CN112309492A - 内存芯片超频测试模块及其方法 - Google Patents
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Abstract
本发明为一种内存芯片超频测试模块及其方法，应用在两阶段的内存芯片测试制程中，筛检不同速度的内存芯片，包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂，机械手臂电性连接测试盘区、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台，预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间，对内存做第一阶段的测试及筛选，经过第一阶段预测试机台筛选通过的内存，将在测试机台进行完整的内存芯片测试。提高效率、准确度及减少误判。
Description
技术领域
本发明有关于一种内存芯片超频测试模块及其方法，尤其是透过预测试机台对内存芯片做初步筛检，达到多速度分类的工程。
背景技术
目前随着科技日新月异，各种内存也以不同形式应用于日常生活中，以使各种电子设备具备更多功能和操作性。例如个人计算机(PC)内常用的随机存取内存(RandomAccess Memory，RAM)，具备随时读写及高速度的特性，故常被作为操作系统或其他正在执行中的程序的临时数据的储存媒介。又可细分为，动态随机存取内存(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)以及静态随机存取内存(Static Random Access Memory，SRAM)。
且在电竞产业近年来成长速度之快，其首要配备就是利用高阶电子设备，如：主板、内存等，作为获胜的标准配备，再搭配选手的智力、技巧的展现，而电竞选手在硬件配备选择上首重内存速度，因此，为制造出高速度内存，其需要提高对制程上的需求，也就是从颗粒测试着手，因为颗粒即为制造内存的重要原物料之一。
在传统上，内存制程及测试的方法，采用大量的人力进行颗粒的速度分类，且必须由低速开始筛检，若要检测出超频的内存，为了避免机台故障而造成的后续维修成本，采用大量人力的同时也代表耗费大量时间以及管理成本，而且人员的眼力及体力所造成的疲劳及误判也随之提升，都是需要突破及改进的地方。
发明内容
由于上述的问题，对于检测出超频内存，本发明的主要目的在于提供一种内存芯片超频测试模块，应用于筛检不同速度的内存芯片，内存芯片超频测试模块包含：
一测试盘区，放置待测试的内存芯片；
一定位暂存盘，所述定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区，所述定位区用以调整内存芯片的排列；
至少一预测试机台，且所述预测试机台内设定有一预测试参数；
多个测试机台；以及
一机械手臂，所述机械手臂用以抓取内存芯片，且所述机械手臂电性连接所述测试盘区、所述定位暂存盘、所述至少一预测试机台以及多个所述测试机台；
其中所述机械手臂从所述测试盘区抓取内存芯片至所述定位暂存盘的所述定位区，使内存芯片排列一致，再次抓取内存芯片移动至所述至少一预测试机台，借由所述至少一预测试机台依据所述预测试参数对内存芯片进行第一阶段筛检，通过第一阶段筛检的内存芯片由所述机械手臂移动到所述测试机台，对内存芯片进行完整芯片测试，所述暂存区用以存放等待进行完整芯片测试的内存芯片，未通过测试的内存芯片则由所述机械手臂移回所述测试盘区。
较佳的，所述测试盘区还包括至少一第一测试盘、至少一第二测试盘以及至少一第三测试盘，所述至少一第一测试盘放置准备进行第一次筛选的内存芯片，所述至少一第二测试盘放置等待降级再测试的内存芯片，所述至少一第三测试盘放置待淘汰的内存芯片。
较佳的，所述预测试参数，依据使用者预筛选出特定速度的内存芯片做设定，所述预测试参数需比筛选出的特定速度高。
较佳的，所述内存芯片是否通过所述预测试机台的筛检，透过一通讯装置的接口，通过所述机械手臂分辨内存芯片是否通过预测试的筛检。
较佳的，所述预测试机台进行的第一阶段筛检还包括直流参数测试和交流参数测试。
本发明的另一目的在于提供一种内存芯片超频测试方法，应用在两阶段的内存芯片测试制程中，包括：
设定一预测试参数且储存于一预测试机台中，将所有待进行第一次筛选的内存芯片放置在一测试盘区上，一机械手臂将所述测试盘区上的其中一排内存芯片抓取且移动至一定位暂存盘中的一定位区，进行定位调整内存芯片的排列；
所述机械手臂将内存芯片移动至所述预测试机台，所述预测试机台对内存芯片通电测试，此阶段的预测试为第一阶段测试；
完成第一阶段测试后，所述机械手臂将根据所述内存芯片预测试的结果，将所述内存芯片移往不同地方，若所述内存芯片通过所述预测试机台的预测试，则将所述内存芯片抓取到一测试机台进行第二阶段测试，此第二阶段测试为完整的芯片测试，若所述内存芯片未通过所述预测试机台的预测试，则所述机械手臂将所述内存芯片抓取回所述测试盘区，等待降级再测试，当所有的所述测试机台都正在执行第二阶段测试时，所述机械手臂将通过预测试的内存芯片先移放至所述定位暂存盘中的一暂存区；
经过完整芯片测试的第二阶段测试的内存芯片，确定所述内存芯片的速度，完成内存芯片的分类；
未通过预测试的内存芯片，在等待所有内存芯片都完成第一次筛选后，重新对所述预测试机台设定新的预测试参数，重复上述的步骤流程进行降级再测试；
直到所有内存芯片完成筛选及分类后结束。
较佳的，所述测试盘区还包括至少一第一测试盘、至少一第二测试盘以及至少一第三测试盘，所述至少一第一测试盘放置准备进行第一次筛选的内存芯片，所述至少一第二测试盘放置等待降级再测试的内存芯片，所述至少一第三测试盘放置待淘汰的内存芯片。
较佳的，所述预测试参数，依据使用者筛选出特定速度的内存芯片做设定，所述预测试参数需比筛选出的特定速度高。
较佳的，内存芯片是否通过所述预测试机台的第一阶段测试，透过一通讯装置的接口，通过所述机械手臂分辨内存芯片是否通过预测试的筛检。
较佳的，所述预测试机台进行的第一阶段筛检还包括直流参数测试和交流参数测试。
本发明借由改善传统制程带来的高人力成本及时间成本，取而代之的是透过自动化设备提高效率及减少误判，同时加入预测试的两阶段筛检，达到一次性分类多种速度的功效，甚至有别于传统的进行反向测试。
附图说明
图1为本发明内存芯片超频测试模块的示意图；
图2为本发明测试盘区的详细示意图；
图3为本发明定位暂存盘的详细示意图；
图4为本发明内存芯片超频测试模块的实施例示意图；以及
图5为本发明内存芯片超频测试方法的流程示意图。
附图标记说明：
10 测试盘区
11 第一测试盘
12 第二测试盘
13 第三测试盘
20 定位暂存盘
21 定位区
22 暂存区
30 预测试机台
40 测试机台
50 机械手臂
具体实施方式
以下配合图标及组件符号对本发明的实施方式做更详细的说明。
本发明为一种内存芯片超频测试模块及其方法，其中，内存芯片超频测试模块较佳实施例请参阅图1，图1为本发明内存芯片超频测试模块的示意图，包含测试盘区10、定位暂存盘20、至少一预测试机台30、多个测试机台40以及机械手臂50，主要是用于测试内存速度以进行筛选及分类。
进一步而言，测试盘区10上放置多个内存，内存透过机械手臂50的抓取在测试盘区10、定位暂存盘20、预测试机台30以及测试机台40之间移动，本发明的测试盘区10可以细分为三种，分别放置不同内存，请参阅图2，图2中显示的测试盘区10仅为说明并不是加以限定其上内存的排列方式，测试盘区10分为放置待测试内存的第一测试盘11，放置等待二次测试内存的第二测试盘12，以及放置待淘汰内存的第三测试盘13。
定位暂存盘20可以分为两个区域，如图3所示，一部分为定位区21，另一部分为暂存区22，同样地，图3中显示的定位暂存盘20仅为说明并不是加以限定其上内存的排列方式，机械手臂50将内存从测试盘区10中的第一测试盘11抓取并放置在定位暂存盘20的定位区21，定位区21设置的目的在于确保每一个被抓取的待测试内存排列整齐，因为机械手臂50从测试盘区10抓取内存的位置并不一定每一个都是在内存中间，因此需透过定位区21的特殊设计，使放在定位区21上的内存可以整齐排列，使机械手臂50再次抓取时可以准确定位在内存中间，而暂存区22则用以存放准备进行下一阶段测试的内存。
预测试机台30设置在定位暂存盘20及测试机台40的中间，对内存做第一阶段的测试及筛选，预测试机台30内包含一微处理器(CPU)，直接控制预测试机台对内存做快速直流参数测试和交流参数测试，因是由CPU控制所以不需要开机，能缩短预测试的时间，经过第一阶段预测试机台30筛选通过的内存，将在测试机台40进行完整的内存芯片测试。
具体而言，待测试的内存被放置在第一测试盘11，透过机械手臂50抓取第一测试盘11上的其中一排内存，并放置在定位暂存盘20上的定位区21，使内存的排列更整齐一致，再经由机械手臂50移动到预测试机台30进行第一阶段的测试，在此第一阶段的测试主要是测内存的速度以及开路/短路测试，第一阶段测试后将通过测试(筛选)的内存借由机械手臂50移往测试机台40，未通过的内存则分为两类，其中属于等待二次测试(降级再测试)的内存，移往第二测试盘12，属于短路待淘汰的内存移往第三测试盘13。
本发明其中一实施例可以参考图4所示，内存测试模块包含测试盘区10、一个定位暂存盘20、一个预测试机台30、多个测试机台40以及机械手臂50，定位暂存盘20与预测试机台30并非限定在数量，此实施例仅是说明多种情形之一，其中，测试盘区10可以包含第一测试盘11、第二测试盘12以及第三测试盘13，测试盘区10内第一测试盘11、第二测试盘12以及第三测试盘13的数量同样未加以限定，而定位暂存盘20包含定位区21以及暂存区22。
在进行第一次测试(第一次筛选)之前，待测试的内存放置在第一测试盘11，并且设定预测试机台30的第一阶段测试(预测试)参数，此参数可以依照欲筛选出多少速度的内存而决定，假设欲筛选出速度高于3200MHz的内存，则设定的参数需比欲筛选出的速度高一些，例如3333MHz，借以筛选出特定速度的内存，提升效率。
机械手臂50与测试盘区10、定位暂存盘20、预测试机台30以及测试机台40电性连接，其中机械手臂50较佳而言是设置在测试盘区10、定位暂存盘20、预测试机台30以及测试机台40的上方，除了节省空间外也增加移动灵活性。
第一阶段测试(预测试)参数设定完成后，机械手臂50抓取第一测试盘11中的一排待测试的内存到定位区21，调整排列后移动到预测试机台30，预测试机台30内包含一微处理器(CPU)，直接控制预测试机台对内存做快速直流参数测试和交流参数测试，因直接由CPU控制，不需要开机，所以只需大约8-10秒即可完成，第一阶段测试(预测试)结束后，通过测试的内存即速度高于参数的内存将移动到测试机台40，进行第二阶段测试即完整的内存芯片测试，也就是所谓的Burn in test烧机测试，此第二阶段测试需费时较长时间，而未通过测试的内存可能包含速度未达设定的参数或芯片开路/短路，分别移动至第二测试盘12及第三测试盘13。
其中内存芯片是否通过预测试机台30的筛检，可以透过通讯装置的接口，让机械手臂50分辨内存芯片是否通过预测试的筛检。
经过测试机台40完整的内存芯片测试后，可对内存的速度做分类，筛选出特定速度的内存，在所有第一测试盘11的内存都完成后，接着可以重新设定预测试参数，且第二测试盘12的内存会移动到第一测试盘11，再进行一次两阶段测试，借此分类及筛选出特定速度的内存。
本发明内存芯片超频测试方法请配合参阅图5，图5为本发明的方法流程示意图，有别于传统测试方法只能从低速开始筛检，本发明一次完整的筛选分为两阶段测试，能依照使用者目的筛选出特定速度的内存。
首先对预测试机台30决定并设定预测试参数，将所有待测试的内存芯片放置在测试盘区10中的第一测试盘11上，例如设定预测试参数为3333MHz，随后机械手臂50将第一测试盘11上的其中一排内存芯片抓取且移动至定位暂存盘20的定位区21，进行定位即调整内存芯片的排列，使内存芯片排列一致且整齐，使得机械手臂50抓取位置更精确。
接着机械手臂50将待测试的内存芯片移动至预测试机台30，对内存做简单的通电测试，包含内存开路/短路测试，此阶段的预测试为第一阶段测试也可以视为第一阶段的筛选，预测试机台30内包含一微处理器(CPU)，直接控制预测试机台对内存做快速直流参数测试和交流参数测试，内存芯片在预测试机台30测试大约需花费8-10秒时间。
接着，机械手臂50将视内存芯片预测试的结果，将内存芯片移往不同地方，若内存芯片通过预测试机台30的预测试，则将内存芯片抓取到测试机台40进行第二阶段测试(完整的芯片测试)，也就是所谓的烧机测试，若内存芯片未通过预测试机台30的预测试，则将内存芯片抓取到第二测试盘12(等待降级再测试)或第三测试盘13(淘汰)，然而，因为测试机台40进行第二阶段测试需费时较长的时间，因此当所有的测试机台40都正在执行第二阶段测试时，机械手臂50便会将通过预测试的内存芯片先移放至定位暂存盘20中的暂存区22等待。
未通过预测试的内存芯片将先放置在测试盘区10中的第二测试盘12，等待所有第一测试盘11中的内存芯片都完成第一次的筛选后，重新对预测试机台30设定新的预测试参数，例如将参数调降为2888MHz，进行降级再测试也就是所谓的第二次筛选，同样重复前述的步骤流程，完成第二次筛选及分类，直到所有的内存芯片完成筛选及分类后结束。
本发明的主要功效在于，改善传统的芯片测试制程需采用大量的人力进行速度的分类，而本发明利用自动化的设备及机械手臂缩减人员管理的成本，以及减少人员眼力、体力疲劳所产生的误判，提高准确度及效率。
本发明另一功效在于，改善传统芯片测试制程必须从低速开始筛检耗费大量时间，本发明利用新的两阶段测试分类筛选方式，达到一次性分类多种速度，并且还可指定特定速度进行筛检，或有别于传统从高速开始反向测试，同时也确保测试机台的稳定性。
以上所述仅为用以解释本发明的较佳实施例，并非企图据以对本发明做任何形式上的限制，因此，凡有在相同的发明精神下所作有关本发明的任何修饰或变更，皆仍应包括在本发明意图保护的范畴。
Claims (10)
1.一种内存芯片超频测试模块，应用在筛检不同速度的内存芯片，其特征在于，包括：
一测试盘区，放置待测试的内存芯片；
一定位暂存盘，所述定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区，所述定位区用以调整内存芯片的排列；
至少一预测试机台，且所述预测试机台内设定有一预测试参数；
多个测试机台；以及
一机械手臂，所述机械手臂用以抓取内存芯片，且所述机械手臂电性连接所述测试盘区、所述定位暂存盘、所述至少一预测试机台以及多个所述测试机台；
其中所述机械手臂从所述测试盘区抓取内存芯片至所述定位暂存盘的所述定位区，使内存芯片排列一致，再次抓取内存芯片移动至所述至少一预测试机台，借由所述至少一预测试机台依据所述预测试参数对内存芯片进行第一阶段筛检，通过第一阶段筛检的内存芯片由所述机械手臂移动到所述测试机台，对内存芯片进行完整芯片测试，所述暂存区用以存放等待进行完整芯片测试的内存芯片，未通过测试的内存芯片则由所述机械手臂移回所述测试盘区。
2.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，所述测试盘区还包括至少一第一测试盘、至少一第二测试盘以及至少一第三测试盘，所述至少一第一测试盘放置准备进行第一次筛选的内存芯片，所述至少一第二测试盘放置等待降级再测试的内存芯片，所述至少一第三测试盘放置待淘汰的内存芯片。
3.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，所述预测试参数，依据使用者筛选出特定速度的内存芯片做设定，所述预测试参数需比筛选出的特定速度高。
4.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，所述内存芯片是否通过所述预测试机台的筛检，透过一通讯装置的接口，通过所述机械手臂分辨内存芯片是否通过预测试的筛检。
5.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，所述预测试机台进行的第一阶段筛检还包括直流参数测试和交流参数测试。
6.一种内存芯片超频测试方法，应用在两阶段的内存芯片测试制程中，特征在于，包括：
设定一预测试参数且储存于一预测试机台中，将所有待进行第一次筛选的内存芯片放置在一测试盘区上，一机械手臂将所述测试盘区上的其中一排内存芯片抓取且移动至一定位暂存盘中的一定位区，进行定位调整内存芯片的排列；
所述机械手臂将内存芯片移动至所述预测试机台，所述预测试机台对内存芯片通电测试，此阶段的预测试为第一阶段测试；
完成第一阶段测试后，所述机械手臂将根据所述内存芯片预测试的结果，将所述内存芯片移往不同地方，若所述内存芯片通过所述预测试机台的预测试，则将所述内存芯片抓取到一测试机台进行第二阶段测试，此第二阶段测试为完整的芯片测试，若所述内存芯片未通过所述预测试机台的预测试，则所述机械手臂将所述内存芯片抓取回所述测试盘区，等待降级再测试，当所有的所述测试机台都正在执行第二阶段测试时，所述机械手臂将通过预测试的内存芯片先移放至所述定位暂存盘中的一暂存区；
经过完整芯片测试的第二阶段测试的内存芯片，确定所述内存芯片的速度，完成内存芯片的分类；
未通过预测试的内存芯片，在等待所有内存芯片都完成第一次筛选后，重新对所述预测试机台设定新的预测试参数，重复上述的流程进行降级再测试；
直到所有内存芯片完成筛选及分类后结束。
7.依据权利要求6所述的内存芯片超频测试方法，其特征在于，所述测试盘区还包括至少一第一测试盘、至少一第二测试盘以及至少一第三测试盘，所述至少一第一测试盘放置准备进行第一次筛选的内存芯片，所述至少一第二测试盘放置等待降级再测试的内存芯片，所述至少一第三测试盘放置待淘汰的内存芯片。
8.依据权利要求6所述的内存芯片超频测试方法，其特征在于，所述预测试参数，依据使用者筛选出特定速度的内存芯片做设定，所述预测试需比筛选出的特定速度高。
9.依据权利要求6所述的内存芯片超频测试方法，其特征在于，内存芯片是否通过所述预测试机台的第一阶段测试，透过一通讯装置的接口，通过所述机械手臂分辨内存芯片是否通过预测试的筛检。
10.依据权利要求6所述的内存芯片超频测试方法，其特征在于，所述预测试机台进行的第一阶段筛检还包括直流参数测试和交流参数测试。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910710991.5A CN112309492A (zh) | 2019-08-02 | 2019-08-02 | 内存芯片超频测试模块及其方法 |
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| CN201910710991.5A CN112309492A (zh) | 2019-08-02 | 2019-08-02 | 内存芯片超频测试模块及其方法 |
Publications (1)
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|---|---|
| CN112309492A true CN112309492A (zh) | 2021-02-02 |
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|---|---|
| CN (1) | CN112309492A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112908400A (zh) * | 2021-02-19 | 2021-06-04 | 山东英信计算机技术有限公司 | 双倍速率同步动态随机存储器的测试方法、装置及设备 |
-
2019
- 2019-08-02 CN CN201910710991.5A patent/CN112309492A/zh active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112908400A (zh) * | 2021-02-19 | 2021-06-04 | 山东英信计算机技术有限公司 | 双倍速率同步动态随机存储器的测试方法、装置及设备 |
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