KR102490836B1 - 실시간으로 다크 이미지를 보정하기 위한 전자 장치 - Google Patents

실시간으로 다크 이미지를 보정하기 위한 전자 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR102490836B1
KR102490836B1 KR1020190025983A KR20190025983A KR102490836B1 KR 102490836 B1 KR102490836 B1 KR 102490836B1 KR 1020190025983 A KR1020190025983 A KR 1020190025983A KR 20190025983 A KR20190025983 A KR 20190025983A KR 102490836 B1 KR102490836 B1 KR 102490836B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
circuit
ray
data value
image
Prior art date
Application number
KR1020190025983A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20190110437A (ko
Inventor
박소라
송윤호
이정웅
Original Assignee
한국전자통신연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국전자통신연구원 filed Critical 한국전자통신연구원
Priority to US16/359,676 priority Critical patent/US10878547B2/en
Publication of KR20190110437A publication Critical patent/KR20190110437A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102490836B1 publication Critical patent/KR102490836B1/ko

Links

Images

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

본 발명은 방출 회로 및 프로세싱 회로를 포함한다. 방출 회로는 클럭의 주기가 제 1 주기로부터 제 2 주기로 변경된 경우, 제 2 주기의 클럭에 기초하여 제 1 엑스선을 방출한다. 프로세싱 회로는 제 1 주기 클럭에 동기화된 제어 신호에 기초하여, 제 1 엑스선에 대응하여 수신되는 제 2 엑스선에 기초하여 제 1 이미지 데이터 값을 출력하거나, 제 1 이미지 데이터 값을 보정하는데 사용되는 보정 데이터 값을 갱신한다.

Description

실시간으로 다크 이미지를 보정하기 위한 전자 장치{ELECTRONIC DEVICE CORRECTING ON DARK IMAGES IN REAL TIME}
본 발명은 전자 장치에 관한 것으로, 좀 더 상세하게는 이미지와 관련되는 데이터 값을 보정하기 위한 전자 장치에 관한 것이다.
엑스선을 이용하는 전자 장치가 다양한 산업 분야들에서 활용되고 있다. 예로서, 인체 및/또는 물체를 투시하기 위해 의료 장치 및 보안 장치는 엑스선 장치를 포함할 수 있다. 엑스선 장치는 다양한 방법들에 기초하여 엑스선을 발생시키고 엑스선을 검출할 수 있다.
엑스선 장치는 다양한 유형의 엑스선 소스를 포함할 수 있다. 예로서, 엑스선 장치는 열전자 방출 기반의 엑스선 소스와 전계방출 기반의 엑스선 소스를 포함할 수 있다. 엑스선 장치는 엑스선을 검출하기 위한 픽셀들을 포함할 수 있다. 픽셀들은 다양한 요인들에 기인하는 노이즈에 의해 왜곡된 신호를 출력할 수 있다.
엑스선 장치는 노이즈를 포함하는 신호들에 기초하여, 사용자에게 다양한 정보를 제공할 수 있다. 정확한 정보를 제공하기 위해 엑스선 장치에서 발생하는 노이즈를 감소시키기 위한 기술들이 요구되고 있다.
본 발명은, 다크 이미지와 관련되는 데이터 값에 기초하여 물체의 이미지를 나타내는 데이터 값에 대한 보정을 실시간으로 수행하도록 구성되는 전자 장치를 제공할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 전자 장치는 방출 회로 및 프로세싱 회로를 포함할 수 있다. 방출 회로는 클럭의 주기가 제 1 주기로부터 제 2 주기로 변경된 경우, 제 2 주기의 클럭에 기초하여 제 1 엑스선을 방출할 수 있다. 프로세싱 회로는 제 1 주기 클럭에 동기화된 제어 신호에 기초하여, 제 1 엑스선에 대응하여 수신되는 제 2 엑스선에 기초하여 제 1 이미지 데이터 값을 출력하거나, 제 1 이미지 데이터 값을 보정하는데 사용되는 보정 데이터 값을 갱신할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따르면, 물체의 이미지를 정확하게 나타내는 데이터 값들이 계산될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 엑스선 이미징 시스템을 보여주는 블록도 이다.
도 2는 도 1의 방출 회로의 예시적인 구성을 보여주는 블록도 이다.
도 3은 도 1의 검출 회로의 예시적인 구성을 보여주는 블록도 이다.
도 4는 도 1의 이미지 프로세싱 회로의 예시적인 구성을 보여주는 블록도 이다.
도 5는 도 4의 이미지 프로세싱 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 개념도 이다.
도 6은 도 1의 이미지 시스템에 의해 생성되는 신호들을 보여주는 그래프들 이다.
도 7은 도 4의 재귀 필터 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 개념도 이다.
도 8은 도 4의 연산 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 개념도 이다.
도 9는 도 1의 이미지 프로세싱 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 흐름도 이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예들이 상세하게 설명된다. 이하의 설명에서, 상세한 구성들 및 구조들과 같은 세부적인 사항들은 단순히 본 발명의 실시 예들의 전반적인 이해를 돕기 위하여 제공된다. 그러므로 본 발명의 기술적 사상 및 범위로부터의 벗어남 없이 본문에 기재된 실시 예들의 변형들은 통상의 기술자 의해 수행될 수 있다. 더욱이, 명확성 및 간결성을 위하여 잘 알려진 기능들 및 구조들에 대한 설명들은 생략된다. 본 명세서에서 사용된 용어들은 본 발명의 기능들을 고려하여 정의된 용어들이며, 특정 기능에 한정되지 않는다. 용어들의 정의는 상세한 설명에 기재된 사항을 기반으로 결정될 수 있다.
이하의 도면들 또는 상세한 설명에서의 회로들은 도면에 도시되거나 또는 상세한 설명에 기재된 구성 요소 이외에 다른 것들과 연결될 수 있다. 회로들 또는 구성 요소들 사이의 연결은 각각 직접적 또는 비직접적일 수 있다. 회로들 또는 구성 요소들 사이의 연결은 각각 통신에 의한 연결이거나 또는 물리적인 접속일 수 있다.
다르게 정의되지 않는 한, 본문에서 사용되는 기술적 또는 과학적인 의미를 포함하는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 지닌 자에 의해 이해될 수 있는 의미를 갖는다. 일반적으로 사전에서 정의된 용어들은 관련된 기술 분야에서의 맥락적 의미와 동등한 의미를 갖도록 해석되며, 본문에서 명확하게 정의되지 않는 한, 이상적 또는 과도하게 형식적인 의미를 갖도록 해석되지 않는다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 이미징 시스템을 보여주는 블록도 이다.
예로서, 이미지 처리 장치(100)은 엑스선에 기초하여 획득되는 이미지의 데이터를 처리하기 위한 전자 장치일 수 있다. 도 1을 참조하면, 이미지 처리 장치(100)은 방출 회로(110), 검출 회로(120), 및 이미지 프로세싱 회로(130)를 포함할 수 있다.
방출 회로(110)는 디지털 방식의 동작을 위한 클럭(CLK)을 생성할 수 있다. 방출 회로(110)는 클럭(CLK)을 이미지 프로세싱 회로(130)로 출력할 수 있다. 방출 회로(110)는 디지털 방식에 의해 동작할 수 있다. 방출 회로(110)는 클럭(CLK)에 기초하여 엑스선(XR1)을 생성할 수 있다. 예로서, 방출 회로(110)는 전계 방출 원리에 기초하여 방출되는 전자에 기초하여 엑스선(XR1)을 생성하도록 구성되는 엑스선 소스를 포함할 수 있다.
방출 회로(110)는 엑스선(XR1)을 이미지 처리 장치(100)의 외부로 방출할 수 있다. 방출된 엑스선(XR1)은 물체(10)에 조사될 수 있다. 조사된 엑스선(XR1)이 물체(10)에 의해 간섭됨으로써 엑스선(XR2)이 검출 회로(120)에 의해 수신될 수 있다. 따라서, 엑스선(XR2)은 물체(10)와 관련될 수 있다. 예로서, 엑스선(XR2)은 물체(10)의 이미지와 관련될 수 있다.
이미지 처리 장치(100)의 사용자는 엑스선(XR1)이 방출 회로(110)로부터 방출되는 시간 길이 및 주기를 조정하기 위해, 클럭(CLK)의 특성들(예컨대, 클럭(CLK)에 포함되는 펄스들의 폭 및 클럭(CLK)의 주기)을 설정할 수 있다. 도 2를 참조하여, 방출 회로(110)의 예시적인 구성 및 동작들이 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
검출 회로(EB2)는 엑스선(XR2)에 기초하여 신호(XM1)를 생성할 수 있다. 예로서, 검출 회로(EB2)는 다수의 픽셀들에 의해 엑스선(XR2)을 수신할 수 있다. 픽셀들은 수신되는 엑스선(XR2)에 기초하여 전하들을 발생시킴으로써 신호(XM1)를 생성할 수 있다.
신호(XM1)가 엑스선(XR2)에 기초하여 생성되므로, 신호(XM1)는 물체(10)와 관련될 수 있다. 예로서, 신호(XM1)는 물체(10)의 이미지와 관련되는 데이터 값(예컨대, 픽셀 값)들을 나타낼 수 있다. 검출 회로(120)는 신호(XM1)를 이미지 프로세싱 회로(130)로 출력할 수 있다.
신호(XM1)는 다크 이미지와 관련될 수 있다. 예로서, 신호(XM1)는 다크 이미지와 관련되는 데이터 값을 나타낼 수 있다. 본 명세서에서 다크 이미지는 검출 회로(120)의 외부로부터 수신되는 엑스선(XR2)과는 무관하게 검출 회로(120)의 내부에서 생성되는 노이즈 등에 기초하여 생성되는 이미지를 의미한다.
예컨대, 검출 회로(120)의 동작을 위한 동작 전압 등에 의해 검출 회로(120)의 내부에서 암전류가 생성될 수 있다. 검출 회로(120)는 암전류에 기초하여 신호(XM1)를 생성할 수 있다. 암전류는 검출 회로(120)의 외부로부터 수신되는 엑스선(XR2)과 무관하게 생성되기 때문에, 다크 이미지는 물체(10)의 이미지와 관련되는 정보를 요청하는 사용자에게 노이즈로 취급될 수 있다.
이미지 프로세싱 회로(130)는 클럭(CLK) 및 신호(XM1)에 기초하여 물체(10)의 이미지와 관련되는 데이터 값을 획득할 수 있다. 또한, 이미지 프로세싱 회로(130)는 신호(XM1)에 기초하여 다크 이미지와 관련되는 데이터 값을 획득할 수 있다. 이미지 프로세싱 회로(130)는 신호(XM1) 및 클럭(CLK)에 기초하여 물체(10)의 이미지와 관련되는 데이터 값 및 다크 이미지와 관련되는 데이터 값을 처리할 수 있다.
이미지 프로세싱 회로(130)는 획득되는 데이터 값들에 기초하여 다크 이미지에 의한 데이터 값을 제거하기 위한 다양한 동작들을 수행할 수 있다. 예로서, 이미지 프로세싱 회로(130)는, 엑스선(XR2)이 수신되지 않는 시간 구간 동안 획득되는 다크 이미지의 데이터 값들에 기초하여 물체(10)의 이미지와 관련되는 데이터 값들을 보정하기 위한 동작들을 수행할 수 있다. 도 4 내지 도 9를 참조하여, 이미지 프로세싱 회로(130)의 예시적인 구성 및 동작들이 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
이미지 프로세싱 회로(130)는 보정된 데이터 값을 포함하는 신호를 다른 전자 장치 및/또는 시스템으로 출력할 수 있다. 다른 전자 장치 및/또는 시스템에서, 보정된 데이터 값은 물체(10)의 이미지와 관련된 정보를 제공하기 위해 사용될 수 있다. 예로서, 이미지 프로세싱 회로(130)는 보정된 데이터 값을 포함하는 신호를 디스플레이 장치로 출력할 수 있다. 디스플레이 장치는 수신되는 신호의 데이터 값에 기초하여 물체(10)의 이미지를 나타내는 사진 및/또는 영상을 사용자에게 제공할 수 있다.
도 2는 도 1의 방출 회로의 예시적인 구성을 보여주는 블록도 이다.
도 2를 참조하면, 방출 회로(110)는 방출 소스 회로(111) 및 방출 제어 회로(112)를 포함할 수 있다.
방출 소스 회로(111)는 방출 회로(110)의 외부로부터 전압들(VG 및 VA)을 수신할 수 있다. 예로서, 방출 소스 회로(111)는 전압 생성기와 같은 전자 장치로부터 전압들(VG 및 VA)를 수신할 수 있다. 전압들(VG 및 VA)은 방출 소스 회로(111)의 내부에서 전자를 방출시키는데 사용될 수 있다.
도 1을 참조하여 설명된 바와 같이, 방출 소스 회로(111)는 전계 방출 원리에 기초하여 엑스선을 생성하도록 구성되는 엑스선 방출 소스를 포함할 수 있다. 예로서, 전압들(VG 및 VA)은 엑스선 방출 소스의 동작을 위한 레벨들을 가질 수 있다. 전압(VG)은 게이트 단에 인가되고, 전압(VA)는 어노드 단에 인가될 수 있다.
방출 소스 회로(111)는 클럭(CLK)에 기초하여 엑스선(XR1)을 생성할 수 있다. 예로서, 방출 소스 회로(111)는 전자를 제공하기 위한 다양한 전자원들(예컨대, 탄소 나노 튜브 등)을 포함할 수 있다. 방출 소스 회로(111)는 클럭(CLK)에 응답하여, 전압들(VG 및 VA)에 의해 다양한 전자원들로부터 방출되는 전자를 금속에 충돌시킴으로써 엑스선(XR1)을 생성할 수 있다. 방출 소스 회로(111)는 엑스선(XR1)을 이미지 처리 장치(100)의 외부로(예컨대, 물체(10)를 향하는 방향으로) 방출할 수 있다.
클럭(CLK)은 엑스선(XR1)이 방출되는 시간 길이 및 주기와 관련될 수 있다. 클럭(CLK)은 사용자에 의해 설정된 폭을 갖는 펄스들을 포함할 수 있다. 클럭(CLK)의 폭은 클럭(CLK)의 한 주기 내에서 클럭(CLK)이 논리 하이 값을 갖는 시간 길이를 의미한다. 예로서, 클럭(CLK)의 폭이 길 경우 클럭(CLK)의 듀티비는 높을 수 있다.
예로서, 클럭(CLK)이 논리 하이 값을 갖는 시간 동안 방출 소스 회로(111)는 클럭(CLK)의 논리 하이 값에 응답하여 엑스선(XR1)을 방출할 수 있다. 따라서, 클럭(CLK)의 폭은 엑스선(XR1)이 방출되는 시간 길이에 대응할 수 있다. 또한, 클럭(CLK)의 주기는 엑스선(XR1)이 방출되는 주기에 대응할 수 있다.
방출 제어 회로(112)는 클럭(CLK)을 생성할 수 있다. 예로서, 방출 제어 회로(112)는 클럭(CLK)을 생성하도록 구성되는 함수 생성기 등을 포함할 수 있다. 방출 제어 회로(112)는 사용자의 설정에 따라 결정되는 폭 및 주기에 기초하여 생성되는 펄스들을 포함하는 클럭(CLK)을 출력할 수 있다. 방출 제어 회로(112)는 엑스선(XR1)의 방출을 위해 사용될 클럭(CLK)을 방출 소스 회로(111)로 제공할 수 있다.
예로서, 사용자는, 엑스선(XR1)이 방출되는 시간을 조정하기 위해 클럭(CLK)에 포함되는 펄스들의 폭을 조정할 수 있다. 또한, 사용자는 엑스선(XR1)이 방출되는 주기를 조정하기 위해 클럭(CLK)의 주기를 조정할 수 있다. 사용자는 클럭(CLK)에 포함되는 펄스들의 폭과 클럭(CLK)의 주기를 조정하기 위해 방출 제어 회로(112)에 포함된 함수 발생기를 제어할 수 있다.
방출 제어 회로(112)는 클럭(CLK)을 도 1의 이미지 프로세싱 회로(130)로 출력할 수 있다. 클럭(CLK)은 이미지 프로세싱 회로(130)에 의해 물체(10)의 이미지와 관련된 데이터 값 및 다크 이미지와 관련된 이미지 값을 생성하는 데 사용될 수 있다. 도 4 및 도 5를 참조하여, 방출 제어 회로(112)에 의해 클럭(CLK)에 기초하여 데이터 값들을 생성하기 위한 예시적인 방법들이 설명될 것인바 이하 설명은 생략된다.
도 3은 도 1의 검출 회로의 예시적인 구성을 보여주는 블록도 이다.
도 3을 참조하면, 검출 회로(120)는 패널 회로(121) 및 검출 제어 회로(122)를 포함할 수 있다.
패널 회로(121)는 물체(10)로 조사된 후 물체(10)에 의해 간섭된 엑스선(XR2)을 수신할 수 있다. 예로서, 패널 회로(121)는 엑스선(XR2)을 수신하기 위한 복수의 픽셀을 포함하는 픽셀 어레이를 포함할 수 있다. 픽셀들은 엑스선(XR2)에 기초하여 전하들(예컨대, 전자 정공 쌍(electron hole pair))을 생성하기 위한 변환 소자(예컨대, 포토 다이오드) 및 전하들에 기초하여 데이터 값들을 생성하기 위한 전자 회로들을 포함할 수 있다.
패널 회로(121)는 엑스선(XR2)의 세기에 대응하는 데이터 값들을 생성할 수 있다. 따라서, 데이터 값들은 아날로그 값들일 수 있다. 데이터 값들은 픽셀들에 의해 각각 생성되므로, 데이터 값들은 픽셀들에 각각 대응할 수 있다. 패널 회로(121)는 데이터 값들을 전달하기 위해 신호(PX)를 생성할 수 있다. 패널 회로(121)는 신호(PX)를 검출 제어 회로(122)로 출력할 수 있다.
검출 제어 회로(122)는 패널 회로(121)로부터 신호(PX)를 수신할 수 있다. 검출 제어 회로(122)는 신호(PX)에 기초하여 패널 회로(121)의 픽셀들에 각각 대응하는 데이터 값들을 획득할 수 있다. 검출 제어 회로(122)는 데이터 값들을 수집하여 프레임 단위의 데이터를 생성할 수 있다.
예로서, 검출 제어 회로(122)는 프레임 단위의 데이터를 생성하기 위해, 펄스들을 포함하는 신호(EXC)를 생성할 수 있다. 신호(EXC)는 주기적으로 생성되는 펄스들을 포함할 수 있다. 신호(EXC)에 포함되는 펄스들의 폭 및 펄스들이 생성되는 주기는 이미지 시스템(100)의 설계 시에 결정된 값들을 가질 수 있다. 도 5를 참조하여, 검출 제어 회로(122)에 의해 생성되는 예시적인 신호(EXC)가 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
예로서, 검출 제어 회로(122)는 신호(EXC)의 한 주기 동안 신호(ECX)의 펄스에 응답하여 픽셀들의 데이터 값들을 포함하는 프레임 단위의 데이터를 생성할 수 있다. 검출 제어 회로(122)는 데이터 값들을 프레임 단위로 전달하기 위한 신호(XM1)를 생성할 수 있다. 신호(PX)에 의해 전달되는 데이터 값들은 엑스선(XR2)에 기초하여 생성되기 때문에, 물체(10)의 이미지와 관련될 수 있다. 검출 제어 회로(122)는 신호(XM1)를 이미지 프로세싱 회로(130)로 출력할 수 있다.
도 4는 도 1의 이미지 프로세싱 회로의 예시적인 구성을 보여주는 블록도 이다.
도 4를 참조하면, 이미지 프로세싱 회로(130)는 디코딩 회로(131), 재귀 필터 회로(132), 연산 회로(133), 및 스위치 회로(SW)를 포함할 수 있다.
디코딩 회로(131)는 방출 회로(110)로부터 클럭(CLK)을 수신할 수 있다. 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)에 기초하여 스위치 회로(SW)를 제어하기 위한 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 신호(SWC)에 의한 제어에 따라 스위치 회로(SW)는 재귀 필터 회로(132) 및 연산 회로(133) 중 하나와 선택적으로 연결될 수 있다.
도 3을 참조하여 설명된 바와 같이, 검출 회로(120)는, 다크 이미지에 기초하여 물체(10)의 이미지와는 무관한 신호(XM1)를 생성하거나, 다크 이미지 및 물체(10)의 이미지 모두와 관련되는 신호(XM1)를 생성할 수 있다. 디코딩 회로(131)는 다크 이미지와만 관련되는 신호(XM1)를 재귀 필터 회로(132)로 제공하고 다크 이미지 및 물체(10)의 이미지 모두와 관련되는 신호(XM1)를 연산 회로(133)로 제공하기 위해 스위치 회로(SW)를 제어할 수 있다. 도 5를 참조하여, 디코딩 회로(131) 및 스위치 회로(SW)의 예시적인 동작들이 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
재귀 필터 회로(132)는 스위치 회로(SW)를 통해 다크 이미지와 관련되는, 즉 다크 이미지의 데이터 값들을 나타내는 신호(XM1)를 수신할 수 있다. 재귀 필터 회로(132)는 신호(XM1)에 의해 나타나는 데이터 값들을 획득할 수 있다. 디코딩 회로(131)에 의해 스위치 회로(SW)가 제어됨에 따라, 재귀 필터 회로(132)는 여러 시간 구간들에서 신호(XM1)를 수신하고 신호(XM1)의 데이터 값들을 순차적으로 획득할 수 있다.
재귀 필터 회로(132)는 순차적으로 획득되는 데이터 값들의 평균 값을 계산할 수 있다. 단, 본 명세서에서 평균 값은 산술 평균 값뿐만 아니라 가중치들에 기초하여 계산되는 다양한 유형의 평균 값을 의미한다. 재귀 필터 회로(132)는 계산되는 평균 값을 나타내는 신호(DM)를 생성할 수 있다.
재귀 필터 회로(132)는 계산에 사용되는 값들(예컨대, 가중치들) 및 계산된 평균 값을 저장할 수 있다. 이미지 시스템(100)은 계산에 사용되는 값들 및 계산된 평균 값을 저장하도록 구성되는 메모리를 이미지 시스템(100)의 내부/외부에 포함할 수 있다. 메모리는 다양한 유형의 휘발성 및/또는 불휘발성 메모리 장치들을 포함할 수 있다.
신호(DM)가 다크 이미지와 관련되는 신호(XM1)의 데이터 값들에 기초하여 생성되기 때문에, 신호(DM)의 데이터 값은 다크 이미지를 나타낼 수 있다. 예로서, 신호(DM)의 데이터 값은 순차적으로 수신되었던 다크 이미지의 데이터 값들에 대한 평균 값에 대응할 수 있다. 도 7을 참조하여, 재귀 필터 회로(132)의 예시적인 동작들이 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
연산 회로(133)는 스위치(SW1)를 통해 신호(XM1)를 수신하고 재귀 필터 회로(132)로부터 신호(DM)를 수신할 수 있다. 연산 회로(133)는 신호(XM1)의 데이터 값과 신호(DM)의 데이터 값에 기초하여 다양한 연산들을 수행할 수 있다. 예로서, 연산 회로(133)는 신호(DM)의 데이터 값에 기초하여 신호(XM1)의 데이터 값을 보정하기 위한 연산을 수행할 수 있다.
연산 회로(133)는 스위치 회로(SW)를 통해 물체(10)의 이미지 및 다크 이미지와 관련되는 신호(XM1)를 수신할 수 있다. 따라서, 연산 회로(133)에 의해 수신되는 신호(XM1)의 데이터 값은 물체(10)의 이미지에 대한 데이터 값 및 다크 이미지에 대한 데이터 값을 모두 포함할 수 있다. 연산 회로(133)는 신호(XM1)의 데이터 값으로부터 신호(DM)의 데이터 값을 제거하기 위한 연산들을 수행할 수 있다.
연산 회로(133)에 의해, 신호(XM1)의 데이터 값으로부터 신호(DM)의 데이터 값이 빼서 얻어지는 데이터 값을 나타내는 신호(XM2)가 생성될 수 있다. 신호(DM)의 데이터 값은 다크 이미지와 관련되기 때문에, 신호(XM2)에 포함되는 다크 이미지의 데이터 값은 신호(XM1)에 포함된 다크 이미지의 데이터 값보다 작을 수 있다. 즉, 연산 회로(133)에 의해 신호(DM)에 기초하여 신호(XM1)가 보정됨에 따라 신호(XM2)가 생성될 수 있다. 도 8을 참조하여, 연산 회로(133)의 예시적인 동작들이 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
이미지 프로세싱 회로(130) 및 그것의 구성 요소들은 본 개시에서 설명되는 동작들을 수행하도록 구성되는 하드웨어 회로들(예컨대, 아날로그 회로들 및/또는 논리 회로들)을 포함할 수 있다. 몇몇 경우, 이미지 프로세싱 회로(130)는 ASIC(Application Specific Integrated Circuit), FPGA(Field Programmable Gate Array) 등으로 구현될 수 있다. 또는, 이미지 프로세싱 회로(130) 및 그것의 구성 요소들은 프로그램 코드의 명령어들에 기초하여 구현될 수 있고, 이미지 시스템(100) 내부 또는 외부의 프로세서가 명령어들을 실행하여 이미지 프로세싱 회로(130) 및 그것의 구성 요소들의 동작들을 제공할 수 있다.
도 5는 도 4의 이미지 프로세싱 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 개념도 이다.
도 4를 참조하여 설명된 바와 같이, 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)에 기초하여 스위치 회로(SW)를 제어하기 위한 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 예로서, 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)과 동기화된 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 스위치 회로(SW)는 신호(SWC)에 기초하여 동작할 수 있다. 도 6을 참조하여, 신호(SWC)를 생성하기 위한 예시적인 방법이 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
시간 구간들 "TD1" 및 "TD3"에서, 스위치 회로(SW)는 신호(SWC)의 논리 하이 값에 응답하여 재귀 필터 회로(132)와 연결될 수 있다. 시간 구간들 "TD1" 및 "TD3"에서, 신호(XM1)가 연산 회로(133)에 의해 수신될 수 있다. 설명의 편의를 위해 시간 구간 "TD1"에서 연산 회로(133)에 의해 수신되는 신호(XM1)는 신호(XM1_1)로 지칭되고, 시간 구간 "TD3"에서 연산 회로(133)에 의해 수신되는 신호(XM1)는 신호(XM1_3)로 지칭될 것이다.
도 4를 참조하여 설명된 바와 같이, 신호(XM1_1)의 데이터 값은 다크 이미지와 관련된 데이터 값(DAT1)을 포함하고, 신호(XM1_3)의 데이터 값은 물체와 관련된 데이터 값(DAT3)을 포함할 수 있다. 시간 구간들 "TD1" 및 "TD3"에서 데이터 값들(DAT1 및 DAT3)은 신호(XM1_2)에 의해 재귀 필터 회로(132)로 제공될 수 있다.
시간 구간 "TD2"에서, 스위치 회로(SW)는 신호(SWC)의 논리 로우 값에 응답하여 연산 회로(133)와 연결될 수 있다. 시간 구간 "TD2"에서, 신호(XM1)가 연산 회로(133)에 의해 수신될 수 있다. 설명의 편의를 위해 시간 구간 "TD2"에서 연산 회로(133)에 의해 수신되는 신호(XM1)는 신호(XM1_2)로 지칭될 것이다.
도 4를 참조하여 설명된 바와 같이, 신호(XM1_2)의 데이터 값은 물체와 관련된 데이터 값(DAT2_1)과 다크 이미지와 관련된 데이터 값(DAT2_2)을 포함할 수 있다. 시간 구간 "TD2"에서 데이터 값들(DAT2_1 및 DAT2_2)은 신호들(XM1_1 및 XM1_3)에 의해 연산 회로(133)로 제공될 수 있다.
도 4를 참조하여 설명된 바와 같이 재귀 필터 회로(132)는 시간 구간들 "TD1" 및 "TD3"에서 순차적으로 수신되는 데이터 값들(DAT1 및 DAT3)의 평균 값을 계산할 수 있다. 도 7을 참조하여, 재귀 필터 회로(132)의 예시적인 동작들이 좀 더 구체적으로 설명될 것이다.
도 6은 도 1의 이미지 시스템에 의해 생성되는 신호들을 보여주는 그래프들 이다. 도 6의 예에서, x축들은 시간을 나타내고, y축들은 클럭(CLK) 및 신호들(EXC 및 SWC)의 논리 값들을 각각 나타낸다.
도 2를 참조하여 설명된 바와 같이, 방출 회로(110)는 클럭(CLK)에 포함되는 펄스들의 폭 또는 클럭(CLK)의 주기를 조정할 수 있다. 도 6의 예에서, 클럭(CLK)의 펄스들은 조정된 폭 "PW1"을 가질 수 있다. 클럭(CLK)의 주기는 "PD1"로부터 "PD2"로 조정될 수 있다. 따라서, 시점 "t3" 이전 클럭(CLK)의 주기는 "PD1"이고 시점 "t3" 이후 클럭(CLK)의 주기는 "PD2"일 수 있다. 예로서, "PD1"은 이미지 처리 장치(100)의 동작이 시작될 때 사용자에 의해 설정된 클럭(CLK)의 주기일 수 있다.
도 3을 참조하여 설명된 바와 같이, 검출 제어 회로(122)는, 신호(PX)에 기초하여 신호(XM1)를 생성하기 위해, 신호(EXC)를 생성할 수 있다. 검출 제어 회로(122)는 설계자에 의해 설정된 폭을 갖는 신호(EXC)의 펄스들을 설계자에 의해 설정된 주기로 생성할 수 있다.
도 6의 예에서, 신호(EXC)는 "PW2"의 폭을 갖는 펄스들을 "PD3"의 주기로 포함할 수 있다. 검출 제어 회로(122)는 신호(EXC)의 펄스들에 응답하여 신호(PX)의 데이터 값들을 프레임 단위로 수집하고, 수집된 데이터 값들에 기초하여 신호(XM1)를 출력할 수 있다.
디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)과 동기화된 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 예로서, 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)을 트리거링 신호로서 이용하여 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 따라서, 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)의 주기 "PD1"마다 클럭(CLK)에 응답하여 논리 값을 결정하고, 결정된 논리 값을 갖는 신호(SWC)를 생성할 수 있다.
예로서, 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)의 주기 "PD1"마다 도래하는 시점들(t1 내지 t6)마다 논리 값을 결정하고, 결정된 논리 값을 갖는 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 따라서, 디코딩 회로(131)는 시점들 "t1", "t2", "t3", 및 "t5"에서 논리 로우 값의(펄스들을 포함하지 않는) 신호(SWC)를 생성하고, 시점들 "t4" 및 "t6"에서 논리 하이 값을 갖는(폭 "PW3"의 펄스를 포함하는) 신호(SWC)를 생성할 수 있다.
검출 회로(120)는, 신호(XM1)에 기초하여 물체(10)의 이미지와 관련되는 데이터 값 및 물체(10)의 이미지와 무관한 데이터 값(즉, 다크 이미지와 관련되는 데이터 값)을 획득할 수 있다. 신호(XM1)가 물체(10)의 이미지와 관련되는지 여부는 엑스선(XR2)이 검출 회로(120)에 의해 수신되는지 여부에 대응할 수 있다.
엑스선(XR2)은 엑스선(XR1)에 기초하여 수신되기 때문에, 엑스선(XR2)이 검출 회로(120)에 의해 수신되는지 여부는 엑스선(XR1)이 방출 회로(110)에 의해 방출 되는지 여부에 대응할 수 있다. 방출 회로(110)는 클럭(CLK)의 펄스들에 기초하여 엑스선(XR1)을 방출하기 때문에, 클럭(CLK)은 엑스선(XR2)이 검출 회로(120)에 의해 수신되는지 여부와 관련될 수 있다.
예로서, 시점들 "t1", "t2", "t3", 및 "t5"에서, 방출 회로(110)는 클럭(CLK)의 펄스들에 응답하여 엑스선(XR1)을 방출할 수 있다. 따라서, 검출 회로(120)는 엑스선(XR1)에 대응하는 엑스선(XR2)에 기초하여 물체(10)의 이미지에 대한 데이터 값(예컨대, 도 5의 데이터 값(DAT2_1))들을 나타내는 신호(XM1)를 생성할 수 있다. 시점들"t1", "t2", "t3", 및 "t5"에서, 물체(10)의 이미지에 대한 데이터 값을 연산 회로(133)로 전달하기 위해, 디코딩 회로(131)는 클럭의 논리 하이 값에 응답하여 펄스를 포함하지 않는(즉, 논리 로우 값의) 신호(SWC)를 생성할 수 있다.
예로서, 시점들 "t4" 및 "t6"에서, 검출 회로(120)는 다크 이미지에 대한 데이터 값(예컨대, 도 5의 데이터 값들(DAT1 및 DAT3))을 생성할 수 있다. 시점들 "t4" 및 "t6"에서 다크 이미지에 대한 데이터 값을 재귀 필터 회로(132)로 전달하기 위해, 디코딩 회로(131)는 클럭의 논리 로우 값에 응답하여 펄스를 포함하는(즉, 논리 하이 값의) 신호(SWC)를 생성할 수 있다.
신호(SWC)에 의해 생성되는 펄스들의 폭 "PW3"은 이미지 처리 장치(100)의 설계 시에 결정될 수 있다. 신호(XM1)에 포함되는 데이터 값이 재귀 필터 회로(132)로 전달되기 위한 마진을 확보하기 위해, "PW3"는 신호(EXC)에 포함되는 펄스들의 폭 "PW2"을 고려하여 결정될 수 있다. 예로서, "PW3"는 "PW2"와 실질적으로 동일하게 결정될 수 있다.
도 5를 참조하여 설명된 바와 같이, 디코딩 회로(131)는 스위치 회로(SW)를 제어하기 위해 신호(SWC)를 스위치 회로(SW)로 출력할 수 있다. 스위치 회로(SW)는 신호(SWC)의 논리 값에 기초하여 도 5를 참조하여 설명된 동작들을 수행할 수 있다.
도 6을 참조하여, 변경되기 전의 주기 "PD1"동안 클럭(CLK)이 펄스를 포함하는 경우 논리 로우 값의(펄스들을 포함하지 않는) 신호(SWC)를 생성하고, 주기 "PD1" 동안 클럭(CLK)이 펄스를 포함하지 않는 경우 논리 하이 값을 갖는(폭 "PW3"의 펄스를 포함하는) 신호(SWC)를 생성하는 동작들이 설명되었다. 그러나, 본 발명의 실시 예가, 클럭(CLK)의 주기 "PD1"에 기초하여 엑스선(XR1)이 방출되는지 여부를 판별하고 판별 결과에 기초하여 신호(SWC)를 생성하도록 다양하게 변경 및 수정될 수 있음이 이해될 것이다.
예로서, 디코딩 회로(131)는, "PD1" 동안 클럭(CLK)이 펄스를 포함하는 경우 논리 하이 값의(펄스들을 포함하는) 신호(SWC)를 생성하고, "PD1" 동안 클럭(CLK)이 펄스를 포함하지 않는 경우 논리 로우 값을 갖는(펄스를 포함하지 않는) 신호(SWC)를 생성하도록 구성될 수도 있다.
클럭(CLK)의 주기가 변하더라도, 이미지 프로세싱 회로(130)는 신호(SWC)에 기초하여 물체의 이미지(10) 및 다크 이미지 모두와 관련되는 신호(XM1)(예컨대, 도 5의 신호들(XM1_1 및 XM1_3)와 다크 이미지와만 관련되는 신호(XM1)(예컨대, 도 5의 신호(XM1_2))를 상이하게 처리할 수 있다.
즉, 이미지 프로세싱 회로(130)는 클럭(CLK)에 동기화되어 생성되는 신호(SWC)에 기초하여 신호(XM1)가 물체(10)의 이미지와 관련되는지 여부를 판별하고, 물체(10)의 이미지와 관련되지 않는 신호(XM1)에 기초하여 연산 회로(133)의 보정 동작에 사용될 신호(DM)의 데이터 값들을 갱신할 수 있다.
예로서, 클럭(CLK)의 주기가 "PD1"으로부터 "PD2"로 변함에 따라 검출 회로(120)가 시점 "t4"에서 물체(10)의 이미지와 관련되는 데이터 값들을 획득하지 못할 수 있다. 시점 "t4"에서, 스위치 회로(SW)는 신호(SWC)의 펄스에 응답하여 신호(XM1)를 재귀 회로 필터(132)로 제공할 수 있다. 재귀 회로 필터(132)는 신호(XM1)에 기초하여 신호(DM)의 데이터 값을 갱신할 수 있다.
도 7은 도 4의 재귀 필터 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 개념도 이다.
도 7의 예에서, 신호들(XM1, DM_1, 및 DM_2)은 프레임 단위의 데이터를 나타낼 수 있다. 쉬운 이해를 위해, 패널 회로(121)의 4개의 픽셀들(P1 내지 P4)에 대응하는 데이터 값들을 나타내는 신호들(XM1, DM_1, 및 DM_2)이 설명될 것이나, 신호들(XM1, DM_1, 및 DM_2)에 의해 나타나는 데이터 값들의 개수들은 패널 회로(121)에 포함되는 픽셀의 개수에 따라 다양하게 변형될 수 있음이 이해될 것이다.
도 7의 예에서, 특정 픽셀에 대응하는 데이터 값은 화살표의 길이로 표현된다. 예로서, 픽셀(P1)에 의해 수신되는 엑스선(XR2)에 기초하여 생성되는 신호들(XM1, DM_1, 및 DM_2)의 데이터 값들은 픽셀(P1)에 대응하여 표시된 화살표들의 길이들에 각각 대응할 수 있다.
신호(DM_1)는 도 7의 동작이 수행되기 전에 순차적으로 수신되었던 신호(XM1)의 데이터 값들에 대한 계산 값들을 나타낼 수 있다. 예로서, 도 7의 동작이 수행되기 전, 재귀 필터 회로(132)에 의해 신호(XM1)가 n 번 수신된 경우(단, n은 자연수), 재귀 필터 회로(132)는 n 번 수신된 신호(XM1)의 데이터 값들의 평균 값들을 계산할 수 있다.
재귀 필터 회로(132)는 계산된 평균 값들을 메모리에 저장할 수 있다. 이후, 재귀 필터 회로(132)는 저장된 평균 값들을 메모리로부터 제공받을 수 있다. 도 7의 예에서, 재귀 필터 회로(132)는 저장된 평균 값들을 나타내는 신호(DM_1)를 수신할 수 있다. 따라서, 신호(DM_1)의 데이터 값들은 n 번 수신되었던 신호(XM1)의 데이터 값들의 평균 값들에 각각 대응할 수 있다.
재귀 필터 회로(132)에 의해 신호(XM1)가 n 번 수신된 이후, 재귀 필터 회로(132)는 도 7의 신호(XM1)를 새롭게 수신할 수 있다. 재귀 필터 회로(132)는 새롭게 수신되는 신호(XM1)의 데이터 값들 및 신호(DM_1)의 데이터 값들에 기초하여 평균 값들을 새롭게 계산할 수 있다.
재귀 필터 회로(132)는 새롭게 계산되는 평균 값들을 메모리에 저장하기 위해 신호(DM_1)를 생성할 수 있다. 따라서, 신호(DM_1)의 데이터 값들은, 신호(XM1)에 의해 나타나는 픽셀들(P1 내지 P4)에 대한 데이터 값들과 신호(DM_1)에 포함된 신호(DM_1)에 의해 나타나는 픽셀들(P1 내지 P4)에 대한 데이터 값들의 평균 값들에 각각 대응할 수 있다.
재귀 필터 회로(132)는 신호(DM_2)의 데이터 값들을 메모리에 저장할 수 있다. 이후, 스위치 회로(SW)가 재귀 필터 회로(132)에 연결되는 경우, 재귀 필터 회로(132)는 메모리에 저장된 데이터 값들을 나타내는 신호(DM)를 스위치 회로(SW)를 통해 연산 회로(133)로 출력할 수 있다. 즉, 신호(DM)에 의해 연산 회로(133)로 제공될 데이터 값들은 도 7의 동작들에 의해 갱신될 수 있다.
도 7을 참조하여 설명된 동작들에 의해, 순차적으로 수신되는 신호(XM1)의 데이터 값들에 기초하여 신호(DM)의 데이터 값들이 계속적으로 갱신될 수 있다. 따라서, 이미지 프로세싱 회로(130)는 이미지 시스템(100) 내/외부의 환경에 따라 실시간으로 변하는 다크 이미지에 대한 데이터 값을 계속적으로 갱신할 수 있다. 이미지 프로세싱 회로(130)는 계속적으로 갱신되는 신호(DM)의 데이터 값들에 기초하여 신호(XM2)를 생성하기 때문에, 신호(XM2)의 데이터 값들은 물체(10)의 이미지를 정확하게 나타낼 수 있다.
도 8은 도 4의 연산 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 개념도 이다.
도 8의 예에서, 신호들(XM1, DM, 및 XM2)은 프레임 단위의 데이터를 나타낼 수 있다. 쉬운 이해를 위해, 패널 회로(121)의 4개의 픽셀들(P1 내지 P4)에 대응하는 데이터 값들을 나타내는 신호들(XM1, DM, 및 XM2)이 설명될 것이나, 신호들(XM1, DM, 및 XM2)에 의해 나타나는 데이터 값들의 개수들은 패널 회로(121)에 포함되는 픽셀의 개수에 따라 다양하게 변형될 수 있음이 이해될 것이다.
도 8의 예에서, 특정 픽셀에 대응하는 데이터 값은 화살표의 길이로 표현된다. 예로서, 픽셀(P1)에 의해 수신되는 엑스선(XR2)에 기초하여 생성되는 신호들(XM1, DM, 및 XM2)의 데이터 값들은 픽셀(P1)에 대응하여 표시된 화살표들의 길이들에 각각 대응할 수 있다.
도 4를 참조하여 설명된 바와 같이, 연산 회로(133)는 신호(DM)의 데이터 값들에 기초하여 신호(XM1)의 데이터 값들을 보정하기 위한 다양한 연산들을 수행할 수 있다. 예로서, 연산 회로(133)는 신호(XM1)의 데이터 값들에 포함되는 다크 이미지의 데이터 값들을 제외하기 위해 뺄셈 연산을 수행할 수 있다.
연산 회로(133)는, 신호(XM1)에 의해 나타나는 픽셀들(P1 내지 P4)에 대한 데이터 값들로부터 신호(DM)에 의해 나타나는 픽셀들(P1 내지 P4)에 대한 데이터 값들을 각각 빼서 얻어지는 데이터 값들을 픽셀들(P1 내지 P4)에 대한 데이터 값들로서 나타내는 신호(XM2)를 생성할 수 있다.
신호(XM1)의 데이터 값들은 물체(10)의 이미지에 대한 데이터 값들 및 다크 이미지에 대한 데이터 값들을 포함하고, 신호(DM)의 데이터 값들은 다크 이미지에 대한 데이터 값들을 포함할 수 있다. 따라서, 신호(XM2)에 포함된 다크 이미지에 대한 데이터 값들은 신호(XM1)에 포함된 다크 이미지에 대한 데이터 값들 보다 작을 수 있다. 신호(XM2)가 다크 이미지에 대한 데이터 값들을 적게 포함하므로, 신호(XM2)의 데이터 값들은 물체(10)의 이미지를 정확하게 나타낼 수 있다.
도 1을 참조하여 설명된 바와 같이, 신호(XM2)의 데이터 값들은 물체(10)의 이미지와 관련되는 정보를 제공하기 위해 사용될 수 있다. 이미지 프로세싱 회로(130)에 의해 신호(XM2)의 데이터 값들이 물체(10)의 이미지를 정확하게 나타냄에 따라, 신호(XM2)를 제공받는 다른 전자 장치 및/또는 시스템은 물체(10)의 이미지와 관련되는 정확한 정보를 사용자에게 제공할 수 있다.
도 9는 도 1의 이미지 프로세싱 회로의 예시적인 동작들을 설명하기 위한 흐름도 이다.
S110 동작에서, 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)에 기초하여 스위치 회로(SW)를 제어하기 위한 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 디코딩 회로(131)는 클럭(CLK)의 주기에 기초하여, 클럭(CLK)과 동기화된 신호(SWC)를 생성할 수 있다. 방출 회로(110)는 클럭(CLK)에 기초하여 엑스선(XR1)을 방출하고 검출 회로(120)는 방출된 엑스선(XR1)에 대응하는 엑스선(XR2)을 수신하기 때문에, 신호(SWC)는 엑스선(XR2)이 검출회로(120)에 의해 수신되는지 여부와 관련될 수 있다.
S120 동작에서, 스위치 회로(SW)는 신호(SWC)의 논리 값에 따라 동작할 수 있다. 신호(SWC)가 논리 하이 값을 갖는 경우, 스위치 회로(SW)는 재귀 필터 회로(132)와 연결될 수 있다. 따라서, 신호(XM1)는 재귀 필터 회로(132)로 제공되고, 이후 S130 동작이 수행될 수 있다. 신호(SWC)가 논리 로우 값을 갖는 경우, 스위치 회로(SW)는 연산 회로(133)와 연결될 수 있다. 따라서, 신호(XM1)는 연산 회로(133)로 제공되고, 이후 S150 동작이 수행될 수 있다.
S130 동작에서, 재귀 필터 회로(132)는 메모리에 저장된 데이터 값들을 나타내는 신호(DM)를 생성할 수 있다. 데이터 값들은 검출 회로(120)에서 생성되는 다크 이미지와 관련될 수 있다.
S140 동작에서, 연산 회로(133)는 신호(XM1)의 데이터 값들 및 신호(DM)의 데이터 값들에 기초하여 다양한 연산들을 수행할 수 있다. 예로서, 연산 회로(133)는 신호(XM1)의 데이터 값들로부터 신호(DM)의 데이터 값들을 빼서 얻어지는 데이터 값들을 나타내는 신호(XM2)를 생성할 수 있다. 이후, 도 9의 동작은 종료될 수 있다.
S150 동작에서, 재귀 필터 회로(132)는 신호(XM1)의 데이터 값들에 기초하여 신호(DM)의 데이터 값들을 갱신할 수 있다. 재귀 필터 회로(132)는 저장된 데이터 값들과 신호(XM1)데이터 값들, 및 신호(XM1)의 데이터 값들이 재귀 필터 회로(132)에 의해 수신된 횟수 등에 기초하여 평균 값들을 계산할 수 있다. 재귀 필터 회로(132)는 계산된 평균 값들을 갱신된 신호(DM)의 데이터 값들로서 메모리에 저장할 수 있다.
상술된 내용은 본 발명을 실시하기 위한 구체적인 실시 예들이다. 본 발명은 상술된 실시 예들뿐만 아니라, 단순하게 설계 변경되거나 용이하게 변경할 수 있는 실시 예들 또한 포함할 것이다. 또한, 본 발명은 실시 예들을 이용하여 용이하게 변형하여 실시할 수 있는 기술들도 포함될 것이다. 따라서, 본 발명의 범위는 상술된 실시 예들에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 발명의 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 할 것이다.
100: 이미지 처리 장치
110: 방출 회로
120: 검출 회로
130: 이미지 프로세싱 회로

Claims (20)

  1. 주기가 제1 주기로부터 제2 주기로 변경된 클럭에 기초하여 제1 엑스선을 방출하도록 구성되는 방출 회로;
    상기 제1 엑스선에 대응하여 수신된 제2 엑스선과 관련된 제1 이미지 데이터 값 또는 다크 이미지와 관련된 제2 이미지 데이터 값을 포함하는, 제1 신호를 상기 제1 주기마다 생성하는 검출 회로; 및
    제어 신호에 기초하여, 실시간으로 변하는 상기 다크 이미지와 대응되는 보정 데이터 값을 갱신하고, 상기 보정 데이터 값에 기초하여 상기 제1 신호를 보정하여 제2 신호를 출력하는 프로세싱 회로를 포함하되,
    상기 제어 신호는, 상기 방출 회로가 상기 제1 엑스선을 방출하며 상기 검출 회로가 상기 제1 신호를 생성하는 제1 시점에 제1 논리 값을 갖고,
    상기 제어 신호는, 상기 방출 회로가 상기 제1 엑스선을 방출하지 않고 상기 검출 회로가 상기 제1 신호를 생성하는 제2 시점에 제2 논리 값을 갖고,
    상기 프로세싱 회로는 상기 제어 신호가 상기 제1 논리 값을 가짐에 응답하여, 상기 제1 신호에 기초하여 상기 보정 데이터 값을 갱신하고,
    상기 프로세싱 회로는 상기 제어 신호가 상기 제2 논리 값을 가짐에 응답하여, 상기 제1 신호 및 상기 보정 데이터 값에 기초하여 상기 제2 신호를 생성하는 전자 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 이미지 데이터 값은 상기 제 2 엑스선의 세기와 관련되는 전자 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 프로세싱 회로는 스위치, 재귀 필터 회로, 및 연산 회로를 포함하고,
    상기 스위치는:
    상기 제어 신호가 상기 제1 논리 값을 가짐에 응답하여 상기 제1 신호를 상기 재귀 필터 회로로 전달하도록 구성되고, 그리고
    상기 제어 신호가 상기 제2 논리 값을 가짐에 응답하여 상기 제1 신호를 상기 연산 회로로 전달하도록 구성되는 전자 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 재귀 필터 회로는 , 서로 다른 복수의 시점들에 상기 스위치를 통해 수신된 상기 제1 신호에 대한 평균을 계산하여 상기 보정 데이터 값을 갱신하는 전자 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 연산 회로는 상기 제1 신호에 대한 이미지 데이터 값과 상기 보정 데이터 값의 차이를 계산하여 상기 제2 신호를 생성하는 전자 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 검출 회로는 상기 제 2 엑스선을 수신하도록 구성되는 픽셀을 더 포함하는 전자 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 보정 데이터 값은 상기 검출 회로에 의해 생성되는 노이즈와 관련되는 전자 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 엑스선은 상기 제 1 엑스선이 상기 전자 장치 외부의 물체에 의해 간섭되어 상기 검출 회로로 수신되는 엑스선인 전자 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 이미지 데이터 값은 상기 물체의 이미지와 관련되는 전자 장치.


  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 삭제
  19. 삭제
  20. 삭제
KR1020190025983A 2018-03-20 2019-03-06 실시간으로 다크 이미지를 보정하기 위한 전자 장치 KR102490836B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/359,676 US10878547B2 (en) 2018-03-20 2019-03-20 Electronic device for correcting dark images in real time

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20180032291 2018-03-20
KR1020180032291 2018-03-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190110437A KR20190110437A (ko) 2019-09-30
KR102490836B1 true KR102490836B1 (ko) 2023-01-26

Family

ID=68098722

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190025983A KR102490836B1 (ko) 2018-03-20 2019-03-06 실시간으로 다크 이미지를 보정하기 위한 전자 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102490836B1 (ko)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008029393A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Hitachi Medical Corp Ｘ線画像診断装置
US20100245378A1 (en) * 2009-03-31 2010-09-30 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and dark current correction method therefor
JP2011117930A (ja) 2009-10-29 2011-06-16 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線画像形成装置及び放射線画像形成方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2008012897A1 (ja) * 2006-07-27 2009-12-17 株式会社島津製作所 光または放射線撮像装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008029393A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Hitachi Medical Corp Ｘ線画像診断装置
US20100245378A1 (en) * 2009-03-31 2010-09-30 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and dark current correction method therefor
JP2011117930A (ja) 2009-10-29 2011-06-16 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線画像形成装置及び放射線画像形成方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190110437A (ko) 2019-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9468414B2 (en) Imaging system
US10161745B2 (en) Real-time-measurement projection device and three-dimensional-projection measurement device
US8597211B2 (en) Determination of indicator body parts and pre-indicator trajectories
US5923722A (en) X-ray diagnostic apparatus with control of x-ray emission dependent on the afterglow in the solid-state detector
JP4745368B2 (ja) Ｘ線診断装置
US10721415B2 (en) Image processing system with LED flicker mitigation
JPH10271393A (ja) 運動トリガーを備えた情景ベースの非均一性補正プロセッサ
CN111896971B (zh) Tof传感装置及其距离检测方法
KR20160130005A (ko) 광학 보상 시스템 및 광학 보상 방법
WO2016178803A1 (en) Joint reconstruction of activity and attenuation in emission tomography using magnetic-resonance-based priors
US7492865B2 (en) Method for generating at least one offset-corrected X-ray image
KR102490836B1 (ko) 실시간으로 다크 이미지를 보정하기 위한 전자 장치
JP2016214394A (ja) 放射線撮影装置、放射線撮影方法、及びプログラム
JP2019136402A5 (ko)
US10878547B2 (en) Electronic device for correcting dark images in real time
JP2002197450A (ja) 撮像装置及び撮像方法
CA2696029A1 (en) Method of correcting sensitivity and matrix image sensor for implementing this method
JP2001506433A (ja) 揺れスキャンオフセット訂正
US20170181724A1 (en) X-ray detection device and apparatus and method for calibrating x-ray detector
US10165999B2 (en) Radiological-image acquisition device
US20180325363A1 (en) Capsule endoscope
CN108291971B (zh) 对经校正的x射线探测器信号的处理
JP5711005B2 (ja) フリッカ補正方法および画像処理装置
CN110426402A (zh) 一种数据处理装置、平板探测器、系统及数据处理方法
JP5349784B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant