CN110426402A - 一种数据处理装置、平板探测器、系统及数据处理方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种数据处理装置、平板探测器、系统及数据处理方法。该装置包括：数据控制接口模块以及分别与数据控制接口模块通信连接的中央控制模块和数据校正模块；中央控制模块用于接收并解析控制指令，并根据解析后的控制指令向数据控制接口模块发送数据采集指令；数据控制接口模块用于接收数据采集指令，根据数据采集指令产生对应的驱动信号以驱动探测模块，并采集探测模块探测的图像数据，并向数据校正模块发送图像数据；数据校正模块用于接收图像数据，并利用预先存储的校正文件对图像数据进行校正。本申请实施例相比于在上位机通过软件校正，一方面提高了图像校正的效率，另一方面降低了上位机的处理压力。

Description

一种数据处理装置、平板探测器、系统及数据处理方法

技术领域

本申请涉及X射线探测技术领域，具体而言，涉及一种数据处理装置、平板探测器、系统及数据处理方法。

背景技术

目前，在X射线探测技术领域，基于薄膜晶体管(thin film transistor，TFT)的X线平板探测器已经成为主流技术。在平板探测器中通常使用现场可编程门阵列(fieldProgrammable Gate Array，FPGA)，作为控制TFT的主要模块，用来产生各种驱动TFT的时序脉冲，图像数据的采集，TFT的刷新和各种寄存器的配置等。同时使用微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)如ARM处理器等，完成图像数据的传输和与上位机的各种通讯。在进行探测时，由于要实时观察采集到的图像，因此，既要完成高速的数据采集，还需要实时的对图像进行校准。

现有技术中，是通过平板探测器采集图像数据，然后将图像数据发送至上位机，上位机利用图像处理软件对图像数据进行校正，以获得最终图像。但是，这种处理方式会增加上位机的工作压力，并且通过图像处理软件校正图像的效率较低。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种数据处理装置、平板探测器、系统及数据处理方法，用以解决现有技术中通过在上位机上进行图像校正导致增加上位机的工作压力以及处理效率低的问题。

第一方面，本申请实施例提供一种数据处理装置，应用于平板探测器，包括：数据控制接口模块以及分别与所述数据控制接口模块通信连接的中央控制模块和数据校正模块；

所述中央控制模块用于接收并解析控制指令，并根据解析后的控制指令向所述数据控制接口模块发送数据采集指令；

所述数据控制接口模块用于接收所述数据采集指令，根据所述数据采集指令产生对应的驱动信号以驱动探测模块，并采集所述探测模块探测的图像数据，并向所述数据校正模块发送所述图像数据；

所述数据校正模块用于接收所述图像数据，并利用预先存储的校正文件对所述图像数据进行校正。

本申请实施例通过在平板探测器的数据处理装置中增加数据校正模块，在数据控制接口模块采集到图像数据后，将图像数据发送至数据校正模块，数据校正模块对图像数据进行校正，相比于在上位机通过软件校正，一方面提高了图像校正的效率，另一方面降低了上位机的处理压力。

进一步地，所述中央控制模块还与数据校正模块通信连接，所述数据校正模块还用于接收所述中央控制模块发送的数据校正指令，接收多种采集模式下的校正数据，并根据所述校正数据生成对应采集模式下的校正文件，所述校正文件包括本底offset文件、增益gain文件和缺陷defect文件。

本申请实施例通过建立中央控制模块与数据校正模块之间的通信，使得数据校正模块能够接收中央控制模块发送的校正指令，从而使数据校正模块每隔一段时间便能够根据校正指令生成校正文件，提高了对图像数据校正的准确率。

进一步地，所述装置还包括数据传输模块，所述数据传输模块一端与所述中央控制模块连接，另一端与上位机连接。

进一步地，所述数据传输模块包括相机连接装置Camera Link。

本申请实施例通过数据传输模块实现将校正后图像数据发送至上位机，并且通过Camera Link能够提高对校正后图像数据传输的效率。

进一步地，所述中央控制模块、所述数据控制接口模块和所述数据校正模块分别通过现场可编程门阵列FPGA实现。

本申请实施例中，中央控制模块、数据控制接口模块和数据校正模块均通过一个FPGA实现，硬件的处理效率比软件的处理效率更高。

第二方面，本申请实施例提供一种平板探测器，包括第一方面所述的数据处理装置以及探测器模块，所述探测模块包括薄膜场效应晶体管TFT屏；

所述数据处理装置中的数据控制接口模块所述TFT屏通信连接；

所述TFT屏用于根据所述数据控制接口模块发送的时序脉冲进行刷新操作。

本申请实施例通过探测器模块对待测物进行探测，并通过数据处理装置采集图像数据并对图像数据进行校正，不需要将数据校正的过程在上位机实现，即通过硬件能够实现更快的对图像数据的校正。

第三方面，本申请实施例提供一种平板探测系统，包括第三方面所述的平板探测器、发生器以及上位机；所述平板探测器与所述上位机通信连接，所述发生器与所述上位机通信连接；所述平板探测器与所述发生器通信连接；

所述上位机控制所述发生器的曝光窗口；

所述平板探测器向所述发生器发送曝光指令，所述发生器根据所述曝光指令进行曝光操作。

第四方面，本申请实施例提供一种数据处理方法，包括：

数据控制接口模块接收中央控制模块发送的采集指令，并根据所述采集指令进行图像采集，获得图像数据；

所述数据控制接口模块向所述数据校正模块发送所述图像数据；

数据校正模块接收图像数据以及所述图像数据对应的采集模式；所述图像数据为对待检测物进行探测获得；

数据校正模块根据所述采集模式获取对应的校正文件；

数据校正模块利用所述校正文件对所述图像数据进行校正，获得校正后图像数据。

本申请实施例提供的数据处理方法应用在处理装置中，因此，通过在处理装置中实现对图像数据校正的功能，无需在上位机中通过软件实现，因此，通过在硬件中实现图像数据的校正比软件校正的效率更高，且不会给上位机增加处理压力。

进一步地，在数据校正模块接收图像数据以及所述图像数据对应的采集模式之前，所述方法还包括：

所述数据校正模块接收校正数据，所述校正数据为在没有待测物的情况下驱动探测模块获得；

所述数据校正模块根据所述校正数据生成对应的校正文件；所述校正文件包括offset文件、gain文件和defect文件。

本申请实施例通过预先在数据校正模块中存储offset文件、gain文件和defect文件，从而能够对图像数据进行本底校正、增益校正和缺陷校正，从而获得了更加准确的图像。

进一步地，在获得校正后图像数据之后，所述方法还包括：

所述数据校正模块通过中央控制模块向上位机发送所述校正后图像数据。

本申请实施例通过将校正后图像数据发送至上位机，以供工作人员使用。

本申请的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请实施例了解。本申请的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的平板探测器的数据处理装置结构示意图；

图2为本申请实施例提供的另一种数据处理装置结构示意图；

图3为本申请实施例提供的数据校正模块功能示意图；

图4为本申请实施例提供的有一种数据处理装置结构示意图；

图5为本申请实施例提供一种平板探测器结构示意图；

图6为本申请实施例提供的一种平板探测系统结构示意图；

图7为本申请实施例提供的一种图像校正方法流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。

非晶硅平板探测器为间接数字化X线成像，其基本结构为表面是一层闪烁体材料(碘化铯或硫氧化)，再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路，最底层为电荷读出电路。

位于探测器表面的闪烁体将透过人体后衰减的X线转换为可见光，闪烁体下的非晶硅光电二极管阵列又将可见光转换为电信号，在光电二极管自身的电容上形成存储电荷，每个像素的存储电荷量与入射X线强度成正比，在控制电路的作用下，扫描读出各个像素的存储电荷，经A/D转换后输出数字信号，传送给计算机进行图像处理从而形成X线数字影像。

为了能够降低上位机的压力并且提高图像校正的效率，本申请实施例提供一种平板探测器的数据处理装置，如图1所示，图1为本申请实施例提供的平板探测器的数据处理装置结构示意图，该装置包括：中央控制模块101、数据控制接口模块102和数据校正模块103，其中，数据控制接口模块102分别与中央控制模块101和数据校正模块103通信连接。

中央控制模块101可以在一个FPGA上实现其所需的功能。中央控制模块101通过与上位机进行通信，可以接收上位机发送的控制指令，并对接收到的控制指令进行解析。可以理解的是，控制指令可以为进行数据采集的指令，即当中央控制模块101在解析控制指令后向数据控制接口模块102发送数据采集指令，数据采集指令包括采集模式以及该采集模式下设置的各种采集参数，例如单帧采集还是双帧采集等。应当说明的是，数据采集指令还包括采集图像数据的其他参数，例如曝光窗口等。工作人员在使用上位机控制平板探测器对待测物进行探测时，可以在上位机上选择采集模式，以及设置该采集模式下的各个参数，在设置完成参数后通过上位机将包括上述参数信息的控制指令发送至中央控制模块101。

数据控制接口模块102也可以通过一个FPGA中实现，在接收到中央控制模块101发送的数据采集指令后产生各种驱动探测模块的时序脉冲，控制探测模块的刷新、电荷累计、电荷读取和电荷转换等相关时序，控制曝光窗口的设置，控制数据重排等。另外，数据控制接口模块102还用于采集探测模块探测获得的图像数据，并向数据校正模块103发送该图像数据。其中，图像数据是指构成图像的每个像素点的值，且图像数据的排列方式可以是从图像的左上角开始，从左向右且一行一行地进行排列。当然，也可以按照图像的大小将像素点的值构成对应的矩阵。

数据校正模块103也可以通过在一个FPGA中实现，用于接收图像数据，由于图像数据可能会存在曝光过度、或有些像素点的值丢失以及探测器的本体噪声的影响，因此，通过数据控制接口模块102采集到的图像数据不准确或成像质量较低，需要对图像数据进行校正，从而能够获取较为清晰准确的图像。当数据校正模块103接收到图像数据后，利用预先存储的校正文件对图像数据进行校正，获得校正后图像数据。

本申请实施例通过在平板探测器的数据处理装置中增加数据校正模块，在数据控制接口模块采集到图像数据后，将图像数据发送至数据校正模块，数据校正模块对图像数据进行校正，相比于在上位机通过软件校正，一方面提高了图像校正的效率，另一方面降低了上位机的处理压力。

图2为本申请实施例提供的另一种数据处理装置结构示意图，如图2所示，中央控制模块101还与数据校正模块103通信连接。由于探测器在使用一段时间后，可能其性能参数会发生变化，此时，预先存储在数据校正模块中的校正文件不能起到有效校准的作用，需要重新生成探测模块的校正文件。在生成校正文件之前，中央控制模块101接收上位机发送的校正指令，在对校正指令进行解析后，控制数据控制接口模块102驱动探测模块工作，并采集探测模块的数据，该数据称为校正数据。并且中央控制模块101向数据校正模块103发送数据校正指令，数据校正指令中包括采集模式，不同的采集模式生成的校正文件不同。数据校正模块103在收到该数据校正指令后进入校正状态。可以理解的是，当对人体某个部位进行探测时，人体的该部位需要贴近探测模块，但是在校正过程中，探测模块在工作时，并没有被测物在探测模块处，因此，数据控制接口模块102采集到的是只有探测模块本体时的数据，该数据为校正数据。

数据校正模块103在接收到数据控制接口模块102发送的校正数据后，根据校正数据生成对应采集模式下的校正文件，其中，校正文件包括本底offset文件、增益gain文件和缺陷defect文件。

图3为本申请实施例提供的数据校正模块功能示意图，如图3所示，数据校正模块103包括两方面功能，其一为对图像数据校正的功能1031，其二为生成校正文件的功能1032。offset文件304是采用offset算法301对校正数据中的暗图像数据生成的，暗图像数据是指没有经过曝光的图像的数据，通过暗图像数据可以获得探测器的本底噪声，在通过offset文件304对图像数据进行校正时，可以将图像数据减去探测器的本底噪声。gain文件305为利用gain算法302生成，采集不同剂量下曝光图像，对每个像素不同剂量下的响应值，进行抑噪、拟合、规范化，从而形成相应像素点的增益系数，所有像素的增益系数组合在一起，形成校正表即gain文件。其作用是校正探测器像素的响应不一致，保证使其在相同剂量下，响应值基本相同。defect文件306为采用defect算法303生成，采集不同剂量下曝光图像，对每个像素进行全局比较、分块比较、邻域比较等，查找到像素响应偏差较大或者响应不稳定的像素位置，并进行标记，形成校正表即defect文件。其作用是找出图像数据中的坏点，所谓坏点是像素响应偏差较大或者响应不稳定的像素。在defect校正307时，可以通过坐标获取到坏点，并获取到该坏点周围的像素点的像素值，将周围的像素点的像素值做加权，得到的值作为坏点对应的像素值。通过数次迭代，直到将defect文件中所标记的坏点全部修正完毕。

数据处理功能包括offset校正307、gain校正308和defect校正309之后，获得校正后图像数据310，应当说明的是，由于校正文件生成顺序依次是offset文件304，gain文件305，defect文件306，因此校正执行顺序依然是offset校正307、gain校正308、defect校正309，文件的生成和校正顺序保持一致。

本申请实施例通过建立中央控制模块与数据校正模块之间的通信，使得数据校正模块能够接收中央控制模块发送的校正指令，从而使数据校正模块每隔一段时间便能够根据校正指令生成校正文件，提高了对图像数据校正的准确率。

图4为本申请实施例提供的有一种数据处理装置结构示意图，如图4所示，该装置还包括数据传输模块104，数据传输模块104一端与所述中央控制模块101连接，另一端与上位机105连接。其中，上位机105可以是台式电脑等。数据传输模块104包括相机连接装置Camera Link。通过数据传输模块104实现上位机105和中央控制模块101之间的通信，由于中央控制模块101、数据控制接口模块102和数据校正模块103之间互相通信，从而也实现了上位机105、中央控制模块101、数据控制接口模块102和数据校正模块103之间互相通信。

当数据校正模块103在对图像数据进行校正后，可以将校正后图像数据发送至中央控制模块101，中央控制模块101再通过数据传输模块104向上位机105发送该校正后图像。

本申请实施例通过数据传输模块实现将校正后图像数据发送至上位机，并且通过Camera Link能够提高对校正后图像数据传输的效率。

图5为本申请实施例提供一种平板探测器结构示意图，如图5所示，该平板探测器包括上述各实施例提供的数据处理装置501和探测模块502；探测模块502包括TFT屏5021。

数据处理装置501中的数据控制接口模块102和TFT屏5021通信连接；TFT屏5021用于根据数据控制接口模块102发送的时序脉冲进行刷新操作。平板探测器的工作原理为：入射的X射线图像经碘化铯闪烁晶体转换为可见光图像，可见光图像由下一层的TFT屏5021转换为电荷图像；对电荷信号逐行取出，转换为数字信号，该数据信号被数据处理装置的数据控制接口模块采集获得。

本申请实施例通过探测器模块对待测物进行探测，并通过数据处理装置采集图像数据并对图像数据进行校正，不需要将数据校正的过程在上位机实现，即通过硬件能够实现更快的对图像数据的校正。

图6为本申请实施例提供的一种平板探测系统结构示意图，如图6所示，该系统包括上述实施例提供的平板探测器601、发生器602以及上位机105，平板探测器601和发生器602均与上位机105通信连接，并且平板探测器601和发生器602通信连接。正常采集流程如下：发生器602接收上位机105发送的曝光准备命令参数，发生器602手闸按下等待曝光允许信号，此时上位机告知平板探测器601执行采集命令，平板探测器601内部执行配置、刷新动作后，向发生器602发送曝光允许信号，发生器602曝光，曝光结束后，平板探测器601中的数据控制接口模块进行电荷积累、电荷读取、电荷转换、数据重排等操作，获得图像数据，数据控制接口模块将图像数据发送给数据校正模块进行校正，将校正后图像数据发送至上位机，以供工作人员使用。其中，具体采集方法及校正方法在下面的实施例中介绍。

图7为本申请实施例提供的一种图像校正方法流程示意图，如图7所示，该方法应用于上述实施例提供的数据处理装置，包括：

步骤701：数据控制接口模块接收中央控制模块发送的采集指令，并根据所述采集指令进行图像采集，获得图像数据。

上位机可以通过Camera Link将控制指令发送给中央控制模块，中央控制模块对上位机发过来的控制指令进行解析，获得采集指令，并将采集指令发送给数据控制接口模块。其中，采集指令用于控制数据控制接口模块进入数据处理状态，并且采集指令可以包括采集模式、产生各种驱动TFT屏的时序脉冲，TFT屏的刷新时间、控制曝光窗口等。在数据控制接口模块接收到采集指令后，打开图像数据发送链路，在采集模式下，数据控制接口模块设置曝光窗口时间，对TFT屏进行暗电荷刷新，保证曝光图像的准确，并且按照设定的曝光窗口时间等待发生器曝光，同时累积电荷，最后将积累的电荷进行模数转换、数据读取、数据重排等完成图像数据的采集，获得图像数据。其中，图像数据发送链路为：数据校正模块→中央控制模块→Camera Link模块→上位机。

步骤702：所述数据控制接口模块向所述数据校正模块发送所述图像数据。

在具体的实施过程中，在数据控制接口模块采集获得图像数据后，通过图像数据发送链路将图像数据发送至数据校正模块，以使数据校正模块对图像数据进行校正。

步骤703：数据校正模块接收图像数据以及所述图像数据对应的采集模式；所述图像数据为对待检测物进行探测获得。

在具体的实施过程中，图像数据可以是通过探测模块对待检测物进行探测，由数据控制接口模块采集获得。例如，图像数据可以是对人体的胸部进行探测获得的数据。数据控制接口模块在采集到图像数据后将图像数据发送至数据校正模块。采集模式为数据控制接口采集图像数据时所采用的采集模式，采集模式可以为单帧采集或双帧采集。并且采集模式可以在采集前由人工设定。数据校正模块中包括各个采集模式分支，根据采集模式选择对应的采集模式分支。

步骤704：数据校正模块根据所述采集模式获取对应的校正文件。

在具体的实施过程中，由于在数据校正模块中预先存储有不同采集模式下对应的校正文件，即每一采集模式均对应一个offset文件、一个gain文件和一个defect文件。因此，数据校正模块可以根据接收到的采集模式获取对应的校正文件。

步骤705：数据校正模块利用所述校正文件对所述图像数据进行校正，获得校正后图像数据。

在具体的实施过程中，数据校正模块利用获取到的校正文件对图像数据进行校正，在校正时，包括offset校正、gain校正和defect校正。对于offset校正，在offset文件中包括有探测模块的本底噪声，因此，将图像数据减去本底噪声，从而避免了探测模块本身的影响。例如：offset文件中可以保存有暗图像对应的每个像素点的像素值，在校正时，可以将图像数据对应的每个像素点的像素值与暗图像中相应像素点的像素值进行相减，获得offset校正后的图像。对于gain校正，通过gain文件中所记录的各个像素的增益系数，对待校正的图像的对应像素进行修正，从而校正探测器像素的响应不一致，使其在相同剂量下，响应值基本相同。对于defect校正，可以通过defect文件中所标记的坏点位置获取到坏点，并获取到该坏点周围的像素点的像素值，将周围的像素点的像素值做加权，得到的值作为坏点对应的像素值。通过数次迭代，直到将defect文件中所标记的坏点全部修正完毕。

本申请实施例提供的数据处理方法应用在处理装置中，因此，通过在处理装置中实现对图像数据校正的功能，无需在上位机中通过软件实现，因此，通过在硬件中实现图像数据的校正比软件校正的效率更高，且不会给上位机增加处理压力。

在完成对图像数据的校正之后，数据校正模块通过图像数据发送链路将校正后图像数据发送至中央控制模块，中央控制模块通过Camera Link模块再将校正后图像数据发送至上位机。

本申请实施例通过数据控制接口模块采集图像数据，并将图像数据发送至数据校正模块进行数据的校正，无需在上位机中通过软件实现，因此，通过在硬件中实现图像数据的校正比软件校正的效率更高，且不会给上位机增加处理压力。

在上述实施例的基础上，在数据校正模块接收图像数据以及所述图像数据对应的采集模式之前，所述方法还包括：

所述数据校正模块接收校正数据，所述校正数据为在没有待测物的情况下驱动探测模块获得；

所述数据校正模块根据所述校正数据生成对应的校正文件；所述校正文件包括offset文件、gain文件和defect文件。

在具体的实施过程中，由于平板探测器在使用过程中，会受到环境等因素影响会使其探测到的图像数据有误差，因此可以每隔一段时间就需要更新存储在数据校正模块中的校正文件，例如可以三个月更新一次。在需要更新校正文件时，上位机向中央控制模块发送校正的控制指令，中央控制模块对该控制指令进行解析，获得校正指令，并向数据控制接口模块发送采集指令，以及通知数据校正模块准备校正。数据控制接口模块采集校正数据，该校正数据为在没有探测物的情况下驱动探测模块获得。数据控制接口模块将校正数据发送至数据校正模块，数据校正模块针对每个采集模式下的校正数据生成对应的校正文件，其中，每个采集模式下的校正文件均包括offset文件、gain文件和defect文件。

本申请实施例通过预先在数据校正模块中存储offset文件、gain文件和defect文件，从而能够对图像数据进行本底校正、增益校正和缺陷校正，从而获得了更加准确的图像。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

需要说明的是，功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种数据处理装置，其特征在于，应用于平板探测器，包括：数据控制接口模块以及分别与所述数据控制接口模块通信连接的中央控制模块和数据校正模块；

所述中央控制模块用于接收并解析控制指令，并根据解析后的控制指令向所述数据控制接口模块发送数据采集指令；

所述数据控制接口模块用于接收所述数据采集指令，根据所述数据采集指令产生对应的驱动信号以驱动探测模块，并采集所述探测模块探测的图像数据，并向所述数据校正模块发送所述图像数据；

所述数据校正模块用于接收所述图像数据，并利用预先存储的校正文件对所述图像数据进行校正。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述中央控制模块还与数据校正模块通信连接，所述数据校正模块还用于接收所述中央控制模块发送的数据校正指令，接收多种采集模式下的校正数据，并根据所述校正数据生成对应采集模式下的校正文件，所述校正文件包括本底offset文件、增益gain文件和缺陷defect文件。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括数据传输模块，所述数据传输模块一端与所述中央控制模块连接，另一端与上位机连接。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述数据传输模块包括相机连接装置Camera Link。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述中央控制模块、所述数据控制接口模块和所述数据校正模块分别通过现场可编程门阵列FPGA实现。

6.一种平板探测器，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的数据处理装置以及探测模块；所述探测模块包括薄膜晶体管TFT屏；

所述数据处理装置中的数据控制接口模块所述TFT屏通信连接；

所述TFT屏用于根据所述数据控制接口模块发送的时序脉冲进行刷新操作。

7.一种平板探测系统，其特征在于，包括如权利要求6所述的平板探测器、发生器以及上位机；所述平板探测器和所述发生器均与所述上位机通信连接；所述平板探测器与所述发生器通信连接；

所述上位机控制所述发生器的曝光窗口；

所述平板探测器向所述发生器发送曝光指令，所述发生器根据所述曝光指令进行曝光操作。

8.一种数据处理方法，其特征在于，应用于如权利要求1-5任一项所述的数据处理装置，包括：

数据控制接口模块接收中央控制模块发送的采集指令，并根据所述采集指令进行图像采集，获得图像数据；

所述数据控制接口模块向所述数据校正模块发送所述图像数据；

数据校正模块接收图像数据以及所述图像数据对应的采集模式；所述图像数据为对待检测物进行探测获得；

数据校正模块根据所述采集模式获取对应的校正文件；

数据校正模块利用所述校正文件对所述图像数据进行校正，获得校正后图像数据。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在数据校正模块接收图像数据以及所述图像数据对应的采集模式之前，所述方法还包括：

所述数据校正模块接收校正数据，所述校正数据为在没有待测物的情况下驱动探测模块获得；

所述数据校正模块根据所述校正数据生成对应的校正文件；所述校正文件包括offset文件、gain文件和defect文件。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在获得校正后图像数据之后，所述方法还包括：

所述数据校正模块通过所述中央控制模块向上位机发送所述校正后图像数据。