CN101447275A - 螺旋电感结构及其制备方法与封装结构 - Google Patents

螺旋电感结构及其制备方法与封装结构 Download PDF

Info

Publication number
CN101447275A
CN101447275A CNA2008100863091A CN200810086309A CN101447275A CN 101447275 A CN101447275 A CN 101447275A CN A2008100863091 A CNA2008100863091 A CN A2008100863091A CN 200810086309 A CN200810086309 A CN 200810086309A CN 101447275 A CN101447275 A CN 101447275A
Authority
CN
China
Prior art keywords
spiral
base material
core layer
conductor layer
interlayer hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA2008100863091A
Other languages
English (en)
Inventor
张仕承
李惠宇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Original Assignee
Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd filed Critical Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Publication of CN101447275A publication Critical patent/CN101447275A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F17/0013Printed inductances with stacked layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/5227Inductive arrangements or effects of, or between, wiring layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L28/00Passive two-terminal components without a potential-jump or surface barrier for integrated circuits; Details thereof; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L28/10Inductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F17/0013Printed inductances with stacked layers
    • H01F2017/002Details of via holes for interconnecting the layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F2017/0046Printed inductances with a conductive path having a bridge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F2017/0073Printed inductances with a special conductive pattern, e.g. flat spiral
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F17/00Fixed inductances of the signal type 
    • H01F17/0006Printed inductances
    • H01F2017/0086Printed inductances on semiconductor substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Coils Or Transformers For Communication (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

一种螺旋电感结构及其制备方法与封装结构。在一个实施例中,所述方法包括提供基材,在该基材上方形成螺旋图案化导体层,用以形成平面螺旋导体。介层洞形成于螺旋图案化导体层内部的基材中,该介层洞通过硅通孔技术制成。之后,以核心层填充该介层洞,其中该核心层从该基材的下表面延伸到上表面。本发明能够提高螺旋电感结构的品质因数,并可将其整合于IC芯片上。

Description

螺旋电感结构及其制备方法与封装结构
技术领域
本发明涉及一般螺旋电感结构的制备方法,且特别涉及一种具有高品质因数(Q)的螺旋电感结构的制备方法、螺旋电感结构、以及利用该电感结构为封装元件的封装装置。
背景技术
电感是一种阻抗装置,一般包括线圈,且可具有核心,使得电子电路具有电感值。变压器(transformer)与电抗器(inductive reactor)两者都属于电感。各种电感被核心材料(如亚铁盐)包覆,形成如线圈的形状。通过核心材料的磁导率(permeability)可增加既有线圈的电感值(inductance)。该核心一般以条状或是环状的形状存在。为了得到高电感值,线圈一般会绕很多圈。将线圈缠绕于封闭铁回路或是亚铁盐核心上更可增加电感值。为了尽可能获得纯的电感值,缠绕线圈的直流电阻应该降到最低。
电感结构也可以应用于半导体装置上。微电子或半导体装置一般由半导体基材制备而成,其上形成图案化导体层且被介电层分隔。随着微电子技术的进步,整合度与功能化的程度也提升,所以不只是传统微电子或半导体结构(如:晶体管、电阻器、二极管或电容)可用于半导体装置,非传统的结构(如:电感)也可用于半导体或是微电子装置。在半导体或微电子装置中,特别是应用于高频率的应用,如移动通信,时常需要在半导体或微电子装置上应用电感结构。
现有技术中已公开各种微电子导体结构,很多结构具有螺旋设计,其在电感平面上具有一圈或多圈螺旋。例如:美国专利号US5396101公开一种平面螺旋微电子电感结构,其中心为核心层。
美国专利号US6002161公开一种半导体装置,包括电感元件,其包括:螺旋结构的第一导体薄膜图案,其形成于半导体基材的主要表面上;隔绝的第二导电薄膜图案,经由层间绝缘层的接触洞电性连接到第一导电薄膜图案,并且以重叠关系延伸至该第一导电薄膜图案。
美国专利号US6287932公开由一种半导体基材制成的螺旋电感,其具有大的电感值但只占据小的表面积。磁性材料形成于电感之上或之下,用以增加电感的电感值。磁性材料也扮演屏障层,其将产生于螺旋导体的电子噪声限制于该螺旋电感所占据的面积上。通过堆叠式(stacked)螺旋电感之间的一层磁性材料,可使堆叠式螺旋电感的一对电感值增加。
上述所有的方法都具有相同的目标,亦即增加电感的品质因数(Q),得到最大的电感值,以及降低电感上方的表面积。如本领域技术人员所公知,微电子电感结构的Q值一般是以电感结构中的能量储存电容(energy storagecapacity)与功率消耗(power dissipation)的比例表示的。由于传统电感需要足够的装置空间,并且因电感复杂的线圈结构造成制备上的困难,因此,传统电感具有低品质因数。
因此,业界亟需改良的螺旋电感结构,其具有高品质因数,能整合于IC芯片上。
发明内容
本发明的目的之一就是提供一种具有增加品质因数的电感结构的制备方法。根据本发明的一个实施例,该方法包括提供基材,在该基材上方形成螺旋图案化导体层,以制成平面螺旋导体。介层洞形成于螺旋图案化导体层内部的基材中,该介层洞由硅通孔(through silicon via)技术制成。因此,该介层洞被核心层填充,其中该核心层从该基材下表面延伸到上表面。
上述螺旋电感结构的制备方法中,该介层洞可通过硅通孔技术制成。
上述螺旋电感结构的制备方法中,该核心层可由高导磁材料构成。
本发明的再一目的就是提供一种螺旋电感结构,该螺旋电感结构包括:基材;螺旋图案化导体层,形成于基材上,该螺旋图案化导体层形成平面螺旋导体;介层洞,形成于该螺旋图案化导体层内部的基材中;以及核心层,由填充该介层洞而得,其中该核心层从该基材的下表面延伸到上表面。
上述螺旋电感结构中,该介层洞可通过硅通孔技术制成。
上述螺旋电感结构中,该核心层可由高导磁材料构成。
上述螺旋电感结构中,该高导磁材料可包括:铁、镍、锰锌亚铁盐、镍锌亚铁盐、镍铁亚铁盐、镍铜锌合金、其他亚铁盐、磁屏蔽材料或磁屏蔽合金。
上述螺旋电感结构中,该核心层可包括多个彼此分开且绝缘的个别元件。
本发明的另一目的是提供一种封装结构,该封装结构包括:基材,其上形成一装置;螺旋图案化导体层,形成于该基材之上,该螺旋图案化导体层形成平面螺旋导体;介层洞,形成于该螺旋图案化导体层内部的基材中;以及核心层,由填充该介层洞而得,其中该核心层从该基材的下表面延伸到上表面。
上述封装结构中,该介层洞可通过直通硅晶穿孔技术制成。
上述封装结构中,该核心层可由高导磁材料构成。
上述封装结构中,该高导磁材料可包括:铁、镍、锰锌亚铁盐、镍锌亚铁盐、镍铁亚铁盐、镍铜锌合金、其他亚铁盐、磁屏蔽材料或磁屏蔽合金。
上述封装结构中,该核心层可包括多个彼此分开且绝缘的个别元件。
为让本发明的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂,下文特举出优选实施例,并配合附图,作如下详细说明。
本发明能够提高螺旋电感结构的品质因数,并可将其整合于IC芯片上。
附图说明
图1为本发明一个实施例的电感结构的平面图。
图2为图1的电感结构的剖面图。
图3为本发明另一实施例的电感结构的平面图。
图4为图3的电感结构的剖面图。
其中,附图标记说明如下:
10~电感结构
15~导体层
20~基材
22~基材上表面
24~基材下表面
30a~第一焊盘
30b~第二焊盘
40~核心层
50~介电层
具体实施方式
本发明已以数个优选实施例公开于以下说明书中,然而其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,应当可作任意的更动与修改。在一些例子中,为了避免混淆本发明,已知的结构与工艺未进行详细说明。
在说明书中的参考例子中,“一种实施例”或“一个实施例”意思是指本发明的至少一个实施例中特定的图案、结构或特征。因此,出现于说明书中的用语,如“一种实施例”或“一个实施例”,不需要都代表相同的实施例。甚至于,特殊的图案、结构或特征可依任何适合的方法结合于一个或多个实施例中。以下的图案不是按照比例画出的,这些图案只是用于举例说明。
请参见图1,其显示本发明一个实施例的电感结构10的平面图。该电感结构10制备于基材20之上,该基材可以是硅(Si)、绝缘层上硅(silicon-on-insulator,SOI)或蓝宝石硅(silicon-sapphire,SOS)。导体层15通过传统的工艺,包括但不限定于气相沉积和溅镀,形成于该基材之上。导体层15由非磁性金属和非磁性金属合金组成,例如但不限于铝、铝合金、铜和铜合金;导体材料,例如但不限于磁性金属以及磁性金属合金,如高导磁合金。在一个实施例中,该导体层15以螺旋排列或大体上是方形。然而,应可了解的是该导体层15不限定于本实施例的形状,而可以是圆形、正方形、三角形、椭圆形或是更高阶的多角形构形。
应可了解的是该导体线宽取决于设计上的需求与所使用的工艺。在一个实施例中,导体层15的线宽范围从2μm到20μm。导体层15终止于第一焊盘30a和第二焊盘30b,其中第一焊盘30a以底层通道连接到螺旋图案化导电层15的内部,而第二焊盘30b形成于螺旋图案化导电层15的外部。
形成该电感结构10的核心层40之前,介层洞形成在介电层50中,且介层洞为位于螺旋图案化导电层15的中心凹洞。在本发明的一个实施例中,该介层洞是由硅通孔技术(through silicon via,TSV)制成的。硅通孔技术是利用蚀刻硅晶圆形成垂直通道之后,再填充金属的工艺。这些孔洞允许多个芯片堆叠在一起,且允许不同的芯片元件堆叠更紧密,以用于更快、更小且功率更低的系统。
形成介层洞之后,以核心层40填充介层洞。请参见图2,图2为图1的电感结构的剖面图,显示中心核心层40被导体层15包围。如图1所示,核心层40是平面的,整体实质上是方形的,由高导磁材料构成,形成铁磁材料,例如:铁、镍、锰锌亚铁盐(MnZn ferrite)、镍锌亚铁盐(NiZn ferrite)、镍铁亚铁盐(NiFe ferrite)、镍铜锌合金(NiCuZn alloy)、其他亚铁盐(ferrite)、磁屏蔽材料(mumetal)或磁屏蔽合金(mumetal alloy)。
在传统的电感结构中,核心层一般会部分延伸到基材内,但不会全部从基材的一端延伸到另一端。根据本发明的一个实施例,核心层40从基材20的下表面24延伸到上表面22。由硅通孔技术形成核心层40,而该核心层40从基材20的下表面24延伸到上表面22,因此本发明的电感结构10可以增进其Q值。
如本领域技术人员所知,品质因数(Q)与电感值(L)相关,关系式如式(1):
Q = 1 R L C - - - ( 1 )
其中R、L与C分别代表电路的电阻、电感值和电容。
目前,选择具有电流i(t)的电流回路(δS)。根据毕奥-萨伐尔定律(Biot-Savart law),电流i(t)在r处建立磁通量密度:
B ( r , t ) = μ 0 μ r i ( t ) 4 π ∫ δS dl × r ^ r 2
目前磁通量通过该回路包围的表面S,得到式(2):
Φ ( t ) = ∫ S B ( r , t ) · dA = μ 0 μ r i ( t ) 4 π ∫ S ∫ δS dl × r ^ r 2 · dA = Li ( t ) - - - ( 2 )
由此,可以用式(3)表示电流回路的电感值:
L = μ 0 μ r 4 π ∫ S ∫ δS dl × r ^ r 2 · dA - - - ( 3 )
其中
μ0:自由空间中的磁导率(4π×10-7H/m),
μr:电感中材料的相对磁导率,
dl:电流回路元件的微分长度向量,
:从电流元件到电场点r的单位位移向量,
r:从电流元件到电场点r的距离,
dA:表面积A的微分向量单元,数值无限小且方向垂直表面S。
由式(3)和固定形状的电感得知,电感值L会随着所选择的μr(即电感中材料的相对磁导率)而增加。由式(1)得知,L值越大,Q值越大。
图3和图4显示平面图和剖面图,个别的电感结构10中,核心层40被分成很多小的、个别的元件,且彼此绝缘。这些小元件整体形成核心层40。多个个别的核心层40可降低损失于变压器或电感核心的涡流功率(eddy-current power)。降低涡流功率的损失也可降低电感结构产生的热。
在本发明的示范实施例中,根据本发明制备的微电子电感结构,磁性的核心层40具有增加的Q值。虽然图中显示的核心层40为方形以符合螺旋图案化导体层15,但使用圆形螺旋线圈时,也可以是圆形或者是其他用于螺旋形式无关的形状。上述情况也适用于个别的核心层。
虽然本发明已通过数个优选实施例公开如上,然而其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中具有普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,应当可作任意的更动与修改,因此本发明的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (13)

1.一种螺旋电感结构的制备方法,包括以下步骤:
提供基材;
在该基材上方形成螺旋图案化导体层,该螺旋图案化导体层形成平面螺旋导体;
在该螺旋图案化导体层内部的基材中形成介层洞;以及
以核心层填充该介层洞,其中该核心层从该基材的下表面延伸到上表面。
2.如权利要求1所述的螺旋电感结构的制备方法,其中该介层洞是通过硅通孔技术制成的。
3.如权利要求1所述的螺旋电感结构的制备方法,其中该核心层是由高导磁材料构成的。
4.一种螺旋电感结构,包括:
基材;
螺旋图案化导体层,形成于基材上,该螺旋图案化导体层形成平面螺旋导体;
介层洞,形成于该螺旋图案化导体层内部的基材中;以及
核心层,由填充该介层洞而得,其中该核心层从该基材的下表面延伸到上表面。
5.如权利要求4所述的螺旋电感结构,其中该介层洞是通过硅通孔技术制成的。
6.如权利要求4所述的螺旋电感结构,其中该核心层是由高导磁材料构成的。
7.如权利要求4所述的螺旋电感结构,其中该高导磁材料包括:铁、镍、锰锌亚铁盐、镍锌亚铁盐、镍铁亚铁盐、镍铜锌合金、其他亚铁盐、磁屏蔽材料或磁屏蔽合金。
8.如权利要求4所述的螺旋电感结构,其中该核心层包括多个彼此分开且绝缘的个别元件。
9.一种封装结构,包括:
基材,其上形成一装置;
螺旋图案化导体层,形成于该基材之上,该螺旋图案化导体层形成平面螺旋导体;
介层洞,形成于该螺旋图案化导体层内部的基材中;以及
核心层,由填充该介层洞而得,其中该核心层从该基材的下表面延伸到上表面。
10.如权利要求9所述的封装结构,其中该介层洞是通过直通硅晶穿孔技术制成的。
11.如权利要求9所述的封装结构,其中该核心层是由高导磁材料构成的。
12.如权利要求9所述的封装结构,其中该高导磁材料包括:铁、镍、锰锌亚铁盐、镍锌亚铁盐、镍铁亚铁盐、镍铜锌合金、其他亚铁盐、磁屏蔽材料或磁屏蔽合金。
13.如权利要求9所述的封装结构,其中该核心层包括多个彼此分开且绝缘的个别元件。
CNA2008100863091A 2007-11-29 2008-03-25 螺旋电感结构及其制备方法与封装结构 Pending CN101447275A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/946,899 US20090140383A1 (en) 2007-11-29 2007-11-29 Method of creating spiral inductor having high q value
US11/946,899 2007-11-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101447275A true CN101447275A (zh) 2009-06-03

Family

ID=40674880

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA2008100863091A Pending CN101447275A (zh) 2007-11-29 2008-03-25 螺旋电感结构及其制备方法与封装结构

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20090140383A1 (zh)
CN (1) CN101447275A (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102148089A (zh) * 2010-01-12 2011-08-10 英飞凌科技股份有限公司 用于集成电感器的系统和方法
CN102446916A (zh) * 2010-10-07 2012-05-09 英飞凌科技股份有限公司 具有磁芯电感器的集成电路及其制造方法
CN103247606A (zh) * 2013-04-16 2013-08-14 江阴长电先进封装有限公司 一种高感值硅基平面螺旋电感结构
CN103569947A (zh) * 2012-07-20 2014-02-12 方维伦 系统级封装方法
CN104733452A (zh) * 2013-12-19 2015-06-24 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种变压器及其制作方法和芯片
CN106206536A (zh) * 2015-05-27 2016-12-07 联发科技股份有限公司 半导体集成电路
CN108140468A (zh) * 2015-10-16 2018-06-08 摩达伊诺琴股份有限公司 功率电感器
WO2019007322A1 (zh) * 2017-07-03 2019-01-10 无锡华润上华科技有限公司 堆叠螺旋电感
US12009129B2 (en) 2017-07-03 2024-06-11 Csmc Technologies Fab2 Co., Ltd. Stacked spiral inductor

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100019346A1 (en) * 2008-07-28 2010-01-28 Mete Erturk Ic having flip chip passive element and design structure
US20100022063A1 (en) * 2008-07-28 2010-01-28 Mete Erturk Method of forming on-chip passive element
US8697574B2 (en) 2009-09-25 2014-04-15 Infineon Technologies Ag Through substrate features in semiconductor substrates
US20110109415A1 (en) * 2009-11-12 2011-05-12 Jenq-Gong Duh Inductor structure
BR112012018652A2 (pt) * 2010-01-27 2016-05-03 Alstom Technology Ltd núcleo magnético
CN101894742A (zh) * 2010-05-28 2010-11-24 上海宏力半导体制造有限公司 高q值电感器的制作方法
US8513771B2 (en) * 2010-06-07 2013-08-20 Infineon Technologies Ag Semiconductor package with integrated inductor
US8410576B2 (en) * 2010-06-16 2013-04-02 National Semiconductor Corporation Inductive structure and method of forming the inductive structure with an attached core structure
US8232173B2 (en) * 2010-11-01 2012-07-31 International Business Machines Corporation Structure and design structure for high-Q value inductor and method of manufacturing the same
US8853819B2 (en) 2011-01-07 2014-10-07 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor structure with passive element network and manufacturing method thereof
US9921640B2 (en) * 2012-09-28 2018-03-20 Intel Corporation Integrated voltage regulators with magnetically enhanced inductors
US9640602B2 (en) * 2012-10-19 2017-05-02 Infineon Technologies Austria Ag Semiconductor device including magnetically coupled monolithic integrated coils
TWI459414B (zh) * 2012-12-19 2014-11-01 Ind Tech Res Inst 耦合電感
US9287196B2 (en) * 2012-12-28 2016-03-15 Intel Corporation Resonant clocking for three-dimensional stacked devices
DE102013112220B4 (de) * 2013-11-06 2021-08-05 Intel Corporation (N.D.Ges.D. Staates Delaware) Spulenanordnung mit Metallfüllung und Verfahren zu deren Herstellung
US10121739B1 (en) 2017-05-02 2018-11-06 Micron Technology, Inc. Multi-die inductors with coupled through-substrate via cores
US10872843B2 (en) 2017-05-02 2020-12-22 Micron Technology, Inc. Semiconductor devices with back-side coils for wireless signal and power coupling
US20180323369A1 (en) 2017-05-02 2018-11-08 Micron Technology, Inc. Inductors with through-substrate via cores
US10134671B1 (en) * 2017-05-02 2018-11-20 Micron Technology, Inc. 3D interconnect multi-die inductors with through-substrate via cores
US10886929B2 (en) 2018-05-31 2021-01-05 Wiliot, LTD. Oscillator calibration from over-the-air signals for low power frequency/time references wireless radios
US10700718B2 (en) 2018-07-19 2020-06-30 Wiliot, LTD. Frequency detection for over-the-air calibration of oscillators
US11189563B2 (en) * 2019-08-01 2021-11-30 Nanya Technology Corporation Semiconductor structure and manufacturing method thereof
US11609128B2 (en) * 2019-12-10 2023-03-21 Wiliot, LTD. Single layer LC oscillator

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4959705A (en) * 1988-10-17 1990-09-25 Ford Microelectronics, Inc. Three metal personalization of application specific monolithic microwave integrated circuit
JPH0377360A (ja) * 1989-08-18 1991-04-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
CA2072277A1 (en) * 1991-07-03 1993-01-04 Nobuo Shiga Inductance element
US5355096A (en) * 1993-07-06 1994-10-11 Trw Inc. Compace HBT wide band microwave variable gain active feedback amplifier
JP4256575B2 (ja) * 2000-08-15 2009-04-22 パナソニック株式会社 バイアホールを備えた高周波受動回路および高周波増幅器
US6362012B1 (en) * 2001-03-05 2002-03-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Structure of merged vertical capacitor inside spiral conductor for RF and mixed-signal applications
US7038294B2 (en) * 2001-03-29 2006-05-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Planar spiral inductor structure with patterned microelectronic structure integral thereto
JP3745316B2 (ja) * 2002-06-24 2006-02-15 Necエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路及びその製造方法
JP4464127B2 (ja) * 2003-12-22 2010-05-19 Necエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路及びその製造方法
US7262680B2 (en) * 2004-02-27 2007-08-28 Illinois Institute Of Technology Compact inductor with stacked via magnetic cores for integrated circuits
TWI299556B (en) * 2006-07-07 2008-08-01 Holtek Semiconductor Inc Spiral inductor with high quality factor of integrated circuit

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102148089B (zh) * 2010-01-12 2014-05-07 英飞凌科技股份有限公司 用于集成电感器的系统和方法
CN102148089A (zh) * 2010-01-12 2011-08-10 英飞凌科技股份有限公司 用于集成电感器的系统和方法
CN102446916B (zh) * 2010-10-07 2016-08-31 英飞凌科技股份有限公司 具有磁芯电感器的集成电路及其制造方法
CN102446916A (zh) * 2010-10-07 2012-05-09 英飞凌科技股份有限公司 具有磁芯电感器的集成电路及其制造方法
CN103569947A (zh) * 2012-07-20 2014-02-12 方维伦 系统级封装方法
CN103247606A (zh) * 2013-04-16 2013-08-14 江阴长电先进封装有限公司 一种高感值硅基平面螺旋电感结构
CN103247606B (zh) * 2013-04-16 2015-06-17 江阴长电先进封装有限公司 一种高感值硅基平面螺旋电感结构
CN104733452A (zh) * 2013-12-19 2015-06-24 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种变压器及其制作方法和芯片
CN104733452B (zh) * 2013-12-19 2018-02-02 深圳市中兴微电子技术有限公司 一种变压器及其制作方法和芯片
CN106206536A (zh) * 2015-05-27 2016-12-07 联发科技股份有限公司 半导体集成电路
CN108140468A (zh) * 2015-10-16 2018-06-08 摩达伊诺琴股份有限公司 功率电感器
US10943722B2 (en) 2015-10-16 2021-03-09 Moda-Innochips Co., Ltd. Power inductor
WO2019007322A1 (zh) * 2017-07-03 2019-01-10 无锡华润上华科技有限公司 堆叠螺旋电感
US12009129B2 (en) 2017-07-03 2024-06-11 Csmc Technologies Fab2 Co., Ltd. Stacked spiral inductor

Also Published As

Publication number Publication date
US20090140383A1 (en) 2009-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101447275A (zh) 螺旋电感结构及其制备方法与封装结构
US9269485B2 (en) Method of creating spiral inductor having high Q value
CN102341870B (zh) 磁性膜增强型电感器
CN101620919B (zh) 平面型沟槽功率电感结构与制造方法
US6278352B1 (en) High efficiency thin film inductor
CN103681633B (zh) 磁芯及其形成方法,以及包括该磁芯的集成电路、衬底、变压器和电感器
CN102148089B (zh) 用于集成电感器的系统和方法
CN101494112B (zh) 一种线圈电感的形成方法
CN101322201A (zh) 用于集成电路的多层电感元件
CN103093922B (zh) 共模滤波器
CN103972207A (zh) 堆叠管芯之间的螺旋形螺旋电感器
CN102446916A (zh) 具有磁芯电感器的集成电路及其制造方法
CN105244344B (zh) 用在集成电路的电感组件,形成部分集成电路的变压器和电感器
US10128325B2 (en) Inductor structures for integrated circuits
US10553353B2 (en) Parallel stacked inductor for high-Q and high current handling and method of making the same
US20030234436A1 (en) Semiconductor device with a spiral inductor and magnetic material
CN109036798A (zh) 用于磁芯的通孔以及相关系统和方法
CN109686549B (zh) 一种具有多个绕组线圈通过微纳加工制作的集成变压器
US20120013429A1 (en) Multilayer inductor and method of manufacturing the same
CN101740195A (zh) 半导体螺线管电感及其制作方法
CN209591754U (zh) 层叠变压器
JP2007281230A (ja) 半導体装置およびその製造方法
CN109524215A (zh) 层叠变压器及其制造方法
CN109599249A (zh) 一种mems回形螺线管变压器及其制造方法
CN220651781U (zh) 一种电感线圈

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20090603