CN101799508B - 电极断线检测方法 - Google Patents

电极断线检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101799508B
CN101799508B CN201010120615XA CN201010120615A CN101799508B CN 101799508 B CN101799508 B CN 101799508B CN 201010120615X A CN201010120615X A CN 201010120615XA CN 201010120615 A CN201010120615 A CN 201010120615A CN 101799508 B CN101799508 B CN 101799508B
Authority
CN
China
Prior art keywords
electrode
detection method
break detection
wire break
tested
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201010120615XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN101799508A (zh
Inventor
潘东曙
彭辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
INESA Electron Co., Ltd.
Original Assignee
Panasonic Plasma Display Shanghai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Plasma Display Shanghai Co Ltd filed Critical Panasonic Plasma Display Shanghai Co Ltd
Priority to CN201010120615XA priority Critical patent/CN101799508B/zh
Publication of CN101799508A publication Critical patent/CN101799508A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101799508B publication Critical patent/CN101799508B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

电极断线检测方法,涉及电子行业电极导通筛选方法。现有技术存在浪费资源、影响产品质量的缺陷,本发明在被测电极两端加一测试电压,使电极内通过大于正常工作电流值的测试电流,将存在隐患的电极熔断。可以利用较少的人力、物力投入,高效的筛选出有隐患的产品,节约了不良品的后续投入费用,同时减少了市场的返回品,提高了产品质量。

Description

电极断线检测方法
技术领域
本发明涉及电子行业电极导通筛选方法,特别是一种对电极细小断线和电极小部分尚存连接的大缺口电极的筛选方法。
背景技术
目前,在电子工业领域采用印刷、曝光显影制得电极的方式很常见,但采用这种方式的过程中存在很多的隐患:如产品在电极印刷时飘上细小纤维或者在成膜的过程中某个环节形成细小的裂纹或者在曝光时电极有缺口,这些都将对成品的后期使用产生致命的影响,因为在电极通电的工作状态下,这些缺陷使该部分电极所留过的电流大大超过正常部位,因通过电流过大超过电极的承受量受不了而烧断,从而造成断线,而使产品不能正常使用。
现在通常的测试导通状态的方式是通过测试电极两端电容,通过电容的大小是否与正常值比较来判定电极的导通性能,导通装置的测试原理如图1、图2所示:
如果电极是处于导通状态的,所测得的电容值C与标准电容值C1的关系为1/C=1/C1,即当设备测定的值为C1时就判定该电极是处于导通状态。
如果电极是处于断线状态,根据图2大家可以发现测定的电容是:1/C=1/C1+1/C断,当设备测定的值不是C1时就判定该电极是处于断线状态,操作人员将产品搬离生产线,作不良品处理。
采用上述的方法测试电极的导通性能,如果电极存在很小的断线,或电极有大的缺口但只要有很小的部分连通便不能查验出的,然后这些产品就会自然的流入下一道工序。上述方法仅能发现较大的断线,但小的断线、划伤、缺口的电极是无法甄别的。
而这些带有缺陷的没有甄别出来的产品大部分在后续的完成品老炼测试中断线,电极测试到完成品测试之间的材料、能源和人力的成本将会被浪费。还有一小部分没有在老炼工程测试出,而是流入市场,流到了用户手中,是生产者将投入更大的成本来处理这些不良品。
发明内容
为了解决现有技术中存在的问题,本发明提供一种电极断线检测方法,在原有的检测方法之前增加一步骤,使不良电极熔断得以被检测出,以避免不必要的人力、资源的浪费,提高产品质量。
为此,本发明采用以下技术方案:电极断线检测方法,其特征在于它包括以下步骤:
1)在被测电极两端加一测试电压,使电极内通过大于正常工作电流值的测试电流,将存在隐患的电极熔断;
2)采用测量仪器测量被测电极两端的电容,并将测得的电容值与电极的标准值比较;
3)若测得的电容值小于标准值,则判断电极出现断线。
测试电流对正常电极将没有负面影响,不会对正常产品产生不良反应,但能熔断隐患电极,使隐患电极在后面的步骤中被检测出。
作为对上述技术方案的完善和补充,本发明进一步采取如下技术措施或是这些措施的任意组合:
所述的测试电压由一电源输出装置提供,该电源输出装置包括电压控制单元和计时单元。
所述的电源输出装置给被测电极两端施加测试电压时,通过电压控制单元调节输出周波数为60kHz的电压,使电极内产生为正常工作电流值两倍的测试电流,并通过计时单元控制测试电流的持续时间为11秒。该形成的电流值对正常电极将没有负面影响,不会对正常产品产生不良反应,但能熔断隐患电极。
所述的测量仪器连有测量结果显示装置,测量仪器将测得的电容值与电极的标准值比较后,将结果显示在结果显示装置上。
在对电极进行测试前,先将被测电极固定在测试托架上,并使电源输出装置的输出端和测量仪器的测量端与电极两端导通。
有益效果:本发明可以利用较少的人力、物力投入,高效的筛选出有隐患的产品,节约了不良品的后续投入费用,同时减少了市场的返回品,提高了产品质量。
附图说明
图1、图2为现有的电极导通测试原理示意图;
图3为本发明检测方法涉及的电路原理图;
图4为本发明的电源输出装置输出电压波形示意图。
具体实施方式
电极断线检测方法,主要包括如下步骤:
1)先将被测电极固定在测试托架上,并使电源输出装置的输出端和测量仪器的测量端与电极两端导通。
2)用电源输出装置给被测电极两端施加测试电压(图3),通过电压控制单元调节输出周波数为60kHz的电压,使电极内产生为正常工作电流值2倍的测试电流,并通过计时单元控制测试电流的持续时间为11秒。以等离子电视显示屏生产中的电极检测为例,可施加特定周波数为60kHz、电压V=11V的输出波形(图4),会在电极上产生1.1A相当于正常工作时2倍的电流值,导电时间11秒,这个时间的1.1A的电流将会使小断线和缺口电极熔断。
3)采用电容测量仪器测量被测电极两端的电容,并将测得的电容值与电极的标准值比较,并通过结果显示装置显示测试结果,比如红灯亮为NG(不良品),绿灯亮OK(良品)。
4)取出测试样品。
5)良品流入下工序,不良品废弃。
经过试验,使用了本发明后,检出的不良产品检出率为692ppmm(26件/37570)比改造前的319ppm多检测出373ppmm(即14件/37570)。
应当指出,本实施例仅列示性说明本发明的原理及功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此项技术的人员均可在不违背本发明的精神及范围下,对上述实施例进行修改。因此,本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。

Claims (5)

1.电极断线检测方法,其特征在于它包括以下步骤:
1)在被测电极两端加一测试电压,使电极内通过大于正常工作电流值的测试电流,将存在隐患的电极熔断;
2)采用测量仪器测量被测电极两端的电容,并将测得的电容值与电极的标准值比较;
3)若测得的电容值小于标准值,则判断电极出现断线。
2.根据权利要求1所述的电极断线检测方法,其特征在于:所述的测试电压由一电源输出装置提供,该电源输出装置包括电压控制单元和计时单元。
3.根据权利要求2所述的电极断线检测方法,其特征在于:所述的电源输出装置给被测电极两端施加测试电压时,通过电压控制单元调节输出周波数为60kHz的电压,使电极内产生为正常工作电流值两倍的测试电流,并通过计时单元控制测试电流的持续时间为11秒。
4.根据权利要求1至3任一项所述的电极断线检测方法,其特征在于:所述的测量仪器连有测量结果显示装置,测量仪器将测得的电容值与电极的标准值比较后,将结果显示在测量结果显示装置上。
5.根据权利要求2或3所述的电极断线检测方法,其特征在于:在对电极进行测试前,先将被测电极固定在测试托架上,并使电源输出装置的输出端和测量仪器的测量端与电极两端导通。
CN201010120615XA 2010-03-09 2010-03-09 电极断线检测方法 Active CN101799508B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010120615XA CN101799508B (zh) 2010-03-09 2010-03-09 电极断线检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010120615XA CN101799508B (zh) 2010-03-09 2010-03-09 电极断线检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101799508A CN101799508A (zh) 2010-08-11
CN101799508B true CN101799508B (zh) 2012-06-13

Family

ID=42595265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010120615XA Active CN101799508B (zh) 2010-03-09 2010-03-09 电极断线检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101799508B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105892184A (zh) * 2016-06-12 2016-08-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中短路缺陷的修复方法及系统
CN107861013B (zh) * 2017-10-23 2020-12-22 金华市智甄通信设备有限公司 一种制备手电极的治具及方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4219489B2 (ja) * 1999-05-31 2009-02-04 日置電機株式会社 回路基板検査装置
JP2001201753A (ja) * 2000-01-18 2001-07-27 Oht Kk 単純マトリックス型液晶パネルの検査方法及び検査装置、プラズマディスプレイパネルの検査方法及び検査装置
JP2002022789A (ja) * 2000-07-05 2002-01-23 Oht Inc 検査装置及び検査方法
CN101135599A (zh) * 2007-10-09 2008-03-05 汉能科技有限公司 一种燃料电池膜电极检漏仪

Also Published As

Publication number Publication date
CN101799508A (zh) 2010-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102540508B (zh) 液晶显示装置的线路检测结构及检测方法
CN104297622B (zh) 检测显示面板缺陷的方法及装置
CN106656037B (zh) 光伏组件焊接质量测量装置及使用该装置进行质量检测的方法
CN106158680B (zh) 一种芯片封装结构检测系统
CN101799508B (zh) 电极断线检测方法
CN102944576A (zh) 一种太阳能电池串焊接缺陷测试方法
JP2013184225A (ja) 抵抗溶接のモニタリング装置及びその方法とシステム
CN104950489A (zh) 一种液晶屏检测方法
JP2007333465A (ja) 検査装置
CN104865478B (zh) 一种触控屏的划线检测系统及其检测方法
CN103376577A (zh) 一种lvds接口液晶屏的自动测试方法和系统
CN105467218A (zh) 电路短路保护用断路器接触电阻测试方法
CN104749478A (zh) 压接测试电路和测试方法及其应用
CN104265542B (zh) 一种生产用点火线圈小电压检测仪
CN204163914U (zh) 一种生产用点火线圈小电压检测仪
CN205067654U (zh) 一种用于检测光耦的在线测试仪
CN201440127U (zh) 太阳能电池及组件缺陷检测装置
CN103837755A (zh) 冰箱零部件故障检测方法及系统
CN103278781B (zh) 脉冲氙灯电特性分析仪
CN103823408B (zh) 半导体设备机台质量监控方法及系统
CN103909334A (zh) 中频电阻焊机焊点质量检测系统及其检测方法
CN103008260A (zh) 一种光伏组件柔性制造生产线之组件电参数自动分选系统
CN202494766U (zh) 电压内阻综合测试仪
CN208596211U (zh) 一种汽车熔断器性能检测装置
CN203164392U (zh) 一种led电源智能检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: INESA ELECTRON CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: SHANGHAI MATSUSHITA PLASMA DISPLAY CO., LTD.

Effective date: 20130618

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 201206 PUDONG NEW AREA, SHANGHAI TO: 201203 PUDONG NEW AREA, SHANGHAI

TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20130618

Address after: 201203 Building 1, building 200, Zhang Heng Road, Zhangjiang hi tech park, Shanghai, Pudong New Area, 2

Patentee after: INESA Electron Co., Ltd.

Address before: 201206 Shanghai city Pudong New Area Jinsui Road No. 1398

Patentee before: Shanghai Matsushita Plasma Display Co., Ltd.