CN101131835A - 光学拾取装置 - Google Patents
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Abstract
本发明所涉及的光学拾取装置包括:光源,发出第一、第二以及第三波长的光;光路结合单元,使所述第一、第二以及第三波长的光的行进方向相同,并使所述第一波长的光和所述第三波长的光的光轴一致;聚光单元,将来自所述光路结合单元的光聚光到所述光信息记录介质;衍射元件,将所述光信息记录介质所反射的所述第一、第二以及第三波长的光,分别向第一方向以及第二方向衍射;第一光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第一、第二以及第三波长的光的、所述第一方向的衍射光;第二光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第一以及第三波长的光的、所述第二方向的衍射光;以及第三光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第二波长的光的、所述第二方向的衍射光。
Description
技术领域
本发明涉及一种光学拾取装置,该光学拾取装置对光盘以及光卡等光信息记录介质进行信息的记录、再生以及删除。
背景技术
采用具有槽状图案的光信息记录介质(即高密度、大容量的记录介质)的光存储技术,在数字音频盘、视频盘、文档盘以及数据盘等中的应用正在不断扩大。在光存储技术中,信息通过被缩得很细的光束,以高精度以及高可靠性,被记录在光信息记录介质中并被再生。此记录再生工作完全取决于光学系统。光学系统的主要部分即光学拾取装置的基本功能大致可分为:聚光,形成衍射界限的微小光点;控制光学系统的焦点;控制光学系统的追踪;以及检测出小坑信号(pitsignal)。这些功能是按照该功能的目的和用途,通过与各种光学系统和光电转换检测方式相结合来实现的。近几年,为了将光学拾取装置小型化以及薄型化,而采用了衍射元件(全息摄影)(例如参照专利文献1)。
图1是采用以往的衍射元件的光学拾取装置的构成示意图。图1中所示出的光学拾取装置1000对光信息记录介质1106进行信息的记录、再生以及删除。例如,光信息记录介质1106是CD(Compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)、BD(Blu-ray Disc:蓝光光碟)或是HD-DVD(High Definition DVD:高解析DVD)。光学拾取装置1000包括:光源1101A与1101B;光检测器1102A、1102B、1102C以及1102D;衍射元件1103;光路结合部1104;以及聚光部1105。
光源1101A是射出第一波长的光(例如,蓝色光)1120的光源。光源1101B是射出第二波长的光(例如,红色光)1121以及第三波长的光(例如,红外光)1122的光源,且第二波长比第一波长长,第三波长比第二波长长。
从光源1101A射出的第一波长的光1120,由光路结合部1104来反射,在聚光部1105聚光,被照射到光信息记录介质1106,并由光信息记录介质1106反射。由光信息记录介质1106反射的反射光,由聚光部1105聚光,透过光路结合部1104,入射到衍射元件1103,并被衍射为入射到光检测器1102A以及1102B。
从光源1101B射出的第二波长的光1121,在聚光部1105聚光,被照射到光信息记录介质1106,并由光信息记录介质1106来反射。由光信息记录介质1106反射的反射光,由聚光部1105聚光,入射到衍射元件1103,并被衍射为有选择性地入射到光检测器1102A以及1102C。从光源1101B射出的第三波长的光1122,由聚光部1105来聚光,照射到光信息记录介质1106,并由光信息记录介质1106来反射。由光信息记录介质1106反射的反射光,由聚光部1105来聚光,入射到衍射元件1103,并被衍射为有选择性地入射到光检测器1102A以及1102D。
即,在将通过衍射元件1103向图中右侧衍射的光定义为-(负),向左侧衍射的光定义为+(正)时,第一~第三波长的光的衍射光中,+1次衍射光入射到同一个光检测器1102A。对于-1次衍射光,第一波长光的衍射光入射到光检测器1102B,第二波长光的衍射光入射到光检测器1102C,第三波长光的衍射光入射到光检测器1102D。从光检测器1102A~1102D按照各自的受光量来输出信号。
专利文献1特开2001-176119号公报
然而,以+1次衍射光以及-1次衍射光获得光信息记录介质1106的信号的通常的光学拾取装置中,存在与第一~第三波长分别对应的光轴(三条)。据此,将第一~第三波长的光中任1条光轴与聚光部1105的中心对准,剩余的2条光轴偏离聚光部1105的中心。这样,出现的问题是:导致偏离聚光部1105的中心的光轴所对应的光的利用效率降低。即,在以往的光学拾取装置中,光学拾取装置整体的光的利用效率降低。
发明内容
为了解决上述问题,本发明的目的在于提供一种光学拾取装置,该光学拾取装置利用三个波长的光,且对光的利用效率高。
为了达成上述目的,本发明所涉及的光学拾取装置对光信息记录介质至少进行信息的写入以及读出中的某一个,包括:光源,发出第一、第二以及第三波长的光;光路结合单元,使所述光源发出的所述第一、第二以及第三波长的光的行进方向相同,并使所述第一波长的光和所述第三波长的光的光轴一致;聚光单元,将来自所述光路结合单元的光聚光到所述光信息记录介质;衍射元件,将所述光信息记录介质所反射的所述第一、第二以及第三波长的光,分别向第一方向以及第二方向衍射;第一光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第一、第二以及第三波长的光的、所述第一方向的衍射光;第二光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第一以及第三波长的光的、所述第二方向的衍射光;以及第三光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第二波长的光的、所述第二方向的衍射光。
根据此构成,可以将光轴数从通常的三个减少为两个。据此,可以减少偏离聚光单元中心的光轴数,从而提高光的利用效率。
并且,也可以是所述第一光检测器接收:来自所述衍射元件的所述第一波长的光的+2次衍射光、所述第二波长的光的+1次衍射光、以及所述第三波长的光的+1次衍射光;所述第二光检测器接收:来自所述衍射元件的所述第一波长的光的-2次衍射光,以及所述第三波长的光的-1次衍射光;所述第三光检测器接收:来自所述衍射元件的所述第二波长的光的-1次衍射光。
并且,也可以是所述光学拾取装置进一步包括漫射光反射单元,该漫射光反射单元形成在所述衍射元件所衍射的所述第一波长的光的±1次衍射光所照射的位置上,并反射照射来的光。
根据此构成,可以防止本来就不需要的第一波长的光的±1次衍射光成为漫射光。据此,可以防止因漫射光而造成的光信息记录介质的记录、再生、以及消除信号的不良。
并且,也可以是所述漫射光反射单元由铝或金构成。
根据此构成,漫射光反射单元可以由半导体基板制造(扩散)工序中所普遍使用的材料来构成,因此,不必增加新的材料就可以实现。
并且,也可以是所述第一光检测器、所述第二光检测器以及所述第三光检测器形成在同一基板上;所述光学拾取装置进一步包括反射防止单元,该反射防止单元形成在所述衍射元件所衍射的所述第一波长的光的±1次衍射光所照射的位置上,并防止照射来的光入射到所述基板上。
根据此构成,可以防止(反射)漫射光的发生,该漫射光是由基板上所形成的光检测器反射第一波长的光的±1次衍射光而发生的,所述第一波长的光的±1次衍射光是由衍射元件发生的不作为信号光使用的光。并且,通过在反射防止单元的正下方设置光检测二极管,可以防止基板内的漫射光(由不使用的光发生的载流子)入射到第一光检测器、第二光检测器以及第三光检测器,所述基板内的漫射光是由第一波长的光的±1次衍射光入射到光检测器的半导体基板上而发生的。
并且,也可以是所述光学拾取装置进一步包括第四光检测器,该第四光检测器接收所述衍射元件所衍射的所述第一波长的光的±1次衍射光。
根据此构成,第四光检测器可以接收第一波长的光的±1次衍射光,并可以转换为电气信号。
并且,也可以是所述第四光检测器用于对所述第一波长的光的输出进行监视。
根据此构成,通过将第四光检测器用于对所述第一波长的光的输出进行监视,从而可以减少用于对第一波长的光的输出进行监视的光检测器,由此,可以减少部件数量。据此,可以使光学拾取装置小型化。
并且,也可以是所述第四光检测器输出来自所述光信息记录介质的信号。
根据此构成,通过将第一波长的光的±1次衍射光作为来自信息记录介质的信号光来使用,从而可以进一步改善第一波长的光的利用效率。
并且,也可以是所述第一波长的光为蓝色光,所述第二波长的光为红色光,所述第三波长的光为红外光。
根据此构成,例如对于使用蓝色光的BD(或HD-DVD)、使用红色光的DVD、以及使用红外光的CD所对应的光学拾取装置,可以使光的利用效率增高。
并且,也可以是所述光源包括第一光源和第二光源,所述第一光源发出所述第一波长的光;所述第二光源发出所述第二以及第三波长的光;所述第二光源、所述第一光检测器、所述第二光检测器、以及所述第三光检测器配置在同一基板上。
根据此构成,通过将第二光源和第一到第三光检测器集成化,从而可以缩小设置空间,据此,可以实现光学拾取装置的低成本化。
并且,也可以是衍射元件的截面形状为锯齿状。
根据此构成,例如第一波长的光(波长为405nm)的2次衍射效率的波峰,几乎和第二波长的光(波长为650nm)以及第三波长的光(波长为780nm)的1次衍射效率的波峰所处的光栅深度相同。据此,第一波长的光(波长为405nm)、第二波长的光(波长为650nm)以及第三波长的光(波长为780nm)可以在单一的第一光检测器容易地检测出来。
本发明可以提供一种光学拾取装置,该光学拾取装置利用三个波长的光,且光的利用效率高。
附图说明
图1是示出通常的光学拾取装置的构成图。
图2是示出本发明实施例1中所涉及的光学拾取装置的构成图。
图3是示出第一波长的光的2次衍射光以及第三波长的光的1次衍射光的光栅间隔和衍射角度的关系图。
图4A是示出衍射元件中所使用的光栅形状的截面结构图。
图4B是示出光栅深度和衍射效率的关系图。
图5A是示出衍射元件所使用的光栅形状的截面结构图。
图5B是示出光栅深度和衍射效率的关系图。
图6A是本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置的光源以及光检测器的结构的立体图。
图6B是本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置的光源以及光检测器的结构的平面图。
图7是示出本发明的实施例2所涉及的光学拾取装置的结构图。
图8A是本发明的实施例2所涉及的光学拾取装置的光源以及光检测器的结构的立体图。
图8B是本发明的实施例2所涉及的光学拾取装置的光源以及光检测器的结构的平面图。
图9是示出本发明的实施例3所涉及的光学拾取装置的结构图。
图10A是本发明的实施例3所涉及光学拾取装置的光源以及光检测器的结构的立体图。
图10B是本发明的实施例3所涉及的光学拾取装置的官员以及光检测器的结构的平面图。
图11是示出本发明的实施例4所涉及的光学拾取装置的结构图。
图12A是本发明的实施例4所涉及的光学拾取装的光源以及光检测器的结构的立体图。
图12B是本发明的实施例4所涉及的光学拾取装置的光源以及光检测器的结构的平面图。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明所涉及的光拾取装置的实施例进行详细说明。
(实施例1)
本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置是与3个波长的光相对应的光学拾取装置,通过将2个波长的光的光轴设为一致,从而使光轴成为2个。据此,可以提高光的利用效率。
首先,对本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置的构成进行说明。
图2是示出本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置的概略构成图。
图2中所示的光拾取装置100对光信息记录介质106进行信息的记录、再生以及删除。光学拾取装置100包括:光源101A与101B;光检测器102A、102BD以及102C;衍射元件103;光路结合部104;聚光部105;以及漫射光反射区域111。
本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置100与通常的光学拾取装置相比,不同之处在于:光路结合部104使第一波长的光和第三波长的光的光轴基本一致,并且还具备了漫射光反射区域111。
光源101A是射出第一波长的光120的光源。光源101B是射出第二波长的光121以及第三波长的光122的光源,且第二波长比第一波长长,第三波长比第二波长长。第一波长例如是BD或HD-DVD所用的405nm(蓝色光),第二波长例如是DVD所用的650nm(红色光),第三波长例如是CD用的780nm(红外光)。并且,光源101A以及101B例如是半导体激光器。
光检测器102A、102C以及102BD输出与受光量相对应的信号。例如,光检测器102A、102C以及102BD是同一个半导体(Si)基板上所形成的光检测二极管。而且,在不特意区别光检测器102A、102C以及102BD的情况下,记作光检测器102。
衍射元件103衍射来自光信息记录介质106的反射光。衍射元件103例如是全息摄影元件。
光路结合部104使光源101A以及101B发出的第一、第二以及第三波长的光的行进方向相同。光路结合部104使第一波长的光和第三波长的光的光轴一致。光路结合部104例如是偏振光光束分离器。光路结合部104按照第一波长(405nm)的光的偏振光方向使第一波长的光反射或透过。
聚光部105将来自光路结合部104的光聚光到光信息记录介质106上。聚光部105例如是具有准直透镜和对物透镜的执行构件。
漫射光反射区域111形成在这样一个位置上,该位置是形成光检测器102的半导体基板上的第一波长的光的±1次折射光入射的位置。漫射光反射区域111反射照射来的光。例如,漫射光反射区域111由铝或金等金属构成。
在光源101B的设置位置和光信息记录介质106的设置位置之间,从光源101B开始依次布置有衍射元件103、光路结合部104以及聚光部105。光源101A被布置在可以直接向光路结合部104射出的位置上。在衍射元件103的一侧(与布置有光路结合部104相反的方向)布置有光检测器102以及漫射光反射区域111。
其次,对光学拾取装置100的工作进行说明。
从光源101A射出的光由光路结合部104反射,在聚光部105聚光,照射在光信息记录介质106,并由光信息记录介质106来反射。由光信息记录介质106反射的反射光由聚光部105聚光,并透过光路结合部104入射到衍射元件103,并由某一个光检测器102衍射为有选择性地入射。
从光源101B射出的光透过衍射元件103和光路结合部104,在聚光部105聚光,照射在光信息记录介质106,并由光信息记录介质106来反射。由光信息记录介质106反射的反射光由聚光部105聚光,并透过光路结合部104入射到衍射元件103,并由衍射元件103来衍射,从而使光有选择性地入射到某一个光检测器102上。
在将通过衍射元件103向图中右侧衍射的光定义为-(负),向左侧衍射的光定义为+(正)时,入射到光检测器102A的光是:第一波长的光的+2次衍射光;和第二波长及第三波长的光各自的+1次衍射光。入射到光检测器102BD的光是:第一波长的光的-2次衍射光和第三波长的光的-1次衍射光。入射到光检测器102C的光是:第二波长的光的-1次衍射光。
并且,漫射光反射区域111反射的光是:由衍射元件103而发生的不作为信号光来使用的第一波长的光的±1次衍射光。据此,通过将第一波长的光的±1次衍射光入射到形成光检测器102的半导体基板上,从而可以防止在基板内漫射光(由不使用的光发生的载流子)的发生。
而且,针对各波长的光检测正、负这两个衍射光是通常的技术中就有的,在此用于生成信号,该信号是针对光信息记录介质106的上下方向的变动,以使两个光的检测器上的两个光点尺寸保持一定的聚焦伺服的信号。
为此,使衍射光栅保持一定的曲率,从而使在衍射元件103的一侧的衍射光的焦点位置在单一的光检测器(在此为光检测器102A)的下侧,而另一侧的衍射光的焦点位置在多个光检测器(在此为光检测器102C以及102BD)的上侧。并且,光检测器102最好是采用在表面形成光反射防止膜,在此所谓的光例如可以是波长为405nm、650nm以及780nm的光。
图3是分别针对第一波长的光(波长为405nm)的2次衍射光和第三波长的光(波长为780nm)的1次衍射光而示出光栅间隔和衍射角的关系图。如图3所示,对于光栅间隔的各个值,第一波长的光的2次衍射光和第三波长的光的1次衍射光的衍射角几乎为相同的值。利用此性质,如上所述,对于第一波长的光的-2次衍射光和第三波长的光的-1次衍射光,可以在单一的光检测器102BD检测。通常,只要“第一波长的光的2次衍射角”减去“第三波长的光的1次衍射角”的差在2度以内即可。
图4A以及图5A是示出使用了衍射元件103的光栅形状的截面构造图。图4B以及图5B是示出光栅深度和衍射效率之间关系的图。图4A是矩形波状的光栅形状的截面结构的模式上的示意图。图4B是示出矩形波状的光栅形状中光栅深度和衍射效率之间的关系图。而且,衍射元件103的折射率为1.52,光栅间隔为2.5μm。
如图4A所示,衍射光栅的截面形状为矩形波状,即在衍射元件103的一侧上排列的矩形呈凹凸形状的情况下,则如图4B所示,第一波长的光(波长为405nm)的2次衍射效率的波峰,和第二波长的光(波长为650nm)以及第三波长的光(波长为780nm)的1次衍射效率的波峰所处的光栅深度彼此远离。
图5A是在模式上示出锯齿状光栅形状的截面结构图。图5B是示出锯齿状光栅形状的光栅深度和衍射效率之间的关系图。而且,衍射元件103的折射率为1.52,光栅间隔为2.5μm。
如图5A所示,衍射光栅的截面形状为锯齿状,即在衍射元件103的一侧上排列的三角形呈凹凸形状的情况下,第一波长的光(波长为405nm)的2次衍射效率的波峰,几乎和第二波长的光(波长为650nm)以及第三波长的光(波长为780nm)的1次衍射效率的波峰所处的光栅深度相同。因此,对于第一波长的光(波长为405nm)、第二波长的光(波长为650nm)以及第三波长的光(波长为780nm),可以在单一的光检测器102A容易地检测出来。
因此,在利用来自衍射元件103的衍射光的本发明的光学拾取装置100,通过采用如图5A所示的锯齿状的衍射元件103,可对于第一波长的光、第二波长的光以及第三波长的光,在单一的光检测器102A容易地进行检测。
而且,在上述实施例中,将衍射元件103配置在光源101B和光路结合部104之间,不过也可以配置在光路结合部104和聚光部105之间,或在聚光部105的内部,或在聚光部105和光信息记录介质106之间,也可以得到同样的效果。
并且,虽然对光源101B和光检测器102是分开配置的,也可以将光源101B和光检测器102一体化,使用这样被一体化了的集成单元也可以得到同样的效果。图6A是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的斜视图。图6B是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的平面图。如图6A和图6B所示,在同一个半导体基板107上配置有:光检测器102(102A、102C以及102BD)、光源101B以及漫射光反射区域111。并且,从光源101B射出的第二波长的光121以及第三波长的光122由微型反光镜108反射后,以垂直方向向上射出。
综上所述,本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置100,使最短波长的第一波长的光和最长波长的第三波长的光的光轴一致。据此,可以将以往的3个光轴减少为2个光轴。因此,可以减少与聚光部105的中心偏离了的光轴数,从而可以提高光的利用效率。
并且,本发明的实施例1所涉及的光学拾取装置100具有漫射光反射区域111。据此,可以减少基板内漫射光(不使用光所发生的载体)的发生,该漫射光是不作为信号光来使用的第一波长的光的±1次衍射光,入射到光检测器102的半导体基板上而发生的,所述第一波长的光的±1次衍射光是由衍射元件103发生的。
并且,漫射光反射区域111由铝或金等金属构成。即,漫射光反射区域111是由半导体装置的制造(扩散)工艺中所普遍使用的材料构成的,因此,可以在不增加新的材料的条件下来实现漫射光反射区域111。
并且,光路结合部104具有根据第一波长(405nm)的光的偏振光方向来反射或透过第一波长的光的功能。据此,可以进一步提高光的利用效率。
并且,衍射元件103具有锯齿状的截面形状。据此,第一波长的光(波长为405nm)的2次衍射效率的波峰,和第二波长的光(波长为650nm)以及第三波长的光(波长为780nm)的1次衍射效率的波峰,所处的光栅深度几乎相同。因此,对于第一波长的光(波长为405nm)、第二波长的光(波长为650nm)以及第三波长的光(波长为780nm),可以在单一的光检测器102A检测出来。
(实施例2)
本发明的实施例2所涉及的光学拾取装置具有防止漫射光反射发生的反射防止区域。
图7是示出本发明的实施例2所涉及的光学拾取装置的概略构成图。而且,对与图2相同的要素赋予相同的符号,并省略其详细说明。
图7所示的光学拾取装置200对光信息记录介质106进行信息的记录、再生以及删除。光学拾取装置200包括:光源101A与101B;光检测器102A、102BD以及102C;衍射元件103;光路结合部104;聚光部105;以及漫射光反射区域112。
漫射光反射区域112形成在这样一个位置上,该位置是形成光检测器102的半导体基板上的第一波长的光的±1次折射光所照射的位置。反射防止区域112防止照射来的光入射到半导体基板上。反射防止区域112例如由氧化膜或/及氮化膜构成。反射防止区域112具有使(反射)漫射光不发生的功能,该(反射)漫射光是由光检测器102反射衍射元件103所发生的、不作为信号光来使用的第一波长的光的±1次衍射光。并且,反射防止区域112的正下方配置有光检测二极管,因此可以防止基板内漫射光(由不使用的光发生的载体)入射到用于信号检测的光检测器102A、102C或/及102BD,上述基板内漫射光是由第一波长的光的±1次衍射光入射到光检测器102的半导体基板上而发生的。
并且,构成反射防止区域112的氧化膜或/及氮化膜是在半导体装置的制造(扩散)工艺中普遍所使用的材料,因此可以不必增加新的材料。
图8A是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的立体图。图8B是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的平面图。如图8A和图8B所示,在半导体基板107上形成有:光检测器102(102A、102C以及102BD)、光源101B以及反射防止区域112。
(实施例3)
本发明的实施例3所涉及的光学拾取装置具有:接收第一波长的光的±1次衍射光的光检测器113。
图9是示出本发明的实施例3所涉及的光学拾取装置的概略构成图。而且,对与图2相同的要素赋予相同的符号,并省略详细说明。
图9中所示的光拾取装置300对光信息记录介质106进行信息的记录、再生以及删除。光学拾取装置300包括:光源101A与101B;光检测器102A、102BD以及102C;衍射元件103;光路结合部104;聚光部105;以及光检测器113。
光检测器113形成在这样一个位置上,该位置是形成光检测器102的半导体基板上的第一波长的光的±1次折射光入射的位置。光检测器113具有这样的功能,即接收由衍射元件103而发生的、不作为信号光来使用的第一波长的光的±1次衍射光,并检测作为信号光的光。例如,光检测器113具有第一波长的光的输出监视功能,可作为用于监视光输出的光检测器来使用。据此,可以减少配置在与光检测器102不同位置上的、用于监视第一波长的光的输出的光检测器,从而可以减少元件数量,所述光检测器在此未做图示。因此,可以使光拾取装置小型化。
图10A是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的斜视图。图10B是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的平面图。如图10A和图10B所示,在基板107上形成有:光检测器102(102A、102C以及102BD)、光源101B以及光检测器113。
(实施例4)
本发明的实施例4所涉及的光拾取装置具有光检测器114,该光检测器114具有输出来自信息记录介质的信号的功能。
图11是示出本发明的实施例4所涉及的光拾取装置的概略构成图。而且,对与图2相同的要素赋予相同的符号,并省略详细说明。
图11中所示的光拾取装置400对光信息记录介质106进行信息的记录、再生以及删除。光学拾取装置400包括:光源101A与101B;光检测器102A、102BD以及102C;衍射元件103;光路结合部104;聚光部105;以及光检测器114。
光检测器114形成在这样一个位置上,该位置是形成光检测器102的半导体基板上的第一波长的光的±1次折射光所照射的位置。光检测器114具有这样一个功能,即接收由衍射元件103而发生的、不作为上述实施例1及实施例2中的信号光来使用的第一波长的光的±1次衍射光,并检测作为信号光的光。即光检测器114具有输出来自光信息记录媒体106的信号的功能。因此,可以将第一波长的光的±1次衍射光作为来自光信息记录介质106的信号光来使用,从而能够进一步改善第一波长的光的利用效率。
并且,光检测器114也可以按照第一波长的光的±1次衍射光来分割。
图12A是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的立体图。图12B是将光源101B和光检测器102一体化了的集成单元的平面图。如图12A和图12B所示,在基板107上形成有:光检测器102(102A、102C以及102BD)、光源101B以及光检测器114。
本发明可以适用于光学拾取装置,尤其适用于对BD、(或HD-DVD)、DVD以及CD进行信息的记录、再生以及删除的光学拾取装置。
Claims (11)
1.一种光学拾取装置,对光信息记录介质至少进行信息的写入以及读出中的某一个,包括:
光源,发出第一、第二以及第三波长的光;
光路结合单元,使所述光源发出的所述第一、第二以及第三波长的光的行进方向相同,并使所述第一波长的光和所述第三波长的光的光轴一致;
聚光单元,将来自所述光路结合单元的光聚光到所述光信息记录介质;
衍射元件,将所述光信息记录介质所反射的所述第一、第二以及第三波长的光,分别向第一方向以及第二方向衍射;
第一光检测器,接改来自所述衍射元件的所述第一、第二以及第三波长的光的、所述第一方向的衍射光;
第二光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第一以及第三波长的光的、所述第二方向的衍射光;以及
第三光检测器,接收来自所述衍射元件的所述第二波长的光的、所述第二方向的衍射光。
2.如权利要求1所述的光学拾取装置,
所述第一光检测器接收:来自所述衍射元件的所述第一波长的光的+2次衍射光、所述第二波长的光的+1次衍射光、以及所述第三波长的光的+1次衍射光;
所述第二光检测器接收:来自所述衍射元件的所述第一波长的光的-2次衍射光,以及所述第三波长的光的-1次衍射光;
所述第三光检测器接收:来自所述衍射元件的所述第二波长的光的-1次衍射光。
3.如权利要求2所述的光学拾取装置,进一步包括漫射光反射单元,该漫射光反射单元形成在所述衍射元件所衍射的所述第一波长的光的±1次衍射光所照射的位置上,并反射照射来的光。
4.如权利要求3所述的光学拾取装置,所述漫射光反射单元由铝或金构成。
5.如权利要求2所述的光学拾取装置,
所述第一光检测器、所述第二光检测器以及所述第三光检测器形成在同一基板上;
所述光学拾取装置进一步包括反射防止单元,该反射防止单元形成在所述衍射元件所衍射的所述第一波长的光的±1次衍射光所照射的位置上,并防止照射来的光入射到所述基板上。
6.如权利要求2所述的光学拾取装置,进一步包括第四光检测器,该第四光检测器接收所述衍射元件所衍射的所述第一波长的光的±1次衍射光。
7.如权利要求6所述的光学拾取装置,所述第四光检测器用于对所述第一波长的光的输出进行监视。
8.如权利要求6所述的光学拾取装置,所述第四光检测器输出来自所述光信息记录介质的信号。
9.如权利要求1所述的光学拾取装置,所述第一波长的光为蓝色光,所述第二波长的光为红色光,所述第三波长的光为红外光。
10.如权利要求1所述的光学拾取装置,
所述光源包括第一光源和第二光源,所述第一光源发出所述第一波长的光;所述第二光源发出所述第二以及第三波长的光;
所述第二光源、所述第一光检测器、所述第二光检测器、以及所述第三光检测器配置在同一基板上。
11.如权利要求1所述的光学拾取装置,衍射元件的截面形状为锯齿状。
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