CN101682319B - 过电流保护装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种过电流保护装置，当发生层间短路或完全短路时，该过电流保护装置切断负载电路以便保护该电路。该过电流保护装置包括：第一过电流检测部分，其检测在供电线中产生的反电动势；以及第二过电流检测部分，其检测设置在每个负载电路中的负载电流ID变为过电流。此外，该过电流保护装置包括延迟部分，当第二过电流检测部分检测到过电流时，以第一延迟时间输出延迟信号，并且用于当由第一过电流检测部分和第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，以比第一延迟时间短的第二延迟时间输出延迟信号。利用该结构，在发生层间短路的情况下，能够以第一延迟时间切断负载电路，并且，在发生完全短路的情况下，能够以第二延迟时间切断负载电路。

Description

过电流保护装置

技术领域

本发明涉及一种负载驱动装置，其包括多个系统的负载电路，以及用于向负载电路提供电力的DC电源，并且更具体地涉及一种过电流保护装置，当在负载电路中发生层间短路和完全短路时，该过电流保护装置根据各自的状态切断负载电路，从而保护该电路。

背景技术

诸如安装在车辆上的发动机、灯、以及加热器这样的负载由安装在车辆上的电池供电，以被驱动。负载通过半导体开关连接于电池，并且半导体开关是导通/断开式的，从而在负载的驱动/停止上切换。

在具有半导体开关和负载的负载电路中，有时会产生其中由诸如过载的原因而产生过电流的层间短路，或者其中电池的输出端与地直接短路的完全短路。当这样的事故发生时，为了保护负载电路，将过电流保护装置安装在传统的负载驱动装置上(例如，见专利文献1)。

图5是示出传统过电流保护装置安装在其上的负载驱动装置的结构的电路图。如图中所示，负载驱动装置具有多个系统(在图中，两个系统)的负载电路100、100a，以及连接于该负载电路100、100a的电池101(输出电压VB)。

负载电路100通过例如由MOS-FET形成的半导体开关T101与负载102的串联电路来构造。驱动电路103连接于半导体开关T101的栅极，并且栅极通过半导体开关T102接地。AND电路AND101、开关SW101以及电阻器R101连接于驱动电路103的输入侧。

该装置包括检测半导体开关T101的两端电压，并且将该两端电压与预定的参考电压相比较的电压检测电路104。消声过滤器107设置在电压检测电路104的输出侧。该装置还包括检测出现在供电线105中的反电动势E1的反电动势检测电路106，该供电线105将负载电路100、101a连接于其的点P1(电压V1)与电池101连接。该装置还包括AND电路AND102、OR电路OR101、以及锁存器DF101。供电线105的阻抗由Rw1表示，并且电感由L1表示。

下面，将描述图5中所示的负载驱动电路的操作。在通常状态下，半导体开关T101通过从驱动电路103输出的驱动信号而导通或断开，以切换负载102的驱动/停止。在由于任何原因而使得流经负载102的电流变成过电流并且在该过电流期间的电流增加斜率是平缓的情况下，即，在发生诸如层间短路的布线短路的情况下，负载电流ID增加。然后，半导体开关T101的两端电压升高，并且电压检测电路104输出过电流检测信号。将过电流检测信号经过OR电路OR101提供到锁存器DF101，以导通半导体开关T102。然后，半导体开关T101断开以切断负载电路100，从而能够保护电路。

相反地，在诸如连接半导体开关T101与负载102的电线被直接接地的事故，即，发生完全短路的情况下，其中电流增加斜率急剧的过大电流流经供电线105，并且在供电线105中产生大的反电动势E1。然后反电动势检测电路106检测该反电动势E1的产生，并且将反电动势检测信号输出。

将反电动势检测信号供给到AND电路AND102的一个输入端子，将从电压检测电路104输出的过电流检测信号供给到另一个输入端子，并因此AND电路AND102的输出信号处于H电平。因此，OR电路OR101的输出信号处于H电平，并因此锁存器DF101的输出反转，使得半导体开关T102导通，半导体开关T101断开，并且切断负载电路100。

设置AND电路AND102的原因是，不会使得除了其中发生完全短路的负载电路100之外的负载电路(负载电路100a)被切断。在没有设置AND电路102的结构中，当在多个负载电路100、100a中的一个中发生完全短路时，连接于电池101的所有负载电路都被切断，为了防止发生该现象，设置AND电路AND102。

然而，具有上述结构的过电流保护装置使用从电压检测电路104输出的过电流检测信号的逻辑和(AND)的输出，以及从反电动势检测电路106输出的反电动势检测信号。因此，锁存器DF101的操作取决于从电压检测电路104输出的过电流检测信号，并且，当检测到发生反电动势时，负载电路100不能被立即切断。

专利文献1：JP-A-2006-5581

发明内容

本发明要解决的问题

如上所述，在传统过电流保护装置中，存在一个问题，即，当发生完全短路时，负载电路100不能被立即切断以保护电路。

为了解决该传统的问题，已经执行了本发明。本发明的目的是提供一种过电流保护装置，当在负载电路中发生层间短路或完全短路时，该过电流保护装置根据各自状态切断电路，从而能够安全地保护该电路。

解决问题的方式

为了达到该目的，这样构造本发明的过电流保护装置，使得多个负载电路并联连接，该多个负载电路中的每一个都通过一半导体开关与一负载的串联连接来构造，并且经过公共供电线将电力供给到所述负载电路。过电流保护装置包括第一过电流检测部分，其基于在供电线中产生的反电动势的程度来检测流经供电线的过电流；第二过电流检测部分，其设置在每个负载电路中并且基于流经每个负载电路的电流的大小来检测过电流；延迟部分，当仅由第二过电流检测部分检测到过电流时，该延迟部分以第一延迟时间输出延迟信号，并且当由第一过电流检测部分和第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，该延迟部分以比第一延迟时间短的第二延迟时间输出延迟信号；以及控制部分，其仅仅将多个负载电路中的由第二过电流检测部分检测到过电流的负载电路切断。

优选地，第二过电流检测部分通过流经半导体开关的电流来检测横跨半导体开关的两端所产生的电压的大小。

优选地，延迟部分是滤波电路，其以预定的采样周期从第二过电流检测部分采样信号，以输出延迟信号。当第一过电流检测部分没有检测到过电流时，滤波电路以第一采样周期进行采样，而当第一过电流检测部分检测到过电流时，滤波电路以比第一采样周期短的第二采样周期进行采样。

优选地，延迟部分是滤波电路，其以预定的采样周期从第二过电流检测部分采样信号，以输出延迟信号。当第一过电流检测部分没有检测到过电流时，滤波电路将在输出延迟信号期间的采样数目设置作为第一采样数目，而当第一过电流检测部分检测到过电流时，滤波电路将在输出延迟信号期间的该采样数目设置作为第二采样数目，其小于第一采样数目。

优选地，延迟部分包括具有第一延迟时间的第一延迟电路，以及具有比第一延迟时间短的第二延迟时间的第二延迟电路。当只有第二过电流部分检测到过电流时，延迟部分利用第一延迟电路将延迟信号输出，而当第一过电流检测部分和第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，延迟部分利用第二延迟电路将延迟信号输出。

本发明的作用

在本发明中，当只有第二过电流检测部分检测到过电流时，将延迟部分中的延迟时间设为第一延迟时间，并且，当第一过电流检测部分和第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，将延迟部分中的延迟时间设为第二延迟时间。因此，在产生小的过电流的情况下，负载电路以第一延迟时间切断，并因此可以防止负载电路由于噪声等的影响而被错误地切断。在发生其中电源直接与地面短路的完全短路的情况下，负载电路以第二延迟时间切断，并因此可以快速响应地切断负载电路，并且保护半导体开关和其他电路元件免遭过电流。此外，只有其中发生完全短路的负载电路才会被切断，而其中没有发生完全短路的其他负载电路的驱动可以继续。

优选地，将滤波电路用作延迟部分，并且改变滤波电路的采样周期，从而来设置第一延迟时间和第二延迟时间。因此，能够通过非常简单的方法来设定延迟时间。

优选地，将滤波电路用作延迟部分，并且改变滤波电路的采样周期，从而来设置第一延迟时间和第二延迟时间。因此，能够通过非常简单的方法来设定延迟时间。

优选地，设置具有不同延迟时间的两个延迟电路，当第二过电流检测部分检测到过电流时，利用具有第一延迟时间的第一延迟电路来输出延迟信号，并且，当第一过电流检测部分和第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，利用具有第二延迟时间的第二延迟电路来输出延迟信号。因此，在产生小的过电流的情况下，负载电路以第一延迟时间切断，并因此可以防止负载电路由于噪声等的影响而被错误地切断，并且，在发生完全短路的情况下，负载电路以第二延迟时间切断。因此，能够快速响应地切断负载电路，并且可以保护半导体开关和其他电路元件免受过电流。此外，只有其中发生完全短路的负载电路才会被切断，而其中没有发生完全短路的其他负载电路的驱动可以继续。

附图说明

图1表示示出了其上安装有根据本发明的实施例的过电流保护装置的负载驱动装置的结构的电路图。

图2A和2B表示示出了滤波电路的采样周期的时间表，图2A示出第一采样周期，而图2B示出第二采样周期。

图3A和3B表示示出了滤波电路的采样数目的时间表，图3A示出将采样数目设为5的情况，而图3B示出将采样数目设为3的情况。

图4表示示出了根据本发明的第二实施例的过电流保护装置的控制电路的结构的方框图。

图5表示示出了其上安装有传统的过电流保护装置的负载驱动电路的结构的电路图。

参考数字和标号的描述

1  电池

2  负载

3  驱动电路

4  电压检测电路

5  供电线

6  反电动势检测电路

7  滤波器

8  控制电路

9  电荷泵

10 负载电路

101负载电路

102负载

103驱动电路

104电压检测电路

105供电线

106反电动势检测电路

107滤波器

具体实施方式

下面，将参考附图描述本发明的实施例。图1是示出了其上安装有本发明实施例的过电流保护装置的负载驱动装置的结构的电路图。如图中所示，负载驱动装置包括多个系统(在图中，两个系统)的负载电路10、10a，以及将驱动用的电力供给到负载电路10、10a的电池1(输出电压VB)。

负载电路10包括例如由MOS-FET构成的半导体开关T11与诸如灯、发动机、以及加热器这样的负载2的串联电路；还包括将驱动信号输出到半导体开关T11的驱动电路3。

负载电路10还包括：电压检测电路(第二过电流检测部分)4，其检测横跨半导体开关T11的两端(漏极与源极之间)而出现的两端电压VDS，从而检测流经半导体开关T11的负载电流ID变为过电流；以及反电动势检测电路(第一过电流检测部分)6，其连接于负载电路10、10a和电池1的连接点P1(电压V1)，并且其检测出现在连接负载电路10、10a和电池1的供电线5中的反电动势E1。

在反电动势检测电路6和电压检测电路4的后面阶段中，设置了用于基于该电路6、4和输出信号来确定是否将半导体开关T11断开的控制电路8。

负载电路10a具有与上面所述的负载电路10相类似的结构，并因此省去了该负载电路的结构的描述。然而，反电动势检测电路6设置成负载电路10、10a共用。即，反电动势检测电路6的比较器CMP2的输出信号也连接于负载电路10a的控制电路。

由于在半导体开关T11与负载2之间存在电阻元件和电感元件，所以等量地示出了电阻Rw2和电感L2。当发生其中半导体开关T11与负载2之间的布线连接于地的完全短路时，电阻元件和电感元件存在于短路路径中，并因此等量地示出了电阻Rw3和电感L3。

电压检测电路4包括比较器CMP1，以及电阻器R1、R2、R3。电阻器R1、R2的串联连接设置在点P1与地之间。比较器CMP1的负极输入端子连接于其为半导体开关T11的源极的点P2(电压V2)。比较器CMP1的正极输入端子连接于电阻器R1、R2的连接点P4(电压V4)。比较器CMP1的输出端子连接于控制电路8，并且还经过电阻器R3连接于5V的电源。

电阻器R1具有，例如，1[kΩ]的电阻，并且电阻器R2具有，例如，150[kΩ]的电阻，使得将电阻器的连接点P4的电压V4(参考电压)设为稍微低于点P2的电压V2的电压，或也就是设定(V1-V4)＞(V1-V2)。因此，在通常的操作中，供给到比较器CMP1的负极输入端子的电压V2高于供给到正极输入端子的电压V4，并因此比较器CMP1的输出信号是L电平的信号。当负载电路10的负载电流ID增加时，半导体开关T11的两端电压上升，并因此得到(V1-V2)＞(V1-V4)。换言之，电压V2低于参考电压V4，并且比较器CMP1的输出信号反转。

反电动势检测电路6包括比较器CMP2、电阻器R4、R5、R6、和电容器C1。电阻器R4、R5的串联连接设置在点P1与地之间。比较器CMP2的负极输入端子连接于点P1，而正极输入端子连接于电阻器R4、R5的连接点P3(电压V3)。点P3经过电容器C1接地。电阻器R4具有，例如，40[kΩ]的电阻，并且电阻器R5具有，例如，60[kΩ]的电阻。

控制电路8具有滤波电路(延迟装置)7，和锁存器DF1。滤波电路7采用数字滤波器，以设置的采样周期(例如，1[μsec])，采样从电压检测电路4输出的过电流检测信号，并且，当连续地检测到H电平的信号预定的次数(例如，5次)时，输出H电平的滤波器输出信号。该滤波输出信号(延迟信号)被输出到锁存器DF1。

当反电动势检测电路6输出反电动势检测信号时，滤波电路7改变采样周期，并然后进行采样过程。例如，该采样周期改变为0.25[μsec]。此外，滤波电路7以设定的采样周期多次采样过电流检测信号的输入，并然后输出所采样的信号，使得在输入和输出之间产生延迟。即，滤波电路7具有延迟装置的功能。采样周期的上述改变能够通过，例如，调节时钟脉冲信号而容易地进行。

此外，在改变采样数目的同时能够输出滤波输出信号。例如，可以将输出设置为使得，当如上所述连续五次检测到H电平的信号时，将H电平的滤波输出信号输出，或者当连续三次检测到H电平的信号时，将H电平的滤波输出信号输出。

在通常状态下，锁存器DF1的输出+Q处于L电平，而输出-Q处于H电平。当从滤波电路7供给H电平的信号时，该输出+Q、-Q反转，也就是输出+Q处于H电平，而输出-Q处于L电平。

锁存器DF1的输出+Q连接于由MOS-FET等构造的半导体开关T12的栅极。半导体开关T12设置在半导体开关T11的栅极与地之间。因此，当半导体开关T12导通时，半导体开关T11的栅极接地，并因此半导体开关T11被断开。

锁存器DF1的输出-Q连接于AND电路AND1的一个输入端子，而另一个输入端子经过开关SW1连接于电源，并且经过电阻器R8接地。AND电路AND1的输出端子连接于驱动电路3。从电流泵9为驱动电路3提供电力以被驱动。驱动电路3的输出端子经过电阻器R7连接于半导体开关T12的漏极，并且还连接于半导体开关T11的栅极。

接下来，将描述由此构成的负载驱动装置的操作。当操作者导通开关SW1时，AND电路AND1的两个输入端子都变为H电平，并因此AND电路AND1的输出信号变为H电平。

驱动电路3将驱动信号输出到半导体开关T11的栅极。因此，半导体开关T11导通，负载电流ID流动，并且负载2被驱动。例如，当负载2是灯时，灯被点亮，而当负载2是发动机时，发动机开始旋转。

在此时，在电压检测电路4中，电压(V1-V4)高于电压(V1-V2)，或者换句话说V2＞V4，并且因此比较器CMP1的输出信号处于L电平。因此，过电流检测信号没有供给到滤波电路7。在反电动势检测电路6中，实现V1＞V3，并因此比较器CMP2的输出信号处于L电平。

在负载2被驱动的情况下，当负载电流ID增大(发生层间短路)时，半导体开关T11的两端电压(漏-源电压)上升，并且V1-V2增大。即，点P2的电压V2变得低于点P4的电压V4，并因此比较器CMP1的输出信号从“L”反转到“H”。结果，过电流检测信号从比较器CMP1输出，并然后供给到滤波电路7。

滤波电路7以预先设置的第一采样周期采样所供给的过电流检测信号，并且将在采样后得到的H电平的输出信号输出到锁存器DF1，作为滤波输出信号(延迟信号)。

当提供有滤波输出信号时，锁存器将输出+Q、-Q反转。因此，L电平的信号被输出到AND电路AND1的一个输入端子，并因此AND电路AND1的输出信号变为L电平，使得驱动电路3的输出处于L电平。此外，半导体开关T12导通，而半导体开关T11的栅极接地。因此，半导体开关T11断开，并且将负载电路10切断。

如上所述，在负载电路10中发生层间短路的情况下，在负载电路10延迟了由滤波电路7的第一采样周期确定的延迟时间的同时，该负载电路10被切断。

另一方面，在由于诸如将半导体开关T11与负载2连接的电线直接连接于地的原因而发生完全短路的情况下，过电流检测信号从电压检测电路4的比较器CMP1输出，按照如上所述的同样的过程。

此外，当发生完全短路时，供电线5的电阻Rw1和电感L1产生反电动势E1。然后，得到V1＝VB-E1，并且电压V1变为低于电池电压VB。因此，供给到比较器CMP2的负极输入端子的电压立刻降低到VB-E1。然而，由于由电阻器R4、R5和电容器C1构造的时间常数电路，点P3的电压V3不能立刻降低。因此，在这期间，将电压V1和电压V3反转以得到V3＞V1，并且因此比较器CMP2的输出信号反转成H电平。将H电平的输出信号(反电动势检测信号)输出到滤波电路7。

当从比较器CMP2为滤波电路7提供反电动势检测信号时，滤波电路7执行缩短采样周期的过程，具体地，滤波电路7执行将第一采样周期改变成第二采样周期的过程，该第二采样周期短于第一采样周期。通过，例如，改变时钟脉冲信号可以在滤波电路7中容易地执行该采样周期的缩短过程。

然后，从电压检测电路4的比较器CMP1输出的过电流检测信号以第二采样周期经过滤波电路7，并且使得锁存器DF1的输出信号在比发生层间短路的情况下的时间周期短的时间周期内反转。在发生完全短路的情况下，以这种方式，能够比发生层间短路的情况更快地将负载电路切断。

将参考图2A和2B中所示的时间表描述该过程。图2A示出了以第一采样周期T1采样过电流检测信号的情况下的采样时间，而图2B示出了以第二采样周期T2采样过电流检测信号的情况下的采样时间。

在过电流检测信号在时间t0时刻输入并且滤波输出信号由于五次采样而被输出的情况下，在第一采样周期T1的情况下，延迟时间是(T1*4)(第一延迟时间)，而，在第二采样周期T2的情况下，延迟时间是(T2*4)(第二延迟时间)。如从图2A和2B中显而易见的，在采用第二采样周期T2的情况下的延迟时间短于在采用第一采样周期T1的情况下的延迟时间。在发生完全短路的情况下，即，在半导体开关T11断开的同时能够更快地切断负载电路10。

在本实施例的过电流保护装置中，关于设置在电压检测电路4的后续阶段中的滤波电路7的采样周期，发生层间短路的情况不同于发生完全短路的情况。具体地，在发生层间短路的情况下，以第一采样周期执行采样过程，并且，在发生完全短路的情况下，以第二采样周期执行采样过程。因此，在发生层间短路的情况下，能够以第一延迟时间将负载电路100切断，并且，在发生完全短路的情况下，能够以短于第一延迟时间的第二延迟时间将负载电路切断。

因此，能够通过简单的结构而确定地实现用于响应层间短路的发生或完全短路的发生而切断负载电路的控制。在发生层间短路的情况下，不需要紧急地切断负载电路10，并因此延长了延迟时间以防止发生负载电流10由于噪声等的影响引起的错误的切断。在发生完全短路的情况下，立即切断负载电路10，从而能够防止在发生完全短路中的半导体开关T11和其他电路元件免遭过电流。

在发生完全短路的情况下，此外，只有其中发生完全短路的负载电路被切断，而其中没有发生完全短路的其他负载电路能够继续工作。

以根据发生层间短路还是完全短路来改变滤波电路7的采样周期的情况为例来描述本实施例。而且当代替采样周期，改变采样数目时，能够获得相同的作用。

图3A和3B是示出了采样数目被改变的情况的实例的时间表，图3A示出了大采样数目的情况，而图3B示出了小采样数目的情况。如从图3A和3B中显而易见的，当采样数目越小时，延迟时间越短。

因此，在发生层间短路的情况下，能够通过，例如，将采样数目设为如图3A中所示的5，并且，在发生完全短路的情况下，将该采样数目设为如图3B所示的3来改变延迟时间。具体地，在如图3A所示的采样数目为5的情况下，延迟时间是(T1*4)，而，在如图3B所示的采样数目为3的情况下，延迟时间是(T1*2)。在采样数目为3的情况下的延迟时间短于在采样数目为5的情况下的采样时间。而且当如上所述来构造该装置时，可以获得如上述实施例相同的作用。

图4是示出了根据本发明的第二实施例的过电流保护装置的控制电路8’的方框图。如图4中所示，用于第二实施例的过电流保护装置的控制电路8’包括两个滤波电路7-1、7-2。滤波电路7-1以第一延迟时间输出滤波输出信号(延迟信号)，而滤波电路7-2以短于第一延迟时间的第二延迟时间输出滤波输出信号(延迟信号)。

从电压检测单元4的比较器CMP1输出的过电流检测信号被供给到滤波电路7-1、7-2。滤波电路7-2的输出信号提供到AND电路AND2的一个输入端子，而反电动势检测信号提供到另一个输入端子。此外，AND电路AND2的输出端子，以及滤波电路7-1的输出端子连接于OR电路OR1的两个输入端子。

因此，当发生层间短路时，反电动势检测信号没有提供到AND电路AND2，并且AND电路AND2的输出信号变为L。只有滤波电路7-1的输出信号提供到OR电路OR1。因此，锁存器DF1以基于滤波电路7-1的延迟时间将输出+Q、-Q反转。

相反地，在发生完全短路的情况下，反电动势检测电路6输出反电动势检测信号。因此，AND电路AND1的输出变为H电平，并且锁存器DF1以基于滤波电路7-2的延迟时间将输出+Q、-Q反转。因此，以与上所述的实施例同样的方式，在发生层间短路的情况下，能够以第一延迟时间将负载电路10切断，并且，在发生完全短路的情况下，能够以短于第一延迟时间的第二延迟时间将负载电路10切断。

可以设置滤波电路7-1、7-2，以便通过改变如图2A和2B中所示的采样周期来使得滤波电路7-1、7-2的延迟时间彼此不同，或者以便通过改变如图3A和3B中所示的采样数目来使得滤波电路7-1、7-2的延迟时间彼此不同。

尽管已经参考图示的实施例描述了本发明的过电流保护装置，但是本发明不限于此，并且各元件的构造能够由具有相同功能的任意构造来取代。

在上述实施例中，例如，已经描述了两个系统的具有负载电路10、10a的实例。本发明不限于此，并且还可以应用到设置有三个或三个以上系统的电路的情况。

工业适用性

本发明在彼此区分完全短路和层间短路上是非常有用的，并且根据各自的情况来切断适当的负载电路。

Claims (4)

1.一种过电流保护装置，其被构造成使得每个都是由半导体开关和负载的串联连接而构造的多个负载电路并联连接，并且经过公共供电线将电力供给到所述负载电路，该过电流保护装置包括：

第一过电流检测部分，其基于在供电线中产生的反电动势的程度来检测流经供电线的过电流；

第二过电流检测部分，其设置在每个所述负载电路中，并且基于流经每个所述负载电路的电流的大小来检测过电流；

延迟部分，当只有所述第二过电流检测部分检测到过电流时，该延迟部分在第一延迟时间输出延迟信号，而当所述第一过电流检测部分和所述第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，该延迟部分在比所述第一延迟时间短的第二延迟时间输出所述延迟信号；以及

控制部分，其仅仅将所述多个负载电路中的由所述第二过电流检测部分检测到过电流的负载电路切断，

其中所述延迟部分是滤波电路，其以预定的采样周期从所述第二过电流检测部分采样信号，以输出所述延迟信号，并且

其中当所述第一过电流检测部分没有检测到过电流时，所述滤波电路以第一采样周期进行采样，而当所述第一过电流检测部分检测到过电流时，所述滤波电路以比所述第一采样周期短的第二采样周期进行采样。

2.根据权利要求1所述的过电流保护装置，其中所述第二过电流检测部分通过流经所述半导体开关的电流来检测横跨该半导体开关的两端所产生的电压的大小。

3.一种过电流保护装置，其被构造成使得每个都是由半导体开关和负载的串联连接而构造的多个负载电路并联连接，并且经过公共供电线将电力供给到所述负载电路，该过电流保护装置包括：

第一过电流检测部分，其基于在供电线中产生的反电动势的程度来检测流经供电线的过电流；

第二过电流检测部分，其设置在每个所述负载电路中，并且基于流经每个所述负载电路的电流的大小来检测过电流；

延迟部分，当只有所述第二过电流检测部分检测到过电流时，该延迟部分在第一延迟时间输出延迟信号，而当所述第一过电流检测部分和所述第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，该延迟部分在比所述第一延迟时间短的第二延迟时间输出所述延迟信号；以及

控制部分，其仅仅将所述多个负载电路中的由所述第二过电流检测部分检测到过电流的负载电路切断，

其中所述延迟部分是滤波电路，其以预定的采样周期从所述第二过电流检测部分采样信号，以输出所述延迟信号；并且

其中当所述第一过电流检测部分没有检测到过电流时，所述滤波电路将在输出所述延迟信号时的采样数目设置作为第一采样数目，而当所述第一过电流检测部分检测到过电流时，所述滤波电路将在输出所述延迟信号时的采样数目设置作为第二采样数目，该第二采样数目小于所述第一采样数目。

4.根据权利要求3所述的过电流保护装置，其中所述延迟部分包括具有第一延迟时间的第一延迟电路，和具有比所述第一延迟时间短的第二延迟时间的第二延迟电路；并且

其中当只有所述第二过电流部分检测到过电流时，所述延迟部分利用所述第一延迟电路输出所述延迟信号，而当所述第一过电流检测部分和所述第二过电流检测部分二者都检测到过电流时，所述延迟部分利用所述第二延迟电路输出所述延迟信号。

Images