量比。在步骤407，根据得到的光量比调整激光的出射功率，在步骤408开始再现。在再现信号振幅的测定中，既可以使用用户数据区域，也可以移动到OPC区域和预写入区域等，预先记录着试验用信号的位置进行。另外，也可以在步骤403使衍射光栅无效前，使激光二极管的发光功率下降到规定值。这是为了防止通过用一个光束出射，出射功率增加，使记录在光盘中的信号恶化。

另外，这里表示了当温度变化时调整激光出射功率的例子，但是也可以是使工作从记录变化到再现的情形等。这是因为考虑到在记录中激光二极管的温度增加，发光特性变化的缘故。

此外，本发明不限定于上述实施例，也包含了种种变形例。例如，为了容易理解地说明本发明，详细地说明上述实施例，不一定限定于具有说明了的全部构成的实施例。另外，可以将某个实施例的构成的一部分置换成其它实施例的构成，另外，也可以将其它实施例的构成加在某个实施例的构成上。另外，可以对各实施例的构成的一部分，进行其它构成的追加·删除·置换。

Claims (5)

1.一种光盘装置，从光盘再现信息，其特征在于，具有：

发出激光的光源；

驱动所述光源的光源驱动部；

光学元件，该光学元件具有将所述激光分割成多个光束的分割功能，在使所述分割功能有效时，将所述激光分割成一个主光束和多个副光束，在使所述分割功能无效时，不对所述激光进行分割而使该激光仅为主光束；

控制使所述光学元件的所述分割功能有效或无效的光学元件控制部；

将所述主光束和所述多个副光束聚光于所述光盘的聚光部件；和

检测在所述光盘上反射的所述主光束的检测部，

通过基于以下两个再现信号的振幅由所述光源驱动部对所述光源的发光功率进行控制，来调整从所述聚光部件出射的主光束的功率：

在所述光学元件控制部的控制下，在使所述光学元件的所述分割功能无效的状态下对光盘照射主光束来对光盘进行再现时，在所述检测部得到的再现信号的振幅；和

在所述光学元件控制部的控制下，在使所述光学元件的所述分割功能有效的状态下对光盘照射主光束和多个副光束来对光盘进行再现时，在所述检测部得到的再现信号的振幅。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：

具有测定光盘装置的温度的温度传感器，

由所述温度传感器监视温度的变化，以检测出规定值以上的温度变化为契机，执行调整所述主光束的功率的处理。

3.一种光盘再现方法，使用光学元件进行光盘的再现，该光学元件具有将激光分割成多个光束的分割功能，在使所述分割功能有效时，将所述激光分割成一个主光束和多个副光束，在使所述分割功能无效时，不对所述激光进行分割而使该激光仅为主光束，其特征在于，包括：

求取在使所述光学元件的所述分割功能无效的状态下对光盘照射主光束来对光盘进行再现时的再现信号的振幅的步骤；

求取在使所述光学元件的所述分割功能有效的状态下对光盘照射主光束和多个副光束来对光盘进行再现时，仅由主光束得到的再现信号的振幅的步骤；和

根据在使所述分割功能无效时得到的再现信号的振幅和在使所述分割功能有效时得到的再现信号的振幅来调整激光功率的调整步骤。

4.根据权利要求3所述的光盘再现方法，其特征在于，包括：

监视光盘装置的温度变化的监视步骤，

以在所述监视步骤中检测出规定值以上的温度变化为契机，实施在分割功能无效的状态下的振幅测定步骤、在分割功能有效的状态下的振幅测定步骤、以及所述调整步骤。

5.一种光盘装置，对光盘照射激光而再现信息，其特征在于，具有：

发出所述激光的光源；

驱动所述光源的光源驱动部；

束切换部，该束切换部具有将激光分割成多个光束的分割功能，在使所述分割功能有效时，将所述激光分割成包括一个主光束和两个副光束的三个光束，在使所述分割功能无效时，不对所述激光进行分割而使该激光仅为一个光束；

控制使所述束切换部的所述分割功能有效或无效的控制部；

将所述激光聚光于所述光盘的聚光部；和

检测在所述光盘上反射的所述激光的检测部，

其中，通过由所述束切换部切换到所述一个光束而进行所述光盘的再现；

通过由所述束切换部切换到所述三个光束而进行所述光盘的再现；

根据基于所述以一个光束的再现而产生的再现信号振幅和基于所述以三个光束的再现而产生的再现信号振幅的结果，调整再现激光的出射功率。

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