CN101740117B - 用于sram的自校准时钟电路 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于SRAM的自校准时钟电路,由第一反相器、第二反相器、PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管构成,其中:PMOS管栅极、第一NMOS管栅极及第一反相器输出端相连,第一反相器输入端接nReset信号输入;PMOS管源极接CLK信号、第一NMOS管源极接地;PMOS管漏极、第一NMOS管漏极及第二NMOS管漏极相连并输出GCK信号;第二NMOS管栅极接第二反相器输出端,第二反相器输入端以及第二NMOS管源极接CLK信号输入。本发明电路非常简练、延时短可以加快SRAM读取速度,同时也考虑了SRAM工艺变化带来的影响,实现对SRAM工艺变化的抑制功能。
Description
技术领域
本发明属于集成电路中存储器的设计领域,尤其涉及一种静态随机存储器(SRAM)的时钟电路。
背景技术
SRAM(Static Random Access Memory),即静态随机存储器,是现代CPU中广泛使用的一种存储器。其主要功用在于搭建缓存(Cache),而缓存大小正是CPU性能的重要指标之一。
SRAM的存取速度的瓶颈在于读操作,控制读操作的一个关键信号是GCK,如图1所示。时钟电路设计的关键是产生GCK信号,如图2所示。GCK的上升沿由CLK的上升沿决定,GCK信号变高后会开启SRAM的存储单元,开始读操作。因此GCK上升沿来临越早,读操作开始的越早,CLK到SRAM数据输出的延时(CLK->Q的时间)就越小。因此应该尽量减少GCK上升沿与CLK上升沿之间的延时。GCK的下降沿控制SRAM核心内灵敏放大器(Sense Amplifier,SA)的开启以及SRAM存储单元的关闭时间。如果GCK下降沿来临过早,则灵敏放大器会过早开启,产生数据读取错误;如果GCK下降沿来临过迟,则存储单元打开时间过长,会增加功耗,增加读取时间,降低读取速度。因此必须恰当控制GCK下降沿来临的时刻。SRAM核心内的nReset信号会指示GCK下降沿产生的时刻,当GCK由低变高后,nReset信号电平将会缓慢的下降。当nReset信号变为低电平后,GCK的下降沿应该迅速产生。因此应该尽量减少nReset与GCK下降沿之间的延时。
为了实现上述目标,美国发明专利US622791B1中公开了采用如图3的电路。这个电路存在如下缺点,首先其实现方式很复杂,这个设计中考虑了众多nReset与CLK信号的时序情况,而这些情况在实际的SRAM操作中很多不会出现或者可以通过简单的方法避免;其次是图中从nReset信号到Q,从CLK到Q看似只有两级门的延迟时间,但是实际上却大于两级门的延迟。图中的518与516组成了锁存器,这个锁存器的延迟要大于普通的单级门的延迟。图4中的实线表示如果没有图3中的518,即破坏了锁存器后的情况,虚线表示锁存器存在的情况。很明显,锁存器的存在增加了CLK上升沿到GCK上升沿的时间,从而也潜在的增加了CLK到SRAM数据输出的时间(CLK->Q的时间)。但是图3中的锁存器如果省略将会发生电路功能错误,因此这个锁存器是必须的。
发明内容
本发明提供一种快速简单、会跟随工艺变化自动调节SRAM存储单元放电时间的时钟电路,该时钟电路为SRAM提供读操作的参考时钟,并根据SRAM的反馈信号动态调节参考时钟的占空比,从而减小工艺变化带来的影响。
一种用于SRAM的自校准时钟电路,由第一反相器、第二反相器、PMOS管、第一NMOS管和第二NMOS管构成,其中:
PMOS管栅极、第一NMOS管栅极及第一反相器输出端相连,第一反相器输入端接nReset信号输入;
PMOS管源极接CLK信号、第一NMOS管源极接地;
PMOS管漏极、第一NMOS管漏极及第二NMOS管漏极相连并输出GCK信号;
第二NMOS管栅极接第二反相器输出端,第二反相器输入端以及第二NMOS管源极接CLK信号输入。
本发明的有益效果如下:
第一、电路非常简练。整个时钟电路只有2个反相器,3个MOS管组成,功能清楚,使用方便。
第二、延时短。从CLK信号到GCK只有一个MOS管的延时,从nReset信号到GCK只有两级延时,这大大缩减了从CLK上升沿到GCK下降沿的延时,由于这个延时在CLK到SRAM数据输出时间(CLK->Q的时间)中占据重要部分,所以减少这个延时可以加快SRAM读取速度。
第三、考虑了SRAM工艺变化带来的影响。SRAM工艺变化将体现在反馈信号nReset上,通过nReset信号来动态调节GCK信号的高电平时间,从而实现对SRAM工艺变化的抑制功能。
附图说明
图1为现有技术中SRAM读操作时钟波形示意图;
图2为现有技术中SRAM接收GCK的流程框图;
图3为现有技术中改进的时钟电路示意图;
图4为图3中时钟电路的波形示意图;
图5为本发明自校准时钟电路的示意图;
图6为本发明自校准时钟电路的波形示意图;
图7为本发明自校准时钟电路中由于反相器I1导致的CLK与nCLK电平相同的波形示意图;
图8为本发明自校准时钟电路中CLK与nCLK同为高电平时的等效电路示意图;
图9为本发明自校准时钟电路中CLK与nCLK同为低电平时的等效电路示意图;
图10为本发明自校准时钟电路中nReset信号提前变高的波形示意图;
图11为本发明自校准时钟电路中nReset信号变化过慢的波形示意图。
具体实施方式
本发明自校准时钟电路如图5所示,由第一反相器I0、第二反相器I1、PMOS管M0、第一NMOS管M1和第二NMOS管M2构成,其中:
PMOS管M0栅极、第一NMOS管M1栅极及第一反相器I0输出端相连,第一反相器I0输入端接nReset信号输入;
PMOS管M0源极接CLK信号、第一NMOS管M1源极接地;
PMOS管M0漏极、第一NMOS管M1漏极及第二NMOS管M2漏极相连并输出GCK信号;
第二NMOS管M2栅极接第二反相器I1输出端,第二反相器I1输入端以及第二NMOS管M2源极接CLK信号输入。
上述的漏极、栅极、源极也可分别称为漏端、栅端、源端。
本发明自校准时钟电路的波形如图6所示,具体工作工程说明如下:
当CLK为低电平时,nReset信号为高电平,Reset为低电平,M0管与M1管截止,M0与M1的漏端呈现高阻态,而nCLK为高电平,此时M2管导通,于是GCK电位被限制在低电平;当CLK信号由低变高时,nCLK信号由高变低,M2管截止,对于M0管来说,其栅极电压Reset此时为低电平,伴随着CLK信号逐渐变高,M0管逐渐导通,GCK信号变高。可以看到从CLK信号变高到GCK信号变高只经过了一个M0管的延时。SRAM核心检测到GCK信号变高后,nReset信号电压开始降低,当nReset电压低到反相器I0的翻转电压时,Reset信号由低变高,而此时M0的源端,即CLK信号,为高电平,于是M0于M1组成一个普通的反相器,Reset信号的变化经过此反相器反相后反应到GCK上,GCK信号变低。
另外,本发明中,有如下要点需要说明:
第一,由于反相器I1存在延时,因此CLK与nCLK信号存在同为高电平或者同为低电平的情况,如图7所示。
当CLK与nCLK同为高时,如果M2管源端接的不是CLK信号而是地电位,如图8中(a)部分所示,此时M0管与M2管同时导通,存在从电源到地的一条直流通路,这势必引起较大的直流功耗。但是本发明中把M2的源端接CLK信号,如图8中(b)部分所示,此时不但破坏了这条直流通路,而且CLK信号还可以通过M2管为GCK信号充电。于是CLK可以分别通过M0管与M2管为GCK充电,这加速了GCK信号的上升,减小了上升时间。
当CLK与nCLK信号都为低电平时,无论M2源端是接地(图9中(a)部分)还是接CLK信号(图9(b)部分),都不存在直流通路,也不会发生误操作。
第二,如果nReset信号在CLK为高电平期间变高,如图10所示,则可能误产生一个GCK脉冲。因此必须保证nReset信号在CLK为低电平的时候变高。这个条件是很容易满足的。因为nReset信号变高是由SRAM核心的预充电控制的,而SRAM核心只要求在下一个CLK信号的上升沿来临之前完成预充电。因此要满足nReset信号在CLK为低电平的时候变高的条件是很容易的。
第三,如果nReset信号在CLK为低电平时才变低,则GCK信号的下降沿将不会由nReset信号产生,而是由CLK下降沿产生,如图11所示,这与我们的期望相去甚远,会发生SRAM读写的误操作。但是一般说来,nReset信号会在CLK为高电平时变为低电平。如果nReset信号在CLK为低电平的时候才变低,则可能是CLK的占空比太小,小于50%,这种情况下可以调节CLK的占空比;如果CLK占空比达到50%,则意味着GCK信号的宽度大于等于50%的时钟周期,也即意味着SRAM存储单元打开的时间达到了50%的时钟周期,这在正常的SRAM操作中是不会出现的,因此应该改进SRAM其它部分的设计。
Claims (1)
1.一种用于SRAM的自校准时钟电路,其特征在于,由第一反相器(I0)、第二反相器(I1)、PMOS管(M0)、第一NMOS管(M1)和第二NMOS管(M2)构成,其中:
PMOS管(M0)栅极、第一NMOS管(M1)栅极及第一反相器(I0)输出端相连,第一反相器(I0)输入端接SRAM核心内的nReset信号输入;
PMOS管(M0)源极接CLK信号、第一NMOS管(M1)源极接地;
PMOS管(M0)漏极、第一NMOS管(M1)漏极及第二NMOS管(M2)漏极相连并输出GCK信号;
第二NMOS管(M2)栅极接第二反相器(I1)输出端,第二反相器(I1)输入端以及第二NMOS管(M2)源极接CLK信号输入。
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CN101364432A (zh) * | 2007-08-09 | 2009-02-11 | 阿尔特拉公司 | 用于双端口sram应用的可编程控制块 |
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