CN101849834A - 放射线成像设备及其暗电流校正方法 - Google Patents

Abstract

一种放射线成像设备及其暗电流校正方法，该放射线成像设备包括：照射单元；放射线检测单元，用于检测放射线；指示单元，用于发出放射线成像开始指示；设置单元，用于设置指示单元发出成像开始指示的时刻和开始照射单元的照射的时刻之间的照射延迟时间；第一获取单元，用于在所设置的照射延迟时间期间，获取多个暗电流图像；第二获取单元，用于在所设置的照射延迟时间结束之后，获取被摄体的放射线图像；校正数据生成单元，用于基于所述多个暗电流图像，生成对于所获取的放射线图像的校正数据；以及校正单元，用于通过使用该校正数据，对所获取的放射线图像执行暗电流校正处理。

Description

放射线成像设备及其暗电流校正方法

技术领域

本发明涉及一种获得放射线图像的放射线成像设备和用于该设备的暗电流(dark current)校正方法。

背景技术

在获得放射线图像(例如，X射线图像)时，通过使用具有保持胶片和增感屏(intensifying screen)的暗盒(cassette)的胶片/屏幕或者用于计算机放射线成像(computed radiography)的暗盒中的成像板，来获取被摄体的X射线图像。

近年来，提出了实时将X射线图像直接转换成数字信号的X射线检测器。这类X射线检测器包括例如将固态光检测器和闪烁体相互层叠而成的X射线检测器。固态光检测器使均由透明导电膜和导电膜形成的固态光检测元件以矩阵形式排列在由石英玻璃制成的基板上的非晶态半导体上。闪烁体将X射线转换成可见光。

还有各种已知的在不使用闪烁体的情况下利用固态光检测器直接获取X射线的X射线检测器。与使用闪烁体的X射线检测器不同，这类X射线检测器不受由闪烁体引起的光散射的影响，因此通常被认为具有高的分辨率。还已知一种包括CCD或CMOS检测器和闪烁体的组合以增加每单位时间拍摄的图像数量的X射线检测器。

通常，这些X射线检测器将X射线的强度检测为电荷量。由于该原因，为了获取X射线图像，需要复位像素中的电荷，积累电荷，传送像素中的电荷，并且进行预定周期的驱动。

在X射线检测器中，与由X射线产生的信号电荷一起积累与该信号电荷的积累时间成比例的暗电流成分的电荷。由于该原因，获取的X射线图像包含X射线信号成分和暗电流成分，因此在X射线成像中进行暗电流校正处理。在暗电流校正处理中，在没有X射线照射的情况下，获取仅包含暗电流成分的暗电流图像。然后从X射线图像减去获取的暗电流图像，以从X射线图像去除暗电流成分。

在这种情况下，如上所述，在没有X射线照射的情况下获取暗电流图像。由于该原因，通常，在获得静止图像时，X射线检测器在紧挨着X射线照射之前或之后获取图像。在获得以X射线荧光图像为代表的运动图像时，由于通常需要实时观察X射线图像，因而X射线检测器在X射线照射之前或者在数次X射线照射之间获取图像。在每单位时间获取较大量图像(例如，60fps)的IVR、血管造影术或CT等高速成像中，难以获取数次X射线照射之间的暗电流图像。由于该原因，在这类情况下，X射线检测器经常使用在X射线照射之前获取的暗电流图像。

然而，通常，在这类X射线检测器中，暗电流成分在驱动刚开始之后常常是不稳定的。因此，为了提高获得的图像的质量，需要保证从开始驱动到X射线照射有一定时间段。另一方面，为了提高X射线成像设备的可操作性，优选在操作者按下开始开关(例如，X射线照射开关)时迅速开始X射线照射。

为了解决该权衡问题，日本特开平07-236093号公报公开了一种用于根据成像时间、固态成像装置的温度、像素值和像素位置等改变和使用预先存储的暗电流成分的技术。日本特开2007-222501号公报还公开了一种用于将驱动开始(供应电力)和像素特性变得稳定之间的时间分割成多个间隔并且预先测量并存储各间隔中的暗电流成分的技术。该技术在成像时通过减去与各间隔相对应的暗电流成分来进行校正。

在日本特开平07-236093号公报所公开的技术的情况下，当要根据成像时的状况来改变和使用预先存储的暗电流成分时，需要监视成像时的状况。这使得需要设置新的结构。另外，难以根据可能发生的所有状况精确地改变暗电流成分。

在日本特开2007-222501号公报所公开的技术的情况下，当要在各间隔中存储开始驱动之后的暗电流成分时，不可能充分考虑到由于成像时的实际状况例如成像帧频和固态成像装置的温度而引起的误差。

用以解决上述权衡问题的简单对策是通过始终驱动X射线检测器，即始终向X射线检测器通电来稳定暗电流成分。然而，在这种情况下，恐怕例如电力消耗将会增加并且该设备的使用寿命将会缩短。

发明内容

本发明提供一种通过使用基于在发出成像开始指示和开始X射线照射之间的间隔中检测到的多个暗电流图像所生成的校正数据来执行暗电流校正处理的技术。

根据本发明的第一方面，提供一种放射线成像设备，用于获得被摄体的放射线图像，所述放射线成像设备包括：照射单元；放射线检测单元，用于检测放射线；指示单元，用于发出放射线成像开始指示；设置单元，用于设置所述指示单元发出成像开始指示的时刻和开始所述照射单元的照射的时刻之间的照射延迟时间；第一获取单元，用于在所述设置单元所设置的照射延迟时间期间，从所述放射线检测单元获取多个暗电流图像；第二获取单元，用于在所述设置单元所设置的照射延迟时间结束之后，从所述放射线检测单元获取所述被摄体的放射线图像；校正数据生成单元，用于基于所述第一获取单元所获取的多个暗电流图像，生成对于所述第二获取单元所获取的放射线图像的校正数据；以及校正单元，用于通过使用所述校正数据生成单元所生成的校正数据，对所述第二获取单元所获取的放射线图像执行暗电流校正处理。

根据本发明的第二方面，提供一种放射线成像设备的暗电流校正方法，所述放射线成像设备包括照射单元和放射线检测单元，所述暗电流校正方法包括以下步骤：发出放射线成像开始指示；设置发出成像开始指示的时刻和开始所述照射单元的照射的时刻之间的照射延迟时间；在所设置的照射延迟时间期间，从所述放射线检测单元获取多个暗电流图像；在所设置的照射延迟时间结束之后，获取被摄体的、基于所述放射线检测单元检测到的放射线的放射线图像；基于所获取的多个暗电流图像，生成对于所获取的被摄体的放射线图像的校正数据；以及使用所生成的校正数据，对所述被摄体的所述放射线图像执行暗电流校正处理。

通过以下参考附图对典型实施例的说明，本发明的其它特征将显而易见。

附图说明

图1是示出根据本发明实施例的X射线成像设备100的结构的框图；

图2是示出图1所示的X射线成像设备100中的处理过程的例子的流程图；

图3是示出暗电流图像的概况的例子的图；

图4是示出暗电流图像中给定像素的像素值如何改变的概况的例子的图；

图5是示出根据第二实施例的X射线成像设备100的结构的例子的框图；

图6是示出根据第二实施例的X射线成像设备100中的处理过程的例子的流程图；以及

图7是示出成像区域和照射延迟时间之间的对应关系的例子的图。

具体实施方式

下面参考附图详细说明本发明的典型实施例。应该注意，除非特别说明，否则这些实施例中所述的组件的相对配置、数值表达式和数值不限制本发明的范围。

尽管下面的实施例将举例说明使用X射线作为放射线的情况，但是，放射线不局限于X射线，并且可以使用包括γ射线的电磁波以及还有α射线和β射线等。

第一实施例

图1是示出根据本发明实施例的X射线成像设备100的结构的例子的框图。

X射线成像设备100包括一个或多个计算机。计算机包括例如CPU等主控制单元以及ROM(只读存储器)和RAM(随机存取存储器)等存储单元。该计算机还可包括网卡等通信单元以及键盘、鼠标、显示器和触摸面板等输入/输出单元。注意，这些构件通过总线等相互连接，并且通过使主控制单元执行存储在存储单元中的程序来控制这些构件。

在这种情况下，X射线成像设备100包括X射线检测单元101、成像开始指示单元102、照射延迟设置单元103、暗电流图像获取单元104、X射线图像获取单元105、暗电流校正数据生成单元106和暗电流校正单元107。X射线成像设备100还设置有帧频设置单元119、X射线照射单元120、成像控制单元121、图像处理单元122和图像显示单元123。

X射线照射单元120用作放射线照射单元，并且将放射线(X射线)照射(发射)至被摄体(例如，人体)。帧频设置单元119设置X射线成像时的帧频。

X射线检测单元101用作放射线检测单元，并且检测透过被摄体的放射线。这使得X射线成像设备100可以获得基于被摄体的放射线图像(在本实施例中为X射线图像)。成像开始指示单元102发出X射线成像开始指示。成像开始指示单元102基于例如操作者的操作(例如，按下X射线发射开关)发出成像开始指示。

照射延迟设置单元103设置从成像开始指示单元102发出成像开始指示的时刻起到开始X射线照射的时刻为止的时间(以下称为照射延迟时间)，即发出成像开始指示和开始X射线照射之间的时间段。暗电流图像获取单元104从X射线检测单元101读出并获取多个暗电流图像，直到在成像开始指示单元102发出成像开始指示之后经过了通过照射延迟设置单元103所设置的照射延迟时间为止。

X射线图像获取单元105用作放射线图像获取单元，并且基于通过X射线检测单元101检测到的X射线，读出并获取一个或多个X射线图像。在照射延迟时间过去之后X射线照射单元120正在照射X射线时，X射线图像获取单元105重复获取X射线图像。

暗电流校正数据生成单元106基于由暗电流图像获取单元104获取的多个暗电流图像，生成暗电流校正数据。暗电流校正数据生成单元106根据由X射线图像获取单元105获取的一个或多个X射线图像，生成暗电流校正数据。暗电流校正数据生成单元106设置有分析多个暗电流图像的分析单元110。也就是说，暗电流校正数据生成单元106基于通过分析单元110获得的分析结果，生成暗电流校正数据。

暗电流校正单元107通过对X射线图像执行暗电流校正处理，从由X射线图像获取单元105获取的一个或多个X射线图像去除暗电流成分。暗电流校正单元107通过从由X射线图像获取单元105获取的X射线图像减去由暗电流校正数据生成单元106生成的暗电流校正数据，进行暗电流校正处理。

图像处理单元122对暗电流校正后的X射线图像执行图像处理。注意，图像处理包括例如增强处理、动态范围压缩处理、降噪处理和半色调处理。图像显示单元123显示通过图像处理单元122处理后的X射线图像。

成像控制单元121全面控制X射线成像设备100中的成像处理。尽管图1未示出，但是成像控制单元121与各组件连接。成像控制单元121控制例如X射线检测单元101的驱动和X射线照射单元120的X射线照射等的处理。

尽管至此为止说明了X射线成像设备100的结构的例子，但是不是必须以图1所示的方式实现该设备中设置的组件。例如，可以将上述各功能结构配置为多个装置，并且作为系统来实现上述各功能结构。

接着参考图2～4说明图1所示的X射线成像设备100中的成像处理的例子。图2是示出图1所示的X射线成像设备100中的处理过程的例子的流程图。图3是示出暗电流图像的概况的例子的图。图4是示出暗电流图像中给定像素的像素值如何改变的概况的例子的图。

当开始该处理时，首先，X射线成像设备100使帧频设置单元119设置X射线成像时的帧频Fr(S201)。根据成像技术自动设置帧频Fr的设置值。在这种情况下，例如，将帧频Fr设置为60[fps]。

一旦设置了帧频，X射线成像设备100就使照射延迟设置单元103设置表示从发出成像开始指示的时刻起到开始X射线照射的时刻为止的时间的照射延迟时间Td(S202)。如果这种情况下设置了长的照射延迟时间，则由于可在暗电流成分稳定的状态下获取暗电流图像，因而提高了通过成像所获得的图像的质量。如果设置了短的照射延迟时间，则由于该设备快速进行X射线照射，因而提高了可操作性。尽管照射延迟时间的设置值和设置方法没有特别限制，但是在本实施例中，假定该设备自动设置预定的固定值(Td＝0.3[秒])。

X射线成像设备100使成像开始指示单元102发出X射线成像开始指示(S203)。如上所述，成像开始指示单元102基于操作者的操作(例如，按下X射线发射开关)发出该指示。

一旦发出了成像开始指示，X射线成像设备100就使成像控制单元121驱动X射线检测单元101(S204)。X射线成像设备100使暗电流图像获取单元104获取由X射线检测单元101检测到的多个暗电流图像，直到在步骤S203的处理中发出成像开始指示之后经过了照射延迟时间Td为止(S205)。图3示意性示出步骤S205的暗电流图像获取处理。横坐标表示从发出成像开始指示起的经过时间。附图标记Id1、Id2、Id3、......、Idn表示以帧频Fr获取的暗电流图像。暗电流图像保持各像素的像素值p(x，y)，其中，通过坐标(x，y)指定或表示各像素。

然后，X射线成像设备100使分析单元110使用多个暗电流图像生成表示各像素值随时间变化的暗电流函数Fxy(t)(S206)。换句话说，对于每一像素，使用多个暗电流图像生成表示像素值随时间变化的函数Fxy(t)。更具体地，如图4所示，假定各暗电流图像Id1、Id2、Id3、......、Idn中以坐标(x，y)表示的各像素的像素值p(x，y)是已知数据，则生成表示像素值在时间方向上的变化的暗电流函数Fxy(t)。对于每一暗电流图像中的所有坐标(x，y)，生成暗电流函数Fxy(t)。换句话说，对于每一暗电流图像中的各像素生成暗电流函数Fxy(t)。

存在各种用于根据多个已知数据生成近似函数(在这种情况下为暗电流函数Fxy(t))的已知方法。要使用的方法没有特别限制。本实施例生成下面的近似函数，该近似函数的特征在于：相对于经过时间的增加，该近似函数单调非增(还称为单调非递增)或单调非减(还称为单调非递减)，这是暗电流成分的典型特征之一；并且在经过时间无限大时，该近似函数收敛至预定值。例如，本实施例通过指数函数模型“Fxy(t)＝A·exp(B·t)+C”估计A、B和C(其中，t表示在发出成像开始指示之后的经过时间)。利用该运算，本实施例生成近似函数。在这种情况下，C表示在经过时间无限大时的收敛值。已知，如果C是已知值，则可以通过最小二乘法估计A和B，并且可以计算出R平方值，作为近似函数的适合指标之一。由于该原因，向C赋予给定初始值，并且搜索在改变C的同时使R平方值最大的A和B。这使得可以生成暗电流函数Fxy(t)。还可以通过使用多个函数模型进行上述估计，并且基于适当指标选择被设置为候选近似函数的函数模型中的一个。

一旦生成了每一像素的暗电流函数，X射线成像设备100就使X射线照射单元120开始X射线照射(S207)。X射线照射单元120在成像控制单元121的控制下进行该照射。照射的X射线在衰减的同时透过被摄体(未示出)，并且到达X射线检测单元101。结果，在X射线检测单元101中积累表示被摄体的放射线图像的电荷。

当开始X射线照射时，X射线成像设备100重复步骤S208～S212的处理，以进行X射线成像处理。X射线成像设备100以与在步骤S202的处理中所设置的帧频Fr相对应的频率执行该处理。当开始X射线成像处理时，首先，X射线成像设备100使X射线图像获取单元105获取积累在X射线检测单元101中的被摄体的放射线图像，作为X射线图像(S208)。X射线成像设备100使暗电流校正数据生成单元106基于通过步骤S 207的处理所生成的暗电流函数Fxy(t)和从发出成像开始指示起的经过时间t，生成暗电流校正数据(S209)。更具体地，暗电流校正数据生成单元106将经过时间t输入至对应于暗电流图像的坐标(x，y)处的各像素所生成的暗电流函数Fxy(t)，并且通过各像素的函数获得输出值。暗电流校正数据生成单元106可视化(或者获得)该输出值，作为相应像素的像素值，从而生成暗电流校正数据。

一旦生成了暗电流校正数据，X射线成像设备100就使暗电流校正单元107通过执行暗电流校正处理获得校正图像(S210)。也就是说，暗电流校正单元107从通过步骤S208的处理所获取的X射线图像中的各X射线图像减去先前与相应X射线图像对应生成的相关暗电流校正数据。在这种情况下，进行减法就是进行图像间相应坐标处的像素的像素值之间的运算。换句话说，从X射线图像的各像素值减去各像素的暗电流数据。

在图像处理单元122对校正后的各X射线图像执行图像处理之后(S211)，X射线成像设备100使图像显示单元123显示经过了图像处理的X射线图像(S212)。

随后，X射线成像设备100判断是否发出了成像结束指示。例如，基于操作者的操作(释放X射线发射开关)发出成像结束指示。如果发出了成像结束指示(步骤S213为“是”)，那么终止该处理；否则(步骤S213为“否”)，处理返回至步骤S208。

注意，成像结束指示不必总是基于操作者的操作。例如，当经过了预定成像时间时，可以自动发出成像结束指示。

如上所述，第一实施例基于在发出成像开始指示的时刻和开始X射线照射的时刻之间的间隔中检测到的多个暗电流图像，生成校正数据，并且通过使用该校正数据执行暗电流校正处理。与不具有该结构的设备相比，这使得可以根据成像时的状况执行精确的暗电流校正。由于该原因，例如，本实施例不存在下面的问题：被配置成通过始终驱动X射线检测单元来校正暗电流的结构所遇到的电力消耗的增加和产品的使用寿命的缩短。另外，无需设置任何用于监视成像时例如成像装置的温度等的状况的新结构。

第二实施例

接着说明第二实施例。图5是示出根据第二实施例的X射线成像设备100的结构的例子的框图。该结构与第一实施例中所述的图1所示的结构的不同在于设置有用于输入与被摄体有关的成像信息的成像信息输入单元508。注意，其余结构与第一实施例中的相同，因此省略对这些结构的说明，并且下面主要对不同之处进行说明。

接着参考图6和7说明根据第二实施例的X射线成像设备100中的成像处理的例子。图6是示出根据第二实施例的X射线成像设备100中的处理过程的例子的流程图。图7是示出成像区域和照射延迟时间之间的对应关系的例子的图。

当开始该处理时，首先，X射线成像设备100使成像信息输入单元508从该设备的外部(或者该设备的内部)输入成像信息，并且将成像信息发送至照射延迟设置单元103(S601)。成像信息可被预先存储在信息输入单元中，可被从X射线设备的内部存储部件(例如，存储器)输入至输入单元508，或者可被从CD、闪存存储器装置等外部存储部件输入至输入单元508。还可以通过LAN、WAN或因特网等网络将成像信息输入至输入单元508。例如，成像信息包括成像技术、成像区域、成像体位、X射线照射条件(放射线照射条件)、成像请求源、被摄体(要检查的被摄体)的大小和被摄体的年龄。本实施例将举例说明成像信息是成像区域(例如，胸部区域、腹部区域、四肢、儿童的胸部区域和头部区域)的情况。例如，基于操作者通过操作面板等的操作输入成像信息。注意，如果成像信息是成像区域或成像体位等，则可以通过模式匹配处理等在该设备侧自动识别该信息。

然后，X射线成像设备100使帧频设置单元119设置X射线成像时的帧频Fr(S602)。根据成像技术自动设置帧频Fr的设置值。在这种情况下，将帧频Fr设置为60[fps]。

一旦设置了帧频，X射线成像设备100就使照射延迟设置单元103设置照射延迟时间Td(S603)。在本实施例中，基于通过步骤S601的处理输入的成像信息(在这种情况下为成像区域)设置照射延迟时间。这样最佳地控制图像质量和可操作性。例如，通过使用图7所示的表等设置基于成像区域的照射延迟时间。假定将使用图7所示的表。在这种情况下，如果成像区域是“儿童的胸部区域”，则设置相对短的时间段Td＝0.1[秒]。这是因为，在对“儿童的胸部区域”成像时，重要的是开始成像的定时。然而，例如，对于头部区域，开始成像的定时不大重要，并且Td＝0.6[秒]。

然后，X射线成像设备100使成像开始指示单元102发出X射线成像开始指示(S604)。如上所述，例如，基于操作者的操作(例如，按下X射线发射开关)发出该指示。注意，步骤S604和随后的步骤的处理与第一实施例所述的图2的步骤S203和随后的步骤的处理相同，因此不再重复进行说明。

如上所述，第二实施例输入成像信息，并且基于输入的成像信息设置成像延迟时间。这使得可以在满足对X射线成像设备的可操作性的要求和通过成像所获得的图像的质量这两者的同时，进行成像处理。

以上是本发明的代表性实施例的例子。然而，本发明不局限于附图示出的上述实施例，并且在不改变本发明的精神的范围内，可以根据需要修改并实施本发明。

注意，本发明可以作为系统、设备、方法、程序和记录介质等来实施。更具体地，本发明可应用于包括多个装置的系统或者实施为单个装置的设备。

本发明基于在发出成像开始指示的时刻和开始放射线照射的时刻之间的间隔中检测到的多个暗电流图像，生成校正数据，并且通过使用该校正数据执行暗电流校正处理。这使得与不具有该结构的设备相比，可以根据成像时的状况精确地执行暗电流校正。

其它实施例

还可以通过读出并执行记录在存储装置上的程序以执行上述实施例的功能的系统或设备的计算机(或者CPU或MPU等装置)、以及下面的方法实现本发明的各方面，其中，系统或设备的计算机通过例如读出并执行记录在存储装置上的程序以执行上述实施例的功能，来执行上述方法的各步骤。由于该原因，例如，通过网络或者通过用作存储装置的各种类型的记录介质(例如，计算机可读存储介质)，将该程序提供至计算机。该程序可被承载于计算机可读存储介质等载体介质或传输介质(信号)上。

尽管参考典型实施例说明了本发明，但是应该理解，本发明不局限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释，以包含所有这类修改、等同结构和功能。

Claims (8)

1.一种放射线成像设备，用于获得被摄体的放射线图像，所述放射线成像设备包括：

照射单元；

放射线检测单元，用于检测放射线；

指示单元，用于发出放射线成像开始指示；

设置单元，用于设置所述指示单元发出成像开始指示的时刻和开始所述照射单元的照射的时刻之间的照射延迟时间；

第一获取单元，用于在所述设置单元所设置的照射延迟时间期间，从所述放射线检测单元获取多个暗电流图像；

第二获取单元，用于在所述设置单元所设置的照射延迟时间结束之后，从所述放射线检测单元获取所述被摄体的放射线图像；

校正数据生成单元，用于基于所述第一获取单元所获取的多个暗电流图像，生成对于所述第二获取单元所获取的放射线图像的校正数据；以及

校正单元，用于通过使用所述校正数据生成单元所生成的校正数据，对所述第二获取单元所获取的放射线图像执行暗电流校正处理。

2.根据权利要求1所述的放射线成像设备，其特征在于，所述校正数据生成单元包括用于分析所述多个暗电流图像在时间方向上的变化的分析单元，并且基于所述分析单元所获得的分析结果，生成与所述放射线图像相对应的所述校正数据。

3.根据权利要求2所述的放射线成像设备，其特征在于，

所述分析单元生成表示所述多个暗电流图像在时间方向上的变化的函数；以及

所述校正数据生成单元基于所述分析单元所生成的函数、以及从所述指示单元发出所述成像开始指示的时刻到所述第二获取单元获取所述被摄体的所述放射线图像的时刻的经过时间，生成所述校正数据。

4.根据权利要求3所述的放射线成像设备，其特征在于，表示所述多个暗电流图像在时间方向上的变化的所述函数的特征是相对于所述经过时间的增加为单调非增或单调非减函数，并且在所述经过时间无限大时变为常数。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的放射线成像设备，其特征在于，所述设置单元基于所述被摄体的成像信息，设置所述指示单元发出所述成像开始指示的时刻和开始所述照射的时刻之间的所述照射延迟时间。

6.根据权利要求5所述的放射线成像设备，其特征在于，所述成像信息包括成像技术、成像区域、成像体位、X射线照射条件、成像请求源、被摄体的大小和被摄体的年龄中的至少一个。

7.根据权利要求1所述的放射线成像设备，其特征在于，还包括：

图像处理单元，用于对由所述校正单元校正后的所述放射线图像执行图像处理；以及

显示单元，用于显示由所述图像处理单元处理后的所述放射线图像。

8.一种放射线成像设备的暗电流校正方法，所述放射线成像设备包括照射单元和放射线检测单元，所述暗电流校正方法包括以下步骤：

发出放射线成像开始指示；

设置发出成像开始指示的时刻和开始所述照射单元的照射的时刻之间的照射延迟时间；

在所设置的照射延迟时间期间，从所述放射线检测单元获取多个暗电流图像；

在所设置的照射延迟时间结束之后，获取被摄体的、基于所述放射线检测单元检测到的放射线的放射线图像；

基于所获取的多个暗电流图像，生成对于所获取的被摄体的放射线图像的校正数据；以及

使用所生成的校正数据，对所述被摄体的所述放射线图像执行暗电流校正处理。

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