CN101813860B - 主动元件阵列基板 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种主动元件阵列基板，包括基板、多条扫描线、多条数据线、多个像素以及多个共通线组。多条扫描线设置于基板上。多条数据线设置于基板上。各像素包括N个子像素，其中各子像素与对应的数据线以及对应的扫描线电性连接。多个共通线组设置于基板上，各共通线组分别对应于像素之一，其中各共通线组与相邻的共通线组仅通过M个连接线电性连接，M小于N，M、N为正整数，M个连接线与共通线组由不同膜层形成。

Description

主动元件阵列基板

技术领域

本发明涉及一种基板，且特别是有关于一种主动元件阵列基板。

背景技术

液晶显示面板主要是由主动元件阵列基板、彩色滤光阵列基板以及液晶层所构成，其中主动元件阵列基板包括多条扫描线、多条数据线以及多个阵列排列的像素，像素分别与对应的扫描线及数据线连接。一般来说，为了改善像素的显示品质，主动元件阵列基板上通常会设置有共通线(Common Line)，以与像素电极耦合成储存电容。此外，共通线通常会平行于扫描线。

由于共通线与扫描线通常是由同一金属层所形成，因此共通线与扫描线可能会因为工艺上的瑕疵而有短路的现象发生，造成显示面板必须报废。一般来说，为了避免制造成本大幅增加，业界趋向于检测出导致共通线与扫描线发生短路的确切位置并通过激光切割的方式进行修补，以使共通线与扫描线不再短路。然而，共通线与扫描线发生短路的位置在显示画面中会呈现线缺陷(linedefect)，因此仅能确定短路位置是发生在某一行像素，却无法确定发生短路的确切位置。如此一来，使得光学检测工具对于显示面板的瑕疵检出率不高，而无法降低因报废所导致的制造成本升高。

发明内容

本发明提供一种主动元件阵列基板，有助于检测出共通线与扫描线发生短路的位置。

本发明提出一种主动元件阵列基板，其包括基板、多条扫描线、多条数据线、多个像素以及多个共通线组。多条扫描线设置于基板上。多条数据线设置于基板上。各像素包括N个子像素，其中各子像素与对应的数据线以及对应的扫描线电性连接。多个共通线组设置于基板上，各共通线组分别对应于像素之一，其中各共通线组与相邻的共通线组仅通过M个连接线电性连接，M小于N，M、N为正整数，M个连接线与共通线组由不同膜层形成。

本发明提出另一种主动元件阵列基板，其包括基板、多条扫描线、多条数据线、多个像素以及多个共通线组。多条扫描线设置于基板上。多条数据线设置于基板上。各像素包括N个子像素，其中各子像素与对应的数据线以及对应的扫描线电性连接。多个共通线组设置于基板上，各共通线组分别对应于像素之一，其中各共通线组与相邻的共通线组仅通过M个连接线电性连接，M小于N，M、N为正整数，其中M个连接线连接同一列中两邻接的共通线组。

本发明提出又一种主动元件阵列基板，其包括基板、多个像素、多条扫描线、多条数据线以及多条共通线。基板具有一显示区域以及一与显示区域邻接的非显示区域。多个像素阵列排列于显示区域内，各像素包括多个子像素。多条扫描线配置于基板上，其中各扫描线分别与排列在同一行的子像素电性连接。多条数据线配置于基板上，其中各数据线分别与排列在同一列的子像素电性连接。多条共通线配置于基板上，其中各共通线与扫描线交错并与扫描线电性绝缘，同一行共通线在显示区域内彼此分离，而共通线仅在非显示区域内彼此连接。

在本发明的一实施例中，上述的各共通线的连接线分别分布于其中一列像素下方。

在本发明的一实施例中，上述的各共通线的连接线分别分布于其中一列子像素下方。

基于上述，本发明的主动元件阵列基板包括多个共通线组，其中位于同一行且相邻的两共通线组仅通过连接线连接。如此一来，当共通线组与扫描线发生短路时，能轻易地检测出发生短路的确切位置，以利后续修复进行，进而提升主动元件阵列基板的成品率。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1A是根据本发明一实施例的主动元件阵列基板的俯视示意图；

图1B是图1A的像素的俯视示意图；

图1C是沿图1B的I-I’及II-II’的剖面示意图；

图2A是根据本发明另一实施例的主动元件阵列基板的俯视示意图；

图2B是图2A的像素的俯视示意图。

其中，附图标记

100、100a：主动元件阵列基板       102：基板

104：显示区域                     106：非显示区域

107：栅绝缘层                     108：绝缘层

109：接触窗                       110：扫描线

112：数据线                       120：像素

122：子像素                       124：开关元件

126：栅极                         128：通道层

130：源极                         132：漏极

134：像素电极                     140：共通线

142：共通线组                     142a、142b：条状图案

144：连接线

152a、152b、154a、154b、156a、156b、156c、157、158：导线

具体实施方式

在主动元件阵列基板的制造工艺中，由于共通线与扫描线通常是由同一金属层所形成，因此共通线与扫描线可能会因为工艺上的瑕疵而意外发生短路。由于发生短路的位置会在显示画面上呈现线缺陷，使得现有的光学检测工具对显示面板的瑕疵检出率不高，造成显示面板必须报废。因此，以下实施例提出一种主动元件阵列基板，使检测工具能轻易地确定共通线与扫描线发生短路的确切位置，以利修复的进行，进而提升主动元件阵列基板的成品率以及避免报废所造成的成本大幅增加。

图1A是根据本发明一实施例的主动元件阵列基板的俯视示意图，图1B是图1A的像素120的俯视示意图，而图1C是沿图1B的I-I’及II-II’的剖面示意图。请同时参照图1A及图1B，本实施例的主动元件阵列基板100包括基板102、多条扫描线110、多条数据线112、多个像素120以及多条共通线140。在本实施例中，基板102具有一显示区域104以及一与显示区域104邻接的非显示区域106。多条扫描线110与多条数据线112配置于基板102上。多个像素120阵列排列于显示区域104内，且各像素120包括N个子像素122，各子像素122与对应的数据线112以及对应的扫描线110电性连接。详言之，各数据线112分别与排列在同一列的子像素122电性连接，以及各扫描线110与排列在同一行的子像素122电性连接，且数据线112的延伸方向例如是实质上垂直于扫描线110的延伸方向。

在本实施例中，一个像素120例如是包括三个子像素122，分别为红色子像素、绿色子像素以及蓝色子像素，也就是说，本实施例为N＝3的实例。然而，本发明未对像素120所包括的子像素122数目进行限制。换言之，在其他实施例中，N可以是其他自然数。如图1B所示，子像素122包括一开关元件124及一像素电极134，开关元件124与对应的数据线112及对应的扫描线110电性连接。开关元件124例如是薄膜晶体管，其包括栅极126、通道层128、源极130以及漏极132。像素电极134通过绝缘层108中的接触窗109与开关元件124的漏极132电性连接。

共通线140配置于基板102上，共通线140与扫描线110交错并与扫描线110电性绝缘，共通线140在显示区域104内彼此分离，而共通线140仅在非显示区域106内彼此连接，且各共通线140分别分布于其中一行像素120下方。详言之，共通线140包括多个共通线组142及多个连接线144。共通线组142设置于基板102上，各共通线组142分别对应于一个像素120，其中各共通线组142与相邻的共通线组142仅通过M个连接线144电性连接，M小于N。在本实施例中，共通线组142例如是分别对应于像素120且位于显示区域104内，且同一列的共通线组142在显示区域104内仅通过连接线144彼此连接，位于不同列的共通线组142在显示区域104内彼此分离而仅在非显示区域106内通过导线158彼此连接。其中，共通线组142例如是包括一第一条状图案142a与多个第二条状图案142b。第一条状图案142a的延伸方向实质上平行于扫描线110的延伸方向，第二条状图案142b与第一条状图案142a连接，且第二条状图案142b的延伸方向实质上平行于连接线144的延伸方向。

在本实施例中，连接线144例如是连接同一列中两邻接的共通线组142，且连接线144与对应的扫描线110交错并通过绝缘层108彼此电性绝缘。如图1A所示，一个共通线组142例如是对应于包括三个子像素122的像素120，而同一列中两邻接的共通线组142例如是通过一个连接线144连接，换言之，本实施例为N＝3且M＝1的实例。然而，在另一实施例中，当N＝3时，M也可以是2，也就是以两个连接线144来连接同一列中两邻接的共通线组142。特别注意的是，在本实施例中，M个连接线144与共通线组142举例由不同膜层形成。举例来说，共通线组142与扫描线110例如是由同一金属层所形成，其材料例如是金属或合金，如铬、钼、铝或上述的合金。连接线144与像素电极134例如是由同一材料层所形成，其材料例如是铟锡氧化物、铟锌氧化物或是其他金属氧化物。当然，在另一实施例中，共通线组142与扫描线110也有可能是由同一金属层所形成。

此外，如图1C所示，本实施例的主动元件阵列基板100更包括栅绝缘层107与绝缘层108，栅绝缘层107覆盖扫描线110及共通线组142，绝缘层108覆盖数据线112及连接线144。因此，共通线组142及连接线144通过绝缘层108而为不同膜层。再者，如图1A所示，在非显示区域104中，奇数条扫描线110与偶数条扫描线110分别通过导线152a、152b连接至一导线154a、154b，多条数据线112的一端分别对应于其所连接的子像素122而连接至一导线156a、156b、156c，以及多条数据线112的另一端连接至导线157，以及多条共通线140分别连接至一导线158，使位于不同列的共通线组142在非显示区域106内连接。必须说明的是，图1A所示的导线152a、152b、导线154a、154b、导线156a、156b、156c以及导线158的配置方式及构形都仅是一种例示，任何本领域技术人员可以根据实际应用及需求来设计这些导线，本发明未对其加以限制。

特别说明的是，在图1A所示的实施例中是以一个共通线组142对应于包括三个子像素122的像素120为例，但如同前文所述，本发明未限制像素120所包括的子像素122数目。因此，如图2A与图2B所示，在主动元件阵列基板100a中，一个像素120也可以仅包括一个子像素122，也就是各共通线140分别分布于其中一列子像素122下方。详言之，在共通线140中，一个共通线组142实质上对应于一个子像素122，其中位于同一列且相邻共通线组142通过一个连接线144连接，而位于不同列的共通线组142仅在非显示区域106内通过导线彼此连接。特别注意的是，虽然在上述的实施例中都是以梳形的共通线组142为例，但任何本领域技术人员可以理解共通线组142与连接线144也可以具有其他构形，本发明未对其加以限制。

在上述的实施例中，主动元件阵列基板100、100a包括多个共通线组142，其中位于同一列且相邻的两共通线组142仅通过连接线144连接，且位于不同列的共通线组142仅在非显示区域106内彼此连接。如此一来，当共通线组142与扫描线110发生短路时，因为共通线组142以分组的方式设置，其不在显示区域104内彼此在行(row)方向连接，或是不在显示区域104内同时以行(row)方向和列(column)方向连接，故在显示画面上能清楚观察到纵向线瑕疵(line defect)与/或横向线瑕疵，而纵向线瑕疵与横向线瑕疵交叉处即为短路发生处。换言之，本实施例的共通线组142的设计有助于光学检测工具检测出发生短路的确切位置，以利后续修复的进行。如此一来，能大幅提升主动元件阵列基板的成品率并避免因报废主动元件阵列基板所造成的浪费。

综上所述，本发明通过在主动元件阵列基板中设计共通线组及连接共通线组的连接线，使位于同一列且相邻的两共通线组仅通过连接线连接，且位于不同列的共通线组仅在非显示区域内彼此连接。如此一来，即使由同一金属层所形成的共通线组与扫描线因为制造工艺上的瑕疵而意外发生短路时，由于显示画面上会呈现出纵向线瑕疵与横向线瑕疵，而纵向线瑕疵与横向线瑕疵交叉处即为短路发生处，因此短路的确切位置可以轻易地被检测出，以利后续修复的进行。承上述，本发明能大幅提升主动元件阵列基板的成品率并避免因报废主动元件阵列基板所造成的浪费。

此外，实务上，在主动元件阵列基板的制造工艺中，共用线组与扫描线仍可由同一金属层所形成，因此无需增加额外的步骤，而不会造成制造成本的大幅提升。再者，本发明能大幅提升现有的检测工具与检测方法的检出率，而无需额外添购检测工具或使用新的检测方法，故能大幅提升主动元件阵列基板的检测效率、成品率并避免因报废主动元件阵列基板所造成的成本增加。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种主动元件阵列基板，其特征在于，包括：

一基板；

多条扫描线，设置于该基板上；

多条数据线，设置于该基板上；

多个像素，各该像素包括N个子像素，其中各该子像素与对应的数据线以及对应的扫描线电性连接；以及

多个共通线组，设置于该基板上，各该共通线组分别对应于这些像素之一，其中同一列中各该共通线组与相邻的共通线组仅通过M个连接线电性连接，位于不同列的共通线组在显示区域内彼此分离，仅在非显示区域内彼此连接，M小于N，M、N为正整数，该M个连接线与这些共通线组由不同膜层形成。

2.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该基板具有多个像素显示区，这些共通线组分别对应地位于这些像素显示区内。

3.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，N＝3且M＝1。

4.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，各该子像素包括：

一开关元件，与对应的数据线以及对应的扫描线电性连接；以及

一像素电极，与该开关元件的一漏极电性连接，其中该连接线与该像素电极由同一膜层形成，其中该连接线与该对应的扫描线交错。

5.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，各该像素包括三个子像素，其中这些子像素分别为一红色子像素、一绿色子像素以及一蓝色子像素。

6.一种主动元件阵列基板，其特征在于，包括：

一基板；

多条扫描线，设置于该基板上；

多条数据线，设置于该基板上；

多个像素，各该像素包括N个子像素，其中各该子像素与对应的数据线以及对应的扫描线电性连接；以及

多个共通线组，设置于该基板上，各该共通线组分别对应于这些像素之一，其中同一列中各该共通线组与相邻的共通线组仅通过M个连接线电性连接，位于不同列的共通线组在显示区域内彼此分离，仅在非显示区域内彼此连接，M小于N，M、N为正整数。

7.一种主动元件阵列基板，其特征在于，包括：

一基板，具有一显示区域以及一与该显示区域邻接的非显示区域；

多个像素，阵列排列于该显示区域内，各该像素包括多个子像素；

多条扫描线，配置于该基板上，其中各该扫描线分别与排列在同一行的子像素电性连接；

多条数据线，配置于该基板上，其中各该数据线分别与排列在同一列的子像素电性连接；以及

多个共通线组，配置于该基板上，其中各该共通线组的连接线与这些扫描线交错并与这些扫描线电性绝缘，其中同一列中各该共通线组与相邻的共通线组仅通过M个连接线电性连接，同一行共通线组在该显示区域内彼此分离，而这些共通线组仅在该非显示区域内彼此连接。

8.根据权利要求7所述的主动元件阵列基板，其特征在于，各该共通线组的连接线分别分布于其中一行像素下方。

9.根据权利要求7所述的主动元件阵列基板，其特征在于，各该共通线组的连接线分别分布于其中一行子像素下方。

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