KR20080104436A - 광디스크 장치의 검사 방법 - Google Patents

광디스크 장치의 검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 기록 파워 설정을 통해 광디스크 장치를 검사한다는 것으로, 이를 위하여 본 발명은, 검사용 광디스크의 내주 PCA 영역을 이용하여 기록 및 재생을 수행하는 기록 파워 설정을 통해 광디스크 장치의 검사를 수행하는 종래 방법과는 달리, 검사용 광디스크를 로딩한 후에 내주 PCA 영역, 리드인 영역 및 외주 PCA 영역에 기록 가능한지를 각각 체크하여 기록 가능한 영역을 이용하여 테스트 데이터를 기록 및 재생하여 기록 파워를 설정하는 OPC 과정을 수행함으로써, 광디스크 장치의 OPC 과정을 수행하는 중에 빈번한 테스트용 광디스크의 교체 및 소모를 방지할 수 있는 것이다.
광디스크 장치, OPC(Optimum Power Control), 내주 PCA(Power Calibration Area) 영역, 리드인 영역, 외주 PCA 영역

Description

광디스크 장치의 검사 방법{TEST METHOD OF A OPTICAL-DISC APPARATUS}
도 1은 종래에 일반적인 광디스크의 레이아웃을 나타낸 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따라 기록 파워 설정을 위한 OPC 과정을 수행하는데 적합한 광디스크 장치의 블록구성도,
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따라 기록 파워 설정을 위한 OPC 과정을 수행하는 과정을 도시한 플로우차트.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
202 : 광디스크 204 : PD
206 : RF부 208 : 디지털 신호 처리부
210 : 제어부 212 : LD 구동부
214 : LD
본 발명은 광디스크 장치를 검사하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 검사용 광디스크를 이용하여 기록 파워 설정을 위한 OPC 과정을 수행하는데 적합한 광디스크 장치의 검사 방법에 관한 것이다.
잘 알려진 바와 같이, 광기록 매체는 기록 가능 여부에 따라 CD-ROM(CD-Read Only Memory), DVD-ROM 등과 같은 재생 전용의 디스크와, CD-WORM(CD-Write Once Read Many), DVD-WORM 등과 같은 한번 기록 가능한 디스크와, CD-RW(CD-Rewritable), DVD-RW, DVD-RAM(Random Access Memory) 등과 같은 반복 기록 가능한 디스크로 분류된다.
한편, 기록 가능한 디스크들의 기록 영역 배치는 PCA(Power Calibration Area), PMA(Program Memory Area), 리드 인 영역(Lead-in Area), 데이터 영역(Data Area) 및 리드 아웃 영역(Lead-in Area)으로 구분된다. 여기에서, PCA는 디스크에 데이터를 기록하는 레이저 기록 파워를 교정하는 영역이며, PMA는 데이터 영역 중에 데이터가 기록된 트랙의 선두 어드레스 정보를 포함하는 영역이고, 리드 인 영역과 리드 아웃 영역은 데이터 영역에 저장된 데이터 기록 정보 등이 기록되는 영역이며, 데이터 영역에서는 실제 데이터가 기록되는 영역을 의미한다.
이러한 광디스크를 이용한 광디스크 장치는 레이저 다이오드를 구동시켜 광디스크상에 존재하는 정보 기록층의 물리적 특성을 변화시키는 비교적 큰 에너지의 광빔을 조사하여 광디스크에 정보를 기록함과 아울러 그 정보 기록층의 물리적 특성을 변화시키지 않는 작은 에너지의 광빔을 사용하여 광디스크로부터 정보를 재생한다.
그리고, 광디스크의 기록 성능의 향상을 위해서는 디스크 전영역에 적합한 기록 파워로 데이터를 기록해야 하는데 광디스크 기록 이전에 디스크에 적합한 기록 파워를 설정하기 위한 OPC(Optimum Power Control) 과정을 수행해야 하는데, 이 러한 OPC 과정은 레이저 다이오드를 구동시켜 광디스크의 PCA에 테스트 데이터를 기록한 후 반사되는 광량에 비례하는 재생 신호(즉, RF 신호)를 광픽업하여 검출하고, 픽업된 재생 신호 파형의 상하 대칭성에 해당하는 변수(즉, RF 베타값)를 이용하여 지터(jitter)량이 최소가 되는 베타값을 산출하여 그 베타값에 비례하는 기록 전압을 설정하는 방식으로 수행된다.
한편, 종래에 광디스크의 R계열의 기록을 위해 기록 전 OPC 과정을 수행하여 기록 파워를 결정하고, 이러한 기록 파워로 데이터 영역에 데이터 기록을 수행하고, 이를 재생하여 지터값 또는 BLER(Block Error Rate : PI, PO)를 읽어 기록 성능이 양호한지를 판단하게 되는데, 도 1에 도시한 바와 같은 광디스크의 레이아웃에서 OPC 영역인 PCA 영역은 작은 반면에 데이터 영역은 길기 때문에 하나의 광디스크 장치(광디스크 로더) 검사 시 대략 64 섹터의 PCA 영역과 대략 1000 섹터의 데이터 영역이 사용되어 다수의 로더를 검사할 경우 PCA 영역을 전부 사용하더라도 데이터 영역은 많은 섹터가 남게 된다.
하지만, OPC 과정을 수행하기 위한 PCA 영역이 전부 사용될 경우 다른 광디스크를 장착하여 OPC 과정을 수행하여야만 되기 때문에 데이터 영역에 비해 상대적으로 작은 섹터를 갖는 PCA 영역에 따라 빈번한 광디스크 교체로 인한 불편함이 있을 뿐만 아니라, 검사용 광디스크를 불필요하게 소모하는 요인으로 작용하고 있는 실정이다.
따라서, 본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 광 디스크의 레이아웃에서 내주 PCA 영역과 리드인 영역을 이용하여 OPC 과정을 수행함으로써, OPC 검사 시 빈번한 광디스크 교체를 방지할 수 있는 광디스크 장치의 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 광디스크의 레이아웃에서 내주 PCA 영역과 리드인 영역 뿐만 아니라 외주 PCA 영역을 이용하여 OPC 과정을 수행함으로써, OPC 검사 시 빈번한 광디스크 교체를 더욱 방지할 수 있는 광디스크 장치의 검사 방법을 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 검사용 광디스크를 이용하여 OPC 과정을 수행하는 광디스크 장치의 검사 방법으로서, 상기 검사용 광디스크의 내주 PCA 영역의 사용 여부에 따라 기록 가능 영역이 있는지 판단하는 단계와, 상기 내주 PCA 영역에 기록 가능 영역이 있으면, 상기 내주 PCA 영역을 이용하여 상기 OPC 과정을 수행하는 단계와, 상기 내주 PCA 영역에 기록 가능 영역이 없으면, 상기 검사용 광디스크의 리드인 영역을 이용하여 상기 OPC 과정을 수행하는 단계를 포함하는 광디스크 장치의 검사 방법을 제공한다.
본 발명의 상기 및 기타 목적과 여러 가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 본 발명의 바람직한 실시 예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 상세하게 설명한다.
본 발명의 기술요지는, 광디스크 장치의 OPC 과정을 수행할 경우 검사용 광디스크의 내주 PCA 영역, 리드인 영역, 외주 PCA 영역의 사용 가능 여부를 판단하여 사용 가능한 영역을 이용하여 OPC 과정을 수행한다는 것으로, 이러한 기술적 수단을 통해 본 발명에서 목적으로 하는 바를 쉽게 달성할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따라 기록 파워 설정을 위한 OPC 과정을 수행하는데 적합한 광디스크 장치의 블록구성도로서, 광디스크(202), PD(Photo Diode, 204), RF부(206), 디지털 신호 처리부(208), 제어부(210), LD 구동부(212) 및 LD(Laser Diode, 214)를 포함한다.
도 2를 참조하면, PD(204)는 광픽업부를 의미하는 것으로, 테스트를 위해 광디스크 장치(광디스크 로더)에 로딩된 광디스크(202)에 광빔을 조사하여 광디스크(202)에 기록된 데이터를 독출하여 그 RF 신호를 RF부(206)로 출력한다.
그리고, RF부(206)는 PD(204)로부터 출력되는 RF 신호를 증폭 및 파형 정형하여 변조된 신호, 예를 들어 EFM(Eight to Fourteen Modulation) 신호를 디지털 신호 처리부(208)로 전달하고, 출력되는 RF 신호에 따라 포커스 에러 신호, 트랙킹 에러 신호, OPC 기록 파워 설정을 위한 RF의 상하 대칭성에 해당하는 변수(RF 배타값)를 이용하여 산출된 지터값 등을 제어부(210)로 전달한다.
다음에, 디지털 신호 처리부(208)는 재생 모드 시 RF부(206)로부터 전달되는 EFM 신호를 디지털 신호 처리하여 재생 가능한 신호로 출력하고, 기록 모드 시 OPC 기록 파워를 설정하기 위한 신호를 광디스크(202)에 기록 가능한 테스트 데이터로 변환하여 제어부(210)로 전달한다.
한편, 제어부(210)는 광디스크 장치의 전반적인 동작 제어, 예를 들어 광디스크의 기록 및 재생 모드를 제어하고, 디지털 신호 처리부(208)로부터 전달되는 테스트 데이터를 광디스크(202)에 기록하도록 LD 구동부(212)를 제어한다.
또한, 제어부(210)에서는 PD(204), RF부(206)를 통해 광디스크(202)의 내주 PCA 영역, 리드인 영역 및 외주 PCA 영역에 기록이 가능한지 각각 판단(즉, 기록 영역이 남아 있는지 판단)하여 기록이 가능한 영역을 이용하여 OPC 과정을 수행하도록 LD 구동부(212) 및 LD(214)를 제어하며, 이러한 과정을 통해 설정된 기록 파워에 따라 테스트용 데이터를 데이터 영역에 기록하도록 LD 구동부(212) 및 LD(214)를 제어하며, 이 후 RF부(206)에서 RF 베타값을 이용하여 산출된 지터값, BLER(PI, PO)값을 제공받아 기 설정된 범위에 따른 기록 성능이 양호한지를 판단한다.
그리고, LD 구동부(212)는 소정의 기록 파워를 갖는 광빔을 광디스크(202)에 조사하도록 LD(214)를 구동하며, 광디스크(202)에 기록된 데이터의 재생 시 소정의 재생 파워를 갖는 광빔을 조사하도록 LD(214)를 구동한다.
다음에, 상술한 바와 같은 구성을 갖는 광디스크 장치에서 검사용 광디스크를 로딩한 후에 내주 PCA 영역을 이용한 OPC 과정을 수행하고, 내주 PCA 영역의 기록이 완료되면 리드인 영역을 이용한 OPC 과정을 수행하며, 리드인 영역의 기록이 완료되면 외주 PCA 영역을 이용한 OPC 과정을 수행하는 과정에 대해 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따라 기록 파워 설정을 위한 OPC 과정을 수행하는 과정을 도시한 플로우차트이다.
도 3을 참조하면, 광디스크 장치의 검사 모드에서(단계302), 검사용 광디스크가 로딩되면, 제어부(210)에서는 PD(204) 및 RF부(206)를 통해 해당 광디스크(202)의 내주 PCA 영역에 테스트 데이터의 기록이 가능한지를 체크한다(단계304, 306). 즉, 내주 PCA 영역의 사용 여부에 따라 테스트 데이터를 기록할 수 있는 영역이 있는지 판단한다.
상기 단계(306)에서의 체크 결과, 내주 PCA 영역에 테스트 데이터의 기록이 가능한 경우 제어부(210)에서는 슬레드 모터를 이용하여 내주 PCA 영역으로 이동하도록 LD 구동부(212)에 제어신호를 제공한다(단계308).
그리고, LD 구동부(212)에서는 이동된 내주 PCA 영역에 제어부(210)로부터 전달되는 테스트용 데이터를 기록하도록 LD(214)를 구동시켜 광디스크(202)에 광빔을 조사한다(단계310).
다음에, PD(204)를 통해 광디스크(202)에 기록된 데이터를 독출하여 그 RF 신호를 출력하고, RF부(206)를 통해 그 RF 신호에 대해 RF의 상하 대칭성에 해당하는 변수인 RF 베타값을 이용하여 산출된 지터값을 제어부(210)로 제공하며, 제어부(210)에서는 이러한 지터값을 이용하여 기록 파워를 설정한다(단계312).
이 후, 제어부(210)에서는 설정된 기록 파워로 테스트용 데이터를 광디스크(202)의 데이터 영역에 기록하도록 LD 구동부(212)를 제어하고, LD(214)를 구동시켜 광디스크(202)의 데이터 영역에 테스트용 데이터를 기록하며, PD(204)를 통해 이러한 데이터를 독출하여 그 RF 신호에 대해 RF부(206)에서 RF 베타값을 이용하여 산출된 지터값, BLER(PI, PO)값을 제어부(210)로 제공하며, 제어부(210)에서는 이 러한 지터값, BLER(PI, PO)값을 이용하여 기 설정된 범위에 따른 기록 성능이 양호한지를 판단하여 광디스크 장치의 검사를 완료한다.
한편, 상기 단계(306)에서의 체크 결과, 내주 PCA 영역에 테스트 데이터의 기록이 불가능한 경우 제어부(210)에서는 PD(204) 및 RF부(206)를 통해 해당 광디스크(202)의 리드인(Lead-in) 영역에 테스트 데이터의 기록이 가능한지를 체크한다(단계314). 즉, 리드인 영역의 사용 여부에 따라 테스트 데이터를 기록할 수 있는 영역이 있는지 판단한다.
상기 단계(314)에서의 체크 결과, 리드인 영역에 테스트 데이터의 기록이 가능한 경우 제어부(210)에서는 슬레드 모터를 이용하여 리드인 영역으로 이동하도록 LD 구동부(212)에 제어신호를 제공한다(단계316).
그리고, LD 구동부(212)에서는 이동된 리드인 영역에 제어부(210)로부터 전달되는 테스트용 데이터를 기록하도록 LD(214)를 구동시켜 광디스크(202)에 광빔을 조사한다(단계318).
다음에, PD(204)를 통해 광디스크(202)에 기록된 데이터를 독출하여 그 RF 신호를 출력하고, RF부(206)를 통해 그 RF 신호에 대해 RF의 상하 대칭성에 해당하는 변수인 RF 베타값을 이용하여 산출된 지터값을 제어부(210)로 제공하며, 제어부(210)에서는 이러한 지터값을 이용하여 기록 파워를 설정한다(단계312).
이 후, 제어부(210)에서는 설정된 기록 파워로 테스트용 데이터를 광디스크(202)의 데이터 영역에 기록하도록 LD 구동부(212)를 제어하고, LD(214)를 구동시켜 광디스크(202)의 데이터 영역에 테스트용 데이터를 기록하며, PD(204)를 통해 이러한 데이터를 독출하여 그 RF 신호에 대해 RF부(206)에서 RF 베타값을 이용하여 산출된 지터값, BLER(PI, PO)값을 제어부(210)로 제공하며, 제어부(210)에서는 이러한 지터값, BLER(PI, PO)값을 이용하여 기 설정된 범위에 따른 기록 성능이 양호한지를 판단하여 광디스크 장치의 검사를 완료한다.
한편, 상기 단계(314)에서의 체크 결과, 리드인 영역에 테스트 데이터의 기록이 불가능한 경우 제어부(210)에서는 PD(204) 및 RF부(206)를 통해 해당 광디스크(202)의 외주 PCA 영역에 테스트 데이터의 기록이 가능한지를 체크한다(단계320). 즉, 외주 PCA 영역의 사용 여부에 따라 테스트 데이터를 기록할 수 있는 영역이 있는지 판단한다.
상기 단계(314)에서의 체크 결과, 외주 PCA 영역에 테스트 데이터의 기록이 불가능한 경우 해당 광디스크(202)를 이용한 광디스크 장치의 검사를 수행할 수 없음을 표시하며, 외주 PCA 영역에 테스트 데이터의 기록이 가능한 경우 제어부(210)에서는 슬레드 모터를 이용하여 리드인 영역으로 이동하도록 LD 구동부(212)에 제어신호를 제공한다(단계322).
그리고, LD 구동부(212)에서는 이동된 리드인 영역에 제어부(210)로부터 전달되는 테스트용 데이터를 기록하도록 LD(214)를 구동시켜 광디스크(202)에 광빔을 조사한다(단계324).
다음에, PD(204)를 통해 광디스크(202)에 기록된 데이터를 독출하여 그 RF 신호를 출력하고, RF부(206)를 통해 그 RF 신호에 대해 RF의 상하 대칭성에 해당하는 변수인 RF 베타값을 이용하여 산출된 지터값을 제어부(210)로 제공하며, 제어 부(210)에서는 이러한 지터값을 이용하여 기록 파워를 설정한다(단계312).
이 후, 제어부(210)에서는 설정된 기록 파워로 테스트용 데이터를 광디스크(202)의 데이터 영역에 기록하도록 LD 구동부(212)를 제어하고, LD(214)를 구동시켜 광디스크(202)의 데이터 영역에 테스트용 데이터를 기록하며, PD(204)를 통해 이러한 데이터를 독출하여 그 RF 신호에 대해 RF부(206)에서 RF 베타값을 이용하여 산출된 지터값, BLER(PI, PO)값을 제어부(210)로 제공하며, 제어부(210)에서는 이러한 지터값, BLER(PI, PO)값을 이용하여 기 설정된 범위에 따른 기록 성능이 양호한지를 판단하여 광디스크 장치의 검사를 완료한다.
따라서, 광디스크 장치의 검사 모드에서 내주 PCA 영역, 리드인 영역 또는 외주 PCA 영역을 이용하여 OPC 과정을 수행함으로써, 빈번한 광디스크의 교체없이 다수의 광디스크 장치를 효과적으로 검사할 수 있다.
이상의 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예들을 제시하여 설명하였으나 본 발명이 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함을 쉽게 알 수 있을 것이다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명은, 검사용 광디스크의 내주 PCA 영역을 이용하여 기록 및 재생을 수행하는 기록 파워 설정을 통해 광디스크 장치의 검사를 수행하는 종래 방법과는 달리, 검사용 광디스크를 로딩한 후에 내주 PCA 영역, 리드인 영역 및 외주 PCA 영역에 기록 가능한지를 각각 체크하여 기록 가능한 영역을 이용하여 OPC 과정을 수행함으로써, 광디스크 장치의 OPC 과정을 수행하는 중에 빈번한 테스트용 광디스크의 교체 및 소모를 방지하여 광디스크 장치의 생산 단가를더욱 낮출 수 있다.

Claims (2)

  1. 검사용 광디스크를 이용하여 OPC 과정을 수행하는 광디스크 장치의 검사 방법으로서,
    상기 검사용 광디스크의 내주 PCA 영역의 사용 여부에 따라 기록 가능 영역이 있는지 판단하는 단계와,
    상기 내주 PCA 영역에 기록 가능 영역이 있으면, 상기 내주 PCA 영역을 이용하여 상기 OPC 과정을 수행하는 단계와,
    상기 내주 PCA 영역에 기록 가능 영역이 없으면, 상기 검사용 광디스크의 리드인 영역을 이용하여 상기 OPC 과정을 수행하는 단계
    를 포함하는 광디스크 장치의 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사 방법은,
    상기 리드인 영역에 기록 가능 영역이 없으면, 상기 검사용 광디스크의 외주 PCA 영역을 이용하여 상기 OPC 과정을 수행하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크 장치의 검사 방법.
KR1020070051205A 2007-05-28 2007-05-28 광디스크 장치의 검사 방법 KR20080104436A (ko)

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