CN101941004A - Cob自动分选装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种COB(chip on board，板面芯片)自动分选装置，涉及一种芯片自动测试装置，包括中央控制系统、分别与中央控制系统连接的输入卡式系统、推动器、测试料轨道以及输出卡式系统。输入卡式系统位于测试料轨道的一端，包括卡式系统轨道、定位架、垂直于定位架的料盒台以及垂直安装在料盒台上的输入卡式料盒，输入卡式料盒设有若干个输入槽位。输出卡式系统位于所述测试料轨道的另一端，包括卡式系统轨道、定位架、垂直于定位架的料盒台以及垂直安装在料盒台上的输入卡式料盒，所述输出卡式料盒设有若干个输出槽位。推动器带动输入槽位内COB料条直线移动，将COB料条由输入槽位推送至测试料轨道。测试料轨道带动单层COB料条直线移动至输出槽位内。

Description

COB自动分选装置

技术领域

本发明涉及一种芯片自动测试装置，尤其涉及一种可实现高效传送并同时测试多个COB(chip on board，板面芯片)的自动分选装置。

背景技术

目前，在COB领域，大部分COB是通过人工完成COB测试，市面上存在的的分选装置用于将COB料条由输入端输入，经传送轨道传送一定距离后自输出端输出，其中，输入端的输入与输出端的输出需人工依次操作完成，效率较低。

市面上一般的分选装置一般为两种，一种是重力分选装置(Grayityhandler)，另一种是水平分选装置(pick and place handler)。这两种装置均不能对未点胶的COB料条进行测试，当COB料条测试不合格时，则无法对COB料条进行修埋或重新打线结合。

COB料条未点胶前的一个工作步骤是打线结合(wire bonding)，即将粘贴在PCB板上的IC和PCB板用微小的金线焊接起来，然后通过点胶将IC和微小的金线密封起来。

重力分选装置采用一种胶制的长管，首先把IC放进长管内.然后把长管作45度以上或到垂直地插入分选装置的垂直测试轨道上，然后管内的IC会利用地心吸力滑到测试轨道上。未点胶的COB料条在胶制的长管内无法控制的情况下滑行，暴露出来微小金线会受到胶长管的碰撞而损坏。

水平分选装置则采用一个附有真空吸管的设备，经由人功视觉系统的协助下，在放满IC(或COB料条)的圆盘内把IC(或COB料条)吸起，然后准确地放在测试轨道上。。因为COB料条面积已很小，能给真空吸管设备吸的面积更小，甚至没有。而且太近微小金线，金线很容易被真空吸管损坏。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种可实现高效传送COB(chip on board)自动分选装置。

为了达到上述的目的，本发明提供一种COB自动分选装置，包括中央控制系统、分别与中央控制系统连接的输入卡式系统、推动器、测试料轨道，以及输出卡式系统；

输入卡式系统位于所述测试料轨道的一端，其中输入卡式系统包括卡式系统轨道、安装在卡式系统轨道上的定位架、垂直安装在定位架的料盒台以及垂直安装在料盒台上的输入卡式料盒，所述输入卡式料盒设有若干个输入槽位，输入槽位与输入槽位之间呈上下分层排列，且所述每个输入槽位分别用于承载一个COB料条；

输出卡式系统位于所述测试料轨道的另一端，包括卡式系统轨道、安装在卡式系统轨道上的定位架、垂直安装在定位架的料盒台以及垂直安装在料盒台上的输入卡式料盒，所述输出卡式料盒设有若干个输出槽位，输出槽位与输出槽位之间呈上下分层排列，且所述每个输出槽位内分别用于承载一个COB料条；

推动器带动输入槽位内COB料条直线移动，将COB料条由输入槽位推送至测试料轨道；

测试料轨道内还设有输送器，所述输送器带动单层COB料条直线移动，将测试完成的COB料条由测试料轨道移动至输出槽位内。

作为本发明的进一步改进，卡式系统轨道的移动可带动定位架、安装在定位架上的料盒台、安装在料盒台上的输出卡式料盒沿垂直方向移动。

作为本发明的进一步改进，定位架由两个平行的侧梁和一个连接两个侧梁的横梁组成，两个侧梁分别安装在卡式系统轨道上，横梁用于连接两个侧梁分别远离于卡式系统轨道的另一端，定位架随着卡式系统轨道垂直上下滑动。

作为本发明的进一步改进，定位架的横梁上分别设置有两个弹簧锁扣，用于使输入卡式料盒紧靠定位架。

作为本发明的进一步改进，定位架的两个侧梁还分别设有一个螺丝钉，所述螺丝钉凸出的高度可以调节，用于调节输入卡式料盒和定位架之间的间隙。

作为本发明的进一步改进，料盒台垂直固定在定位架两个侧梁的底部，料盒台上设有若干定位栓，用于固定输入卡式料盒底部的放置位置，输入卡式料盒的底部卡在定位栓之间，垂直放置在料盒台上。

作为本发明的进一步改进，所述COB自动分选装置还包括一个人工智能视觉系统，其与中央控制系统连接，包括一个固定设置在测试料轨道下方的照相机，当COB料条被传送到测试料轨道上时，照相机可拍摄到COB料条的背面，并将COB料条背面照片传送到中央控制系统；中央控制系统对COB料条背面照片进行定位分析。

作为本发明的进一步改进，所述COB自动分选装置还包括检测装置，位于靠近输入卡式系统一侧的测试料轨道上方且与中央控制系统连接，COB料条被输送到测试料轨道上，检测装置可在中央控制系统的操控下垂直下压且与COB料条表面接触进行测试，并发送测试信息至中央控制系统，检测完毕后中央控制系统控制检测装置垂直上升。

作为本发明的进一步改进，所述检测装置包括多个探针，当COB料条传送到测试料轨道上，首先中央控制系统通过人工智能视觉系统判断和调整COB料条与检测装置之间的相对位置以确保COB料条与探针对准。

作为本发明的进一步改进，所述COB自动分选装置还包括一个与中央控制系统连接的自动打点系统中央控制系统连接的自动打点系统，如果中央控制系统接收到在测试料轨道上的COB料条测试信息不合格，则控制自动打点系统下压，在COB料条上按压一个错误标志。

与现有技术相比较，本发明COB自动分选装置将输入卡式料盒及输出卡式料盒设计成上下分层的结构，以使输入卡式料盒及输出卡式料盒分别承载多个COB料条，同时借助推动器将COB料条自动输入测试料轨道，借助输送器将COB料条从测试料轨道自动输出，从而可实现COB料条的高效传送并可实现对未点胶的料条进行安全测试。

附图说明

图1是本发明COB自动分选装置的原理方框图。

图2是本发明COB自动分选装置的使用状态图。

图3是本发明COB自动分选装置将COB料条输出前的状态图。

图4是本发明COB自动分选装置将COB料条输出至测试料轨道后的状态图。

图5是本发明COB自动分选装置将COB料条输出至输出卡式料盒后的状态图。

图6是本发明COB自动分选装置的另一实施方式的框架示意图。

图7是本发明COB自动分选装置的另一实施方式的框架示意图。

图8是本发明输入卡式系统的结构示意图。

图9是本发明输入卡式系统的另一结构示意图。

图10是本发明推动器的结构示意图。

图11是本发明COB自动分选装置的部分框架示意图。

图12是本发明输送器的结构示意图。

图13是本发明输送器的另一角度结构示意图。

图14是图11关于输送器的局部放大图。

图15是图11关于自动打点系统的局部放大图。

图16a和图16b是本发明检测装置在Z方向移动位置自动测试的示意图。

图17a、图17b、图17c以及图17d是本发明检测装置在X方向移动位置自动测试的示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细说明本发明的具体实施方式。

请参阅图1-5所示，本发明提供一种COB自动分选装置，其包括测试料轨道30；所述测试料轨道30的一端设有输入卡式料盒10，所述测试料轨道30的另一端设有输出卡式料盒20，其中，所述输入卡式料盒10设有若干个输入槽位，输入槽位与输入槽位之间呈上下分层排列，且所述输入槽位内分别承载一个COB料条40；所述输出卡式料盒20设有若干个输出槽位，输出槽位与输出槽位之间呈上下分层排列，且所述输出槽位内分别承载一个COB料条40；且所述输入卡式料盒10的一侧设有推动器50，所述推动器50作往返运动以带动单层COB料条40直线移动，将COB料条40由输入槽位移动至测试料轨道30；所述测试料轨道30内设有输送器60，且所述输送器60作往返运动以带动单层COB料条40直线移动，将COB料条40由测试料轨道30移动至输出槽位内。

于本实施例中，所述输入卡式料盒10设于第一升降平台70上，通过第一升降平台70的升降可改变输入卡式料盒10的输入槽位与测试料轨道30之间的对应关系。

于本实施例中，所述输出卡式料盒20设于第二升降平台80上，通过第二升降平台80的升降可改变输入卡式料盒20的输出槽位与测试料轨道30之间的对应关系。

于本实施例中，所述COB料条40为COB，其上设有若干个IC产品。

本发明COB自动分选装置将输入卡式料盒10及输出卡式料盒20设计成上下分层的结构，以使输入卡式料盒10及输出卡式料盒20分别承载多个COB料条40，同时借助推动器50将COB料条40自动输入测试料轨道30，借助输送器60将COB料条40从测试料轨道30自动输出，从而可实现COB料条40的高效传送。

本发明所述COB自动分选装置还进一步包括一个中央控制系统、分别与中央控制系统连接的检测装置、自动打点系统(Marking system)以及显示屏。此外，中央控制系统还用于连接并分别控制推动器、输送器第一和第二升降平台以及人工智能视觉系统。

所述检测装置设置在测试料轨道30的上方，与测试料轨道30保持一定的垂直空隙，当COB料条被输送到测试料轨道30上，检测装置可垂直下压且与COB料条表面接触并检测COB料条，当检测完毕后，输送器60控制测试料轨道30直线传动，带动COB料条传送至自动打点系统下方。

所述自动打点系统设置在测试料轨道的上方，与测试料轨道30垂直方向保持空隙，当COB料条被输送到自动打点系统下方时，如果检测装置测试COB料条不合格，自动打点系统下压，在COB料条上进行打点标识；如果检测COB料条合格，输送器60控制测试料轨道30直线传动，输送至输出卡式料盒。

于本实施例中，COB自动分选装置还包括人工智能视觉系统90，所述人工智能视觉系统90用以确定COB料条40相对于检测装置之间的相对位置。

请参阅图6至图16，为本发明COB自动分选装置的另一较佳实施方式。所述COB自动分选装置包括中央控制系统(未图示)、分别与中央控制系统连接的输入卡式系统120、测试料轨道130，人工智能视觉系统140、检测装置150、自动打点系统160、输出卡式系统170以及显示器180。所述COB自动分选装置还包括设置在输入卡式系统120一侧的推动器(未标号)用于带动单层COB料条直线移动，将COB料条由输入卡式系统120移动至测试料轨道130。如图14所示，测试料轨道130内设有一个输送器110，所述输送器110带动单层COB料条直线移动，将COB料条由测试料轨道130移动至输出卡式系统170；上述推动器和输送器110均分别和中央控制系统连接。

输入卡式系统120和输出卡式系统170分别设置在测试料轨道130的两侧，人工智能视觉系统140固定设置在测试料轨道130下方，检测装置150位于靠近输入卡式系统120一侧的测试料轨道130上方，自动打点系统160位于靠近输出卡式系统170一侧的测试料轨道130上方。COB料条通过输入卡式系统170传送到测试料轨道130上，首先传送到检测装置150下方，通过人工智能视觉系统140寻找和确定COB料条的具体位置后再调整检测装置150的位置。由检测装置150进行测试，测试完成后COB料条再被传送到自动打点系统160下方进行打点标记，最后被传送到输出卡式系统170。

下面针对COB自动分选装置进行详细说明。

一、输入卡式系统120及输出卡式系统170

输入卡式系统(请参阅图7、图8及图9)120分别包括卡式系统轨道121、安装在卡式系统轨道121上的定位架123、安装在定位架123底部的料盒台125、滚珠螺杆(ball screw)127、滚珠螺杆螺母(ball screw nut)128以及步进电机(stepper motor)129，所述料盒台125上可垂直安装一个输入卡式料盒126，所述输入卡式料盒126设有若干个输入槽位，且所述输入槽位内分别承载一个COB料条。步进电机129在中央控制系统的控制下，通过控制滚珠螺杆127和滚珠螺杆螺母128，从而控制卡式系统轨道121垂直移动。步进电机129由中央控制系统控制转动，从而带动滚珠螺杆127转动，当滚珠螺杆127转动时，滚珠螺杆螺母128则推动卡式系统轨道121垂直方向移动。

卡式系统轨道121垂直放置，其上安装定位架123，定位架123由两个平行的侧梁1231、1232和一个连接两个侧梁1231、1232的横梁1235组成。其中，两个侧梁1231、1232的一端分别从卡式系统轨道121开始垂直向上延伸，横梁1235用于分别连接两个侧梁1231、1232远离于卡式系统轨道121的另一端，定位架123随着卡式系统轨道121垂直方向移动。在本发明中，两个侧梁1231、1232和横梁1235可一次成型后再垂直安装于卡式系统轨道121上。

料盒台125垂直固定在定位架123两个侧梁1231、1232的底部，料盒台125上设有若干定位栓1251，用于固定输入卡式料盒126底部的放置位置，输入卡式料盒126底部卡在定位栓1251之间，垂直放置在料盒台125上。

卡式系统轨道121带动定位架123及安装在定位架123上的料盒台125垂直方向移动。

定位架123的横梁1235上分别设置有两个弹簧锁扣1237，用于使输入卡式料盒126紧靠定位架123，在定位架123的两个侧梁1231、1232还分别设有一个螺丝钉1238，这两个螺丝钉1238可通过手动旋转调节控制凸出的高度，用于控制输入卡式料盒126和定位架123之间的间隙。螺丝钉1238通过旋转对输入卡式料盒126产生一个外推力，弹簧锁扣1237对输入卡式料盒126产生一个内拉力，相互作用调节输入卡式料盒126与定位架123之间的角度，以确保输入卡式料盒126垂直放置于料盒台125。

输入卡式料盒126由两块平行侧板构成，侧板内设多个放置COB料条的输入槽位，这些输入槽位依次分层分布在侧板中间，在本发明较佳实施例中，卡式料盒126设有40个输入槽位，每个槽分开5mm。

安装输入卡式料盒126的过程如下：

(a)、首先将输入卡式料盒126的两块侧板的底端分别卡放在料盒台125的定位栓1251之间，此时，卡式料盒126的一侧板靠在定位架123的两个侧梁1231、1232上，卡式料盒126的顶端略低于定位架123的横梁1235；

(b)、通过旋转横梁1235上弹簧锁扣1237扣住卡式料盒126的侧板，从而使卡式料盒126紧靠在定位架123上；

(c)、通过调节螺丝钉1238调整卡式料盒126和定位架123之间的间隙。

从上可知，弹簧锁扣1237不仅用于固定卡式料盒126，防止卡式料盒126晃动，还可以产生卡式料盒126紧靠定位架123的固定拉力；而螺丝钉1238用于产生卡式料盒126离开定位架123的可调节推力。此时可通过人工检测并通过调节螺丝钉1238，用于确保卡式料盒126垂直于料盒台125且卡式料盒126上的输入槽位与测试料轨道130对准，即放置在输入槽位内COB料条可直线平移到测试料轨道130上。在中央控制系统的操控下，卡式料盒126垂直方向移动，并由推动器按层将放置在卡式料盒126每个输入槽位内COB料条依次推送到测试料轨道130上。

输出卡式系统170位于测试料轨道130的另一端，其结构与输入卡式系统120结构相同，不再重复叙述，同样包括与料盒台125结构相同的料盒台175，其上设有用于定位输出卡式料盒176的定位架173，所述输出卡式料盒176设有若干个输出槽位，且所述输出槽位内分别承载一个COB料条。

二、推动器

请参阅图10，为推动器的具体结构示意图。推动器包括由中央控制系统控制转动的步进电机191、滑轮192，裹覆在滑轮上192的传送带193，推动块(PusherBlock)194、推动臂(ARM)195、起点红外线感应器196和终点红外线感应器197。推动器的运转流程如下：

(a)、中央控制系统控制步进电机191转动；

(b)、带动滑轮192转动，从而带动传送带193开始移动；

(c)、传送带193的移动会使推动块194和推动臂195开始向前移动；

(d)、推动臂195与输入槽位内的COB料条对准，可随着传送带193的移动将卡式料盒126输入槽位内的COB料条推出，直接推送至测试料轨道130上；

(e)、重复上述步骤(a)到(d)。

其中，起点红外线感应器196是用于确定推动块194和推动臂195完成COB料条推送后正确地被复位。终点红外线感应器197是用于确定推动块194和推动臂195完成COB料条推送后正确地移动到终点端。

三、输送器110

请参阅图11、图12、图13及图14，为输送器110的具体结构示意图。输送器110包括由中央控制系统控制转动的步进电机111、滑轮112，裹覆在滑轮上112的传送带113，轨道114、起点红外线感应器115、终点红外线感应器116、移动块(popup)117以及移动块控制装置118。控制装置118内包括一个用于控制移动块117垂直方向移动的螺线管，输送器110的运转流程如下：

(a)、中央控制系统控制步进电机111转动；

(b)、带动滑轮112转动，从而带动传送带113开始移动；

(c)、传动带113带动移动块117从起点(min)向尽头端(max)移动；

(d)、移动块117把测试结束后的COB料条从测试料轨道130上推入输出卡式料盒176内的输出槽位；

(e)、当移动块117从尽头端(max)移动回起点(min)时，为了避开在测试轨道130上下一个的COB料条，控制装置118内旋转式的螺线管转动，带动移动块117，把移动块117向下移动6mm，然后移动块117从尽头端(max)移动回起点(min)；

(f)、重复上述步骤(a)到(e)。

其中，起点红外线感应器115是用于确定移动块117完成COB料条输送后正确地被复位。终点红外线感应器116是用于确定移动块117完成COB料条输送后正确地移动到终点端。

四、人工智能视觉系统140

请参阅图7.人工智能视觉系统140包括一个固定设置在测试料轨道130下方的照相机以及照明装置。当COB料条被传送到测试料轨道130上时，照相机在照明装置提供的照明下可拍摄到COB料条的背面，此时会将COB料条背面照片传送到中央控制系统内，中央控制系统会对该COB料条背面照片进行定位分析，判断该COB料条与检测装置150之间的相对位置是否与原先预定的位置有误差，如果有误差，则控制检测装置150(所述检测装置150包括多个探针)前进或者倒退，以调节到预定的位置，所述预定的位置即是与检测装置150对准的位置。

五、检测装置150

请参阅图6，7，所述检测装置150设置在测试料轨道130的上方，与测试料轨道130保持一定的间隙，检测装置150可在中央控制系统的操控下垂直或水平方向运动。当COB料条由推动器到测试料轨道130上，可在中央控制系统的操控下水平移动与COB料条对准，垂直下压与COB料条表面接触，对COB料条进行检测，并发送COB料条测试是否合格的信息至中央控制系统，检测完毕后中央控制系统控制检测装置150垂直上升，与测试料轨道130保持一定的间隙。

检测装置150包括多个探针，当COB料条由推动器从输入卡式料盒126传送到测试料轨道130上，且位于检测装置150下方时，首先中央控制系统通过人工智能视觉系统140判断COB料条是否与检测装置150的探针对准，并移动监测装置150的探针与COB料条上的芯片管脚对准。然后中央控制系统控制检测装置150下压，使探针接触到COB料条上的芯片管脚，对芯片进行测试，并由检测装置150将测试结果传送到中央控制系统。

在本发明较佳实施例中，检测装置150在测试COB料条的时候，为了保证检测装置150的探针和COB料条上的芯片管脚精确对准，要确保检测装置150在Z方向的移动距离和在X方向的移动距离。

调整检测装置150在Z方向移动距离是为了确保探针和COB料条上的芯片管脚正好全部接触，不会因为下压太多而折断探针，也不会因为下降太少而造成探针没有完全压接到芯片管脚而接触不良。调整检测装置150在X方向移动距离是为了使探针尽可能压接到每个芯片管脚的中间位置，因为芯片管脚面积都很小(一般小于1mm)，而每根探针因此在设定的时候要尽可能使到探针的设定位置在芯片管脚的中间位置，才可以确保一百多探针同时准确地压到一百多pads的上面.达到接触良好的结果。

本发明的COB自动分选装置提供在产品进行大量测试前对检测装置150在Z方向的移动位置和X方向的移动位置进行自动测试的方法。

请参阅图16a和图16b，所述的自动测试检测装置150在Z方向移动位置的方法包括如下步骤：

步骤1、首先在一条COB料条上贴上一层金属面胶带；

步骤2、把COB料条放在测试料轨道130上；

步骤3、设定一根探针A发出讯号，相对的另一根探针B接收讯号；中央控制系统控制检测装置150分步下压，实时检查由探针A发出的讯号是否由探针B接收到，如果探针A和B接触到导电的金属面胶带，则探针A发出讯号则会由探针B接收到；当中央控制系统收到探针B发送的讯号，则控制检测装置150停止下压。

在实际使用过程中，当接收到探针B发送的信号后，可控制检测装置150再多0.5mm的Z方向移动距离，以确保探针更为有效压接到COB料条管脚上，保证接触导电更加良好。

请参阅图17a、图17b、图17c以及图17d，所述的自动测试检测装置150在X方向移动位置的方法包括如下步骤：

步骤1、将COB料条放在测试料轨道130上；

步骤2、如图17a所示，中央控制系统控制检测装置150沿X方向的移动到芯片管脚的一侧，此时探针没有和芯片管脚接触；

步骤3、如图17b，图17c以及图17d所示，检测装置150沿X方向从芯片管脚的一侧分步移动到芯片管脚的另一侧，在实际操作过程，分步移动的单位距离可人为设定，例如，每次移动0.1mm；然后由中央控制系统发出讯号到专业测试机(未图示)测试探针是否与芯片管脚接触良好；

在实际使用中，在控制检测装置150沿X方向分步移动一个单位距离之前首先会将控制检测装置150沿Z方向上升一个单位距离，以防止在移动过程损坏探针。

步骤4、中央控制系统会记录检测装置150沿X方向开始移动过程中第一次检测成功时位置信息Xstart，然后重复步骤3，记录检测装置150最后一次检测成功的位置信息Xend，然后通过计算得到探针和芯片管脚接触良好最中间位置PPAX(Probe to Pad Alignment in X direction，探针和芯片管脚接触最理想的X位置)＝Xstart+(Xstart-Xend)/2。

当检测装置150检测完毕后，中央控制系统控制输送器带动测试料轨道130直线传动，带动COB料条传送至自动打点系统160下方。

六、自动打点系统160

请参阅图15，所述自动打点系统160设置在测试料轨道130的上方，与测试料轨道130垂直方向保持空隙，当COB料条被输送到自动打点系统160下方时，如果检测装置150检测COB料条不合格，则中央控制系统控制自动打点系统160下压，在COB料条上按压一个错误标志；如果检测COB料条合格，则中央控制系统直接控制COB料条输送至输出卡式料盒。如果一个COB料条上包括多个芯片，且多个芯片均测试不合格，中央控制系统可控制COB料条在自动打点系统160下方步进，在错误的芯片传送到自动打点系统160下方时，控制自动打点系统160下压，在COB料条上按压一个错误标志，然后再由中央控制系统控制测试料轨道130传送COB料条至输出卡式系统170。

七、显示器180

所述显示器180用于显示用户操作界面，方便用户对整个COB自动分选装置进行操控。

以上所述仅为本发明的较佳实施方式，本发明的保护范围并不以上述实施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本发明所揭示内容所作的等效修饰或变化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。

Claims (9)

1.一种COB自动分选装置，其特征在于，包括中央控制系统、分别与中央控制系统连接的输入卡式系统、推动器、测试料轨道，以及输出卡式系统；

输入卡式系统位于所述测试料轨道的一端，其中输入卡式系统包括卡式系统轨道、安装在卡式系统轨道上的定位架、垂直安装在定位架的料盒台以及垂直安装在料盒台上的输入卡式料盒，所述输入卡式料盒设有若干个输入槽位，输入槽位与输入槽位之间呈上下分层排列，且所述每个输入槽位分别用于承载一个COB料条；

输出卡式系统位于所述测试料轨道的另一端，包括卡式系统轨道、安装在卡式系统轨道上的定位架、垂直安装在定位架的料盒台以及垂直安装在料盒台上的输入卡式料盒，所述输出卡式料盒设有若干个输出槽位，输出槽位与输出槽位之间呈上下分层排列，且所述每个输出槽位内分别用于承载一个COB料条；

推动器带动输入槽位内COB料条直线移动，将COB料条由输入槽位推送至测试料轨道；

测试料轨道内还设有输送器，所述输送器带动单层COB料条直线移动，将COB料条由测试料轨道移动至输出槽位内。

2.根据权利要求1所述的COB自动分选装置，其特征在于：定位架上分别设置至少两个弹簧锁扣，使输入卡式料盒紧靠定位架。

3.根据权利要求1所述的COB自动分选装置，其特征在于：定位架设有至少一个螺丝钉，所述螺丝钉凸出的高度可以调节，用于调节输入卡式料盒和定位架之间的间隙。

4.根据权利要求1所述的COB自动分选装置，其特征在于：所述COB自动分选装置还包括一个人工智能视觉系统，其与中央控制系统连接，包括一个固定设置在测试料轨道下方的照相机，当COB料条被传送到测试料轨道上时，照相机可拍摄到COB料条的背面，并将COB料条背面照片传送到中央控制系统；中央控制系统对COB料条背面照片进行定位分析。

5.根据权利要求1所述的COB自动分选装置，其特征在于：所述COB自动分选装置还包括检测装置，位于靠近输入卡式系统一侧的测试料轨道上方且与中央控制系统连接，COB料条被输送到测试料轨道上，检测装置可在中央控制系统的操控下移动且与COB料条表面接触进行测试，并发送测试信息至中央控制系统，检测完毕后中央控制系统控制检测装置垂直上升。

6.根据权利要求5所述的COB自动分选装置，其特征在于：所述检测装置包括多个探针，当COB料条传送到测试料轨道上，首先中央控制系统通过人工智能视觉系统判断和调整COB料条与检测装置内探针之间的相对位置以确保COB料条的芯片管脚与探针对准。

7.根据权利要求6所述的COB自动分选装置，其特征在于：COB自动分选装置可自动设定检测装置沿垂直方向移动的最佳距离，确保探针和COB料条上的芯片管脚全部接触，所述自动设定检测装置沿垂直方向移动的最佳距离的方法包括如下步骤：

步骤1、首先在一条COB料条上贴上一层金属面胶带；

步骤2、把COB料条放在测试料轨道上；

步骤3、设定第一探针发出讯号，第二探针接收讯号，第一探针对应COB料条的一侧芯片管脚，第二探针对应COB料条的另一侧芯片管脚，由中央控制系统控制检测装置缓慢下降，实时检测由第一探针发出的讯号是否由第二探针接收到，如果第一和第二探针均接触到导电的金属面胶带，则第一探针发出讯号则会由第二探针接收到，此时则由中央控制系统控制检测装置停止下降，记录检测装置的下降距离即为检测装置沿垂直方向移动的最佳距离。

8.根据权利要求6所述的COB自动分选装置，其特征在于：COB自动分选装置可自动设定检测装置沿水平方向移动的最佳距离，确保检测装置的探针与芯片管脚的中间位置接触；所述自动设定检测装置沿水平方向移动的最佳距离的方法包括如下步骤：

步骤1、将COB料条放在测试料轨道上；

步骤2、控制检测装置沿水平方向的移动到芯片管脚的一侧，此时探针没有和芯片管脚接触；

步骤3、检测装置沿水平方向从芯片管脚的一侧缓慢移动到芯片管脚的另一侧，在移动过程中实时测试探针是否与芯片管脚接触良好；

步骤4、中央控制系统记录检测装置移动过程中第一次检测成功时，检测装置水平方向移动距离Xstart，然后重复步骤3，记录检测装置最后一次检测成功时检测装置水平方向移动距离Xend，然后通过Xstart+(Xstart-Xend)/2获得检测装置沿水平方向移动的最佳距离。

9.根据权利要求1至8任一项所述的COB自动分选装置，其特征在于：所述COB自动分选装置还包括一个与中央控制系统连接的自动打点系统中央控制系统连接的自动打点系统，如果中央控制系统接收到测试信息不合格，则控制自动打点系统下压，在COB料条上按压一个错误标志。

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