发明内容
本发明的内容为一种微间隙环型铁芯制造程序,包含工艺中所用的工法与工治具、机构设备与经由此制造程序所生产的微间隙环型铁芯。
本发明为一新开发的工艺,目的在将具有所需求特性的微间隙环型铁芯制造出来,进入本制造程序前的传统环型铁芯仍是依照传统工艺:制粉->成型->烧结所产生,然后再依新开发的工艺:剖Core->涂胶->复合->烘烤->测试,生产出所需要的微间隙环型铁芯,此工艺兹详述如下:
(1)剖环型铁芯(Core)
此工艺可用人工来完成,但产能与品质均低,因此开发新的机构治具来完成此工艺,如图1与图2(a)、(b)所示,操作人员先将环型铁芯(Core)排放于治具上,再将治具安装于机构上,于Core表面中心线划上剖开线,再操作机构剖开Core,此种方式产能与品质均大幅提升,良率可达9成以上。
(2)涂胶
原Core剖成两半,置于承载纸板同一格内,以避免与其它Core相混,再以特别选择的胶用涂胶棒涂上其中半圆Core,再将两半圆Core胶合。此为人工胶合工艺。
(3)复合
如上述的人工胶合工艺,但胶合的程度关系到微间隙的厚度与后续的电性,因此胶合后的Core仍需施以一定的压力,为此特别开发一治具盘如图3以承载Core并进入下一烘烤工艺。
(4)烘烤
烘烤目的在于使胶硬化,增加结合力与机械性质,而产品的特性才能呈现。烘烤的温度与时间是需控制的参数,与最终结合力以及电性有关。
经由此特殊工艺所制造出来的产品特性,可由外观机械特性与电性来描述:
(1)外观
如图4所描绘,外形如一般环形铁芯,但为两半所胶合,因此会有两道胶合间隙,此产品并不讲求两胶合半圆Core在尺寸重量上的相等与对称,重点在胶合间隙愈小愈好,因此必需以发明工艺将原Core剖开再以原剖开面胶合,且施以一定压力进入烘烤,方可得到“微间隙胶合”的外观特性。
(2)机械特性
此产品最终仍会装置在电路板上,因此会经过冷热交替的后续工艺(如涂装与过锡炉),而在包装运送过程中Core会受到挤压,撞击等外力作用,因此其机械特性主要是能够承受冷热冲击与破坏试验。
冷热冲击实验的条件如下:(产品尺寸为外径6mm,内径3mm,厚3mm)高温140℃、低温-40℃,以高温30min、低温30min为一个循环连续测试14小时,用手用力扳仍不会有脱落情形。做环型Core的耐压实验,其结果为:在20kg/cm2时Core产生破坏,但破裂处非胶合面。
(3)电性
此产品具有耐DC-Bias、温度分布感值稳定与低损失的特性,可运用在许多需要此类特性的电子装置上面,其特性如图5与图6所示。
具体实施方式
有关本发明为上述的目的,所采用的技术手段及其余功效,兹举实施例,并配合附图加以说明:
1、所采用的环型铁芯概述
(1)尺寸:外径(OD)=6.0m/m
内径(ID)=3.0m/m
厚度(T)=3.0m/m
(2)原Core的特性说明:详表1产品规格表
表1原环型铁芯规格表
产品名称:A101T6
*3
*3
尺寸规格 |
高导磁率材质 |
测试条件 |
外径6±0.3 |
A101 μi=10000±30% |
Vb:1mA/1Sec |
内径3±0.3 | |
25±3℃ |
厚度3±0.2 | |
10KHz 50V0.50Wire 1turns |
(3)所用原材料特性:详表2原环型铁芯材质表
表2原环型铁芯材质表
项目 |
符号 |
单位 |
测试条件 |
A101材质 |
初导磁率 |
μi | |
10KHz <0.1mT 25℃ |
10000±30% |
磁损因素 |
tan/μi |
*10-6 |
10KHz <0.1mT 25℃100KHz <0.1mT 25℃ |
<10<90 |
饱和磁通密度 |
Bms |
mT |
10KHz H=1200A/m 25℃10KHz H=1200A/m 100℃ |
400220 |
残留磁通密度 |
Brms |
mT |
10KHz H=1200A/m 25℃10KHz H=1200A/m 100℃ |
175125 |
温度因子 |
αF |
*10-6 |
10KHz <0.1mT 0~20℃10KHz <0.1mT 20~70℃ |
-1~1-1~1 |
磁滞常数 |
ηB |
*10-6/mT |
10KHz 1.5~3.0mT 25℃ |
1.4 |
非调因子 |
DF |
*10-6 |
10KHz <0.1mT 25℃ |
<2 |
居礼温度 |
Tc |
℃ | |
>130 |
阻抗 |
ρ |
Ωm | |
0.15 |
密度 |
d |
g/cm3 | |
4.9 |
(4)原Core的产生方式:此传统Core先命名为T6*3*3,其产生的方式依传统的方式工艺为制粉、成型与烧结,兹概述如下:
制粉工艺:原粉混合、造丸与煅烧、粉碎与添加、均质化、喷雾造粒、拌粉、检验;
成型工艺:模具组装、成型、排列、检验;
烧结工艺:待烧品上炉、烧结、烧成品下炉、检验;
2、本发明工艺(微米间隙环型铁芯工艺)的实施方式:
(1)剖Core工艺
I.将原Core T6*3*3置于承载治具,此承载治具仍依原Core尺寸而设计,一次可操作10Pcs。
II.将已承载原Core的治具置于半自动剖Core机构上,此机构仍依杠杆原理设计,如用人工剖Core将须费大量人力,成本过高。
III.使用钻石或钨钢划线笔于承载治具上的Core划线,此线为Core结晶剖开线,其原理同玻璃与陶瓷的切割。
IV.操作剖Core机构的气动装置将Core剖开,解除气动装置将Core复合。
(2)涂胶工艺
I.将剖完Core后的承载治具由剖Core机构上取下,并将Core一颗颗取下并分别置于多格纸板上,其目的为使原Core的两半胶合。
II.将每一格的半Core用涂胶棒涂上适量的胶。
III.胶的选用:材质为环氧树脂黏着剂(Epoxy胶),能耐250℃以上高温,黑色,固结后机械强度增加,能够符合冷热冲击试验与机械强度试验的需求,电性测试亦符合规格。
(3)复合工艺
I.涂完胶后,即行原两半Core的复合,并置于烘烤治具盘内。
II.复合Core必须施以一定的压力进行烘烤,才可使胶的结合力达到要求,所以治具盘的设计用弹簧力且考虑施力的一致性。
(4)烘烤工艺
I.将已置放Core的治具盘于入烤箱烘烤。
II.烘烤条件:温度120℃,2小时。
III.烘烤完成后取出治具与Core,即完成本发明的产品。
3、由上述工艺所得产品仍要经过测试才可得知电性是否符合需求,所求得的各曲线如图5与图6;图5表示在偏压直流电流下电感值的变化,在300mA下仍有100μH以上;图6表示在-40℃~130℃的温度分布区间电感值仍保持稳定;但因此种需加DC-Dias的环型Core均要绕线几十圈来测试,因此在检验的简化上是很重要的问题。产品是不可能做到良率百分之一百,因此全检成为一种需要,但若要绕多圈全检在量产实务上是不可能达到的,所以必须以单圈绕线来仿真多圈绕线,最后以原Core(未绕线)来仿真多圈绕线,如此则可以用感值分类机来做全检动作。所以在测试工艺上必须求得原Core于单圈绕线与微间隙环型铁芯多圈绕线曲线的关系,以设定分类机来做全检动作。
4、本发明工艺所用机构治具如下:
图1:剖Core承载治具
此治具由两半组件组合而成,组合面左右各用1个销定位,且接合处嵌入强力磁铁使组合后仍能保持一定的结合力量。将Core置入圆槽中,此圆槽的尺寸必须配合产品的外径,治具上面上下各有一片滑板,可向中间靠拢,因而压住且固定住Core,两滑板之间仍保留适当缝隙,以供钻石笔或钨钢笔在Core上面划线。治具的底部亦留有缝隙以便剖Core机构上的上顶板能压住Core,形成剖Core时的支撑,此治具加工制造时须注意几个点:
A、结合销的设计有定位功能且不能干涉剖Core动作
B、嵌入强力磁铁使组合更易定位且Core亦较能固定
C、置Core圆槽须做热处理以避免磨损
图2(a)、(b):剖Core机构
此机构由两对称的部份组合而成,两侧下方为气压缸加上肘节,上方接合一平台,两对称平台水平时中间的空槽为剖Core承载治具所置入,机构的中间为顶板与其支撑板,两半平台上方各装设两组旋钮以用来固定承载治具,激活气动开关以气压缸收回做剖Core动作,解除气动开关,气压缸顶出回复水平状态,此机构加工制造时须注意几个点:
A、气压缸需选用适当出力与行程的单轴缸
B、顶板材质须做热处理以增加硬度与勒性
C、考虑组合精度使剖Core与复合不致于伤到Core
图3:烘烤治具盘
此治具盘共可承载60颗Core,每15颗为一组(排),每一颗的结构均为弹簧+顶销+置Core槽,每一排两侧有组合螺栓,将两螺丝拴松开即可将Core取出。将Core置入槽内,逐渐锁紧螺栓,可调整到所需要的压力。
此治具盘加工制造时须注意几个点:
A、弹簧线径依所需要的压力选用
B、承载板表面与槽面须做电镀以求表面光滑,可容易去除残胶
C、须考虑组合精度,使每一Core可受到均匀的弹簧压力。
以上公开的仅为本发明的个别具体实施例,但本发明并非局限于此,任何本领域的技术人员能思之的变化,都应落在本发明的保护范围内。