CN101315330B - 表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法 - Google Patents

表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101315330B
CN101315330B CN 200810050885 CN200810050885A CN101315330B CN 101315330 B CN101315330 B CN 101315330B CN 200810050885 CN200810050885 CN 200810050885 CN 200810050885 A CN200810050885 A CN 200810050885A CN 101315330 B CN101315330 B CN 101315330B
Authority
CN
China
Prior art keywords
gold
array
glass sheet
micro
nanometer particle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN 200810050885
Other languages
English (en)
Other versions
CN101315330A (zh
Inventor
董绍俊
王建龙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Changzhou Institute Of Energy Storage Materials & Devices
Original Assignee
Changchun Institute of Applied Chemistry of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Changchun Institute of Applied Chemistry of CAS filed Critical Changchun Institute of Applied Chemistry of CAS
Priority to CN 200810050885 priority Critical patent/CN101315330B/zh
Publication of CN101315330A publication Critical patent/CN101315330A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101315330B publication Critical patent/CN101315330B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Chemically Coating (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)

Abstract

本发明旨在提供一种表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法。首先在3-氨基丙基三甲氧基硅烷修饰的玻璃片上自组装一层直径为2.5纳米的金胶纳米粒子单层作为催化模板。然后以透明胶片高精度打印的点阵阵列图样为掩模对上述金纳米粒子修饰的玻璃片进行光学刻蚀,制备出金纳米粒子的微阵列。最后采用无电镀金技术在纳米尺度范围内控制金纳米粒子点微阵列的均匀增长,从而构建所需的金膜点微阵列,微阵列中金点的大小和间距可方便地由掩模来控制,金点的厚度通过调节无电镀金的时间来控制。

Description

表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法
技术领域
本发明属于表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法。
背景技术
表面等离子体共振(SPR)成像技术是SPR方法结合电荷耦合器件(CCD)摄谱的一种快速高通量分析方法(Steiner G.,Anal.Bioanal.Chem.2004,379,328-331)。这种技术操作简单,并且可以同时测定成千上万个样品。因此,SPR成像技术已受到国内外的关注,并且已经被广泛用于研究生物分子相互作用。应用SPR成像技术分析生物分子相互作用的前提是制备出合格的样品点阵列。到目前为止,已报道的SPR图象分析所用的点阵构建方式主要有三种。第一种是在连续的金膜表面采用自组装单层膜的多步化学修饰和紫外光照射下的光敏化学基团刻蚀相结合来产生样品阵列(Robert M.Corn et al,J.Am.Chem.Soc.,1999,121,8044-8051)。第二种方法是首先构建PDMS的微流通道或微通道的交叉阵列,然后在这些微通道中检测分子相互作用(Hye Jin Lee et al,Anal.Chem.,2001,73,5525-5531)。当前较为常用的为第三种方法,即象DNA芯片构建方式那样采用自动点样机点样(Bassil N.et al.,Sens.Actuat.B,2003,94,313-323),然后测定。但是在这些方法中,由于阵列间无样品的裸金膜有较大的SPR背景,或待分析生物样品在点阵列间的非特性吸附使得样品阵列边缘模糊,或微通道本身的构建复杂性及样品与微通道的疏水作用产生非特异性吸附,这些都给样品的检测带来了困难。如果金膜本身能制成微阵列,阵列间无样品的裸露表面为玻璃,它没有SPR响应及非特性吸附,上述限制则不难克服。
发明内容
为解决现有技术中SPR成像金膜微阵列具有较大的SPR背景、以及非特异性吸附等问题,本发明采用透明胶片高精度打印的方法制备掩模,然后利用光刻法制备金纳米粒子的微阵列,最后采用无电镀金技术制备出SPR成像金膜点微阵列。目的是提供SPR成像金膜点微阵列的制备方法。它是一种完全溶液基础上的制备SPR成像金膜点微阵列的方法。
本发明提供的表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法的步骤和条件如下:
(1)制备胶体金纳米粒子修饰的玻璃片
将清洗过的玻璃片浸泡在体积浓度为10%的氨基丙基三甲氧基硅烷的无水甲醇溶液中12小时,制备出氨基硅烷修饰的玻璃片,用甲醇溶液冲洗干净,然后将其浸泡到平均直径为2.5纳米的胶体金纳米粒子溶液中18小时,在其表面组装一层金纳米粒子,将其取出用氮气吹干,备用;
(2)光刻法制备金纳米粒子点微阵列修饰的玻璃片
把正性光刻胶旋涂于纳米金修饰的玻璃片表面,紫外光通过掩模曝光后,用碱液显影,之后,采用选择性化学刻蚀暴露出的金纳米粒子的点微阵列,通过在丙酮溶液中浸泡1小时除去未曝光的光胶层,用氮气吹干,得到金纳米粒子的微阵列;
(3)无电镀金制备表面等离子体共振成像金膜点微阵列
将步骤(2)制得的金纳米粒子微阵列的玻璃片浸入体积比为1∶40的0.4毫摩尔NH2OH·HCl和质量浓度为0.1%的HAuCl4的混合溶液中,在摇动的状态下无电镀,制备所需的表面等离子体共振成像金膜点微阵列;所述的金点的厚度可以通过控制无电镀金的时间来调节,在当前的工艺条件下每分钟在玻璃片上镀5纳米的金;无电镀金结束后,制备出的表面等离子体共振成像金膜点微阵列,用二次水冲洗干净,氮气吹干,并在室温条件下老化。
金点的大小和间距可方便地由掩模来控制,金点的厚度可以通过控制无电镀金的时间来调节,在当前的工艺条件下每分钟可以在玻璃片上镀5纳米的金。所制备出的SPR金膜微阵列由不连续的金点组成,因此可以避免SPR成像技术中连续金膜之间的背景干扰。
具体实施方式
实施例1:制备金点直径为1000μm的8×8SPR成像金膜点微阵列。
(1)制备胶体金纳米粒子修饰的玻璃片
所有玻璃器皿在使用前均用新配制的王水洗液清洗,然后用蒸馏水冲洗干净。用于制备SPR成像金膜点微阵列的玻璃片在使用前还要用铬酸洗液浸泡过夜,二次水冲洗;然后放入到新制备的Piranha溶液(3体积硫酸与1体积浓度为30%的过氧化氢的混合溶液)中在70摄氏度温浴20分钟,以除去表面的杂质。
玻璃片清洗完后,用去离子水和甲醇溶液冲洗;随后浸入到体积浓度为10%的3-氨基丙基三甲氧基硅烷的无水甲醇溶液中进行表面硅烷化修饰,12小时后取出玻片,用甲醇溶液冲洗干净。随后立即浸入到平均直径为2.5纳米的胶体金溶液液中18小时,进行金纳米粒子的组装,在其表面组装一层金纳米粒子,将其取出用氮气吹干,备用;
平均直径为2.5纳米的胶体金溶液制备如下:1毫升质量浓度为1%的HAuCl4·3H2O水溶液加入到100毫升水中,剧烈搅拌一分钟后,再加入1毫升质量比为1%的柠檬酸钠水溶液,混匀等待1分钟后,加入1毫升含质量比为0.075%的NaBH4和质量比为1%柠檬酸钠的水溶液,剧烈搅拌5分钟,然后在4摄氏度环境下贮存备用。
(2)光刻法制备金纳米粒子点微阵列修饰的玻璃片
在胶体金纳米粒子溶液中浸泡18小时后,将修饰有纳米金的玻璃片取出,二次水冲洗,氮气吹干。然后取4微升RZJ-390正性光刻胶均匀地涂布于上述制得的纳米金修饰的玻璃片表面(面积为1.8厘米×1.8厘米),迅速放入旋涂仪中,于每分钟2000转的转速下操作2分钟,这样得到的光刻胶厚度为2μm。涂布时注意不能有气泡残留在光刻胶中,且涂布的均一程度将直接影响金纳米点微阵列的质量。将涂有光胶的玻璃片在100摄氏度烘箱中加热90秒钟,取出,冷却后,把图案化光学掩模(8×8点阵列,点的直径为1000μm)直接置于光胶层上,在超高压汞灯(300~460nm,7mW/cm2)照射下曝光100秒,长时间的曝光将使点阵列边缘光滑程度降低。然后浸入0.4%的NaOH溶液中显影120秒,则光学曝光处的光刻胶被溶解掉,暴露出纳米金修饰的玻璃片表面。显影后的玻璃片在130℃烘箱中加热120秒。用选择性的金刻蚀剂(王水3∶1盐酸∶硝酸)去掉暴露出的金纳米粒子。然后,将玻璃片用丙酮溶液浸泡1小时剥离未曝光的光刻胶,在玻璃片表面制备出金纳米粒子的点微阵列。
(3)无电镀金制备SPR成像金膜点微阵列
将上述修饰有金纳米粒子微阵列的玻璃片浸入到无电镀金液中,无电镀金液为0.15毫升0.4毫摩NH2OH·HCl和6毫升质量浓度为0.1%HAuCl4的混合溶液。在摇动的状态下进行湿法镀金。随着镀金时间的增长,可以观察到玻璃片表面出现金点的微阵列,而且金点微阵列的颜色逐渐从粉红、紫色到最终金色的变化。经过10分钟的生长可以制备出8×8金点微阵列,其中各金点的直径为1000μm,厚度为50纳米。根据已知的文献报道,50纳米后的金点具有较好的SPR信号。无电镀金结束后,制备出表面等离子体共振成像金膜点微阵列,用大量二次水冲洗干净,氮气吹干,并在室温条件下老化。
实施例2:制备金点直径为600μm的8×8SPR成像金膜点微阵列
(1)制备胶体金纳米粒子修饰的玻璃片
胶体金纳米粒子修饰的玻璃片制备方法与实施例1相同。
(2)光刻法制备金纳米粒子点微阵列修饰的玻璃片
光刻过程与实施例1基本相同,唯一的不同在于曝光时采用的图案化光学掩模点直径不同,本例中采用的掩模点直径为600μm。
(3)无电镀金制备SPR成像金膜点微阵列与实施例1相同。
实施例3:制备金点直径为300μm的8×8SPR成像金膜点微阵列
(1)制备胶体金纳米粒子修饰的玻璃片
胶体金纳米粒子修饰的玻璃片制备方法与实施例1相同。
(2)光刻法制备金纳米粒子点微阵列修饰的玻璃片
光刻过程与实施例1基本相同,唯一的不同在于曝光时采用的图案化光学掩模点直径不同,本例中采用的掩模点直径为300μm
(3)无电镀金制备SPR成像金膜点微阵列与实施例1相同。

Claims (1)

1.表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法,其特征在于步骤和条件如下:
(1)制备胶体金纳米粒子修饰的玻璃片
将清洗过的玻璃片浸泡在体积浓度为10%的氨基丙基三甲氧基硅烷的无水甲醇溶液中12小时,制备出氨基硅烷修饰的玻璃片,用甲醇溶液冲洗干净,然后将其浸泡到平均直径为2.5纳米的胶体金纳米粒子溶液中18小时,在其表面组装一层金纳米粒子,将其取出用氮气吹干,备用;
(2)光刻法制备金纳米粒子点微阵列修饰的玻璃片
把正性光刻胶旋涂于纳米金修饰的玻璃片表面,紫外光通过掩模曝光后,用碱液显影,之后,采用选择性化学刻蚀暴露出的金纳米粒子的点微阵列,通过在丙酮溶液中浸泡1小时除去未曝光的光胶层,用氮气吹干,得到金纳米粒子的微阵列;
(3)无电镀金制备表面等离子体共振成像金膜点微阵列
将步骤(2)制得的金纳米粒子微阵列的玻璃片浸入体积比为1∶40的0.4毫摩尔的NH2OH·HCl和质量浓度为0.1%的HAuCl4的混合溶液中,在摇动的状态下无电镀,制备所需的表面等离子体共振成像金膜点微阵列;所述的金点的厚度可以通过控制无电镀金的时间来调节,在当前的工艺条件下每分钟在玻璃片上镀5纳米的金;无电镀金结束后,制备出的表面等离子体共振成像金膜点微阵列,用二次水冲洗干净,氮气吹干,并在室温条件下老化。
CN 200810050885 2008-06-26 2008-06-26 表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法 Expired - Fee Related CN101315330B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200810050885 CN101315330B (zh) 2008-06-26 2008-06-26 表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200810050885 CN101315330B (zh) 2008-06-26 2008-06-26 表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101315330A CN101315330A (zh) 2008-12-03
CN101315330B true CN101315330B (zh) 2010-12-08

Family

ID=40106410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 200810050885 Expired - Fee Related CN101315330B (zh) 2008-06-26 2008-06-26 表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101315330B (zh)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101774535B (zh) * 2009-12-28 2014-11-26 厦门大学 一种二维正方点阵排列的准正方形纳米颗粒阵列结构的制备方法
CN103512861A (zh) * 2012-06-20 2014-01-15 中国科学院电子学研究所 表面等离子体谐振图像检测芯片、系统及其使用方法
CN104198441B (zh) * 2014-09-09 2017-01-18 吉林大学 一种限域型表面等离子体共振传感器、制备方法及其应用
CN104568850B (zh) * 2014-12-25 2018-06-05 中北大学 一种利用表面等离子芯片的计算芯片成像生物传感平台
CN104568848B (zh) * 2014-12-25 2018-10-12 中北大学 一种用于生物传感器的表面等离子芯片及其制备方法
CN110152473B (zh) * 2019-06-10 2021-05-28 东北大学 一种金纳米负载三聚硫氰酸盐吸收剂及其制备方法
CN110702642B (zh) * 2019-10-29 2022-03-18 西南大学 一种微井结构SPRi芯片的制备方法及其产品和应用
CN111721886B (zh) * 2020-07-09 2021-07-13 福州大学 一种刺激润湿响应性铜离子检测毛细管及其应用
CN111766222B (zh) * 2020-07-24 2022-03-15 江苏致微光电技术有限责任公司 一种基于柔性基底的lspr传感器及其制备方法和应用

Also Published As

Publication number Publication date
CN101315330A (zh) 2008-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101315330B (zh) 表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法
Restaino et al. A critical review of flexible and porous SERS sensors for analytical chemistry at the point-of-sample
CN101024483B (zh) 金属有序结构表面增强基底的构筑方法
CN101792112B (zh) 一种基于表面增强拉曼散射活性基底的微流控检测器件
Zhao et al. Plasmonic nanopillar array embedded microfluidic chips: an in situ SERS monitoring platform
He et al. Silver nanosheet-coated inverse opal film as a highly active and uniform SERS substrate
CN105505742A (zh) 一种液滴阵列芯片及其制备方法
CN103991837B (zh) 一种基于压电基底薄片的微纳米有序通孔阵列金属薄膜传感器的制造方法
JP4112597B2 (ja) 自己組織化材料のパターニング方法、及び自己組織化材料パターニング基板とその生産方法、並びに自己組織化材料パターニング基板を用いたフォトマスク
CN112499581A (zh) 一种表面增强拉曼散射衬底的制备方法
CN108152348B (zh) 一种可重复性使用基于PDMS的微型软体Ag/AgCl电极的制备方法及应用
CN107991281A (zh) 柔性sers基底的制备方法及其用于特异性检测pat
CN110082341A (zh) 基于纳米球刻蚀的sers基底制备及其在爆炸物tnt检测中的应用
CN1146727C (zh) 金单晶纳米岛阵列薄膜及电极的制备方法
CN107937957A (zh) 表面增强拉曼基底的制备方法及该基底用于检测动物病毒
CN108855259A (zh) 一种微阵列芯片的表面改性方法
CN109342387A (zh) 一种基于纳米银胶表面拉曼增强检测酮康唑的方法
CN114184597A (zh) 基于划痕诱导选择性刻蚀的微流控sers芯片制备方法
CN100399059C (zh) 有构图薄层的微阵列基底,含该基底的微阵列及其制备法
Li et al. Biological functionalization and patterning of porous silicon prepared by Pt-assisted chemical etching
CN110082340A (zh) 柔性有序微纳图案薄膜对痕量tnt检测的检测方法
CN109082155A (zh) 一种单宁酸作为微接触印刷墨水在细胞图案化中的应用
CN106153599A (zh) 一种有、无受体二氧化钛纳米金属膜拉曼芯片及制作方法
Xue et al. Development of a paper-based microfluidic analytical device by a more facile hydrophobic substrate generation strategy
TWI464389B (zh) Surface Enhancement Raman Spectroscopy Element and Its Manufacturing Method and Application

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: CHANGZHOU INSTITUTE OF ENERGY STORAGE MATERIALS +

Free format text: FORMER OWNER: CHANGCHUN INST. OF APPLIED CHEMISTRY, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES

Effective date: 20130926

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 130022 CHANGCHUN, JILIN PROVINCE TO: 213000 CHANGZHOU, JIANGSU PROVINCE

TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20130926

Address after: Changzhou City, Jiangsu province Hehai road 213000 No. 9

Patentee after: CHANGZHOU INSTITUTE OF ENERGY STORAGE MATERIALS & DEVICES

Address before: 130022 Changchun people's street, Jilin, No. 5625

Patentee before: CHANGCHUN INSTITUTE OF APPLIED CHEMISTRY CHINESE ACADEMY OF SCIENCES

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20101208

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee