CN100553298C - 具有振动校正功能的摄影装置和振动校正方法 - Google Patents

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Abstract

具有振动校正功能的摄影装置和振动校正方法。本发明公开了根据振动检测传感器的输出，驱动摄像元件或振动校正光学系统以对振动进行校正的摄影装置和振动校正方法。在这种振动校正中，当在上述驱动机构中具有摩擦结合部时，在冲击时施加振动校正反而成为损坏图像的原因。因此，设置冲击检测部，当冲击检测部检测到冲击时，不进行振动校正。

Description

具有振动校正功能的摄影装置和振动校正方法
技术领域
本发明涉及通过电气机械转换元件的伸缩运动使驱动部件往复运动的致动器的控制方法和具有该致动器的摄影装置。本发明具体涉及具有像振动校正功能的摄影装置和振动校正方法。
背景技术
以下类型的压电致动器是公知的，即：在压电陶瓷等的电气机械转换元件上固定驱动部，向该电气机械转换元件施加驱动信号使其伸缩，从而使驱动部件往复移位，使与驱动部件摩擦结合的移动部件在伸缩方向上移动。例如，在日本特开昭63-299785号公报中公开有这种致动器。
参照图12A～图15，对上述压电致动器的驱动原理进行说明。
如图12A所示，压电陶瓷2的左侧端部被固定在固定部件1上，在压电陶瓷2的右侧端部固定有驱动轴(驱动部件)3。并且，该驱动轴3被支撑部件(未作图示)支撑成在其轴方向上(在图12中为横向方向)可移动。而且，在驱动轴3上摩擦结合有移动部件(摩擦部件)4。
另一方面，从驱动电路5向压电陶瓷2的电极提供使该压电陶瓷2进行伸缩动作所需要的驱动信号。
下面，参照图12A～图13对使移动部件4向右方向移动的情况进行
说明。
当向右方向驱动移动部件4时，从驱动电路5向压电陶瓷2提供图13的时序图所示的锯齿状的驱动脉冲信号。驱动脉冲信号的波形为在上升沿侧(*1)和下降沿侧(*2)的电压变化率不同。在施加给压电陶瓷2的驱动脉冲信号的急速上升(*1)期间，如图12B所示，压电陶瓷2急速(高速)地向图中的左方向缩短。这里，由于压电陶瓷2的缩短速度很快，因而使移动部件4保持在其位置上的惯性力克服摩擦结合力，停留在图12A所示的初始位置。
然后，施加驱动脉冲的缓慢下降电压(*2)。这样，在施加给压电陶瓷2的驱动脉冲信号的缓慢下降期间，如图12C所示，压电陶瓷2缓慢(低速)地向图中的右方向伸长。此时，与驱动轴3摩擦结合的移动部件4如图12C所示，与驱动轴3一起向右方向(图示箭头A1方向)移动。因此，为了使移动部件4向右方向移动预期距离(移动量S)，只要从驱动电路5提供必要次数的驱动脉冲信号即可。
下面，参照图14A～图15对使移动部件4向左方向移动的情况进行说明。
在使移动部件4向左方向移动的情况下，从驱动电路5提供如图15的时序图所示的锯齿状的驱动脉冲信号。图15所示的该脉冲信号和图13所示的脉冲信号是以GND电平为基准的对称波形。
驱动脉冲信号的波形在下降沿侧(*1’)和上升沿侧(*2’)的电压变化率不同。在施加给压电陶瓷2的驱动脉冲信号的急速下降期间(*1’)，如图14B所示，压电陶瓷2急速(高速)地向图中的右方向伸长。这里，由于压电陶瓷2的伸长速度快，因而使移动部件4保持在其位置上的惯性力克服摩擦结合力，停留在图14A所示的初始位置上。
然后，施加驱动脉冲的缓慢上升电压(*2’)。这样，在施加给压电陶瓷2的驱动脉冲信号的缓慢上升期间，压电陶瓷2缓慢(低速)地缩短。此时，与驱动轴3摩擦结合的移动部件4如图14C所示，与驱动轴3一起向左方向(图示箭头A2方向)移动。因此，为了使移动部件4向左方向移动预期距离(移动量S)，只要从驱动电路5提供必要次数的驱动脉冲信号即可。
如上所述，通过施加正负的锯齿状的脉冲电压，可使移动部件4左右移动。
另外，在电子照相机等摄影装置中，以下振动校正技术是公知的，即：为了防止由于摄影装置上所发生的振动而发生拍摄图像的劣化(模糊或污点)，根据振动使摄影透镜的一部分或摄像元件移位，从而防止图像劣化。已经存在使用上述结构的压电致动器作为用于根据振动而使摄像元件移位的致动器的摄影装置。
如压电致动器的原理所示，在驱动机构内部存在摩擦结合的部位(驱动轴和移动部件)。当向摄影装置施加了超过基于摩擦结合的保持力的冲击时，移动部件偏移，与移动部件结合的摄像元件有时向不希望的位置移位。在该情况下，不能使致动器在瞬间准确地返回到施加冲击前的位置。因此，当继续进行振动校正时，可能进一步招致摄影图像的劣化。并且，在冲击后，图像由于振动校正而急剧移动，可能给摄影者带来不适感。
上述课题不仅是图12A～图15所示结构的压电致动器所具有的课题，而且是具有摩擦结合的致动器普遍存在的课题。
发明内容
本发明的目的是提供具有振动校正功能的摄影装置及其校正方法，当把在用于将压电元件的伸缩动作转换成驱动力的机构部中包括摩擦结合部的压电致动器用作为防振动作用的驱动源时，即使发生超过摩擦结合部的保持力的冲击，也能继续振动校正动作而不会发生大的障碍。
本发明的摄影装置具有：摄影光学系统；摄像元件，其把由上述摄影光学系统所形成的被摄体像转换成电信号；图像处理电路，其根据上述摄像元件的电信号生成图像数据；记录电路，其把上述图像数据记录到记录介质内；以及控制电路。
在该摄影装置中，还具有：支撑部件，其以可在与上述摄影光学系统的光轴垂直的平面上移位的方式来支撑上述摄像元件；位置检测传感器，其用于检测上述摄像元件的位置；致动器，其与上述支撑部件连接，把电气机械转换元件作为驱动源，在转换机构中具有摩擦结合部，该转换机构用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成用于驱动上述支撑部件的驱动力；以及检测振动的振动检测传感器。
上述控制电路根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出控制上述致动器，以防止由振动引起的被摄体像的劣化。
控制电路为了进行上述致动器的控制，按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出，计算上述摄像元件的校正目标位置。
在这种摄影装置中，设置了冲击检测部，该冲击检测部检测在摄影装置中发生的冲击，当上述冲击检测部检测到冲击时，上述控制电路把上述位置检测传感器所检测出的上述摄像元件的当前位置作为上述校正目标位置。
上述冲击检测部可以按照预定的周期，求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值时，判定为发生了冲击。
因此，在本发明的摄影装置中，由于在冲击检测部检测到冲击的情况下不进行振动校正，因而可缓解图像的恶化。特别是，即使发生超过摩擦结合部的保持力的冲击，也很少发生大的障碍。
振动校正除了通过致动器使摄像元件移动以外，还可以在摄影光学系统中设置使被摄体像的位置移位的振动校正光学系统，使用致动器使该振动校正光学系统移动。
这里，冲击检测部可以是例如加速度传感器那样的独立的冲击传感器。然而，除此以外，还可以是利用振动检测传感器的输出等来检测冲击的发生的程序模块。在使用程序模块进行冲击检测的情况下，其输入除了振动检测传感器或位置传感器等各种传感器的输出信号以外，还可以是记录介质驱动器的访问错误信号等。
上述冲击检测部可以按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出获得振动量，并求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当上述振动量和上述位置变化量分别超过预定的值时，判定为发生了冲击。
上述冲击检测部可以按照预定的周期，求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值、并且检测到发生了上述记录介质的访问错误时，判定为发生了冲击。
并且，本发明也可以理解为由上述摄像装置进行的振动校正方法。
根据本发明，可提供具有振动校正功能的摄影装置和振动校正方法，当把在用于将电气机械转换元件的伸缩动作转换成驱动力的机构部中包括摩擦结合部的致动器用作为振动校正用的驱动源时，即使发生了超过摩擦结合部的保持力的冲击，也不会发生大的障碍。
附图说明
参照以下说明、所附权利要求以及附图，将更好地理解本发明的装置和方法的上述和其它特征、方面和优点。
图1表示本发明的第1实施方式的结构，是表示具有振动校正功能的摄影装置的概略结构的框图；
图2是表示由图1的支撑部件13和致动器14构成的校正机构的结构的图；
图3是表示本发明的第1实施方式中的摄影装置的具体结构示例的框图；
图4是对本发明的第1实施方式中的摄影装置的振动校正动作进行说明的流程图；
图5是对图4的流程图的步骤S2的子例程“X轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图；
图6是对图4的流程图的步骤S3的子例程“Y轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图；
图7示出本发明的第2实施方式，是对图4的流程图的步骤S2的子例程“X轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图；
图8示出本发明的第2实施方式，是对图4的流程图的步骤S3的子例程“Y轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图；
图9示出本发明的第3实施方式，是对图4的流程图的步骤S2的子例程“X轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图；
图10示出本发明的第3实施方式，是对图4的流程图的步骤S3的子例程“Y轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图；
图11表示本发明的第4实施方式的结构，是示出具有振动校正功能的摄影装置的概略结构的框图；
图12A、图12B、图12C是对现有的压电致动器的驱动原理进行说明的图；
图13对现有的压电致动器的驱动原理进行说明，是示出提供给压电陶瓷2的信号波形的示例的图；
图14A、图14B、图14C是对现有的压电致动器的驱动原理进行说明的图；
图15对现有的压电致动器的驱动原理进行说明，是示出提供给压电陶瓷2的信号波形的示例的图。
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的优选实施方式进行说明。
(第1实施方式)
图1示出了本发明的第1实施方式的结构，是示出具有振动校正功能的摄影装置的概略结构的框图。
在图1中，在作为摄影光学系统的摄影镜头11的后方配置有安装在支撑部件13上的摄像元件12。上述支撑部件13被致动器14支撑成可在上述X轴方向和Y轴方向上移动。该致动器14依靠来自控制装置15内的作为控制单元的控制部17的控制而被驱动。并且，在控制装置15内具有冲击检测部18，该冲击检测部18是检测在该摄影装置中所发生的冲击的冲击检测单元。
上述控制部17不仅与上述冲击检测部18连接，而且与位置检测部20、振动检测部21以及图像处理部22连接。位置检测部20是检测支撑部件13上的摄像元件12的位置的位置检测单元。振动检测部21是检测振动的振动检测单元。图像处理部22是根据摄像元件12的电信号生成图像数据的图像处理单元。并且，图像处理部22与记录部23连接，记录部23是把上述图像数据记录到记录介质23a中的记录单元。
在本实施方式中，把上述冲击检测部18作为分析上述振动检测部21的输出以检测冲击的程序模块来进行说明。
在这种结构中，当来自被摄体(未图示)的光束通过摄影镜头11被取入到摄像元件12时，该被摄体像被该摄像元件12转换成电信号。然后，图像处理部22根据从该摄像元件12输出的电信号生成图像数据。该图像数据被记录在记录部23内的记录介质23a内。
另一方面，上述摄像元件12在支撑部件13上被支撑成可在与上述光学系统的光轴垂直的平面上，即在X轴方向和Y轴方向上移位。该支撑部件13通过以电气机械转换元件为驱动源的致动器14的伸缩动作，在上述X轴方向和Y轴方向上被驱动。并且，摄像元件12的位置由位置检测部20检测。
并且，控制部17根据由振动检测部21所检测出的振动的输出和上述位置检测部20的输出，控制上述致动器14的驱动，以防止由振动引起的被摄体像的劣化。该控制部17按照预定的周期，根据振动检测部21的输出和位置检测部20的输出，算出摄像元件12的校正目标位置。此时，在冲击检测部18检测到冲击的情况下，把当前位置作为校正目标位置。即，在发生了预定规模以上的冲击的情况下，即使产生了由该冲击引起的振动，也不进行振动校正。
图2是示出由图1的支撑部件13和致动器14构成的校正机构的结构的图。
在图2中，在基台30上相互隔开而被固定的固定框31a和31b之间配置有延伸出的2根轴y 32a和32b。而且，在该轴y 32a和32b上，载物台y 33被支撑成可在Y轴方向上滑动。并且，在基台30上，在该载物台y 33的附近安装有固定部件y 35。在该固定部件y 35上固定有压电陶瓷y 36的一个端部。另一方面，在压电陶瓷y 36的另一个端部固定有驱动轴y 37。在该驱动轴y 37上摩擦结合有被安装在上述载物台y33上的移动部件y 38。
并且，在载物台y 33的Y轴方向的侧面部安装有位置检测元件(PSD)y 41，该位置检测元件y 41使用来自光源y 40的光检测载物台y 33的位置。
而且，从控制装置15内的驱动电路(未作图示)向压电陶瓷y 36的电极提供使该压电陶瓷y 36进行伸缩动作所需要的驱动信号。这样，载物台y 33被支撑成可根据压电陶瓷y 36的伸缩，沿着轴y 32a、32b在图示的箭头Y1、Y2方向上移动。
同样，在载物台y 33上相互隔开而被固定的固定框44a和44b之间配置有延伸出的2根轴x 45a和45b。而且，在该轴x 45a和45b上，配置有摄像元件12的载物台x 46被支撑成可在X轴方向上滑动。并且，在载物台y 33上，在载物台x 46的附近安装有固定部件x 48。在该固体部件x 48上固定有压电陶瓷x 49的一个端部。另一方面，在压电陶瓷x 49的另一个端部固定有驱动轴x 50。在该驱动轴x 50上摩擦结合有被安装在上述载物台x 46上的移动部件x 51。
并且，在载物台x 46的X轴方向的侧面部安装有位置检测元件(PSD)x 54，该位置检测元件x 54使用来自光源x 53的光检测载物台x 46的位置。
而且，从控制装置15内的驱动电路(未作图示)向压电陶瓷x 49的电极提供使该压电陶瓷x 49进行伸缩动作所需要的驱动信号。这样，载物台x 46被支撑成可根据压电陶瓷x 49的伸缩，沿着轴x 45a、45b在图示的箭头X 1、X 2方向上移动。
摄像元件12的X轴方向的位置通过光源x 53和PSDx 54被检测。这样，压电陶瓷x 49根据该检测出的移动量而伸缩，使得载物台x 46在图示箭头X1、X2方向上移动，从而对摄像元件12的X轴方向的位置进行调整。
同样，摄像元件12的Y轴方向的位置通过光源y 40和PSDy 41被检测。这样，压电陶瓷y 36根据该检测出的移动量而伸缩，使得载物台y 33在图示箭头Y1、Y2方向上移动，从而对摄像元件12的Y轴方向的位置进行调整。
图3是示出本实施方式中的摄影装置的具体结构示例的框图。
在图3中，构成摄像元件的CCD 12在载物台x 46和载物台y 33上被支撑成可在与摄影镜头11的光轴垂直的平面上，即在X轴方向和Y轴方向上移位。通过使用构成位置检测部20的X轴用PSD 54和Y轴用PSD41分别检测载物台x 46和载物台y 33，来求出上述CCD 12的位置。
另一方面，上述载物台x 46和载物台y 33分别通过X轴用压电致动器63和Y轴用压电致动器64的伸缩动作，而在上述X轴方向和Y轴方向上被驱动。
振动防止控制器66相当于控制装置15。振动防止控制器66根据由构成振动检测部21的X轴用陀螺仪67和Y轴用陀螺仪68检测出的摄影装置的振动、和由上述X轴用PSD 54和Y轴用PSD 41检测出的CCD 12的位置，向驱动电路65输出控制信号，以使载物台x 46和载物台y 33移动到预期的位置。并且，X轴用压电致动器63和Y轴用压电致动器64根据来自该驱动电路65的控制信号而被驱动，载物台x 46和载物台y 33被移动到预期位置。
并且，在CCD 12中，来自被摄体(未作图示)的光束通过摄影镜头11被取入，该被摄体像在CCD 12上被转换成电信号。并且，从该摄像元件12通过I/F(接口)电路60把信号输出到作为图像处理部22的系统控制器61，生成图像数据。
记录部23具有：驱动控制器70、通过总线30而连接的主轴马达72、对光头77进行驱动控制的光头控制电路73、信号处理电路74、错误率判定电路75、以及作为记录介质的光磁盘23a。
驱动控制器70对记录部23进行统一控制，根据系统控制器61的指令进行作为记录介质的光磁盘23a的数据记录或数据再现。通过主轴马达72使光磁盘23a朝预定的方向旋转。
信号处理电路74在记录时生成按预定的的调制方式进行了调制的数据，在再现时对再现脉冲进行解调。光头控制电路73在记录时把记录数据转换成记录脉冲，在再现时通过光头77对再现信号进行自动增益控制(AGC)和波形均衡以进行脉冲化。
并且，在光头控制电路73中包括磁道偏移检测电路73a，当磁道错误信号超过阈值时，向驱动控制器70发出错误信号。该信号被发送给系统控制器61。系统控制器61可根据该错误信号，检测光磁盘23a的访问错误。
在记录时，光头77产生根据来自光头控制电路73的记录脉冲对光强度进行了调制的激光78，照射到光磁盘23a上。在再现时，把激光78的功率控制为恒定并照射到光磁盘23a上，接收反射光以检测反射光量的变化或反射偏振面的旋转，从而获得再现信号。
在错误率判定电路75中，根据从信号处理电路74输入的再现脉冲判定错误率。该判定结果被提供给系统控制器61。
而且，在上述例中把记录介质作为光磁盘进行了说明，然而不限于此，可以是内置有半导体存储器的卡或硬盘驱动器(HDD)。如果在访问中施加了冲击，这些记录介质也产生访问错误。因此，也可以在冲击检测中利用这些访问错误。
例如，在便携电子设备中使用的小型HDD的一部分可检测访问错误。这种HDD内置有检测冲击的传感器，当传感器检测到冲击时，就停止对盘的记录动作。在把这种HDD用在摄像装置中的情况下，可以从HDD获得冲击信号。
下面，参照图4的流程图对本实施方式中的摄影装置的振动校正动作进行说明。
当进入本例程时，首先在步骤S1中，判定是否有来自系统控制器61的振动校正动作开始指令。这里，如果振动校正动作已经开始，则转移到步骤S2和S3，执行子例程“X轴的振动校正”和“Y轴的振动校正”。而且，关于该子例程“X轴的振动校正”和“Y轴的振动校正”的详细动作，在后面描述。
然后，在步骤S4中，判定是否有来自系统控制器61的振动校正动作停止指令。这里，如果没有停止指令，则转移到上述步骤S2，重复转移处理。按照预定的周期进行该重复，例如，1000次/秒～4000次/秒。另一方面，在有停止指令的情况下，摄影结束，结束本例程。
图5是对图4的流程图的步骤S2的子例程“X轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图。
当进入本子例程时，首先在步骤S11中，从X轴用陀螺仪67对振动量(移动量)Sx进行采样。然后，在步骤S12中，从X轴用PSD 54对当前位置Xnow进行采样。
然后，在步骤S13中，根据上述振动量Sx的累计值运算校正目标位置Xtarget。然后，在步骤S14中，运算上述校正目标位置Xtarget和当前位置Xnow的差分Xdiff。
这里，在步骤S15中，把上述差分值Xdiff与预定的差分阈值THR_Dx进行比较。当结果是上述差分值Xdiff大于差分阈值THR_Dx时，转移到步骤S16，对差分值Xdiff设置“0”。而且，对校正目标位置Xtarget设置上述当前位置Xnow。这样，使控制复位。
这是因为，差分值Xdiff大于预定的差分阈值THR_DX的情况被判定为：目标值Xtarget与当前位置Xnow的偏差不是通常的摄影动作的振动，而是对摄影装置施加了某种冲击的可能性高。因此，在上述步骤S15中，在差分值Xdiff小于等于上述差分阈值THR_DX的情况下，判定为是振动而不是冲击。因此，跳过使控制复位的步骤S16。
然后，在步骤S17中，根据校正目标位置Xtarget和当前位置Xnow运算校正用的控制量。然后，在步骤S18中，根据通过上述步骤S17的校正控制而求出的控制量，驱动X轴用压电致动器63。之后，退出本子例程，转移到图4的流程图的步骤S3。
图6是对图4的流程图的步骤S3的子例程“Y轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图。
而且，该图6的子例程“Y轴的振动校正”的流程图只是把上述图5的子例程“X轴的振动校正”的流程图的X轴(x)的标示部分置换为Y轴(y)的标示，其它说明相同。因此，参照图5的流程图，省略详细说明。
当退出该子例程“Y轴的振动校正”时，转移到图4的流程图的步骤S4。在步骤S4中，如果没有来自系统控制器61的振动校正动作停止指令，则再次执行步骤S2或S3。在该时刻，如果冲击停止，则执行通常的振动校正动作。
这样，根据第1实施方式，即使发生超过压电致动器的摩擦结合部的保持力的冲击，也能继续振动校正动作，而不会产生大的障碍。
(第2实施方式)
下面，对本发明的第2实施方式进行说明。
在上述第1实施方式中，把差分值Xdiff和预定的差分阈值THR_DX进行比较，当差分值Xdiff大于差分阈值THR_DX时，使振动校正复位。另一方面，在该第2实施方式中，进一步把振动量S与预定的阈值进行比较来进行冲击检测。
以下，参照图7的流程图对本发明的第2实施方式进行说明。
而且，由于该第2实施方式中的具有振动校正功能的摄影装置的结构和动作基本上与图1至图6所示的第1实施方式相同，因而仅对不同动作进行说明，对其它相同部分标注相同标号，省略其图示和说明。
图7示出了本发明的第2实施方式，是对图4的流程图的步骤S2的子例程“X轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图。
而且，在本流程图中，由于步骤S31～S34和步骤S37～S39与上述图5的流程图的步骤S11～S14和步骤S16～S18相同，因而参照对应的步骤编号的处理动作，省略详细说明。
当在步骤S34运算出校正目标位置Xtarget和当前位置Xnow的差分值Xdiff时，在接下来的步骤S35中，把在上述步骤S31中获得的振动量SX与预定的振动量阈值THR_DX进行比较。这里，如果振动量SX大于预定的振动量阈值THR_DX，则转移到步骤S36，如果不是则判定为是振动，跳过步骤S36和S37，转移到步骤S38，以进行校正控制。
在步骤S36中，只有在上述步骤S35中判定为振动量SX大于预定的振动量阈值THR_DX的情况下，才把上述差分值Xdiff与预定的差分阈值THR_DX进行比较。当结果是上述差分值Xdiff大于差分阈值THR_DX时，转移到步骤S37，对差分值Xdiff设置“0”，并对校正目标位置Xtarget设置上述当前位置Xnow，将控制复位。另一方面，在差分值Xdiff小于等于上述差分阈值THR_DX的情况下，由于判定为是振动而不是冲击，因而跳过步骤S37，转移到步骤S38。
之后，如果在步骤S39中驱动了X轴用压电致动器63，则退出本子例程，转移到图4的流程图的步骤S3。
图8示出了本发明的第2实施方式，是对图4的流程图的步骤S3的子例程“Y轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图。
而且，该图8的子例程“Y轴的振动校正”的流程图只是把上述图7的子例程“X轴的振动校正”的流程图的X轴(x)的标示部分置换为Y轴(y)的标示，其它说明相同，因而参照图7的流程图，省略详细说明。
当退出该子例程“Y轴的振动校正”时，转移到图4的流程图的步骤S4。
这样，根据第2实施方式，即使发生超过压电致动器的摩擦结合部的保持力的冲击，也能继续防振动作，而不发生大的障碍。
(第3实施方式)
下面，对本发明的第3实施方式进行说明。
在上述第1实施方式中，把差分值Xdiff和预定的差分阈值THR_DX进行比较，当差分值Xdiff大于差分阈值THR_DX时，将振动校正复位，然而，在该第3实施方式中，进一步在发生了介质访问错误的情况下进行冲击检测。
以下，参照图9的流程图对本发明的第3实施方式进行说明。
而且，由于该第3实施方式中的具有振动校正功能的摄影装置的结构和动作基本上与图1至图6所示的第1实施方式相同，因而仅对不同的动作进行说明，对其它相同部分标注相同的标号，省略其图示和说明。
图9示出了本发明的第3实施方式，是对图4的流程图的步骤S2的子例程“X轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图。
而且，在本流程图中，由于步骤S51～S54和步骤S57～S59与上述图5的流程图的步骤S11～S14和步骤S16～S18相同，因而参照对应的步骤编号的处理动作，省略详细说明。
当在步骤S54中运算出校正目标位置Xtarget和当前位置Xnow的差分值Xdiff时，在接下来的步骤S55中，判定在图像数据的记录中是否发生了磁道错误等的介质访问错误。这里，在发生了介质访问错误的情况下，转移到步骤S56，如果没有，则跳过步骤S56和S57，转移到步骤S58，以进行校正控制。
在步骤S56中，只有在上述步骤S55中发生了介质访问错误的情况下，才把上述差分值Xdiff与预定的差分阈值即THR_DX进行比较。当结果是上述差分值Xdiff大于差分阈值THR_DX时，转移到步骤S57，对差分值Xdiff设置“0”，并对校正目标位置Xtarget设置上述当前位置Xnow，将控制复位。另一方面，在差分值Xdiff小于等于上述差分阈值THR_DX的情况下，由于判定为是振动而不是冲击，因而跳过步骤S57，转移到步骤S58。
之后，如果在步骤S59中驱动了X轴用压电致动器63，则退出本子例程，转移到图4的流程图的步骤S3。
图10示出了本发明的第3实施方式，是对图4的流程图的步骤S3的子例程“Y轴的振动校正”的详细动作进行说明的流程图。
而且，该图10的子例程“Y轴的振动校正”的流程图只是把上述图9的子例程“X轴的振动校正”的流程图的X轴(x)的标示部分置换为Y轴(y)的标示，其它说明相同，因而参照图9的流程图，省略详细说明。
当退出该子例程“Y轴的振动校正”时，转移到图4的流程图的步骤S4。
这样，根据第3实施方式，即使发生超过压电致动器的摩擦结合部的保持力的冲击，也能继续防振动作，而不发生大的障碍。
(第4实施方式)
下面，对本发明的第4实施方式进行说明。
上述第1至第3实施方式是使摄像元件在X轴方向和Y轴方向上移动来进行校正，然而不限于此，也可以使摄影光学系统移动来进行校正。
图11示出了本发明的第4实施方式的结构，是示出具有振动校正功能的摄影装置的概略结构的框图。
而且，由于该第4实施方式中的具有振动校正功能的摄影装置的结构和动作基本上与图1至图6所示的第1实施方式相同，因而仅对不同的结构和动作进行说明，对其它相同部分标注相同的标号，省略其图示和说明。
在图11中，在构成摄影光学系统25的摄影镜头11的后方配置有安装在支撑部件13上的振动校正光学系统26。而且，通过了上述摄影镜头11和振动校正光学系统26的光束被引导到摄像元件12上。
在这种结构中，当来自未作图示的被摄体的光束经由摄影镜头11和振动校正光学系统26被取入摄像元件12内时，该摄像元件12将该被摄体像转换成电信号。并且，图像处理部22根据从该摄像元件12输出的电信号生成图像数据。而且，该图像数据被记录在记录部23内的记录介质23a上。
另一方面，上述振动校正光学系统26在支撑部件13上被支撑成可在与摄影光学系统的光轴垂直的平面上，即在X轴方向和Y轴方向上移位。该支撑部件13通过以电气机械转换元件为驱动源的致动器14的伸缩动作，在上述X轴方向和Y轴方向上被驱动。并且，由位置检测部20检测振动校正光学系统26的位置。
然后，在控制部17中，根据由振动检测部21检测出的振动的输出和上述位置检测部20的输出，控制上述致动器14的驱动，从而防止由振动引起的被摄体像的劣化。驱动致动器14，从而通过支撑部件13使振动校正光学系统26移动，从而使入射到摄像元件12上的来自被摄体的光束的位置移位。
并且，上述控制部17在按照预定的周期，根据振动检测部21的输出和位置检测部20的输出，算出振动校正光学系统26的校正目标位置时，如果冲击检测部18检测到冲击，则把当前位置作为校正目标位置。
这样，根据第4实施方式，即使发生超过压电致动器的摩擦结合部的保持力的冲击，也能继续振动校正动作，而不发生大的障碍。
虽然上面对本发明的优选实施方式进行了图示和说明，然而显而易见的是可以在不脱离本发明的主旨的情况下，进行形式上或细节上的各种变形和变更。因此，这意味着，本发明并不严格限于所说明和所图示的上述形式，而是构成为涵盖落在所附权利要求范围内的所有变形。
本申请以在2005年1月13日提交的在先日本专利申请No.2005-006402为基础并要求优先权。

Claims (10)

1.一种摄影装置，具有振动校正功能，该摄影装置包括：
摄影光学系统；
摄像元件，其把由上述摄影光学系统所形成的被摄体像转换成电信号；
图像处理电路，其根据上述摄像元件的电信号生成图像数据；
记录电路，其把上述图像数据记录到记录介质内；
支撑部件，其以可在与上述摄影光学系统的光轴垂直的平面上移位的方式来支撑上述摄像元件；
位置检测传感器，其用于检测上述摄像元件的位置；
致动器，其与上述支撑部件连接，驱动上述支撑部件；
检测振动的振动检测传感器；以及
控制电路，其根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出来控制上述致动器，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，上述控制电路为了控制上述致动器，按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出，算出上述摄像元件的校正目标位置，
其特征在于，该摄影装置还包括冲击检测部，其检测在摄影装置中所发生的冲击，
其中，上述致动器把电气机械转换元件作为驱动源，并在转换机构中具有摩擦结合部，该转换机构用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成用于驱动上述支撑部件的驱动力，
当上述冲击检测部检测到冲击时，上述控制电路把上述位置检测传感器检测出的上述摄像元件的当前位置作为上述校正目标位置，
上述冲击检测部按照预定的周期，求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值时，判定为发生了冲击。
2.一种摄影装置，具有振动校正功能，该摄影装置包括：
摄影光学系统；
摄像元件，其把由上述摄影光学系统所形成的被摄体像转换成电信号；
图像处理电路，其根据上述摄像元件的电信号生成图像数据；
记录电路，其把上述图像数据记录到记录介质内；
支撑部件，其以可在与上述摄影光学系统的光轴垂直的平面上移位的方式来支撑上述摄像元件；
位置检测传感器，其用于检测上述摄像元件的位置；
致动器，其与上述支撑部件连接，驱动上述支撑部件；
检测振动的振动检测传感器；以及
控制电路，其根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出来控制上述致动器，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，上述控制电路为了控制上述致动器，按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出，算出上述摄像元件的校正目标位置，
其特征在于，该摄影装置还包括冲击检测部，其检测在摄影装置中所发生的冲击，
其中，上述致动器把电气机械转换元件作为驱动源，并在转换机构中具有摩擦结合部，该转换机构用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成用于驱动上述支撑部件的驱动力，
当上述冲击检测部检测到冲击时，上述控制电路把上述位置检测传感器检测出的上述摄像元件的当前位置作为上述校正目标位置，
上述冲击检测部按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出获得振动量，并求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当上述振动量和上述位置变化量分别超过预定的值时，判定为发生了冲击。
3.一种摄影装置，具有振动校正功能，该摄影装置包括：
摄影光学系统；
摄像元件，其把由上述摄影光学系统所形成的被摄体像转换成电信号；
图像处理电路，其根据上述摄像元件的电信号生成图像数据；
记录电路，其把上述图像数据记录到记录介质内；
支撑部件，其以可在与上述摄影光学系统的光轴垂直的平面上移位的方式来支撑上述摄像元件；
位置检测传感器，其用于检测上述摄像元件的位置；
致动器，其与上述支撑部件连接，驱动上述支撑部件；
检测振动的振动检测传感器；以及
控制电路，其根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出来控制上述致动器，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，上述控制电路为了控制上述致动器，按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出，算出上述摄像元件的校正目标位置，
其特征在于，该摄影装置还包括冲击检测部，其检测在摄影装置中所发生的冲击，
其中，上述致动器把电气机械转换元件作为驱动源，并在转换机构中具有摩擦结合部，该转换机构用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成用于驱动上述支撑部件的驱动力，
当上述冲击检测部检测到冲击时，上述控制电路把上述位置检测传感器检测出的上述摄像元件的当前位置作为上述校正目标位置，
上述冲击检测部按照预定的周期，求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值、并且检测到发生了上述记录介质的访问错误时，判定为发生了冲击。
4.一种摄影装置，具有振动校正功能，该摄影装置包括：
摄影光学系统；
振动校正光学系统，其是上述摄影光学系统的一部分，对被摄体像的位置进行移位；
摄像元件，其把由上述摄影光学系统形成的被摄体像转换成电信号；
图像处理电路，其根据上述摄像元件的电信号生成图像数据；
记录电路，其把上述图像数据记录到记录介质内；
支撑部件，其以可在与上述摄影光学系统的光轴垂直的平面上移位的方式来支撑上述振动校正光学系统；
位置检测传感器，其用于检测上述振动校正光学系统的位置；
致动器，其与上述支撑部件连接，驱动上述支撑部件；
检测振动的振动检测传感器；以及
控制电路，其根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出来控制上述致动器，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，上述控制电路为了控制上述致动器，按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出，算出上述振动校正光学系统的校正目标位置，
其特征在于，该摄影装置还包括冲击检测部，其检测在摄影装置中发生的冲击，
其中，上述致动器把电气机械转换元件作为驱动源，并在转换机构中具有摩擦结合部，该转换机构用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成用于驱动上述支撑部件的驱动力，
当上述冲击检测部检测到冲击时，上述控制电路把上述位置检测传感器检测出的上述振动校正光学系统的当前位置作为校正目标位置，
上述冲击检测部按照预定的周期，求出上述算出的振动校正光学系统的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的振动校正光学系统的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值时，判定为发生了冲击。
5.一种摄影装置，具有振动校正功能，该摄影装置包括：
摄影光学系统；
振动校正光学系统，其是上述摄影光学系统的一部分，对被摄体像的位置进行移位；
摄像元件，其把由上述摄影光学系统形成的被摄体像转换成电信号；
图像处理电路，其根据上述摄像元件的电信号生成图像数据；
记录电路，其把上述图像数据记录到记录介质内；
支撑部件，其以可在与上述摄影光学系统的光轴垂直的平面上移位的方式来支撑上述振动校正光学系统；
位置检测传感器，其用于检测上述振动校正光学系统的位置；
致动器，其与上述支撑部件连接，驱动上述支撑部件；
检测振动的振动检测传感器；以及
控制电路，其根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出来控制上述致动器，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，上述控制电路为了控制上述致动器，按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出，算出上述振动校正光学系统的校正目标位置，
其特征在于，该摄影装置还包括冲击检测部，其检测在摄影装置中发生的冲击，
其中，上述致动器把电气机械转换元件作为驱动源，并在转换机构中具有摩擦结合部，该转换机构用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成用于驱动上述支撑部件的驱动力，
当上述冲击检测部检测到冲击时，上述控制电路把上述位置检测传感器检测出的上述振动校正光学系统的当前位置作为校正目标位置，
上述冲击检测部按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出获得振动量，并求出上述算出的振动校正光学系统的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的振动校正光学系统的当前位置之间的位置变化量，当上述振动量和上述位置变化量分别超过预定的值时，判定为发生了冲击。
6.一种摄影装置，具有振动校正功能，该摄影装置包括：
摄影光学系统；
振动校正光学系统，其是上述摄影光学系统的一部分，对被摄体像的位置进行移位；
摄像元件，其把由上述摄影光学系统形成的被摄体像转换成电信号；
图像处理电路，其根据上述摄像元件的电信号生成图像数据；
记录电路，其把上述图像数据记录到记录介质内；
支撑部件，其以可在与上述摄影光学系统的光轴垂直的平面上移位的方式来支撑上述振动校正光学系统；
位置检测传感器，其用于检测上述振动校正光学系统的位置；
致动器，其与上述支撑部件连接，驱动上述支撑部件；
检测振动的振动检测传感器；以及
控制电路，其根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出来控制上述致动器，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，上述控制电路为了控制上述致动器，按照预定的周期，根据上述振动检测传感器的输出和上述位置检测传感器的输出，算出上述振动校正光学系统的校正目标位置，
其特征在于，该摄影装置还包括冲击检测部，其检测在摄影装置中发生的冲击，
其中，上述致动器把电气机械转换元件作为驱动源，并在转换机构中具有摩擦结合部，该转换机构用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成用于驱动上述支撑部件的驱动力，
当上述冲击检测部检测到冲击时，上述控制电路把上述位置检测传感器检测出的上述振动校正光学系统的当前位置作为校正目标位置，上述冲击检测部按照预定的周期，求出上述算出的振动校正光学系统的校正目标位置和由上述位置检测传感器检测出的振动校正光学系统的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值、并且检测到发生了上述记录介质的访问错误时，判定为发生了冲击。
7.一种摄影装置的振动校正方法，把电气机械转换元件作为驱动源进行动作，通过具有用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成驱动力的摩擦驱动部的致动器，按照预定的周期在与光学系统的光轴正交的方向上移动摄像元件，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，该振动校正方法包括：
按照预定的周期进行振动检测、以及摄像元件的位置和有无冲击的检测；
根据检测出的振动检测输出和上述摄像元件的位置，算出摄像元件的校正目标位置，以便校正由振动引起的被摄体像的劣化，
其特征在于，该振动校正方法还包括：
当没有检测到冲击时，把摄像元件驱动到上述算出的校正目标位置，当检测到冲击时，把该时刻的摄像元件的位置作为校正目标位置而控制成不进行上述摄像元件的驱动，
在上述冲击的检测中，按照预定的周期，求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值时，判断为发生了冲击。
8.一种摄影装置的振动校正方法，把电气机械转换元件作为驱动源进行动作，通过具有用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成驱动力的摩擦驱动部的致动器，按照预定的周期在与光学系统的光轴正交的方向上移动摄像元件，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，该振动校正方法包括：
按照预定的周期进行振动检测、以及摄像元件的位置和有无冲击的检测；
根据检测出的振动检测输出和上述摄像元件的位置，算出摄像元件的校正目标位置，以便校正由振动引起的被摄体像的劣化，
其特征在于，该振动校正方法还包括：
当没有检测到冲击时，把摄像元件驱动到上述算出的校正目标位置，当检测到冲击时，把该时刻的摄像元件的位置作为校正目标位置而控制成不进行上述摄像元件的驱动，
在上述冲击的检测中，按照预定的周期，根据上述振动检测输出获得振动量，并求出上述算出的摄像元件的校正目标位置和检测出的摄像元件的当前位置之间的位置变化量，当上述振动量和上述位置变化量分别超过预定的值时，判定为发生了冲击。
9.一种摄影装置的振动校正方法，把电气机械转换元件作为驱动源进行动作，通过具有用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成驱动力的摩擦驱动部的致动器，按照预定的周期在与光轴正交的方向上移动振动校正光学系统，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，该振动校正方法包括：
按照预定的周期进行振动检测、以及振动校正光学系统的位置和有无冲击的检测；
根据所检测出的振动检测输出和上述振动校正光学系统的位置，算出振动校正光学系统的校正目标位置，以便校正由振动引起的被摄体像的劣化，
其特征在于，该振动校正方法还包括：
当没有检测到冲击时，把振动校正光学系统驱动到上述算出的校正目标位置，当检测到冲击时，把该时刻的振动校正光学系统的位置作为校正目标位置，控制成停止上述振动校正光学系统的驱动，
在上述冲击的检测中，按照预定的周期，求出上述算出的振动校正光学系统的校正目标位置和检测出的振动校正光学系统的当前位置之间的位置变化量，当该位置变化量超过预定的值时，判断为发生了冲击。
10.一种摄影装置的振动校正方法，把电气机械转换元件作为驱动源进行动作，通过具有用于把该电气机械转换元件的伸缩动作转换成驱动力的摩擦驱动部的致动器，按照预定的周期在与光轴正交的方向上移动振动校正光学系统，以防止由振动引起的被摄体像的劣化，该振动校正方法包括：
按照预定的周期进行振动检测、以及振动校正光学系统的位置和有无冲击的检测；
根据所检测出的振动检测输出和上述振动校正光学系统的位置，算出振动校正光学系统的校正目标位置，以便校正由振动引起的被摄体像的劣化，
其特征在于，该振动校正方法还包括：
当没有检测到冲击时，把振动校正光学系统驱动到上述算出的校正目标位置，当检测到冲击时，把该时刻的振动校正光学系统的位置作为校正目标位置，控制成停止上述振动校正光学系统的驱动，
在上述冲击的检测中，按照预定的周期，根据上述振动检测输出获得振动量，并求出上述算出的振动校正光学系统的校正目标位置和检测出的振动校正光学系统的当前位置之间的位置变化量，当上述振动量和上述位置变化量分别超过预定的值时，判定为发生了冲击。
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