CN101549995A - ZnO@SnO2包覆材料及其制备方法 - Google Patents

ZnO@SnO2包覆材料及其制备方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种ZnO@SnO2包覆材料及其制备方法,该材料以ZnO为被包覆体,SnO2为包覆物的复合结构,其中ZnO与SnO2摩尔比为6∶12~10∶12,ZnO@SnO2包覆材料中Sn 3d5谱峰电子结合能为486.75eV,Zn 2p3电子结合能为1022.7eV,O 1s电子结合能为531.4eV和528.43eV。包覆材料的制备方法是分别制备ZnO溶胶和SnO2溶胶,将ZnO溶胶缓慢加入SnO2溶胶体中,充分搅拌使其均匀混合,将均匀混合的溶胶体在30℃~60℃老化3~6h进行二次成胶得到ZnO@SnO2溶胶体,溶胶体经80℃~120℃热处理后在450℃-600℃退火处理即可。本发明可控性强,产物均一、稳定;工艺简单,操作方便,成本低廉,适于批量生产。

Description

ZnO@SnO2包覆材料及其制备方法
技术领域
本发明涉及ZnO@SnO2包覆材料及其制备方法,具体涉及具有包覆结构的ZnO@SnO2包覆材料及二步成胶的制备方法,以及ZnO@SnO2透明导电薄膜的制备方法。
背景技术
ZnO@SnO2包覆结构是以ZnO为被包覆体,SnO2为包覆物的复合结构。ZnO@SnO2包覆结构既具有SnO2良好的阻燃、气敏、湿敏、导电性能、反射红外辐射、遮光、化学稳定性、热稳定性等优点又具备ZnO无毒、易光刻加工、在氢等离子体中具有更好的化学稳定性等优势,可作为透明导电材料。ZnO@SnO2包覆透明导电薄膜兼备氧化锌和二氧化锡的优点,并且价格低廉、无毒,属于一种新型的透明导电薄膜,可广泛应用于太阳能电池、液晶显示屏、等离子显示屏、抗静电涂层、半导体/绝缘体/半导体(SIS)异质结、现代战机和巡航导弹的窗口等领域。同时,异质可调的包覆结构高度的多功能性,在纳米电子器件的制造中有着不可估量的应用前景。
Ko J.H等(Ko J.H,Kim I.H,Kim D,et al.Effect of ZnO addition onelectrical and structural properties of amorphous SnO2 thin films[J].Thin SolidFilms,2006,494:42-46)采用磁控溅射法制备出非晶Zn-Sn-O(ZTO)薄膜,但是当Sn含量大于54%时非晶薄膜中主要由ZnSnO3和SnO2相组成,极大地降低了其透明导电性能;山东大学马瑾等(马瑾,黄树来,计峰等.Zn-Sn-O透明导电膜的制备和光电性质[J].稀有金属,2004,28(3):519-521)采用射频磁控溅射法在有机衬底PPA上低温制备出电阻率为13×10-2Ω·cm,平均透过率达为82%的Zn-Sn-O透明导电膜。以上制备的Zn-Sn-O薄膜实际上是ZnO和SnO2纳米颗粒简单的混合,异质颗粒间的接触界面是非常疏松,因而薄膜具有较大的电阻率。中国专利(CN 200510129969)提出了核壳型氧化锌/氧化锡复合纳米材料及其制备方法,其所提出的核壳型氧化锌/氧化锡复合纳米材料是指Si衬底上分散的一层纳米尺度的ZnO上通过CVD方法再覆盖一层SnO2的复合结构,仍然属于物理包覆,其所制备的核壳型氧化锌/氧化锡具有较低的产率,因为CVD沉积SnO2的过程仅限于Si片上ZnO纳米颗粒层的最顶层,甚至可以说最顶层上的ZnO也只能处于不完全的核壳结构状态。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ZnO表面外延包覆生长SnO2,且被包覆体ZnO与包覆物SnO2间形成Zn-O-Sn键的具有完整封闭界面的ZnO@SnO2包覆材料;
本发明的另一目的在于提供上述ZnO@SnO2包覆材料的制备方法。
本发明实现过程如下:
一种ZnO@SnO2包覆材料,材料以ZnO为被包覆体,SnO2为包覆物的复合结构,其中ZnO与SnO2摩尔比为6∶12~10∶12,ZnO@SnO2包覆材料中Sn 3d5谱峰电子结合能为486.75eV,Zn 2p3电子结合能为1022.7eV,O 1s电子结合能为531.4eV和528.43eV。
ZnO@SnO2包覆材料的制备方法如下:分别制备ZnO溶胶和SnO2溶胶,将ZnO溶胶缓慢加入SnO2溶胶体中,充分搅拌使其均匀混合,将均匀混合的溶胶体在30℃~60℃老化3~6h进行二次成胶得到ZnO@SnO2溶胶体,溶胶体经80℃~120℃热处理后在450℃-600℃退火处理即可。
本发明还可制备ZnO@SnO2透明导电薄膜:将上述制备得到的ZnO@SnO2溶胶体均匀涂敷于衬底上,再经80℃~120℃热处理后得到ZnO@SnO2凝胶膜,凝胶膜在450℃-600℃退火处理,形成ZnO@SnO2薄膜。
ZnO溶胶的制备方法如下:将可溶性锌盐(硝酸锌、醋酸锌、氯化锌等)溶于乙二醇甲醚中,使锌盐浓度为0.20~0.50mol/L,加入与锌盐等摩尔量的乙醇胺,在30℃~60℃加热搅拌,直至溶液呈淡黄色,然后将该溶液于30℃~60℃老化30~40h得到ZnO溶胶体。
SnO2溶胶的制备方法如下:将四氯化锡溶于乙醇和去离子水中,四氯化锡∶乙醇∶去离子水摩尔比为1~2∶20~40∶4~8,在50℃~60℃回流搅拌直至溶液呈淡黄色,然后将溶液置于30℃~60℃老化7~12h得到SnO2溶胶体。
本发明采用的二步成胶工艺其机理主要依赖溶胶体的相关特性。两种不同成分的溶胶A、B在一定的温度条件下老化数小时使之形成独立、均匀、稳定的分散系,即完成一次成胶。两种溶胶形成后,体系中的胶粒均已成核生长。根据老化机理,控制老化时间和温度,可控制溶胶体中胶粒的尺寸。在相同的老化温度下,A溶胶经历老化时间长,形成的晶核得到了充分生长,胶粒尺寸较大;B溶胶经历老化时间相对较短,晶核形成后生长缓慢,其胶粒尺寸较小。一次成胶完成后,将A溶胶缓慢地加入到B溶胶体中,充分搅拌使两溶胶混合均匀,并在一定的温度下老化数小时,即完成二次成胶。A、B溶胶经过一次成胶后胶粒的尺寸均大于分子或原子的尺寸,使得在两种溶胶混合时不会发生化学反应生成其它物质。在二次成胶过程中,B胶粒尺寸较小,可通过扩散的方式运动至A胶粒周围;由于A胶粒的晶核已得到了充分生长,在二次成胶时尺寸较小的B胶粒必然会沉淀到胶粒尺寸较大的A胶粒表面。此外,由溶胶的特性可知溶胶体中胶粒具有较大的比表面积,其悬挂键较多,当B胶粒沉积到A胶粒表面时部分悬挂键易发生键合生成化学键,经热处理后形成所要制备的物质,这就是二步成胶法制备包覆结构的机理。
与现有通过磁控溅射和CVD方法制备的ZnO/SnO2及核壳结构的氧化锌/氧化锡复合材料相比,本发明具有以下突出优点:1)工艺简单,操作方便,成本低廉,适于批量生产;2)可控性强,产物均一、稳定。在二步成胶过程中,通过控制Zn/Sn的摩尔比可有效控制包覆厚度,即有效调制了包覆结构的电导与光学特性;3)本发明被包覆体ZnO与包覆物SnO2间形成了Zn-O-Sn键,是一种化学包覆,同时,通过二步成胶工艺得到的产物均一、稳定。
附图说明
图1为本发明ZnO@SnO2包覆结构;
图2为本发明ZnO@SnO2典型的XRD图谱;
图3为本发明ZnO@SnO2典型的AFM照片;
图4为本发明ZnO@SnO2典型的XPS图谱;
图5为本发明ZnO@SnO2典型的Sn3d5XPS高斯解图谱;
图6为本发明ZnO@SnO2典型的Zn2p3XPS高斯解图谱;
图7为本发明ZnO@SnO2典型的O1s XPS高斯解图谱。
具体实施方式
本发明可制备得到ZnO@SnO2包覆材料,也可制备得到ZnO@SnO2包覆透明导电薄膜。
ZnO@SnO2包覆材料中的二元包覆结构是以ZnO为被包覆体,SnO2为包覆物的复合结构,如图1所示。也就是,在二步成胶阶段,SnO2生长基元以ZnO晶核为中心先氧桥合作用生成Zn-O-Sn键,然后叠合形成SnO2包覆物。
根据产物的XRD图谱(如图2所示),对照JCPDS标准可知,所制备的产物包含纤锌矿结构的ZnO微晶(JCPDS Card No.36-1451)和金红石结构的SnO2微晶(JCPDS Card No.41-1445),不存在锡酸锌等其它任何杂相。很明显,ZnO的(002)衍射峰被SnO2的(101)衍射峰覆盖。图3给出了所制备产物的AFM照片,不难看出制备的ZnO@SnO2包覆薄膜表面平整,颗粒分布均匀,且具有一定的粗糙度。为了进一步研究产物中各元素间的化学成键状态,对ZnO@SnO2包覆材料进行了XPS解谱。在XPS的测量过程中,采用C-C键结合能(284.6eV)为基准,对粉体表面的电荷影响作了修正。由图4可以看出该图谱中存在明显的Sn3d、Zn2p和O1s峰,利用XPS对这些峰进行高斯解谱,其结果如图5-7所示。
图5为ZnO@SnO2粉体中Sn3d的XPS高斯解谱图,从图中可看到明显的Sn3d5谱峰,其对应的结合能为486.75eV,接近SnO2标准XPS图谱中的Sn(3d)数据,但略有偏差。由标准PHI 5300ESCA数据库可知,ZnO中Zn2p3结合能为1021.75eV。图6为ZnO@SnO2粉体中Zn2p的XPS高斯解谱图,从图中可以看出在结合能为1022.7eV的位置出现了较强的Zn2p3谱峰,与标准结合能相比,其结合能增加了0.95eV。在对ZnO@SnO2包覆结构中的O1s进行XPS高斯解谱时发现,所测样品中的O1s谱峰中有一伴峰,该峰的拟合分析结果如图7所示。图中在结合能为531.4eV,528.43eV处出现了两强度不同的谱峰,分别与ZnO和O-Sn-O中的O1s谱峰相对应,与标准数据相对比其结合能有所变化。
从上述对Sn3d、Zn2p和O1s进行解谱分析结果可以看出,各谱峰所对应的结合能与标准结合能相比均有偏差,这主要是由它们所处的化学环境不同而引起的化学位移造成的。由电荷势能模型可知,化学位移主要来自价电子转移引起的势能变化,而价电子的转移与相应元素的电负性密切相关。原子中的内层电子受原子核的库仑作用,使电子具有一定的电子结合能;同时内层的电子又要受到外层电子的屏蔽作用,因此当价电子向电负性大的原子转移时,电负性小的原子其外层电子密度减少,屏蔽作用减弱,内层结合能增加,反之结合能将降低。由于Sn的电负性比Zn大,Zn周围的电子向O-Sn转移,从而使Zn周围的电子密度减小,屏蔽效应减弱,电子结合能增加,而O-Sn键中的O1s结合能降低,由此可推断出包覆于ZnO表面的SnO2在两者界面以Zn-O-Sn键相结合。经XPS分析计算表面层中各元素的相对含量所得到的SnO2@ZnO粉体表面层中Sn/Zn摩尔比值与Sn/Zn化学计量比值相差较大,说明经二次成胶后SnO2不是分散在ZnO体相中,原因是二步成胶工艺制备的溶胶体分散性和均匀性较好,经热处理后得到粉体样品中各元素含量与测试结果应非常接近。此外,结合XPS图谱分析中存在Zn2p3、O1s、Sn3d5峰及结合能发生变化可进一步说明SnO2包覆于ZnO表面。
实施例1
ZnO溶胶的制备:选择二水合乙酸锌为前躯体,乙二醇甲醚为溶剂,三乙醇胺为稳定剂。称取一定摩尔量的二水合乙酸锌,溶于定量的乙二醇甲醚中得0.35mol/L溶液,为了形成均匀稳定的溶液,在该溶液中加入与二水合乙酸锌等摩尔量的乙醇胺,在60℃恒温水浴中加热搅拌,直至溶液呈淡黄色。然后将该溶液置于60℃烘箱中老化35小时得到ZnO溶胶体。
SnO2溶胶的制备:按Zn/Sn摩尔比为9/12,称取五水四氯化锡溶于无水乙醇和去离子水中,使之形成五水四氯化锡、无水乙醇和去离子水的摩尔比为1∶20∶4的溶液,在60℃恒温水浴中回流搅拌直至溶液呈淡黄色;然后将溶液置于60℃的烘箱中老12小时得到SnO2溶胶体。
将ZnO溶胶缓慢滴入SnO2溶胶体中,充分搅拌使其均匀混合。在混合过程中有热量及带有刺激性醋酸味气体产生;将均匀混合的溶胶体放入60℃湿温箱中继续老化,即进行二次成胶,得到ZnO@SnO2溶胶体。
ZnO@SnO2透明导电薄膜制备将洁净的载玻片衬底置于匀胶机的载物台上,打开机械泵抽取真空以固定衬底,并以一定的速度旋转将二次成胶后形成的ZnO@SnO2溶胶均匀涂敷,再经热预处理后得到ZnO@SnO2系凝胶膜,重复6次。凝胶膜置于马沸炉中500℃下退火处理,形成厚度约为220nm的ZnO@SnO2薄膜,该薄膜的方块电阻为112Ω/□,可见光平均透过率为85%。
实施例2
制备过程与实施例1相似,只是Zn/Sn摩尔比为8/12,此时获得的ZnO@SnO2薄膜的方块电阻为135Ω/□,可见光平均透过率为87%。
实施例3
制备过程与实施例1相似,只是Zn/Sn摩尔比为10/12,此时获得的ZnO@SnO2薄膜的方块电阻为101Ω/□,可见光平均透过率为75%。

Claims (5)

1、一种ZnO@SnO2包覆材料,其特征在于:材料以ZnO为被包覆体,SnO2为包覆物的复合结构,其中ZnO与SnO2摩尔比为6∶12~10∶12,ZnO@SnO2包覆材料中Sn 3d5谱峰电子结合能为486.75eV,Zn 2p3电子结合能为1022.7eV,O 1s电子结合能为531.4eV和528.43eV。
2、权利要求1所述ZnO@SnO2包覆材料的制备方法,其特征在于:分别制备ZnO溶胶和SnO2溶胶,将ZnO溶胶缓慢加入SnO2溶胶体中,充分搅拌使其均匀混合,将均匀混合的溶胶体在30℃~60℃老化3~6h进行二次成胶得到ZnO@SnO2溶胶体,溶胶体经80℃~120℃热处理后在450℃-600℃退火处理即可。
3、根据权利要求2所述的ZnO@SnO2包覆材料的制备方法,其特征在于ZnO溶胶的制备方法如下:将可溶性锌盐溶于乙二醇甲醚中,使锌盐浓度为0.20~0.50mol/L,加入与锌盐等摩尔量的乙醇胺,在30℃~60℃加热搅拌,直至溶液呈淡黄色,然后将该溶液于30℃~60℃老化30~40h得到ZnO溶胶体。
4、根据权利要求2所述的ZnO@SnO2包覆材料的制备方法,其特征在于SnO2溶胶的制备方法如下:将四氯化锡溶于乙醇和去离子水中,四氯化锡∶乙醇∶去离子水摩尔比为1~2∶20~40∶4~8,在50℃~60℃回流搅拌直至溶液呈淡黄色,然后将溶液置于30℃~60℃老化7~12h得到SnO2溶胶体。
5、根据权利要求2所述的ZnO@SnO2包覆材料的制备方法,其特征在于ZnO@SnO2透明导电薄膜制备方法如下:将ZnO@SnO2溶胶体均匀涂敷于衬底上,再经80℃~120℃热处理后得到ZnO@SnO2凝胶膜,凝胶膜在450℃-600℃退火处理,形成ZnO@SnO2薄膜。
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