CN101635153B - 光盘装置和光盘装置的信息记录方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘装置，能够提高对可重写光盘的信息记录的记录功率的精度。该光盘装置采用如下结构，即：判别进行信息记录的光盘的盘ID，从预先登录在光盘装置内的策略求出与判别出的盘ID相对应的测试记录次数信息，利用该求出的记录次数信息，设定对该光盘的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数，进行该设定次数的记录，根据最后一次测试记录后的再现信号运算信息记录用的最佳记录功率值。

Description

光盘装置和光盘装置的信息记录方法

技术领域

本发明涉及一种光盘装置的信息记录技术，特别涉及针对可重写信息的光盘的OPC(Optimum Power Control，最佳功率控制)处理的技术。

背景技术

在以往的光盘装置中，例如，在对RW类的CD、DVD等可重写信息(rewritable)光盘记录信息时，在进行信息记录之前先进行的记录功率的设定，例如，存在以下这样的技术，即：如图7所示，在光盘的测试记录区域进行1次基于使功率值逐渐增大的测试记录用记录功率的测试记录(Power Scan Write)(S701)，之后对其进行再现(S702)，运算再现信号的调制度特性(S703)，根据该调制度特性运算γ特性(S704)，根据该γ特性求出目标记录功率值，进而，根据该目标记录功率值来运算并设定信息记录用的最佳记录功率值(S705)。图8(a)是该光盘装置的再现信号特性的例子，表示对于记录功率值Pw的再现信号电平。图中，e_top表示再现信号电平的顶包络(top envelope)值，e_DC表示再现信号电平的DC值，e_btm表示再现信号电平的底包络(bottom envelope)值。各点为测量值的点。另外，图8(b)是表示根据图8(a)的再现信号特性运算出的再现信号的调制度(Modulation)特性(Mod特性)的例子、以及根据该调制度特性(Mod特性)运算出的γ特性的例子。该调制度特性(Mod特性)利用公式：调制度Mod＝(e_top-e_btm)/e_top来运算，该γ特性利用公式：γ＝(Pw/Mod)·(dMod/dPw)来运算。图中，Mod₁是与图8(a)的再现信号电平的各测量值相对应的调制度的值，Mod₂是从各Mod₁的值求出的近似的调制度特性(Mod特性)，γ₁是使用Mod₁运算的γ特性，γ₂是使用Mod₂运算的γ特性。目标记录功率值Pw_target在以γ₂表示的γ特性上作为与目标γ值γ_target相对应的记录功率值被求出。

另外，作为与本发明相关的以往技术并记载在专利文献中的，例如，存在日本特开2000-251254号公报(专利文献1)、日本特开2007-141438号公报(专利文献2)、以及日本特开2007-226948号公报(专利文献3)所记载的技术。在日本特开2000-251254号公报中，作为对记录介质进行记录的记录技术，记载了通过对记录介质的试写区域利用激光照射强制性执行预定次数以上的记录动作，使试写区域的记录特性稳定后，进行OPC动作来判别最佳激光功率的技术。在日本特开2007-141438号公报中，作为确定光盘的最佳记录功率的确定方法，记载了在用于确定最佳记录功率的OPC算法中，反复记录3次按预定间隔增加了的功率的测试模式(test pattern)的技术。另外，在日本特开2007-226948号公报中，记载了如下的技术，即：在光盘装置中，在OPC之前，为了提高OPC结果的可靠性，以最佳的擦除功率对进行过OPC的光盘的一部分进行擦除，该最佳擦除功率从功率对比调制度曲线计算出与功率变化相对应的调制度的变化量，使用该计算出的调制度的变化量来确定。擦除后进行的OPC动作在通过OPC区域使功率可变地记录测试数据，反复进行OPC来再现所记录的数据，检测最佳的记录功率。

专利文献1：日本特开2000-251254号公报

专利文献2：日本特开2007-141438号公报

专利文献3：日本特开2007-226948号公报

发明内容

在上述以往技术中，在使用图7和图8说明的以往的技术中，作为OPC处理，在“Power Scan Write”方式中，根据1次测试记录来进行最佳记录功率值的运算，其中，该1次测试记录是基于在测试记录期间逐渐增大测试记录功率的方式下的测试记录用记录功率来进行的。由此，在对RW类的CD、DVD等可重写信息(rewritable)光盘进行了OPC处理时，作为OPC处理结果求出的最佳记录功率成为例如图9所示的特性，在像2次、3次、4次...这样，每增加1次反复OPC处理的次数时，所求出的最佳记录功率(OPC Power)Po的值大幅度减少。例如，在最初(第1次)的OPC处理的结果中，最佳记录功率(OPC Power)Po为大约42.3mV，然而在第2次OPC处理的结果中，最佳记录功率(OPC Power)Po变成大约40.95mV，在第2次OPC处理的结果中，比第1次OPC处理结果减少了大约1.35mV，另外，在第3次OPC处理的结果中，最佳记录功率(OPC Power)Po变成大约39.9mV，比第2次OPC处理结果减少了大约1.05mV。这样，在每增加1次OPC处理的反复次数时，最佳记录功率(OPC Power)Po值的设定值就发生大的变化，因此，根据OPC处理所设定的记录功率值的每次OPC处理的差变大，成为降低记录功率的精度的原因。记录功率精度的降低直接导致记录品质的劣化。

另外，日本特开2000-251254号公报记载的技术，从其将“预定次数以上的记录动作”，在实施例的记载中说明为是“用于OPC处理的驱动测试区域(drive test zone)的整个区域，或者实际进行试写的一部分区域，在进行OPC之前，先无条件地至少执行2次以上，优选执行10次以上的写覆盖(over write)的DOW”来看，可以认为其是一种在使记录功率发生变化地进行测试记录的方式的OPC处理之前，以一定的功率进行记录动作的技术。日本特开2007-141438号公报记载的技术，从其实施例的记载“设定不同的开始功率来进行2次以上用于确定最佳的记录功率的测试”来看，可以认为是进行3次OPC处理的技术，可以认为与此相对应地到设定记录功率为止的时间也较长。另外，在日本特开2007-226948号公报记载的技术中，经过求出功率对比调制度曲线阶段、根据功率对比调制度曲线计算相对于功率变化的调制度的变化量的阶段、以及使用该计算出的调制度的变化量来确定最佳的擦除功率的阶段来求出对进行过OPC的光盘的一部分进行擦除的最佳擦除功率，进而，在此之后进行的OPC(OPC处理)，如实施例的记载“OPC动作为了通过记录测试数据，反复进行OPC来检测最佳的记录功率而再现所记录的数据”中也记载的那样，是反复进行OPC处理本身，可以认为与此相应地到检测出最佳记录功率为止的时间也变长。另外，上述日本特开2007-141438号公报记载的技术、上述日本特开2007-226948号公报记载的技术都不是用于抑制在像2次、3次、4次...这样，每增加1次OPC处理的反复次数时，所求出的最佳记录功率(OPC Power)Po的值大幅度减少的技术。

鉴于上述以往技术的情况，本发明的课题点是在光盘装置中，使得在对可重写的光盘进行信息记录时，在将OPC处理所需要的时间抑制得较短的状态下，能减少每次OPC处理所求出的最佳记录功率的变化量(减少量)，进一步提高信息记录用的记录功率的精度。

本发明的目的在于提供一种能够解决上述课题，迅速地开始信息记录动作，并可以进一步提高可重写光盘的记录品质的光盘装置。

为了解决上述课题点，在本发明的光盘装置中，采用如下的结构，即：判别进行信息记录的光盘的盘ID，从预先登录在光盘装置内的策略求出与判别出的盘ID相对应的测试记录次数信息，利用该求得的记录次数信息设定对光盘的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数，进行该设定次数的测试记录，根据最后一次测试记录后的再现信号运算信息记录用的最佳记录功率值。例如，运算所述最后一次测试记录后的再现信号的调制度特性，从该调制度特性运算γ特性，根据该γ特性运算信息记录用的最佳记录功率值。此外，在本发明中，所谓“最佳记录功率”是指处于最佳水平范围的记录功率、即处于足以有效地构成本发明的水平范围的记录功率。

根据本发明，在光盘装置中，能够迅速地开始信息记录动作。在对可重写光盘记录信息(数据)时，能够提高记录功率的精度，结果是能够实现记录品质的提高和稳定化。

附图说明

图1是作为本发明的实施例的光盘装置的结构图。

图2是图1的光盘装置的OPC处理的第1例的说明图。

图3是表示通过图1的光盘装置的OPC处理所得到的最佳记录功率的特性例的图。

图4是图1的光盘装置的OPC处理的第2例的说明图。

图5是图1的光盘装置的OPC处理的第3例的说明图。

图6是表示通过图1的光盘装置的OPC处理所得到的最佳记录功率的其他特性例的图。

图7是以往的光盘装置的OPC处理的说明图。

图8是以往的光盘装置的OPC处理的再现信号特性、调制度特性、以及γ特性的说明图。

图9是说明本发明的课题的图。

〔标号说明〕

1光盘装置，2光盘，3盘电机，4光拾取器，5物镜，6激光二极管，7激光驱动电路，8受光部，9再现信号处理部，11移动·向导机构部，12滑动电机，15电机驱动电路，30系统控制部，31电机控制部，32微型计算机，321调制度特性运算部，322γ特性运算部，323最佳记录功率运算部，324测试记录条件设定部，33记录用信号生成部，34盘判别部，40存储器

具体实施方式

以下，使用附图说明本发明的实施例。

图1～图6是作为本发明的实施例的光盘装置的说明图。图1是作为本发明的实施例的光盘装置的结构图，图2是图1的光盘装置的OPC处理的第1例的说明图，图3是表示通过图1的光盘装置的OPC处理所得到的最佳记录功率的特性的一例的图，图4是图1的光盘装置的OPC处理的第2例的说明图，图5是图1的光盘装置的OPC处理的第3例的说明图，图6是表示通过图1的光盘装置的OPC处理所得到的最佳记录功率的其他特性例的图。

以下，作为本发明的实施例的光盘装置，作为OPC处理，关于在测试记录后，根据其再现信号求出调制度特性和γ特性，根据该γ特性进行最佳记录功率的运算的结构、即所谓的γ方式进行说明。

在图1中，1是作为本发明的实施例的光盘装置；2是作为可重写的光盘的CD-RW、DVD-RW等光盘；3是旋转驱动光盘2的盘电机；4是光拾取器；5是物镜；6是为了记录或者再现而发生预定强度的激光的激光二极管；7是驱动激光二极管6的激光驱动电路；8是经由物镜5接受来自光盘2的记录面(盘面)的反射激光并转换成电信号(再现信号)进行输出的受光部；9是将从受光部8输出的再现信号作为RF信号进行放大和解调等信号处理的再现信号处理部；11是使光拾取器4在光盘2的大致半径方向移动的移动·向导机构部，包括直线上的引导部件(未图示)、引导螺杆部件(leadscrew)(未图示)等；12是位于移动·向导机构部11内，用于旋转驱动引导螺杆部件(未图示)的滑动电机；15是驱动盘电机3、滑动电机12的电机驱动电路；30是作为控制该光盘装置1整体的控制部的系统控制部；31是位于系统控制部30内，控制电机驱动电路15的电机控制部；32是系统控制部30内的微型计算机321是位于微型计算机32内，针对从再现信号处理部9输出的再现信号运算其调制度特性的调制度特性运算部；322是位于微型计算机32内，从调制度特性运算部321运算出的调制度特性运算γ特性的γ特性运算部；323是位于微型计算机32内，根据由γ特性运算部322运算出的γ特性，求出与预先设定的目标γ值相对应的目标记录功率值，进而从该目标记录功率值运算信息记录用的最佳记录功率值、即最佳水平范围的记录功率的最佳记录功率运算部(其中，所谓最佳水平范围的记录功率是指足以有效地构成光盘装置1的范围的记录功率)；324是位于微型计算机32内的设定部，进行如下的设定，即：在OPC处理时，利用与作为策略预先登录在光盘装置1内的盘ID相对应的测试记录次数信息，设定对光盘2的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数，利用与该盘ID相对应的测试记录功率信息，设定记录功率，另外，在作为测试记录的次数设定为多次时，作为测试记录条件，设定擦除在最后一次之外的测试记录中所记录的信息、并且设定该擦除的时机；33是位于系统控制部30内的记录用信号生成部，进行如下的处理，即：在进行OPC处理的测试记录时，作为向激光驱动电路7输入的测试记录用信号，生成该激光驱动电路7以在各次测试记录期间测试记录功率逐渐变化的方式驱动激光二极管6的信号(测试记录用信号)，对应于由上述记录条件设定部324所设定的测试记录次数输出该生成的测试记录用信号，输出指示擦除已进行了测试记录的数据、以及指示该擦除的时机的信号，另外，在数据记录时，生成并输出用于以上述最佳记录功率运算部323运算出的最佳记录功率来驱动激光二极管6的记录用信号；34是位于系统控制部30内，判别光盘2的盘ID的盘判别部；40是登录(存储)了包括光盘2的光盘的策略、OPC处理用的程序、OPC处理的处理条件的因子等的存储器。上述最佳记录功率运算部323的输出被输入到记录用信号生成部33，在该记录用信号生成部33中，生成用于进行通常的信息记录的记录用信号。此外，在本发明的实施例中，“最佳记录功率”是指处于最佳水平范围的记录功率、即处于足以有效地构成本发明的实施例的水平范围的记录功率。

在作为控制部的系统控制部30内，调制度特性运算部321、γ特性运算部322、以及最佳记录功率运算部323构成OPC处理的测试记录的再现系控制部；盘判别部34、测试记录条件设定部324、以及记录用信号生成部33构成OPC处理的测试记录的记录系控制部。

OPC处理时，调制度特性运算部321在将从再现信号处理部9输出的测试记录的再现信号的电平的顶包络值取为e_top，底包络值取为e_btm时，根据

调制度Mod＝(e_top-e_btm)/e_top  ...(公式1)

来运算该再现信号的调制度特性(Mod特性)。另外，该调制度特性运算部321还通过运算从该运算出的调制度特性来求出近似的调制度特性。

OPC处理时，γ特性运算部322在将测试记录功率取为Pw，用该测试记录功率Pw记录的测试记录的再现信号的调制度取为Mod时，根据

γ＝(Pw/Mod)·(dMod/dPw)    ...(公式2)

来运算γ特性，作为调制度Mod，使用调制度运算部321的运算结果。

OPC处理时，最佳记录功率运算部323在求目标记录功率值Pw_target时，读出作为策略预先登录(存储)在存储器40内的目标γ值γ_target，求出在γ特性上与该目标γ值γ_target相对应的目标记录功率值Pw_target。另外，在求最佳记录功率值Po时，将上述求得的目标记录功率值Pt乘以系数ρ来求出，其中，该系数ρ是表示最佳记录功率值Po与该目标记录功率值Pw_target之间的预先的预估比的系数，是作为策略预先登录(存储)在存储器40内的一定值。即：通过

最佳记录功率值Po＝ρ·Pw_target  ...(公式3)

来求出该最佳记录功率值Po

OPC处理时，测试记录条件设定部324从登录(存储)在存储器40的策略中读出与盘判别部34判别出的盘ID相对应的测试记录条件的信息、即测试记录次数信息、测试记录功率信息，以及作为测试记录的次数设定为多次时，是否擦除已进行了测试记录的信息，要擦除时，在哪个时机进行擦除等信息并对它们进行设定。此外，在存储器40内，例如作为表(table)存储有与多种光盘各自的盘ID相对应的测试记录条件的信息。该测试记录条件设定部324在OPC处理时，在作为测试记录的次数设定为多次时，作为测试记录条件设定在擦除了由在前的第1测试记录所记录的信息的地址位置进行在后的第2测试记录。另外，该测试记录条件设定部324在作为测试记录的次数设定为多次时，作为测试记录条件设定擦除由最后一次的前一次测试记录所记录的信息，以及在擦除了该信息的光盘的测试区域内的地址位置进行最后一次测试记录。进而，该测试记录条件设定部324在OPC处理时，在作为测试记录的次数设定为多次时，向电机控制部31发送指示信号来控制移动·向导机构部11的滑动电机12的旋转，由此控制引导螺杆(未图示)的旋转，控制光拾取器4的移动位置，使得测试记录信号能够被反复多次记录在测试记录区域内的相同的地址位置。

在记录用信号生成部33中，作为测试记录用信号，生成在测试记录期间进行测试记录功率发生变化的功率扫描式的测试记录(Power Scan Write)(以下称作：功率扫描写入)的信号。在以下的说明中，作为测试记录是进行测试记录功率逐渐增大的功率扫描写入。

在上述结构中，光盘装置1在想要向光盘2记录信息(数据)时，在进行记录之前，先进行OPC处理。作为该OPC处理，首先，盘判别部34判别光盘2的盘ID，将该判别结果的信号向测试记录条件设定部324输出。在测试记录条件设定部324中，从登录(存储)在存储器40的策略中读出与盘判别部34判别出的盘ID相对应的测试记录条件的信息并对其进行设定。作为测试记录条件的信息，包括对光盘2的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数的信息(测试记录次数信息)、以及在作为测试记录次数设定为多次时，是否擦除已进行了测试记录的信息，要擦除时，在哪个时机进行擦除等的信息。记录用信号生成部33生成进行功率扫描写入的测试记录用信号，根据由上述测试记录条件设定部324设定的测试记录条件的信息输出该测试记录用信号，并且在测试记录次数被设定为多次时，生成并输出指示擦除已进行了测试记录的数据、以及指示该擦除的时机的指示信号。该测试记录用信号、该指示信号被输入到激光驱动电路7。在激光驱动电路7中，基于该测试记录用信号、该指示信号生成驱动信号，利用该驱动信号驱动激光二极管6使其发生激光。此时，电机控制部31从测试记录条件设定部324接受指示滑动电机12的旋转的控制的指示信号，利用该指示信号，经由电机驱动电路15控制该滑动电机12的旋转，使光拾取器4的位置、即物镜5的位置成为上述发生的激光照射光盘2的测试记录区域内的预定的地址位置的位置。利用该激光照射进行在该地址位置的测试记录、测试记录的擦除。在测试记录次数被设定为多次时，控制物镜5的位置，使得能多次对测试记录区域内的相同地址反复进行测试记录。在擦除测试记录的数据时，也同样地来控制物镜5的位置。在测试记录(功率扫描写入)后，光拾取器4的受光部8接受来自进行了测试记录的地址的反射激光并转换成电信号。再现信号处理部9对从受光部8输出的再现信号进行放大、解调等信号处理。在进行了多次测试记录时，该信号处理只需对最后一次测试记录后的再现信号进行即可。在调制度特性运算部321中，针对从再现信号处理部9输出的最后一次测试记录后的再现信号，使用前述公式1运算调制度特性。γ特性运算部322根据调制度特性运算部321运算出的调制度特性，使用前述公式2运算γ特性。最佳记录功率运算部323根据由上述γ特性运算部322运算出的γ特性，求出与预先设定的目标γ值相对应的目标记录功率值，进而，使用前述公式3，从该目标记录功率值运算信息记录用的最佳记录功率值、即最佳的水平范围的记录功率值，生成与该运算结果相对应的控制信号，向记录用信号生成部33输出，控制该记录用信号生成部33。这样，OPC处理结束。记录用信号生成部33基于上述控制信号被控制，生成通常的信息记录用的记录用信号。

OPC处理后，激光驱动电路7由该通常的信息记录用的记录用信号控制，驱动激光二极管6使得该激光二极管6发生上述所设定的最佳记录功率的激光。以基于该驱动发生的激光的记录功率向光盘2进行通常的信息记录(数据记录)。

以下，对于在说明中使用的图1的结构中的结构要素标注与图1相同的标号进行使用。

图2是图1的光盘装置1的OPC处理的第1例的说明图。本第1例是反复进行3次作为测试记录的功率扫描写入，在当中不进行测试记录的数据擦除的情况的例子。

图2表示光盘装置1的OPC处理的处理动作的流程。

在图2中，

(1)作为控制部的系统控制部30内的盘判别部34判别信息记录对象的光盘2的盘ID(步骤S201)。

(2)系统控制部30内的测试记录条件设定部324从登录(存储)在存储器40的策略中读出并设定与上述判别出的盘ID相对应的作为测试记录条件的测试记录次数3次(步骤S202)。

(3)系统控制部30内的记录用信号生成部33根据由上述测试记录条件设定部324设定的设定结果，生成进行3次功率扫描写入的测试记录用信号，向激光驱动电路7输出。激光驱动电路7根据测试记录用信号驱动激光二极管6，激光二极管6发生激光。该激光通过物镜5照射到光盘2的测试记录区域内的相同地址，由此，对该相同地址进行作为测试记录的3次功率扫描写入(步骤S203)。此时，物镜5经由电机控制部31、移动向导机构部11被位置控制，使得该3次功率扫描写入是对相同的地址进行的。

(4)受光部8和再现信号处理部9再现进行了测试记录的信号(步骤S204)。即，受光部8接受来自进行了测试记录的地址的反射光并转换成电信号。再现信号处理部9对从受光部8输出的最后一次、即第3次功率扫描写入后的再现信号进行放大、解调等信号处理。

(5)系统控制部30的微型计算机32内的调制度特性运算部321针对从再现信号处理部9输出的第3次功率扫描写入后的再现信号，使用前述公式1运算调制度特性(步骤S205)。

(6)系统控制部30的微型计算机32内的γ特性运算部322根据调制度特性运算部321运算出的调制度特性，使用前述公式2运算γ特性(步骤S206)。

(7)系统控制部30的微型计算机32内的最佳记录功率运算部323根据γ特性运算部322运算出的γ特性，求出与预先设定的目标γ值相对应的目标记录功率值，进而，使用前述公式3，根据该目标记录功率值运算通常的信息记录用的最佳记录功率Po(步骤S207)。

上述步骤S201～步骤S207的一连串的动作通过预先登录在存储器40中的程序使系统控制部30执行各个动作的步骤来进行。

图3是表示在图1的光盘装置中，对光盘2(为了便于说明，将盘ID取为“A”)进行上述图2的OPC处理所得到的最佳记录功率的特性例的图。

在图3中，Q₁、Q₂、Q₃分别表示进行3次功率扫描写入，从最后的第3次功率扫描写入后的再现信号求出了最佳记录功率Po时该最佳记录功率Po在特性上的位置，其中，Q₁表示作为最初的OPC处理进行3次功率扫描写入，从最后的第3次功率扫描写入后的再现信号求出了最佳记录功率Po时该最佳记录功率Po在特性上的位置；Q₂表示作为第2次OPC处理进行3次功率扫描写入，从最后的第3次功率扫描写入后的再现信号求出了最佳记录功率Po时该最佳记录功率Po在特性上的位置；Q₃表示作为第3次OPC处理进行3次功率扫描写入，从最后的第3次功率扫描写入后的再现信号求出了最佳记录功率Po时该最佳记录功率Po在特性上的位置。此外，在图3的特性中，假设在每进行1次功率扫描写入进行了1次OPC处理时，取得与图9相同的最佳记录功率Po的特性。

在图3的特性中，在进行了图2所示的OPC处理时，通过最初的OPC处理求出的最佳记录功率(OPC Power)Po为大约39.9mV(Q1位置)，通过第2次OPC处理求出的最佳记录功率Po为大约38.5mV(Q2位置)，通过第3次OPC处理求出的最佳记录功率Po为大约38.4mV(Q3位置)，在第2次以后的OPC处理中，求出的最佳记录功率Po的变化量变得极小。由此，每次OPC处理设定的记录功率值的差也变小，该记录功率的精度得到提高。由于记录功率精度的提高使得记录品质也得到提高并稳定化。

图4是图1的光盘装置1的OPC处理的第2例的说明图。本第2例是反复进行3次作为测试记录的功率扫描写入，并且，在第1次功率扫描写入与第2次功率扫描写入之间、以及在第2次功率扫描写入与第3次功率扫描写入之间分别进行测试记录数据的擦除时的例子。

图4表示光盘装置1的OPC处理的处理动作的流程。

在图4中，

(1)作为控制部的系统控制部30内的盘判别部34判别信息记录对象的光盘2的盘ID(步骤S401)。

(2)系统控制部30内的测试记录条件设定部324从登录(存储)在存储器40的策略中读出并设定与上述判别出的盘ID相对应的作为测试记录条件的功率扫描写入次数3次的信息；和在第1次功率扫描写入与第2次功率扫描写入之间、以及在第2次功率扫描写入与第3次功率扫描写入之间分别进行测试记录数据的擦除的擦除时机的信息(步骤S402)。

(3)系统控制部30内的记录用信号生成部33根据由上述测试记录条件设定部324设定的设定结果，生成进行3次功率扫描写入的测试记录用信号，并且生成指示擦除该进行了测试记录的数据和指示该擦除的时机的指示信号，向激光驱动电路7输出。激光驱动电路7根据从记录用信号生成部33输出的该测试记录用信号和该指示信号驱动激光二极管6，使激光二极管6发生测试记录用的激光。该激光通过物镜5照射到光盘2的测试记录区域内的相同地址，由此，对该相同地址进行作为测试记录的3次功率扫描写入和2次擦除(步骤S403)。此时，物镜5经由电机控制部31、移动·向导机构部11被位置控制，使得该3次功率扫描写入和2次擦除是对相同的地址进行的。

(4)受光部8和再现信号处理部9再现进行了测试记录的信号(步骤S404)。即，受光部8接受来自进行了测试记录的地址的反射光并转换成电信号。再现信号处理部9对从受光部8输出的第3次功率扫描写入后的再现信号进行放大、解调等信号处理。

(5)系统控制部30的微型计算机32内的调制度特性运算部321针对从再现信号处理部9输出的第3次功率扫描写入后的再现信号，使用前述公式1运算调制度特性(步骤S405)。

(6)系统控制部30的微型计算机32内的γ特性运算部322根据调制度特性运算部321运算出的调制度特性，使用前述公式2运算γ特性(步骤S406)。

(7)系统控制部30的微型计算机32内的最佳记录功率运算部323根据γ特性运算部322运算出的γ特性，求出与预先设定的目标γ值相对应的目标记录功率值，进而，使用前述公式3，根据该目标记录功率值运算通常的信息记录用的最佳记录功率Po(步骤S407)。

上述步骤S401～步骤S407的一连串的动作通过预先登录在存储器40中的程序使系统控制部30执行各个动作的步骤来进行。

图5是图1的光盘装置1的OPC处理的第3例的说明图。本第3例是反复进行3次作为测试记录的功率扫描写入，并且，仅在第2次功率扫描写入与第3次功率扫描写入之间进行测试记录数据的擦除时的例子。

图5表示光盘装置1的OPC处理的处理动作的流程。

在图5中，

(1)作为控制部的系统控制部30内的盘判别部34判别信息记录对象的光盘2的盘ID(步骤S501)。

(2)系统控制部30内的测试记录条件设定部324从登录(存储)在存储器40的策略中读出并设定与上述判别出的盘ID相对应的作为测试记录条件的功率扫描写入次数3次的信息；以及在第2次功率扫描写入与第3次功率扫描写入之间进行测试记录数据的擦除的擦除时机的信息(步骤S502)。

(3)系统控制部30内的记录用信号生成部33根据由上述测试记录条件设定部324设定的设定结果，生成进行3次功率扫描写入的测试记录用信号，并且生成指示擦除该进行了测试记录的数据和指示该擦除的时机的指示信号，向激光驱动电路7输出。激光驱动电路7根据从记录用信号生成部33输出的该测试记录用信号和该指示信号驱动激光二极管6，使激光二极管6发生测试记录用的激光。该激光通过物镜5照射到光盘2的测试记录区域内的相同地址，由此，对该相同地址进行作为测试记录的3次功率扫描写入和1次擦除(步骤S503)。此时，物镜5经由电机控制部31、移动·向导机构部11被位置控制，使得该3次功率扫描写入和1次擦除是对相同的地址进行的。

(4)受光部8和再现信号处理部9再现进行了测试记录的信号(步骤S504)。即，受光部8接受来自进行了测试记录的地址的反射光并转换成电信号。再现信号处理部9对从受光部8输出的第3次功率扫描写入后的再现信号进行放大、解调等信号处理。

(5)系统控制部30的微型计算机32内的调制度特性运算部321针对从再现信号处理部9输出的第3次功率扫描写入后的再现信号，使用前述公式1运算调制度特性(步骤S505)。

(6)系统控制部30的微型计算机32内的γ特性运算部322根据调制度特性运算部321运算出的调制度特性，使用前述公式2运算γ特性(步骤S506)。

(7)系统控制部30的微型计算机32内的最佳记录功率运算部323根据γ特性运算部322运算出的γ特性，求出与预先设定的目标γ值相对应的目标记录功率值，进而，使用前述公式3，根据该目标记录功率值运算信息记录用的最佳记录功率Po(步骤S507)。

上述步骤S501～步骤S507的一连串的动作通过预先登录在存储器40中的程序使系统控制部30执行各个动作的步骤来进行。

图6是表示通过图1的光盘装置1的OPC处理所得到的最佳记录功率的其他特性例的图。

能想到在可重写型光盘中，也存在具有本图6这样的特性的光盘(为了便于说明，将该光盘的盘ID取为“B”)。本图6的特性与图3的特性不同，是即使在每进行1次测试记录进行了1次OPC处理的情况下，求出的最佳记录功率Po的变化量也极少的特性。在光盘装置1中，对于具有该特性的光盘，微型计算机32内的测试记录条件设定部324作为测试记录条件，将测试记录次数1次设定为与盘判别部34判别出的盘ID对应的测试记录次数。即，在存储器40内，作为策略与盘ID“B”相对应的测试记录次数被登录(存储)为1次。

根据作为本发明的实施例的光盘装置1，能够迅速地开始信息记录动作。而且，在向可重写光盘记录信息时，能够与记录对象的光盘的盘ID相对应地来改变OPC处理中的测试记录次数，因此，对于通过基于1次测试记录的OPC处理求出的最佳记录功率的变化量较大的光盘，自动地进行多次测试记录，能够减小该最佳记录功率的变化量。结果是能够提高记录功率的精度，能够实现记录品质的提高和稳定化。

此外，虽然在上述实施例中，在将测试记录的次数设定为多次的图2、图4、以及图5的OPC处理中，将作为测试记录的功率扫描写入次数取为3次，但本发明不限于此，也可以是2次，只要处理时间在允许的范围内也可以是4次以上。另外，虽然在上述实施例中，作为功率扫描写入，采用使记录功率逐渐增大的测试记录方式，但本发明不限于此，也可以是使记录功率逐渐减少的测试记录方式，或者也可以是使记录功率打乱混合(scramble)的测试记录方式。进而，虽然在上述实施例中，作为OPC处理，关于在测试记录后，根据其再现信号求出调制度特性和γ特性，根据该γ特性求出最佳记录功率的运算、即所谓γ方式进行了说明，但测试记录后的处理不限于此，例如，也可以是在测试记录后，根据β特性进行最佳记录功率的运算的β方式，或者也可以是在测试记录后，根据κ特性进行最佳记录功率的运算的κ方式。

Claims (9)

1.一种光盘装置，以根据测试记录求得的记录功率对光盘照射激光，进行信息的记录，其特征在于，包括：

激光二极管，发生激光；

激光驱动电路，驱动所述激光二极管；以及

具有如下结构的控制部，即：判别所述光盘的盘ID，利用与该盘ID相对应并作为策略预先登录在该光盘装置内的测试记录次数信息，设定对所述光盘的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数，生成该设定次数的测试记录用信号，输出到所述激光驱动电路，并且，根据进行了所述设定次数的测试记录中的最后一次测试记录后的再现信号，运算信息记录用的记录功率。

2.一种光盘装置，以根据测试记录求得的记录功率向光盘照射激光，进行信息的记录，其特征在于，包括：

激光二极管，发生激光；

激光驱动电路，驱动所述激光二极管；

光盘判别部，判别所述光盘的盘ID；

测试记录条件设定部，利用作为策略预先登录在该光盘装置内、与所述判别出的盘ID相对应的测试记录次数信息，设定对所述光盘的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数；

记录用信号生成部，在测试记录时，生成对所述激光驱动电路输入的测试记录用信号，对应于由所述记录条件设定部设定的测试记录次数输出该测试记录用信号；以及

运算部，根据所述设定次数的测试记录中的最后一次测试记录后的再现信号，运算信息记录用的记录功率。

3.一种光盘装置，以根据测试记录求得的记录功率向光盘照射激光，进行信息的记录，其特征在于，包括：

激光二极管，发生激光；

激光驱动电路，驱动所述激光二极管；

光盘判别部，判别所述光盘的盘ID；

测试记录条件设定部，利用作为策略预先登录在该光盘装置内、与所述判别出的盘ID相对应的测试记录次数信息，设定对所述光盘的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数；

记录用信号生成部，在测试记录时，作为对所述激光驱动电路输入的测试记录用信号，生成该激光驱动电路以在各次测试记录期间测试记录功率发生变化的方式驱动所述激光二极管的信号，对应于由所述记录条件设定部设定的测试记录次数输出该生成的测试记录用信号；

调制度特性运算部，针对所述设定次数的测试记录中的最后一次测试记录后的再现信号，运算其调制度特性；

γ特性运算部，根据所述调制度特性运算γ特性；以及

最佳记录功率运算部，根据所述γ特性，求出与作为策略预先登录在该光盘装置内的目标γ值相对应的目标记录功率值，进而，根据该目标记录功率值运算信息记录用的最佳记录功率值。

4.根据权利要求2或3所述的光盘装置，其特征在于：

所述测试记录条件设定部为如下的结构，即：在作为测试记录的次数设定为多次时，作为测试记录条件，设定将在擦除了由在前的第1测试记录所记录的信息的地址位置进行在后的第二测试记录。

5.根据权利要求2或3所述的光盘装置，其特征在于：

所述测试记录条件设定部为如下的结构，即：在作为测试记录的次数设定为多次时，作为测试记录条件，设定擦除由最后一次的前一次测试记录所记录的信息、以及在擦除了该信息的地址位置进行所述最后一次的测试记录。

6.一种光盘装置的信息记录方法，该光盘装置以根据测试记录求得的记录功率对光盘照射激光，进行信息的记录，其特征在于，包括：

判别进行记录的光盘的盘ID的第一步骤；

根据预先登录在光盘装置内的策略求出与所述判别出的盘ID相对应的测试记录次数信息，利用该求得的测试记录次数信息设定对所述光盘的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数的第二步骤；

生成所述设定次数的测试记录用信号，对所述光盘的测试记录区域内的相同地址进行测试记录的第三步骤；以及

根据所述设定次数的测试记录中的最后一次测试记录后的再现信号，运算信息记录用的记录功率的第四步骤。

7.一种光盘装置的信息记录方法，该光盘装置以根据测试记录求得的记录功率向光盘照射激光，进行信息的记录，其特征在于，包括：

判别进行记录的光盘的盘ID的第一步骤；

根据预先登录在光盘装置内的策略求出与所述判别出的盘ID相对应的测试记录次数信息，利用该测试记录次数信息设定对所述光盘的测试记录区域内的相同地址实施的测试记录的次数的第二步骤；

生成在各次测试记录期间使测试记录功率发生变化的测试记录用信号，根据该生成的测试记录用信号发生激光，以所述设定次数对所述光盘的测试记录区域内的相同地址进行测试记录的第三步骤；

根据所述设定次数的测试记录中的最后一次测试记录后的再现信号，运算其调制度特性的第四步骤；

从所述调制度特性运算γ特性的第五步骤；以及

根据所述γ特性，求出与作为策略预先登录在该光盘装置内的目标γ值相对应的目标记录功率值，进而，根据该目标记录功率值运算信息记录用的最佳记录功率值的第六步骤。

8.根据权利要求6或7所述的光盘装置的信息记录方法，其特征在于：

在所述第二步骤中，在作为测试记录的次数设定为多次时，设定在擦除了由在前的第一测试记录所记录的信息后进行在后的第二测试记录。

9.根据权利要求6或7所述的光盘装置的信息记录方法，其特征在于：

在所述第二步骤中，在作为测试记录的次数设定为多次时，作为测试记录条件，设定擦除由最后一次的前一次测试记录所记录的信息、以及在擦除了该信息的地址位置进行所述最后一次的测试记录。

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