JP3762356B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光ディスク装置のフォーカスサーボ、チルトサーボ等におけるサーボ最適点の調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ビームを用いて光ディスクに情報の記録又は再生を行う場合、光ビームはレンズを用いて光ディスク表面に集光される。このときレンズは、一般にジャストフォーカスの位置を保つよう制御される。このジャストフォーカスの状態を保つことで、情報は効率よく記録又は再生される。
【０００３】
しかし近年では、例えばＤＶＤのような高密度記録媒体に情報を記録し、記録された情報を再生する場合、ジャストフォーカスの位置と、反射光すなわちＲＦ信号を最も効率よく受光できるレンズ位置が僅かに異なっている。ジャストフォーカスのレンズ位置と、反射光を最も効率よく受光できるレンズ位置との差を、一般にフォーカスオフセットという。
【０００４】
レンズ及び光ピックアップの機械的精度を上げれば、このフォーカスオフセットを抑制することができる。しかし、レンズ及び光ピックアップの機械的精度の向上は、製品のコストアップを伴う。従って、光ディスクの反射光を最も効率よく受光するには、フォーカスオフセットを検出し、レンズをジャストフォーカスの位置からフォーカスオフセット分ずらして、フォーカスオフセットを調整する必要が有る。このようにフォーカスオフセットを検出及び調整する処理をフォーカスオフセット調整という。
【０００５】
特開２００２−１５４３９号公報には、フォーカスオフセット調整法を開示している。この公報は、先ず装置を外周テスト領域を使用する第１のモードとする。フォーカスオフセットの各変更値で、１周内の３セクタ及び４セクタの再生データのエラーレートの平均を夫々求める。１周３セクタに係るフォーカスオフセットとエラーレートの２次近似曲線から最適なフォーカスオフセットを求め、また１周４セクタに係るフォーカスオフセットとエラーレートの２次近似曲線から最適なフォーカスオフセットを求め、それらを加算平均して最終フォーカスオフセットを求める。
【０００６】
その後、装置を内周テスト領域を使用する第２のモードとし、同様に最終フォーカスオフセットを求める。第１、第２のモードで求めた最終フォーカスオフセットを用いてディスクの各ゾーンのフォーカスオフセットを直線補間等で求め、メモリに設定値として記憶する。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００２−１５４３９号
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
先行技術ではフォーカスオフセットを調整するために、エラーレートを求めている。１ｅ−６程度の低いエラーレートの場合は、エラーレートを計算するために最低でも１ｅ６ビットのデータを解析しなければならない。また１ｅ６ビット程度の解析では雑音等でエラーレートが振られてしまうため、正確なボトムを得ることが不可能。そのため、より精度良く計算するためには１ｅ８ビットものデータを解析する必要がある。
【０００９】
このように従来は、サーボの最適点を求めるのに長いデータを解析する必要があるという問題があった。
【００１０】
従って本発明は、サーボの最適点を求めるのに必要となるデータ再生量を短くすることを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明では、光ディスク装置が適応制御型ＰＲＭＬ信号処理方式を採用している場合に、適応等化器の等化係数の収束値を用いて、フォーカスサーボにおけるサーボ条件の最適点を求める。
【００１２】
即ち本発明の一実施形態に係る光ディスク装置は、ＰＲＭＬ信号処理を用いて光ディスクに記録されたデータを復号する光ディスク装置であって、前記ディスクに光ビームを照射し、その反射光を受光して該反射光に対応する再生信号を提供する光ピックアップと、前記光ビームのフォーカスオフセット量を設定するフォーカスオフセット設定手段と、複数のタップを有するＦＩＲフィルタを含み、前記ＰＲＭＬ信号処理により復号された信号に基づいて、前記付空のタップのタップ係数を適応的に制御し、前記光ピックアップから提供される前記再生信号を波形等化する適応等化器と、前記ＦＩＲフィルタのタップ係数を用いて、フォーカスオフセットの最適値を求め、前記フォーカスオフセット設定手段のフォーカスオフセット量を変更するフォーカスオフセット変更手段とを具備する。
【００１３】
適応等化器の収束値は、多く見積もっても１ｅ４台ビット程度であり従来の方式と比較して格段に調整を早めることが可能となる。ディスクをドライブに挿入した時の初期設定の調整だけではなく、記録・再生動作の途中でもフォーカスオフセット等サーボ条件の調整が可能である。
【００１４】
【発明の実施の形態】
図面を参照しながら本発明の実施の形態について詳細に説明する。以下に示す説明はこの発明の実施の形態であって、この発明の装置及び方法を限定するものではない。
【００１５】
図１は本発明が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００１６】
光ディスク６１は読出し専用の光ディスクあるいはユーザデータを記録可能な光ディスクである。ディスク６１はスピンドルモータ６３によって回転駆動される。光ディスク６１に対する情報の記録、再生は、光ピックアップヘッド（以下ＰＵＨと記載）６５によって行われる。ＰＵＨ６５は、スレッドモータ６６とギアを介して連結されており、このスレッドモータ６６はスレッドモータ制御回路６８により制御される。
【００１７】
スレッドモータ制御回路６８には、ＣＰＵ９０からＰＨＵ６５のシーク先アドレスが入力され、このアドレスに基づいてスレッドモータ制御回路６８はスレッドモータ６６を制御する。スレッドモータ６６内部に永久磁石が固定されており、駆動コイル６７がスレッドモータ制御回路６８によって励磁されることにより、ＰＵＨ６５が光ディスク６１の半径方向に移動する。
【００１８】
ＰＵＨ６５には、図示しないワイヤ或いは板バネによって支持された対物レンズ７０が設けられる。対物レンズ７０は駆動コイル７２の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能で、又駆動コイル７１の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００１９】
レーザ制御回路７３内のレーザ駆動回路７５により、半導体レーザ７９からレーザ光が発せられる。半導体レーザ７９から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ８０、ハーフプリズム８１、対物レンズ７０を介して光ディスク６１上に照射される。光ディスク６１からの反射光は、対物レンズ７０、ハーフプリズム８１、集光レンズ８２、及びシリンドリカルレンズ８３を介して、光検出器８４に導かれる。
【００２０】
光検出器８４は、例えば４分割の光検出セルから成り、分割された各光検出セルの検知信号はＲＦアンプ８５に出力される。ＲＦアンプ８５は光検知セルからの信号を合成し、フォーカシング用検知信号ＦＤ、トラッキング用検出信号ＴＤ、全加算信号ＲＦを出力する。フォーカシング用検知信号ＦＤは、対角線上の光検知セル出力を加算した１組の信号である。つまりフォーカシング用検知信号ＦＤは、各光検知セルの出力をＤ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４とすると、「Ｄ１＋Ｄ３」及び「Ｄ２＋Ｄ４」の２つの信号となる。トラッキング用検出信号ＴＤは、隣合う光検知セル出力を加算した１組の信号である。つまりトラッキング用検出信号ＴＤは、「Ｄ１＋Ｄ２」及び「Ｄ３＋Ｄ４」の２つの信号となる。全加算信号ＲＦは４つの光検知セルの出力を加算した信号「Ｄ１＋Ｄ２＋Ｄ３＋Ｄ４」である。
【００２１】
フォーカシング制御回路２００はフォーカシング用検知信号ＦＤに基づいて、フォーカス制御信号ＦＣを生成する。フォーカス制御信号ＦＣはフォーカシング方向にレンズ７０を移動する駆動コイル７２に供給され、レーザ光が光ディスク６１の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボが行われる。
【００２２】
トラッキング制御回路８８はトラッキング用検知信号ＴＤに基づいてトラッキング制御信号ＴＣを生成する。トラッキング制御信号ＴＣはトラッキング方向にレンズ７０を移動する駆動コイル７２に供給され、レーザ光が光ディスク６１上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボが行われる。
【００２３】
チルトセンサ３０１は光ディスク６１にチルト検出用光ビームを照射し、その反射光をＰＳＤ(position sensing device)により受光し、ディスク６１のチルトを検出する。チルトセンサ３０１の検知出力すなわちディスクチルト検知信号ＤＴＤはチルト制御回路３００に供給される。
【００２４】
チルト制御回路３００はディスクチルト検出信号ＤＴＤに基づいて、ディスクチルト制御信号ＤＴＣを生成する。ディスクチルト制御信号ＤＴＣはチルト駆動部３０５に供給され、ディスク６１のチルトがなくなるように、スピンドルモータ６３の傾きが制御される。
【００２５】
上記フォーカスサーボ、トラッキングサーボ及びチルト制御がなされることで、光検出器８４の各光検出セルの出力信号の全加算信号ＲＦには、光ディスク６１のトラック上に形成されたピットなどからの反射光の変化が反映される。この信号は、データ再生回路１００に供給される。データ再生回路１００は、ＰＬＬ回路７６からの再生用クロック信号に基づき、ＰＲＭＬ方式処理により情報を復号する。
【００２６】
上記トラッキング制御回路８８によって対物レンズ７０が制御されているとき、スレッドモータ制御回路６８により、対物レンズ７０がＰＵＨ６５内の所定位置近傍に位置するようスレッドモータ６６つまりＰＵＨ６５が制御される。
【００２７】
モータ制御回路６４、スレッドモータ制御回路６８、レーザ制御回路７３、ＰＬＬ回路７６、データ再生回路１００、フォーカシング制御回路２００、トラッキング制御回路８８、エラー訂正回路６２等は、バス８９を介してＣＰＵ９０によって制御される。ＣＰＵ９０はインターフェース回路９３を介してホスト装置９４から提供される動作コマンドに従って、この記録再生装置を総合的に制御する。又ＣＰＵ９０は、ＲＡＭ９１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ９２に記録されたプログラムに従って所定の動作を行う。
【００２８】
本発明に係るフォーカスサーボ、チルトサーボ等におけるサーボオフセットを最適点に調整する方法について説明する。先ず、フォーカスオフセット調整について説明する。
【００２９】
図２は図１の構成から本実施形態の主要部の構成を抽出して示すブロック図である。図１と同一の要素には同一の参照番号が付されている。ＡＤ変換器１０１、ＦＩＲフィルタ１０２、適応制御部１０３、ビタビ(Viterbi)復号器１０４、及び高周波成分検出部１０７は、データ再生回路１００に含まれる回路要素である。フォーカス誤差生成部２０１、フォーカスオフセット設定部２０２及び駆動信号生成部２０３はフォーカシング制御回路２００に含まれる回路要素である。
【００３０】
フォーカス誤差生成部２０１はＲＦアンプ８５から提供されるフォーカシング用検知信号ＦＤからフォーカス誤差を示すフォーカス誤差信号を生成する。フォーカスオフセット設定部２０２はフォーカス誤差生成部２０１により生成されたフォーカス誤差信号に基づいて、フォーカス誤差信号を零にするためのフォーカス制御量に、所定量のオフセットを付与して出力する。駆動信号生成部２０３はフォーカスオフセット設定部２０２から提供される制御量を、レンズ駆動部７２を駆動するための電流値に変換する。
【００３１】
次に、フォーカスオフセットが最適点からずれている場合での適応等化器の等化係数を用いたフォーカスオフセット調整方法を説明する。
【００３２】
図３は図２の回路構成から適応等化器を抽出して示す図である。本実施形態では、ビタビ復号器の拘束長が偶数（タップの数が奇数）個の場合について説明する。Ｎを自然数とすると、適応等化器は（２Ｎ＋１）個のタップを持つＦＩＲフィルタを用いて構成される。図３に示す適応等化器１０６は一例として３つのタップＴ１〜Ｔ３を有している。
【００３３】
ＦＩＲフィルタ１０２及びビタビ復号器１０４はＰＲＭＬ信号処理回路の構成要素である。ＰＲＭＬ信号処理において、等化器は再生信号の孤立応答波形を変化させ、後段のビタビ復号器のＰＲクラスに適合するべく、再生信号を波形等化する。ビタビ復号器１０４は復号後の理想波形を出力する。等価誤差計算部１０５はＦＩＲフィルタ１０２の出力値とビタビ復号器１０４の出力値との差に基づいて、制御信号を生成する。
【００３４】
フォーカスオフセットが最適点からずれている場合は、光ディスクの情報記録面でのビームの強度分布が図４（ｂ）のように歪む。図４において、Ｐ０の位置は光軸の位置である。このようなビームの強度分布の歪みは孤立波形応答の変化を引き起こす。より具体的には、ビームの強度分布が広がった分、再生信号中の高周波数成分が減少する。
【００３５】
このように再生信号中の高周波成分が減少している場合には、適応等化器１０６は後段のビタビ復号器１０４のＰＲクラスに適合すべく波形等化を行うように制御される。すなわち適応等化器１０６は、フォーカスオフセットが最適点からずれていることに起因して失われた高周波数成分を取り戻すような等化器特性になるよう制御される。
【００３６】
以上のような等化器特性を持つ適応等化器１０６のタップ係数について説明する。
【００３７】
ｎ番目のタップ係数をＣ（ｎ）すると、一般的には中心値Ｃ（Ｎ）が最大となる。等価器（ＦＩＲフィルタ）の伝達関数の高周波数成分での利得が大きい場合は、Ｎ番目のタップ係数Ｃ（Ｎ）と、Ｎ＋１番目及びＮ−１番目のタップ係数Ｃ（Ｎ−１）、Ｃ（Ｎ＋１）との差が大きくなる。すなわち、Ｃ（Ｎ−１）及びＣ（Ｎ＋１）と、Ｃ（Ｎ）との差が最小となるようにフォーカスオフセットを補正すればよい。尚、これらタップ係数はＦＩＲフィルタにおける各タップの乗算値に対応する。
【００３８】
図５はフォーカスオフセット最適点を検出する処理を示すフローチャートである。この処理はコントローラ（ＣＰＵ）９０によって実行される。
【００３９】
高周波数成分検出部１０７は、ＦＩＲフィルタにおけるタップ係数を取得する。コントローラ９０は高周波数成分検出部１０７を介してタップ係数Ｃ（ｎ）を取得し、高周波成分Ｄ０（ｔ）を中央のタップ係数Ｃ（Ｎ，ｔ）と、両側のタップ係数Ｃ（Ｎ−１，ｔ）及びＣ（Ｎ＋１，ｔ）の平均値の差として算出する（ＳＴ１０１、１０２）。
【００４０】
Ｄ０（ｔ）＝０．５×｛Ｃ（Ｎ−１，ｔ）＋Ｃ（Ｎ＋１，ｔ）｝
尚、高周波数成分Ｄ０（ｔ）は所定期間において複数回算出した値の平均値として求めても良い。又、高周波数成分検出部１０７が各タップ係数の所定期間における各平均値を算出し、該平均値を用いて上記高周波数成分Ｄ０（ｔ）を求めても良い。そうした場合はノイズの影響を抑えることができる。
【００４１】
ステップ１０３では、高周波数成分Ｄ０（ｔ）が許容範囲内か判断する。この許容範囲はシステムの仕様に応じて決定される値である。高周波数成分Ｄ０（ｔ）が許容範囲を超えて大きい場合（ステップ１０３でＮＯの場合）、現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）より大きいか判断する（ＳＴ１０４）。ここでδは高周波数成分の算出周期である。
【００４２】
現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）より大きい場合（ステップ１０４でＹＥＳの場合）、フォーカスオフセットＦ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ１０５）。
【００４３】
Ｆ（ｔ＋１）＝Ｆ（ｔ）−ａ０×δＦ
ここでａ０はフォーカスオフセット制御系の感度、δＦは調節可能なフォーカスオフセットの最小値である。このようにしてコントローラ９０はフォーカスオフセット設定部２０２のオフセット設定値を変更する。尚、現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）より大きい場合に、フォーカスオフセット調節量「ａ０×δＦ」をステップ１０５のように現在のフォーカスオフセット値Ｆ（ｔ）から減算するか、又はフォーカスオフセットＦ（ｔ）に加算するかは、レンズ駆動部等の極性により決定される。
【００４４】
ステップ１０４において、現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）以下の場合（ＮＯの場合）、フォーカスオフセットＦ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ１０６）。
【００４５】
Ｆ（ｔ＋１）＝Ｆ（ｔ）＋ａ０×δＦ
この場合も、フォーカスオフセット調節量「ａ０×δＦ」を現在のフォーカスオフセットＦ（ｔ）に加算するか、又はフォーカスオフセット値Ｆ（ｔ）から減算するかは、レンズ駆動部等の極性により決定される。
【００４６】
以上のようにフォーカスオフセットを適応等化器のタップ係数を用いて調節することができる。本発明によれば、サーボオフセットの最適点を、従来より少ないチャネルビット数期間で行うことができる。又、従来のように記録されているデータを解析しなくとも、サーボオフセットの最適点を調整することが可能となる。
【００４７】
尚、拘束長が奇数の場合、適応等化器は偶数（２Ｎ）個のタップを持つＦＩＲフィルタにより構成される。Ｃ（Ｎ−１）、Ｃ（Ｎ＋１）が中心のタップ係数に対応し、その両隣のタップ係数はＣ（Ｎ−２）、Ｃ（Ｎ＋２）となる。Ｃ（Ｎ−２）とＣ（Ｎ−１）との差、Ｃ（Ｎ＋２）とＣ（Ｎ＋１）との差とがそれぞれ最小となるようにフォーカスオフセットを補正すればよい。
【００４８】
次に本発明の他の実施形態を説明する。
【００４９】
光ディスクに記録される情報の高密度化に伴ってディスクチルトが記録／再生に与える影響は大きくなる。ディスクにチルトが生じていると、信号記録特性が低下し、信号再生時のクロストークが増加する。ここでチルトとはレーザ光の光軸と、ディスクの情報記録面の垂線とが成す角を示し、ディスク半径方向のチルトをラジアルチルト、ディスク上のトラック接線方向のチルトをタンジェンシャルチルトという。本実施形態では、タンジェンシャルチルトの調整を適応等価回路のタップ係数を用いて行う。
【００５０】
以下、タンジェンシャルチルトが最適点からずれている場合での適応等化器の等化係数を用いた補正の方法を説明する。
【００５１】
図６は図１の構成から本実施形態の主要部の構成を抽出して示すブロック図である。図１と同一の要素には同一の参照番号が付されている。タンジェンシャルチルト誤差生成部３０２、タンジェンシャルチルトオフセット設定部３０３、及び駆動信号生成部３０４は、チルト制御回路３００に含まれる回路要素である。非対称性検出部１０８は再生回路１００に含まれる回路要素である。
【００５２】
タンジェンシャルチルト誤差生成部３０２は、チルトセンサ３０１から供給されるディスクチルト検知信号ＤＴＤから、タンジェンシャルチルト誤差信号を生成する。タンジェンシャルチルトオフセット設定部３０３はタンジェンシャルチルト誤差生成部３０２により生成されたタンジェンシャルチルト誤差信号に基づいて、タンジェンシャルチルト誤差信号を零にするためのタンジェンシャルチルト制御量に、所定量のオフセットを付与して出力する。駆動信号生成部３０４はタンジェンシャルチルトオフセット設定部３０３から提供される制御量を、タンジェンシャルチルト駆動部３０５を駆動するための電流値に変換する。
【００５３】
タンジェンシャルチルトが最適点からずれている場合は、光ディスクの情報記録面でのビームの強度分布は図７（ｂ）のように歪む。このようなビームの強度分布の歪みに起因して孤立波形応答が変化してしまう。より具体的には、ディスクチルトに起因してビームの強度分布がマークに対して前後非対称となるため、孤立応答波形もマークの前後で非対称となってしまう。
【００５４】
このように、孤立応答波形が前後非対称となっている場合には、孤立応答波形が前後対称となるように図３の適応等化器１０６は制御される。後段のビタビ復号器１０４では孤立波形応答は前後で対称であるとして復号処理を行う。そのため、適応等化器１０６は孤立波形応答の前後の非対称性を補正するために信号特性とは逆の非対称性をもつ等化器特性になるよう制御される。
【００５５】
以上のような等化器特性を持つ適応等化器１０６のタップ係数について、ビタビ復号器の拘束長が偶数（タップの数が奇数）個の場合を説明する。
【００５６】
ｎ番目のタップ係数をＣ（ｎ）とすると、タンジェンシャルチルトが最適点である場合には、タップ係数は中心値Ｃ（Ｎ）を中心としてほぼ対称になる。すなわち、
Ｃ（Ｎ−ｉ） ≒ Ｃ（Ｎ＋ｉ）
ただし、ｉはｉ＜Ｎを満たす整数値。これに対して、タンジェンシャルチルトが最適点からθｄｅｇずれていたと仮定すると、
Ｃ（Ｎ−ｉ）＋ａ（ｉ）×ｆ（θ）
≒ Ｃ（Ｎ＋ｉ）−ａ（ｉ）×ｆ（θ）
となる。ただし、ｆ（θ）はθの関数で増加関数である。一般に中心に近いタップ係数ほど絶対値が大きいので、Ｎ−１番目とＮ＋１番目のタップ係数Ｃ（Ｎ−１）及びＣ（Ｎ＋１）とを比較し、この差が最小となるようにタンジェンシャルチルト量を補正すればよい。
【００５７】
図８はタンジェンシャルチルト最適点を検出する処理を示すフローチャートである。この処理はコントローラ（ＣＰＵ）９０によって実行される。
【００５８】
非対称性検出部１０８は、適応等化器１０６のタップ係数を保持する。コントローラ９０は非対称性検出部１０８介してタップ係数Ｃ（ｎ）を取得し、非対称性Ｄ１（ｔ）を中央のタップ係数Ｃ（Ｎ，ｔ）の両側のタップ係数Ｃ（Ｎ−１，ｔ）及びＣ（Ｎ＋１，ｔ）の差として算出する（ＳＴ２０１、２０２）。
【００５９】
Ｄ１（ｔ）＝Ｃ（Ｎ−１，ｔ）−Ｃ（Ｎ＋１，ｔ）
尚、非対称性Ｄ１（ｔ）は所定期間において複数回算出した値の平均値として求めても良い。又、非対称性検出部１０８が各タップ係数の所定期間における各平均値を算出し、該平均値を用いて上記非対称性Ｄ１（ｔ）を求めても良い。そうした場合はノイズの影響を抑えることができる。
【００６０】
ステップ２０３では、非対称性Ｄ１（ｔ）が許容範囲内か判断する。この許容範囲はシステムの仕様に応じて決定される値である。非対称性Ｄ１（ｔ）が許容範囲を超えて大きい場合（ステップ２０３でＮＯの場合）、現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）より大きいか判断する（ＳＴ２０４）。ここでδは非対称性の算出周期である。
【００６１】
現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）より大きい場合（ステップ２０４でＹＥＳの場合）、タンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ２０５）。
【００６２】
Ｔ（ｔ＋１）＝Ｔ（ｔ）−ａ１×δＴ
ここでａ１はタンジェンシャルオフセット制御系の感度、δＴは調節可能なタンジェンシャルチルトオフセットの最小値である。尚、現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）より大きい場合に、タンジェンシャルチルトオフセット調節量「ａ１×δＴ」をステップ２０５のように現在のタンジェンシャルチルトオフセット値Ｔ（ｔ）から減算するか、又はタンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ）に加算するかは、タンジェンシャルチルト駆動部等の極性により決定される。
【００６３】
ステップ２０４において、現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）以下の場合（ＮＯの場合）、タンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ２０６）。
【００６４】
Ｔ（ｔ＋１）＝Ｔ（ｔ）＋ａ１×δＴ
この場合も、タンジェンシャルチルトオフセット調節量「ａ１×δＴ」を現在のタンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ）に加算するか、又はタンジェンシャルチルトオフセット値Ｔ（ｔ）から減算するかは、チルト駆動部等の極性により決定される。
【００６５】
以上のようにタンジェンシャルチルトオフセットを適応等化器のタップ係数を用いて調節することができる。
【００６６】
なお、ビタビ復号器の拘束長が奇数の場合、適応等化器は偶数（２Ｎ）個のタップ係数を持つＦＩＲフィルタにより構成される。タンジェンシャルチルトが最適点である場合には、タップ係数Ｃ（ｎ）は、Ｃ（Ｎ−１）とＣ（Ｎ＋１）を中心としてほぼ対称となる。ビタビ復号器の拘束長が偶数の場合と同じ考え方で、Ｎ−２番目とＮ＋２番目のタップ係数Ｃ（Ｎ−２）、Ｃ（Ｎ＋２）とを比較し、この差が最小となるようにタンジェンシャルチルト量を補正すればよい。
【００６７】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、サーボの最適点を求めるのに必要となるデータ再生量を短くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の構成から本発明に係るフォーカスオフセット調整部の構成を抽出して示すブロック図である。
【図３】図２の回路構成から適応等化器を抽出して示すブロック図である。
【図４】光ディスクの情報記録面でのビーム強度分布を示す図である。
【図５】フォーカスオフセット最適点を検出する処理を示すフローチャートである。
【図６】図１の構成から本発明に係るタンジェントチルトオフセット調整部の構成を抽出して示すブロック図である。
【図７】光ディスクの情報記録面での他のビーム強度分布を示す図である。
【図８】タンジェンシャルチルト最適点を検出する処理を示すフローチャートである。
【発明の属する技術分野】
この発明は、光ディスク装置のフォーカスサーボ、チルトサーボ等におけるサーボ最適点の調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ビームを用いて光ディスクに情報の記録又は再生を行う場合、光ビームはレンズを用いて光ディスク表面に集光される。このときレンズは、一般にジャストフォーカスの位置を保つよう制御される。このジャストフォーカスの状態を保つことで、情報は効率よく記録又は再生される。
【０００３】
しかし近年では、例えばＤＶＤのような高密度記録媒体に情報を記録し、記録された情報を再生する場合、ジャストフォーカスの位置と、反射光すなわちＲＦ信号を最も効率よく受光できるレンズ位置が僅かに異なっている。ジャストフォーカスのレンズ位置と、反射光を最も効率よく受光できるレンズ位置との差を、一般にフォーカスオフセットという。
【０００４】
レンズ及び光ピックアップの機械的精度を上げれば、このフォーカスオフセットを抑制することができる。しかし、レンズ及び光ピックアップの機械的精度の向上は、製品のコストアップを伴う。従って、光ディスクの反射光を最も効率よく受光するには、フォーカスオフセットを検出し、レンズをジャストフォーカスの位置からフォーカスオフセット分ずらして、フォーカスオフセットを調整する必要が有る。このようにフォーカスオフセットを検出及び調整する処理をフォーカスオフセット調整という。
【０００５】
特開２００２−１５４３９号公報には、フォーカスオフセット調整法を開示している。この公報は、先ず装置を外周テスト領域を使用する第１のモードとする。フォーカスオフセットの各変更値で、１周内の３セクタ及び４セクタの再生データのエラーレートの平均を夫々求める。１周３セクタに係るフォーカスオフセットとエラーレートの２次近似曲線から最適なフォーカスオフセットを求め、また１周４セクタに係るフォーカスオフセットとエラーレートの２次近似曲線から最適なフォーカスオフセットを求め、それらを加算平均して最終フォーカスオフセットを求める。
【０００６】
その後、装置を内周テスト領域を使用する第２のモードとし、同様に最終フォーカスオフセットを求める。第１、第２のモードで求めた最終フォーカスオフセットを用いてディスクの各ゾーンのフォーカスオフセットを直線補間等で求め、メモリに設定値として記憶する。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００２−１５４３９号
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
先行技術ではフォーカスオフセットを調整するために、エラーレートを求めている。１ｅ−６程度の低いエラーレートの場合は、エラーレートを計算するために最低でも１ｅ６ビットのデータを解析しなければならない。また１ｅ６ビット程度の解析では雑音等でエラーレートが振られてしまうため、正確なボトムを得ることが不可能。そのため、より精度良く計算するためには１ｅ８ビットものデータを解析する必要がある。
【０００９】
このように従来は、サーボの最適点を求めるのに長いデータを解析する必要があるという問題があった。
【００１０】
従って本発明は、サーボの最適点を求めるのに必要となるデータ再生量を短くすることを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明では、光ディスク装置が適応制御型ＰＲＭＬ信号処理方式を採用している場合に、適応等化器の等化係数の収束値を用いて、フォーカスサーボにおけるサーボ条件の最適点を求める。
【００１２】
即ち本発明の一実施形態に係る光ディスク装置は、ＰＲＭＬ信号処理を用いて光ディスクに記録されたデータを復号する光ディスク装置であって、前記ディスクに光ビームを照射し、その反射光を受光して該反射光に対応する再生信号を提供する光ピックアップと、前記光ビームのフォーカスオフセット量を設定するフォーカスオフセット設定手段と、複数のタップを有するＦＩＲフィルタを含み、前記ＰＲＭＬ信号処理により復号された信号に基づいて、前記付空のタップのタップ係数を適応的に制御し、前記光ピックアップから提供される前記再生信号を波形等化する適応等化器と、前記ＦＩＲフィルタのタップ係数を用いて、フォーカスオフセットの最適値を求め、前記フォーカスオフセット設定手段のフォーカスオフセット量を変更するフォーカスオフセット変更手段とを具備する。
【００１３】
適応等化器の収束値は、多く見積もっても１ｅ４台ビット程度であり従来の方式と比較して格段に調整を早めることが可能となる。ディスクをドライブに挿入した時の初期設定の調整だけではなく、記録・再生動作の途中でもフォーカスオフセット等サーボ条件の調整が可能である。
【００１４】
【発明の実施の形態】
図面を参照しながら本発明の実施の形態について詳細に説明する。以下に示す説明はこの発明の実施の形態であって、この発明の装置及び方法を限定するものではない。
【００１５】
図１は本発明が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００１６】
光ディスク６１は読出し専用の光ディスクあるいはユーザデータを記録可能な光ディスクである。ディスク６１はスピンドルモータ６３によって回転駆動される。光ディスク６１に対する情報の記録、再生は、光ピックアップヘッド（以下ＰＵＨと記載）６５によって行われる。ＰＵＨ６５は、スレッドモータ６６とギアを介して連結されており、このスレッドモータ６６はスレッドモータ制御回路６８により制御される。
【００１７】
スレッドモータ制御回路６８には、ＣＰＵ９０からＰＨＵ６５のシーク先アドレスが入力され、このアドレスに基づいてスレッドモータ制御回路６８はスレッドモータ６６を制御する。スレッドモータ６６内部に永久磁石が固定されており、駆動コイル６７がスレッドモータ制御回路６８によって励磁されることにより、ＰＵＨ６５が光ディスク６１の半径方向に移動する。
【００１８】
ＰＵＨ６５には、図示しないワイヤ或いは板バネによって支持された対物レンズ７０が設けられる。対物レンズ７０は駆動コイル７２の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能で、又駆動コイル７１の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００１９】
レーザ制御回路７３内のレーザ駆動回路７５により、半導体レーザ７９からレーザ光が発せられる。半導体レーザ７９から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ８０、ハーフプリズム８１、対物レンズ７０を介して光ディスク６１上に照射される。光ディスク６１からの反射光は、対物レンズ７０、ハーフプリズム８１、集光レンズ８２、及びシリンドリカルレンズ８３を介して、光検出器８４に導かれる。
【００２０】
光検出器８４は、例えば４分割の光検出セルから成り、分割された各光検出セルの検知信号はＲＦアンプ８５に出力される。ＲＦアンプ８５は光検知セルからの信号を合成し、フォーカシング用検知信号ＦＤ、トラッキング用検出信号ＴＤ、全加算信号ＲＦを出力する。フォーカシング用検知信号ＦＤは、対角線上の光検知セル出力を加算した１組の信号である。つまりフォーカシング用検知信号ＦＤは、各光検知セルの出力をＤ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４とすると、「Ｄ１＋Ｄ３」及び「Ｄ２＋Ｄ４」の２つの信号となる。トラッキング用検出信号ＴＤは、隣合う光検知セル出力を加算した１組の信号である。つまりトラッキング用検出信号ＴＤは、「Ｄ１＋Ｄ２」及び「Ｄ３＋Ｄ４」の２つの信号となる。全加算信号ＲＦは４つの光検知セルの出力を加算した信号「Ｄ１＋Ｄ２＋Ｄ３＋Ｄ４」である。
【００２１】
フォーカシング制御回路２００はフォーカシング用検知信号ＦＤに基づいて、フォーカス制御信号ＦＣを生成する。フォーカス制御信号ＦＣはフォーカシング方向にレンズ７０を移動する駆動コイル７２に供給され、レーザ光が光ディスク６１の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボが行われる。
【００２２】
トラッキング制御回路８８はトラッキング用検知信号ＴＤに基づいてトラッキング制御信号ＴＣを生成する。トラッキング制御信号ＴＣはトラッキング方向にレンズ７０を移動する駆動コイル７２に供給され、レーザ光が光ディスク６１上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボが行われる。
【００２３】
チルトセンサ３０１は光ディスク６１にチルト検出用光ビームを照射し、その反射光をＰＳＤ(position sensing device)により受光し、ディスク６１のチルトを検出する。チルトセンサ３０１の検知出力すなわちディスクチルト検知信号ＤＴＤはチルト制御回路３００に供給される。
【００２４】
チルト制御回路３００はディスクチルト検出信号ＤＴＤに基づいて、ディスクチルト制御信号ＤＴＣを生成する。ディスクチルト制御信号ＤＴＣはチルト駆動部３０５に供給され、ディスク６１のチルトがなくなるように、スピンドルモータ６３の傾きが制御される。
【００２５】
上記フォーカスサーボ、トラッキングサーボ及びチルト制御がなされることで、光検出器８４の各光検出セルの出力信号の全加算信号ＲＦには、光ディスク６１のトラック上に形成されたピットなどからの反射光の変化が反映される。この信号は、データ再生回路１００に供給される。データ再生回路１００は、ＰＬＬ回路７６からの再生用クロック信号に基づき、ＰＲＭＬ方式処理により情報を復号する。
【００２６】
上記トラッキング制御回路８８によって対物レンズ７０が制御されているとき、スレッドモータ制御回路６８により、対物レンズ７０がＰＵＨ６５内の所定位置近傍に位置するようスレッドモータ６６つまりＰＵＨ６５が制御される。
【００２７】
モータ制御回路６４、スレッドモータ制御回路６８、レーザ制御回路７３、ＰＬＬ回路７６、データ再生回路１００、フォーカシング制御回路２００、トラッキング制御回路８８、エラー訂正回路６２等は、バス８９を介してＣＰＵ９０によって制御される。ＣＰＵ９０はインターフェース回路９３を介してホスト装置９４から提供される動作コマンドに従って、この記録再生装置を総合的に制御する。又ＣＰＵ９０は、ＲＡＭ９１を作業エリアとして使用し、ＲＯＭ９２に記録されたプログラムに従って所定の動作を行う。
【００２８】
本発明に係るフォーカスサーボ、チルトサーボ等におけるサーボオフセットを最適点に調整する方法について説明する。先ず、フォーカスオフセット調整について説明する。
【００２９】
図２は図１の構成から本実施形態の主要部の構成を抽出して示すブロック図である。図１と同一の要素には同一の参照番号が付されている。ＡＤ変換器１０１、ＦＩＲフィルタ１０２、適応制御部１０３、ビタビ(Viterbi)復号器１０４、及び高周波成分検出部１０７は、データ再生回路１００に含まれる回路要素である。フォーカス誤差生成部２０１、フォーカスオフセット設定部２０２及び駆動信号生成部２０３はフォーカシング制御回路２００に含まれる回路要素である。
【００３０】
フォーカス誤差生成部２０１はＲＦアンプ８５から提供されるフォーカシング用検知信号ＦＤからフォーカス誤差を示すフォーカス誤差信号を生成する。フォーカスオフセット設定部２０２はフォーカス誤差生成部２０１により生成されたフォーカス誤差信号に基づいて、フォーカス誤差信号を零にするためのフォーカス制御量に、所定量のオフセットを付与して出力する。駆動信号生成部２０３はフォーカスオフセット設定部２０２から提供される制御量を、レンズ駆動部７２を駆動するための電流値に変換する。
【００３１】
次に、フォーカスオフセットが最適点からずれている場合での適応等化器の等化係数を用いたフォーカスオフセット調整方法を説明する。
【００３２】
図３は図２の回路構成から適応等化器を抽出して示す図である。本実施形態では、ビタビ復号器の拘束長が偶数（タップの数が奇数）個の場合について説明する。Ｎを自然数とすると、適応等化器は（２Ｎ＋１）個のタップを持つＦＩＲフィルタを用いて構成される。図３に示す適応等化器１０６は一例として３つのタップＴ１〜Ｔ３を有している。
【００３３】
ＦＩＲフィルタ１０２及びビタビ復号器１０４はＰＲＭＬ信号処理回路の構成要素である。ＰＲＭＬ信号処理において、等化器は再生信号の孤立応答波形を変化させ、後段のビタビ復号器のＰＲクラスに適合するべく、再生信号を波形等化する。ビタビ復号器１０４は復号後の理想波形を出力する。等価誤差計算部１０５はＦＩＲフィルタ１０２の出力値とビタビ復号器１０４の出力値との差に基づいて、制御信号を生成する。
【００３４】
フォーカスオフセットが最適点からずれている場合は、光ディスクの情報記録面でのビームの強度分布が図４（ｂ）のように歪む。図４において、Ｐ０の位置は光軸の位置である。このようなビームの強度分布の歪みは孤立波形応答の変化を引き起こす。より具体的には、ビームの強度分布が広がった分、再生信号中の高周波数成分が減少する。
【００３５】
このように再生信号中の高周波成分が減少している場合には、適応等化器１０６は後段のビタビ復号器１０４のＰＲクラスに適合すべく波形等化を行うように制御される。すなわち適応等化器１０６は、フォーカスオフセットが最適点からずれていることに起因して失われた高周波数成分を取り戻すような等化器特性になるよう制御される。
【００３６】
以上のような等化器特性を持つ適応等化器１０６のタップ係数について説明する。
【００３７】
ｎ番目のタップ係数をＣ（ｎ）すると、一般的には中心値Ｃ（Ｎ）が最大となる。等価器（ＦＩＲフィルタ）の伝達関数の高周波数成分での利得が大きい場合は、Ｎ番目のタップ係数Ｃ（Ｎ）と、Ｎ＋１番目及びＮ−１番目のタップ係数Ｃ（Ｎ−１）、Ｃ（Ｎ＋１）との差が大きくなる。すなわち、Ｃ（Ｎ−１）及びＣ（Ｎ＋１）と、Ｃ（Ｎ）との差が最小となるようにフォーカスオフセットを補正すればよい。尚、これらタップ係数はＦＩＲフィルタにおける各タップの乗算値に対応する。
【００３８】
図５はフォーカスオフセット最適点を検出する処理を示すフローチャートである。この処理はコントローラ（ＣＰＵ）９０によって実行される。
【００３９】
高周波数成分検出部１０７は、ＦＩＲフィルタにおけるタップ係数を取得する。コントローラ９０は高周波数成分検出部１０７を介してタップ係数Ｃ（ｎ）を取得し、高周波成分Ｄ０（ｔ）を中央のタップ係数Ｃ（Ｎ，ｔ）と、両側のタップ係数Ｃ（Ｎ−１，ｔ）及びＣ（Ｎ＋１，ｔ）の平均値の差として算出する（ＳＴ１０１、１０２）。
【００４０】
Ｄ０（ｔ）＝０．５×｛Ｃ（Ｎ−１，ｔ）＋Ｃ（Ｎ＋１，ｔ）｝
尚、高周波数成分Ｄ０（ｔ）は所定期間において複数回算出した値の平均値として求めても良い。又、高周波数成分検出部１０７が各タップ係数の所定期間における各平均値を算出し、該平均値を用いて上記高周波数成分Ｄ０（ｔ）を求めても良い。そうした場合はノイズの影響を抑えることができる。
【００４１】
ステップ１０３では、高周波数成分Ｄ０（ｔ）が許容範囲内か判断する。この許容範囲はシステムの仕様に応じて決定される値である。高周波数成分Ｄ０（ｔ）が許容範囲を超えて大きい場合（ステップ１０３でＮＯの場合）、現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）より大きいか判断する（ＳＴ１０４）。ここでδは高周波数成分の算出周期である。
【００４２】
現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）より大きい場合（ステップ１０４でＹＥＳの場合）、フォーカスオフセットＦ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ１０５）。
【００４３】
Ｆ（ｔ＋１）＝Ｆ（ｔ）−ａ０×δＦ
ここでａ０はフォーカスオフセット制御系の感度、δＦは調節可能なフォーカスオフセットの最小値である。このようにしてコントローラ９０はフォーカスオフセット設定部２０２のオフセット設定値を変更する。尚、現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）より大きい場合に、フォーカスオフセット調節量「ａ０×δＦ」をステップ１０５のように現在のフォーカスオフセット値Ｆ（ｔ）から減算するか、又はフォーカスオフセットＦ（ｔ）に加算するかは、レンズ駆動部等の極性により決定される。
【００４４】
ステップ１０４において、現在の高周波数成分Ｄ０（ｔ）が前回算出した高周波数成分Ｄ０（ｔ−δ）以下の場合（ＮＯの場合）、フォーカスオフセットＦ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ１０６）。
【００４５】
Ｆ（ｔ＋１）＝Ｆ（ｔ）＋ａ０×δＦ
この場合も、フォーカスオフセット調節量「ａ０×δＦ」を現在のフォーカスオフセットＦ（ｔ）に加算するか、又はフォーカスオフセット値Ｆ（ｔ）から減算するかは、レンズ駆動部等の極性により決定される。
【００４６】
以上のようにフォーカスオフセットを適応等化器のタップ係数を用いて調節することができる。本発明によれば、サーボオフセットの最適点を、従来より少ないチャネルビット数期間で行うことができる。又、従来のように記録されているデータを解析しなくとも、サーボオフセットの最適点を調整することが可能となる。
【００４７】
尚、拘束長が奇数の場合、適応等化器は偶数（２Ｎ）個のタップを持つＦＩＲフィルタにより構成される。Ｃ（Ｎ−１）、Ｃ（Ｎ＋１）が中心のタップ係数に対応し、その両隣のタップ係数はＣ（Ｎ−２）、Ｃ（Ｎ＋２）となる。Ｃ（Ｎ−２）とＣ（Ｎ−１）との差、Ｃ（Ｎ＋２）とＣ（Ｎ＋１）との差とがそれぞれ最小となるようにフォーカスオフセットを補正すればよい。
【００４８】
次に本発明の他の実施形態を説明する。
【００４９】
光ディスクに記録される情報の高密度化に伴ってディスクチルトが記録／再生に与える影響は大きくなる。ディスクにチルトが生じていると、信号記録特性が低下し、信号再生時のクロストークが増加する。ここでチルトとはレーザ光の光軸と、ディスクの情報記録面の垂線とが成す角を示し、ディスク半径方向のチルトをラジアルチルト、ディスク上のトラック接線方向のチルトをタンジェンシャルチルトという。本実施形態では、タンジェンシャルチルトの調整を適応等価回路のタップ係数を用いて行う。
【００５０】
以下、タンジェンシャルチルトが最適点からずれている場合での適応等化器の等化係数を用いた補正の方法を説明する。
【００５１】
図６は図１の構成から本実施形態の主要部の構成を抽出して示すブロック図である。図１と同一の要素には同一の参照番号が付されている。タンジェンシャルチルト誤差生成部３０２、タンジェンシャルチルトオフセット設定部３０３、及び駆動信号生成部３０４は、チルト制御回路３００に含まれる回路要素である。非対称性検出部１０８は再生回路１００に含まれる回路要素である。
【００５２】
タンジェンシャルチルト誤差生成部３０２は、チルトセンサ３０１から供給されるディスクチルト検知信号ＤＴＤから、タンジェンシャルチルト誤差信号を生成する。タンジェンシャルチルトオフセット設定部３０３はタンジェンシャルチルト誤差生成部３０２により生成されたタンジェンシャルチルト誤差信号に基づいて、タンジェンシャルチルト誤差信号を零にするためのタンジェンシャルチルト制御量に、所定量のオフセットを付与して出力する。駆動信号生成部３０４はタンジェンシャルチルトオフセット設定部３０３から提供される制御量を、タンジェンシャルチルト駆動部３０５を駆動するための電流値に変換する。
【００５３】
タンジェンシャルチルトが最適点からずれている場合は、光ディスクの情報記録面でのビームの強度分布は図７（ｂ）のように歪む。このようなビームの強度分布の歪みに起因して孤立波形応答が変化してしまう。より具体的には、ディスクチルトに起因してビームの強度分布がマークに対して前後非対称となるため、孤立応答波形もマークの前後で非対称となってしまう。
【００５４】
このように、孤立応答波形が前後非対称となっている場合には、孤立応答波形が前後対称となるように図３の適応等化器１０６は制御される。後段のビタビ復号器１０４では孤立波形応答は前後で対称であるとして復号処理を行う。そのため、適応等化器１０６は孤立波形応答の前後の非対称性を補正するために信号特性とは逆の非対称性をもつ等化器特性になるよう制御される。
【００５５】
以上のような等化器特性を持つ適応等化器１０６のタップ係数について、ビタビ復号器の拘束長が偶数（タップの数が奇数）個の場合を説明する。
【００５６】
ｎ番目のタップ係数をＣ（ｎ）とすると、タンジェンシャルチルトが最適点である場合には、タップ係数は中心値Ｃ（Ｎ）を中心としてほぼ対称になる。すなわち、
Ｃ（Ｎ−ｉ） ≒ Ｃ（Ｎ＋ｉ）
ただし、ｉはｉ＜Ｎを満たす整数値。これに対して、タンジェンシャルチルトが最適点からθｄｅｇずれていたと仮定すると、
Ｃ（Ｎ−ｉ）＋ａ（ｉ）×ｆ（θ）
≒ Ｃ（Ｎ＋ｉ）−ａ（ｉ）×ｆ（θ）
となる。ただし、ｆ（θ）はθの関数で増加関数である。一般に中心に近いタップ係数ほど絶対値が大きいので、Ｎ−１番目とＮ＋１番目のタップ係数Ｃ（Ｎ−１）及びＣ（Ｎ＋１）とを比較し、この差が最小となるようにタンジェンシャルチルト量を補正すればよい。
【００５７】
図８はタンジェンシャルチルト最適点を検出する処理を示すフローチャートである。この処理はコントローラ（ＣＰＵ）９０によって実行される。
【００５８】
非対称性検出部１０８は、適応等化器１０６のタップ係数を保持する。コントローラ９０は非対称性検出部１０８介してタップ係数Ｃ（ｎ）を取得し、非対称性Ｄ１（ｔ）を中央のタップ係数Ｃ（Ｎ，ｔ）の両側のタップ係数Ｃ（Ｎ−１，ｔ）及びＣ（Ｎ＋１，ｔ）の差として算出する（ＳＴ２０１、２０２）。
【００５９】
Ｄ１（ｔ）＝Ｃ（Ｎ−１，ｔ）−Ｃ（Ｎ＋１，ｔ）
尚、非対称性Ｄ１（ｔ）は所定期間において複数回算出した値の平均値として求めても良い。又、非対称性検出部１０８が各タップ係数の所定期間における各平均値を算出し、該平均値を用いて上記非対称性Ｄ１（ｔ）を求めても良い。そうした場合はノイズの影響を抑えることができる。
【００６０】
ステップ２０３では、非対称性Ｄ１（ｔ）が許容範囲内か判断する。この許容範囲はシステムの仕様に応じて決定される値である。非対称性Ｄ１（ｔ）が許容範囲を超えて大きい場合（ステップ２０３でＮＯの場合）、現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）より大きいか判断する（ＳＴ２０４）。ここでδは非対称性の算出周期である。
【００６１】
現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）より大きい場合（ステップ２０４でＹＥＳの場合）、タンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ２０５）。
【００６２】
Ｔ（ｔ＋１）＝Ｔ（ｔ）−ａ１×δＴ
ここでａ１はタンジェンシャルオフセット制御系の感度、δＴは調節可能なタンジェンシャルチルトオフセットの最小値である。尚、現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）より大きい場合に、タンジェンシャルチルトオフセット調節量「ａ１×δＴ」をステップ２０５のように現在のタンジェンシャルチルトオフセット値Ｔ（ｔ）から減算するか、又はタンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ）に加算するかは、タンジェンシャルチルト駆動部等の極性により決定される。
【００６３】
ステップ２０４において、現在の非対称性Ｄ１（ｔ）が前回算出した非対称性Ｄ１（ｔ−δ）以下の場合（ＮＯの場合）、タンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ＋１）が以下のように算出される（ＳＴ２０６）。
【００６４】
Ｔ（ｔ＋１）＝Ｔ（ｔ）＋ａ１×δＴ
この場合も、タンジェンシャルチルトオフセット調節量「ａ１×δＴ」を現在のタンジェンシャルチルトオフセットＴ（ｔ）に加算するか、又はタンジェンシャルチルトオフセット値Ｔ（ｔ）から減算するかは、チルト駆動部等の極性により決定される。
【００６５】
以上のようにタンジェンシャルチルトオフセットを適応等化器のタップ係数を用いて調節することができる。
【００６６】
なお、ビタビ復号器の拘束長が奇数の場合、適応等化器は偶数（２Ｎ）個のタップ係数を持つＦＩＲフィルタにより構成される。タンジェンシャルチルトが最適点である場合には、タップ係数Ｃ（ｎ）は、Ｃ（Ｎ−１）とＣ（Ｎ＋１）を中心としてほぼ対称となる。ビタビ復号器の拘束長が偶数の場合と同じ考え方で、Ｎ−２番目とＮ＋２番目のタップ係数Ｃ（Ｎ−２）、Ｃ（Ｎ＋２）とを比較し、この差が最小となるようにタンジェンシャルチルト量を補正すればよい。
【００６７】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、サーボの最適点を求めるのに必要となるデータ再生量を短くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明が適用される光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の構成から本発明に係るフォーカスオフセット調整部の構成を抽出して示すブロック図である。
【図３】図２の回路構成から適応等化器を抽出して示すブロック図である。
【図４】光ディスクの情報記録面でのビーム強度分布を示す図である。
【図５】フォーカスオフセット最適点を検出する処理を示すフローチャートである。
【図６】図１の構成から本発明に係るタンジェントチルトオフセット調整部の構成を抽出して示すブロック図である。
【図７】光ディスクの情報記録面での他のビーム強度分布を示す図である。
【図８】タンジェンシャルチルト最適点を検出する処理を示すフローチャートである。
Claims (3)
- ＰＲＭＬ信号処理を用いて光ディスクに記録されたデータを復号する光ディスク装置であって、
前記ディスクに光ビームを照射し、その反射光を受光して該反射光に対応する再生信号を提供する光ピックアップと、
前記光ビームのフォーカスオフセット量を設定するフォーカスオフセット設定手段と、
複数のタップを有するＦＩＲフィルタを含み、前記ＰＲＭＬ信号処理により復号された信号に基づいて、前記複数のタップのタップ係数を適応的に制御し、前記光ピックアップから提供される前記再生信号を波形等化する適応等化器と、
前記制御されたＦＩＲフィルタのタップ係数を用いて、フォーカスオフセットの最適値を求め、前記フォーカスオフセット設定手段のフォーカスオフセット量を変更するフォーカスオフセット変更手段と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記ＰＲＭＬ信号処理の拘束長が偶数であり、前記ＦＩＲフィルタのタップ数を２Ｎ−１としたとき、時刻ｔにおけるｎ番目のタップ係数の値がＣ（ｔ，ｎ）と表され、前記フォーカスオフセット変更手段は、
Ｃ（ｔ，Ｎ）−｛Ｃ（ｔ，Ｎ＋１）＋Ｃ（ｔ，Ｎ−１）｝／２
が最小となるようにフォーカスオフセット量を調整することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。 - 前記ＰＲＭＬ信号処理の拘束長が奇数であり、前記ＦＩＲフィルタのタップ数を２Ｎとしたときに、時刻ｔにおけるｎ番目のタップ係数の値がＣ（ｔ，ｎ）と表され、前記フォーカスオフセット変更手段は、
［｛Ｃ（ｔ，Ｎ−１）−Ｃ（ｔ，Ｎ−２）｝＋｛Ｃ（ｔ，Ｎ＋１）−Ｃ（ｔ，Ｎ＋２）｝］／２
が最小となるようにフォーカスオフセット量を調整することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
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