JP2004032641A - 半導体スイッチ装置 - Google Patents
半導体スイッチ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004032641A JP2004032641A JP2002189897A JP2002189897A JP2004032641A JP 2004032641 A JP2004032641 A JP 2004032641A JP 2002189897 A JP2002189897 A JP 2002189897A JP 2002189897 A JP2002189897 A JP 2002189897A JP 2004032641 A JP2004032641 A JP 2004032641A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fet
- current
- load
- semiconductor element
- turned
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
【解決手段】ランプ負荷2に流れる電流を検出するシャント抵抗Rsと、ランプ負荷2を駆動させるべくスイッチが投入された際には、FET3をオンとすると共に、シャント抵抗Rsにて検出される負荷電流Idが所定値以上である場合には、FET3をオフとすることにより、ランプ負荷2を保護する機能を備えたFET駆動回路6と、を有し、シャント抵抗Rsにて検知される電流値が所定の基準値よりも大きいときには、FET駆動回路6によりFET3をオフとする操作を、一定時間マスクすることを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、直流電源と負荷との間に配置され、当該負荷の駆動、停止を切り換え制御する半導体スイッチ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、車両に搭載されるランプ負荷(ヘッドランプ、テールランプ等)は、バッテリより出力される直流電源と接続されており、半導体スイッチにより、オン、オフが制御される。
【0003】
また、ランプ負荷、或いは該ランプ負荷を接続する電線にて短絡事故が発生した場合には、ランプ負荷、半導体素子、或いはこれらを連結する電線を損傷する恐れがある。そこで、このようなトラブルを回避するために、従来より、過電流が発生した場合には、これを検出し、回路を遮断することにより、回路を保護する機能を具備した半導体スイッチ装置が提案され、実用に供されている。
【0004】
このような半導体スイッチ装置の従来例として、例えば、特開2001−119850号公報(以下、従来例という)に記載されたものが知られている。
【0005】
図8は、該従来例に記載された半導体スイッチ装置の構成を示す回路図である。同図に示すように、このスイッチ装置101は、車両に搭載されるバッテリVBと、ランプ負荷102との間に設置して、該ランプ負荷102の駆動、停止を切り換え操作するものであり、バッテリVBと、ランプ負荷102との間には、メインFET103が設置され、更に、該メインFET103とバッテリVBとの間には、シャント抵抗Rsが介置されている。
【0006】
更に、第1のサブFET104、第2のサブFET105、及び第3のサブFET106と、抵抗R101〜R103を具備している。そして、メインFET103がオンとされた状態では、バッテリVBより出力される電圧がランプ負荷102に印加されるので、該ランプ負荷102は点灯する。
【0007】
また、何らかの原因により、負荷102に過電流が流れると、抵抗R102、R103間の電圧が上昇するので、コンパレータ108の出力信号が「H」レベルとなる。この信号を受けて、駆動回路107は、メインFET103をオフとするべく制御する。これにより、過電流発生時には回路が遮断されるので、メインFET103、ランプ負荷102、及びこれらを連結する電線の損傷を防止することができる。
【0008】
また、ランプ負荷102を駆動させる際には、マスク回路109により、コンパレータ108の出力が所定時間マスクされるので、駆動時の突入電流による誤動作を防止することができる。即ち、ランプ負荷102駆動時に、該ランプ負荷102に過大な突入電流が流れ、抵抗R102、103間の電圧が上昇してコンパレータ108の出力が「H」レベルとなった場合でも、ランプ負荷102に流れる電流値が安定するまでの間は、コンパレータ108の出力がマスクされるので、回路を遮断するというトラブルを回避することができる。
【0009】
しかしながら、上述した従来例に係るスイッチ装置では、ランプ負荷102駆動時、即ち、操作スイッチ(図示せず)により、ランプ負荷102を点灯させる際にのみ、マスク回路109が作動する構成であるので、例えば、メインFET103がオンとされたままの状態で、断芯したランプ負荷102を交換する作業を行った場合においては、通電時に発生する過電流をマスクすることができない。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、従来におけるスイッチ装置101においては、ランプ負荷102の駆動時においては、突入電流による回路の誤遮断を回避することができるものの、ランプ負荷102交換時等に発生する過電流による回路の誤遮断を回避することができないという問題があった。
【0011】
この発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、突入電流による回路の誤遮断を確実に防止することのできる半導体スイッチ装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本願請求項1に記載の発明は、直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記電流検知手段にて検出される電流値が所定値以上である場合には、前記半導体素子を非導通とすることにより、前記負荷を保護する機能を備えた駆動手段と、を有し、前記電流検知手段にて検知される電流値が所定の基準値よりも大きいときには、前記駆動手段により前記半導体素子を非導通とする操作を、一定時間マスクすることを特徴とする。
【0013】
請求項2に記載の発明は、直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、該電流検知手段にて検出される電流値と、基準電流値とを比較する比較手段と、該比較手段にて、前記検出された電流値が、前記基準電流値よりも大きいと判定された際には、一定のマスク時間を設定するマスク時間設定手段と、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記比較手段にて、前記電流検知手段で検出された電流値が前記基準電流値よりも大きいと判定された際には前記半導体素子の導通状態を維持し、且つ、前記マスク時間の経過後にて、前記検出された電流値が前記基準電流値よりも大きいと判定された際には、前記半導体素子を非導通として前記負荷を保護する機能を具備した駆動手段と、を有することを特徴とする。
【0014】
請求項3に記載の発明は、請求項1または2のいずれかに記載の発明において、前記電流検知手段は、前記直流電源と前記半導体素子との間に介置されたシャント抵抗であり、該シャント抵抗の両端に発生する電圧を用いて前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする。
【0015】
請求項4に記載の発明は、請求項1または2のいずれかに記載の発明において、前記半導体素子は、第1のFETであり、前記電流検知手段は、前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETを有し、前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流の変化に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする。
【0016】
請求項5に記載の発明は、請求項1または2のいずれかに記載の発明において、前記半導体素子は、第1のFETであり、前記電流検知手段は、前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETと、前記第1のFETのソースを一方の入力とし、前記第2のFETのソースを他方の入力とする増幅手段と、該増幅手段の出力段に配設される検出用抵抗と、を具備し、前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流を前記増幅手段にて増幅し、当該増幅された電流を前記検出用抵抗に流した際に、該検出用抵抗の両端に発生する電圧値に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする。
【0017】
請求項6に記載の発明は、直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、該電流検知手段にて検出される電流値と、複数の基準電流値とを比較し、各基準電流値との比較結果に応じて、電源投入時における各基準電流値毎のマスク時間を設定するマスク時間設定手段と、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記電流検知手段にて検出される電流値が所定値以上である場合には、前記半導体素子を非導通とすることにより、前記負荷を保護する機能を備え、且つ、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記マスク時間設定手段にて設定される各マスク時間に応じて、前記半導体素子を非導通とする操作をマスクする駆動手段と、を具備したことを特徴とする。
【0018】
請求項7に記載の発明は、直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、それぞれ異なる基準電流値が設定され、当該基準電流値と、前記電流検知手段にて検出された電流値とを比較する複数の比較手段と、前記各比較手段毎に設けられ、前記検出された電流値が当該比較手段にて設定されている基準電圧値よりも大きいと判定された際には、該比較手段に対応したマスク時間を設定するマスク時間設定手段と、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記電流検知手段にて検出される電流値が、前記比較手段にて設定される基準電流値よりも大きいときには、前記半導体素子を非導通とすることにより、前記負荷を保護する機能を備え、且つ、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記マスク時間設定手段にて設定される各マスク時間だけ、前記半導体素子を非導通とする操作をマスクする駆動手段と、を具備したことを特徴とする。
【0019】
請求項8に記載の発明は、前記各マスク時間設定手段は、対応する前記比較手段にて設定される基準電流値が小さい程、マスク時間を長く設定することを特徴とする。
【0020】
請求項9に記載の発明は、請求項6〜8のいずれかに記載の発明において、前記電流検知手段は、前記直流電源と前記半導体素子との間に介置されたシャント抵抗であり、該シャント抵抗の両端に発生する電圧を用いて前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする。
【0021】
請求項10に記載の発明は、請求項6〜8のいずれかに記載の発明において、前記半導体素子は、第1のFETであり、前記電流検知手段は、前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETを有し、前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流の変化に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする。
【0022】
請求項11に記載の発明は、請求項6〜8のいずれかに記載の発明において、前記半導体素子は、第1のFETであり、前記電流検知手段は、前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETと、前記第1のFETのソースを一方の入力とし、前記第2のFETのソースを他方の入力とする増幅手段と、該増幅手段の出力段に配設される検出用抵抗と、を具備し、前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流を前記増幅手段にて増幅し、当該増幅された電流を前記検出用抵抗に流した際に、該検出用抵抗の両端に発生する電圧値に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体スイッチ装置の構成を示す回路図である。同図に示すように、該半導体スイッチ装置1は、車両に搭載されるバッテリVBと、ランプ負荷2との間に設けられ、該ランプ負荷2の駆動、停止を適宜切り換える操作を行うものであり、スイッチング用のFET3(半導体素子)と、該FET3とバッテリVBとの間に介置されるシャント抵抗(電流検知手段)Rsと、を有している。即ち、FET3のソースがランプ負荷2に接続され、ドレインはシャント抵抗Rsを介してバッテリVBに接続されている。
【0024】
シャント抵抗Rsの一端は、アンプ4のプラス側入力端子に接続され、他端は該アンプ4のマイナス側入力端子に接続されている。更に、該アンプ4の出力端子は、コンパレータ(比較手段)5のマイナス側入力端子に接続され、このコンパレータ5のプラス側入力端子には、基準電圧Vrefが供給されるようになっている。
【0025】
また、コンパレータ5の出力端子は、FET駆動回路(駆動手段)6と接続される共に、マスクタイマ回路(マスク時間設定手段)7に接続される。
【0026】
FET駆動回路6は、ランプ負荷2の投入スイッチ(図示省略)と接続されており、該投入スイッチがオンとされた際には、FET3のゲートに駆動信号を出力する。マスクタイマ回路7は、コンパレータ5の出力信号が「L」レベルとなったときに、マスクタイマ(例えば、80msec)を動作させて、FET駆動回路6によるFET3のオフ動作をマスクさせる。
【0027】
また、符号8はFET駆動回路6に駆動電圧を印加するチャージポンプ回路、符号9は、5ボルト電圧を出力するレギュレータ、符号10はアンプ4に一定電圧を出力するための電圧補正回路である。
【0028】
次に、上述のように構成された本実施形態に係る半導体スイッチ装置1の動作を、図2に示すタイミングチャートを参照しながら説明する。なお、図2において、(a)はランプ負荷2の投入スイッチのオン、オフ状態を示し、(b)はFET3のソース・ゲート間電圧Vgsを示し、(c)はFET3のドレイン・ソース間に流れる電流(負荷電流)Idを示し、(d)はランプ負荷2の状態を示している。
【0029】
操作者がランプ負荷2を点灯させるべく投入スイッチ(図示省略)をオンとすると、FET駆動回路6に投入信号が与えられ、これを受けて該FET駆動回路6は、FET3に駆動信号を出力する。
【0030】
これにより、FET3は導通状態となるので、バッテリVBより出力される直流電圧は、シャント抵抗Rs、FET3を介して、ランプ負荷2に供給される。その結果、ランプ負荷2は点灯する。
【0031】
この際、ランプ負荷2には、電源オンに伴って、定常電流よりも大きい突入電流(定常時の3〜5倍程度の電流)が流れる。従って、これと同一の電流がシャント抵抗Rsに流れることになり、該シャント抵抗Rsの両端に発生する電圧値が上昇する。即ち、図2(a)に示すように、時刻t1にて投入スイッチをオンとすると、同図(b)に示すように、FET3のソース・ゲート間電圧Vgsが上昇して、該FET3が導通状態となり、同図(c)に示す如くの負荷電流Idが流れる。
【0032】
このとき、突入電流の大きさは、基準電流Ilim(Ilimは、基準電圧Vrefに対応する電流値)を越えているが、突入電流が流れている間は、スイッチの投入からマスク時間tmasが経過していないので、FET3は遮断されず、導通が継続される。つまり、突入電流による回路の遮断を回避することができる。
【0033】
ここで、例えば、時刻t2にてランプ負荷2が断芯すると、回路が遮断されるので、ランプ負荷2に流れる電流は遮断され、図2(c)に示すように、負荷電流Idはゼロとなる。その後、FET3がオン状態とされたままランプ負荷2を復旧するべく交換作業を行うと、回路が結線された瞬間に突入電流が流れることになる。即ち、図2(d)に示す時刻t3にて回路が復旧されると、同図(c)に示すように、突入電流が流れる。
【0034】
この際、前述したように、マスクタイマ回路7が作動するので、所定のマスク時間tmasの間は、過電流が検出された場合であっても(即ち、負荷電流Idが図2(c)に示す基準電流Ilimを越えた場合であっても)FET3がオフすることはなく、確実にランプ負荷2を点灯させることができる。
【0035】
また、時刻t4で一旦投入スイッチをオフとした後(図2(a)参照)、時刻t5で再度投入スイッチをオンとし、且つ、この際にデッドショート(短絡事故)が発生した場合には、過電流が発生し、負荷電流Idが基準電流Ilimを大きく上回る。この場合においても、前述と同様にマスクタイマ回路7が作動して、所定のマスク時間tmasの間は、FET3のオン状態が維持される。
【0036】
その後、マスク時間tmasが経過し、未だ過電流が検出され続けていると(即ち、負荷電流Idが基準電流Ilimを越えていると)、FET駆動回路6によりFET3の駆動が停止される。従って、ランプ負荷2及びその接続回路に流れる過電流が阻止され、ランプ負荷2、FET3、及び接続回路の損傷を防止することができる。
【0037】
また、FET3がオフ状態(非導通)となると、過電流が解除されるので(負荷電流Idが基準電流Ilim以下となるので)、FET駆動回路6により、再度FET3がオン状態とされる。この際、マスクタイマ回路7は、一旦作動した後は所定の時間が経過するまでは次の計時を行わないように設定されており、該マスクタイマ回路7は作動せず、負荷電流Idが基準電流Ilimを上回り、瞬時にFET3はオフ状態となる。そして、これが繰り返されるので、図2(b)に示すように、FET3のソース・ゲート間電圧Vgsは、櫛歯状の波形となる。その後、時刻t6で投入スイッチがオフとされると(図2(a)参照)、FET3がオフ状態となる。
【0038】
こうして、デッドショートが発生した場合であっても、電圧Vgsは櫛歯状に変化するので、FET3及びランプ負荷2に流れる電流値は、小さくなり、回路素子の損傷を防止することができる。
【0039】
また、図2(c)の時刻t7に示すように、ランプ負荷2に定常電流が流れているときにデッドショートが発生した場合についても、前記と同様に、電圧Vgsが櫛歯状の波形となり、回路素子の損傷を防止することができる。
【0040】
このようにして、本実施形態に係る半導体スイッチ装置1では、ランプ負荷2に流れる電流Idが基準電流Ilimを越えたときに、マスクタイマ回路7を動作させ、所定のマスク時間tmasの間は、FET3のオン状態を維持している。従って、投入スイッチをオンとしたときに発生する突入電流、或いは、ランプ負荷2の交換時等に発生する突入電流により、回路が誤遮断することを防止することができ、確実にランプ負荷2を点灯させることができる。
【0041】
また、回路にデッドショートが発生した場合には、マスク時間tmas経過後に、回路を遮断するので、ランプ負荷2、FET3、及び接続回路の損傷を防止することができる。
【0042】
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。図3は、第2の実施形態に係る半導体スイッチ装置の構成を示す回路図である。同図に示すように該半導体スイッチ装置11は、前述の図1に示した半導体スイッチ装置1と比較して、マルチソースFET12を用いている点で相違している。即ち、第1の実施形態では、シャント抵抗Rsを用いてランプ負荷2に流れる過電流を検出する方法を用いたが、本実施形態では、マルチソースFET12(以下、単に「FET12」という)を用いている点で相違している。図4は、FET12の等価回路を示しており、ベース、及びドレインが共通とされた2つのFET12a(第1のFET)、12b(第2のFET)とを具備した構成となっている。
【0043】
FET12の第1のソースS1は、アンプ(増幅手段)13のプラス側入力端子に接続され、第2のソースS2は、該アンプ13のマイナス側入力端子に接続されている。また、アンプ13の出力端子は、FET14のゲートに接続され、該FET14のソースは、アンプ13のマイナス側入力端子に連結されている。
【0044】
更に、FET14のドレインは、コンパレータ(比較手段)15のプラス側入力端子に接続され、抵抗(検出用抵抗)Rrにより接地され、該コンパレータ15のマイナス側入力端子には、基準電圧Vrefが供給される。コンパレータ15の出力信号は、FET駆動回路6及びマスクタイマ回路7に供給されるようになっている。
【0045】
そして、上述のように構成された半導体スイッチ11においても、上述した第1の実施形態と同様に、突入電流による回路の誤遮断を確実に防止することができる。
【0046】
即ち、ランプ負荷2に過電流が流れた場合には、FET12b(図4)に流れる電流が増大し、この電流は、FET14により増幅されて抵抗(検出用抵抗)Rrに流れる。従って、該抵抗Rrの両端に発生する電圧が増大し、ひいては、コンパレータ15のプラス側入力端子の電圧が増大する。そして、この電圧が基準電圧Vrefを上回ると、FET駆動回路6により、FET12aが遮断される。これにより、過電流によるランプ負荷2、回路素子、及び回路配線の損傷を防止することができる。
【0047】
また、投入スイッチオン時には、過電流が検出された場合でも、マスクタイマ回路7により、所定のマスク時間tmasだけFET12のオン状態が維持されるので、投入スイッチオン時に発生する突入電流による回路の誤遮断を防止することができる。
【0048】
更に、ランプ負荷2が断芯し、FET12がオンとされたままの状態でランプ負荷2を新しいものに交換した場合であっても、交換時に発生する突入電流により、回路が誤遮断することがなく、確実にランプ負荷2を点灯させることができる。
【0049】
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。図5は、第3の実施形態に係る半導体スイッチ装置の構成を示す回路図である。
【0050】
同図に示すように、該半導体スイッチ装置21は、前述の第1に示した半導体スイッチ1と比較して、3つのコンパレータ5(5a,5b,5c)、及び2つのマスクタイマ回路7(7a,7b)を具備している点で相違している。その他の構成要素は、図1と同一であるので、同一符号を付して、その構成説明を省略する。
【0051】
図5に示すように、アンプ4の出力端子は、3系統に分岐され、一つ目の分岐線は第1のコンパレータ5aのプラス側入力端子に接続され、二つ目の分岐線は第2のコンパレータ5bのプラス側入力端子に接続され、更に、三つ目の分岐線は、第3のコンパレータ5cのプラス側入力端子に接続されている。
【0052】
また、第1のコンパレータ5aのマイナス側入力端子には、第1の基準電圧Vref1が供給され、第2のコンパレータ5bのマイナス側入力端子には、第2の基準電圧Vref2が供給され、第3のコンパレータ5cのマイナス側入力端子には、第3の基準電圧Vref3が供給されるようになっている。
【0053】
更に、第1のコンパレータ5aの出力端子は、FET駆動回路6に接続され、コンパレータ5bの出力端子は、第1のマスクタイマ回路7aに接続され、第3のコンパレータ5cの出力端子は、第2のマスクタイマ回路7b、及びFET駆動回路6に接続されている。
【0054】
第1の基準電圧Vref1は、第1の基準電流Ilim1に対応して設定される電圧値であり、シャント抵抗Rsに流れる電流が第1の基準電流Ilim1を上回った際に、第1のコンパレータ5aの出力信号が「H」レベルとなるように設定されている。
【0055】
同様に、第2の基準電圧Vref2は、第2の基準電流値Ilim2(第1の基準電流Ilim1よりも小さい値)に対応して設定される電圧値であり(Vref2<Vref1)、負荷電流Idが第2の基準電流Ilim2を上回った際に、第2のコンパレータ5bの出力信号が「H」レベルとなるように設定されている。
【0056】
また、第3の基準電圧Vref3は、第3の基準電流Ilim3(第2の基準電流Ilim2よりも小さい値)に対応して設定される電圧値(Vref3<Vref2)であり、負荷電流Idが第3の基準電流Ilim3を上回った際に、第3のコンパレータ5cの出力信号が「H」レベルとなるように設定される。
【0057】
第1のマスク回路7aは、ランプ負荷2を駆動させるべくスイッチ(図示省略)が投入された際に、負荷電流Idが、第2の基準電流Ilim2よりも大きい場合(アンプ4の出力電圧が第2の基準電圧Vref2よりも大きい場合)には、第1のマスク時間tmas1だけ、FET駆動回路6の出力をマスクする。即ち、負荷電流Idが、第2の基準電流Ilim2よりも大きい場合には、第1のマスク時間tmas1の間だけ、FET3を遮断する操作を行わない。
【0058】
同様に、第2のマスクタイマ回路7bは、ランプ負荷2を駆動させるべくスイッチが投入された際に、負荷電流Idが、第3の基準電流値Ilim3よりも大きい場合(アンプ4の出力電圧が第3の基準電圧Vref3よりも大きい場合)には、第2のマスク時間tmas2(tmas2>tmas1)だけ、FET駆動回路6の出力をマスクする。即ち、負荷電流Idが、第3の基準電流値Ilim3よりも大きい場合には、第2のマスク時間tmas2の間だけ、FET3を遮断する操作を行わない。
【0059】
次に、上述のように構成された本実施形態に係る半導体スイッチ装置21の動作を、図6に示すタイミングチャートを参照しながら説明する。なお、図6において、(a)はランプ負荷2の投入スイッチのオン、オフ状態を示し、(b)はFET3のソース・ゲート間電圧Vgsを示し、(c)はFET3のドレイン・ソース間に流れる電流電流Idを示し、(d)はランプ負荷2の状態を示している。
【0060】
操作者がランプ負荷2を点灯させるべく投入スイッチ(図示省略)をオンとすると、FET駆動回路6に投入信号が与えられ、これを受けて該FET駆動回路6は、FET3に駆動信号を出力する。
【0061】
これにより、FET3は導通状態となるので、バッテリVBより出力される直流電圧は、シャント抵抗Rs、FET3を介して、ランプ負荷2に供給される。その結果、ランプ負荷2は点灯する。
【0062】
この際、ランプ負荷2には、電源オンに伴って、定常電流よりも大きい突入電流が流れる。従って、これと同一の電流がシャント抵抗Rsに流れることになり、該シャント抵抗Rsの両端に発生する電圧値が上昇する。
【0063】
即ち、図6(a)に示すように、時刻t11にて投入スイッチをオンとすると、同図(b)に示すように、FET3のソース・ゲート間電圧Vgsが上昇して、該FET3が導通状態となり、同図(c)の符号P1に示す如くの負荷電流Idが流れる。このとき、突入電流の大きさは、スイッチの投入に伴い、急激に上昇し、その後、徐々に低下して定格電流で安定する。
【0064】
この際、スイッチの投入に伴って、ランプ負荷2に流れる電流値が増大し、第2のコンパレータ5b及びコンパレータ5cの出力信号が「H」レベルとなる。このとき、第1のコンパレータ5aの出力信号は「L」レベルである。よって、第1のマスクタイマ回路7a、及び第2のマスクタイマ回路7bにより、第1のマスク時間tmas1、及び第2のマスク時間tmas2だけ、FET駆動回路6によるFET3のオフ操作がマスクされる。これにより、FET3はオフとならず、ランプ負荷2に駆動信号を供給し続けることができる。つまり、突入電流による回路の誤遮断を防止することができる。
【0065】
その後、時刻t12では、第1のマスク時間tmas1が経過したものの、第2のマスク時間tmas2は経過していないので、第2の基準電流Ilim2によるマスク動作が継続される。つまり、第1のマスク時間tmas1が経過してから、第2のマスク時間tmas2が経過するまでの時間(時刻t12〜時刻t13までの間)は、第3のコンパレータ5cによる出力信号に基づいて、マスクするかどうがが判断される。
【0066】
従って、負荷電流Idが第2の基準電流Ilim2以下であれば、第3の基準電流Ilim3を上回っていても回路は遮断されず、負荷電流Idが第2の基準電流値Ilim2を上回れば、回路は遮断されることになる。
【0067】
そして、時刻t13にて第2のマスク時間が経過すると、定格電流よりも若干高い値に設定されている第3の基準電流Ilim3による過電流検出が行われる。従って、ランプ負荷2に流れる電流Idがこの第3の基準電流Ilim3を上回った際には、FET駆動回路6により、FET3がオフとされ、回路が遮断される。
【0068】
ここで、図6(d)に示すように、時刻t14でスイッチを投入し、この際、デッドショートが発生し、ランプ負荷2に流れる電流Idが第1の基準電流Ilim1を越えると、2つのマスクタイマ回路7a,7bの動作は停止され、優先的にFET駆動回路6の制御下にて、FET3が瞬時にオフとされる。そして、前述と同様に、FET3がオフとされると、負荷電流Idが低下するので、該FET3は再度オンとなり、これが繰り返されるので、図6(b)に示すように、FET3のソース・ゲート間電圧Vgsは櫛歯状に変化する波形となる。
【0069】
また、時刻t15にて、ランプ負荷2に中規模の過電流(電流値が第1の基準電流Ilim1と第2の基準電流Ilim2との間の電流)が流れた場合には、第1のマスク時間tmas1が経過するまでは、FET3はオン状態を継続し、その後、オフとされる。
【0070】
更に、時刻t16にて、ランプ負荷2に小規模の過電流(電流値が第2の基準電流Ilim2と第3の基準電流Ilim3との間の電流)が流れた場合には、第2のマスク時間tmas2が経過するまでは、FET3はオン状態を継続し、その後、オフとされる。こうして、ランプ負荷2に流れる負荷電流Idの大きさに応じて、FET3の導通、非導通を制御することができるのである。
【0071】
このようにして、本実施形態に係る半導体スイッチ装置21では、第1のマスク時間tmas1、及び第2のマスク時間tmas2を設定し、ランプ負荷2に流れる電流Idと、2つの基準電流Ilim2、Ilim3との比較結果に応じて、マスク時間の長さを設定している。従って、点灯直後に発生する突入電流に応じた、好適なマスク時間の設定が可能となる。その結果、デッドショート、或いは中規模、小規模の短絡事故が発生した場合には、これに対して適切に対応することができ、且つ、スイッチ投入時に発生する突入電流による誤動作を確実に防止することができる。
【0072】
なお、上述した第3の実施形態では、2つのマスクタイマ回路7a,7bを具備する構成としたが、本発明はこれに限定されるものではなく、3つ以上のマスクタイマ回路を具備する構成とすることも可能である。このようにした場合には、より高精度に、過電流発生時におけるFET3の遮断操作を行うことができ、且つ、突入電流発生時における回路の誤遮断を回避することができる。
【0073】
図7は、第3の実施形態に係る半導体スイッチ装置21の変形例の構成を示す回路図である。同図に示すように、該半導体スイッチ装置31は、図5に示した回路と比較し、シャント抵抗Rsではなく、マルチソースFET12を用いて過電流を検知する点で相違している。該マルチソースFET12は、図4に示したものと同一であるのでその説明を省略する。そして、このような構成においても、上述した第3の実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0074】
【発明の効果】
以上説明したように、本願請求項1〜請求項4に記載の発明では、負荷に過電流が流れた際には、予め設定されたマスク時間だけ、半導体素子を遮断する操作がマスクされるので、電源投入時やランプ負荷を交換する際に発生する過電流により、回路が誤遮断するというトラブルの発生を回避することができる。
【0075】
また、デッドショートが発生した場合には、マスク時間経過後に、即時に回路が遮断されるので、回路素子の損傷を防止することができる。
【0076】
本願請求項5〜請求項11に記載の発明では、電源投入時には、負荷電流の大きさに応じて異なる複数のマスク時間が設定される。例えば、第1の基準電流に対して、第1のマスク時間が設定され、第1の基準電流よりも小さい第2の基準電流に対して、第1のマスク時間よりも長い第2のマスク時間が設定される。従って、電源投入時に発生する突入電流に適合した基準電流、及びマスク時間を設定することができ、突入電流による回路の誤遮断を確実に防止することができる。また、回路に短絡事故が発生した場合には、この規模に応じて適切に回路を遮断することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係る半導体スイッチ装置の構成を示す回路図である。
【図2】第1の実施形態に係る半導体スイッチ装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図3】本発明の第2の実施形態に係る半導体スイッチ装置の構成を示す回路図である。
【図4】マルチソースFETの等価回路図である。
【図5】本発明の第3の実施形態に係る半導体スイッチ装置の構成を示す回路図である。
【図6】第3の実施形態に係る半導体スイッチ装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図7】本発明の第3の実施形態に係る半導体スイッチ装置の、変形例の構成を示す回路図である。
【図8】従来例を示す回路図である。
【符号の説明】
1,11,21,31 半導体スイッチ装置
2 ランプ負荷
3 FET
4 アンプ
5 コンパレータ(比較手段)
5a〜5c コンパレータ(比較手段)
6 FET駆動回路
7 マスクタイマ回路
7a,7b マスクタイマ回路
8 チャージポンプ回路
9 レギュレータ
10 電圧補正回路
12 マルチソースFET
12a,12b FET
13 アンプ
14 FET
15 コンパレータ(比較手段)
Rs シャント抵抗
VB バッテリ
Rr 抵抗(検出用抵抗)
Claims (11)
- 直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、
前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、
前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記電流検知手段にて検出される電流値が所定値以上である場合には、前記半導体素子を非導通とすることにより、前記負荷を保護する機能を備えた駆動手段と、を有し、
前記電流検知手段にて検知される電流値が所定の基準値よりも大きいときには、前記駆動手段により前記半導体素子を非導通とする操作を、一定時間マスクすることを特徴とする半導体スイッチ装置。 - 直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、
前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、
該電流検知手段にて検出される電流値と、基準電流値とを比較する比較手段と、
該比較手段にて、前記検出された電流値が、前記基準電流値よりも大きいと判定された際には、一定のマスク時間を設定するマスク時間設定手段と、
前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記比較手段にて、前記電流検知手段で検出された電流値が前記基準電流値よりも大きいと判定された際には前記半導体素子の導通状態を維持し、且つ、前記マスク時間の経過後にて、前記検出された電流値が前記基準電流値よりも大きいと判定された際には、前記半導体素子を非導通として前記負荷を保護する機能を具備した駆動手段と、
を有することを特徴とする半導体スイッチ装置。 - 前記電流検知手段は、前記直流電源と前記半導体素子との間に介置されたシャント抵抗であり、該シャント抵抗の両端に発生する電圧を用いて前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の半導体スイッチ装置。
- 前記半導体素子は、第1のFETであり、
前記電流検知手段は、
前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETを有し、前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流の変化に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の半導体スイッチ装置。 - 前記半導体素子は、第1のFETであり、
前記電流検知手段は、
前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETと、
前記第1のFETのソースを一方の入力とし、前記第2のFETのソースを他方の入力とする増幅手段と、該増幅手段の出力段に配設される検出用抵抗と、を具備し、
前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流を前記増幅手段にて増幅し、当該増幅された電流を前記検出用抵抗に流した際に、該検出用抵抗の両端に発生する電圧値に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の半導体スイッチ装置。 - 直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、
前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、
該電流検知手段にて検出される電流値と、複数の基準電流値とを比較し、各基準電流値との比較結果に応じて、電源投入時における各基準電流値毎のマスク時間を設定するマスク時間設定手段と、
前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記電流検知手段にて検出される電流値が所定値以上である場合には、前記半導体素子を非導通とすることにより、前記負荷を保護する機能を備え、且つ、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記マスク時間設定手段にて設定される各マスク時間に応じて、前記半導体素子を非導通とする操作をマスクする駆動手段と、
を具備したことを特徴とする半導体スイッチ装置。 - 直流電源と負荷との間に介置される半導体素子を具備し、該半導体素子の導通、非導通を制御して、前記負荷の駆動、停止を切り換える半導体スイッチ装置において、
前記負荷に流れる電流値を検出する電流検知手段と、
それぞれ異なる基準電流値が設定され、当該基準電流値と、前記電流検知手段にて検出された電流値とを比較する複数の比較手段と、
前記各比較手段毎に設けられ、前記検出された電流値が当該比較手段にて設定されている基準電圧値よりも大きいと判定された際には、該比較手段に対応したマスク時間を設定するマスク時間設定手段と、
前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記半導体素子を導通状態とすると共に、前記電流検知手段にて検出される電流値が、前記比較手段にて設定される基準電流値よりも大きいときには、前記半導体素子を非導通とすることにより、前記負荷を保護する機能を備え、且つ、前記負荷を駆動させるべくスイッチが投入された際には、前記マスク時間設定手段にて設定される各マスク時間だけ、前記半導体素子を非導通とする操作をマスクする駆動手段と、
を具備したことを特徴とする半導体スイッチ装置。 - 前記各マスク時間設定手段は、対応する前記比較手段にて設定される基準電流値が小さい程、マスク時間を長く設定することを特徴とする請求項7に記載の半導体スイッチ装置。
- 前記電流検知手段は、前記直流電源と前記半導体素子との間に介置されたシャント抵抗であり、該シャント抵抗の両端に発生する電圧を用いて前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載の半導体スイッチ装置。
- 前記半導体素子は、第1のFETであり、
前記電流検知手段は、
前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETを有し、前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流の変化に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載の半導体スイッチ装置。 - 前記半導体素子は、第1のFETであり、
前記電流検知手段は、
前記第1のFETとドレイン、及びゲートが共通する第2のFETと、
前記第1のFETのソースを一方の入力とし、前記第2のFETのソースを他方の入力とする増幅手段と、該増幅手段の出力段に配設される検出用抵抗と、を具備し、
前記第1のFETのソース電圧の変化に起因して生じる、前記第2のFETに流れるソース電流を前記増幅手段にて増幅し、当該増幅された電流を前記検出用抵抗に流した際に、該検出用抵抗の両端に発生する電圧値に基づいて、前記負荷に流れる電流を検知することを特徴とする請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載の半導体スイッチ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002189897A JP2004032641A (ja) | 2002-06-28 | 2002-06-28 | 半導体スイッチ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002189897A JP2004032641A (ja) | 2002-06-28 | 2002-06-28 | 半導体スイッチ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004032641A true JP2004032641A (ja) | 2004-01-29 |
Family
ID=31184182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002189897A Pending JP2004032641A (ja) | 2002-06-28 | 2002-06-28 | 半導体スイッチ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004032641A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010534992A (ja) * | 2007-07-27 | 2010-11-11 | コミシリア ア レネルジ アトミック | 高速応答電源スイッチング装置およびかかるスイッチを含む電源ネットワーク |
JP2011109159A (ja) * | 2009-11-12 | 2011-06-02 | Anden | 過電流検出機能を有したスイッチ回路 |
JP2011210620A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 調光器及びそれを用いた照明システム |
JP2017005948A (ja) * | 2015-06-15 | 2017-01-05 | オムロン株式会社 | 電源回路及び遊技機 |
JP2017050804A (ja) * | 2015-09-04 | 2017-03-09 | 富士電機株式会社 | 半導体スイッチの保護回路 |
WO2018193527A1 (ja) * | 2017-04-18 | 2018-10-25 | 三菱電機株式会社 | 過電流検出回路及び電力変換装置 |
JP2019037079A (ja) * | 2017-08-18 | 2019-03-07 | ローム株式会社 | 過電流保護回路 |
JP2019062657A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 古河電気工業株式会社 | 電源供給装置 |
JP2019080436A (ja) * | 2017-10-25 | 2019-05-23 | ローム株式会社 | 過電流保護回路 |
JP2019205300A (ja) * | 2018-05-24 | 2019-11-28 | ローム株式会社 | 過電流保護回路 |
US11378598B2 (en) | 2020-03-05 | 2022-07-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit device and current detection circuit |
-
2002
- 2002-06-28 JP JP2002189897A patent/JP2004032641A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010534992A (ja) * | 2007-07-27 | 2010-11-11 | コミシリア ア レネルジ アトミック | 高速応答電源スイッチング装置およびかかるスイッチを含む電源ネットワーク |
JP2011109159A (ja) * | 2009-11-12 | 2011-06-02 | Anden | 過電流検出機能を有したスイッチ回路 |
JP2011210620A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 調光器及びそれを用いた照明システム |
JP2017005948A (ja) * | 2015-06-15 | 2017-01-05 | オムロン株式会社 | 電源回路及び遊技機 |
JP2017050804A (ja) * | 2015-09-04 | 2017-03-09 | 富士電機株式会社 | 半導体スイッチの保護回路 |
WO2018193527A1 (ja) * | 2017-04-18 | 2018-10-25 | 三菱電機株式会社 | 過電流検出回路及び電力変換装置 |
JPWO2018193527A1 (ja) * | 2017-04-18 | 2019-11-07 | 三菱電機株式会社 | 過電流検出回路及び電力変換装置 |
JP2019037079A (ja) * | 2017-08-18 | 2019-03-07 | ローム株式会社 | 過電流保護回路 |
JP2019062657A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | 古河電気工業株式会社 | 電源供給装置 |
JP2019080436A (ja) * | 2017-10-25 | 2019-05-23 | ローム株式会社 | 過電流保護回路 |
JP2019205300A (ja) * | 2018-05-24 | 2019-11-28 | ローム株式会社 | 過電流保護回路 |
US11378598B2 (en) | 2020-03-05 | 2022-07-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit device and current detection circuit |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102265475B (zh) | 负载电路保护装置 | |
JP4701052B2 (ja) | 過電流検出装置 | |
JPH10150354A (ja) | 電力fet及び短絡認識部を有するスイツチ装置 | |
US20190109479A1 (en) | Power supply system | |
JP2010110091A (ja) | 負荷駆動装置 | |
JP2004032641A (ja) | 半導体スイッチ装置 | |
EP3435506B1 (en) | Power feed control device | |
JP2006105603A (ja) | 過電流検知方法および検知回路 | |
JP2006024997A (ja) | 半導体スイッチの制御装置 | |
JP2004248093A (ja) | 負荷駆動回路 | |
JP2001216878A (ja) | スイッチ状態監視回路及びスイッチ | |
JP5675245B2 (ja) | 負荷駆動装置 | |
JP2001119850A (ja) | 過電流時の負荷電流制御装置、負荷の断芯検出装置、及び負荷電流検出供給制御装置 | |
JP2004032966A (ja) | 半導体スイッチ装置 | |
JP2001095139A (ja) | 過電流時の回路遮断方法、及び過電流時の回路遮断装置 | |
JP2000245055A (ja) | 車載電源の電力供給制御システム | |
JP3574599B2 (ja) | 入力過電圧制限機能を備えた突入電流防止回路 | |
JP4423765B2 (ja) | 負荷駆動装置 | |
JP2004248452A (ja) | 過電流保護回路 | |
JP2002191122A (ja) | 直流負荷駆動装置 | |
WO2023007558A1 (ja) | 電力供給装置 | |
JP3755416B2 (ja) | 負荷制御装置 | |
JP2006006070A (ja) | 負荷保護装置 | |
JP5530306B2 (ja) | 過電流検出装置 | |
JP2011213321A (ja) | 車両用電源供給装置、および、車両用制御装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060509 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060622 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070313 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070710 |