CN101007309A - 一种片式电感器的筛选方法 - Google Patents

一种片式电感器的筛选方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101007309A
CN101007309A CN 200610033453 CN200610033453A CN101007309A CN 101007309 A CN101007309 A CN 101007309A CN 200610033453 CN200610033453 CN 200610033453 CN 200610033453 A CN200610033453 A CN 200610033453A CN 101007309 A CN101007309 A CN 101007309A
Authority
CN
China
Prior art keywords
temperature
chip inductor
inductor
recovery
storage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN 200610033453
Other languages
English (en)
Other versions
CN101007309B (zh
Inventor
丁晓鸿
谢蕴芬
肖纤
王胜刚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Zhenhua Ferrite and Ceramic Electronics Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Zhenhua Ferrite and Ceramic Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Zhenhua Ferrite and Ceramic Electronics Co Ltd filed Critical Shenzhen Zhenhua Ferrite and Ceramic Electronics Co Ltd
Priority to CN200610033453XA priority Critical patent/CN101007309B/zh
Publication of CN101007309A publication Critical patent/CN101007309A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101007309B publication Critical patent/CN101007309B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本发明涉及一种片式电感器的筛选方法，包括如下步骤：A、准备，将片式电感器放入金属装载盘中，并预热高温试验箱、负温试验箱；B、低温贮存，将装好片式电感器的装载盘放入负温试验箱，保持若干小时；C、第一次恢复，将片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；D、高温贮存，将装好片式电感器的装载盘放入高温试验箱，保持若干时间；E、第二次恢复，将片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；F、后期检测，对片式电感器进行检测，剔出不良品。通过低温贮存及恢复、高温贮存及恢复，再进行检测，可有效淘汰早期失效电感器，减少因电感器失效引起的系统或设备早期失效，确保可靠性。

Description

一种片式电感器的筛选方法
【技术领域】
本发明涉及一种电感器筛选方法，特别是涉及一种片式电感器的筛选方法。本发明中所提及的片式电感器包括绕线片式电感器、叠层片式电感器及EMI电感(俗称磁珠)。
【背景技术】
筛选试验是指为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效的产品而进行的试验。本申请涉及的筛选试验主要是指剔除早期失效的产品而进行的试验。这种筛选试验是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验，通过按照一定的程序施加环境应力，激发出产品潜在的设计和制造缺陷，以便剔除早期失效产品，降低失效率。
筛选试验一般是对元器件成品而进行的，但也可以在生产过程中对元器件的半成品进行。元器件的失效率λ随时间t的变化关系的“浴盆曲线”如图1所示。元器件厂家在产品出厂之前进行100％的筛选，其目的是剔除早期失效产品，以保证交给用户的元器件处于偶然失效的阶段。
目前，对于片式电感器的筛选方法在诸多资料中都未有查到。
【发明内容】
本发明所要解决的技术问题是：提供一种片式电感器的筛选方法，其方法简单易行，且能有效淘汰早期失效电感器，确保产品可靠性。
为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：提供一种片式电感器的筛选方法，包括如下步骤：
A、准备，将准备进行筛选的片式电感器均匀摆放入金属装载盘中，并对高温试验箱、负温试验箱进行预热；
B、低温贮存，确认负温试验箱温度达到设定的最低工作温度后，将装好片式电感器的装载盘放入负温试验箱，不加电负载，保持若干小时，并做记录；
C、第一次恢复，低温储存结束后，片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；
D、高温贮存，确认高温试验箱温度达到“最高工作温度”后，将装好片式电感器的装载盘放入高温试验箱，不加电负载，保持若干时间，并做记录；
E、第二次恢复，高温储存结束后，片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；
F、后期检测，对经低温贮存及恢复、高温贮存及恢复后的片式电感器进行检测，剔出其中的不良品。
由于采用了上述技术方案，本发明具有如下有益效果：通过低温贮存及恢复、高温贮存及恢复，再进行检测，而可有效淘汰早期失效电感器，减少在应用过程中由于电感器失效，而引起系统或设备的早期失效，确保可靠性。
【附图说明】
图1是元器件的失效率λ随时间t的变化关系的“浴盆曲线”图。
图2是本发明一种片式电感器的筛选方法的流程图。
【具体实施方式】
请参阅图2，本发明提供一种片式电感器的筛选方法，主要包括如下步骤：
A、准备，将准备进行筛选的片式电感器均匀摆放入金属装载盘中，并对高温试验箱、负温试验箱进行预热；
B、低温贮存，确认负温试验箱温度达到设定的最低工作温度后，将装好片式电感器的装载盘放入试验箱，不加电负载，保持若干小时，并做记录；
C、第一次恢复，低温贮存结束后，片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；
D、高温贮存，确认高温试验箱温度达到“最高工作温度”后，将装好片式电感器的装载盘放入试验箱，不加电负载，保持若干时间，并做记录；
E、第二次恢复，高温贮存结束后，片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；
F、后期检测，对经低温贮存及恢复、高温贮存及恢复后的片式电感器进行检测，剔出其中的不良品。
其中，准备步骤是将需要进行筛选的片式电感器均匀摆放入金属装载盘中，对于总堆积厚度有一定要求，单个片式电感器本体厚度小于5mm的，要求总堆积厚度不超过6mm；而单个片式电感器本体厚度大于或等于5mm的，则要求单层摆放；此外，一个金属装载盘中只限装1个生产批号，并做标记。
在准备步骤中，还需对高温试验箱、负温试验箱进行预热。使其分别达到相应的工作温度，相应的最高工作温度和最低工作温度要求按照总规范、详细规范以及技术协议要求执行。
对于高温试验箱，其最高工作温度范围为：65℃～160℃。优先从以下数值中选取：+85-2 +3℃、+105-2 +3℃、+125-2 +3、+150-2 +3℃。
对于负温贮存箱，其最低工作温度范围为：-65℃～-15℃。优先从以下数值中选取：-55-5 0℃、-40-5 0℃、-20-3 0℃。
在低温贮存步骤中，当确认负温试验箱温度达到“最低工作温度”后，即将装好片式电感器的装载盘放入负温试验箱，不加电负载，保持若干小时，并做记录。低温贮存保温时间为2～6小时，优先从以下数值中选取：2h、4h、6h。
而在第一次恢复步骤中，将经低温储存的片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤。
在高温贮存步骤中，在确认高温试验箱温度达到“最高工作温度”后，将装好片式电感器的装载盘放入高温试验箱，不加电负载，保持若干时间，并做记录。高温贮存的保温时间为2～6小时，优先从以下数值中选取：2h、4h、6h。
在第二次恢复步骤中，将经高温贮存的片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤。
在后期检测步骤中，又包括：
F1、外观检测，检查有无机械损伤，参照各产品总规范和详细规范要求，剔除外观不良品，并记录数量；
F2、电性能检测，将产品送至电性分选机测试或人工测试，记录合格数和废品数，计算筛选合格率，剔除电性能不良品，并记录数量；
F3、X射线透视检测。
在F1、外观检测及F2、电性能检测中，同一样品上出现多个缺陷或电性能参数不良时，只记为1个不良品。不良品不再投入下个检测项目。
在F2、电性能检测中，需要按产品的详细规范要求进行检验测试，对于电感器或者磁珠，其相应的检验项目分别如下所示：
电感器(绕线片式、叠层片式) 电感量(L)
品质因数(Q值)
自谐频率(SRF)
直流电阻(DCR)
磁珠 阻抗值(|Z|)
直流电阻(DCR)
而在后期检测步骤中，F3、X射线透视检测也并非必需步骤，而是根据需要，选择性地采用此步骤。
本发明通过低温贮存及恢复、高温贮存及恢复，再进行检测，而可有效淘汰早期失效电感器，减少在应用过程中由于电感器失效，而引起系统或设备的早期失效，确保可靠性。

Claims (8)

1、一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：包括如下步骤：
A、准备，将准备进行筛选的片式电感器均匀摆放入金属装载盘中，并对高温试验箱、负温试验箱进行预热；
B、低温贮存，确认负温试验箱温度达到设定的最低工作温度后，将装好片式电感器的装载盘放入负温试验箱，不加电负载，保持若干小时，并做记录；
C、第一次恢复，低温贮存结束后，片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；
D、高温贮存，确认高温试验箱温度达到“最高工作温度”后，将装好片式电感器的装载盘放入高温试验箱，不加电负载，保持若干时间，并做记录；
E、第二次恢复，高温贮存结束后，片式电感器连同装载盘室温下放置0.5h～24h，检查有无机械损伤；
F、后期检测，对经低温贮存及恢复、高温贮存及恢复后的片式电感器进行检测，剔出其中的不良品。
2、如权利要求1所述的一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：低温贮存步骤中，最低工作温度范围为：-65℃～-15℃。
3、如权利要求1或2所述的一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：低温贮存的保温时间为2～6小时。
4、如权利要求1所述的一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：高温贮存步骤中，最高工作温度范围为：65℃～160℃。
5、如权利要求1或4所述的一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：高温贮存的保温时间为2～6小时。
6、如权利要求1所述的一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：所述后期检测步骤包括：
F1、外观检测，检查有无机械损伤，参照各产品总规范和详细规范要求，剔除外观不良品，并记录数量；
F2、电性能检测，将产品送至电性分选机测试或人工测试，记录合格数和废品数，计算筛选合格率，剔除电性能不良品，并记录数量。
7、如权利要求6所述的一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：所述电性能检测项目至少包括如下项目中的一项：电感量(L)、品质因数(Q值)、自谐频率(SRF)、直流电阻(DCR)、阻抗值(|Z|)。
8、如权利要求6所述的一种片式电感器的筛选方法，其特征在于：所述后期检测步骤还包括F3、X射线检测。
CN200610033453XA 2006-01-26 2006-01-26 一种片式电感器的筛选方法 Expired - Fee Related CN101007309B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200610033453XA CN101007309B (zh) 2006-01-26 2006-01-26 一种片式电感器的筛选方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200610033453XA CN101007309B (zh) 2006-01-26 2006-01-26 一种片式电感器的筛选方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101007309A true CN101007309A (zh) 2007-08-01
CN101007309B CN101007309B (zh) 2010-06-23

Family

ID=38696096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200610033453XA Expired - Fee Related CN101007309B (zh) 2006-01-26 2006-01-26 一种片式电感器的筛选方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101007309B (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102540056A (zh) * 2011-12-29 2012-07-04 北京控制工程研究所 一种aps芯片测试及筛选方法
CN104889068A (zh) * 2014-03-03 2015-09-09 泰克元有限公司 测试分选机及测试分选机中测试托盘的循环方法
CN108674752A (zh) * 2018-06-15 2018-10-19 曾继金 电感器外观、ftc检测和包装系统
CN109186656A (zh) * 2018-09-05 2019-01-11 北京特种机械研究所 一种传感器特性检测及筛选装置
CN110658426A (zh) * 2019-10-09 2020-01-07 深圳顺络电子股份有限公司 一种电感器失效模式及耐压值的测试方法
CN109132045B (zh) * 2018-07-12 2020-07-17 斯特华(佛山)磁材有限公司 电感整形及检测机构和电感元件包装流水线
CN113030711A (zh) * 2021-05-26 2021-06-25 成都市克莱微波科技有限公司 一种功率放大器芯片、芯片测试系统及方法
CN113305048A (zh) * 2021-07-30 2021-08-27 江苏冠安机电有限公司 基于电阻箱水汽排除的高低压电器元件分拣装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2883637B2 (ja) * 1989-07-06 1999-04-19 日本エンジニアリング株式会社 半導体チップの選別方法および装置
CN1141722C (zh) * 1998-08-10 2004-03-10 广东肇庆风华电子工程开发有限公司 高性能低温烧结多层片式电感器制作工艺

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102540056A (zh) * 2011-12-29 2012-07-04 北京控制工程研究所 一种aps芯片测试及筛选方法
CN104889068A (zh) * 2014-03-03 2015-09-09 泰克元有限公司 测试分选机及测试分选机中测试托盘的循环方法
CN104889068B (zh) * 2014-03-03 2017-09-08 泰克元有限公司 测试分选机及测试分选机中测试托盘的循环方法
CN108674752A (zh) * 2018-06-15 2018-10-19 曾继金 电感器外观、ftc检测和包装系统
CN109132045B (zh) * 2018-07-12 2020-07-17 斯特华(佛山)磁材有限公司 电感整形及检测机构和电感元件包装流水线
CN109186656A (zh) * 2018-09-05 2019-01-11 北京特种机械研究所 一种传感器特性检测及筛选装置
CN109186656B (zh) * 2018-09-05 2021-08-27 北京特种机械研究所 一种利用传感器特性检测及筛选装置实现传感器稳定性检测的方法
CN110658426A (zh) * 2019-10-09 2020-01-07 深圳顺络电子股份有限公司 一种电感器失效模式及耐压值的测试方法
CN110658426B (zh) * 2019-10-09 2021-06-29 深圳华络电子有限公司 一种电感器失效模式及耐压值的测试方法
CN113030711A (zh) * 2021-05-26 2021-06-25 成都市克莱微波科技有限公司 一种功率放大器芯片、芯片测试系统及方法
CN113030711B (zh) * 2021-05-26 2021-09-10 成都市克莱微波科技有限公司 一种功率放大器芯片、芯片测试系统及方法
CN113305048A (zh) * 2021-07-30 2021-08-27 江苏冠安机电有限公司 基于电阻箱水汽排除的高低压电器元件分拣装置
CN113305048B (zh) * 2021-07-30 2021-09-21 江苏冠安机电有限公司 基于电阻箱水汽排除的高低压电器元件分拣装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN101007309B (zh) 2010-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101007309B (zh) 一种片式电感器的筛选方法
CN107918382A (zh) 一种汽车故障诊断方法、汽车故障诊断装置及电子设备
CN104714869B (zh) 一种修复西数硬盘无法访问数据的方法
CA2515784A1 (en) Methods and apparatus for data analysis
CN103592898A (zh) 一种电子产品生产自动化控制系统及方法
CN105234089B (zh) 产品检测方法
CN105095618B (zh) 芯片筛选方法和装置
CN106875084A (zh) 巡检后期任务创建方法及系统
CN103870587A (zh) 一种半导体制造试验工艺流程的建立方法
CN107064695A (zh) 一种应用于滤波器测试的自动上料机设计方法
CN104573866B (zh) 一种预测电力设备缺陷的方法和系统
CN106815718A (zh) 一种pcb板缺陷统计方法及系统
CN101216301A (zh) 不合格焊盘间距检测装置及方法
CN106201834A (zh) 一种磁盘损坏的处理方法和装置
CN109031130A (zh) 一种电量校准方法及装置
CN107228984A (zh) 磁芯的来料检验方法
CN107589375A (zh) 基于电压二次分选的三元电芯成组性能优化方法及系统
US6476617B1 (en) Method of sorting monolithic ceramic capacitors by measuring the insulation resistance thereof
CN107742204A (zh) 一种校园快递取件系统及其取件方法
TWI686810B (zh) 記憶體晶片超頻測試方法
CN102135596B (zh) 在并行测试机台上实现芯片频率微调的方法
CN112309492A (zh) 内存芯片超频测试模块及其方法
CN104678268A (zh) 500kV高压并联电抗器匝间绝缘状态评估系统
CN106124813B (zh) 一种单相费控智能电能表生产管理方法
CN116581043B (zh) 芯片分类方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20100623

Termination date: 20180126

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee