CN101055303A - 电子器件双轨检测设备中的器件校正设备及电子器件分类方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法,该方法包括:分别向形成在旋转的玻璃板上的多个轨道中调整电子器件的步骤;获得位于上述各个轨道中的电子器件的各个面的影像的步骤;微型机接收上述影像,将位于每个轨道中的电子器件分为不合格品、合格品、再检测器件等的步骤;以及位于玻璃板的最外侧轨道中的电子器件首先向对应的排出桶排出,位于玻璃板的最内侧轨道中的电子器件最后向对应的排出桶排出的步骤。从而,根据本发明可以准确地向对应的排出桶排出位于内侧以及外侧轨道中的电子器件。
Description
技术领域
本发明涉及一种可以大幅提高在相同的时间内所能检测到的电子器件数量的电子器件双轨检测设备中的使电子器件定位于圆形玻璃板的各个轨道中的器件校正(align)设备,以及向各自的排出桶有效地排出位于上述玻璃板上的内侧轨道和外侧轨道中的电子器件的电子器件分类方法。
背景技术
图1是用于说明通常的电子器件检测设备的框图,图2是实际体现图1框图的构成的电子器件检测设备的构成图。
图1和图2是对相同的结构采用相同的参考标号的一个检测设备,为了有助于理解,同时示出了以框图的形式示出的图1和以构成图的形式示出的图2。
图1以及图2所示的电子器件检测设备包括:储料器10,用于存储很多已成形的电子器件1,以便进行检测;送料装置20,通过振动作用移动由上述储料器10供给的电子器件1;线性送料装置30,其具有规定的长度,以便顺次供给由上述送料装置20供给的电子器件;旋转装置40,其由玻璃板构成,以便容易地检测由上述线性送料装置30供给的电子器件;校正装置50,用于将电子器件排列成一列,以便对随着上述旋转装置40旋转的电子器件进行正确的检测;拍摄装置60,用于拍摄由上述校正装置50调整的电子器件的各面的形状;编码器70,用于获取由上述拍摄装置60拍摄的电子器件的位置信息;微型机80,输入由上述拍摄装置60拍摄的影像信号和用于确认电子器件1的数量而自动检测的计数传感器(counter sensor)71和编码器70等的信号,并进行处理以及控制;控制装置90,根据上述微型机80的信号输出控制信号,且包括显示器以便确认电子器件的合格品以及不合格品的数量;以及喷嘴91、92,喷射压缩空气,以便根据上述控制装置90的信号,分类排出电子器件的合格品以及不合格品。如图所示,喷嘴91、92由连接管连接,从而空气可以流入喷嘴,且虽然未图示,在喷嘴91、92的连接管的另一侧终端连接有阀门。在这里,通过阀门的开/关,空气沿着连接管流入,且通过喷嘴91、92喷射。
并且,校正装置50包括:校正器51、52,具有相同的直径且以相同的速度旋转,以便将随着旋转装置40旋转的电子器件调整在正确的位置上;以及校正器53,直径小于校正器51、52,且速度快。
为了从四个面(前、后、上、下)对电子器件1进行拍摄,拍摄装置60沿旋转装置40的旋转方向分别设置在相隔规定距离的位置上,为了拍摄电子器件1的后面而形成后方照相机61,为了拍摄电子器件1的下面而形成底部照相机62,为了拍摄电子器件1的上面而形成顶部照相机63,为了拍摄电子器件1的前面而形成前方照相机64。
但是,如上所述的现有的电子器件检测装置在相同时间内所能检测到的电子器件的数量是有限的。
并且,为了正确地检测大量的电子器件,现有的电子器件检测装置需要在旋转的圆形板上正确地排列电子器件,但是,由于供给电子器件的线性送料装置的振动,很难正确的将电子器件放在旋转的圆形板上,从而存在很难正确调整电子器件的问题。
发明内容
为了解决上述的问题而提出本发明,本发明的目的在于提供一种电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,其在可以大幅提高在相同的时间内所能检测到的电子器件的数量从而可以提高工作效率电子器件双轨检测设备中,将电子器件定位于玻璃板上的各个轨道中,本发明还提供一种电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法,其将位于上述玻璃板的内侧轨道以及外测轨道中的电子器件向各自的排出桶排出。
为了实现上述目的,本发明提供一种电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,其上述电子器件双轨检测设备包括:送料装置,通过振动作用移动通过储料器供给的电子器件;两个以上的线性送料装置,其具有规定的长度,以便顺次供给由上述送料装置供给的电子器件;旋转装置,具有圆形玻璃状,使由上述每个线性送料装置供给的电子器件形成两个以上的轨道;校正装置,具有一次校正器,该一次校正器具有引导上述电子器件的通道,以便将放在上述玻璃板上的电子器件排列在用于检测的各个轨道上,使其成一列;以及拍摄装置,用于拍摄排列在各个轨道上的电子器件的各个面的形状,上述电子器件双轨检测设备中的器件校正设备的特征在于,上述一次校正器设置在与上述线性送料装置的另一端邻接的位置上;包括内侧引导件、外侧引导件以及形成在上述内侧引导件和外侧引导件之间的用于形成两个通道的固定引导件;在上述电子器件进入的通道入口处设置无振动支撑台,上述无振动支撑台与上述线性送料装置相隔规定的距离且与玻璃板相隔规定的距离,并且以规定的倾斜度位于上述线性送料装置的延长线上,从而使上述电子器件从线性送料装置掉到上述无振动支撑台上之后放在玻璃板上的轨道中。
并且,本发明的特征还在于,上述内侧引导件和外侧引导件可以向一个方向移动,从而可以调整上述通道的宽幅。
本发明的特征还在于,上述校正装置(校正设备)还包括二次校正器,用于再次调整由上述一次校正器调整的位于轨道中的电子器件中的因上述玻璃板的离心力而从轨道偏离的电子器件。
并且,本发明的特征在于,还包括用于测定所供给的电子器件的厚度的传感器,从而,根据上述电子器件的厚度,上述内侧引导件和外侧引导件朝一个方向移动,可以调整通道的宽幅。
并且,本发明的电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法包括:分别在形成在旋转的玻璃板上的多个轨道中调整电子器件;获得位于上述各个轨道中的电子器件的影像;微型机接收上述影像,将位于每个轨道中的电子器件分为不合格品、合格品、再检测产品等;以及向对应的排出桶排出位于玻璃板的最外侧轨道中的电子器件,最后,向对应的排出桶排出位于玻璃板的最内侧轨道中的电子器件。
此外,本发明在上述电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法中,还包括在向对应的排出桶排出位于内侧轨道的电子器件之前,判断位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道中是否还存在电子器件,如果位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道中没有电子器件,则向对应的排出桶排出内侧轨道中的电子器件。
在位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道中判断是否有电子器件的特征在于,在位于上述内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道的上部设置传感器,且由微型机接收上述传感器的输出信号,从而判断位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道中是否有电子器件。
因此,本发明提供上述的电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,从而电子器件可以准确地位于玻璃板上的对应的轨道中。因此可以由位于下一阶段的照相机简单地拍摄各个面的影像。
并且,本发明提供上述的双轨电子器件检测设备中的电子器件分类方法,从而可以准确地将位于内侧轨道以及外侧轨道上的电子器件排出到对应的排出桶中。
附图说明
图1是用于说明通常的电子器件检测设备的框图;
图2是实际体现图1的框图的结构的电子器件检测设备的构成图;
图3是用于说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的框图;
图4是用于说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的构成图;
图5是用于说明根据本发明实施例的电子器件检测方法的流程图;
图6是进一步放大根据本发明实施例的电子器件校正设备(装置)的平面图;
图7是进一步放大根据本发明实施例的电子器件校正设备(装置)中的一次校正器部分的截面图;
图8是示出根据本发明的电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法的流程图;
图9a以及图9b示出用于图4的电子器件双轨检测设备中的电子器件分类设备的立体图以及部分放大立体图。
图10是用于说明图9的分类装置的操作的框图。
具体实施方式
下面,参照附图详细说明根据本发明的优选实施例。
说明附图之前,首先说明现有电子器件检测设备和根据本发明的电子器件检测设备的不同点以及图示方式。
现有的电子器件检测装置在玻璃板上形成一个轨道,并且具有的线性送料装置、校正装置、拍摄装置以及分类装置的数量等也是一个,以此进行位于上述轨道中的电子器件的供给、校正、检测以及分类。
相反,在本发明中,在玻璃板上形成两个以上的轨道,优选为两个轨道,且与上述轨道的数量相对应,将上述线性送料装置、校正装置、拍摄装置、分类装置等设置为两个,从而对位于上述两个轨道中的每个电子器件进行检测。从而,相同时间内的电子器件检测效率可以成倍提高。
如上所述,在本发明中,在玻璃板上形成内侧轨道a和外侧轨道b等两条轨道。
从而,在本说明书中,与位于内侧轨道a中的电子器件2相关的设备的标号表示为:线性送料装置为212、通道为237、二次校正器是238、作为拍摄装置的照相机是241~246。
此外,与位于外侧轨道b上的电子器件2′相关的设备的标号表示为:线性送料装置是212′、通道是237′、二次校正器是238′、作为拍摄装置的照相机是241′~246′。
上述轨道是指,由线性送料装置供给的电子器件排列在玻璃板上,从而形成的假设的轨道。
图3是用于说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的框图,图4是用于说明根据本发明实施例的电子器件双轨检测设备的结构图。
如上所述,本发明的特征在于在玻璃板上形成两个以上的轨道,且具有与轨道的数量相同的线性送料装置、校正装置、拍摄装置、分类装置等,但是,在本说明书中主要说明具有两个上述装置和轨道的情况。
并且,上述的“双轨”并不只表示两个,还包括两个以上。
如图3以及图4所示,根据本发明的电子器件双轨检测设备是用于检测设置于半导体装备或者电子机械之前完成的电子器件的设备。
电子器件双轨检测设备大致包括送料装置210、线性送料装置212、212′、旋转装置220、校正装置230、230′、拍摄装置240、240′、分类装置250、250′、编码器260、以及微型机270。
如上面所述,本发明中的上述线性送料装置212、212′、校正装置230、230′、拍摄装置240、240′、分类装置250、250′等都设置成两个,对两个电子器件分别进行规定操作(例如,供给、校正、拍摄、分类等)。
上述送料装置210通过振动作用移动上述电子器件2、2′,上述电子器件是由储料器(未图示)供给,储料器中装有大量的电子器件,以检测上述电子器件2、2′。
相邻设置两个以上(优选为两个)的上述线性送料装置212、212′,且通过各自的线性送料装置将电子器件2、2′顺次放在具有玻璃板222的旋转装置220上(更加详细地说是玻璃板上的轨道)。
上述线性送料装置212、212′具有调整成符合电子器件2、2′的尺寸的线形槽,其一端与上述送料装置210连接,另一端位于上述玻璃板222上。
在上述玻璃板222上相隔一定距离放置有由上述线性送料装置212、212′供给的电子器件2、2′。也就是说,电子器件2通过第一线性送料装置212顺次放在玻璃板222上的内侧轨道a中,电子器件2′通过第二线性送料装置212′顺次放在玻璃板222上的外侧轨道b中。
上述玻璃板222是具有圆形形状的板,通过同步进电动机(未图示)等旋转装置旋转。上述电子器件2、2′分别设置在形成于上述玻璃板222上的轨道a、b中,且通过上述旋转装置旋转。
校正装置(校正设备)230、230′是为了拍摄(检测)上述电子器件2、2′,将电子器件2、2′向各自的轨道a、b调整的装置。
上述校正装置230、230′包括一次校正器232和二次校正器238、238′。即,第一校正装置230由一次校正器232和二次校正器238构成,第二校正装置230′是由一次校正器232和二次校正器238′构成。
上述电子器件2、2′经由上述一次校正器232和二次校正器238、238′,在上述玻璃板222上的对应的轨道中进行细微地调整。
即,上述一次校正器232设置在邻接于上述线性送料装置212的另一端的位置上,其包括内侧引导件234、外侧引导件234′以及为了形成两个通道237、237′而形成在内侧引导件234和外侧引导件234′之间的固定引导件235。并且,上述一次校正器232还包括固定支持上述引导件234、234′、235的框架(未图示)。
从而,上述电子器件2、2′在经由上述内侧引导件234、固定引导件235以及外侧引导件234′之间形成的通道237、237′的同时被调整。即,内侧轨道a中的电子器件2在经由形成在内侧引导件234和固定引导件235之间的通道237的同时被调整,外侧轨道b中的电子器件2′在经由形成在固定引导件235和外侧引导件234′之间的通道237′的同时被调整。
二次校正器238、238′是用于细微地调整因上述玻璃板222的离心力而向外侧偏离的电子器件2、2′的装置。
上述二次校正器238、238′包括中间突出的突起引导件(未图示)和支撑该突起引导件的框架(未图示),通过上述突起引导件的突起面实现电子器件的细微调整。
在图6以及图7中示出了上述校正装置(设备),从而在这里省略对其的详细说明。
拍摄装置240、240′是用于拍摄通过上述校正装置230、230′在各个轨道中调整的电子器件2、2′的6个面(包括4个面)的形状的装置。
第一拍摄装置240由第一侧面照相机241、第二侧面照相机242、顶部照相机243、后方照相机244、底部照相机245、前方照相机246构成,第二拍摄装置240′由第一侧面照相机241′、第二侧面照相机242′、顶部照相机243′、后方照相机244′、底部照相机245′、前方照相机246′构成,且这些照相机分别相隔规定的距离,设置在玻璃板222的旋转方向上。
在本发明中,并不特别限定上述照相机的数量以及各个照相机的位置。即,照相机的数量可以是4个或者6个。也就是说,可以如同2002年12月28日授权的专利(专利号:10-367863,发明名称:使用视觉系统的电子器件检测方法)一样,具有4个照相机,也可以如同2004年10月22日公开的专利(公开号:10-2004-89798,发明名称:使用连续获得的影像的电子器件检测设备以及方法)一样,具有6个照相机。
并且,照相机可以按照第一侧面照相机、第二侧面照相机、后方照相机、底部照相机、顶部照相机、前方照相机的顺序设置,也可以按照顶部照相机241、241′、底部照相机242、242′、后方照相机243、243′、前方照相机244、244′、第一侧面照相机245、245′、第二侧面照相机246、246′的顺序设置。
在这里,标号214是指拍摄位于内侧轨道a上的电子器件2的上部的照相机,214′是指拍摄位于外侧轨道b上的电子器件2′的上部的照相机。同样,标号215是指拍摄位于内侧轨道a上的电子器件2的下部的照相机,215′是指拍摄位于外侧轨道b上的电子器件2′的下部的照相机。
为了正确地拍摄上述电子器件2、2′,在上述照相机中分别形成有具有照明功能的卤素电灯(未图示),为了容易地拍摄上述电子器件2、2′的面,在与上述照相机相对的部分分别形成反射镜(未图示)。
另一方面,在本发明中,在上述拍摄装置240、240′和校正装置230、230′之间,优选在上述二次校正器238、238′的侧面设置触发传感器(trigger sensor)262、262′。
上述触发传感器262、262′检测电子器件2、2′,且将其信息提供给微型机270。
上述编码器260是用于获取由后述的拍摄装置240、240′拍摄的电子器件2、2′的位置信息的。
上述微型机270是用于输入由上述拍摄装置240、240′拍摄的影像信号和为了确认上述电子器件的数量而检测的计数传感器274、274′和上述编码器260等的信号,并进行处理以及控制的装置。
上述控制装置272包括显示器,以便可以根据上述微型机270的信号输出用于控制喷嘴的信号,且确认上述电子器件的合格品以及不合格品的数量。
优选地,设置与各自轨道数量一致的分类装置250、250′。
上述分类装置250、250′包括通过控制装置272而喷射压缩空气的喷嘴252b、254b、256b、252b′、254b′、256b′、以及装入因上述喷嘴喷射的压缩空气而弹出来的电子器件的排出桶252a、254a、256a、252a′、254a′、256a′。
在本发明中,用于装入内侧轨道a上的电子器件2的排出桶252a、254a、256a和用于装入外侧轨道b上的电子器件2′的排出桶252a′、254a′、256a′之间优选相隔规定的距离。
并且,优选地,用于盛装内侧轨道或者外侧轨道上的电子器件的排出桶之间同样相隔规定的距离。
上述分类装置250、250′根据上述控制装置272的信号将上述电子器件分别分类为再检测品和不合格品以及合格品,并向各自的排出桶252a、254a、256a、252a′、254a′、256a′排出。尤其是,优选设置多个用于不合格品的排出桶,以便根据不合格品的类型进行不同的分类。
此外,在本发明中,优选地,首先向对应的排出桶252a′、254a′、256a′排出分类成再检测品、不合格品以及合格品等的外侧轨道b上的电子器件2′,之后,再向对应的排出桶252a、254a、256a排出分类成再检测品、不合格品以及合格品等的内侧轨道a上的电子器件2。
图1中,粗箭头表示上述电子器件2、2′的移动路线,细箭头表示信号的传输。
图5是用于说明根据本发明实施例的电子器件检测方法的流程图。
参照图3至图5所示,本发明首先在上述储料器(未图示)中装有大量的电子器件2、2′,之后开启提供电源的开关(未图示)、按下实施作业的开始按钮(未图示),从而开始作业(S101)。
这时,装在上述储料器中的电子器件2、2′通过上述送料装置210移动,通过位于上述送料装置210的上端部的传感器判断上述送料装置210中的电子器件2、2′的数量未到规定的数量,则通过上述储料器供给,否则不供给。(S102~S104)
上述送料装置210对上述电子器件2、2′施加振动作用的同时进行旋转,从而将上述电子器件2、2′分别提供给第一、第二线性送料装置212、212′(S105),由于上述线性送料装置212、212′被调整为符合上述电子器件2、2′的尺寸,所以通过上述线性送料装置212、212′供给的电子器件顺次被供给到上述玻璃板222上(S106)。
通过上述线性送料装置212、212′供给的电子器件2、2′以放在由玻璃板222构成的旋转装置220的上部的状态下旋转。
通过上述旋转装置220旋转的电子器件2、2′被第一、第二校正装置230、230′一列地排列在用于检测的轨道a、b上(S107)。
进一步详细地说明校正过程,上述电子器件2、2′在经由上述一次校正器232的通道237、237′的同时被调整,并且进入用于拍摄的轨道a、b中。之后,紧接着,由二次校正器238、238′的突起引导件的引导面再次细微地调整。
从而,由上述一次校正器232和二次校正器238、238′调整的电子器件2、2′与玻璃板222一起旋转,且由触发传感器262、262′确认该电子器件(S108)。
之后,由设置在各轨道上的6个241~246、241′~246′照相机分别拍摄电子器件的各个面(6个面)(S109)。此时,由上述照相机拍摄到的信息供给给连接在上述微型机270的影像处理板(S110)。
微型机270对上述影像信息进行分析,判断电子器件为合格品、或不合格品、或是需要再次检测的器件(S111)。
并且,上述编码器260接收来自上述触发传感器262、262′的信号,确认由上述拍摄装置240、240′拍摄的电子器件2、2′的位置信息(S112),且将该信息输送给微型机270(S113)。
上述微型机270根据电子器件的检测结果和该电子器件的位置信息,向上述控制装置272输送信号(S114)。
上述控制装置根据该控制信号控制喷嘴252b、254b、256b、252b′、254b′、256b′(S115)。即,在是需要再次检测的器件的情况下,当再检测器件位于再检测器件喷嘴252b、252b′的前面时,通过喷嘴喷射空气,从而将该电子器件向再检测器件排出桶254a、254a′排出。此外,合格品的情况和不合格品的情况也以相同的方法分类(S116)。
在本发明中,优选地,首先向对应的排出桶252a、254a、256a排出位于外侧轨道b中的电子器件2′,之后,向对应的排出桶252a′、254a′、256a′排出位于内侧轨道a上的电子器件2。
确定是否反复进行这样的检测过程(S117),决定是否结束。
另一方面,上述计数传感器274检测由于喷嘴256b工作而向用于合格品的排出桶256a排出的电子器件的数量,该喷嘴256b受到控制装置272的控制喷射空气,该控制装置272接收来自上述微型机270的、排出上述电子器件2、2′中的合格品的输出信号。
上述微型机270形成在用户可以容易操作的位置,可以通过显示上述微型机270的内容的显示器276直接确认由上述拍摄装置240、240′拍摄的影像。
并且,通过上述控制装置用户可以容易地确认上述电子器件2、2′的合格品以及不合格品的数量和比率。
并且,可以通过上述控制装置272的信号分别驱动上述喷嘴252b、254b、256b、252b′、254b′、256b′,从而可以向各自的排出桶排出上述电子器件2、2′的合格品、不合格品、再检测器件。
上述的电子器件2、2′是指微小单位的超小型器件,例如MLCC(Multi Layer Ceramic Capacitor:多层陶瓷电容器)芯片或者贴片电阻(chip resistor)、变阻器(varistor)、贴片电感器(chip inductor)、芯片阵列(chip array)等,上述结构中,旋转动作是通过发动机的驱动实现,所以在此省略详细的说明。
并且,上述电子器件2、2′的检测是可以同时进行破损(破碎)、裂缝(crack)、电极露出、被夹、外部电极伸展、外部电极破损、没有电极、电极过大、电极短路、电极脱离、误切断、尺寸不良、爆裂、切割不良、针眼、异物、外部电极发生气泡、电极翘起、外部电极变色、厚度不良、以及电镀不良等项目。
图6是进一步放大根据本发明实施例的电子器件校正设备(装置)的俯视图,图7是进一步放大本发明实施例的电子器件校正设备(装置)中的一次校正器部分的截面图。
如图6以及图7所示,本发明具有向形成在玻璃板222上的内侧轨道a以及外侧轨道b分别调整由两个线性送料装置供给的电子器件2、2′的装置(校正装置、校正设备)。
如上所述,将电子器件定位于玻璃板上的轨道中的目的在于通过位于规定位置的照相机简单地获得上述电子器件的6个面的影像。
校正装置(设备)大致由一次校正器232和二次校正器238、238′组成。
即,第一校正装置230由一次校正器232和二次校正器238构成,第二校正装置230′由一次校正器232和二次校正器238′构成。
上述一次校正器232设置在与上述线性送料装置212、212′的另一端邻接的位置处。
为了形成两个通道,上述一次校正器232设置3个引导件。即,上述一次校正器232包括内侧引导件234、外侧引导件234′以及固定引导件235。并且,上述一次校正器232还包括固定支持上述引导件234、234′、235的框架(未图示)。
从而,上述电子器件2、2′在经由形成在上述内侧引导件234、固定引导件235以及外侧引导件234′之间的通道237、237′的同时被调整。即,位于内侧轨道a中的电子器件2在经由形成在内侧引导件234和固定引导件235之间的通道237的同时被调整,位于外侧轨道b中的电子器件2′在经由形成在固定引导件235和外侧引导件234′之间的通道237′的同时被调整。进一步详细地说明,电子器件2、2′在经由内侧引导件的外侧引导面234a和固定引导件的内侧引导面235a之间的通道237、在固定引导件的外侧引导面235a′和外侧引导件的内侧引导面234a′之间的通道237′时被调整一次。
并且,在本发明中,在上述电子器件进入的通道中还设置无振动支撑台236、236′。
上述无振动支撑台236、236′与上述线性送料装置212、212′相隔规定的距离,与玻璃板也相隔规定的距离。
并且,上述无振动支撑台236、236′具有规定的倾斜度,且位于上述线性送料装置212、212′的延长线上。
设置上述无振动支撑台236、236′的理由如下所示。
即,由于送料装置的振动作用,线性送料装置212、212′也振动,从而很难将位于线性送料装置212、212′上的电子器件准确地排出到通道中。
因此,在本发明中,在电子器件进入的通道入口处设置无振动支撑台。
从而,在本发明中,位于上述线性送料装置212、212′中的电子器件首先落在上述无振动支撑台236、236′上,之后,放在玻璃板上的轨道中,所以可以安全且准确地将上述电子器件排出到通道中。
并且,在本发明中,优选地,上述的内侧引导件234和外侧引导件234′可以沿一个方向移动。即,由于上述内侧引导件234可以沿玻璃板222的内侧方向移动,上述外侧引导件234′可以沿玻璃板222的外侧方向移动,从而可以调整上述通道237、237′的宽幅。
上述的调整通道的宽幅的方法可以通过多种检测方式实现。
作为上述检测方式的一例:在线性送料装置的侧面设置超声波传感器等,测量通过的电子器件2、2′的厚度。根据上述电子器件的厚度,使上述内侧引导件234和外侧引导件234′沿一个方向移动,从而可以调整电子器件经由的通道237、237′的宽幅。
此外,在本发明中,优选地,设计使上述电子器件2、2′容易地流入对应的通道237、237′的通道入口。
如上面所述,在根据本发明的电子器件双轨检测设备的器件校正设备中采用无振动支撑台,从而使电子器件准确地位于玻璃板上的对应轨道中。但是,上述无振动支撑台不仅可以适用于电子器件双轨检测设备,同样可以适用于形成有单一轨道的电子器件检测设备。
另一方面,即使通过上述一次校正器232调整电子器件2、2′,但是,在电子器件2、2′中一时存在由上述玻璃板222的离心力引起的向外偏离的力。为此,设置有二次校正器238、238′,以细微地调整由于上述玻璃板222的离心力而向外偏离的电子器件2、2′。
上述二次校正器238、238′包括中间突起的突起引导件238a、238a′以及设置该突起引导件的框架238b、238b′。
优选地,上述突起引导件238a、238a′的前端位于电子器件的轨道a、b外侧,中间突起的部分使电子器件位于轨道a、b上。
在本发明中,对将电子器件向上述的玻璃板上的轨道中调整的方式或者校正器的数量没有特别的限定。
图8是示出根据本发明的电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法的流程图。
参照图3、图4以及图8说明电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法,如下:利用送料装置210、线性送料装置212、212′、旋转装置220、以及校正装置230、230′,分别向形成在玻璃板222上的内侧轨道a以及外侧轨道b中调整电子器件2、2′(S201)。
之后,在本发明中,利用拍摄装置240、240′获得位于内侧轨道a以及外侧轨道b上的电子器件2、2′的各个面的影像(S202)。
所获得的上述影像输送给微型机270,上述微型机270中接收上述影像后分类为不合格品、合格品以及再检测器件等(S203)。
之后,在本发明中,向对应的排出桶排出在步骤203中分成的不合格品、合格品、再检测器件等的、位于外侧轨道b上的电子器件2′(S204)。
即,向用于不合格品的排出桶252a′排出位于外侧轨道b的不合格的电子器件,向用于合格品的排出桶254a′排出位于外侧轨道b上的合格的电子器件,向用于再检测器件的排出桶256a′排出位于外侧轨道b上的再检测电子器件。
如上所述,在本发明中,向对应的排出桶排出位于外侧轨道b上的电子器件2′之后,向对应的排出桶排出位于内侧轨道a上的电子器件2(S206)。
即,向不合格品用排出桶252a排出位于内侧轨道a上的不合格的电子器件,向合格品用排出桶254a排出位于内侧轨道a上的合格的电子器件,向再检测器件用排出桶256a排出位于内侧轨道a上的再检测电子器件。
由于机械的错误动作等原因,有可能在位于内侧轨道a和对应的排出桶252a、254a、256a之间的外侧轨道b中存在电子器件2′。
因此,在本发明中,在向对应的排出桶排出位于内侧轨道a上的电子器件2之前,判断在位于内侧轨道a和对应的排出桶之间的外侧轨道b上是否还存在电子器件2′(S205)。
可以在位于上述内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道上部设置传感器,且使微型机接收上述传感器的输出信号,从而可以判断位于上述内侧轨道a和对应的排出桶之间的外侧轨道b上是否存在电子器件2′。
上述传感器例如超音波传感器等,在本发明中不仅可以通过上述传感器,还可以通过照相机判断是否存在电子器件。
如果在位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道上仍然存在电子器件,则需要进行停止系统等后续措施(S207),当上述外侧轨道上没有电子器件时,向对应的排出桶排出位于内侧轨道上的电子器件(S206)。
其次,详细说明上述电子器件分类装置(分类设备)。
图9a以及图9b是示出图4的电子器件双轨检测设备中的电子器件分类设备的立体图以及部分放大图,图10是用于说明图9的分类装置的操作的框图。
如上面所述,分类装置250、250′包括受到控制装置(或称“阀门控制部”)272的控制喷射压缩空气的喷嘴252b、254b、256b、252b′、254b′、256b′、以及用于装入因上述的喷嘴喷射的压缩空气而弹出的电子器件的排出桶252a、254a、256a、252a′、254a′、256a′。
在本发明中,优选地,用于装入位于内侧轨道a上的电子器件2的排出桶252a、254a、256a和用于装入位于外侧轨道b上的电子器件2′的排出桶252a′、254a′、256a′之间相隔一定的距离。
并且,优选地,用于装入位于内侧或者外侧轨道中的电子器件的排出桶之间也相隔一定的距离。
因此,在本发明中,优选地,首先向对应的排出桶252a′、254a′、256a′排出位于外侧轨道b上的电子器件2′,之后,向对应的排出桶252a、254a、256a排出位于内侧轨道a上的电子器件2。
并且,每个喷嘴252b、254b、256b上形成用于喷射压缩空气的两个阀门252c、252d、256c、256d。
以合格品用排出桶256a为例进行说明,则合格品用排出桶256a具有喷射压缩空气的喷嘴256b,以及控制喷嘴喷射压缩空气的两个阀门256c、256d。
当合格的电子器件2到达合格品用排出桶256a前面时,两个阀门256c、256d开启/关闭,以便可以交替地产生压缩空气。参照图7说明该结构,其动作参照图10的框图进行说明。
图9a示出了合格品用排出桶256a。如图所示,其具有用于向合格品用排出桶256a的电子器件2喷入压缩空气的喷嘴256b,还具有连接于喷嘴256b的两个阀门256c、256d。如图9b所示,通过空气供给口供给空气,两个阀门256c、256d交替地通过喷嘴256b产生压缩空气。参照图8说明此时的阀门256c、256d的控制状态。
参照10,在图4的拍摄装置240和校正装置230之间设置触发传感器,用于检测电子器件2且将其信息提供给微型机270。
编码器260是用于确认由拍摄装置240拍摄的电子器件的位置信息的。
微型机270输入由图4的拍摄装置240拍摄到的影像信号和用于确认电子器件的数量和检测其位置的触发传感器和编码器260等的信号,进行处理以及控制。受到编码器260和微型机270这样的的控制,阀门控制部280开启/关闭第一阀门256c和第二阀门256d。
通过第一或第二阀门中关闭的阀门流入的压缩空气通过合格品喷嘴256b排出。
每当流入合格的电子器件2时,阀门控制部280交替开启/关闭第一阀门和第二阀门。
这样,可以持续地向喷嘴供给压缩空气,从而可以快速地向排出桶排出电子器件2。此外,通过这样的压缩空气,可以向合格品用排出桶256a流入合格的电子器件2。此处,根据编码器260和微型机270的控制信号向合格品用排出桶256a排出电子器件2,该产生控制信号的技术已在同一申请人提交的在先专利中详细公开,所以在这里省略说明。即,在该原实施例中的电子器件设备在为了向各个排出桶排出电子器件2而喷射压缩空气的喷嘴上设置两个阀门,从而使应答速度变快。
如上所述,参照本发明的优选实施例进行了说明,但是,对于本领域技术人员,在不脱离权利要求中记载的本发明的思想和原则的范围内,本发明可以有多种变更以及修改。
附图标记
210、210:送料装置 212、212′:线性送料装置
220:旋转装置 230:校正装置(校正设备)
232:一次校正器 238:二次校正器
240、240′:拍摄装置 250:分类装置(分类设备)
260:第一、第二编码器 270:微型机
Claims (8)
1.一种电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,所述电子器件双轨检测设备包括:
送料装置,通过振动作用移动通过储料器供给的电子器件;
两个以上的线性送料装置,其具有规定的长度,以便顺次供给由所述送料装置供给的电子器件;
旋转装置,为圆形玻璃状,放置有由每个所述线性送料装置供给的电子器件,所述电子器件形成两个以上的轨道;
校正装置,包括一次校正器,所述一次校正器具有引导所述电子器件的通道,用于将放在所述玻璃板上的电子器件调整到用于检测的各个轨道中,使所述电子器件排成一列;
以及拍摄装置,用于拍摄调整在各个轨道中的电子器件的各个面的形状,所述电子器件双轨检测设备中的器件校正设备的特征在于,
所述一次校正器设置在与所述线性送料装置的另一端相邻的位置上;
所述一次校正器包括内侧引导件、外侧引导件以及形成在所述内侧引导件和外侧引导件之间的用于形成两个通道的固定引导件;
在所述电子器件进入的通道入口设置无振动支撑台,所述无振动支撑台与所述线性送料装置相隔规定的距离且与玻璃板相隔规定的距离,并且以规定的倾斜度位于所述线性送料装置的延长线上,从而所述电子器件从线性送料装置落到所述无振动支撑台上,之后,放置在玻璃板上的轨道中。
2.根据权利要求1所述的电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,其特征在于,所述内侧引导件和外侧引导件可以沿一个方向移动,从而可以调整所述通道的宽幅。
3.根据权利要求1或2所述的电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,其特征在于,所述校正装置还包括二次校正器,用于再次调整由所述一次校正器调整到位于轨道中的电子器件中的因所述玻璃板的离心力而从轨道偏离的电子器件。
4.根据权利要求2所述的电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,其特征在于,还包括用于测定所供给的电子器件的厚度的传感器,从而根据所述电子器件的厚度,所述内侧引导件和外侧引导件沿一个方向移动,从而可以调整通道的宽幅。
5.一种电子器件双轨检测设备中的器件校正设备,所述电子器件双轨检测设备包括:
送料装置,通过振动作用移动由储料器供给的电子器件;
线性送料装置,其具有规定的长度,以便顺次供给由所述送料装置供给的电子器件;
旋转装置,具有圆形玻璃状,排列由所述线性送料装置供给的电子器件,使其形成轨道;
校正装置,包括一次校正器,所述一次校正器具有引导所述电子器件的通道,用于将放置在所述玻璃板上的电子器件调整到用于检测的各个轨道中,使其成一列;
以及拍摄装置,用于拍摄被调整到各个轨道中的电子器件的各个面的形状,所述电子器件双轨检测设备中的器件校正设备的特征在于,
所述一次校正器设置在与所述线性送料装置的另一端相邻的位置上;
所述一次校正器具有用于电子器件进入的通道;
在所述电子器件进入的通道入口设置无振动支撑台,所述无振动支撑台与所述线性送料装置相隔规定的距离且与玻璃板相隔规定的距离,并且以规定的倾斜度位于所述线性送料装置的延长线上,从而所述电子器件从线性送料装置落到所述无振动支撑台上之后,放在玻璃板上的轨道中。
6.一种电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法,其包括:
分别在形成在旋转的玻璃板上的多个轨道中调整电子器件的步骤;
获得位于所述各个轨道中的电子器件的各个面的影像的步骤;
微型机接收所述影像,将位于每个轨道中的电子器件分为不合格品、合格品、再检测器件等的步骤;以及
位于玻璃板的最外侧轨道中的电子器件首先向对应的排出桶排出,位于玻璃板的最内侧轨道中的电子器件最后向对应的排出桶排出的步骤。
7.根据权利要求6所述的电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法,其特征在于,还包括,在向对应的排出桶排出位于内侧轨道中的电子器件之前,判断位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道中是否存在电子器件的步骤;
当位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道中没有电子器件时,向对应的排出桶排出内侧轨道中的电子器件。
8.根据权利要求7所述的电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法,其特征在于,在位于所述内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道的上部设置传感器,且由微型机接收所述传感器的输出信号,从而判断位于内侧轨道和对应的排出桶之间的外侧轨道中是否有电子器件。
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