CN110974271A - 射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质 - Google Patents

射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质 Download PDF

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CN110974271A CN201911344989.7A CN201911344989A CN110974271A CN 110974271 A CN110974271 A CN 110974271A CN 201911344989 A CN201911344989 A CN 201911344989A CN 110974271 A CN110974271 A CN 110974271A
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Abstract

本发明实施例公开了一种射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质,该方法包括:在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。解决了现有技术很难兼顾射线影像设备的成像质量与成像效率的问题,达到了在保证成像质量的前提下,提高成像效率的技术效果。

Description

射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质
技术领域
本发明实施例涉及医疗设备领域,尤其涉及一种射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质。
背景技术
探测器是一种结构高度复杂的X射线数字化成像装置,可用于替代传统胶片的成像方法。由于结构特征和制造工艺的限制,探测器输出的原始图像中存在多种瑕疵,直接影响输出的图像质量,因此有必要对探测器进行校正,其中暗场校准的作用是将平板内部元器件产生的电荷去除,只留下X射线生成的那部分电荷转出来的灰度值,即将暗电流转化成一个数值,然后在平板输出图像时,将该值减掉。然而,探测器产生的图像质量不仅与X线强度有关,还与探测器的温度有关,其温度越高,产生的暗电流越强,输出的图像像素值就越高,温度越低输出的图像的像素值就会越低。如果医院现场的环境温度没有控制在恒温,那么射线影像设备输出的预览图像的质量就会随着温度变化发生波动。通常情况下,图像在输出前至少需要进行一次暗场处理,即处理后图像=未处理图像-暗场图像,也就是说图像采集时的平板温度和暗场校准时的温度越接近,那么输出的图像质量就会越高。而暗场图像的生成一般都是服务工程师去医院装机或者保养的时候,在特定温度下进行暗场校准生成的。而医院由于所在地区、条件以及技师素质的差异,不可能保证平板的温度达到生厂商规定的条件才去操作设备,因此采集的图像可能出现白图(低温采集的未处理图像-高温采集的暗场图像)或灰图(高温采集的未处理图像-低温采集的暗场图像)。
针对这样的问题,一些影像厂商提供的方法是为技师提供暗场校准的工具,这样当出现这种问题时,用户可以使用此工具解决,但是患者需要重新进行拍摄;还有一种方法是在每次采集图像之前手动进行一次暗场校准,但是这种方法会严重地延长技师等待曝光的时间。
综上所述,现有技术很难兼顾射线影像设备的成像质量与成像效率。
发明内容
本发明实施例提供了一种射线影像设备的成像方法、装置、射线影像设备及介质,解决了现有技术很难兼顾射线影像设备的成像质量与成像效率的问题,达到了在保证成像质量的前提下,提高成像效率的技术效果。
第一方面,本发明实施例提供了一种射线影像设备的成像方法,包括:
在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;
在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;
根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
第二方面,本发明实施例还提供了一种射线影像设备的成像装置,包括:
并行模块,用于在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;
成像模块,用于在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;
输出模块,用于根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
第三方面,本发明实施例还提供了一种射线影像设备,包括:
射线源;
探测器,设置于所述射线源的对侧;
暗场校准装置,用于执行所述暗场图像获取流程;
处理器,用于在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,在控制暗场校准装置执行暗场图像获取流程的同时执行成像准备流程,直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及控制所述射线源和所述探测器执行成像扫描流程;以及根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
第四方面,本发明实施例还提供了一种包含计算机可执行指令的存储介质,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行任意实施例所述的射线影像设备的成像方法。
本发明实施例提供的射线影像设备的成像方法,包括:在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至暗场图像获取流程结束,在暗场图像获取流程中同时执行与之不冲突的成像准备流程,既能提高射线影像设备的成像速度,又能提高用户体验;在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程,其中,成像请求对应成像准备流程和成像扫描流程,暗场图像获取流程完成后,释放探测器,此时可以进行成像准备流程的剩余部分和成像扫描流程;根据暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。由于暗场图像获取流程的耗时较短,因此采用并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程不会明显增加成像时间,从而不会使用户明显地感觉系统在执行成像过程的同时还到在进行暗场图像获取流程,用户体验效果较好。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图做一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一提供的射线影像设备的成像方法的流程图;
图2A是本发明实施例二提供的射线影像设备的成像装置的流程图;
图2B是本发明实施例二提供的射线影像设备的成像装置的流程图;
图3是本发明实施例三提供的射线影像设备的结构框图;
图4A是本发明实施例三提供的成像方法示意图;
图4B是本发明实施例三提供的退出成像流程的示意图;
图5是本发明实施例三提供的又一射线影像设备的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,以下将参照本发明实施例中的附图,通过实施方式清楚、完整地描述本发明的技术方案,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
图1是本发明实施例一提供的射线影像设备的成像方法的流程图。本实施例的技术方案适用于自动对射线影像设备进行暗场校准的情况,其中,射线影像设备可以是DR(Digital Radiography,直接数字平板X线成像系统)和CT(Computed Tomography,电子计算机断层扫描)等依赖射线源与探测器进行成像的影像装置。该方法可以由本发明实施例提供的射线影像设备的成像装置来执行,该装置可以采用软件和/或硬件的方式实现,并配置在处理器中应用。该方法具体包括如下步骤:
S101、在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至暗场图像获取流程结束。
其中,暗场图像获取流程用于获取探测器的暗场图像。
其中,成像请求对应成像准备流程和成像扫描流程。成像准备流程包括设备状态自检、扫描协议调用等不依赖于探测器的项目,成像扫描流程至少包含需依赖探测器完成的扫描数据采集。优选地,二者所包含的具体内容可根据实际需求进行设置。
为了减少成像请求的响应时间以提高用户体验,本实施例中,如果在暗场图像获取流程进行中检测到成像请求,则并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程,直至暗场图像获取流程结束。
可以理解的是,在暗场图像获取流程结束时,成像准备流程可能完成,也可能没有完成。
S102、在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程,其中,成像请求对应成像准备流程和成像扫描流程。
暗场图像获取流程结束时,如果成像准备流程没有完成,则串行执行并完成成像准备流程的剩余部分以及成像扫描流程;若成像准备流程完成了,则执行并完成成像扫描流程。
可以理解的是,如果成像准备流程所包含项目的耗时较短,那么成像准备流程可能在暗场图像获取流程之前结束,此时需等待暗场图像获取流程结束再启动成像扫描流程。
S103、根据暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
对于射线影像设备,当前得到的重建图像减去暗场图像的差值才是用户期望的目标图像。为此本实施例在通过暗场图像获取流程获取到用于暗场校准的暗场图像,以及通过成像扫描流程获取到扫描数据之后,对该扫描数据进行图像重建以得到重建图像,然后执行重建图像减去暗场图像的操作,并将该操作的结果作为目标图像。
可以理解的是射线影像设备的暗场图像获取流程可以随时执行,只是频繁地执行暗场图像获取流程会降低射线影像设备的成像效率。考虑到探测器的暗场图像受温度变化影响,而且实际成像过程中需要从目标图像中减去与当前温度对应暗场图像。为此,在一些实施例中,定时检测处于待机状态的探测器的当前温度,并在检测到处于待机状态的探测器的当前温度与前一次暗场校准时的温度的差值超出预设温差阈值时,才启动暗场图像获取流程。
由于暗场图像获取流程需要探测器采集其自身对应的暗场图像,成像扫描流程需要探测器采集扫描对象的扫描数据,因此探测器在暗场图像获取流程和成像扫描流程均处于工作状态,不能同时进行。为此本实施例仅对处于待机状态的射线影像设备的探测器执行暗场图像获取流程。
成像扫描流程结束之后,射线影像设备通常会自动进入待机状态以等待下一次成像扫描。为此,本实施例在检测到射线影像设备进入待机状态时,启动温检定时器,以使该温检定时器在每次定时结束时启动温度检测机构检测探测器的温度。
其中,温检定时器的定时长短可由用户根据实际需求进行设定。
射线影像设备在对扫描对象进行成像扫描之前,需要技师对扫描对象进行身份核验和摆位,这个过程通常需要几分钟的时间,而整个暗场图像获取流程的时间小于一分钟,比如二三十秒。因此定时时间的选择需要保证射线影像设备在两次成像扫描之间至少可以进行一次暗场图像获取流程。
在一些实施例中,在检测到射线影像设备进入待机状态时,启动温度检测机构对探测器进行温度检测,如果探测器的当前温度与前一次暗场校准时的温度的差值超出预设温差阈值,则启动自动暗场图像获取流程,并在暗场图像获取流程结束之后,启动温检定时机构。如果探测器的当前温度与前一次暗场校准时的温度的差值没有超出预设温差阈值,则直接启动温检定时机构。
如果在非暗场图像获取流程中段接收到成像请求,则根据该成像请求串行执行成像准备流程和成像扫描流程。由于非暗场图像获取流程中段为温检定时器的计时时段,因此在响应成像请求串行执行成像准备流程和成像扫描流程的同时,还优选关闭温检定时器的定时。
本发明实施例提供的射线影像设备的成像方法,包括:在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至暗场图像获取流程结束,在暗场图像获取流程中同时执行与之不冲突的成像准备流程,既能提高射线影像设备的成像速度,又能提高用户体验;在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程,其中,成像请求对应成像准备流程和成像扫描流程;暗场图像获取流程完成后,释放探测器,此时可以进行成像准备流程的剩余部分和成像扫描流程;根据暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。自动执行暗场图像获取流程无需技师人工选择暗场图像获取流程的执行时机,既能减少技师的工作量,又能及时进行暗场校,由于暗场图像获取流程的耗时较短,因此采用并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程不会明显增加成像时间,使用户感觉无需额外等待,体验效果较好,相比实时获取温度并进行暗场校正,大幅减少了暗场校正所需的系统资源,提高系统效率。
实施例二
图2A是本发明实施例二的射线影像设备的成像装置的结构框图。该装置用于执行上述任意实施例所提供的射线影像设备的成像方法,该装置可选为软件或硬件实现。该装置包括:
并行模块11,用于在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;
成像模块12,用于在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;
输出模块13,用于根据暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
可选地,如图2B所示,还包括启动模块102,用于在检测到处于待机状态的探测器的当前温度与前一次暗场校准时的温度的差值超出预设温差阈值时,启动暗场图像获取流程。
可选地,成像模块具体可用于在暗场图像获取流程完成时,如果当前的成像准备流程已完成,则执行成像扫描流程,如果当前的成像准备流程尚未完成,则串行执行成像准备流程的剩余部分和成像扫描流程。
如图2B所示,还包括温度检测模块101,该温度检测模块用于在成像扫描流程结束时,控制射线影像设备进入待机状态,以及启动用于检测探测器温度的温度检测机构。
成像模块12还用于如果在非暗场图像获取流程中接收到成像请求,则串行执行成像准备流程和成像扫描流程。
成像模块12具体还可用于如果在非暗场图像获取流程中接收到成像请求,则结束温检定时器的计时,并串行执行成像准备流程和成像扫描流程。
本发明实施例提供的射线影像设备的成像装置的技术方案,包括通过并行模块在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,成像请求对应成像准备流程和成像扫描流程;通过成像模块在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;通过输出模块根据暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。自动执行暗场图像获取流程,无需技师人工选择暗场图像获取流程的执行时机,既能减少技师的工作量,又能及时进行暗场校,由于暗场图像获取流程时间较短,因此采用并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程不会明显增加成像时间,使用户感觉无需额外等待,体验效果较好。
本发明实施例所提供的射线影像设备的成像装置可执行本发明任意实施例所提供的射线影像设备的成像方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
实施例三
图3为本发明实施例提供的射线影像设备的结构示意图,如图3所示,该设备包括射线源21、探测器22、暗场校准装置23和处理器24;暗场校准装置23用于执行暗场图像获取流程;处理器24用于在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,在控制暗场校准装置23执行暗场图像获取流程的同时执行成像准备流程,直至暗场图像获取流程结束,其中,成像请求对应所成像准备流程和成像扫描流程;在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及控制射线源21和探测器22执行成像扫描流程;以及根据暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
优选地,该设备还包括温度检测机构25和比较器26,温度检测机构25用于定时检测探测器温度;比较器26用于探测器22当前温度与前一次暗场校准温度的差值与预设温差阈值之间的大小,并在该差值大于预设温差阈值时触发暗场校准装置启动暗场图像获取流程。
其中,成像扫描流程至少包含需依赖探测器完成的扫描数据采集,比如控制射线源向扫描对象输出成像射线以得到穿过扫描对象的衰减射线;控制探测器接收衰减射线并根据所接收的衰减射线生成扫描数据。
其中,成像准备流程包括设备状态自检、扫描协议调用等不依赖于探测器的项目。优选地,成像准备流程和成像扫描路程所包含的具体内容可根据实际需求进行设置。
由于暗场图像获取流程需要探测器采集其自身对应的暗场图像,成像扫描流程需要探测器采集扫描对象的扫描数据,因此探测器在暗场图像获取流程和成像扫描流程均处于工作状态,不能同时进行,只能在射线影像设备的待机状态通过暗场校准装置执行暗场图像获取流程。
射线影像设备在对扫描对象进行成像扫描之前,需要技师对扫描对象进行身份核验和摆位,这个过程通常需要几分钟的时间,而整个暗场图像获取流程的时间小于一分钟,比如二三十秒。因此文件定时器的定时时间优选需要保证射线影像设备在两次成像扫描之间至少可以进行一次暗场图像获取流程。
可以理解的是,在暗场图像获取流程结束时,成像准备流程可能完成,也可能没有完成。如果成像准备流程没有完成,则处理器串行执行并完成成像准备流程的剩余部分和成像扫描流程;若成像准备流程完成了,则处理器执行并完成成像扫描流程。
可以理解的是,如果成像准备流程所包含项目的耗时较短,那么成像准备流程可能在暗场图像获取流程之前结束,此时需等待暗场图像获取流程结束才启动成像扫描流程。
示例性的,如图4A所示,以射线影像设备是DR为例,其处理器包括接收模块、连接暗场校准装置的服务模块,以及执行成像准备流程和成像扫描流程的任务流模块。接收模块接收到成像请求之后,将该成像请求送至服务模块,如果服务模块检测到暗场校准装置没有进行暗场图像获取流程,则将启动任务流的命令发送至任务流模块,该任务流模块根据该启动任务流命令串行执行成像准备流程和成像扫描流程,并向服务模块反馈任务流已启动的信号;如果服务模块检测到暗场校准装置正在进行暗场图像获取流程,则将启动任务流命令发送至任务流模块,该任务流模块根据该启动任务流命令启动成像准备流程以等待暗场校准装置完成暗场图像获取流程,服务模块在检测到暗场校准装置完成暗场图像获取流程之后,通知任务流模块暗场图像获取流程结束,任务流模块如果检测到成像准备流程完成,则直接启动执行成像扫描流程,并向服务模块反馈任务流已启动的信号;如果检测到成像准备流程没有完成,则串行执行成像准备流程的剩余部分和成像准备流程结束后执行成像扫描流程,并向服务模块反馈任务流已启动的信号。
成像扫描流程结束之后,射线影像设备通常会自动进入待机状态以等待下一次成像扫描。为此,本实施例处理器在检测到射线影像设备进入待机状态时,启动温检定时器,以使该温检定时器在每次定时结束时启动温度检测机构检测探测器的温度。
示例性的,如图4B所示,任务流模块在成像扫描流程完成之后生成成像结束信号,并将该成像结束信号发送至接收模块,以使该接收模块向服务模块发送退出成像信号,服务模块据此向任务流模块发送退出任务流信号,任务流模块据此退出任务流,并将退出结果发送至服务模块,服务模块根据该退出结果启动温检定时器,以通过温检定时器适时地触发温度检测机构,从而使温度检测机构检测探测器的温度,并将所检测的结果发送至其连接的比较器,比较器存储有触发前一次暗场校准时的温度,如果当前的温度与前一次暗场校准时的温度的差值超出预设温差阈值,则触发暗场校准装置完成探测器的暗场图像获取流程,并更新比较器当前存储的温度。
相较于现有技术,本实施例处理器自动执行暗场图像获取流程无需技师人工选择暗场图像获取流程的执行时机,既能减少技师的工作量,又能及时进行暗场校;而且由于暗场图像获取流程的耗时较短,采用并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程不会明显增加成像时间,使用户感觉无需额外等待,体验效果较好。
如图5所示,该设备还包括存储器27、输入装置28以及输出装置29;设备中处理器26的数量可以是一个或多个,图5中以一个处理器26为例;设备中的处理器26、存储器27、输入装置28以及输出装置29可以通过总线或其他方式连接,图5中以通过总线连接为例。
存储器27作为一种计算机可读存储介质,可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块,如本发明实施例中的射线影像设备的成像方法对应的程序指令/模块(例如,并行模块11、成像模块12以及输出模块13)。处理器26通过运行存储在存储器27中的软件程序、指令以及模块,从而执行设备的各种功能应用以及数据处理,即实现上述的射线影像设备的成像方法。
存储器27可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序;存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外,存储器27可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中,存储器27可进一步包括相对于处理器26远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
输入装置28可用于接收输入的数字或字符信息,以及产生与设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。
输出装置29可包括显示屏等显示设备,例如,用户终端的显示屏。
实施例四
本发明实施例四还提供了一种包含计算机可执行指令的存储介质,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种射线影像设备的成像方法,该方法包括:
在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;
在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;
根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
当然,本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作,还可以执行本发明任意实施例所提供的射线影像设备的成像方法中的相关操作。
通过以上关于实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现,当然也可以通过硬件实现,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,简称RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的射线影像设备的成像方法。
值得注意的是,上述射线影像设备的成像装置的实施例中,所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的,但并不局限于上述的划分,只要能够实现相应的功能即可;另外,各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本发明的保护范围。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种射线影像设备的成像方法,其特征在于,包括:
在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;
在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;
根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束之前,还包括:
在检测到处于待机状态的探测器的当前温度与前一次暗场校准时的温度的差值超出预设温差阈值时,启动暗场图像获取流程。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程,包括:
在暗场图像获取流程完成时,如果当前的成像准备流程已完成,则执行成像扫描流程,如果当前的成像准备流程尚未完成,则串行执行所述成像准备流程的剩余部分和成像扫描流程。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在检测到处于待机状态的探测器的当前温度与前一次暗场校准时的温度的差值超出预设温差阈值时,启动暗场图像获取流程之前,还包括:
在所述成像扫描流程结束时,控制所述射线影像设备进入待机状态,以及启动用于检测所述探测器温度的温度检测机构。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述温度检测机构由对应的温检定时器触发。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,还包括:
如果在非暗场图像获取流程中接收到成像请求,则串行执行成像准备流程和成像扫描流程。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述如果在非暗场图像获取流程中接收到成像请求,则串行执行成像准备流程和成像扫描流程,包括:
如果在非暗场图像获取流程中接收到成像请求,则结束所述温检定时器的计时,并串行执行成像准备流程和成像扫描流程。
8.一种射线影像设备的成像装置,其特征在于,包括:
并行模块,用于在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,并行执行暗场图像获取流程和成像准备流程直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;
成像模块,用于在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及执行成像扫描流程;
输出模块,用于根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
9.一种射线影像设备,其特征在于,包括:
射线源;
探测器,设置于所述射线源的对侧;
暗场校准装置,用于执行所述暗场图像获取流程;
处理器,用于在暗场图像获取流程进行中接收到成像请求时,在控制暗场校准装置执行暗场图像获取流程的同时执行成像准备流程,直至所述暗场图像获取流程结束,其中,所述成像请求对应所述成像准备流程和所述成像扫描流程;在暗场图像获取流程完成时,执行成像准备流程的剩余部分,以及控制所述射线源和所述探测器执行成像扫描流程;以及根据所述暗场图像获取到的暗场图像以及成像扫描流程中获取到的扫描数据确定目标图像。
10.一种包含计算机可执行指令的存储介质,其特征在于,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求1-7中任一所述的射线影像设备的成像方法。
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