CN101866656A

CN101866656A - 记录条件的调整方法以及光盘装置

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Publication number: CN101866656A
Application number: CN200910172877A
Authority: CN
Inventors: 峰邑浩行; 黑川贵弘
Original assignee: Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Current assignee: Koninklijke Philips NV
Priority date: 2009-04-14
Filing date: 2009-09-07
Publication date: 2010-10-20
Anticipated expiration: 2029-09-07
Also published as: US20100260025A1; JP2010250881A; CN102157158A; BRPI1015012A2; US8264932B2; EP2242053A1; MY149753A; US20120002527A1; CN102157158B; MX2011010754A; US8085640B2; JP4764939B2; CN101866656B; WO2010119722A1

Abstract

在约束长度为5以上的大容量光盘系统中，在为评价再生信号的品质而进行二值化比特列和规定的评价比特列的一致性判定，计算欧几里德距离时，对应PRML方式的约束长度的增大，电路规模按指数增大。在此提供一种高效且可靠性高的再生信号的评价方法以及使其该方法的光盘装置。将规定的评价比特列中包含的2T的连续数设为i，考虑将评价比特列分为(5+2i)的长度的主比特列以及两侧的副比特列。把二值化比特列中是否包含规定的评价比特列的判定处理归纳为主比特列的一致性判定。由此，来防止电路规模的增大。同时通过对于每个主比特列，分离地累计再生信号与和评价比特列对应的目标信号的欧几里德距离的计算结果，就可以削减评价累计电路的规模。

Description

记录条件的调整方法以及光盘装置

技术领域

本发明涉及一种在记录介质上形成物理性质与其他部分不同的记录标记，向记录信息的光盘介质记录信息的记录条件的调整方法以及使用该方法的光盘装置。

背景技术

作为光盘介质，具有CD-R/RW、DVD-RAN、DVD±R/RW、BD等多种类型，还包含具有两层数据层的介质也广泛地普及。作为对应的光盘装置，与CD-R/RW、DVD-RAN、DVD±R/RW的记录/再生相对应的、所谓的DVD超级多功能驱动器(Super Multi Drive)已经普及。今后，考虑到与BD对应的高性能驱动器的普及，希望有更大容量的光盘面市。

随着光盘的高速化以及高密度化，需要基于PRML(Partial ResponseMaximum Likelihood)再生方式的再生信号的二值化技术。作为PRML方式之一，具有对应再生信号使目标信号电平相适应地进行变化的自适应PRML或补偿PRML方式。根据非专利文献1(电子信息通信学会论文志CJ90-C，PP.519(2007))，表示了通过使用这样的PRML方式，来补偿再生信号的非对称性以及记录时的热干扰，由此在BD对应的装置中，可以实现相当于35GB容量的高密度化。还表示了对应所使用的PRML方式的约束长度(表示等级的比特长度)，约束长度越长，高密度条件下的再生性能越高。在具备这样的PRML方式的光盘装置中，为了得到最佳的二值化结果，安装有使再生信号和PRML的目标信号的RMS成为最小的自动均衡器。一般，作为抽头系数可变的FIR(Finite Impulse Response)滤波器安装自动均衡器。

当增加光盘的记录密度时，与光点的大小相比记录标记的大小变小，得到的再生信号的振幅也减小。光点的分辨率由波长λ和物镜的数值孔径NA决定，当最短游程的记录标记的长度成为λ/4NA以下时，该重复信号的振幅成为零。这是一般作为光学截止而被知晓的现象，在BD中λ/4NA≈199nm。当在BD中使轨道间距恒定时，在想要实现大约31GB以上的容量时，作为最短游程的2T的重复信号的振幅成为零。为了在这样的高密度条件下得到良好的再生性能，需要使用PRML方式。

在记录型光盘中，使用强度调制为脉冲状的激光(以下称为记录脉冲)改变记录膜的晶体状态等，由此来记录希望的信息。作为记录膜使用相变材料或有机色素、某种合金或氧化物等，一般被人们广泛所知。在CD、DVD以及BD中使用的标记沿符号方式中，根据前后沿位置决定编码信息。在记录脉冲中，主要决定记录标记前沿的形成条件的第一脉冲、和主要决定记录标记后沿的形成条件的最后脉冲的位置以及宽度，对于良好地保持所记录的信息的品质，是重要的。因此，在记录型光盘中，一般使用对应记录标记的长度、以及先前或者后续的间隔的长度，自适应地改变第一脉冲和最后脉冲的位置或宽度的自适应性记录脉冲。

在上述的高密度条件下，因为形成的记录标记细微化，所以与目前相比需要高精度地决定记录脉冲的照射条件(以下称为记录条件)。另一方面，光盘装置的光点的形状由于光源的波长、波面像差、聚焦条件、光盘的倾斜等而发生变化。此外，由于环境温度或老化，半导体激光器的阻抗或量子效率发生变化，所以记录脉冲的形状也变化。如此，一般把与针对每个个体、每个环境变动的光点的形状和记录脉冲的形状相对应地，用于始终得到最佳的记录条件的调整技术称为试写。随着记录密度的提高，基于试写的记录条件调整技术的重要度在不断提高。

可以将记录条件的调整技术大致分为两个方法。一个是以比特错误率或字节错误率为指标的方法，另一个是使用抖动等统计性指标的方法。前者是关注对于所记录的数据以较小的概率产生的事项的方法，后者是关注所记录的数据的平均品质的方法。例如，当考虑可写型光盘时，在一边改变记录条件一边在多个部位记录再生数据时，关于前者的方法，即使在最佳的记录条件下当在记录的部位出现了指纹时，比特错误率或字节错误率变大，所以不能选择该方法。所谓最佳的记录条件应该使通过该最佳记录条件记录的数据的平均品质最佳，所以在像光盘那样不能避免介质缺陷、指纹、灰尘等的影响的存储系统中，可以说使用统计性指标的方法具有优势。

作为对应PRML方式，统计性地评价所记录的数据的方法，具有Jpn.J.Appl.Phys.Vol.43，pp.4850(2004)(非专利文献2)、特开2003-141823号公报(专利文献1)、特开2005-346897号公报(专利文献2)、特开2005-196964号公报(专利文献3)，特开2004-253114号公报(专利文献4)以及特开2003-151219号公报(专利文献5)等中记载的技术。

在专利文献1中公开了使用与最似然的状态迁移列对应的似然性Pa、和与第二似然的状态迁移列对应的似然性Pb，通过|Pa-Pb|的分布评价再生信号的品质的技术。在非专利文献2中，公开了以下的技术：把根据再生信号得到的二值化比特列(对应于最似然的状态迁移列)的目标信号和再生信号的欧几里德距离(对应于Pa)、以及关注的沿进行1比特位移后的二值化比特列(对应于第二似然的状态迁移列)的目标信号和再生信号的欧几里德距离的差(对应于Pb)的绝对值，减去两个目标信号之间的欧几里德距离的值定义为MLSE(Maxmum Likelihood Sequence Error)，调整记录条件以便对于每个记录图形MLSE的分布的平均值成为零。

在专利文献2中公开了以下的技术：关注沿位移，使用在再生信号的沿部向左右位移的错误图形中包含虚拟的1T游程的图形，并且根据沿位移的方向求出带有符号的序列误差的差，由此来求出沿位移量，调整记录条件使其接近于零。将评价指标被称为V-SEAT(Virtual state based Sequence Error for AdaptiveTarget)。

在专利文献3以及专利文献4中，通过使用预先收纳了正确图形和对应的错误图形的组合的表，计算再生信号和正确图形以及错误图形的欧几里德距离的差，求出根据其平均值和标准偏差求出的推定比特错误率SbER(Simulatedbit Error Rate)。

专利文献5公开了以下的技术：根据再生信号和正确图形以及错误图形的欧几里德距离的差，分别求出关注的沿向左侧移动时的错误概率以及向右侧移动时的错误概率，调整记录条件以使其变得相等。因此，可以使用规定的再生信号、与该再生信号的信号波形图形对应的第一图形、以及除了该第一图形之外使用与再生信号的信号波形图形对应的任意的图形(第二或第三图形)。首先，求出再生信号和第一图形之间的距离Eo、与再生信号和任意的图形之间的距离Ee之间的距离差D＝Ee-Eo。然后，关于多个再生信号的样本，求出距离差D的分布。然后，根据求出的距离差D的平均M和求出的距离差D的分布的标准偏差σ之比，决定再生信号的品质评价参数(M/σ)。然后，根据由品质评价参数表示的评价值指标(Mgn)，判断再生信号的品质。

【专利文献1】特开2003-141823号公报

【专利文献2】特开2005-346897号公报

【专利文献3】特开2005-196964号公报

【专利文献4】特开2004-253114号公报

【专利文献5】特开2003-151219号公报

【非专利文献1】電子情報通信学会論文誌C Vol.J90-C，pp.519(2007)

【非专利文献2】Jpn.J.Appl.Phys.Vol.43，pp.4850(2004)

发明内容

专利文献1中记载的最似然的状态迁移列和第二似然的状态迁移列、以及专利文献3中记载的正确图形以及错误图形，分别为应该测定与再生信号的距离的目标比特列的含义，所以是相同的。在专利文献2以及专利文献5中具有三个目标比特列，但是为相同的含义。以下将它们总称为评价比特列。此外，在本发明中以BD系统为基础，目的在于实现30GB以上的大容量，所以以下以调制符号的最短游程2T为前提来进行说明。

如在非专利文献1中记载的那样，为了实现高密度记录，应用约束长度为5以上的PRML方式。如上所述，当在BD的光学系统条件(波长405nm、物镜数值孔径0.85)下在线方向上提高了记录密度时，容量大约为31GB以上，2T重复信号的振幅变为零。此时，作为PRML方式，公知应用2T重复信号的目标这幅为零的PR(1，2，2，2，1)方式等。作为与PR(1，2，2，2，1)方式对应的再生信号的品质的评价方法，具有专利文献3和专利文献4公开的SbER。除了二值化比特列(正确图形)以外，作为第二似然的评价比特列(错误图形)，SbER使用与正确图形的海明距离为1(沿位移)、海明距离为2(2T数据的位移)、海明距离为3(2T-2T数据的位移)，将各个分布看作高斯分布，根据其平均值和标准偏差使用误差函数推定比特错误率。

下面，以BD规格为基础，说明为了实现记录容量为30GB以上的光盘系统而需要的高精度的记录条件调整技术所要求的性能。对此，关于根据调整结果记录的数据的品质，至少要求(1)SbER等或比特错误率等足够小，以及(2)由一台驱动装置记录的数据的品质即使在另一驱动装置中，SbER或比特错误率等也要足够小。要求性能(1)是理所当然的事情，但要求性能(2)是在可以更换记录介质的光盘系统中具有特色性的要求。可以说不满足至少两个要求性能的记录条件的调整方法不能用于高密度光盘系统。

从以上两个要求性能的观点出发，说明根据现有技术以及它们的组合类推的技术课题。

首先，在BD中使用提高了线记录密度的实验和仿真结果，说明通过相当30GB/面以上的记录密度执行了记录再生时发生的各种现象。

图2是对使用试制的三层结构的可写型光盘样品测定到的记录功率和比特错误数量的关系进行了总结的实验结果。在试制的光盘中使用的记录材料为Ge系化合物薄膜，使各层的层间隔为14μm以及18μm成为三层结构，从光学头看去，将最里侧的透明覆盖层的厚度设为100μm。轨道间距是320nm。关于记录再生条件，设为数据传输速度是BD的两倍的条件，使检测窗口宽度1T为大约56nm，成为相当于33GB的记录密度。作为记录脉冲，使用在三个功率等级(峰值功率、辅助功率、底部功率)之间调制的一般的多脉冲型记录脉冲。作为再生信号处理系统的结构，使用了8比特的A/D转换器、21抽头的自动均衡器、PR(1，2，2，2，1)方式的维特比(Viterbi)解码器。比特错误率的最小值各层都为10^-5以下。比特错误率为最小的峰值功率在L0、L1、L2层中分别为13.5mW、15.5mW、11.5mW。在图中汇总了在L0层中，使三个功率的比率保持恒定地改变记录功率时的比特错误，是对除了沿位移之外，一至四个连续的2T汇总地进行位移(滑动)的情况进行调查后的结果。根据附图可知，对应某一个记录功率，不仅是沿位移，连续的2T汇总地进行移位时的错误频度也为同等以上的大小。这是由于2T-2T信号的振幅为零，以及相对于在为PR(1，2，2，2，1)方式时针对沿位移的欧几里德距离为14，连续的2T汇总地位移时的欧几里德距离为较小的12导致的结果。

图3是总结了SNR和SbER的关系的仿真结果。在此，通过线性衍射仿真求出对记录标记进行了再生时得到的脉冲响应，通过与记录比特列的卷积运算，计算出理想地执行记录时的再生信号。将噪声作为白色噪声进行相加，将SNR决定为8T重复信号的一半振幅与噪声的标准偏差的比。通过基于PR(1，2，2，2，1)方式的再生信号处理系统对其进行处理，计算出比特错误率以及SbER等。在专利文献3中公开了2T的连续数直到2为止的评价图形，在此，将2T的连续数扩大到6(海明距离1～7)来使用该评价图形。关于评价图形的数量，每单位海明距离为18个，所以总数为252。根据附图可知，2T的连续数为2(海明距离3)以上，SbER的值大体恒定。该结果不与图2的实验结果矛盾。在SbER的计算中，从定义上来讲，因为考虑评价图形的存在概率来推定比特错误，所以即使为2T的连续数直到2为止的评价，但仍可以推定全体的比特错误率。

图4表示比特错误率和SbER的关系的实验结果。在此，在L0层中，为了包含串扰的影响，在连续5条轨道的不进行记录的中心轨道中，给出各种记录再生应力来进行试验。具体的应力是光盘的径向倾斜(R-tilt)、切向倾斜(T-tilt)、聚焦偏移(AF)、光学头的波束扩展器的操作导致的球面像差(SA)、以及记录功率的变化(Pw)。关于倾向倾斜还表示了L2层的结果。根据附图可知，比特错误率与SbER的相关非常良好。比特错误率在10^-5附近，偏差较大的原因是试制介质的缺陷的影响。

根据这些实验以及仿真的结果，可知在实现33GB/面的记录容量的高密度记录再生条件下，作为比特错误，不仅要对沿位移(海明距离1)进行评价，至少还需要进行2T的连续数直到2为止的错误评价。特别是在仅关注沿位移来评价再生信号的品质的方法中，与比特错误率、SbER的关联不够。

然后，说明与高密度化相伴的欧几里德距离差的分布。在此处理的所谓欧几里德距离是指从再生信号与错误目标信号的欧几里德距离中减去再生信号与正确目标信号的欧几里德距离得到的值，在专利文献1中为|Pa-Pb|，在专利文献3以及4中定义为D值。此外，在此为了考察理想的记录状态，使用上述的仿真。设SBR为24dB，使记录密度在相当于25至36GB/面的范围(T＝74.5nm～51.7nm)内进行变化，求出2T的连续数直到2为止的欧几里德距离差的分布。再生信号处理系统的结构与上述相同。图5表示结果。还将该分布称为SAM分布。如上所述，在PR(1，2，2，2，1)方式中，因为与沿位移的理想欧几里德距离＝14、2T位移以及两个连续2T进行位移时的理想欧几里德距离＝12不同，所以为了汇总表示它们，各个欧几里德距离差通过理想欧几里德距离进行划分标准化地进行表示。在该图中，距离差为零(左侧端)或者为负时的统计性概率相当于比特错误率。根据附图可知，由于记录密度的提高，即使为相同的SNR分布的范围也会变大。这表示对应记录密度的提高，错误率增加，成为合理的结果。另一方面，当关注各个分布的平均值(与峰值大体相等)时，在为沿位移时在1(＝理想欧几里德距离)的附近成为恒定。但是，在连续的2T进行位移时，可知随着2T的连续数增加为一个、两个，并且随着记录密度的提高，峰值向接近零的方向移动。可以认为该现象的原因为取决于自动均衡器的处理能力。如上所述，自动均衡器进行工作，使再生信号和正目标信号的RMS误差成为最小。另一方面，因为其采样间隔在1T中为有限的值，所以通过采样处理，仅可以进行直到采样频率的1/2为止的范围内的离散频率特性运算。如此，因为在通过自动均衡器得到的滤波特性中存在极限，所以在再生信号中包含的2T的连续数较大的图形区间内，再生信号的高频成分增大，结果，因为接近自动均衡器的处理能力的极限，所以可以认为与理想欧几里德距离的偏差变大。如后所述，由于记录密度的提高，欧几里德距离差的分布峰值(或者平均值)向小于理想欧几里德距离的一侧位移的现象，关于记录条件的调整技术是非常重要的事情。在上述的公知文献中没有关于该现象的记载。

根据以上的试样和仿真的结果，从上述两个要求性能的观点出发，对现有技术和根据它们的组合类推的技术的课题进行汇总。

(1)非专利文献2中记载的方法

在非专利文献2中记载了以下的技术：根据专利文献1记载的技术，关注于沿位移，为了使欧几里德距离差的分布的平均值成为理想欧几里德距离而进行调整。在[非专利文献2的式(1)]中，将特定的沿的位移量MD定义为如下：

【数学式1】式1

MD = | Σ_{1}^{4} {(X - P_{A})}^{2} - Σ_{1}^{4} {(X - P_{B})}^{2} | - d_{\min}

(式1)

在此，X是再生信号的电平，P_A以及P_B分别是与二值化后的比特列(最似然的状态迁移列)相对的目标信号电平以及与1比特沿位移后的比特列(第二似然的状态迁移列)对应的目标信号电平，d_min是与沿位移对应的理想欧几里德距离。当按照图5所示的结果进行补偿时，本发明是与为了使沿位移的分布成为理想欧几里德距离(＝1)而调整记录条件相对应的方法。另一方面，在图3中表示了当在高密度记录条件下只关注沿位移时，与SbER(或者比特错误率)的关联不够。根据该结果可知，在高密度记录条件下，参照上述的要求性能(1)，只关注沿位移的本方法存在不足。此外，在[非专利文献2的Table 2]中，表示了在连续两个2T的部位，即在先前间隔为2T时的2T标记的前沿(Tsfp(2s，2m))、以及后续间隔为2T时的2T标记的后沿(Telp(2s，2m))中，不存在调整指标，关于该点，鉴于图2所示的结果，可以说在为2T的错误较大的高密度记录条件的情况下，应用本方法存在不足。

(2)专利文献2记载的方法

专利文献2记载的方法也是只关注沿位移得到记录调整的指标的方法，但通过导入虚拟的1T标记、间隔，对于连续两个2T的部位也可以进行记录调整。但是，与上述相同，因为只关注沿位移，所以不能说与SbER(或者比特错误率)的关联良好，因此参照要求性能(1)本方法也存在不足。

(3)专利文献5记载的方法

专利文献5记载的方法是关于错误比特列为了满足游程限制而进行择，所以不仅是沿位移，即使关于2T连续地进行位移的情况，指标和SbER(或比特错误率)的关联也优秀的方法。在本方法中，如[专利文献5的图3]所示，为了调整包含2T标记的记录条件，关注的标记沿向左侧位移时与向右侧位移时相比，进行评价的错误比特列和正确比特列的海明距离不同。例如，按照非专利文献2的记载，当查看Tsfp(3s，2m)时，记载的比特列如下那样。

【表1】

↓关注的沿

左位移比特列 1 1 1 0 0 1 1 1 0 0 0 0

正位比特列 1 1 1 0 0 0 1 1 0 0 0 0

右位移比特列 1 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 0

当考虑PR(1，2，2，2，1)方式时，在为左位移比特列时，与正位比特列的海明距离为1，欧几里德距离为14。在为右位移比特列时，与正位比特列的海明距离为2，欧几里德距离为12。如图5所示的结果那样，当海明距离不同时，各自分布的平均和标准偏差的值不同。在专利文献5中，为了应对该课题，导入了SbER的概念，使用误差函数来推定各自的错误概率，将两者的错误概率变为相等的条件作为调整目标。按照本方法，考虑可以决定使SbER(或比特错误率)成为最小的记录条件。另一方面，如上所述，图5所示的仿真结果是在理想的状态下(沿位移＝0)形成了记录标记时的结果。如在图5中见到的那样，对应于海明距离的不同，中心值和标准偏差不同。因此，按照专利文献5中记载的方法，为了使三个分布的错误概率(欧几里德距离差成为0以下的概率)相等，需要挪动记录标记的形成条件。参照与所述与保证光盘的互换性有关的要求性能(2)，关于该方法作为高密度光盘的记录条件的调整方法是否是理想的方法尚存在疑问。关于这一点，为了进行定量的考察，使用上述的仿真来进行研究。

为了定义通过专利文献5的方法检测的沿位移的量，进行了概念的扩展。根据[专利文献5的式(13)]，将沿位移相当量Ec定义为：

【数学式2】式2

E_c＝(σ₃*M₂+σ₂*M₃)/(σ₂+σ₃)(式2)。

在此，M₂、M₃以及σ₂、σ₃分别关注的沿向左右位移了1比特时的欧几里德距离差的分布的平均以及标准偏差。如上所述，通过理想的欧几里德距离对两个部分进行标准化得到了图5的结果。同样地，考虑理想欧几里德距离相当于1T，如果通过理想欧几里德距离分别对M₂、M₃以及σ₂、σ₃进行标准化后使用，则可以根据沿位移相当量Ec计算出时间轴方向的沿位移Ec’。

图6表示通过仿真求出的分布，可知得到了与[专利文献5的图6]示意性表示的分布相同的结果。图7表示改变了SNR时的、对Ec’的值进行调查后的结果。如在附图中看到的那样，可知对应于SNR的变化，Ec’的值较大地变化。在光盘装置中，对于每个个体，或者对应于温度等环境条件，光点的形状或光电转换放大器的SNR发生变化。像硬盘装置那样，如果是无法更换盘介质的存储设备，在该驱动装置中，为了使SbER(或比特错误率)成为最小，调整记录条件是最好的方法。但是，如光盘那样，在可以更换介质的存储系统中，仅使该驱动器的SbER(或者比特错误率)成为最小可以说是不够的。鉴于上述的要求性能(2)，本方法作为高密度记录条件下的记录条件调整方法可以说尚具有改善的余地。

并且，关于本方法，还参照要求性能(1)说明具有改善的余地。在Tsfp(3s，2m)的评价中使用的比特列与上述相同。另一方面，如专利文献4中记载的那样，下面的评价比特列也被用于SbER的计算。

【表2】

↓关注的沿

左位移比特列 1 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 1

正位比特列 1 1 1 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1

右位移比特列 1 1 1 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1

这是关注的2T标记后续的间隔为2T的情况。关于左位移比特列，与上述相同，与正位比特列的海明距离为1，欧几里德距离为14。另一方面，在为右位移比特列时，与正位比特列的海明距离为3，欧几里德距离成为12，海明距离与上述不同。根据要求性能(1)，希望记录调整用评价指标与再生信号品质的评价指标SbER(或比特错误率)的关联足够大。因此，在记录调整用评价指标中，比特列也需要评价比特列成为符合了再生信号品质的评价指标的评价比特列。在使用关注的沿向左右进行了沿位移的目标信号的评价指标中，如该例子那样，关于在左位移时海明距离为1，在右位移时海明距离为2、3产生多个组合这一点，在专利文献5中没有解决方法的相关记载。关于这一点，可以说在本方法中具有改善的余地。

(4)基于现有技术组合的方法

在非专利文献2中，记载了以下的技术：根据专利文献1记载的技术，关注与沿位移，为了成为理想欧几里德距离而调整欧几里德距离差的分布的平均值。将该技术用于[专利文献5的图3]所示的评价比特列，可以容易地类推出为了成为理想欧几里德距离而调整各个分布的平均值的方法。但是，如图5所示，当提高记录密度时，各分布的平均值向从理想欧几里德距离起减小的方向偏移。同样地，各分布的平均值还对应于SNR进行变化。图8表示通过实验确认了该现象的结果。这是在所述试制的三层光盘的L0中，一边改变再生功率一边执行再生实验得到的实验结果。图的横轴将再生功率1.2mW表示为100％。虽然再生信号振幅与再生功率成比例，但光检测器的噪声(放大器噪声)为恒定，所以本实验是通过改变再生功率来改变再生信号的SNR的结果。如在图中见到的那样，可知：各分布的平均值比理想欧几里德距离(＝1)小，且相应于再生功率变小而变小。关于该方法，显然，由于驱动器装置而产生的SNR的不同影响了记录调整中所使用的指标。

(5)使SbER最小的方法

如图4所示，在33GB/面的实验中，SbER表示与比特错误率良好的关联。因此，考虑不使用用于记录调整的评价指标，对于记录条件的全部组合，进行记录再生选择得到最小的SbER的条件的方法。但是，如光盘介质那样，在用于记录调整的区域(试写区域)的大小受到限制时，实际上无法一边随意地改变记录条件，一边检索SbER成为最小的条件。其原因在于无法得到与用于使记录的标记的沿接近理想状态的方向相对的信息。如以上所示的现有技术那样，如果不是可以对应于记录脉冲的各个参数，分别独立地对于目标值的偏差进行定量的方法，则不会成为可以对应光盘装置来执行试写的方法。此外，即使在重复试制光盘，谋求提高其性能时，也希望在短时间内完成记录条件的调整。在该含义中，还希望满足所述的要求性能(1)和(2)，并且对应于记录参数可以分别独立地进行调整的新的用于记录调整的指标及其调整方法。

如上所述，根据BD系统，关于与容量成为30GB/面这样的高密度记录条件相对应的记录条件的调整，在现有技术中，存在不足以兼顾调整性能以及保证介质的互换性的课题。在本发明中要解决的课题在于提供用于解决这些课题的新的记录调整用评价指标和方法，以及提供使用该新的记录调整用评价指标和方法的光盘装置。

在本发明中以BD系统为基础，以谋求30GB以上的大容量为目标，所以下面关于调制符号的最短游程以2T为前提来进行说明。此外，如上所述，根据实验结果，在2T的连续数直到2为止处理的SbER与比特错误率良好地一致，所以作为再生信号品质的评价指标，以SbER作为前提，来说明本发明的记录调整用评价指标。如果与SbER相同，是根据目标信号和再生信号的欧几里德距离统计性地评价再生信号品质的指标，或者是直接评价比特错误率的指标等，则根据本发明调整记录条件可以得到良好的结果。

对上述的课题进行整理如下：

(课题1)关于根据调整结果记录的数据的再生互换性

需要不依存于SNR的变化地，调整目标点变为恒定的评价指标和调整方法。

(课题2)关于根据调整结果记录的数据的品质

为了确保SbER足够小，至少需要连续的2T的数量直到为2个为止的评价比特列与SbER的评价比特列一致，或者实质上一致。

(课题3)关于实现在短时间内的记录调整

需要对应于记录脉冲条件、或者对应于自适应型记录脉冲的各个参数，可以分别独立地进行评价的评价指标和调整方法。

关于构成本发明的课题解决手段的基本的概念，在遵从两个目标信号与再生信号的欧几里德距离差的评价指标中，把与关注的沿的位移相对应的成分和依存于SNR的成分进行分离，来进行评价。为了使本发明容易理解，首先表示满足这些课题的评价指标的定义，然后表示满足了课题。

以下设再生信号为W，根据再生信号得到的二值化比特列的目标信号为T，使二值化比特列的关注的沿向左位移1比特，并且满足游程限制的比特列的目标信号为L，使二值化比特列的关注的沿向右位移1比特，并且满足游程限制的比特列的目标信号为R。将W、T、R、L之间的欧几里德距离表示为ED(W，T)、ED(W，R)。把与关注的沿向左方向位移的错误有关的评价值设为xL，把与关注的沿向右方向位移的错误有关的评价值设为xR，将这些称为等价沿位移，分别用下式D1、D2进行定义。

【数学式3】式D1

xL = \frac{1}{2} (1 - \frac{ED (L, W) - ED (T, W)}{ED (T, L)})

(式D1)

【数学式4】式D2

xR = \frac{1}{2} (1 - \frac{ED (R, W) - ED (T, W)}{ED (T, R)})

(式D2)

将关注的沿的沿位移量称为扩展沿位移D，用下式D3进行定义。

【数学式5】式D3

D = \frac{xR - xL}{2}

(式D3)

把与关注的沿的错误概率相当的修正量称为SNR因数S，用下式D4进行定义。

【数学式6】式D4

S = \frac{xR + xL}{2}

(式D4)

关注的沿与标记长以及先前(或者后续)的间隔长相同，即，关于在同一记录脉冲条件下记录的沿的组，把在记录调整中使用的沿位移量作为d的统计平均值Δ，用下式D5进行定义。

【数学式7】式D5

Δ = Σ_{n = 1}^{N} D_{n}

(式D5)

其中，N为测定到的沿的总数，D_n为第n沿的扩展沿位移。

并且，把与关注的沿的错误概率相当的抖动值作为σ，用下式D6进行定义。

【数学式8】式D6

σ = \sqrt{\frac{1}{N} (Σ_{n = 1}^{N} {D_{n}}^{2} + Σ_{n = 1}^{N} {S_{n}}^{2})}

(式D6)

其中，S_n是第n沿的SNR因数。

以下把通过(式D1)至(式D6)定义的本发明的评价指标称为L-SEAT(run-length-Limited Sequence Error for Adaptive Target)，把在(式D5)中定义的Δ称为L-SEAT位移，把在(式D6)中定义的σ称为L-SEAT抖动。本发明的记录条件的调整方法一边改变记录脉冲的条件一边进行记录再生，关于对应的抖动，选择L-SEAT位移的绝对值以及L-SEAT抖动的值成为最小的记录脉冲条件。

以下说明本发明的记录条件的调整方法满足上述(课题1)至(课题3)。如在专利文献1至5中那样，在PRML方式中错误容限通过欧几里德距离差来表示。以下为了简化说明，针对通过理想欧几里德距离把与所关注的沿向左右进行位移的错误有关的欧几里德距离差进行标准化后的值，分别如下那样定义了dEDL、dEDR。

【数学式9】式3

dEDL = \frac{ED (L, W) - ED (T, W)}{ED (T, L)}

(式3)

【数学式10】式4

dEDR = \frac{ED (R, W) - ED (T, W)}{ED (T, R)}

(式4)

(课题1)关于根据调整结果记录的数据的再生互换性

如上所述，在记录调整用评价指标中，需要不取决于SNR的变化地，沿位移的评价指标为恒定。各个欧几里德距离差的分布的平均值对应SNR进行变化。W、T、L、R是与多个时刻t(t＝t₀+1，t＝t₀+2，t＝t₀+3，t＝t₀+4，t＝t₀+5)相对的信号电平，作为多维空间的坐标来考虑它们。为了简单，当考虑海明距离1的右位移错误时，在PR(1，2，2，2，1)方式中，可以设为T(T₁，T₂，T₃，T₄，T₅)、W(T₁+δ₁，T₂+δ₂，T₃+δ₃，T₄+δ₄，T₅+δ₅)、R(T₁+1，T₂+2，T₃+2，T₄+2，T₅+1)。并且，当考虑将该5维空间的原点设为T的坐标系时，当重新将W、R的位置矢量(＝坐标)设为W、R时，成为W(δ₁，δ₂，δ₃，δ₄，δ₅)、R(1，2，2，2，1)。图9示意地表示了它们在包含T、L、R的平面中的关系。在图中以在线段TR的方向上取得x轴，按点R成为1的方式进行了标准化。此外，请注意因为y轴是与x轴垂直的方向，所以根据W的值y轴进行变化，并非表示恒定的方向。在与W、T、R有关的欧几里德距离中存在以下的关系。

【数学式11】式5

ED(T，W)+ED(R，W)≥ED(T，R) (式5)

即，从T向W的欧几里德距离和从R向W的欧几里德距离的总和未必与从T向R的欧几里德距离一致。

在图9中示意性地表示了物理记录的标记的沿位移的测定。此时在把从目标值T(原点)开始到测定到的记录标记的沿的距离设为x时，从向右位移了1T的目标值R开始到记录标记的沿的距离成为(1-x)，两者的总和必定成为1(＝1T，T为检测窗口宽度)。基于记录脉冲的沿控制一般是向顺时针方向的位移控制，且遵循于与这样物理记录的标记的沿位移有关的线性测定的概念。

因此，即使在PRML中的欧几里德距离(线段长度的平方值)的定义中，如果把矢量TW的向x轴上的映射成分设为xR，则矢量RW向x轴上的映射成分成为(1-xR)，可以使两者之和为1。作为矢量TR和矢量TW的内积值，可以使用T、R、W之间的欧几里德距离，如下地计算xR。

【数学式12】式6

xR = δ_{1} + {2 δ}_{2} + {2 δ}_{3} + {2 δ}_{4} + δ_{5}

= \frac{1}{2} (1 - \frac{{{(1 - δ_{1})}^{2} + {(2 - δ_{2})}^{2} + {(2 - δ_{3})}^{2} + {(2 - δ_{4})}^{2} + {(1 - δ_{5})}^{2}} - ({δ_{1}}^{2} + {δ_{2}}^{2} + {δ_{3}}^{2} + {δ_{4}}^{2} + {δ_{5}}^{2})}{14})

= \frac{1}{2} (1 - \frac{ED (R, W) - ED (T, W)}{ED (T, R)})

= \frac{1}{2} (1 - dEDR)

(式6)

这是在(式D2)中定义的等价沿位移xR的含义。可以与海明距离为2或3时相同地计算等价沿位移。(式6)的第二项是通过理想欧几里德距离对图5所示的欧几里德距离差进行了标准化。在xR为W向TR方向的成分值时的同时，包含与PRML的错误概率有关的项。通过自然的扩展，使用向左侧进行位移后的目标L，根据(式D1)计算等价沿位移xL。

另一方面，因为W的坐标对应于SNR的值进行变化，所以等价沿位移的值对于测定的每个沿进行变化。但是，如上所述，因为等价沿位移的线性加法运算在TR线段上成立，所以通过求出其平均值，可以不依存于SNR地评价记录标记的沿位移。

然后，表示欧几里德距离差的平均值对应于SNR进行变化的课题的应对方法。如上所述，认为该现象是由于采样定理限制了通过自动均衡器等得到的滤波器的频率特性而产生的。因此，对于所关注的沿，在其向左右进行了位移时呈现的平均值的变化相等。如图5所示，因为可以对连续的2T的数量，即可以对每个海明距离进行分类，所以可以推测分布的平均值的变化。如果将标准化的欧几里德距离差dEDL、dEDR的平均值分别设为M_L、M_R，把它们与理想欧几里德距离的偏移设为dM，把应该测定的沿位移量设为Δ₂，则以下的关系成立。

【数学式13】式7

M_L＝1-Δ+dM (式7)

【数学式14】式8

M_R＝1+Δ+dM (式8)

另一方面，在专利文献2公开的V-SEAT中，公开了只关注沿位移(海明距离1)来计算标准化误差，附加与左右位移相对应的符号来进行加法平均的技术。例如，一般将右方向的等价沿位移设为正，将左方向的等价沿位移设为负。如果应用该设定，对于所关注的沿，计算左右的等价沿位移，把考虑与位移方向对应的符号进行加法平均后的值设为评价值，则可以使依存于SNR的欧几里德距离的分布的平均值的变化dM相互抵消。

【数学式15】式9

\frac{M_{R} - M L}{2} = Δ_{2}

(式9)

同样地，作为与所关注的一个沿有关的测定值，还对于在(式D3)中定义的扩展沿位移D，可知它是去除了依存于SNR的影响后的沿位移的评价值。在(式D5)中定义的L-SEAT沿位移Δ在统计学上与在(式9)中定义的各个分布的平均值的差Δ₂等价。

图10是将L、R作为目标信号，来表示等价沿位移xL、xR的示意图。在图中考虑L和R的1时刻的偏移，以T为原点表示了与t(t＝t₀，t₀+1，t₀+2，t₀+3，t₀+4，t₀+5)的六维相对的L、R、W的坐标。使用与1T右侧的点R的距离(＝1-x)以及与1T左侧的点L的距离(＝1+x)，通过x＝{(1-x)+(1+x)}/2求出物理记录的标记的边缘位移x。(式9)意味着该边缘位移x和计量。另一方面，关于W、T、L、R之间的欧几里德距离，因为在L、R具有时刻偏移，所以线段TR和线段TL不在几何学的直线上。使用两个矢量的内积来求出两者所形成的角度θ，如图所示，在两者为沿位移(海明距离1)的错误时，cosθ成为以下。

【数学式16】式10

\cos θ = \frac{vector (T, L) \cdot vector (T, R)}{| vector (T, L) | | vector (T, L) |}

= \frac{0 - 2 - 4 - 4 - 2 - 0}{\sqrt{14} \times \sqrt{14}}

= - \frac{12}{14}

(式10)

在此，vector(T，L)、vector(T，R)分别表示L、R的位置矢量，运算符“·”表示内积。如果T是最似然的目标信号，如果L和R分别是第二似然的(错误概率最高的)目标信号，则从PRML方式中的错误率的观点出发，为了使扩展沿位移D成为零而调整记录条件是合理的。两个目标信号不在几何学的直线上，是PRML方式中的沿位移测定的特征。关于2T的重复数为2(海明距离1、2、3)，在图1中综合了L、R和cosθ的关系。在图中，在L的海明距离为1，R的海明距离为3时，成为cosθ＞0，在几何学上L和R形成的角不足90度，如果作为L和R选择错误概率最高的目标信号，则可以根据扩展沿位移D的平均值Δ或L、R分布的平均值的差分Δ₂来推定所关注的沿的位移。

图12是表示dEDL和EDR的关系的仿真结果。仿真条件与上述相同，是通过相当于33GB/面的记录密度理想地记录了规定长度的记录标记时的结果。在此，将SNR设为20dB。在图中，关于记录标记的前沿，关于(a)Tsfp(2s，2m)、(b)Tsfp(2s，3m)、Tsfp(3s，2m)以及Tsfp(3s，3m)四个情况，分别表示了1000个沿的结果。在此，作为L和R的目标值，使用海明距离分别成为(a)(2、2)、(b)(2、1)和(3、1)、(c)(1、2)和(1、3)以及(d)(1、1)的值。图中的虚线表示dEDL+dEDR＝2，即与图10所示的物理的记录标记有关的测量值的保存关系和等价的关系。如在图中看到的那样，可以得知：各图点表示了大体沿着虚线的相关关系，噪声的影响导致的再生信号的变动关于左位移和右位移大体对称。当仔细观察时，如在图10(b)、(c)中看到的那样，可知：在左右的目标信号的海明距离不相等时，是具有与虚线稍微不同的斜率的分布。这与基于PRML方式的错误发生概率在左右位移中不同的状况相对应，是与物理的记录标记有关的测量和遵循PRML方式的错误容限的测量的差异。专利文献2中公开的基于V-SEAT方式的沿位移评价，作为目标信号只使用海明距离1的目标信号，所以在图10(b)、(c)时只能够执行与左右的沿位移对应的错误率。因此，本发明与现有技术相比，能够以较佳的精度检测与左右的沿位移对应的错误率的不同。这是本发明的第一个效果。

图13是表示dEDL与dEDR的平均值和扩展沿位移D的关系的仿真结果。仿真条件与图12相同。在此，关于(a)Tsfp(2s、2m)，(b)Tsfp(2s、3m)、(c)Tsfp(3S、2m)以及(d)Tsfp(3s、3m)这四个情况，表示了1000个沿的结果。在图中，dEDL和dEDR的平均值的分布(1)对于每个沿图形分布范围有很大不同，以及(2)向小于欧几里德距离差＝1的一侧进行位移这两点反映了图5的结果。与此相对照，扩展沿位移D的分布与沿图形无关，(1)分布的范围大体均一，并且(2)分布的中心大体处于零处。在图中，通过示意性的分布形状表示了这些不同。通过导入扩展沿位移D得到的该两个效果分别是基于以下两点得到的效果，(1)通过等价沿位移，作为与矢量TR或矢量TL的内积计算再生信号的位移然后使其线性化，以及(2)附加符号来使左右的等价沿位移均衡化。

图14表示综合了以上本发明的效果的图表。该图在图7所示的Ec’(专利文献5的方法)与SNR的关系中加入了在(式5)中定义的扩展沿位移的平均值Δ。因为光盘装置是担当可以移动介质的装置，所以需要能够对不确定的多个介质在相同的记录条件下进行记录。但是，实际记录的信息的SNR由于光盘装置的工作环境或机械的条件而产生变动。在为现有的方法时，如在图14中看到的那样，Ec’的值与SNR的变化相对应地较大地变化，这意味着理想的记录信号与实际在记录介质上记录的记录信号的差(在图14中，作为指标评价沿位移量)与光盘装置的工作条件(SNR)相对应地进行变动。另一方面，本发明的Δ与SNR的变化无关地大体为零并且恒定，这意味着即使光盘的工作条件变动，也能够以相同的条件进行记录。如上所述，在该仿真中，是对理想地记录规定长度的记录标记时的信号施加随机噪声的仿真，针对该条件沿位移的评价值Δ大体为零的测量结果，从记录的数据的再生互换性的观点来看，也是非常优秀的。这是本发明的第二个效果。

(课题2)关于根据调整结果记录的数据的品质

本发明的记录条件的调整结果为需要SbER足够小。为了实现该要求，需要通过记录脉冲的调整使dEDL和dEDR为最小，且T、L、R的评价比特列和SbER评价比特列实质上是等价的。

首先对前者进行说明。如前所述，目标信号T、L、R，由于海明距离的差异和时刻偏移，不在几何学的直线上。由此，等价沿位移的绝对值对于左右的位移不同。这点是本发明的沿位移测量的特征。在评价N个沿时，将第n沿的dEDL和dEDR的值设为dEDL_n和dEDR_n，在使它们的平均值接近1时，标准偏差σL，σR通过下式11、12来表示。

【数学式17】式11

σ_{L} = \sqrt{\frac{1}{N} Σ_{n = 1}^{N} {({dEDL}_{n} - 1)}^{2}}

(式11)

【数学式18】式12

σ_{R} = \sqrt{\frac{1}{N} Σ_{n = 1}^{N} {({dEDR}_{n} - 1)}^{2}}

(式12)

根据这些合成标准偏差σ_LR来评价比特错误率。因此，成为

【数学式19】式13

σ_{LR} = \sqrt{\frac{1}{2 N} Σ_{n = 1}^{N} {({dEDL}_{n} - 1)}^{2} + {({dEDR}_{n} - 1)}^{2}}

= \sqrt{\frac{1}{4 N} Σ_{n = 1}^{N} {({dEDR}_{n} - 1) - ({dEDL}_{n} - 1)}^{2} + \frac{1}{4 N} Σ_{n = 1}^{N} {({dEDR}_{n} - 1) + ({dEDL}_{n} - 1)}^{2}}

= \sqrt{\frac{4}{N} Σ_{n = 1}^{N} {(\frac{\frac{1 - {dEDR}_{n}}{2} - \frac{1 - {dEDL}_{n}}{2}}{2})}^{2} + \frac{4}{N} Σ_{n = 1}^{N} {(\frac{\frac{1 - {dEDR}_{n}}{2} + \frac{{1 - dEDL}_{n}}{2}}{2})}^{2}}

= 2 \sqrt{\frac{1}{N} Σ_{n = 1}^{N} {(\frac{xR - xL}{2})}^{2} + \frac{1}{N} Σ_{n = 1}^{N} {(\frac{xR + xL}{2})}^{2}}

= 2 \sqrt{\frac{1}{N} (Σ_{n = 1}^{N} {D_{n}}^{2} + Σ_{n = 1}^{N} {S_{n}}^{2})}

(式13)

右边成为(式D6)表示的L-SEAT抖动的2倍的值。在此表示的系数2不是本质性的系数，相对于在dEDL以及dEDR的分布中错误容限为1(理想欧几里德距离＝1)，在L-SEAT中与现有的基于时间脉冲分析仪的抖动测定相同，是由于错误容限为1/2而产生的系数。使两者为高斯分布时的基于误差函数的错误率的值变为相等。可知L-SEAT抖动表示了使平均值成为1地分别重合图5所示的欧几里德距离差的分布时的合成标准偏差。因此，L-SEAT抖动可以说是对于SbER或比特错误率具有良好的相关性的评价指标。更详细地说，如在(式D4)中看到的那样，SNR因数根据定义，作为平均值具有与由于SNR或记录密度欧几里德距离差的分布而从理想值1偏移的量相等的值。因此，(式D6)中定义的L-SEAT抖动的SNR因数的贡献，是考虑了欧几里德距离差的分布的平均值的偏移。如上所述，在本发明的L-SEAT中，可以把与关注的沿的位移相对应的成分(扩展沿位移)和依存于SNR的成分(SNR因数)进行分离，来进行评价。由此，可以同时提供以下的两个功能：不依存于单个驱动装置的SNR的在再生互换性方面优秀的位移调整、以及SbER或比特错误率的最小条件的确保。即，本发明的L-SEAT与专利文献2公开的包含V-SEAT的现有的记录调整用信号评价指标相比，具有与抖动或SbER等现有的再生信号品质的评价指标的相关性，作为信号评价指标比较优秀。由此，根据本发明，提供了目前没有的优秀的信号评价指标，这是根据本发明得到的第三个效果。关于有关该点的实验的验证，将结合实验结果在后面进行叙述。

然后，说明与为了进行SbER等再生信号品质的评价而使用的评价比特列的亲和性。专利文献1、3、4等中记载的再生信号的评价技术各自的构成不同，作为共通的技术，包含在从PRML解码器输出的二值化比特列中，检索并提取出最似然的第一评价比特列的步骤。使用PRML方式的约束长度N以及评价比特列中包含的2T图形的连续数N_2T，可以将评价比特列的长度M广义化为M＝2N-1+2N_2T。在此，N_2T是成为0、1、2、......的整数。按照以上的表述，N_2T＝0、1、2分别对应于沿位移、2T位移、2T连锁位移。此外，在N_2T为0、1、2、3、4、5以及6时，海明距离分别为1、2、3、4、5、6以及7，图形A和图形B的评价比特列之间的海明距离成为(N_2T+1)。通过从2^M种的比特列中提取最似然的第一评价比特列和第二评价比特列的关系的机械操作，可以容易地列举出评价比特列，第二评价比特列对应于与第一评价比特列的目标信号的欧几里德距离为最小的目标信号。图15是与约束长度为5的PR(1、2、2、2、1)方式对应的评价比特列的例子，在专利文献4中记载了相同的例子。如在图中看到的那样，使用约束长度为5的PRML方式，在从PRML解码器二值化比特列中检索并提取评价比特列，来执行再生信号的品质评价时，对于每个海明距离列举18组，总共列举54组，即108个评价比特列。在评价再生信号时，需要并行地执行这些评价比特列的检索提取处理。

图16表示从图15所示的与约束长度5的PR(1、2、2、2、1)对应的评价比特列中，提取并整理共通项。如在图中看到的那样，与海明距离1、2、3对应的108个评价比特列分别可以由位长为5、7、9的主比特列、以及在其两端附加的2位的副比特列XX、YY来表现。在此，在海明距离为1时，主比特列为[00011]、[00111]、[11100]、以及[11000]这四个；在海明距离为2时，主比特列为[0001100]、[0011000]、[1110011]、以及[1100111]这四个；在海明距离为3时，主比特列为[000110011]、[001100111]、[11100110]、以及[110011000]这四个，副比特列AA为[00]、[10]或者[11]，副比特列BB为[00]、[01]或者[11]。在此定义的主比特列的区间成为目标信号和再生信号的欧几里德距离的计算区间。副比特列仅仅是为了计算主比特列端部的目标信号电平而需要的比特列，与多个目标信号之间的欧几里德距离无关。在该含义下，可以认为副比特列规定边界条件，该边界条件用于规定目标信号端部的电平。

不依存于PRML方式的约束长度地规定主比特列。说明该理由。在最短游程m为2时，为了表现由于沿位移1比特进行变化，比特列的最小长度成为最短游程乘以2后加1得到的值，即为2m+1＝5比特。相同地，当使用评价比特列中包含的连续的2T的数量N_2T进行广义化时，主比特列的长度成为(2m+1+2N_2T)。如此，所谓的主比特列具有对应于评价比特列中包含的连续的2T的数量所决定的、最短的比特列的含义。另一方面，如上所述，为了计算与再生信号的欧几里德距离所需要的比特列的长度，使用PRML方式的约束长度N，为(2N-1+2N_2T)。两者的比特列的长度之差成为(2N-1+N_2T)-(2m+1+2N_2T)＝2(Nm-1)，可知其必然为偶数。在最短游程m＝2时，该值为2(N-3)。

如上所述，如果使用不依存于PRML方式的约束长度N的主比特列以及在主比特列两端附加的长度为(N-3)的副比特列，可以在进行整理后表现评价比特列。

如上所述，通过在整理后记述评价比特列，可以简化再生信号品质的评价指标与本发明的关系，并且在本发明中可以削减电路的规模。

在图16中按照专利文献4的记载内容，将评价比特列记载为A、B组。从对再生信号进行二值化得到的比特列中检索第一评价比特列(与目标信号T相当的评价比特列)，从第一评价比特列开始生成并使用第二似然的第二评价比特列(与目标信号L或R相当的评价比特列)，利于削减电路规模。因为预先规定第一和第二评价比特列的海明距离，所以把具有和海明距离相同的数字“1”的比特列作为生成比特列，通过从第一评价比特列(T)开始执行异或(XOR)运算，可以生成第二评价比特列。在图中，在主比特列(Main bit array)栏中列举了上面表示的主比特列。在此，在主比特列中规定并整理了海明距离和1至4的数字的组合的主比特列号码。如图所示，关于用于生成第二主比特列的操作，可以对为每个海明距离规定的生成比特列进行XOR运算来求出。还记述了第二主比特列的主比特列编号。

如上所述，如果考察主比特列，SbER可以说明评价比特列和基于本发明方法的评价比特列的亲和性。

首先，关于连续的2T的数量为2以下的情况，在图18中表示了一个表，在该表中列举出本发明的沿评价的主比特列。当在L-SEAT中同时生成L、R目标时，主比特列的长度分别比上述的主比特列长1T，相对于海明距离1、2、3分别为6、7、8。在此，与图17相同地，列举了对再生信号进行二值化得到的比特列中包含的主比特列、以及用于对其进行XOR运算分别生成L、R用主比特列的生成比特列。主比特列的总数为12，在各个主比特列中用下划线表示的比特表示所关注的沿。关于在此采用的与主比特列和L、R有关的选择规则，使关注的沿向左右位移1比特，同时满足游程限制，并且作为L、R选择海明距离为最小(比特反转数为最小)的目标。此外，将记录标记记述为“1”，将间隔记述为“0”。在是来自记录标记的反射光量小于间隔的所谓High To Low型介质时，如果使PR等级成为(1、2、2、2、1)，则为了使记录标记为“0”，使间隔为“1”，反转主比特列的“1”和“0”即可。或者，如果使PR等级成为(-1、-2、-2、-2、-1)，反转脉冲响应的朝向，则可以原样不变地使用图18。以下，在本发明中只要不特别的指定，使记录标记为“1”，使间隔为“0”来进行操作。

以下，对于N_2T的最大值为2的情况，说明图17所示的SbER计算的主比特列和图18所示的K-SEAT的评价主比特列的关系。图19为N_2T＝0，即海明距离为1时的两者的比较。这是与3T以上的标记的前沿有关的评价。关于SbER附加进行评价的时刻t，关于L-SEAT附加沿的类别。如在图中看到的那样，主比特列中包含的沿是一个。SbER和L-SEAT一同进行与每个沿的两个海明距离有关的评价，主比特列相同。即，两者的包含副比特列的评价比特列一致。在图中仅对前沿进行了表示，如果将“1”和“0”反转，可以作为后沿来处理，此时，评价比特列的一致也是不言而喻的。

图20是N_2T＝1，即海明距离为2时的两者的比较。主比特列中包含的沿是两个。SbER和L-SEAT一同进行与每个沿的两个海明距离有关的评价，主比特列相同。当查看与时刻相对的评价的迁移时，在图中如虚线箭头所示，可知在SbER时按照L、L、R、R的顺序进行评价，在L-SEAT时按照L、R、L、R的顺序进行评价。对于将主比特列中包含的“1”和“0”进行反转后的图形，评价比特列同样一致。

图21是N_2T＝2，即海明距离为3时的两者的比较。主比特列中包含的沿是三个。与上述的例子相同，SbER和L-SEAT一同进行与每个沿的两个海明距离有关的评价，主比特列相同。当查看与时刻相对的评价的迁移时，在图中如虚线箭头所示，在SbER时按照L、L、L、R、R、R的顺序进行评价，在L-SEAT时按照L、R、L、R、L、R的顺序进行评价。对于将主比特列中包含的“1”和“0”进行反转后的图形，评价比特列同样一致。

根据以上的研究，在N_2T为2以下时，可知用于计算SbER的评价比特列和图18所示的评价主比特列一致。相同地，关于N_2T为3以上的情况，作为L-SEAT计算用主比特列，对于直到SbER和最大值变为相同的海明距离为止的主比特列，选择满足游程限制并且使海明距离最小的主比特列来作为L、R的主比特列，由此可以同样地使评价主比特列一致。关于N_2T为3时的具体例子将在后面进行叙述。L-SEAT的基本概念为，如图5所示，在欧几里德距离差的分布的平均值不同于理想海明距离的差时，使用关注于对称性使进行评价的沿向左右位移后的目标信号，根据它们的分布的平均值的差分评价沿位移。按照该概念，通过在各个时刻评价扩展沿位移的方法((式D1)至(式D6))，或者对独立计算出的欧几里德距离差的分布的平均值进行评价的方法((式7)至(式13))，评价沿位移。此外，评价主比特列不限于图18所示的评价主比特列，可以使用包含N_2T为3的情况在内的各种变化。

如上所述，对于图18所示的评价主比特列，通过执行基于等价沿位移的评价，从评价主比特列的亲和性的观点出发，作为与SbER或在概念上与该SbER共通的指标的相关性得到了提高的评价指标，可以提供L-SEAT。这点是本发明的第四改善点。

(课题3)关于在短时间内实现记录调整

需要提供一种与记录脉冲的条件或自适应型记录脉冲的各个参数相对应地，可以分别独立地进行评价的评价指标以及调整方法。作为一般的光盘装置，不仅是应对单一的规格，对于CD、DVD、BD或者以BD为基础的高密度的光盘，需要同样地进行应对。对应于这些规格，自适应型记录脉冲各自不同。此外，作为用于记录调整的评价指标，希望使用分别适用于通过时间脉冲分析仪测定的时间轴方向的沿位移以及抖动、V-SEAT、本发明的L-SEAT等的评价指标。为了实现这个目的，首先可以作为记录调整用参数表来进行选择。然后，在前级配置对再生信号的每个沿计算其沿位移或SNR因数这样的评价值的电路，由此可以总括性的应对。在图22中表示了这样的记录条件调整用电路的方框结构的例子。在图中，通过A/D转换器21把从光盘介质再生的、并且执行了未图示的模拟滤波处理的再生信号转换为6至8比特的数字数据，在通过自动均衡器22进行均衡后通过PRML解码器23进行二值化，输出二值化比特列52。用于记录条件调整的信号品质的评价电路30由沿品质评价电路(40、41、42)、选择器60、记录脉冲品质评价表35、以及定时调整器36构成。沿品质评价电路40对每个沿进行CD/DVD用时间轴方向的沿位移评价，沿品质评价电路41进行用于BD的V-SEAT评价，沿品质评价电路42进行用于高密度BD的L-SEAT的评价。在各个沿品质评价电路中，对每个沿进行沿位移量、或扩展沿位移、SNR因数的计算。通过选择器60对应于进行记录再生的光盘的类别，选择沿品质评价电路的输出。在记录脉冲品质评价表35中，使二值化比特列52与从沿品质评价电路输出的沿的评价指标同步，进行与自适应型记录脉冲相对应的图形的分类，分离为4×4表等来对每个表元素进行评价值或标准偏差的计算。CPU140一边参照该结果一边执行自适应型记录脉冲的各参数的调整处理。根据以上的结构，可以进行与多个光盘介质相对应的自适应型记录脉冲的参数调整。根据这样的结构，可以并行地调整多个自适应型记录脉冲的参数，与使用单一的再生信号品质的评价指标的方法相比，可以在短时间内，并且使用有限的试写区域执行记录脉冲的条件调整。

如上所述，根据BD系统关于与容量为30GB/面以上的高密度记录条件相对应的记录条件的调整，可以提供一种解决上述现有的技术问题，用于实现以下效果的评价指标、调整方法以及使用它们的光盘装置，上述效果为：(1)根据调整结果记录的数据的再生互换性优秀；(2)根据调整结果记录的数据的品质通过SbER等再生信号的评价指标进行测定，确保了足够好的结果；(3)可以在短时间内执行自适应型记录脉冲的条件调整。本发明的主旨是在BD那样的使用最短游程长度为2T的符号的光盘中，在使用三种以上的针对海明距离(与N_2T＝0、1、2对应的)的目标信号，来评价再生信号的方法中，通过对扩展沿位移进行评价的方法或者对独立计算出的欧几里德距离差的分布的平均值进行评价的方法，在各个时刻评价关注的沿的品质，根据评价结果调整记录条件的方法以及执行该方法的光盘装置。

如上所述，通过本发明的以L-SEAT为评价指标的记录条件的调整方法，可以提供在BD中实现相当于30GB以上的高密度记录的光盘装置。

附图说明

图1是表示用于实现本发明的光盘装置的再生信号评价电路的结构的方框图。

图2是综合了使用试制的三层结构可写型光盘样品测定到的记录功率与比特错误数量的关系的实验结果。

图3是综合了SNR和SbER的关系的仿真结果。

图4是表示比特错误率和SbER的关系的实验结果。

图5是SAM分布的例子。

图6是用于求出通过仿真求出的Ec’的分布。

图7是SNR和Ec’的关系。

图8是再生功率与分布中心偏移的关系。

图9是表示等价沿位移的示意图。

图10是表示等价沿位移的示意图。

图11是海明距离和cosθ的关系。

图12是dEDL和dEDR的关系。

图13是dEDL和dEDR的平均值与扩展沿位移D的关系。

图14是SNR和Ec’以及扩展沿位移D的平均值的关系。

图15是PR(1、2、2、2、1)对应评价比特列表。

图16是进行了特征提取的PR(1、2、2、2、1)对应评价比特列表。

图17是主比特列表和第二主比特列表生成操作表。

图18是评价主比特列表(N2T_max＝2)。

图19是评价主比特列表的比较。

图20是评价主比特列表的比较。

图21是评价主比特列表的比较。

图22是评价电路的方框图。

图23是评价主比特列表(N2T_max＝3)。

图24是评价主比特列表(N2T_max＝2)的另一实施例。

图25是评价主比特列表(N2T_max＝3)的另一实施例。

图26表示评价主比特列和记录脉冲表的对应。

图27表示评价主比特列与记录脉冲表的对应。

图28是表示基于L-SEAT的沿位移评价的图。

图29是表示基于L-SEAT的沿位移评价的另一图。

图30是L-SEAT分布和SAM分布。

图31是再生功率和L-SEAT评价指标的关系。

图32是表示对称型自动均衡器的结构的方框图。

图33是基于L-SEAT的记录调整的实验结果。

图34是基于L-SEAT的记录调整的实验结果。

图35是基于L-SEAT的记录调整的实验结果。

图36是基于L-SEAT的记录调整的实验结果。

图37表示记录调整后的功率裕度。

图38表示比特错误率和抖动的关系。

图39是表示记录脉冲的调整方法的示意图。

图40是本发明的记录调整方法的流程图。

图41表示使用本发明的评价方法的聚焦调整方法。

图42表示基于扩展型记录脉冲和L-SEAT的调整的效果。

图43是表示光盘装置的结构的示意图。

符号说明

21A/D转换器、22自动均衡器；23PRML解码器；30再生信号的评价电路、31主比特列判断电路、32评价比特列生成电路、33欧几里德距离计算电路、34记录脉冲对应图形分类器、35评价值累计电路、51再生信号、52二值化信号、53均衡再生信号、100光盘、101光点、110光学头、111物镜、112半导体激光器、113光检测器、114激光、115反射光、116激光驱动器、120激光功率/脉冲控制器、130再生信号处理器、140CPU、160主轴电动机

具体实施方式

(实施例1)

以下参照附图就其本发明的记录条件的调整方法以及光盘装置来说明实施方式。

图23是本发明的列举出沿评价主比特列的表的另一实施例。在此，表示了N_2T为3的情况。主比特率的总数为20，在主比特列中用下划线表示的比特表示所关注的沿。主比特列No.1-12与图18所示的主比特列相同，主比特列No.13-20是与2T的连续数为3的情况相对应的主比特列。如上所述，在图15以及图16所示的SbER中，因为第二似然的评价比特列为一个，所以对于像二值化后的比特列“0000011001100”那样连续的2T为三个的情况，将海明距离为3的“0000110011000”作为第二似然评价比特列来评价再生信号的品质。另一方面，在图15所示的评价主比特列中不对其进行评价。根据记录密度和光盘介质的条件，在需要独立地评价这样的比特列时，即在2T的连续数为2的情况和2T的连续数为3的情况相比，无法忽视记录的2T标记的沿位移的差异时，电路规模增大需要使用图23的评价主比特列。此外，通过使用图23的评价主比特列，如在主比特列No.15和17中看到的那样，可以分离地评价Tsfp(2s、2m)之前的标记为3T以上的情况(No.15)和为2T的情况(No.17)。作为记录脉冲，即使在使用不仅与进行记录的标记之前的间隔，而且与更靠前的标记的长度相对应的自适应型记录脉冲的情况下，也能够根据图23的评价主比特列得到在记录脉冲的表中1对1对应的用于记录调整的信息。关于在评价主比特列中包含的2T的连续数(N_2T)，判断这样的状况使用恰当的评价主比特列即可。SbER的计算与评价比特列的关系与所述N_2T＝2的情况相同，处于1对1的关系。关于N_2T为4以上的情况，因为比较繁琐所以没有说明，但根据图18和图23的关系，如果是光盘领域的技术人员可以容易地进行扩展。

图24是本发明的列举出沿评价主比特列的另一实施例。在此关于N_2T为2的情况，表示了使L、R的海明距离相等的情况。主比特列的总数为12个，在各个主比特列中用下划线表示的比特表示所关注的沿。与图18的差异在于用于生成L、R用主比特列的生成比特列和海明距离。当使用图18的评价主比特列时，无法得到SbER与评价比特列的一对一的对应关系，但在原理上可以使针对SNR的分布偏差相互抵消，所以与图14所示的SNR依存性相比，可以得到良好的SNR的依存性(在原理上为恒定)。在使与驱动装置或介质的环境变化引起的SNR变化有关的考虑为第一优先时，使用这样的评价主比特列即可。

图25是本发明的列举出沿评价主比特列的另一实施例。在此，关于N_2T为3的情况，表示了使L、R的海明距离相等的情况。与图23相对的表特征和评价性能与图24中的说明相同，可以得到良好的SNR的依存性(在原理上为恒定)。

图26和图27是表示评价主比特列和记录脉冲表的对应关系的实施例。是列举出主比特列编号的表的另一实施例。图26是图18所示的评价主比特列与前后沿4×4型表的记录脉冲一对一对应的评价表。如在图中看到的那样，例如对于Tsfp(2s、2m)的评价结果使用主比特列No.9的结果即可。如果参照该表，构成驱动装置的记录调整用电路，则可以在4×4型表的记录脉冲的各个参数的调整中使用L-SEAT。图27综合了此时的L、R的海明距离。如此，基于L-SEAT的沿的评价结果可以像记录脉冲的参数表那样容易地展开。这对于图23至图25所示的评价主比特列也是相同的，可以进行与记录脉冲的参数表对应的评价。

图28和图29是根据与记录脉冲的参数表相对应的L-SEAT所进行的沿评价的一例的仿真结果。仿真条件与上述相同，记录密度相当于BD中的33GB/面，PR等级为(1、2、2、2、1)。在此，表示了使Tsfp(2s、2m)进行了+0.2T位移(向右移动0.2T)时的仿真结果。图28是使用在各个时刻评价扩展沿位移的方法((式D1)至(式D6))的情况。如在图28(a)中看到的那样，检测Tsfp(2s、2m)的沿位移，可知对应的分布向右侧进行了位移。对于记录脉冲的各个参数，通过使各个沿位移接近于零地进行调整，可以得到良好的记录条件。图29是使用对独立计算出的欧几里德距离差的分布的平均值进行评价的方法((式7)至(式13))。在此，作为L、R位移，表示了关于海明距离都为2的L、R位移的仿真结果。如在图29(a)看到的那样，在沿位移为零时，L、R的分布的平均值与理想欧几里德距离差(＝1)不同，但是两者当在误差范围内具有相同的平均值。另一方面，如在图29(b)中看到的那样，在沿位移不是零时，L、R的分布的平均值逆方向分离。因此，为了使L、R位移的分布的平均值一致调整记录脉冲的参数，由此可以得到良好的记录条件。如此，如果使L、R的评价主比特列的海明距离相等，则可以利用对称型不依存于SNR地执行记录条件的调整。如上所述，作为L、R的评价主比特列，使用海明距离不同的L、R的评价主比特列。

在图30中比较了通过仿真求出的L-SEAT分布和SAM分布。仿真条件与上述相同，记录密度相当于BD的33GB/面，PR等级为(1、2、2、2、1)。各个SAM分布的平均值依存于SNR的降低向接近零的方向偏移，与此相对，可以确认L-SEAT的分布的平均值为零，不依存于SNR地保持恒定。作为评价主比特列，N_2T为3以上的情况是其扩展形态，可以得到相同的结果。

图31是通过实验确认了L-SEAT的SNR依存性的结果。这是在所述试制的三层光盘的L0中，一边使再生功率变化一边执行再生实验得到的结果，是与基于现有技术的图8的结果相对应的结果。图的横轴将再生功率1.2mW表示为100％。再生信号振幅与再生功率成比例，但是光检测器的噪声(放大器噪声)为恒定，所以本实验是通过改变再生功率来改变再生信号的SNR的结果。L-SEAT指标很据图22所示的结构，对于记录标记的前后沿分别分类为4×4的表，来评价位移和抖动。图31(a)是L-SEAT抖动的测定值，依存于再生功率的降低抖动增大反映了SNR的变化。可以判断出沿位移的值不依存于再生功率(SNR)保持恒定。通过L-SEAT，可以把基于欧几里德距离差的容差评价指标分为沿位移的成分和依存于SNR的成分来进行评价，这是本发明的特征所在。由此，就可以确认：若使用本方法，就能不依赖于基于驱动器装置的个体差和环境条件的差异的SNR变化、而可实施再生互换性高的记录条件的调整。

在此，说明适用于记录调整的自动均衡器。

图32是表示本发明的对称型自动均衡器的结构的方框图。如上所述，如果使用L-SEAT，则对于SNR的变化可以执行稳定的记录脉冲的调整。另一方面，在实际的驱动装置中，存在(1)以光盘介质和光学头的相对倾斜角(切向倾斜角)为主要原因的光点的扫描方向的非对称性、以及(2)基于自动均衡器的抽头系数的非对称性的再生信号的时间轴方向的非对称。这些时间轴方向的再生信号的失真作为沿位移被检测，所以可能会妨碍执行再生互换性良好的记录条件的调整。例如，即使在记录标记中残留有沿位移时，如果自动均衡器为了对其进行补偿而非对称性地学习了内部的抽头系数，则测定的沿位移减小可以判断为良好的记录。一般地对于每个驱动器制造商，或者对于每个机型来说，再生系统的结构不同，所以记录只有该驱动器容易再生的数据，这是在作为可更换介质的存储系统的光盘中必须要解决的课题。在图中，从未图示的光盘介质再生的再生信号51通过未图示的A/D转换器被转换为数字数据，在由自动均衡器22进行均衡后通过PRML解码器23进行二值化，输出二值化比特列52。关于自动均衡器的各个抽头系数C₀、C₁、C₂、......，为了使基于二值化比特列52的目标信号与自动均衡器22的输出信号的RMS误差成为最小，实施自动的学习处理。该算法一般被称为LMS(Least Mean Square)法，由LMS电路62来执行。在本结构中，把通过LMS电路更新后的抽头系数a₀、a₁、a₂、......临时存储在缓冲存储器64中，在FIR滤波器的实际工作中所使用的工作寄存器65中，如图所示，按照在时间轴方向上对称的位置的抽头系数(a₀和a_N-1的组合等)的之间设定平均化的值。通过这样的结构，使自动均衡器的抽头系数对称，可以防止扭曲记录标记的沿位移进行再生的状况。此外，具有在光检测器中包含的I-V转换放大器或其他的滤波器中还残留有电路的分组延迟的情况。根据需要，可以通过安装分组延迟补偿器61来减低该分组延迟。并且，使用本结构的电路对良好记录的参考光盘进行再生，为了使SbER或L-SEAT抖动等成为最小而调整切向倾斜量，由此可以降低光点的时间轴方向的非对称性。通过这样的结构，可以使自动均衡器仅对再生信号的频率特性的调整起作用。并不限于L-SEAT，本发明的对称型自动均衡器即使与现有的记录调整方法相组合，也可以得到再生互换性高的记录条件。通过追加选择器等电路，可以实现把LMS电路62的结果直接传送给缓冲存储器64，所以也可以容易地使本结构的对称型自动均衡器作为普通(没有对称型的限制)的自动均衡器进行工作。

以下的结果是使用抽头数21的对称型自动均衡器的结果。

图33至图36是表示使用了L-SEAT的记录脉冲的条件调整结果的实验数据。在此，是在上述的试制的三层光盘的L0中，一边使Tsfp(2s、2m)、Tsfp(3s、2m)、Tsfp(2s、3m)、Tsfp(3s、3m)这四个记录脉冲参数变化，一边测定L-SEAT抖动、L-SEAT位移、SbER的结果。关于SbER，与通常的再生相同，在没有进行自动均衡器的抽头系数的对称型限制的状态下进行了测定。假设以下的条件：记录脉冲的沿的调整单位为T/64，关于记录再生的线速度使数据传输速率相当于BD的2倍速。如在这些图中看到的那样，可知：L-SEAT位移的零点、L-SEAT抖动以及SbER的底部条件按照T/64的脉冲宽度以下的精度相一致。记录脉冲宽度的调整单位一般为T/16左右，所以根据这些结果可以确认使用L-SEAT位移以及L-SEAT抖动，可以执行非常良好的记录条件调整。作为对全部的记录脉冲参数执行这样的调整的结果，SbER值改善到3×10^-3至1×10^-7。图37是记录调整后的记录功率和比特错误率的测定结果。可以得到大约±10％良好的功率裕度。

图38表示比特错误率和L-SEAT抖动的关系的实验结果。在此，一边改变记录功率、散焦、球面像差、光盘介质的切向倾斜以及径向倾斜，一边测定L-SEAT抖动以及V-SEAT抖动和比特错误率的关系。如在图中看到的那样，确认了：与V-SEAT相比，L-SEAT改善了比特错误率和抖动的相关性。理由与上述一样。

根据以上实验和仿真的结果，使用附图说明本发明的记录条件的调整方法。

图39是表示记录脉冲的自适应参数的调整方法的实施例。在此，表示记录脉冲的自适应参数为4×4型表。如上所述，基于L-SEAT的沿位移和抖动的测定结果分类为4×4表。此时，变更记录脉冲的条件在光盘介质中进行记录，再生该部位评价对应的L-SEAT的位移值，为了使其最小，决定记录脉冲的参数，由此可以得到良好的记录脉冲的条件。如在图33至图36的结果中所见到的那样，不仅是L-SEAT的位移还包含抖动的最小条件来进行调整，由此对于各种变动可以得到更加稳定的调整结果。根据该例子还可以得知，因为记录脉冲参数和其评价值一对一地对应，所以一次变更多个记录脉冲参数来进行记录/再生，由此可以同时并行地使多个记录脉冲参数最佳化。由此，可以大幅度地缩短驱动装置的试写时间。具体地说，在按顺序每次决定一个记录脉冲参数的方法中，在2倍速的驱动装置中处理时间为30秒至1分钟左右，与此相对，当使用本方法执行并行处理时，应该可以通过大约1秒结束试写。在采用该调整方法时，当在记录脉冲的条件中具有固定的条件的部位时，可以执行稳定的调整。一般希望使Tsfp(5s、5m)和Telp(5s、5m)等长标记的形成条件与此相当。

图40是表示记录脉冲调整的整个流程的流程图。首先，在步骤S101中，根据需要检查再生电路的分组延迟，决定图33所示的再生电路的分组延迟补偿条件。然后，在步骤S102中把自动均衡器的动作模式设定为对称型模式。在步骤S103中，一边再生参照数据，一边调整离焦量ER、球面像差修正量、光盘介质的倾斜量，以使SbER或L-SEAT抖动等再生评价指标成为最佳的状态。如上所述，关于切向倾斜，需要再生多个参考数据，或添加记录灵敏度成为最佳的条件，进行特别考虑后的调整。在步骤S104中，使用5T以上的标记·间隔构成的记录数据，在考虑再生信号的对称性、S/N比、串扰量等的同时，决定恰当的基本脉冲和功率条件。由此，固定4×4表中的长标记的记录条件Tsfp(5s、5m)和Telp(5s、5m)。Tsfp(5s、5m)是前沿的脉冲条件，Telp(5s、5m)是后沿的脉冲条件。在步骤S105和S106中，一边调整记录脉冲的自适应参数，一边在残留的沿位移成为规定值(例如±0.1％T)以下之前进行调整。在步骤S107中，对于得到的记录脉冲评价SbER或比特错误率的底部值或功率裕度，执行记录脉冲的性能评价来判断是否得到规定的性能，在不足够时，返回步骤S104改变基本脉冲和功率进行相同的调整。通过这样一连串的流程，如果得到规定的性能，则结束调整。

图41是表示聚焦偏移量和SbER的关系的实验结果。自动均衡器使用本发明的对称型自动均衡器。利用这样的关系，如果使SbER成为最小，则可以实现恰当的聚焦偏移值的调整。可以将相同的方法用于径向倾斜或切向倾斜、球面像差、各种调整。通过这样的方法，可以实现图40的步骤S103。

然后，说明适合于高密度记录的记录脉冲，在基于BD规格实现了记录容量超过30GB的高密度记录时，与光点的尺寸(大约500nm、波长405nm、NA0.85)相比，2T标记或间隔的长度减小到100nm左右，因此相邻标记之间的热干扰的影响变大。特别是在多层光盘中，从得到良好的透过率的观点出发无法充分地确保作为热缓冲器的金属反射膜的厚度，所以影响变得显著。此时，认为即便使用仅根据记录的标记长度和前后的间隔长度决定的自适应记录脉冲，也难以形成良好的记录标记。此时，热干扰最大的图形是2T标记和2T间隔连续的图形。如上所述，这也是在高密度记录条件下，错误频度最高的图形。因此，在2T标记和2T间隔连续时，将其作为一个先前图形进行捕捉，来扩展自适应型记录脉冲表，这是有效的。

图42表示使用扩展后的自适应型记录脉冲表和L-SEAT的调整的效果。在此，以BD的标准记录脉冲为前提，在为先前的2T标记-2T间隔时，与先前间隔同样地对其进行考虑，追加自适应表。如上所述，作为评价主比特列如果使用图23所示的评价主比特列，则可以使用L-SEAT评价与记录脉冲对应的沿位移。如在图中看到的那样，与使用BD的标准脉冲的情况相比，可以大幅改善Telp(2s、2m)中的残留位移量。此时，使记录脉冲宽度的调整单位为T/32。

以下说明与本发明的光盘装置有关的实施例。

图1是表示用于实现本发明的光盘装置的再生信号评价电路的结构的实施例。在图中，从光盘介质再生，并且执行了未图示的模拟滤波处理的再生信号51通过A/D转换器21被转换为6～8比特的数字数据，在通过自动均衡器22进行均衡后，通过PRML解码器23进行二值化，输出二值化信号52。用于计算L-SEAT的再生信号品质的评价电路30，由主比特列判断电路31、评价比特列生成电路32、欧几里德距离计算电路33、记录脉冲对应图形分类器34、以及评价值累计电路35构成。在主比特列判断电路31中存储有规定的主比特列的数据，判定在二值化信号52中是否包含主比特列。当在二值化信号52中包含主比特列时，评价比特列生成电路32执行图18等说明的XOR处理，生成L以及R的评价比特列。在欧几里德距离计算电路33中，计算T、L、R的评价比特列的目标信号与自动均衡器22输出的均衡再生信号53之间的欧几里德距离。在记录脉冲对应图形分类器34中，使用欧几里德距离差的值，按照在各时刻评价扩展沿位移的方法((式D1)至(式D6))，或者按照对独立计算出的欧几里德距离差的分布的平均值进行评价的方法((式7)至(式13))，通过遵照记录脉冲的自适应表的形式，统计地处理各个值。在评价值累计电路35中求出图39等表示的表。CPU140参照该表，并且控制未图示的记录脉冲的设定电路来变更记录脉冲的参数，按照图40所示的方法，调整记录脉冲的各个参数。

图43是表示采用了本发明的再生信号的评价方法的光盘装置的结构例的示意图。安装在装置中的光盘介质100通过主轴电动机160进行旋转。在再生时，为了成为由CPU140指令的光强度，激光功率/脉冲控制器120经由光学头110内的激光驱动器116控制在半导体激光器112中流过的电流，产生激光114。激光114通过物镜111进行会聚，在光盘介质100上形成光点101。来自该光点101的反射光115经由物镜111，由光检测器113进行检测。光检测器由分割为多个的光检测元件构成。再生信号处理电路130使用由光学头110检测到的信号，对光盘介质100上记录的信息进行再生。作为图1所示的电路框图，本发明将其内置在再生信号处理电路130中。通过这样的结构，本发明的光盘装置作为实现30GB以上的BD的装置，通过试写优化记录脉冲的条件，可以确保良好的系统裕度以及再生互换性。

本发明是关于大容量光盘装置的记录条件的调整方法和光盘装置的发明。

Claims

1.一种记录条件的调整方法，其是使用最短游程长度为2T的符号进行信息的记录，使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的光盘的记录条件的调整方法，其特征在于，

具有以下的步骤：

作为所述自适应均衡方式，使用设有抽头系数对于与时间轴对应的方向为中心对称的限制的自适应均衡方式；

通过所述PRML方式对从所述光盘得到的再生信号波形进行二值化，得到第1二值化比特列；

从所述第1二值化比特列中，作为使关注的沿向左右位移了1T后的比特列生成最短游程长度为2T以上的第2以及第3二值化比特列；

生成与所述第1至第3二值化比特列对应的第1至第3目标信号波形；

计算第1值和第2值，第1值相当于所述第2目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差，第2值相当于所述第3目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差；

使用所述第1值和所述第2值的差分值计算所述关注的沿的位移评价值；以及

使用所述位移评价值调整所述记录条件。

2.根据权利要求1所述的记录条件的调整方法，其特征在于，

作为所述第1值，使用通过所述第1目标信号波形与所述第2目标信号波形的欧几里德距离对其进行标准化后的第1值，作为第2值，使用通过所述第1目标信号波形与所述第3目标信号波形的欧几里德距离对其进行标准化后的第2值，

作为所述位移评价值，

使用基于所述第1值和所述第2值的差分值的第1评价值的平均值，

或者使用基于所述第1值和所述第2值的相加值的所述第2评价值的标准偏差与所述第1评价值的标准偏差的平方和，

或者使用所述第1值的平均值与所述第2值的平均值之差。

3.一种光盘装置，其具有使用最短游程长度为2T的符号向光盘介质进行信息的记录，使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的功能，其特征在于，

具有以下的单元：

作为所述自适应均衡方式，设置抽头系数对于与时间轴对应的方向为中心对称的限制的单元；

通过所述PRML方式对从所述光盘得到的再生信号波形进行二值化，得到第1二值化比特列的单元；

从所述第1二值化比特列中，作为使关注的沿向左右位移了1T后的比特列生成最短游程长度为2T以上的第2以及第3二值化比特列的单元；

生成与所述第1至第3二值化比特列对应的第1至第3目标信号波形的单元；

计算第1值和第2值的单元，第1值相当于所述第2目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差，第2值相当于所述第3目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差；以及

使用所述第1值和所述第2值的差分值，调整向所述光盘介质的记录条件的单元。

4.一种记录条件的调整方法，其是使用最短游程长度为2T的符号进行信息的记录，使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的光盘的记录条件的调整方法，其特征在于，

作为所述自适应均衡方式，使用设有抽头系数对于与时间轴对应的方向为中心对称的限制的自适应均衡方式，为了得到规定的再生信号品质而调整记录条件。

5.根据权利要求1所述的记录条件的调整方法，其特征在于，

在预先决定了光盘的径向倾斜、切向倾斜、聚焦偏移、由光学头的波束扩展器的操作导致的球面像差中的至少一个后，调整记录条件。

6.一种再生方法，其使用自适应均衡方式和PRML方式对使用最短游程长度为2T的符号记录的信息进行再生，其特征在于，

作为所述自适应均衡方式，使用设有抽头系数对于与时间轴对应的方向为中心对称的限制的自适应均衡方式，为了得到规定的再生信号品质，决定光盘的径向倾斜、切向倾斜、聚焦偏移、由光学头的波束扩展器的操作导致的球面像差中的至少一个。

7.一种记录条件的调整方法，其是使用最短游程长度为2T的符号进行信息的记录，使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的光盘的记录条件的调整方法，其特征在于，

具有以下的步骤：

使用所述位移评价值调整所述记录条件。

8.一种信息的记录方法，其特征在于，

具有以下的步骤：

作为所述自适应均衡方式，设有抽头系数对于与时间轴对应的方向为中心对称的限制；

使用所述第1值和所述第2值的差分值计算所述关注的沿的位移评价值；

使用所述位移评价值调整所述记录条件；以及

根据所述调整后的记录条件，使用最短游程长度为2T的符号，进行信息的记录。

9.根据权利要求1所述的记录条件的调整方法，其特征在于，

所述第2二值化比特列与所述第1二值化比特列间的海明距离，和所述第3二值化比特列与所述第1二值化比特列间的海明距离相等。