CN101832948A - 印刷电路板的外观检查系统及其方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种柔性印刷电路板单元的外观检查方法。该外观检查方法包括：将检查对象物的全部检查区域划分为第一区域和第二区域的步骤；利用使用不同照明的第一摄像部和第二摄像部，对检查对象物的全部检查区域进行拍摄的步骤；以及，利用所述第一摄像部获得的第一图像来判断第一区域是否有不合格部分，利用所述第二摄像部获得的第二图像来判断第二区域是否有不合格部分的步骤。

Description

印刷电路板的外观检查系统及其方法
技术领域
本发明涉及印刷电路板的外观检查系统及其方法。
背景技术
随着半导体部件的小型化、轻量化的趋势，用于制造液晶显示器的驱动集成电路、存储器等各种半导体部件的主要材料之一的印刷电路板，经常使用薄膜(film)、卷带(tape)等类型的柔性印刷电路板(Flexible Printed CircuitBoard)。柔性印刷电路板例如包括卷带自动结合(Tape Automatic Bonding)基板、覆晶薄膜(Chip On Film)基板等，通过曝光、显影、蚀刻等工序，在基板上形成微细电路图形。
生产这种柔性印刷电路板的厂家，为了在产品最终出厂之前检查产品的整体外观，会利用外观检查机(AVI)实施检查工序。因此，生产柔性印刷电路板的厂家需要能够迅速且更有效地进行外观检查的检查装置。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种可以提高检查速度的印刷电路板的外观检查系统及其方法。
本发明的另一个目的在于，提供一种可以按最佳的各检查区域进行检查的印刷电路板的外观检查系统及其方法。
本发明要解决的技术问题并不局限于此，对于未提及的其它问题，本领域技术人员可以通过下述记载明确了解。
本发明涉及的外观检查系统包括：工作台，放置检查对象物；以及检查部，对放置在所述工作台上的检查对象物进行检查，其中，所述检查部包括：第一摄像机构，利用第一照明对检查对象物进行摄像；第二摄像机构，利用第二照明对检查对象物进行摄像；以及图像处理部，在从所述第一摄像机构提供的第一图像中检查第一区域、从所述第二摄像机构提供的第二图像中检查第二区域，并且，综合2个检查结果最终判断是否有不合格部分；所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的不同区域。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查系统，所述第一照明和所述第二照明是不同种类的照明，所述第一照明是同轴落射照明，所述第二照明是聚光照明。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查系统，所述第一照明是具有红光波长的照明，所述第二照明是具有绿光波长的照明，此外，所述第一、二照明是LED照明。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查系统，还包括移动构件，其同时移动所述第一摄像机构和所述第二摄像机构，以使所述第一摄像机构和所述第二摄像机构按行单位对检查对象物进行连续拍摄。
根据本发明的另一实施例涉及的外观检查方法，包括：提供第一照明并获得检查对象物的第一图像的步骤；提供第二照明并获得检查对象物的第二图像的步骤；在所述第一图像中对第一区域判断是否有不合格部分，在所述第二图像中对第二区域判断是否有不合格部分的步骤；其中，所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的不同区域。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一区域和所述第二区域可以存在相互重叠的区域。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一区域和所述第二区域不存在相互重叠的区域。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，获得所述第一图像和所述第二图像的摄像部不同。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一、第二图像是对于相同的所述检查对象物的全部检查区域的图像，所述第一图像和所述第二图像的分辨率不同。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的按项目划分的检查区域。
根据本发明的另一实施例涉及的外观检查方法，包括：将所述检查对象物的全部检查区域划分为第一区域和第二区域的步骤；利用使用不同照明的第一摄像部和第二摄像部，对检查对象物的全部检查区域进行拍摄的步骤；以及，利用从所述第一摄像部获得的第一图像，判断第一区域是否有不合格部分，利用从所述第二摄像部获得的第二图像，判断第二区域是否有不合格部分的判断步骤。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的按项目划分的检查区域。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一摄像部利用同轴落射照明进行摄像，所述第二摄像部利用聚光照明进行摄像。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一摄像部利用具有红光波长的LED照明进行摄像，所述第二摄像部利用具有绿光波长的LED照明进行摄像。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，在所述判断步骤中，当所述第一区域和所述第二区域中的任一个区域存在不合格部分时，判断为最终检查结果为不合格。
根据本发明的一实施例涉及的外观检查方法，所述第一区域包括所述检查对象物的按项目划分的检查区域中的覆盖层区域；所述第二区域包括所述检查对象物的按项目划分的检查区域中的镀金区域和阻焊剂区域。
根据本发明，可以按照明类型进行最优化的分区域检查。
而且，根据本发明，可以提高检查速度和检查可靠性。
另外，根据本发明，可以按需要，利用具有对各检查区域最佳的色相的波长带的照明，获得优质的图像进行检检查。因此，检查效率非常高。
另外，根据本发明，按照检查区域，对于部分图像可以提供低像素图像。因此，可以减小图像数据的大小，提高判断是否有合格的处理速度。
附图说明
图1是表示将作为检查对象物的柔性印刷电路板按项目划分为各检查区域的示意图。
图2是表示本发明的一实施例涉及的外观检查系统的主要结构的示意图。
图3是用于说明外观检查方法的流程图。
图4是用于比较按项目划分的各检查区域的第一、第二图像的示意图。
附图标记
100：工作台          200：检查部
300：第一摄像机构    400：第二摄像机构
600：图像处理部
具体实施方式
下面，参照图1至图4详细说明本发明的优选实施例。本发明可以具有多种变形的实施例，不应理解为本发明的保护范围仅限于下列实施例。本实施例是为了向本领域的普通技术人员更全面地说明本发明而提供的。为了更加清楚地说明，放大了附图中的要素形状。在这些附图中执行相同功能的构成要素被赋予相同标记。
图1是表示将作为检查对象物的柔性印刷电路板按项目划分为各检查区域的示意图。参照图1，检查对象物可以按项目划分为例如镀金区域1、阻焊剂区域(SR)2、覆盖层(CL；Cover Layer)区域3、外涂层(O/C；Over Coating)区域4这样的检查区域。如此的按项目划分的检查区域，可以存在相互重叠的区域，也可以不重叠。
本发明涉及的外观检查系统，对包含镀金区域1、阻焊剂区域2、覆盖层区域3、外涂层区域4的检查区域进行外观检查。
作为参考，柔性印刷电路板(FPCB)主要以接触(contact)的目的使用，因此，应该可以在产品上面安装各种电子部件，还应该具有一定的弯曲性。使用柔性印刷电路板的过程中，如果导体电路在暴露于外部的情况下反复且长期使用时，会对产品造成不可避免的损伤。为了防止产品被损伤，涂覆导体保护用薄膜或者高分子绝缘体(INK)。
在此，外涂层区域是指，利用具有优良的绝缘性和弯曲性的高分子绝缘体涂覆了导体电路的区域。一般来说，外涂层不作为如覆盖层那样保护导体电路的较大部分的用途而使用，通常作为保护涂覆有银浆(Ag Paste)的部分等局限的小面积而使用。另外，覆盖层区域是指，为了使在产品表面形成的导体电路不会受到外部原因造成的损失而实现保护效果，利用具有绝缘性和弯曲性的薄膜进行涂覆的区域。当然，本发明除了柔性的基板之外，还可以适用于其它种类基板的外观检查。
图2是表示本发明的一实施例涉及的外观检查系统的主要结构的示意图。
参照图2，本发明的一实施例涉及的外观检查系统1中，利用了使用不同照明的第一摄像机构300和第二摄像机构400，可以检查作为检查对象物10的柔性印刷电路板的按项目划分的检查区域。
外观检查系统1包括：放置检查对象物10的工作台100，和检查被放置在工作台100上的检查对象物10的检查部200。
检查部200可以包括第一摄像机构300、第二摄像机构400、移动构件500和图像处理部600。
第一摄像机构300包括第一摄像部310和第一照明320。第一照明320是同轴落射照明，由具有红光波长的LED或者安装有红色滤光片的卤化金属灯构成。使用了具有红光波长的同轴落射方式的第一照明320的第一摄像机构300，最适用于对作为检查对象物的按项目划分的检查区域的镀金区域、阻焊剂区域、覆盖层区域、外涂层区域中的镀金区域和覆盖层区域进行检查。
具有红光波长带的同轴落射方式的第一照明320，对于镀金区域和覆盖层区域，可以获得比其他波长带的照明更清晰的图像。为了检查镀金区域，需要对在表面暴露部分的区域检查表面的凹凸不平和污染变色等，对此，垂直照射表面的同轴落射方式的照明比较有利。另外，为了检查存在于覆盖层区域下面的导体电路，需要透过覆盖层而获取图像。为此，使用与半透明的橙色色相的覆盖层相近似的红光波长带的照明，这样就可以拍摄出比其他波长带的照明更加清晰的图像。另外，若使用与覆盖层相近似的色相的红光波长带的照明，还可以清晰地拍摄出覆盖层表面的图像。
第二摄像机构400包括第二摄像部410和第二照明420。第二照明420使用与第一照明320不同的照明。第二照明420是聚光照明，由具有绿光波长的LED或者安装有绿色滤光片的卤化金属灯构成。使用了具有绿光波长的聚光方式的第二照明420的第二摄像机构400，最适用于对作为检查对象物的按项目划分的检查区域的镀金区域、阻焊剂区域、覆盖层区域、外涂层区域中的阻焊剂区域和外涂层区域进行检查。
例如，检查阻焊剂区域时使用绿色LED照明的理由是，为了获取更准确(清晰)的图像。例如，在检查对象物20的图形成分上覆盖有属于绝缘成分的绿色阻焊剂，此时，如果使用白色或红色照明，因阻焊剂而不能清晰地拍摄图像。但是，若照射与阻焊剂的色相相同或者近似的波长的绿色LED照明进行摄像，由于相同波长的LED照明可以通过阻焊层而清楚地照射里面的图形面。因此，利用绿色LED照明，可以清楚地(像不存在阻焊剂似地)拍摄位于阻焊剂内部的图形。本发明中使用的照明，除了LED、卤化金属灯之外，还可以使用安装有彩色滤光片的各种照明。
如上所述，第二摄像机构400使用具有与阻焊剂相近似的波长的照明，不仅可以拍摄出阻焊剂区域的阻焊剂内的杂质，还可以清晰地拍摄位于阻焊剂内部的图形而获得清晰的图像。
另外，在外涂层区域也利用与阻焊剂相似的高分子绝缘体，因此可以得到相似的效果。
在本发明中，第一摄像机构300和第二摄像机构400使用不同波长的照明的理由是，由于在检查区域可以用不同波长获取清晰(鲜明)的图像。例如，本发明可以根据需要，按照各检查区域的特性来利用具有最佳色相(相近的色相)的波长带的照明，获取优质的图像。
移动构件500是用于使第一摄像机构300和第二摄像机构400移动，以便按行单位拍摄检查对象物10的直线移动装置。移动构件500在对检查对象物10进行检查时，可以使第一摄像机构300和第二摄像机构400从检查对象物10的一侧向另一侧单向移动，或者往复移动。在此，移动构件500可以使用利用液压的液压缸方式，或者马达、滚珠丝杠，以及利用移送螺母的多种直线移动方式。
在本发明中，第一摄像机构300的第一摄像部310和第二摄像机构400的第二摄像部410，可以对检查对象物10的全部区域进行一样的拍摄。图像处理部600从由第一摄像部310及第二摄像部410提供的、对于检查对象物的全部区域的第一图像及第二图像中，只使用由第一照明320、第二照明420实现了最佳化的区域的图像，并且与作为基准的图像进行比较。例如，从第一图像和第二图像中获得的检查对象物的摄像区域可以不同，并且，第一图像和第二图像可以由一个摄像部获得。而且，第一图像和第二图像可以通过同一照明获得。
图像处理部600可以是典型的计算机系统(又称微型计算机)。图像处理部600从第一摄像机构300获得第一图像，从第二摄像机构400获得第二图像，并且将其与基准数据进行比较，判断其是否合格。在此，图像处理部600按区域划分检查对象物的全部检查区域(第一摄像部和第二摄像部所拍摄的区域)。本实施例中，将全部检查区域划分为包括镀金区域和覆盖层区域的第一区域，和包括阻焊剂区域和外涂层区域的第二区域。例如，除了按项目划分检查对象物的检查区域之外，还可以根据其他基准(根据区域的色相或材质等)划分第一区域和第二区域。
另外，图像处理部600从第一摄像部拍摄的第一图像中选择相当于第一区域的图像进行检查，从第二摄像部拍摄的第二图像中选择相当于第二区域的图像进行检查。这时，作为比较对象的基准数据，可以有使用设计标准和使用合格基板的数据的这两种方式。
图3是用于说明外观检查方法的流程图。图4是用于比较按项目划分的检查区域的第一、第二图像的示意图。
参照图3和图4，本发明涉及的外观检查方法中，图像处理部600将检查对象物的全部检查区域(被第一摄像部和第二摄像部摄像的区域)划分为第一区域和第二区域(S10)。
第一摄像机构300的第一摄像部310利用第一照明拍摄检查对象物10的全部区域，第二摄像机构400的第二摄像部410利用第二照明拍摄检查对象物10的全部区域S20。其中，第一摄像部310获得的第一图像和第二摄像部410获得的第二图像是对相同检查对象物的摄像区域拍摄的图像。
由第一摄像部310获得的第一图像和第二摄像部410获得的第二图像被提供给图像处理部600。所述图像处理部600利用第一图像中的相当于第一区域的镀金区域和相当于覆盖层区域的图像来判断其是否有不合格部分，并且，利用第二图像中的相当于第二区域的阻焊剂区域和相当于外涂层区域的图像来判断其是否有不合格部分(S30)。
如图3所示，检查覆盖层区域和镀金区域时，由于第一摄像部310获得的第一图像比第二摄像部410获得的第二图像更清晰，所以利用第一图像进行检查；当检查阻焊剂区域时，由于第二摄像部410获得的第二图像比第一摄像部310获得的第一图像更清晰，所以利用第二图像进行检查。而且，图像处理部600综合两个检查结果，判断其是否有不合格部分(S40)。
如此地，根据本发明涉及的外观检查方法，在各区域使用特定的照明来获得图像，并且从这些图像中仅使用最佳区域的图像来判断是否有不合格部分。这样，不仅加快了检查速度，还可以提高检查可靠性。
本实施例虽然以两台摄像部作为基本构成，但根据需要可以追加使用彩色摄像机。
本发明涉及一种对检查对象物进行最终的外观检查的设备。这种最终外观检查设备的基本特点是用于取代以往的目视检查，所以，价廉、且检查速度快是非常重要的。所以，在本发明中，第一摄像部310和第二摄像部410中使用不同的照明波长来拍摄检查对象物。在第一摄像部310拍摄的第一图像中，对检查对象物的第一区域进行检查；在第二摄像部410拍摄的第二图像中，对检查对象物的第二区域进行检查。从而，不仅可以加快检查速度，还可以提高检查可靠性。
另外，本发明涉及的由上述结构构成的外观检查装置及其方法，可以施加多种变形和具有多种形态。但是，毋庸置疑，本发明并不限定于上述详细说明中提及的特定形态，而且，权利要求书中定义的本发明的主旨及范畴内的所有变形物、等同物、以及替代物，都应当属于本发明的保护范围。

Claims (19)

1.一种外观检查系统，其特征在于，包括：
工作台，放置检查对象物；以及
检查部，对放置在所述工作台上的检查对象物进行检查，
其中，所述检查部包括：
第一摄像机构，利用第一照明对检查对象物进行摄像；
第二摄像机构，利用第二照明对检查对象物进行摄像；
以及图像处理部，在从所述第一摄像机构提供的第一图像中检查第一区域、从所述第二摄像机构提供的第二图像中检查第二区域，从而断是否有不合格部分；
所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的不同区域。
2.如权利要求1所述的外观检查系统，其特征在于，
所述第一照明和所述第二照明是不同种类的照明。
3.如权利要求1所述的外观检查系统，其特征在于，
所述第一照明是同轴落射照明，所述第二照明是聚光照明。
4.如权利要求1至3中任一项所述的外观检查系统，其特征在于，
所述第一照明是具有红光波长的照明，所述第二照明是具有绿光波长的照明。
5.如权利要求4所述的外观检查系统，其特征在于，
所述第一、第二照明是LED照明、或者安装有彩色滤光片的卤化金属灯照明。
6.如权利要求1至3中任一项所述的外观检查系统，其特征在于，还包括移动构件，其同时移动所述第一摄像机构和所述第二摄像机构，以使所述第一摄像机构和所述第二摄像机构按行单位对检查对象物进行连续拍摄。
7.一种外观检查方法，其特征在于，包括：
提供第一照明并获得检查对象物的第一图像的步骤；
提供第二照明并获得检查对象物的第二图像的步骤；
在所述第一图像中，对第一区域判断是否有不合格部分，在所述第二图像中，对第二区域判断是否有不合格部分的步骤；其中，
所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的不同区域。
8.如权利要求7所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一区域和所述第二区域存在相互重叠的区域。
9.如权利要求7所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一区域和所述第二区域不存在相互重叠的区域。
10.如权利要求7至9中任一项所述的外观检查方法，其特征在于，
获得所述第一图像和所述第二图像的摄像部不同。
11.如权利要求7至9中任一项所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一、第二图像是对于相同的所述检查对象物的全部检查区域的图像。
12.如权利要求7至9中任一项所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一图像和所述第二图像是分辨率不同的图像。
13.如权利要求7至9中任一项所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的按项目划分的检查区域。
14.一种柔性印刷电路板单元的外观检查方法，包括：
将所述检查对象物的全部检查区域划分为第一区域和第二区域的步骤；
利用使用不同照明的第一摄像部和第二摄像部，对检查对象物的全部检查区域进行拍摄的步骤；以及
利用从所述第一摄像部获得的第一图像，判断第一区域是否有不合格部分，利用从所述第二摄像部获得的第二图像，判断第二区域是否有不合格部分的判断步骤。
15.如权利要求14所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一区域和所述第二区域是所述检查对象物的按项目划分的检查区域。
16.如权利要求14所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一摄像部利用同轴落射照明进行摄像，所述第二摄像部利用聚光照明进行摄像。
17.如权利要求14所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一摄像部利用具有红光波长的LED照明进行摄像，所述第二摄像部利用具有绿光波长的LED照明进行摄像。
18.如权利要求14所述的外观检查方法，其特征在于，
在所述判断步骤中，当所述第一区域和所述第二区域中的任一个区域存在不合格部分时，判断为最终检查结果为不合格。
19.如权利要求14所述的外观检查方法，其特征在于，
所述第一区域包括所述检查对象物的按项目划分的检查区域中的覆盖层区域；
所述第二区域包括所述检查对象物的按项目划分的检查区域中的镀金区域和阻焊剂区域。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102564304A (zh) * 2010-09-30 2012-07-11 横河电机株式会社 形成于薄片上的图案的位置及形状测定装置
CN103630544A (zh) * 2013-11-07 2014-03-12 江苏大学 一种视觉在线检测系统
CN104280398A (zh) * 2013-07-05 2015-01-14 上海维锐智能科技有限公司 一种电子元器件的自动测试装置
CN104655653A (zh) * 2013-11-19 2015-05-27 牧德科技股份有限公司 印刷电路板的检测方法及其设备
CN106503724A (zh) * 2015-09-04 2017-03-15 佳能株式会社 分类器生成装置、有缺陷/无缺陷确定装置和方法
CN107735675A (zh) * 2016-06-13 2018-02-23 日本梅克特隆株式会社 基板检査装置和基板制造方法
CN108344752A (zh) * 2018-02-08 2018-07-31 江西景旺精密电路有限公司 一种pcb外观自动检测装置及检测方法
CN109789697A (zh) * 2016-09-21 2019-05-21 小森公司 印刷品质检查装置和印刷品质检查方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201312503A (zh) 2011-09-15 2013-03-16 Chroma Ate Inc 一種處理用於測試之影像資料之系統及方法
KR101870718B1 (ko) * 2011-10-11 2018-07-20 엘지전자 주식회사 이물질을 판별하는 광학 장치 및 그 방법
JP5854531B2 (ja) * 2011-11-08 2016-02-09 株式会社メガトレード プリント基板の検査装置
JP6654805B2 (ja) * 2015-03-12 2020-02-26 日東電工株式会社 配線回路基板の製造方法および検査方法
KR101714625B1 (ko) * 2015-09-21 2017-03-09 주식회사 온비젼 슬릿조명을 구비한 비젼검사시스템 및 비젼검사방법
DE102017213262B4 (de) * 2017-08-01 2022-09-22 Heidelberger Druckmaschinen Ag Bilderfassung mit bereichsweiser Bildauflösung
KR101981394B1 (ko) * 2017-08-07 2019-05-22 김용관 컬러 영상을 이용한 고속 실시간 ｃｏｆ 필름 복합 검사장치
KR20220003977A (ko) * 2020-07-02 2022-01-11 유테크존 컴퍼니 리미티드 기판에 적용되는 회로 측정 시스템 및 방법

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100200213B1 (ko) * 1996-05-23 1999-06-15 윤종용 인쇄회로기판의 부품 검사장치
KR19990070849A (ko) * 1998-02-25 1999-09-15 이종수 인쇄회로기판의 납땜 검사장치 및 방법
JP2003303841A (ja) 2002-04-10 2003-10-24 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法
KR200384722Y1 (ko) * 2005-02-24 2005-05-17 삼성전기주식회사 인쇄회로 기판의 메탈/에스알 패턴 동시 검사장치 및 이에적용되는 조명장치

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102564304A (zh) * 2010-09-30 2012-07-11 横河电机株式会社 形成于薄片上的图案的位置及形状测定装置
CN104280398A (zh) * 2013-07-05 2015-01-14 上海维锐智能科技有限公司 一种电子元器件的自动测试装置
CN103630544B (zh) * 2013-11-07 2016-09-14 江苏大学 一种视觉在线检测系统
CN103630544A (zh) * 2013-11-07 2014-03-12 江苏大学 一种视觉在线检测系统
CN104655653B (zh) * 2013-11-19 2017-08-04 牧德科技股份有限公司 印刷电路板的检测方法及其设备
CN104655653A (zh) * 2013-11-19 2015-05-27 牧德科技股份有限公司 印刷电路板的检测方法及其设备
CN106503724A (zh) * 2015-09-04 2017-03-15 佳能株式会社 分类器生成装置、有缺陷/无缺陷确定装置和方法
CN107735675A (zh) * 2016-06-13 2018-02-23 日本梅克特隆株式会社 基板检査装置和基板制造方法
TWI635273B (zh) * 2016-06-13 2018-09-11 日本美可多龍股份有限公司 基板檢查裝置和基板製造方法
CN107735675B (zh) * 2016-06-13 2020-03-31 日本梅克特隆株式会社 基板检査装置和基板制造方法
CN109789697A (zh) * 2016-09-21 2019-05-21 小森公司 印刷品质检查装置和印刷品质检查方法
CN109789697B (zh) * 2016-09-21 2021-04-02 小森公司 印刷品质检查装置和印刷品质检查方法
CN108344752A (zh) * 2018-02-08 2018-07-31 江西景旺精密电路有限公司 一种pcb外观自动检测装置及检测方法

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