CN101529510A - 光记录介质以及光记录介质的记录再现方法 - Google Patents

光记录介质以及光记录介质的记录再现方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种光记录介质以及光记录介质的记录再现方法。在与光记录介质1的光入射表面相距90μm～110μm的位置配置基本记录层20，将记录层配置成与基本记录层平行，在基本记录层或记录层上至少记录有记录层的位置信息。由此，不仅能够提高光记录介质的记录层的设计自由度，而且能够正确地进行记录再现。

Description

光记录介质以及光记录介质的记录再现方法
技术领域
本发明涉及一种具有多个记录层的光记录介质以及光记录介质的记录再现方法，上述记录层可通过激光来进行再现。
背景技术
当前，作为大容量的光记录介质，蓝光光盘(Blu-ray Disc)已商品化。这种蓝光光盘包括记录层为单层的光盘以及如JP特开2006-313628号公报中记载的记录层为2层的光盘。单层的蓝光光盘在距离光入射表面100μm的位置配置有记录层。另外，2层的蓝光光盘形成为如下结构，即，与单层的情况同样，在距离光入射表面100μm的位置配置有基本记录层，在光入射表面侧的距离该基本记录层25μm的位置配置有另一个记录层。
在2层的蓝光光盘中，如上述说明那样，基本记录层的配置与单层的情况相同，由此实现与BD规格的匹配。另一方面，在考虑对彼此的串扰(crosstalk)、表面的损伤、灰尘、指纹的允许程度、光读写头的球面像差的修正范围、倾斜余量(tilt margin)、制造时的误差的基础上，可任意决定基本记录层和另一记录层的层间距离。但是，实际上，2层蓝光光盘中的25μm的层间距离已在蓝光光盘的规格中成为标准，可设想各公司今后也供给相同层间距离的2层结构的蓝光光盘。
发明内容
发明要解决的问题
然而，当具有多层的记录层时，即，当包括基本记录层在内的全部记录层为3层以上时，串扰、表面的指纹等的影响变得更大，设计变得更复杂。在距离光入射表面最远的L0记录层中，需要提高光反射率，但是在L0记录层以外的记录层中需要提高光透过率。另外，使L0记录层和与该L0记录层相邻的L1记录层的层间距离尽可能远，这样信号特性变得更良好。另一方面，若使层间距离过远，则距离光入射表面最近的记录层会接近该光入射表面，因此容易受指纹等的影响。因此，对于3层以上的光记录介质而言，影响信号质量的要素复杂而相互关联，因此存在如下问题，即，各个制造公司需要利用独自的技术和经验独自进行设计，来提高记录再现的信号质量，在多个制造公司之间难以统一各记录层的位置。
然而，容易发生如下问题，即，若制造公司侧任意设定各记录层的位置，则在光记录再现装置侧，不知道被插入的蓝光光盘的各记录层的位置，因此聚焦作业需要时间。
本发明是鉴于上述问题而做成的，其目的在于提供一种光记录介质及其记录再现方法，可提高光记录介质的设计自由度，可减少记录再现时的动作延迟和差错。
用于解决问题的方法
本发明的发明人经过专心研究，通过以下单元来实现上述目的。
实现上述目的的本发明为一种光记录介质，其具有：基本记录层，配置在与光入射表面相距90μm～110μm的位置，能够利用从所述光入射表面照射的激光来再现信息，多个记录层，配置成与所述基本记录层平行，能够利用从所述光入射表面照射的所述激光来再现信息；在所述基本记录层或所述信息记录层上，至少记录有所述记录层的位置信息。
在上述发明中，实现上述目的的光记录介质在所述基本记录层的导入区域(lead in area)或导出区域(lead out area)，或者，在所述记录层的导入区域或导出区域，记录有所述位置信息。
在上述发明中，实现上述目的的光记录介质在从所述基本记录层和所述记录层中选择出的多个记录层上记录所述位置信息。
在上述发明中，实现上述目的的光记录介质在所述基本记录层上记录所述位置信息。
实现上述目的的本发明为一种光记录介质的记录再现方法，在该光记录介质的再现方法中，光记录介质的光记录再现装置在存储单元中预先存储介质识别信息以及位置信息，其中，所述介质识别信息用于识别多个光记录介质，所述位置信息为所述光记录介质的记录层的位置信息；当在所述光记录再现装置上安装了具有3层以上记录层的光记录介质时，所述光记录再现装置对所述光记录介质的所述记录层照射激光，读出预先记录在所述记录层上的介质识别信息，并基于所述介质识别信息来参照存储在所述存储单元中的所述位置信息；基于所述位置信息对所述记录层进行聚焦控制，以此进行记录再现。
在上述发明中，在实现上述目的的记录再现方法中，所述光记录介质在所述记录层的群刻区上记录有所述介质识别信息。
在上述发明中，在实现上述目的的记录再现方法中，所述光记录介质在基本记录层上记录有所述介质识别信息，其中，所述基本记录层配置在与光入射表面相距90μm～110μm的位置。
发明的效果
根据本发明，能够得到如下的良好的效果，即，针对光记录介质的记录层的位置，能够提高其设计自由度，从而能够提供高质量的记录介质。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式的光记录介质以及光记录再现装置的整体结构的图。
图2是表示该光记录介质的结构的放大图。
图3是表示该光记录介质的信息保存结构的图。
图4是表示该光记录介质的沟槽(groove)结构的放大剖视图。
图5是表示本发明的第二实施方式的光记录介质以及光记录再现装置的整体结构的图。
图6是表示该光记录再现装置所保存的介质识别信息以及位置信息的例子的图。
图7是表示该光记录介质的信息保存结构的图。
具体实施方式
下面，参照附图对本发明的实施方式的例子进行详细说明。
在图1中，示出了本发明的第一实施方式的光记录介质1以及对该光记录介质1进行记录再现的光记录再现装置100。该光记录再现装置100具有马达102、光读写头106以及线性驱动机构108。马达102旋转驱动光记录介质1。光读写头106对光记录介质1照射聚束光(beam spot)以记录和再现信息。线性驱动机构108在光记录介质1的半径方向上对光读写头106进行线性驱动。此外，该光记录介质1是具有多个用于记录信息的记录层的多层记录介质。
光读写头106具有激光光源120、物镜122、半透半反镜(half mirror)124、光检测装置126以及透镜驱动线圈128，用于将激光Z的焦点对准在光记录介质1的记录层上。
激光光源120是产生记录以及再现用的激光Z的半导体激光器。物镜122使激光Z的焦点聚焦以形成微细的聚束光，并向记录层照射。半透半反镜124取出来自记录层的反射光，并将其导向光检测装置126。光检测装置126是光电检测器(photo detector)，其接收激光Z的反射光，并将其转换为电信号。透镜驱动线圈128使物镜122在光轴方向以及跟踪(tracking)方向上移动。
进而，光记录再现装置100具有激光器控制器130、聚焦控制器(focuscontroller)132、跟踪控制器(tracking controller)134、线性控制器(linearcontroller)136、马达控制器138、调制解调电路140以及记录再现控制器143作为控制装置。激光器控制器130基于调制解调电路140以及记录再现控制器142的指示，对光读写头106的激光光源120进行驱动控制。聚焦控制器132基于从光检测装置126发送来的电信号，来检测聚焦误差(FE)，并利用该聚焦误差，在聚焦方向(光轴方向)上对透镜驱动线圈128进行驱动控制。跟踪控制器134基于从光检测装置126发送来的电信号来检测跟踪误差，并利用该跟踪误差，在跟踪方向上对透镜驱动线圈128进行驱动控制。该跟踪控制器134还具有向记录再现控制器142以及线性控制器136传递跟踪误差信息的功能。因此，通过透镜驱动线圈128所进行的跟踪控制以及线性控制器136对光读写头106整体的线性驱动，能够使聚束光追随记录轨道(track)。线性控制器136对由直线马达等构成的线性驱动机构108进行驱动控制，使光读写头106在光记录介质1的半径方向上滑动(slide)。马达控制器138用于控制马达102的旋转速度，在此通过区域CLV(zone-CLV：区域恒定线速度)方式，使光记录介质1旋转。CLV方式是如下的记录方式，即，光记录介质1上的光读写头106的移动线速度恒定，也就是说，随着其从光记录介质1的内周移动到外周，将光记录介质1的转速控制为逐渐变慢。在区域CLV中，将光记录介质1的记录层从内周开始进一步分为几个区域(zone)，并通过CLV方式对其每一区域进行记录。
调制解调电路140具有调制功能和解调功能，作为解调功能，将从光检测装置126发送来的电信号解调为数字信号，并传递给记录再现控制器142。作为调制功能，对从记录再现控制器142发送来的记录用的数字信号进行脉冲调制，并将调制后的电信号传递给激光器控制器130。记录再现控制器142用于对控制装置整体进行统一控制，尤其使用未图示的CPU或缓冲存储器对各种控制器和驱动器等进行控制，并且与主机之间进行记录再现信息的输入输出。
此外，在该光记录再现装置100中，激光Z的波长λ被设定为400～410nm，该激光Z的初始再现功率被设定为0.3～2.0mW。另外，光读写头106中的物镜122的数值孔径数NA被设定为0.70～0.90。因此，激光Z的光点(spot)直径(λ/NA)为444nm～586nm。
为了在光记录介质1上记录信息，通过记录功率使激光光源120发出激光Z，并向光记录介质1的特定的记录层照射聚束光。另一方面，为了再现信息，通过再现功率使激光光源120发出激光Z，并向光记录介质1的记录层照射该激光Z以进行再现。不管是记录还是再现，激光Z都在记录层反射，并通过光读写头106被取出，在光检测装置126中变成电信号。该电信号经过调制解调电路140变成数字信号。
下面，对用于该光记录再现装置100的再现的光记录介质1进行说明。首先，如图2(A)所示，该光记录介质1是外形约为120mm、厚度约为1.2mm的圆盘状的介质。如图2(B)的放大图所示，该光记录介质1是具有4个记录层的多层介质，依次层叠基板10、成为基本记录层的L0记录层20、第一间隔层(spacer layer)30、L1记录层22、第二间隔层32、L2记录层24、第三间隔层34、L3记录层26、保护层36以及硬编码层38而构成。
基板10是厚度约为1.1mm的圆盘状的构件，作为其原料，例如能够使用玻璃、陶瓷、树脂等各种材料。在此使用聚碳酸酯树脂。此外，作为树脂，除了聚碳酸酯树脂以外，还可以采用烯烃树脂、丙烯树脂、环氧树脂、聚苯乙烯树脂、聚乙烯树脂、聚丙烯树脂、硅树脂、氟系树脂、ABS树脂、氨基甲酸乙酯树脂等。根据加工、成型的容易程度，其中优选聚碳酸酯树脂或烯烃树脂。另外，在基板10的记录层一侧的表面，根据用途形成沟槽(groove)、平台(land)、凹坑(pit)列等。
第一～第三间隔层30、32、34、保护层36以及硬编码层38均具有光透过性，使从外部入射的激光透过。其结果，若使用从硬编码层38的光入射表面38A入射的激光Z，则能够对L0～L3记录层20、22、24、26记录和再现信息。
第一～第三间隔层30、32、34层叠在L0～L3记录层20、22、24、26之间，具有使各记录层20、22、24、26之间分离的功能。在各间隔层30、32、34的光入射表面38A一侧的表面上形成有沟槽(平台)、凹坑列等。第一～第三间隔层30、32、34的材料可以使用各种材料，但是为了使激光Z透过，需要使用光透过性材料。例如，优选使用紫外线硬化性丙烯树脂。
在该光记录介质1中，第一间隔层30的厚度被设定为17μm、第二间隔层32的厚度被设定为20μm、第三间隔层34的厚度被设定为13μm。这样，通过使间隔层30、32、34的厚度互不相同，来减少再现信号的干扰，从而能够减少读取信号的噪声。此外，硬编码层38的厚度被设定为2μm、保护层36的厚度被设定为48μm。
因此，在该光记录介质1中，从光入射表面38A到L3记录层26的距离约为50μm，从光入射表面38A到L2记录层24的距离约为63μm，从光入射表面38A到L1记录层22的距离约为83μm，从光入射表面38A到L0记录层20的距离约为100μm。基本记录层即L0记录层20配置在与光入射表面38A相距90μm～110μm的位置。另外，在本实施方式中，L0记录层20的记录容量为25GB。因此，基本记录层与蓝光光盘(Blu-ray Disc)的规格匹配。另一方面，对于其他记录层L1～L3记录层22、24、26而言，配置成与基本记录层(L0记录层20)平行。即，对基本记录层追加其他记录层，从而将该光记录介质1形成为多层化结构。此外，在此示出了L0记录层20为基本记录层的情况，但是本发明并不限定于此。例如，即使是L1记录层22、L2记录层24、L3记录层26，只要这些配置在与光入射表面38A相距90μm～110μm的位置，就可以成为基本记录层。
当对L0记录层20记录和再现信息时，经由L1～L3记录层22、24、26向L0记录层20照射激光Z。同样，当对L1记录层22记录和再现信息时，经由L2、L3记录层24、26向L1记录层22照射激光Z。当对L2记录层24记录和再现信息时，经由L3记录层26向L2记录层24照射激光Z。当对L3记录层26记录和再现信息时，不经由其他记录层，直接向L3记录层26照射激光Z。
如图3(A)所示，光记录介质1能够分成紧固区域(clamping area)70、过度区域(transition area)80、信息区域90等。各记录层20、22、24、26对应于该信息区域90，可进一步详细区分为导入区域94、数据区域96、导出区域98等。此外，对于成为基本记录层的L0记录层20而言，在导入区域94的内周侧具有群刻区(burst cutting area，BCA)92。此外，在此示出从内周向外周依次配置有导入区域94、数据区域96、导出区域98的情况，但是该配置顺序可根据信息的记录方向(螺旋方向)而相反。即，当从外周向内周记录信息时，从外周向内周依次配置导入区域94、数据区域96、导出区域98。
进而，如图3(B)所示，光记录介质1在各记录层20、22、24、26的导入区域94记录L0～L3记录层20、22、24、26的位置信息62。在本实施方式中，作为位置信息62，包括与各记录层的光入射表面38A之间的距离，即L0记录层20：100μm，L1记录层22：83μm，L2记录层24：63μm，L3记录层26：50μm等信息。此外，在此示出在导入区域94记录位置信息62的情况，但是也可以在导出区域98或BCA92上进行记录。此外，各记录层20、22、24、26的记录密度等信息预先记录在群刻区(BCA)92或导入区域94。
另外，L0～L3记录层20、22、24、26的各数据区域96的信息保存形态为用户可写入的所谓的记录型。对于记录型而言，详细地说，有在写入过一次数据的区域无法再次写入数据的补写型、能够对于写入了数据的区域删除数据并再次写入的改写型，但是不管是哪一种都可以。另外，在记录层20、22、24、26中，也能够使数据的保存形态互不相同。
如图4所示，在基板10以及第一～第三间隔层30、32、34的表面上形成有螺旋状的沟槽42(平台44)，该沟槽42成为各记录层20、22、24、26的记录轨道(track)。L0记录层20以及L2记录层24的沟槽42的螺旋方向被设定为同一方向，L1记录层22以及L3记录层26的沟槽42的螺旋方向被设定为与L0记录层20以及L2记录层24的螺旋方向相反。在L0～L3记录层20、22、24、26上形成有记录膜。沟槽42发挥数据记录时的激光Z的引导轨道(guide track)的作用，通过对沿着该沟槽42行进的激光Z的能量强度进行调制，在沟槽42上的记录层20、22、24、26上形成记录标记46。此外，当数据保存形态为补写型时，不可逆地形成该纪录标记46，无法进行删除。另一方面，当数据保存形态为改写型时，可逆地形成记录标记46，能够进行删除以及再形成。在此，示出了在沟槽42上形成记录标记46的情况，但是也可以在平台44上形成，也可以在沟槽42和平台44两者上形成。此外，在此示出记录型，但是本发明还能够适用于再现专用型的记录层。
下面，对该光记录再现装置100所进行的光记录介质1的记录再现方法进行说明。
当从主机向记录再现控制器142输入记录信息时，为了开始记录，对激光器控制器130、聚焦控制器132、跟踪控制器134、线性控制器136以及马达控制器138等进行控制。进而，记录再现控制器142依次读出BCA92以及导入区域94，并参照记载在导入区域94的位置信息，其中，所述BCA92以及导入区域94位于光记录介质1的L0记录层20的信息区域90。其结果，光记录再现装置100能够预先识别各记录层20、22、24、26的位置。
假设选择L3记录层26作为要开始记录信息的记录层时，基于预先识别的位置信息62，在光轴方向上对物镜122进行聚焦控制，将激光Z的焦点对准在该L3记录层26上。由于能够在事前识别了位置信息62的状态下进行聚焦控制，因此焦点一开始就对准得大致正确。然后，聚焦控制器132基于电信号来检测实际的聚焦误差(FE)，并利用该聚焦误差在聚焦方向(光轴方向)上对透镜驱动线圈128进行微细的驱动控制，其中，所述电信号为光检测装置126基于反射光所发送的信号。由此，对于无法根据位置信息62而掌握的制造误差等进行调整。结果，能够大幅缩短对L3记录层26的聚焦时间。接着，在L3记录层26上进行记录的试行操作，并且在试行结束后，将光读写头106定位在要开始记录的目标记录轨道上，并开始记录。
在进行记录时，主机所提供的记录信息被调制解调电路140调制成脉冲信号，并被输入到激光器控制器130。其结果，从设定为记录功率的激光光源120以脉冲形式照射规定的激光Z，所以聚束光入射至L3记录层26以记录信息。
在记录作业中，激光Z的反射光经由半透半反镜124而在光检测装置126中被转换为电信号。参考该电信号，聚焦控制器132、跟踪控制器134以及线性控制器136随时控制光读写头106以及线性驱动机构108。例如，通过聚焦控制器132继续检测聚焦误差，当聚束光的焦点偏离L3记录层26时，对透镜驱动线圈128进行控制，使物镜122在光轴方向上移动以完成对焦。另外，跟踪控制器134检测跟踪误差，即检测聚束光是否准确地追随沟槽42，当偏离沟槽42时对透镜驱动线圈128进行控制，并且通过线性控制器136使光读写头106整体移动，以便追随沟槽42。由此，能够在沟槽42内准确地记录信息。
然后，当从L3记录层26向L2记录层24移动时，根据预先识别的位置信息62，在光轴方向上对物镜122进行聚焦控制，将激光Z的焦点对准在该L2记录层24上。由于在此也利用位置信息62，因此一开始就能够将激光的焦点对准得大致正确。然后，聚焦控制器132基于电信号来检测实际的聚焦误差(FE)，并利用该聚焦误差，在聚焦方向(光轴方向)上对透镜驱动机构128进行驱动控制，其中，所述电信号是光检测装置126基于反射光所发送的信号。接着，在L2记录层24进行记录的试行操作，并且在试行结束后，将光读写头106定位在要开始记录的目标记录轨道上，并根据所指定的记录密度开始进行记录。这样，对L0～L3记录层20、22、24、26进行记录以及再现。
利用本第一实施方式的光记录介质，即使形成3层以上的多层化结构，也能够迅速对各记录层20、22、24、26进行聚焦控制。尤其，能够利用实际记录在光记录介质1上的位置信息62进行聚焦，因此一开始就能够进行高精度的控制。另外，通过采用本实施方式，能够由制造公司一方设定光记录介质1的各记录层的位置。其结果，能够不依赖于光记录再现装置100，而提高光记录介质1的设计自由度。例如，如本光记录介质1那样，即使各制造公司独自研究使各记录层20、22、24、26的层间距离互不相同，光记录再现装置100侧也能够随时获得各记录层20、22、24、26的位置，因此能够进行准确的记录再现处理。
例如，在3层以上的光记录介质中，在再现特定的记录层的过程中，很多情况下来自相邻记录层的反射光同时入射到光读写头106而变成噪声，导致信号质量下降。因此，制造公司为了减少来自相邻层的串扰，希望将层间隔开一定距离以上。进而，由于还存在3层以上的记录层间的多重反射引起的共焦点串扰，因此，如以上所述，制造公司想尽可能避免各间隔层的厚度相同。另外，当使各记录层的反射率在各层上互不相同时，对于与其中反射率最高的记录层(一般为距离光入射表面38A最远的L0记录层20)相邻的记录层，由于来自该相邻层的反射光量大，因此最好尽可能拉开距离地配置。结果，必须考虑对记录层或间隔层使用的原料、光入射表面38A的表面处理方法等各种因素来设定3层以上的光记录介质1中的层间距离。
另外，随着记录层接近光入射表面38A，光记录介质1的信号质量相对于光入射表面38A的损伤、灰尘、指纹等污迹而敏感地变动。因此，为了使信号质量稳定，保护层36的厚度也必须为一定厚度以上。另一方面，有时需要根据从光入射表面38A观察的各记录层的深度来修正球面像差，因此如果考虑该球面像差修正的范围，则拉开记录层间距离也受某种程度的限制。另外，若制造光记录介质1，则在其外形上不少发生弯曲、倾斜(tilt)，因此由于这些形状误差而产生的彗差(comatic aberration)也成为决定光盘结构的重要因素。具体而言，设激光的波长为λ、设透镜的数值孔径数为NA，另外，设保护层的厚度为t，则彗差∝(t×NA3)/λ，如果保护层36的厚度t增大，则彗差也按比例增大，因此对倾斜余量带来较大的影响。
根据以上说明，对于3层以上的光记录介质1而言，保护层、间隔层的膜厚等对信号特性带来非常大的影响。因此，即使开发了最佳的记录层，当将保护层或间隔层的膜厚作为规格固定时，由于不与该膜厚兼容，因此很有可能发生无法采用特性良好的记录层等不良现象。
这样，对于3层以上的光记录介质1而言，事实上，在多个制造公司之间统一记录层位置是困难的。因此根据本实施方式，即使各制造公司自由地设计间隔层的膜厚和记录层的特性，在光记录再现装置100侧也能够应对。结果，能够使高性能的光记录介质1普及。
另外，在本实施方式中，在位于90μm～110μm的基本记录层(L0记录层)20上记录有位置信息62，因此只要是遵照蓝光光盘规格的光记录再现装置100，就能够可靠地读出位置信息62。进而，在该光记录介质1中，通过在多个记录层20、22、24、26的导入区域94记录全部记录层的位置信息62，从而使得位置信息62被多重化。因此，当在特定的记录层因某种故障无法读出位置信息62时，也能够在其他记录层读出。
接着，参照图5对本发明的第二实施方式的光记录介质201以及光记录再现装置300进行说明，其中，所述光记录再现装置300用于对该光记录介质201进行记录以及再现。此外，关于光记录介质201以及光记录再现装置300，对于与第一实施方式中示出的光记录介质1以及光记录再现装置100相同或者类似的结构、构件，使图中或者说明书中的附图标记的后两位一致，由此省略详细的说明。
在该光记录再现装置300中，记录再现控制器342具有位置信息存储部360A和介质识别部360B。如图6所示，在位置信息存储部360A中蓄积有多个光记录介质的介质识别信息362、与该介质识别信息362对应的光记录介质的记录层的位置信息364。介质识别信息362是用于确定制造公司提供的光记录介质的种类的信息，由所谓的制造公司自身的识别信息和ID等的组合而构成，其中，所述ID用于识别各个记录介质的种类。位置信息364为相对于光入射表面的位置，其中，所述光入射表面为包含在各光记录介质中的多个记录层的光入射表面。该介质识别信息362以及位置信息364能够从外部更新。
介质识别部360B从光记录介质读出介质识别信息，进而，根据该介质识别信息，参照存储在位置信息存储部360A中的同一介质识别信息362以及与其对应的位置信息364，其中，所述光记录介质是从外部输入的记录介质。其结果，能够预先识别光记录介质的记录层的位置。
下面，对光记录介质201进行说明。与第一实施方式同样，该光记录介质201具有成为基本记录层的L0记录层220、成为第一记录层的L1记录层222、成为第二记录层的L2记录层224、成为第三记录层的L3记录层226。从光入射表面238A到L3记录层226的距离约为50μm，从光入射表面238A到L2记录层224的距离约为63μm，从光入射表面238A到L1记录层222的距离约为83μm，从光入射表面238A到L0记录层220的距离约为100μm。作为基本记录层的L0记录层220配置在与光入射表面238A相距90μm～110μm的位置。此外，L0记录层220的记录容量为25GB。结果，基本记录层与蓝光光盘(Blu-ray Disc)的规格匹配。
如图7(A)所示，光记录介质201的各记录层220、222、224、226具有导入区域294、数据区域296以及导出区域298等作为信息区域290。此外，限于L0记录层220的信息区域290，在最内周侧还配置有群刻区(BCA)292。
进而，如图7(B)所示，在该光记录介质201的L0记录层220的BCA292上记录有介质识别信息262。介质识别信息262用于识别光记录介质201的制造公司以及各个光记录介质的种类。另外，在此示出在BCA292上记录介质识别信息262的情况，但该信息也可以记录在导入区域294或导出区域298。
下面，对该光记录再现装置300所进行的光记录介质201的信息记录再现方法进行说明。
当从主机向记录再现控制器342输入记录信息时，介质识别部360B读出L0记录层220的信息区域290上的BCA292以取得介质识别信息262。然后，介质识别部360B基于该介质识别信息262，参照存储在位置信息存储部360A中的同一介质识别信息362以及与其对应的位置信息364。其结果，在光记录再现装置300中，能够预先取得光记录介质201的全部记录层220、222、224、226的位置信息364。
当对于目的记录层开始记录信息时，基于预先取得的位置信息364，在光轴方向上对物镜322进行聚焦控制，将激光Z的焦点对准在该记录层上。由于利用基于光记录介质201的介质识别信息262来对每个介质设定的位置信息364，因此一开始就就能够将焦点对准得大致正确。然后，聚焦控制器332基于电信号来检测实际的聚焦误差(FE)，并利用该聚焦误差，在聚焦方向(光轴方向)上进一步详细地对透镜驱动线圈328进行驱动控制，其中，所述电信号是光检测装置362基于反射光所发送的信号。结果，能够大幅缩短聚焦时间。在目的记录层进行记录的试行操作，并且在试行结束后，将光读写头306定位在要开始记录的记录轨道上，开始记录。
利用本第二实施方式的光记录介质201，尽管形成3层以上的多层化结构，也能够在光记录再现装置300侧预先识别各记录层220、222、224、226的位置信息364，因此能够迅速进行聚焦控制。尤其，将实际记录在光记录介质201的介质识别信息262与记录在光记录再现装置300的介质识别信息362及位置信息364进行对照，因此能够迅速取得位置信息364。尤其，由于能够减少介质识别信息262的信息量，因此能够在读出的可靠性高的BCA292上保存该介质识别信息262。结果，即使在将记录层形成为多层化结构时，也能够更可靠地取得位置信息364。
另外，在这些本实施方式中，说明了直接利用对每一个光记录介质设定的位置信息本身来对记录层进行聚焦控制的方法，但是本发明并不限定于此。例如，在光记录再现装置上安装了光记录介质后，同样提取位置信息，进一步利用光读写头在厚度方向上实际扫描光记录介质，以取得全部记录层的实测位置，利用实测位置预先修正上述位置信息。优选利用该修正位置信息对记录层进行聚焦控制。与不取得位置信息而扫描光记录介质的情况相比，提高了扫描的准确率。其结果，也能够通过实测来预先考虑光记录介质的制造上的误差。在将焦点瞬时切换至各层上时，与设计值之间的差异也会带来不少影响，因此通过上述方法，能够减少实际的焦点切换错误。
进而，在上述实施方式中，作为记录在光记录介质的记录层的位置信息，示出了记录与光入射表面的距离的情况，但是本发明并不限定于此。例如，也可以使用与基本记录层的距离作为位置信息。即，只要是光记录再现装置能够掌握各记录层的位置来执行恰当的聚焦控制的信息即可，与其信息形态无关。
另外，在上述实施方式中，仅示出了光记录介质为记录型，对该光记录介质记录信息的情况，但是本发明并不限定于此，也能够适用于光记录介质为再现专用、再现该光记录介质的情况。即，本发明并不限定于对光记录介质记录信息的情况。
另外，本发明的光记录介质以及光记录再现装置并不限定于上述的实施方式，当然在不脱离本发明的宗旨的范围内能够进行各种变更。
产业上的可利用性
本发明可利用于通过激光进行记录再现的各种领域。

Claims (7)

1.一种光记录介质，其特征在于，
具有：
基本记录层，配置在与光入射表面相距90μm～110μm的位置，能够利用从所述光入射表面照射的激光来再现信息，
多个记录层，配置成与所述基本记录层平行，能够利用从所述光入射表面照射的所述激光来再现信息；
在所述基本记录层或所述信息记录层上，至少记录有所述记录层的位置信息。
2.根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，在所述基本记录层的导入区域或导出区域，或者，在所述记录层的导入区域或导出区域，记录有所述位置信息。
3.根据权利要求1或2所述的光记录介质，其特征在于，在从所述基本记录层和所述记录层中选择出的多个记录层上记录所述位置信息。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的光记录介质，其特征在于，在所述基本记录层上记录所述位置信息。
5.一种光记录介质的记录再现方法，其特征在于，
光记录介质的光记录再现装置在存储单元中预先存储介质识别信息以及位置信息，其中，所述介质识别信息用于识别多个光记录介质，所述位置信息为所述光记录介质的记录层的位置信息，
当在所述光记录再现装置上安装了具有3层以上记录层的光记录介质时，所述光记录再现装置对所述光记录介质的所述记录层照射激光，读出预先记录在所述记录层上的介质识别信息，并基于所述介质识别信息来参照存储在所述存储单元中的所述位置信息，
基于所述位置信息对所述记录层进行聚焦控制，以此进行记录再现。
6.根据权利要求5所述的光记录介质的记录再现方法，其特征在于，所述光记录介质在所述记录层的群刻区记录有所述介质识别信息。
7.根据权利要求5或6所述的光记录介质的记录再现方法，其特征在于，所述光记录介质在基本记录层上记录有所述介质识别信息，其中，所述基本记录层配置在与光入射表面相距90μm～110μm的位置。
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