JPH05234119A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 記録可能な光ディスク装置において、フォー
カス駆動回路が追従できないような短周期の外部振動が
加わった際、光スポットが記録層に対しデフォーカス状
態となったときも正しく情報を記録できるようにする。 【構成】 記録時に光出力制御手段２６により設定され
た光出力を半導体レーザ３に与える。光ディスク装置の
軸方向に振動が発生すると、光検出器１１が光スポット
の反射光を入力してフォーカスエラー信号生成回路３１
が記録層とのデフォーカス状態を検出する。このとき光
出力制御手段３４は絶対値化回路３２を介して光出力制
御手段２４にデフォーカス量に応じた記録参照電圧を与
える。この電圧信号により電流源２４の駆動電流は制御
され、半導体レーザ３から補正されたエネルギーのレー
ザビームが出射される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザの光スポ
ットを用いて、光ディスクの記録層に情報を記録した
り、記録された情報を再生又は消去する光ディスク装置
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】半導体レーザの光スポットを用いて、光
ディスクの記録層に情報を記録したり、記録された情報
を再生又は消去する従来の光ディスク装置の一例につい
て、図６を用いて説明する。図６は従来の光ディスク装
置の全体構成を示すブロック図である。本図において光
ディスク１は情報を記録及び再生するディスクであり、
記録層２が透光性の基板に設けられている。半導体レー
ザ３は光ディスク１の情報の記録及び読取用の光源であ
り、半導体レーザ駆動回路４により駆動される。半導体
レーザ駆動回路４は半導体レーザ３の光出力を制御する
もので、記録時にはパルス変調を行い、読取時には光出
力が一定となるよう電流駆動する光出力制御手段であ
る。

【０００３】コリメータレンズ５は半導体レーザ３から
の円錐状に出射される光を平行にするレンズである。コ
リメータレンズ５からの平行光はビームスプリッタ６及
び１／４波長板７を介し対物レンズ８に与えられる。対
物レンズ８は平行光を収束して記録層２上に所定径の光
スポットを与えるレンズである。対物レンズ８は光ディ
スク１の半径方向に移動させるトラッキングアクチュエ
ータ９と、光ディスク１の厚み方向に移動させるフォー
カシングアクチュエータ１０により微動自在に保持され
ている。

【０００４】１／４波長板７は、光ディスク１の読取
時、記録情報に応じて反射された光の偏向面を９０°回
転させるものであり、ビームスプリッタ６は、例えば円
偏向から直線偏向に変換された光を入射光と直角方向に
反射させるものである。このようにコリメータレンズ
５，ビームスプリッタ６，１／４波長板７，対物レンズ
８は半導体レーザ３の出射光を収束させ、記録層２に光
スポットを与える光学手段を構成している。光検出器１
１は記録層２からの反射光を検出する光検出手段であ
り、中央の円形の受光部が４分割されたフォトダイオー
ドにより構成されている。信号検出回路１２は記録層２
に記録された情報を読取ると共に、光検出器１１の４つ
のフォトダイオードからの各出力に基づき、光スポット
と記録層２との焦点のずれ量（デフォーカシング量）
や、追従するトラック中心からのトラックずれ量を検出
する回路である。信号検出回路１２は、このトラックず
れ量をトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）に変換し
て、トラッキング駆動回路１３に与え、焦点のずれ量を
フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）に変換して、フォー
カス駆動回路１４に与える。

【０００５】トラッキング駆動回路１３はＴＥ信号に基
づきトラッキングアクチュエータ９を光ディスク１の半
径方向に微動させるトラッキング手段である。フォーカ
ス駆動回路１４はＦＥ信号に基づき、フォーカシングア
クチュエータ１０を光ディスク１の厚み方向（フォーカ
ス方向）に駆動させるフォーカシング手段である。スピ
ンドルモータ１５は光ディスク２を周速度又は角速度が
一定になるよう回転させるモータであり、図示しないモ
ータ駆動回路により制御される。

【０００６】このように構成された光ディスク装置の動
作について説明する。記録動作では、半導体レーザ３か
ら垂直断面が楕円状に拡がったレーザ光は、コリメータ
レンズ５によって平行光に変換される。コリメータレン
ズ５を通過したレーザ光は、ビームスプリッタ６及び１
／４波長板７を通過した後、対物レンズ８により所定口
径の光スポットに集光される。記録情報に基づき半導体
駆動回路４により変調された断続光は、光ディスク１の
記録層２に照射されて記録が行われる。

【０００７】一方、読取動作では、半導体レーザ駆動回
路４により連続発光したレーザ光は対物レンズ８により
集光される。そしてこの光スポットは特定トラックの記
録層２に照射される。記録層２で反射された光は、１／
４波長板７を通ってビームスプリッタ６に入射する。偏
向角の変換されたレーザビームは、ビームスプリッタ６
によって直角に反射し、光検出器１１に入る。光検出器
１１は、４分割されたフォトダイオードからの出力値に
より、公知の非点収差法を用いて記録層２との焦点のず
れ量を検出する。又これと同様に光検出器１１は公知の
プッシュプル法を用いて、追従するトラック中心からの
ずれ量を検出する。

【０００８】光検出器１１で検出された信号は信号検出
回路１２に与えられる。信号検出回路１２はＦＥ信号と
ＴＥ信号とを発生する。一方、スピンドルモータ１５は
各トラックが所定の走査速度となるよう光ディスクを回
転させており、トラッキング駆動回路１３はＴＥ信号に
よりトラックサーボをかける。即ち、追従すべきトラッ
ク中心に光スポットが位置するようトラッキングアクチ
ュエータ９を光ディスク１の半径方向に微動させる。又
フォーカス駆動回路１４はＦＥ信号によりフォーカスサ
ーボをかける。即ち、光スポットの焦点を常に記録層２
に一致させるようフォーカスアクチュエータ１０を光デ
ィスク１の厚み方向に微動させる。

【０００９】ここで半導体レーザ駆動回路４の詳細につ
いて図７を用いて説明する。図７は、従来の光ディスク
装置に用いられる半導体レーザ駆動回路４の構成例を示
す回路図であり、この回路は半導体レーザ３の光出力を
一定に保持すると共に、制御信号によって所定の強度に
設定する光出力制御手段である。本図において光検出器
（ＰＤＭ）２１は半導体レーザ３を取付けたヘッドに内
設されたフォトダイオードであり、半導体レーザ３のチ
ップ後面から放射される光を検出してレーザ光の強度を
モニタするものである。電流電圧変換器２２は光検出器
２１のモニタ電流（Ｉm ）を電圧変換する回路であり、
その出力はモニタ電圧（Ｖm ）として誤差アンプ２３に
与えられる。誤差アンプ２３は帰還抵抗Ｒp を有し、入
力抵抗Ｒf を介して入力されるモニタ電圧Ｖm を参照電
圧と比較するアンプである。誤差アンプ２３の参照電圧
は基準電源Ｖrfを用いて分割抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 により生成
される。誤差アンプ２３の出力電圧（Ｖd ）は電流源２
４の制御端子に与えられる。電流源２４は電流駆動回路
であり、変調回路２５を介して半導体レーザ３に接続さ
れる。変調回路２５は記録データに基づき半導体レーザ
３の駆動電流を断続する回路である。

【００１０】次に、このように構成された半導体駆動回
路４の記録時の動作について説明する。まず、光検出器
２１が半導体レーザ３の後面出射光をモニタし、半導体
レーザ３の光出力に応じたモニタ電流Ｉm が流れる。モ
ニタ電流Ｉm は電流電圧変換器２２によってモニタ電圧
Ｖm に変換される。このモニタ電圧Ｖm は誤差アンプ２
３によって記録時の参照電圧と比較される。そして誤差
アンプ２３は半導体レーザ３の駆動電圧Ｖd を出力す
る。駆動電圧Ｖd は電流源２４によって駆動電流Ｉd に
変換され、半導体レーザ３を所定の光出力で発光させ
る。そして記録データは変調回路２５に与えられ、半導
体レーザ３のレーザビームがこの記録データにより変調
されて記録が行われる。

【００１１】図８は、従来の半導体レーザ駆動回路４に
よる光スポットの記録層２上における半径方向の光強度
分布を示した説明図である。本図において記録層２に焦
点が一致している場合、光スポットの強度分布は例えば
曲線Ａに示すような状態となる。一般的に追記型や書換
型の光ディスク１に情報を記録する場合には、曲線Ａの
斜線部に示すように所定の光スポット径ｄ内の光エネル
ギーを記録層２に与えるという原理の熱記録方式が用い
られる。この場合フォーカス駆動回路１４は、光ディス
ク１の回転時の面振れ等によって生じるデフォーカス量
を補正し、常に所定の光スポット径ｄ内で光エネルギー
を記録層２に与えるようにアクチュエータ１０を駆動す
る。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の光
ディスク装置では、光ディスク１の軸方向に振動又は衝
撃が加わり、フォーカス駆動回路１４が追従できないよ
うな速度の振動を光ディスク装置が受けると、光スポッ
トと記録層２とのフォーカスサーボが外れ、ディフォー
カス状態になることがあった。この場合、光スポットは
図８の曲線Ｂに示すように光強度分布が拡がると共に、
記録すべき光スポット径ｄでの光強度が低下することと
なる。このため、所定の光エネルギーを記録層２に与え
ることができず、正しく情報が記録されないという欠点
があった。

【００１３】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであって、フォーカス駆動回路が追従できないよ
うな短周期の軸方向の外部振動が加わって、半導体レー
ザ３からの光スポットと光ディスクの記録層２とがデフ
ォーカス状態となった場合にも、情報を正常に記録でき
る光ディスク装置を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本願の請求項１の発明
は、基板に記録層を設けた光ディスクと、光ディスクを
回転させるモータと、光ディスクのトラックにレーザビ
ームを照射する半導体レーザと、半導体レーザの出射光
を収束させ記録層に光スポットを与える光学手段と、光
学手段に含まれる収束用レンズを光軸方向に微動させる
フォーカシング手段と、収束用レンズを記録層と平行に
微動させるトラッキング手段と、記録層からの反射光を
検出する光検出手段と、を有する光ディスク装置であっ
て、半導体レーザの光出力を一定に保持すると共に、制
御信号によって所定の強度に設定する光出力制御手段
と、光検出手段の出力により記録層に対するデフォーカ
ス量を検出するフォーカスエラー信号生成手段と、フォ
ーカスエラー信号生成手段の出力を絶対値化する絶対値
化手段と、光ディスクの記録時に絶対値化手段の出力レ
ベルに応じて半導体レーザの光出力を補正する制御信号
を光出力制御手段に与える光出力補正手段と、を具備す
ることを特徴とするものである。

【００１５】本願の請求項２の発明では、光出力補正手
段は、絶対値化手段の出力に対応した第１の参照電圧信
号を生成し、光出力制御手段に与える記録参照電圧設定
回路を含むことを特徴とするものである。

【００１６】本願の請求項３の発明では、光出力補正手
段は、絶対値化手段の出力に応じて第１の参照電圧信号
を出力する記録参照電圧設定回路と、絶対値化手段の出
力を第１の閾値電圧で弁別し、記録層に対しデフォーカ
ス状態であることを検出する第１のデフォーカス検出手
段と、第１のデフォーカス検出手段の出力を遅延させた
遅延パルスを出力する時間遅延手段と、時間遅延手段の
出力により記録参照電圧設定回路の出力又は固定の基準
電圧を選択して光出力制御手段に与える第１の補正信号
切換手段と、を具備することを特徴とするものである。

【００１７】本願の請求項４の発明では、光出力補正手
段は、絶対値化手段の出力に応じて第１の参照電圧信号
を出力する記録参照電圧設定回路と、絶対値化手段の出
力を第２の閾値電圧で弁別し、記録層に対してデフォー
カス状態であることを検出する第２のデフォーカス検出
手段と、第２のデフォーカス検出手段の出力を一時保持
する保持手段と、保持手段の信号に基づいて記録参照電
圧設定回路の信号又は光出力オフ信号を切換えて光出力
制御手段に与える第２の補正信号切換手段と、を具備す
ることを特徴とするものである。

【００１８】本願の請求項５の発明では、第２のデフォ
ーカス検出手段に入力する第２の閾値電圧は、記録参照
電圧設定回路の出力が光出力制御手段に与えられたとき
に、半導体レーザの光スポットが記録層の複数トラック
に拡大するレベルに設定されていることを特徴とするも
のである。

【００１９】

【作用】このような特徴を有する本願の請求項１，２の
発明によれば、光ディスクが回転しているとき、半導体
レーザからの出射光は光学手段により収束されて光ディ
スクのトラックに照射される。フォーカシング手段は収
束用レンズを光軸方向に微動させて、半導体レーザから
の光をディスクの記録層上で所定径のスポットに変換す
る。記録層からの反射光は光学手段を介して光検出手段
に与えられ、フォーカスエラー信号生成手段は記録層と
光スポットとのデフォーカス量を検出する。次に光出力
制御手段は半導体レーザの光出力を一定に保持すると共
に、制御信号によって所定の強度に設定する。この光デ
ィスク装置に外部から振動衝撃がディスクの軸方向に加
わると、記録層上のレーザビームはデフォーカス状態と
なる。このときフォーカスエラー信号生成手段はフォー
カスエラー信号を絶対値化手段に与える。そして光出力
補正手段は絶対値化手段の出力レベルに応じて制御信号
を光出力制御手段に与え、半導体レーザの光出力を補正
する。このようにして光ディスクの記録時に最適の記録
エネルギを有する光スポットを記録層に与え、外部振動
等によってレーザビームがデフォーカス状態となっても
正しく情報の記録を行う。

【００２０】又本願の請求項３の発明によれば請求項２
の作用に加えて、光出力補正手段に含まれる第１のデフ
ォーカス検出手段は、絶対値化手段の出力を第１の閾値
電圧で弁別してレーザビームがデフォーカス状態である
ことを検出する。この検出信号は時間遅延手段によって
遅延される。そうすると第１の補正信号切換手段はこの
遅延パルスにより記録参照電圧設定回路の出力を固定の
基準電圧に切換え、光出力制御手段に与える。これによ
りデフォーカス状態が外部振動等によって生じたもの
か、光ディスクの表面の傷等によって発生したノイズか
を判別することができ、その判別結果に応じてレーザビ
ームの出力を補正する。

【００２１】更に本願の請求項４、５の発明によれば請
求項２の作用に加えて、光出力補正手段に含まれる第２
のデフォーカス検出手段は、絶対値化手段の出力と第２
の閾値電圧とを比較して半導体レーザの光スポットが記
録層の複数トラックに拡大していることを検出する。こ
の状態は保持手段で一時記憶されると共に、第２の補正
信号切換手段が保持手段の信号に基づいて記録参照電圧
設定回路の出力を切換え、半導体レーザの光出力をオフ
する信号を光出力制御手段に与える。このようにデフォ
ーカス状態が大きくなった場合、光ディスクへの書込動
作を一時停止させることとなる。

【００２２】

【実施例】本発明の第１実施例について図面を参照しつ
つ説明する。光ディスク装置において、コリメータレン
ズ５，ビームスプリッタ６，１／４波長板７，対物レン
ズ８，トラッキングアクチュエータ９，フォーカシング
アクチュエータ１０，光検出器１１，信号検出回路１
２，トラッキング駆動回路１３，フォーカス駆動回路１
４，スピンドルモータ１５が設けられていることは、図
６に示す従来例と同様である。本実施例は従来例とは半
導体レーザ駆動回路４の構成が異なっている。図１は本
発明の第１実施例における光ディスク装置に用いられる
半導体レーザ駆動回路を中心とするブロック図である。

【００２３】本実施例では、図１に示すように光検出器
１１の出力からデフォーカス量を検出するフォーカスエ
ラー信号生成回路３１と、ＦＥ信号の値を絶対値に変換
する絶対値化回路３２と、絶対値化回路３２の出力に応
じて誤差アンプ２３に第１の参照電圧Ｖrcを与える光出
力補正手段としての記録参照電圧設定回路３３が夫々設
けられている。その他の部分は図７と同じであるので、
同一部分は同一の符号を付けて説明は省略する。

【００２４】さて光検出器１１は光ディスク１の記録層
２からの反射光を検出する４つのフォトセンサＰ１〜Ｐ
４が図示のように半時計方向に配列されたものであり、
フォトセンサＰ２，Ｐ４の出力は共にフォーカスエラー
信号生成回路３１の非反転入力部に与えられ、フォトセ
ンサＰ１，Ｐ３の出力は共にフォーカスエラー信号生成
回路３１の反転入力部に与えられる。

【００２５】フォーカスエラー信号生成回路３１は、光
スポットの記録層２に対するデフォーカス量に応じてＦ
Ｅ信号を生成するもので、例えば記録層２が読取／書込
ヘッドに接近しすぎると、正方向のレベル信号を発生
し、遠ざかると負方向のレベル信号を発生し、フォーカ
ス状態では０レベルの信号を発生する。絶対値化回路３
２はフォーカスエラー信号生成回路３１の正及び負方向
に変化するＦＥ信号のうち、負方向の信号を正側に折り
返し、交流信号の絶対値を出力する回路である。記録参
照電圧設定回路３３は絶対値化回路３２の出力に比例し
て誤差アンプ２３の参照電圧Ｖrcを設定する回路であ
る。そして記録時には半導体レーザ３がこの参照電圧Ｖ
rcに比例した駆動電流で発光する。

【００２６】ここでフォトダイオード２１，電流電圧変
換器２２，誤差アンプ２３，電流源２４は、半導体レー
ザ３の光出力を一定に保持すると共に、制御信号によっ
て所定の強度に設定する光出力制御手段２６を構成して
いる。又記録参照電圧設定回路３３及び分割抵抗Ｒ１，
Ｒ２は、絶対値化回路３２の出力レベルに応じて半導体
レーザ３の光出力を補正する制御信号を光出力制御手段
２６に与える光出力補正手段３４を構成している。

【００２７】このように構成された光ディスク装置の動
作について説明する。図２はフォーカスエラー信号生成
回路３１及び絶対値化回路３２の出力信号等を示す波形
図である。例えば光ディスク装置において読取／書込ヘ
ッドがフォーカス状態で信号を記録しているときには、
記録層２からの反射光の分布は真円となり、フォトセン
サＰ１，Ｐ３の出力と、フォトセンサＰ２，Ｐ４の出力
とが等しくなる。このため図２（ａ）の期間Ｔ１で示す
ようにフォーカスエラー信号生成回路３１は０レベルの
信号を出力する。次に光ディスク装置に振動衝撃が加わ
り、光ディスク１が軸方向に振動して例えば読取／書込
ヘッドに近接すると、記録層２からの反射光の分布はフ
ォトセンサＰ２，Ｐ４の方向に長軸となる楕円となる。
このためフォトセンサＰ２，Ｐ４の出力がフォトセンサ
Ｐ１，Ｐ３より大きくなり、期間Ｔ２で示すようにフォ
ーカスエラー信号生成回路３１は正レベルの信号を出力
する。

【００２８】同様にして光ディスク１が読取／書込ヘッ
ドから遠ざかる方向に振動すると、記録層２からの反射
光の分布はフォトセンサＰ１，Ｐ３の方向に長軸となる
楕円となる。このとき期間Ｔ３で示すようにフォーカス
エラー信号生成回路３１は負レベルの信号を出力する。
このような非点収差法の原理により、光検出器１１は記
録層２からの反射光を検出する。そしてフォーカスエラ
ー信号生成回路３１により生成されたＦＥ信号は絶対値
化回路３２に与えられる。絶対値化回路３２は図２
（ｂ）に示すように絶対値化された信号（ＦＥ２信号）
を出力する。このＦＥ２信号は記録参照電圧設定回路３
３に与えられ、ＦＥ２信号の振幅に比例した参照電圧Ｖ
rcが誤差アンプ２３に与えられる。

【００２９】次に誤差アンプ２３はこの参照電圧Ｖrcに
基づく駆動電圧Ｖd を出力し、この電圧信号を電流源２
４に与える。このため半導体レーザ３の駆動電流は変化
し、例えばデフォーカス状態では発光強度は大きくな
る。図３は参照電圧Ｖrcと記録層２上での光スポットの
強度分布を示す説明図である。光ディスク装置が振動衝
撃を受けず、正常な動作状態では曲線Ａに示すフォーカ
ス状態となっている。しかし同じ駆動電流で動作中に軸
方向の振動衝撃が加わると、記録層２での光スポットは
ピークで曲線Ｂで示す分布に変化する。このとき曲線Ｃ
で示すように半導体レーザ３の発光強度が増加する。こ
のため所定のスポット径ｄで得られる記録光は十分な記
録エネルギーを持つこととなる。

【００３０】このような動作によって、フォーカス駆動
回路１４が追従できないような短い周期の外部振動が加
わって、光スポットが記録層２に対しデフォーカス状態
になった場合にも、デフォーカス量に応じて記録に必要
な光エネルギーを所定の光スポット径内で記録層２に与
えることができる。このため外部振動の影響をあまり受
けずに正しく情報を記録することができる。

【００３１】尚、本実施例では記録時に所定の光出力を
得るための参照電圧Ｖrcを生成し、光スポットと記録層
２とのデフォーカス量の絶対値に応じてこの参照電圧Ｖ
rcを高くするように設定し、半導体レーザ３を駆動し
た。しかし、記録時に所定の光出力を得るため、半導体
レーザ３の電流源２４に電流加算回路を設け、この回路
にデフォーカス量の絶対値量に応じた駆動電流の差分を
与えることにより、半導体レーザ３を駆動しても構わな
い。

【００３２】次に本発明の第２実施例の光ディスク装置
について説明する。本実施例の光ディスク装置におい
て、コリメータレンズ５，ビームスプリッタ６，１／４
波長板７，対物レンズ８，トラッキングアクチュエータ
９，フォーカシングアクチュエータ１０，光検出器１
１，信号検出回路１２，トラッキング駆動回路１３，フ
ォーカス駆動回路１４，スピンドルモータ１５が設けら
れていることは第１実施例と同様である。図４は本発明
の第２実施例における光ディスク装置に用いられる半導
体レーザ駆動回路を中心とするブロック図である。本図
において図１と同様、光出力制御手段２６，フォーカス
エラー信号生成回路３１，絶対値化回路３２，記録参照
電圧設定回路３３が設けられており、同一部分は同一符
号を付けて説明を省略する。

【００３３】図４において比較器４１は、絶対値化回路
３２の出力と第１の閾値電圧Ｖdfとレベルを比較し、絶
対値化回路３２の出力するＦＥ２信号がＶdfより大であ
ればその期間デフォーカス検出信号（ＤＥＦ１信号）を
出力する第１のデフォーカス検出手段である。時間遅延
回路４２は、比較器４１からのＤＥＦ１信号がＨレベル
となって所定の時間ｔh を経過したのち、立ち上がる修
正デフォーカス検出信号（ＤＥＦ２信号）を出力するオ
ンディレー型の時間遅延手段である。時間遅延回路４２
の出力は直接アナログスイッチ４３ａに与えられ、又反
転回路４４を介してアナログスイッチ４３ｂに与えられ
る。アナログスイッチ４３ａはＤＥＦ２信号がＨレベル
のとき、記録参照電圧設定回路３３のＶrc信号を出力す
るスイッチである。アナログスイッチ４３ｂはＤＥＦ２
信号がＬレベルのとき、一定の基準電圧Ｖrfを出力する
スイッチである。アナログスイッチ４３ａ又は４３ｂで
選択された電圧信号は、抵抗Ｒ１を介して誤差アンプ２
３に与えられる。ここでアナログスイッチ４３ａ，４３
ｂ，反転回路４４は第１の補正信号切換手段を構成して
いる。又、比較器４１，時間遅延回路４２，アナログス
イッチ４３ａ，４３ｂ，記録参照電圧設定回路３３，分
割抵抗Ｒ１，Ｒ２は、光出力補正手段４４を構成してい
る。

【００３４】このように構成された光ディスク装置にお
いて、軸方向の振動衝撃が加わり、図２（ａ）の期間Ｔ
２に正方向となるＦＥ信号がフォーカスエラー信号生成
回路３１から出力すると、絶対値化回路３２は図２
（ｂ）に示すようにＦＥ信号と同一の信号を出力する。
このとき比較器４１はこの信号を参照電圧Ｖdfと比較
し、図（ｃ）の時刻ｔ₀ でＤＥＦ１信号を出力する。次
にこのＤＥＦ１信号が時間遅延回路４２に入力されて所
定の時間ｔh を経過した後、図２（ｄ）に示すようにＤ
ＥＦ２信号が出力される。従って時刻ｔ₁ までは時間遅
延回路４２の出力はＬレベルとなり、アナログスイッチ
４３ｂが閉成することにより、図２（ｅ）に示すように
一定の基準電圧Ｖrfが誤差アンプ２３に与えられる。こ
のため記録層２に対し平常時と同一の強度を有する光ス
ポットが照射される。

【００３５】さて時刻ｔ₁ 〜ｔ₂ においては振動の振幅
が増加し、時間遅延回路４２がＨレベルのＤＥＦ２信号
を出力する。このときアナログスイッチ４３ｂから４３
ａに接続が切換えられ、図２（ｅ）に示すように記録参
照電圧設定回路３３の出力が誤差アンプ２３に与えられ
る。このため図３の曲線Ｃで示すように、デフォーカス
量に応じたレーザ光が記録層２に照射される。

【００３６】次にディスク１のトラックを横断するよう
な傷がディスク１に有る場合を考える。図２（ａ）の期
間Ｔ３以降で光ディスク装置の振動がなくなり、平常の
記録条件でディスク１を記録しているとき、時刻ｔ₃ で
記録トラック又はディスク表面に幅の狭い傷にさしかか
ると、フォーカスエラー信号生成回路３１は図２（ｂ）
に示すようにスパイク状のＦＥ２信号を出力し、比較器
４１も図２（ｃ）のようにＤＥＦ１信号を出力する。し
かし図２（ｄ）のように時間遅延回路４２はこのパルス
幅がｔh 以内であるのでＤＦＥ２信号を出力しない。

【００３７】このため、光ディスク表面の傷により生じ
たＦＥ信号はデフォーカス状態として処理されず、平常
の記録条件で処理されることとなる。但し修正デフォー
カス検出信号ＤＥＦ２の立ち下がりは、時間遅延回路４
２で遅延することなく出力される。これにより、フォー
カスエラー信号ＦＥが外部振動等により発生したもの
か、光ディスク自身の傷によるノイズかを判別すること
ができる。

【００３８】尚、本実施例では、デフォーカス状態を検
出してから所定の時間ｔh が経過した後に、基準電圧Ｖ
rfから参照電圧Ｖrcに切り換える方法を用いたが、誤差
アンプ２３の非反転入力部に電圧加算回路を設け、基準
電圧Ｖrfにデフォーカス量の絶対値に応じた差分電圧を
加算する方法でも構わない。更に、所定の時間ｔh が経
過した後に、所定の光出力を得るための駆動電流Ｉd に
デフォーカス量の絶対値量に応じた差分電流を電流源２
４で加算する方法でも構わない。

【００３９】次に、本発明の第３実施例の光ディスク装
置について説明する。図５は本発明の第３実施例におけ
る光ディスク装置に用いられる半導体レーザ駆動回路を
中心とするブロック図である。本図において第２実施例
と異なる点は、図４の比較器４１に代えて、第２のデフ
ォーカス検出手段である比較器５１を設け、その出力を
所定時間保持する保持回路５２を設けたことである。

【００４０】本実施例では、絶対値化回路３２の出力は
比較器５１に与えられる。比較器５１は第２の閾値電圧
Ｖstとを比較する回路である。この閾値電圧Ｖstは第２
実施例の第１の閾値電圧Ｖdfより高く設定しておくもの
とする。閾値電圧Ｖstは、記録層２に照射されるレーザ
光の強度が高くなり、隣接のトラックまで光スポットが
拡がる場合の電圧に相当する。次に保持回路５２は比較
器５１の出力がＨレベルとなると、システム制御回路
（図示せず）から指示があるまでこの値を保持する回路
である。保持回路５２の出力は反転回路５３で反転され
てアナログスイッチ５４の切換信号となる。又絶対値化
回路３２の出力するアナログ信号は記録参照電圧設定回
路３３で参照電圧Ｖrcに変換されて、アナログスイッチ
５４の入力端に与えられる。そしてこのスイッチ５４の
出力端は抵抗Ｒ１を介して誤差アンプ２３に入力され
る。ここで、比較器５１，保持回路５２，反転回路５
３，アナログスイッチ５４，記録参照電圧設定回路３
３，分割抵抗Ｒ１，Ｒ２は、光出力補正手段５５を構成
している。

【００４１】このように構成された光ディスク装置にお
いて、この装置に加わる振動衝撃も少なく、通常のフォ
ーカス状態で記録されているときには、保持回路５２の
出力はＬレベルとなっている。この場合アナログスイッ
チ５４は閉成され、記録参照電圧設定回路３３からの参
照電圧Ｖrcが誤差アンプ２３に与えられる。次に、もし
大きな振動衝撃が加わると、フォーカスエラー信号生成
回路３１のＦＥ信号の振幅が大きくなる。このとき絶対
値化回路３２のＦＥ２信号が参照電圧Ｖstより高くなれ
ば、保持回路５２からＨレベルが出力される。一方、記
録参照電圧設定回路３３から大振幅のＶrc信号が出力さ
れるが、この信号はアナログスイッチ５４で遮断されて
誤差アンプ２３に与えられない。このような状態は、光
スポットの記録層２に対するデフォーカス量が多くなる
ほど光出力が高くなり、光スポットのトラック飛びや光
スポットの拡大により、予め書き込まれている隣接トラ
ックの情報を破壊するときに生じる。

【００４２】このようにデフォーカス量のＦＥ２信号が
所定のレベルを越えたときにアナログスイッチ５４を遮
断して、参照電圧Ｖrcの設定を解除し、ディスク１への
記録動作を停止させる。これによって、デフォーカス状
態の場合に隣接するトラックに予め書き込まれている情
報を破壊することがなくなり、かつ過大な振動衝撃等の
異常発生時にも予め書き込まれている情報を保護するこ
とができる。

【００４３】

【発明の効果】以上詳細に説明したように本願の請求項
１，２の発明よれば、光ディスク装置にフォーカス駆動
回路が追従できないような短周期の外部振動が加わり、
半導体レーザから出射された光スポットが記録層に対し
てデフォーカス状態になった場合にも、デフォーカス量
に応じて記録に必要な強度のレーザビームを供給するこ
とができる。このため光ディスクの軸方向に多少の振動
衝撃が与えられても、正しく情報を記録できるという効
果が得られる。

【００４４】更に本願の請求項３の発明によれば、請求
項１，２の発明の効果に加えて、光ディスクの反射光か
ら得られるフォーカスエラー信号が、光ディスク装置の
外部振動等により発生したものか、光ディスク自身の表
面の傷によるノイズかを判別することができる。光ディ
スクの傷の場合には平常の強さのレーザビームで記録を
続け、誤って隣接トラックにレーザビームを拡大するこ
とを防止できる効果が得られる。

【００４５】又本願の請求項４，５の発明によれば、請
求項１，２の発明の効果に加えて、光ディスクの反射光
から得られるフォーカスエラー信号の振幅が過大となる
ときには、半導体レーザの発光を停止させるようにして
いる。このため光ディスク装置に過大に振動が加わると
き、隣接するトラックに予め書き込まれている情報を破
壊することを防止すると共に、その情報を保護すること
ができるという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例における光ディスク装置の
主要部の構成を示すブロック図である。

【図２】本実施例の光ディスク装置の動作を示す信号波
形図である。

【図３】本実施例においてディスク記録層上での光スポ
ットの強度分布を示す説明図である。

【図４】本発明の第２実施例における光ディスク装置の
主要部の構成を示すブロック図である。

【図５】本発明の第３実施例における光ディスク装置の
主要部の構成を示すブロック図である。

【図６】従来の光ディスク装置の全体構成を示すブロッ
ク図である。

【図７】従来の光ディスク装置の主要部の構成を示すブ
ロック図である。

【図８】従来の光ディスク装置における記録層上での光
スポットの光強度分布を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ 記録層 ３ 半導体レーザ ４ 半導体レーザ駆動回路 ５ コリメータレンズ ６ ビームスプリッタ ７ １／４波長板 ８ 対物レンズ ９ トラッキングアクチュエータ １０ フォーカシングアクチュエータ １１ 光検出器 １２ 信号検出回路 １３ トラッキング駆動回路 １４ フォーカス駆動回路 １５ スピンドルモータ ２１，Ｐ１〜Ｐ４ フォトダイオード ２２ 電流電圧変換器 ２３ 誤差アンプ ２４ 電流源 ２５ 変調回路 ２６ 光出力制御手段 ３１ フォーカスエラー信号生成回路 ３２ 絶対値化回路 ３３ 記録参照電圧設定回路 ３４，４４，５５ 光出力補正手段 ４１，５１ 比較器 ４２ 時間遅延回路 ４３ａ，４３ｂ，５４ アナログスイッチ ５２ 保持回路

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基板に記録層を設けた光ディスクと、前
   記光ディスクを回転させるモータと、前記光ディスクの
   トラックにレーザビームを照射する半導体レーザと、前
   記半導体レーザの出射光を収束させ前記記録層に光スポ
   ットを与える光学手段と、前記光学手段に含まれる収束
   用レンズを光軸方向に微動させるフォーカシング手段
   と、前記収束用レンズを前記記録層と平行に微動させる
   トラッキング手段と、前記記録層からの反射光を検出す
   る光検出手段と、を有する光ディスク装置であって、 前記半導体レーザの光出力を一定に保持すると共に、制
   御信号によって所定の強度に設定する光出力制御手段
   と、 前記光検出手段の出力により前記記録層に対するデフォ
   ーカス量を検出するフォーカスエラー信号生成手段と、 前記フォーカスエラー信号生成手段の出力を絶対値化す
   る絶対値化手段と、 前記光ディスクの記録時に前記絶対値化手段の出力レベ
   ルに応じて前記半導体レーザの光出力を補正する制御信
   号を前記光出力制御手段に与える光出力補正手段と、を
   具備することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 前記光出力補正手段は、前記絶対値化手
   段の出力に対応した第１の参照電圧信号を生成し、前記
   光出力制御手段に与える記録参照電圧設定回路を含むも
   のであることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装
   置。
3. 【請求項３】 前記光出力補正手段は、 前記絶対値化手段の出力に応じて第１の参照電圧信号を
   出力する記録参照電圧設定回路と、 前記絶対値化手段の出力を第１の閾値電圧で弁別し、前
   記記録層に対しデフォーカス状態であることを検出する
   第１のデフォーカス検出手段と、 前記第１のデフォーカス検出手段の出力を遅延させた遅
   延パルスを出力する時間遅延手段と、 前記時間遅延手段の出力により前記記録参照電圧設定回
   路の出力又は固定の基準電圧を選択して前記光出力制御
   手段に与える第１の補正信号切換手段と、を具備するこ
   とを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記光出力補正手段は、前記絶対値化手
   段の出力に応じて第１の参照電圧信号を出力する記録参
   照電圧設定回路と、 前記絶対値化手段の出力を第２の閾値電圧で弁別し、前
   記記録層に対してデフォーカス状態であることを検出す
   る第２のデフォーカス検出手段と、 前記第２のデフォーカス検出手段の出力を一時保持する
   保持手段と、 前記保持手段の信号に基づいて前記記録参照電圧設定回
   路の信号又は光出力オフ信号を切換えて前記光出力制御
   手段に与える第２の補正信号切換手段と、を具備するこ
   とを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記第２のデフォーカス検出手段に入力
   する第２の閾値電圧は、前記記録参照電圧設定回路の出
   力が光出力制御手段に与えられたときに、前記半導体レ
   ーザの光スポットが前記記録層の複数トラックに拡大す
   るレベルに設定されていることを特徴とする請求項４記
   載の光ディスク装置。