CN101876760A - 液晶显示器中用于信号线的共用修补结构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种修补液晶显示面板中信号线(扫描线与/或数据线)缺陷的共用修补结构。在本发明一实施例中,此共用修补结构包含多个H型结构,其中每一H型结构位于两条介于沿着第二方位的两个邻近像素的邻近扫描线的相应区段,或位于两条介于沿着第一方位的两个邻近像素的邻近数据线的相应区段。
Description
技术领域
本发明涉及一种位于液晶显示面板中针对信号线(扫描线与/或数据线)缺陷的修补结构,且此修补结构相较于现有技术,对信号线有较低的生成寄生电容。
背景技术
液晶显示器(Liquid crystal display,LCD)常用作显示装置,这是基于其使用少许电力即可显示高品质影像的能力。液晶显示设备包含由液晶单元与像素元件所形成的液晶显示面板,其中每一像素元件与一相应的液晶单元相连且具有一液晶电容与一储存电容,一薄膜晶体管电性耦合至前述液晶电容与储存电容。这些像素元件实质上配置成具有多条像素列与多条像素行的矩阵。一般而言,扫描信号通过沿着列方向的多条扫描线,逐次提供给多条像素列以逐列开启像素元件。当一扫描信号提供给一像素列以开启像素列的像素元件的相应薄膜晶体管时,提供像素列的源极信号(影像信号)亦同时通过沿着行方向跨越多条扫描线的多条数据线提供给多条像素行,以对像素列中相应的液晶电容与储存电容充电,来调整与像素列相关的相应液晶单元的方位,以控制通过的光透射率。通过对所有像素列重复此程序,所有像素元件将可被供应影像信号的相应源极信号,因此得以显示其影像信号。
有时制造缺陷会出现在液晶显示面板中,这些缺陷包括:(1)一条或多条扫描线损坏,(2)一条或多条数据线损坏,以及(3)一条或多条扫描线与一条或多条数据线形成短路。扫描线或数据线上的缺陷会对液晶显示设备的整体效能产生不利的影响。举例而言,若液晶显示面板中出现开路状况,则连结至开路点之外的线段的主动元件会失效,且数据线和扫描线之间的短路亦可导致不正确的信号提供至所有连接至短路数据线或扫描线中任一条的开关晶体管。在任一状况中,显示装置中的多像素将受到影响,从而大幅降低其显示品质。因此,具有此种有缺陷的扫描线或数据线,需视失效像素所导致显示装置解析度的降低而被摒除。
由于显示装置的制造成本已定,因此需要在组装后尚可修补的显示装置。在一般的解决方法里,薄膜显示装置具有多条配置在显示装置侧边上跨越扫描线或数据线的辅助导线,其通常配置于显示装置的主动区以外。
美国专利号第5086347号(发明人为Ukai等人)公开液晶显示装置的修补方法。如图1所示,多层修补导电层42提供予跨过一绝缘层(图中未示)的相对扫描线18,多层修补导电层41提供予跨过一绝缘层(图中未示)的相对数据线19。当任一扫描线或数据线损坏时,修补导电层与损坏的线可通过激光焊接将两损坏侧连接起来,其中焊接点如图1中标号“x”所示。此方法的问题为一旦导电层用以修补一条线时,则此导电层即无法用以修补其它条线。此外,若一条或多条扫描线或数据线于扫描线与数据线的交会处形成开路,则此种类型的缺陷将无法使用前述方法修补。再者,由于导电修补层41和42与扫描线18和数据线19间的特殊关系,寄生电容可由导电修补层41和42感应产生,且寄生电容会造成提供予液晶层的交流电压具有直流电压偏移,从而造成影像的闪烁、串音效应以及亮度不均。
发明内容
根据本发明一实施方式,本发明公开一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的共用修补结构。其中液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,扫描线沿第一方向配置,数据线沿实质上与第一方向交错的第二方向配置,从而在其间形成多个交错部,像素电性连接至扫描线和数据线,共用修补结构包含:多个第一H型结构,其中每一第一H型结构具有一第一连接条、一第二连接条以及一第三连接条,第三连接条连接至第一连接条和第二连接条且介于第一连接条和第二连接条之间,每一第一连接条与第二连接条具有一第一端部和一相对的第二端部,且位于两条介于沿第二方向设置的两个相邻像素的扫描线的相应区段间,致使第一连接条和第二连接条的第一端部与两条扫描线的其中一条部分重叠,而第一连接条和第二连接条的第二端部与两条扫描线的其中另一条部分重叠,其中每一第一H型结构选择性地能连接至相应区段中的两条扫描线的其中一条;以及多个第二H型结构,其中每一第二H型结构具有一第一连接条、一第二连接条以及一第三连接条,第三连接条连接至第一连接条和第二连接条且介于第一连接条和第二连接条之间,每一第一连接条与第二连接条具有一第一端部和一相对的第二端部,且位于两条介于沿第一方向设置的两个相邻像素的数据线的相应区段间,致使第一连接条和第二连接条的第一端部与两条数据线的其中一条部分重叠,而第一连接条和第二连接条的第二端部与两条数据线的其中另一条部分重叠,其中每一第二H型结构选择性地能连接至相应区段中的两条数据线的其中一条。
本发明公开另一实施方式,一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的共用修补结构,其中液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,扫描线沿第一方向配置,数据线沿实质上与第一方向交错的第二方向配置,从而在其间形成多个交错部,像素电性连接于扫描线和数据线,共用修补结构包含:多个第一H型结构,其中每一第一H型结构位于两条介于沿第二方向设置的两个相邻像素的扫描线的相应区段间;以及多个第二H型结构,其中每一第二H型结构位于两条介于沿第一方向设置的两个相邻像素的数据线的相应区段间。
本发明更公开一种实施方式,一种修补液晶显示面板中扫描线缺陷的共用修补结构,其中液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,扫描线沿第一方向配置,数据线沿实质上与第一方向交错的第二方向配置而形成多个交错部,像素电性连接于扫描线和数据线,共用修补结构包含:多个H型结构,其中每一H型结构位于两条介于沿第二方向配置的两个相邻像素的相邻扫描线的相应区段间。
本发明再公开一种实施方式,一种修补液晶显示面板中数据线缺陷的共用修补结构,其中液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,扫描线沿第一方向配置,数据线沿实质上与第一方向交错的第二方向配置而形成多个交错部,像素电性连接至扫描线和数据线,共用修补结构包含:多个H型结构,其中每一H型结构位于两条介于沿第一方向配置的两个相邻像素的相邻数据线的相应区段间。
本发明亦公开一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的方法,其中液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,扫描线沿第一方向配置,数据线沿实质上与第一方向交错的第二方向配置,像素配置成矩阵且电性连接至扫描线与数据线,方法包含:提供多个第一H型结构,其中每一第一H型结构位于两条介于沿第二方向配置的两个相邻像素的扫描线的相应区段间;提供多个第二H型结构,其中每一第二H型结构位于两条介于沿第一方向配置的两个相邻像素的数据线的相应区段间;检测一区段中的缺陷;以及激光焊接第一H型结构和第二H型结构之中的至少其中一个至被检测出缺陷的具缺陷扫描线与/或具缺陷数据线。
本发明亦公开另一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的方法,其中液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,扫描线沿第一方向配置,数据线沿实质上与第一方向交错的第二方向配置而形成多个交错部,像素配置成矩阵且电性连接至扫描线与数据线,方法包含:提供多个第一H型结构,其中每一第一H型结构位于两条介于沿第二方向配置的两个相邻像素的扫描线的相应区段间;以及提供多个第二H型结构,其中每一第二H型结构位于两条介于沿第一方向配置的两个相邻像素的数据线的相应区段间。
为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附附图的说明如下:
图1绘示依照现有技术的一种用以修补扫描线缺陷与数据线缺陷的修补结构图;
图2绘示依照本发明一实施例的一种具有水平配置的多条扫描线与垂直配置的多条数据线的液晶显示面板,其中显示电极嵌入介于邻近扫描线和邻近数据线之间所划分出的空间;
图3A绘示依照本发明一实施例的一种修补液晶显示面板中扫描线缺陷的H型结构的俯视图;
图3B绘示依照本发明图3A的一种修补液晶显示面板中扫描线缺陷的H型结构的侧视图;
图4A绘示依照本发明另一实施例的一种修补液晶显示面板中扫描线缺陷的H型结构的俯视图;
图4B绘示依照本发明图4A的一种修补液晶显示面板中扫描线缺陷的H型结构的侧视图;
图5绘示依照本发明一实施例的一种修补扫描线、数据线,以及扫描线和数据线间的交错部缺陷的共用修补结构图;
图6绘示依照本发明一实施例的一种修补数据线上开路缺陷的修补方式图;
图7绘示依照本发明一实施例的一种修补扫描线上开路缺陷的修补方式图;
图8绘示依照本发明一实施例的一种介于数据线和扫描线之间且位于数据线与扫描线的交错部上的短路缺陷的修补方式图;
图9绘示依照本发明一实施例的一种在数据线上且位于数据线与扫描线的交错部上的开路缺陷的修补方式图;
图10绘示依照本发明一实施例的一种修补数据线上缺陷的共用修补结构图;
图11绘示依照本发明一实施例的一种修补扫描线上缺陷的共用修补结构图。
其中,附图标记
101、103、105、107:扫描线 160C:水平连接杆
109:相应区段 161:第一连接条
122、124、126、128:数据线 161a/162a:第一端部
131、132、133、134:像素 161b/162b:第二端部
140、141、142、143:薄膜晶体管 162:第二连接条
150、152:H型结构 163:第三连接条
152A:第一水平连接杆 170:十字型结构
152B:第二水平连接杆 170A:水平连接杆
152C:垂直连接杆 170B:垂直连接杆
160、162:H型结构 171、172:连接杆
160A:第一垂直连接杆 180、182:电连接点
160B:第二垂直连接杆 183:第一焊接点
185:第一焊接点 184:第二焊接点
186:第二焊接点 189:第三焊接点
187:第一焊接点 190:第四焊接点
188:第二焊接点 191:绝缘层
200、202:电路切口
具体实施方式
本发明说明中所公开的实施例请一并参照所附的图2至图11。根据本发明的目的,本发明一实施方式关于一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的共用修补结构。
图2绘示依照本发明一实施例的一种液晶显示面板的配置。此液晶显示面板的基本架构具有(a)多条扫描线103、105、...沿在第一方向配置,(b)多条数据线122、124、126、128、...沿实质上与第一方向交错(如垂直交错)的第二方向配置,(c)多个由上述扫描线103、105、...以及上述数据线122、124、126、128、...所形成的交错部,(d)多个像素131、132、...配置成矩阵,此矩阵由介于上述数据线122、124、126、128、...和上述扫描线103、105、...之间的空间所形成,以及(e)多个薄膜晶体管(thin film transistors,TFTs)140、141、142、143、...电性耦合至相应的数据线与扫描线以显示影像。
图3A与图3B分别为依据本发明实施例公开一种修补液晶显示面板中例示的扫描线缺陷的H型修补结构的俯视图与侧视图,此相同结构亦可应用在数据线的修补。H型结构160具有第一连接条161、第二连接条162以及第三连接条163,其中第三连接条163连接至第一连接条161和第二连接条162且介于第一连接条161和第二连接条162之间。每一第一连接条161与第二连接条162具有第一端部161a/162a以及相对的第二端部161b/162b。H型结构160位于两条介于沿着行(第二)方向的两个像素的扫描线101与103的相应区段109之间,致使第一连接条161和第二连接条162的第一端部161a与162a与扫描线101部分重叠,而第一连接条161和第二连接条162的第二端部161b与162b与扫描线103部分重叠。H型结构160可选择性地电性连接至相应区段109中的两条扫描线101与103的其中一条。此外,一绝缘层191形成于H型结构160和扫描线101与103之间。此H型结构160可实体上位于扫描线101与103的上方或下方,并不作限制,H型结构并与扫描线电性绝缘。
如图4A与图4B分别公开一种H型结构的俯视图与侧视图,其中例示的扫描线103中的缺陷110(此处例示为开路)已修补。
如图3A、图3B、图4A与图4B所示,缺陷修补结构包含H型结构160,以及一介于H型结构160和扫描线101与103之间的绝缘层191。在一般情况下,当数据线或扫描线中检测无缺陷时,则绝缘层191可避免扫描线101与103和H型结构160产生电性耦合。
根据本发明一实施例,当缺陷(开路)110于扫描线103上检测出时(如图4B所示),一激光焊接设备(图中未示)用以制造两个电性连接点180与182穿过绝缘层191(如图4A与图4B所示)。此开路缺陷110经修补后,扫描线103可完全发挥其功能。若另一扫描线101出现开路缺陷时,亦可使用相同方式将其修补。
由于扫描线与H型结构的特殊形状与相关空间关系,因此由修补结构对信号线(此处为扫描线)所衍生出的寄生电容可大幅地降低。
图5绘示依照本发明一实施例的一种修补液晶显示面板中扫描线、数据线,以及扫描线与数据线间的交错部缺陷的共用修补结构图。
此液晶显示面板的基本架构包括(a)多条扫描线101、103、105、...沿第一方向配置,(b)多条数据线122、124、126、128、...沿实质上与第一方向交错(如垂直交错)的第二方向配置,(c)多个由上述扫描线101、103、105、...与上述数据线122、124、126、128、...所形成的交错部,(d)多个像素131、132、...配置成矩阵,此矩阵由介于上述数据线122、124、126、128、...和上述扫描线101、103、105、...之间的空间所形成,且电性耦接至相应的数据线与扫描线以显示影像。
此共用修补结构包含(a)多个第二H型修补结构150、152...,(b)多个第一H型修补结构160、162...,以及(c)多个十字型修补结构170,其中上述第一H型结构与上述第二H型结构为相同结构。
为方便阐释本发明,在如图5所示的例示实施例中,此液晶显示器仅包括有三条扫描线101、103与105,四条数据线122、124、126与128,两个像素131与132,其中像素131与132连接至扫描线103与105以及数据线122、124、126与128。共用修补结构包含两个第二H型结构150与152,两个第一H型结构160与162,以及一个十字型结构170。但本领域技术人员将可了解液晶显示器可具有任意数目的扫描线、数据线与像素,且共用修补结构可具有任意数目的第一H型结构、第二H型结构与十字型结构。
如图5所示,每一第一H型结构160与162位于两条介于并连接至沿着第二方向位的两个相邻像素的相邻扫描线101与103的相应区段。每一第一第二H型结构150与152位于两条介于并连接至沿着第一方向位的两个相邻像素的相邻数据线124与126的相应区段。十字型结构170位于一相应交错部,并与连接至紧邻于相应交错部的两个第二一H型结构150与152以及两个第一二H型结构160与162部分重叠且电性绝缘。值得注意的是,此处十字型结构并不限制一定在第一H型结构或第二H型结构之上或之下,此三者只要是两两互相电性绝缘即可。
当缺陷于相应区段中的扫描线检测出时,第一H结构通过激光焊接以电性连接至位于相应区段的具缺陷扫描线。当缺陷于相应区段中的数据线检测出时,第二H结构通过激光焊接以电性连接至位于相应区段的具缺陷数据线。当缺陷于相应交错部中的扫描线检测出时,十字型结构通过激光焊接以电性连接至位于相应交错部的具缺陷扫描线,其中上述通过激光焊接将十字型结构连接至两个紧邻于相应交错部的第一H型结构。当缺陷于相应交错部中的数据线检测出时,十字型结构通过激光焊接以电性连接至位于相应交错部的具缺陷数据线,其中上述通过激光焊接将十字型结构连接至两个紧邻于相应交错部的第二H型结构。
上述第一H型结构、第二H型结构以及十字型结构均由导电材料所形成。在一实施例中,上述导电材料包含可激光焊接材料。
在此实施例中,第一H型结构160的第一垂直连接杆(连接条)160A邻近于数据线122与扫描线101和103的第一交错部。第一H型结构160的第二垂直连接杆(连接条)160B邻近于数据线124与扫描线101和103的第二交错部。第一H型结构160的水平连接杆(第三连接条)160C介于扫描线101和103之间,且介于第一交错部和第二交错部之间。此第一H型结构160的水平连接杆160C电性连接至第一H型结构160的第一垂直连接杆160A与第二垂直连接杆160B。绝缘层191形成于第一H型结构160和扫描线101与103之间。此处不限制第一H型结构与扫描线上下对应关系。
此外,第一H型结构160的第一垂直连接杆160A的第一端位于第一扫描线101上,第一H型结构160的第一垂直连接杆160A的第二端位于第二扫描线103上。第一H型结构160的第二垂直连接杆160B的第一端位于第一扫描线101上,第一H型结构160的第二垂直连接杆160B的第二端位于第二扫描线103上。第一H型结构160的水平连接杆160C介于扫描线101和103之间。
再者,第二H型结构152的第一水平连接杆(连接条)152A邻近于扫描线103与数据线124和126的第一交错部,第二H型结构152的第二水平连接杆152B邻近于扫描线105与数据线124和126的第二交错部。因此,第二H型结构152的垂直连接杆(第三连接条)152C介于数据线124和126之间,且介于第一交错部和第二交错部之间。此第二H型结构152的垂直连接杆152C电性耦接至第一水平连接杆152A与第二水平连接杆152B。绝缘层(图中未示)形成于第二H型结构152和数据线124与126之间。此处亦不限制第二H型结构与数据线上下对应关系。
另外,第二H型结构152的第一水平连接杆152A的第一端位于数据线124上,第二H型结构152的第一水平连接杆152A的第二端位于数据线126上。第二H型结构152的第二水平连接杆152B的第一端位于数据线124上,第二H型结构152的第二水平连接杆152B的第二端位于数据线126上。
此外,十字型结构170的水平连接杆(连接条)170A的第一端位于第一H型结构160的第二垂直连接杆160B上,十字型结构170的水平连接杆(连接条)170A的第二端位于邻近第一H型结构162的第一垂直连接杆162A上。十字型结构170的垂直连接杆170B的第一端位于第二H型结构150的第二水平连接杆150B上,十字型结构170的垂直连接杆170B的第二端位于邻近第二H型结构152的第一水平连接杆152A上。绝缘层(图中未示)形成于十字型结构170、第一H型结构160、第一H型结构162、第二H型结构150与第二H型结构152之间。
根据本发明的实施方式的例示修补结构与程序将公开如下,但其并非用以限制本发明的范围。
图6绘示依照本发明一实施例的一种修补数据线126上开路缺陷110的示意图。在数据线126上检测出一开路缺陷110,为修补此缺陷,可使用第二H型结构152,其中位在数据线126之上的第二H型结构152的第一水平连接杆152A的其中一端作为第一焊接点183,位在数据线126之上的第二H型结构152的第二水平连接杆152B的其中一端作为第二焊接点184。一旦激光焊接完成,开路缺陷110的两端可由焊接点183与184通过第二H型结构152的152A、152B与152C所形成的连接来修补完成。数据线126的开路缺陷110于是修补完成。
图7绘示依照本发明一实施例的一种修补扫描线101上开路缺陷112的示意图。在扫描线101上检测出一开路缺陷112,为修补此缺陷,可使用第一H型结构162,其中位在扫描线101之上的第一H型结构162的第一垂直连接杆162A的其中一端作为第一焊接点185,位在扫描线101之上的第一H型结构162的第二垂直连接杆162B的其中一端作为第二焊接点186。一旦激光焊接完成,开路缺陷112的两端可由焊接点185与186通过第一H型结构162的162A、162B与162C所形成的连接来修补完成。扫描线101的开路缺陷112于是修补完成。
图8绘示依照本发明一实施例的一种修补介于数据线124和扫描线101之间且位于数据线124与扫描线101的交错部上的短路缺陷的示意图。数据线124和扫描线101之间检测出一短路缺陷114,为修补此缺陷,可使用两个第二H型结构150与152以及一个十字型结构170,其中位在数据线124之上的第二H型结构150的第二水平连接杆150B的其中一端作为第一焊接点187,位在第二水平连接杆150B实质上中央部分之上的十字型结构170的垂直连接杆的顶端作为第二焊接点188,位于数据线124之上的第二H型结构152的第一水平连接杆152A的其中一端作为第三焊接点189,而位在第一水平连接杆152A实质上中央部分之上的十字型结构170的垂直连接杆的底端作为第四焊接点190。除激光焊接外,必须在数据线124上形成两个电路切口200与202以修补短路缺陷。一旦激光焊接完成且电路切口已形成,短路缺陷114可由焊接点187、188、189与190通过第二H型结构150的第二水平连接杆150B、十字型结构170的垂直连接杆以及另一第二H型结构152的第一水平连接杆152A所形成的连接来修补完成。介于数据线124和扫描线101之间且位于数据线124与扫描线101的交错部上的短路缺陷114于是修补完成。
图9绘示依照本发明一实施例的一种修补位于数据线124和扫描线101的交错部的数据线124上的开路缺陷的示意图。由数据线124与扫描线101的交错部的数据线上检测出一开路缺陷116。由于此开路缺陷出现在远离第二H型结构150与邻近第二H型结构152两者中任一修补延伸范围,因此此开路缺陷必须通过结合两个第二H型结构150和152以及十字型结构170来修补。具体而言,位在数据线124之上的第二H型结构150的第二水平连接杆150B的其中一端作为第一焊接点187,位在第二水平连接杆150B实质上中央部分之上的十字型结构170的垂直连接杆的顶端作为第二焊接点188,位于数据线124之上的第二H型结构152的第一水平连接杆152A的其中一端作为第三焊接点189,而位在第一水平连接杆152A实质上中央部分之上的十字型结构170的垂直连接杆的底端系作为第四焊接点190。一旦激光焊接完成,开路缺陷116可由焊接点187、188、189与190通过第二H型结构150的第二水平连接杆150B、十字型结构170的垂直连接杆以及另一第二H型结构152的第一水平连接杆152A所形成的连接来修补完成。位于数据线124和扫描线101的交错部上且介于数据线124和扫描线101之间的开路缺陷116于是修补完成。
图10绘示依照本发明一实施例的一种修补扫描线缺陷的共用修补结构图。此液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,上述扫描线沿第一方向配置,上述数据线沿实质上与第一方向交错(如垂直交错)的第二方向配置,上述像素电性连接至扫描线和数据线且配置成矩阵,此矩阵由两条介于沿第一方向的两个相邻像素的数据线以及一条介于沿第二方向的两个相邻像素的扫描线所形成。
为方便阐释本发明,在一如图10所示的例示实施例中,此液晶显示器仅包括有三条扫描线101、103与105,四条数据线122、124、126与128,四个像素131、132、133与134,且数据线124与126介于沿第一方向上的两个相邻像素131与132(或133与134)之间,并使扫描线103介于沿第二方位上的两个相邻像素133与131(或134与132)。共用修补结构包含两个H型结构150与152,且可进一步包含一连接杆171。但本领域技术人员将可了解液晶显示器可具有任意数目的扫描线、数据线与像素,且共用修补结构可具有任意数目的H型结构与连接杆,共用修补结构可具有任意数目的H型结构并且连接杆系与扫描线和数据线绝缘。
如图10所示,每一H型结构150/152位于两条介于沿第一方位的两个相邻像素131和132(或133与134)的相邻数据线124与126的相应区段。具体而言,H型结构150的第一水平连接杆(连接条)150A邻近于由扫描线101与数据线124和126所形成的第一交错部201,H型结构150的第二水平连接杆(连接条)150B邻近于由扫描线103与数据线124和126所形成的第二交错部202。H型结构150的垂直连接杆(第三连接条)150C介于数据线124和126之间,且介于第一交错部201和第二交错部202之间。H型结构150的垂直连接杆150C电性连接至H型结构150的第一水平连接杆150A与第二水平连接杆150B。此外,H型结构150的第一水平连接杆150A的第一端与第二端分别配置于数据线124与126上。
同样地,H型结构152的第一水平连接杆(连接条)152A邻近于第二交错部202,H型结构152的第二水平连接杆(连接条)152B邻近于由扫描线105与数据线124和126所形成的第三交错部203。H型结构152的垂直连接杆(第三连接条)150C介于数据线124和126之间,且介于第三交错部203和第二交错部202之间。H型结构152的垂直连接杆152C电性连接至H型结构152的第一水平连接杆152A与第二水平连接杆152B。此外,H型结构152的第一水平连接杆152A的第一端与第二端分别配置于数据线124与126上。
此外,一绝缘层(图中未示)形成于H型结构150/152和数据线124与126之间。
参照先前所述,此一配置可有效用以修补缺陷,且此缺陷由介于第一交错部和第二交错部之间或介于第二交错部和第三交错部之间的相应区段的数据线124或126中检测出,或是位于第二交错部中所检测出。
图11绘示依照本发明另一实施例的一种液晶显示面板中修补扫描线缺陷的共用修补结构图。此共用修补结构包含多条扫描线101、103、105、107、...、多条数据线122、124、126、...以及多个像素,上述扫描线101、103、105、107、...沿第一方向配置,上述数据线122、124、126、...沿实质上与第一方向交错(如垂直交错)的第二方向配置,上述像素连接至扫描线101、103、105、107、...和数据线122、124、126、...,且配置成矩阵,致使两条扫描线介于第二方向上的两个相邻像素之间,且一条数据线介于第一方向上的两个相邻像素之间。
为方便阐释本发明,在一如图11所示的例示实施例中,此液晶显示器仅包含有四条扫描线101、103、105与107,三条数据线122、124与126,四个像素131、132、133与134,且配置以使扫描线103与105介于第二方向上的两个相邻像素133与131(或134与132),并使数据线124介于第一方向上的两个相邻像素131与132(或133与134)之间。共用修补结构包含两个H型结构160与162,且可进一步包含一连接杆172。
同样地,此一配置可有效用以修补缺陷,此缺陷由相应区段的扫描线103或105中检测出,或由扫描线103和105与数据线124所形成的交错部中检测出。
本发明另一实施方式公开一种如上文所述的修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的方法。
在本发明一实施例中,此方法包含(a)提供多个第一H型结构,其中每一第一H型结构位于两条介于沿第二方向配置的两个相邻像素的相邻扫描线的相应区段;(b)提供多个第二H型结构,其中每一第二H型结构位于两条介于沿第一方向配置的两个相邻像素的相邻数据线的相应区段;(c)检测一区段中的缺陷;以及(d)激光焊接第一H型结构和第二H型结构之中的其中一个至检测出缺陷的具缺陷扫描线与/或具缺陷数据线。此外,当缺陷于交错部检测出时,此方法可包含提供多个十字型结构,其中每一个十字型结构位于一相应交错部且部分重叠于紧邻于相应交错部的两个第一H型结构与两个第二H型结构,以修补交错部附近的扫描线与/或数据线。
根据本发明所公开的实施例,此三种修补结构相较于现有发明的修补结构,有相对较低的生成耦合电容,此外,更容易定位修补点。
当然,本发明还可有其它多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (25)
1.一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的共用修补结构,其特征在于,该液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,这些扫描线沿第一方向配置,这些数据线沿实质上与该第一方向交错的第二方向配置,从而在其间形成多个交错部,这些像素电性连接至这些扫描线和这些数据线,该共用修补结构包含:
多个第一H型结构,其中每一这些第一H型结构具有一第一连接条、一第二连接条以及一第三连接条,该第三连接条连接至该第一连接条和该第二连接条且介于该第一连接条和该第二连接条之间,每一这些第一连接条与第二连接条具有一第一端部和一相对的第二端部,且位于两条介于沿该第二方向设置的两个相邻像素的这些扫描线的相应区段间,致使该第一连接条和该第二连接条的该第一端部与两条所述扫描线的其中一条部分重叠,而该第一连接条和该第二连接条的该第二端部与两条所述扫描线的其中另一条部分重叠,其中每一这些第一H型结构选择性地能连接至该相应区段中的两条这些扫描线的其中一条;以及
多个第二H型结构,其中每一这些第二H型结构具有一第一连接条、一第二连接条以及一第三连接条,该第三连接条连接至该第一连接条和该第二连接条且介于该第一连接条和该第二连接条之间,每一这些第一连接条与第二连接条具有一第一端部和一相对的第二端部,且位于两条介于沿该第一方向设置的两个相邻像素的这些数据线的相应区段间,致使该第一连接条和该第二连接条的该第一端部与两条这些数据线的其中一条部分重叠,而该第一连接条和该第二连接条的该第二端部与两条这些数据线的其中另一条部分重叠,其中每一这些第二H型结构选择性地能连接至该相应区段中的两条这些数据线的其中一条。
2.根据权利要求1所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷在该相应区段中的这些扫描线的其中一条检测出时,该第一H型结构通过将该第一连接条与该第二连接条的相应端部激光焊接至该具缺陷扫描线而电性连接至位于该相应区段的该具缺陷扫描线,其中与该具缺陷扫描线部分重叠的该第一连接条与该第二连接条的这些相应端部为该第一连接条与该第二连接条的这些第一端部或是该第一连接条与该第二连接条的这些第二端部。
3.根据权利要求1所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷在该相应区段中的这些数据线的其中一条检测出时,这些第二H结构通过将该第一连接条与该第二连接条的相应端部激光焊接至该具缺陷数据线而电性连接至位于该相应区段的该具缺陷数据线,其中与该具缺陷数据线部分重叠的该第一连接条与该第二连接条的这些相应端部为该第一连接条与该第二连接条的这些第一端部或是该第一连接条与该第二连接条的这些第二端部。
4.根据权利要求1所述的共用修补结构,其特征在于,更包含:
多个十字型结构,其中每一这些十字型结构具有一第一连接条与一第二连接条,该第二连接条由该第一连接条横向延伸出,每一这些第一连接条与第二连接条具有一第一端部和一相对的第二端部,且位于这些交错部并在相邻的两个这些第一H型结构与相邻的两个这些第二H型结构之间,其中每一这些十字型结构可选择性地电性连接至相邻于每一这些交错部的两个这些第一H型结构或两个这些第二H型结构。
5.根据权利要求4所述的共用修补结构,其特征在于,该十字型结构的该第一连接条的该第一端部与该第二端部分别与两个这些第一H型结构的其中一个的该第二连接条以及两个这些第一H型结构的其中另一个的该第一连接条部分重叠,且该十字型结构的该第二连接条的该第一端部与该第二端部分别与两个这些第二H型结构的其中一个的该第二连接条和两个所述第二H型结构的其中另一个的该第一连接条部分重叠。
6.根据权利要求5所述的共用修补结构,其特征在于,这些十字型结构与这些扫描线、这些第一H型结构、这些数据线以及这些第二H型结构电性绝缘。
7.根据权利要求6所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于这些交错部中的这些扫描线的其中一条检测出时,这些十字型结构通过激光焊接以电性连接至位于这些交错部的该具缺陷扫描线,其中通过激光焊接分别将该第一连接条的第一端部与第二端部连接至两个这些第一H型结构其中一个的部分重叠的该第二连接条以及两个这些第一H型结构其中另一个的部分重叠的该第一连接条,且通过激光焊接致使电性连接至该具缺陷扫描线。
8.根据权利要求6所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于这些交错部中的这些数据线其中一个检测出时,这些十字型结构通过激光焊接以电性连接至位于这些交错部的该具缺陷数据线,其中通过激光焊接分别将这些第二连接条的这些第一端部与第二端部连接至两个这些第二H型结构其中一个的部分重叠的该第二连接条以及两个这些第二H型结构其中另一个的部分重叠的该第一连接条,且通过激光焊接致使电性连接至该具缺陷数据线。
9.一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的共用修补结构,其特征在于,该液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,这些扫描线沿第一方向配置,这些数据线沿实质上与该第一方向交错的第二方向配置,从而在其间形成多个交错部,这些像素电性连接于这些扫描线和这些数据线,该共用修补结构包含:
多个第一H型结构,其中每一这些第一H型结构位于两条介于沿该第二方向设置的两个相邻像素的这些扫描线的相应区段间;以及
多个第二H型结构,其中每一这些第二H型结构位于两条介于沿该第一方向设置的两个相邻像素的这些数据线的相应区段间。
10.根据权利要求9所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于该相应区段中的这些扫描线的其中一个检测出时,该第一H结构通过激光焊接以电性连接至位于该相应区段的该具缺陷扫描线。
11.根据权利要求9所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于该相应区段中的这些数据线的其中一个检测出时,该第二H结构通过激光焊接以电性连接至位于该相应区段的该具缺陷数据线。
12.根据权利要求9所述的共用修补结构,其特征在于,更包含多个十字型结构,其中每一这些十字型结构位于一相应交错部,并部分重叠至紧邻于该相应交错部的两个这些第一H型结构与两个这些第二H型结构。
13.根据权利要求12所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于该相应交错部中的这些扫描线的其中一个检测出时,该十字型结构通过激光焊接以电性连接至位于该相应交错部的该具缺陷扫描线,其中通过激光焊接将该十字型结构连接至两个紧邻于该相应交错部的这些第一H型结构。
14.根据权利要求12所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于该相应交错部中的这些数据线的其中一个被检测出时,该十字型结构通过激光焊接以电性连接至位于该相应交错部的该具缺陷数据线,其中通过激光焊接将该十字型结构连接至两个紧邻于该相应交错部的这些第二H型结构。
15.一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的方法,其特征在于,该液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,这些扫描线沿第一方向配置,这些数据线沿实质上与该第一方向交错的第二方向配置,这些像素配置成矩阵且电性连接至这些扫描线与这些数据线,该方法包含:
提供多个第一H型结构,其中每一这些第一H型结构位于两条介于沿该第二方向配置的两个相邻像素的这些扫描线的相应区段间;
提供多个第二H型结构,其中每一这些第二H型结构位于两条介于沿该第一方向配置的两个相邻像素的这些数据线的相应区段间;
检测一区段中的缺陷;以及
激光焊接这些第一H型结构和这些第二H型结构之中的至少其中一个至被检测出缺陷的该具缺陷扫描线与/或该具缺陷数据线。
16.一种修补液晶显示面板中扫描线与/或数据线缺陷的方法,其特征在于,该液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,这些扫描线沿第一方向配置,这些数据线沿实质上与该第一方向交错的第二方向配置而形成多个交错部,这些像素配置成矩阵且电性连接至这些扫描线与这些数据线,该方法包含:
提供多个第一H型结构,其中每一这些第一H型结构位于两条介于沿该第二方向配置的两个相邻像素的这些扫描线的相应区段间;以及
提供多个第二H型结构,其中每一这些第二H型结构位于两条介于沿该第一方向配置的两个相邻像素的这些数据线的相应区段间。
17.根据权利要求16所述的方法,其特征在于,更包含:激光焊接这些第一H型结构和这些第二H型结构之中的其中一个至被检测出缺陷的一相应区段,且该相应区段相应于这些扫描线和这些数据线之中的其中一条。
18.根据权利要求16所述的方法,其特征在于,更包含:提供多个十字型结构,其中每一这些十字型结构位于一相应交错部,并与紧邻于该相应交错部的两个这些第一H型结构与两个这些第二H型结构部分重叠。
19.根据权利要求18所述的方法,其特征在于,更包含:激光焊接这些第一H型结构、这些第二H型结构以及这些十字型结构三者之中的一个或多个至被检测出缺陷的一相应区段或一相应交错部,且该相应区段或该相应交错部相应于这些扫描线和这些数据线的其中一条。
20.一种修补液晶显示面板中扫描线缺陷的共用修补结构,其特征在于,该液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,这些扫描线沿第一方向配置,这些数据线沿实质上与该第一方向交错的第二方向配置而形成多个交错部,这些像素电性连接于这些扫描线和这些数据线,该共用修补结构包含:
多个H型结构,其中每一这些H型结构位于两条介于沿该第二方向配置的两个相邻像素的相邻这些扫描线的相应区段间。
21.根据权利要求20所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于该相应区段中的这些扫描线其中一个被检测出时,位于该相应区段的该H结构通过激光焊接以电性连接至该具缺陷扫描线。
22.根据权利要求20所述的共用修补结构,其特征在于,更包含多条连接杆,其中每一这些连接杆位于一相应交错部且沿该第一方向配置,并部分重叠于紧邻于该相应交错部的两个这些H型结构。
23.一种修补液晶显示面板中数据线缺陷的共用修补结构,其特征在于,该液晶显示面板包含多条扫描线、多条数据线以及多个像素,这些扫描线沿第一方向配置,这些数据线沿实质上与该第一方向交错的第二方向配置而形成多个交错部,这些像素电性连接至这些扫描线和这些数据线,该共用修补结构包含:
多个H型结构,其中每一这些H型结构位于两条介于沿该第一方向配置的两个相邻像素的相邻这些数据线的相应区段间。
24.根据权利要求23所述的共用修补结构,其特征在于,当一缺陷于该相应区段中的这些数据线的其中一个被检测出时,位于该相应区段的该H结构通过激光焊接以电性连接至该具缺陷数据线。
25.根据权利要求23所述的共用修补结构,其特征在于,更包含多条连接杆,其中每一这些连接杆位于一相应交错部且沿该第二方向配置,并部分重叠于紧邻于该相应交错部的两个这些H型结构。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103955097A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-07-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其维修方法、显示装置 |
CN103984174A (zh) * | 2014-05-26 | 2014-08-13 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 一种像素结构及其制造方法与修复方法 |
CN104035252A (zh) * | 2014-05-23 | 2014-09-10 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种阵列基板的布线结构 |
CN107121853A (zh) * | 2017-06-21 | 2017-09-01 | 上海天马微电子有限公司 | 一种液晶显示面板和液晶显示装置 |
CN110376807A (zh) * | 2018-04-12 | 2019-10-25 | 夏普株式会社 | 显示装置 |
CN111399295A (zh) * | 2020-04-26 | 2020-07-10 | 成都中电熊猫显示科技有限公司 | 断线修补方法、装置、电子设备和存储介质 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10813630B2 (en) | 2011-08-09 | 2020-10-27 | Corquest Medical, Inc. | Closure system for atrial wall |
US10307167B2 (en) | 2012-12-14 | 2019-06-04 | Corquest Medical, Inc. | Assembly and method for left atrial appendage occlusion |
US10314594B2 (en) | 2012-12-14 | 2019-06-11 | Corquest Medical, Inc. | Assembly and method for left atrial appendage occlusion |
US20130278856A1 (en) * | 2012-04-19 | 2013-10-24 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. | Display Panel and Method for Reparing Signal Line of Display Panel |
US20140142689A1 (en) | 2012-11-21 | 2014-05-22 | Didier De Canniere | Device and method of treating heart valve malfunction |
FR3010831B1 (fr) * | 2013-07-29 | 2019-06-28 | Sunpartner Technologies | Dispositif d'affichage retroeclaire avec cellules photovoltaiques integrees |
US9566443B2 (en) | 2013-11-26 | 2017-02-14 | Corquest Medical, Inc. | System for treating heart valve malfunction including mitral regurgitation |
US10842626B2 (en) | 2014-12-09 | 2020-11-24 | Didier De Canniere | Intracardiac device to correct mitral regurgitation |
TWI566228B (zh) * | 2015-01-23 | 2017-01-11 | 友達光電股份有限公司 | 主動元件陣列基板及其檢測方法 |
CN105527736B (zh) * | 2016-02-15 | 2019-01-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其修复方法、显示面板和显示装置 |
CN109270756B (zh) * | 2018-09-30 | 2020-12-25 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板和显示装置 |
CN112928229B (zh) * | 2019-12-05 | 2023-08-22 | 上海和辉光电股份有限公司 | 断线修复方法、阵列基板和有源矩阵显示装置 |
CN114068583A (zh) * | 2020-08-03 | 2022-02-18 | 友达光电股份有限公司 | 像素阵列基板 |
CN112259588B (zh) * | 2020-10-21 | 2022-07-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示基板的制备方法、显示基板及显示装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02157828A (ja) | 1988-12-12 | 1990-06-18 | Hosiden Electron Co Ltd | 液晶表示素子 |
US5303074A (en) * | 1991-04-29 | 1994-04-12 | General Electric Company | Embedded repair lines for thin film electronic display or imager devices |
US5976978A (en) | 1997-12-22 | 1999-11-02 | General Electric Company | Process for repairing data transmission lines of imagers |
US6441401B1 (en) | 1999-03-19 | 2002-08-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel for liquid crystal display and method for repairing the same |
KR100382456B1 (ko) * | 2000-05-01 | 2003-05-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의 리페어 패턴 형성방법 |
JP2004054069A (ja) | 2002-07-23 | 2004-02-19 | Advanced Display Inc | 表示装置及び表示装置の断線修復方法 |
JP2005107297A (ja) | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Sanyo Electric Co Ltd | 表示装置 |
KR100606970B1 (ko) | 2004-04-14 | 2006-08-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
TWI241445B (en) * | 2004-04-16 | 2005-10-11 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | Multi-domain homeotropic alignment liquid crystal display panel |
CN101446724B (zh) | 2008-12-16 | 2010-07-07 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示装置、阵列基板及其缺陷修补方法 |
TWI387825B (zh) * | 2009-04-17 | 2013-03-01 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | 具修補結構之顯示面板及修補顯示面板之方法 |
-
2009
- 2009-11-11 US US12/616,420 patent/US8264631B2/en active Active
- 2009-12-31 TW TW098146532A patent/TWI421571B/zh active
-
2010
- 2010-01-20 EP EP10151252.3A patent/EP2322976B1/en active Active
- 2010-02-01 CN CN2010101071491A patent/CN101876760B/zh active Active
-
2012
- 2012-07-16 US US13/549,798 patent/US8724062B2/en active Active
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103955097A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-07-30 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其维修方法、显示装置 |
CN104035252A (zh) * | 2014-05-23 | 2014-09-10 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种阵列基板的布线结构 |
CN103984174A (zh) * | 2014-05-26 | 2014-08-13 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 一种像素结构及其制造方法与修复方法 |
CN103984174B (zh) * | 2014-05-26 | 2017-01-18 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 一种像素结构及其制造方法与修复方法 |
CN107121853A (zh) * | 2017-06-21 | 2017-09-01 | 上海天马微电子有限公司 | 一种液晶显示面板和液晶显示装置 |
CN110376807A (zh) * | 2018-04-12 | 2019-10-25 | 夏普株式会社 | 显示装置 |
CN111399295A (zh) * | 2020-04-26 | 2020-07-10 | 成都中电熊猫显示科技有限公司 | 断线修补方法、装置、电子设备和存储介质 |
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Also Published As
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