CN100474155C - 图像形成装置 - Google Patents

Abstract

一种图像形成装置，其包括：旋转的感光体；充电组件，其被设置为与所述感光体接触或紧邻，以对所述感光体进行充电；电荷量检测部分，其在从所述充电组件施加电流的同时，累计流经所述感光体的电流以获得所述感光体的电荷量，直到所述感光体的表面上的电压基本上与由所述充电组件施加的电压相对应为止；以及控制器，其根据所述电荷量来计算所述感光体的膜厚。

Description

图像形成装置

技术领域

本发明涉及一种图像形成装置，其中施加AC偏压和DC偏压，从而以具有放电操作原理的接触充电方法或紧邻充电方法均匀地对感光体进行充电，更具体地涉及一种感光体的膜厚的测量技术。

背景技术

诸如充电辊、显影刷(brash)和转印辊、清洁刷、清洁刮刀等的各种组件与图像形成装置的感光体的表面物理接触。随着反复的图像形成处理，这种物理接触使光导层的表面逐渐磨损。具体地，由清洁刷或清洁刮刀施加的滑动摩擦力的大小足够大而导致光导层磨损。

由于上述磨损，如果光导层的厚度减少一定量，则感光性会显著退化或者充电特性会劣化。这使得不能以期望的电位对感光体的表面均匀地充电，从而不能形成清晰的图像。

因此，随着时间的流逝对感光体的光导层的厚度进行测量，以估计感光体的使用寿命。

日本专利申请公报No.59-69774(以下称为文献1)描述了所述测量技术。在对感光体进行充电之后，立即通过探测器对感光体表面上的两个电位进行测量，以计算具有暗衰减特性的表面电压V0。然后，在下面的计算公式中，通过该表面电压V0以及每单位放电长度的电流I来测量光导层的厚度L。

I＝(ε/L)·v·V0

这里，ε表示感光体的介电常数，而v表示感光体的运动速度。

日本专利申请公开No.5-223513(以下称为文献2)也描述了所述测量技术。分别向充电辊提供等于或大于开始放电时的电压的两个电压V1和V2，以测量电流I1和I2。通过(I2-I1)/(V2-V1)来计算V-I特性的梯度。此时，通过下面的方程来计算厚度d。

V-I特性的梯度＝ε·L·Vp/d(第一种方法)

这里，Vp表示处理速度，ε表示感光体的介电常数，L表示有效充电宽度。作为前提，V2-V1需要表示表面电位差。

文献2还描述了向充电辊施加AC偏压和DC偏压，以测量在感光体的表面电位从0充电到Vd时流动的电流I。然后，通过下面所示的公式来计算膜厚。

I＝ε·L·Vp·Vd/d(第二种方法)

日本专利申请公报No.9-101654(以下称为文献3)描述了当通过充电辊再次对已通过电荷消除灯消除了电荷的感光体的表面均匀充电时，测量在感光体与充电辊之间充电的充电辊的直流电流。可以如文献3的图1中的第一现象所示来检测光导层的厚度。

然而，在文献1至3所公开的测量技术中，尽管流经感光体的电流I包括漏电流，但是仍使用该电流I来测量膜厚。因此，可以通过上述方程计算出的厚度在检测精度方面较差。另外，即使电荷消除灯消除了感光体上的电，但是感光体的表面电位不能被减到0V。这导致这样测得的电流I发生变化的问题。另外，在使用流经感光体的电流I来检测膜厚的方法中，测量直流电流以估计膜厚。如果在感光体中存在或出现因低击穿电压而导致的缺陷(例如，针孔等)，则与充电无关的漏电流过多地流入该缺陷中，导致不正确的测量。还存在另一问题，即处理速度的变化改变了待测量的直流电流。

此外，上述文献1至3分别存在以下问题。

文献1的问题在于，因为暗衰减特性对于环境并不稳定，所以所计算的电位值V0并不精确。感光体的运动速度v也是变化的。

文献2的问题在于，因为由于环境而导致的充电组件的电阻或污染对电阻产生不利影响并使电阻发生变化，所以V2-V1与表面电位差不对应。在第二种方法中，由于Vp和I的精度影响，所以膜厚在精度方面并不优异。

文献3也存在如下问题。首先，充电辊上的直流电流容易因环境而改变。微直流电流受到高压部分周围的表面状态的很大影响。包括调色剂粉末在内的各种灰尘黏附在高压部分的外周上。高湿度减小了表面上的电阻，增加了直流电流的泄漏，从而使膜厚的检测精度劣化。

另外，另一问题在于，电荷消除灯的光量会改变直流电流。设置电荷消除灯以使得在通过充电辊对表面进行充电之前，使感光体的表面电位为地电位。这样设置的电荷消除灯的目的是检测残留图像，从而感光体不必暴露在下述的强光下，该强光可能导致光疲劳并使得感光体完全处于地电位。因此，即使在从感光体消除了表面电位之后也通常剩余有电荷。这种剩余电荷根据电荷消除灯的强度、感光体的退化和环境而不同。因此，当充电辊再次对感光体进行充电时，直流电流并不总是相同。这使得膜厚的检测精度劣化。

此外，另一问题在于，在没有电荷消除灯的情况下不能检测所述厚度。在残留图像对图像质量没有不利影响的装置中，并不设置电荷消除灯。在上述情况下，直流电流不会流过充电辊。因此，不能计算所述厚度。

发明内容

根据本发明的一个方面，提供了一种图像形成装置，其包括：旋转的感光体；充电组件，其被设置成与所述感光体接触或紧邻，以对所述感光体进行充电；电荷量检测部分，其在从所述充电组件施加电流的同时，累计流经所述感光体的电流以获得所述感光体的电荷量，直到所述感光体表面上的电压基本上与由所述充电组件施加的电压相对应为止；以及控制器，其根据所述电荷量来计算所述感光体的膜厚。根据本发明，通过获得直到感光体的表面电位饱和为止的电荷量来检测膜厚，从而使得能够精确地检测感光体的膜厚而不会受到充电组件的电阻或污染或者环境变化的影响。因此，可以检测到因膜厚减小而减小的感光体的使用寿命。此外，这对于向感光体提供更长的使用寿命也是有用的。

根据本发明的另一方面，提供了一种图像形成装置，其包括：旋转的感光体；充电组件，其被设置成与所述感光体接触或紧邻，以对所述感光体进行充电；电荷量检测部分，其在对已充电的感光体进行放电的同时，累计流经所述感光体的电流以获得所述感光体的电荷量，直到所述感光体表面上的电压基本上与地电平相对应为止；以及控制器，其根据所述电荷量来计算所述感光体的膜厚。

根据本发明的另一方面，提供了一种图像形成装置，其包括：旋转的感光体；充电组件，其被设置成与所述感光体接触或紧邻，以对所述感光体进行充电；具有已知电容的电容器，其与所述充电组件并联连接；电流检测组件，其检测第一电流量和第二电流量，该第一电流量流入所述电容器中，该第二电流量从所述充电组件流经所述感光体；以及控制器，其根据所述第一电流量与第二电流量的比率来检测在所述充电组件与所述感光体之间的电容。根据本发明，具有已知电容的电容器与充电组件并联连接，并根据流入电容器中的电流量与流经感光体的电流量的比率来检测充电组件与感光体之间的电容，由此使得能够精确地获得充电组件与感光体之间的电容，即使充电组件的电压波形与理想波形不同。

附图说明

下面将基于以下附图详细地描述本发明的示例性实施例，附图中：

图1是描述传统技术的曲线图；

图2是表示根据本发明第一实施例的图像形成装置的结构的视图；

图3表示电荷检测部分的结构；

图4表示感光体的旋转次数、感光体的表面电位和流经感光体的直流电流量之间的关系；

图5表示感光体的旋转次数与直流电流之间的关系；

图6是表示根据本发明第二实施例的图像形成装置的结构的视图；

图7表示感光体单元的结构；

图8表示感光体和充电辊的偏心；

图9表示感光鼓和充电辊之间的距离如何随偏心而变化；

图10至图12表示整流电路和低通滤波器的结构；

图13表示在根据本发明第三实施例的图像形成装置中的检测电荷量的功能部分的结构；

图14是表示根据本发明第三实施例的操作过程的流程图；以及

图15是表示模拟积分电路的结构的视图。

具体实施方式

下面将参照附图给出对本发明的示例性实施例的描述。

(第一示例性实施例)

参照图2，现在将给出对本发明第一示例性实施例的描述。用作图像保持器的感光体2是具有鼓的形状的OPC感光体。感光体2以其垂直于纸面的中心轴为中心，以给定的处理速度(即，圆周速度)沿顺时针方向(如箭头所示)旋转。

在感光体2的外围设置有与感光体2接触的充电辊3、用作曝光装置的光栅光学扫描器(ROS)4、显影装置5、清洁刮刀7以及电荷消除灯8。

充电辊3根据感光体2的旋转而旋转。电源10提供通过在DC上叠加AC而生成的电流或电压，以将这样旋转的感光体2的外表面均匀充电为给定极性和电位。根据本示例性实施例，感光体2被充负电。

随后，从ROS 4输出调制图像的激光束并将其照射(以扫描曝光的形式)到这样旋转的感光体2的待充电外表面上。曝光部分的电位衰减并形成静电潜像。

当潜像根据感光体2的旋转而到达与显影装置5相对的显影位置时，从显影装置5提供充负电的调色剂，并通过反转显影而生成调色剂图像。

在显影装置5的下游，当从感光体2的旋转方向看时，设置有与感光体2压力接触的导电转印辊6，并且感光体2与转印辊6的咬合部分构成转印部分。

当在感光体2的表面上生成的调色剂图像根据感光体2的旋转而到达上述转印部分时，以同步的定时向转印位置提供纸张。同时，向转印辊6施加给定电压，从而将调色剂图像从感光体2的表面转印到纸张上。

将在转印位置转印了调色剂图像的纸张输入定影装置9，以将调色剂图像定影在纸张的表面上，然后从图像形成装置输出。

同时，通过清洁刮刀7将在转印后感光体2表面上的残留调色剂刷掉。对感光体2的表面进行清洁以进行下一次图像形成处理。通过电荷消除灯8除去静电潜像。

根据本示例性实施例，还设置有电源10、电荷检测部分11和控制器12。电源10向充电辊3提供通过在DC电压上叠加AC电压而生成的电压。电荷检测部分11检测充电到感光体2上的电荷量。控制器12根据由电荷检测部分11检测的电荷量来控制从电源10提供的电压。

图3表示电荷检测部分11的结构。电荷检测部分11包括电流-电压转换电阻器21、极性控制器22和累加器23。极性控制器22改变施加给累加器23中的计算电路的电压的极性。累加器23检测充电到感光体2上的电荷量。累加器23包括运算放大器24、电容器25和开关26，如图3所示。

下面将描述根据由电荷检测部分11检测到的电荷量来计算膜厚d的处理。通过下面的表达式来计算膜厚d。

d＝ε·有效电荷长度·感光体直径·π·V/Q(其中，Q表示电荷量，而V表示所施加的电压)

如从上述表达式可以看出，除了Q和V之外的各项均为常数。因此，能够以比传统技术更高的精度来检测膜厚。下文中，感光体2的膜厚表示感光体2的最外层的厚度。

下面将描述通过电荷检测部分11来检测感光体表面上的电荷的方法。图4表示当施加具有足以对该表面进行充电的电平的AC电压和DC电压时的表面电位和直流电流。水平轴表示感光体的旋转次数。作为DC电压，在第一次旋转时施加-750V。在施加该DC电压之后充电电位立即接近-750V，但仍未饱和。需要两次或更多次的旋转来达到饱和(达到-750V)。仅流过与充电电位差相对应的DC电流。因此，如果如文献2所述在第一次旋转之后测量膜厚，并且这样施加的-750V的DC电压在感光体表面上导致-700V，则存在作为检测误差的50V的差值。另外，由于第一次旋转之后的电位根据感光体的膜厚、环境、充电组件的污染而改变，所以不能通过校正值进行校正。相反，根据本发明，直到充电电位与DC电压相对应时才检测充电电位。因此，可以精确地计算膜厚，而不受上述误差的影响。

下面将描述如何处理漏电流。流过感光鼓2的电流小到几十μA。因此，必须考虑漏电流的影响。实际上，存在大约1μA的漏电流，导致检测中的大约10％的误差。在传统技术中，忽略了漏电流的影响。漏电流包括不取决于电压值的与电流相关的泄漏、和取决于电压值的与电阻相关的泄漏。

图5表示感光鼓2的每一次旋转时的DC电流。在感光体2的旋转次数2的旋转定时施加信号。在感光体2的旋转次数1时流过与电流相关的泄漏。在旋转次数2，包括与电流相关的泄漏、流经电阻元件的与电阻相关的泄漏、以及有助于充电的充电电流。在旋转次数5至7时，电位饱和并且不再流过充电电流，而仅流过漏电流。

因此，可以通过从旋转次数2至4的电流的累计值中减去旋转次数5至7的电流的累计值来仅获得充电电流。通过选择地改变极性控制器22的连接来执行累计值的减除。在旋转次数2至7累计电流的同时，通过在旋转次数5至7使极性控制器22上的信号极性相反，来实现该减除。

根据本示例性实施例，在施加DC电压的充电过程中通过电荷来检测膜厚。然而，可以在充电状态下在放电过程中检测膜厚。也可以在曝光过程中使感光鼓2局部放电，并随后对感光鼓2进行充电，来检测电荷量并检测局部的膜厚。按照与上述相同的方式，可以通过局部放电来检测膜厚。

[第二实施例]

下面将描述本发明的第二示例性实施例。现在参照图6，为充电辊3提供了多个电源(AC电源31和DC电源32)，并且这些电源与具有已知电容的电容器33并联连接。根据流过具有已知电容的电容器33的电流与流过充电辊3的电流的比率，可以获得充电辊3与感光鼓2之间的电容。更具体地，图6中所示的除法器40计算流过具有已知电容的电容器33的电流与流过充电辊3的电流的比率，并将其与电容器33的电容相乘。

在上述计算中，电容不受施加给充电辊3的AC频率或者AC电源的输出阻抗的影响。即使波形不是正弦波，或者波形是矩形、三角形，或由于处于给定电压或更高电压的箝位电压而变形，也可以向具有已知电容的电容器33施加相似波形，并且不会使测量精度下降。如果如文献3中所述，光导层的介电常数根据环境而改变，则可以使用相同的材料来制造电容器33和感光鼓2的介电层以消除所述影响。

充电辊3与感光鼓2之间的有效电容由咬合部分的接触面积确定。该咬合部分的接触面积根据感光体而不同。因此，即使测量了电容，这样测量的电容也不能转换为膜厚。

感光鼓2与充电辊3被一体地设置成可消耗的。因此，咬合部分持续工作直到使用寿命结束。现在参照图7，将初始电容×感光体的膜厚＝感光体的介电常数×咬合部分的面积得到的值存储在其中一体地形成有感光鼓2和充电辊3的感光体单元中。如果要获知感光体的膜厚，则可以通过将该存储值除以所述电容来得到该厚度。因此，可以在检测电容之后通过计算来获得绝对膜厚，这是因为感光体单元存储有磨损之前的膜厚与电容的比率。

由于感光鼓2和充电辊3的偏心，而使接触部分(即，咬合部分)的面积根据旋转而改变，从而不能根据检测时的电容值来获得精确的膜厚。

现在参照图8，感光鼓2和充电辊3偏心。ω1和ω2分别表示充电辊3和感光鼓2的角速度。可以使用ω1和ω2的相加值和相减值，通过下面的表达式，来获得充电辊3的中心与感光体2的表面之间的距离或者充电辊3的中心与感光鼓2的中心之间的距离。图9示出了感光鼓2和充电辊3之间的距离如何随偏心而变化。如图9所示，波形具有其中通过两个频率来进行AC调制的形状。

Cosω1t+Cosω2t＝2Cos((ω1t+ω2t)/2)×Cos((ω1-ω2)/2)

这表明仅需对从充电辊3施加并流经感光体2的电流在等于或大于ω1和ω2之差的周期内进行平均，以抑制由于距离改变而导致的膜厚的测量误差。实际上，可以通过使其经过截止频率fc高于其周期的低通滤波器，或者通过使用该周期进行积分，来以较小的误差测量膜厚。

图10至图12表示整流电路41和低通滤波器42的结构。图10所示的电路包括比较器，其用作整流电路41，以使比较器接通和断开开关A和B来进行整流。低通滤波器42是通常使用的滤波器，其包括电阻器和电容器。

整流电路41使用多个二极管进行整流。现在参照图12，在二极管的前级设置有运算放大器，以对二极管的操作进行补偿。这样，可以通过对经过低通滤波器的信号进行处理来减小误差，并精确地获得感光体的膜厚。

[第三实施例]

现在将给出本发明的第三示例性实施例的描述。在第三示例性实施例中，在检测电荷量之前，将感光体的电位控制为具有初始电压V1。然后，向感光体2施加电压，以将感光体2的电位设定为给定电压V2。此时，对流经感光体2的电流进行累计，以计算电荷量，并且随后根据该电荷量来计算厚度。根据本示例性实施例，在检测电荷量之前的表面电位V1和检测电荷量之后的表面电位V2是必需的。因此，必须精确地控制表面电位V1和V2。在检测电荷量之前，将感光体的电位设定为用于理想积分的给定电位。这使得能够精确地计算电荷量并精确地测量厚度。

根据本示例性实施例，感光体2是直径为30mm的铝鼓，并且其外表面涂覆有OPC光导层。该感光体还包括设置在电荷发生层上的具有29μm膜厚的载流子(carrier)传输层。存在下述的一些情况，其中根据使用条件在感光体2上剩余电压。即使向其上具有这种剩余电压的感光体2施加0V的DC电压，感光体2的电位也不为0V。如果在计算膜厚时所施加的电压不等于感光体的电位，则会出现误差。为此，施加等于或小于几十伏的负DC电压的给定电压而不是0V，以使感光体的表面电位可以具有给定状态。这消除了剩余电压的影响。随后，执行检测电荷量的处理。

通过向充电辊3施加通过在DC电压上叠加AC电压而生成的电压，将表面电位V1控制为感光体2上的表面电位V2。此时，当施加与表面电压V1不同的表面电位V2作为DC电压时，可以在感光体2的表面电位饱和时获得表面电位V2。通过是否经过了已经由试验获得的用于饱和的预定时间段，来确定感光体2的表面电位是否饱和到足以具有表面电位V2。上述时间段可以由感光体2的旋转次数来替代。另外，对流经感光体2的DC电流进行监测，并且可以在DC电流不变化时确定饱和。另选地，可以使用廉价的相对表面电位静电计来检测和确定表面电位的饱和。

在通过向充电辊3施加通过在DC电压上叠加AC电压而生成的电压来测量电荷量的同时，将显影装置5的显影辊以及转印辊6设定为具有高电阻。此外，将ROS 4和电荷消除灯8设定为关闭(off)。为了设定这种高电阻，使显影辊和转印辊6与感光体2机械地分离。另选地，将显影辊和转印辊6构造成具有与处于电浮动状态的感光体2相同的电位。另选地，将电源10控制为使得电流不会从显影辊或转印辊6流入到感光体2中。控制器12控制上述操作。然而，在已知从显影辊或转印辊6流入到感光体2中的电流的情况下，可以稍后对该电流进行校正。

图13表示功能部分的结构，其中通过对流经感光体2的DC电流进行积分来计算电荷量，并且通过这样计算的电荷量来计算膜厚。图13中所示的功能部分包括电流-电压转换电阻器43、低通滤波器42、A/D转换器13和控制器12。电流-电压转换电阻器43将流经感光体2的电流转换为电压。下文中，将低通滤波器42简称为LPF 42。

由电流-电压转换电阻器43检测到的电压包括叠加在电源10的DC分量上的AC分量。因此，在LPF 42中AC频率衰减。另外，LPF 42能够去除AC分量并降低采样频率。根据采样定理，该频率被构造为作为采样周期的电源的AC周期的两倍长或更长。在这种情况下，可以认为随着待采样的数据量增加而增大了数字处理的负荷。为此，设置LPF 42以消除AC分量从而降低采样频率。这使得可以在不使检测精度降低的情况下减小数字处理的负荷。

采样周期的上限被构造为使得在用于改变DC电压的控制周期内精度不会降低。如果DC电压在50ms内变化，则采样周期必须设定在50ms内。在厚度检测期间，采样周期可以在所有周期都相等。另选地，仅在存在变化时缩短该周期。

控制器12累计由A/D转换器13转换的数字电压值以获得电荷量。另外，可以如上所述通过感光体2的旋转次数来确定累计周期，或者可以在监测流经感光体2的DC电流的同时DC电流没有变化时确定累计周期。另外，可以采用廉价的相对表面电位静电计来检测和确定表面电位的饱和。

在以下表达式中使用通过对电压进行累计而获得的电荷量来计算感光体的膜厚。

光导层的膜厚d＝ε·有效电荷长度·感光体直径·π·|V2-V1|/Q

Q表示电荷量，V1表示在检测前施加给感光体2的DC电压，而V2表示在检测时施加给感光体2的DC电压。

在感光体2磨损之前已知初始膜厚的情况下，在感光体2磨损之前测量电荷量以将其设定为初始电荷量。可以根据初始电荷量与感光体2磨损之后测量的电荷量的比率来获得膜厚d。

感光体的膜厚d＝初始厚度×初始电荷量/当前检测的电荷量

在上述计算方法中无需任何参数项，从而消除了感光体2或充电辊3的个体差异，并使得能够高精度地计算膜厚。

现在参照图14，将描述根据本发明的操作过程。首先将表面电位控制为具有初始电位V1(在步骤S1)。这里，向充电辊3施加通过在DC电压上叠加AC电压而生成的电压，并将感光体2的电位设定为V1。

接着，向充电辊3施加通过在DC电压上叠加AC电压而生成的电压，并将感光体2的表面电位控制为具有电位V2(在步骤S2)。此时，施加与V1不同的电位V2作为DC电压。当感光体2的表面电位饱和时，将该表面电位改变为V2。此时，通过电流-电压转换电阻器43将流经感光体2的电流转换成电压。然后，通过A/D转换器13对该电压进行转换以获得电荷量Q(在步骤S3)。将这样获得的电荷量Q、有效电荷长度、感光体直径以及感光体2的表面电位V1和V2赋给上述表达式，以获得感光体2的膜厚d。

现在参照图15，可以使用模拟积分电路50来计算电荷量。该模拟积分电路50是不会产生积分误差的理想方法，尽管通过数字积分方法积分的采样周期会导致积分误差。将流经感光体2的电流存储在电容器C51中作为电荷，并将该电荷量转换为电压并且随后输出。A/D转换器13进行电压的AD转换。设置开关S1和S3以选择性地改变流经电容器C51的电流的方向。通过将开关S1改变为与图15中的端子A连接并将开关S3改变为与图15中的端子C连接，来将流经感光体2的电流存储在电容器C51中。相反，可以通过将开关S1改变为与图15中的端子B连接并将开关S3改变为与图15中的端子D连接，来在电容器C51中减少流经感光体2的电流。开关S2使电容器C51放电，并将这样存储的电荷复位为零。

下面将描述图15中所示的模拟积分电路50的操作。首先使开关S2短路以使电容器C51放电，从而将电荷量设置为零。然后打开开关S2，向具有给定电位V1的感光体2施加充电电压，以将表面电位控制为V2。此时，电容器C51存储流经感光体2的电流的电荷以及漏电流。然后，当感光体2的表面电位饱和时改变开关S1和S3。将开关S1从与端子A连接改变为与端子B连接，并将开关S3从与端子C连接改变为与端子D连接。此时，电位是饱和的并且没有电流流经感光体2。因此，仅漏电流流动。另外，改变电流的极性并将电荷减少漏电流的量。在改变了开关S1和S3的连接，并且由于向感光体2施加电压而经过使感光体2的表面电位饱和的时间段之后，可以通过流经感光体2的电流来获得输出值。将该输出值作为所检测的电荷量用于计算膜厚。

尽管已示出并描述了本发明的一些示例性实施例，但是本领域的技术人员应该理解，可以在不脱离本发明的原理和精神的情况下，对这些示例性实施例进行修改，本发明的范围由所附权利要求及其等价物限定。

本申请要求2005年3月29日提交的日本专利申请No.2005-095836和2006年1月13日提交的日本专利申请No.2006-006749的优先权，在此通过引用将其并入。

Claims (10)

1、一种图像形成装置，其包括：

旋转的感光体；

充电组件，其被设置为与所述感光体接触或紧邻，以对所述感光体进行充电；

电荷量检测部分，其在从所述充电组件施加电流的同时，累计流经所述感光体的电流以获得所述感光体的电荷量，直到所述感光体的表面上的电压等于由所述充电组件施加的电压为止；以及

控制器，其根据所述电荷量来计算所述感光体的膜厚。

2、根据权利要求1所述的图像形成装置，其中，当在将所述感光体的表面电位设定为初始电位之后将表面电位充电到给定电位时，所述电荷量检测部分累计从所述充电组件流经所述感光体的电流。

3、根据权利要求1所述的图像形成装置，其中，

所述电荷量检测部分累计所述感光体饱和时的电流，并检测所述电荷量中的由漏电流导致的误差量；并且

所述电荷量检测部分从所述电荷量中减去所述误差量。

4、根据权利要求1所述的图像形成装置，还包括曝光部分，其使所述感光体的表面曝光，

其中，所述电荷量检测部分在通过所述曝光部分使所述感光体曝光之后再次从所述充电组件施加电流的同时，累计流经所述感光体的电流以获得所述感光体的电荷量，直到所述感光体的表面上的电压等于由所述充电组件施加的电压为止。

5、根据权利要求1所述的图像形成装置，其中，在检测所述电荷量时，所述控制器将显影部分和转印部分控制为具有高电阻。

6、根据权利要求1所述的图像形成装置，其中，当获得所述电荷量时，所述控制器关闭电荷消除灯和曝光部分。

7、根据权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述电荷量检测部分是模拟积分电路。

8、根据权利要求1所述的图像形成装置，其中，所述控制器将第一电荷量与第二电荷量的比率乘以所述感光体的第一膜厚，以计算所述感光体的第二膜厚，

所述第一电荷量是在所述感光体磨损之前由所述电荷量检测部分测量的，

所述第二电荷量是在所述感光体磨损之后由所述电荷量检测部分测量的，

所述第一膜厚是在所述感光体磨损之前计算的，

所述第二膜厚是在所述感光体磨损之后的当前膜厚。

9、一种图像形成装置，其包括：

旋转的感光体；

充电组件，其被设置为与所述感光体接触或紧邻，以对所述感光体进行充电；

电荷量检测部分，其在已经充电的所述感光体放电的同时，累计流经所述感光体的电流以获得所述感光体的电荷量，直到所述感光体的表面上的电压等于地电平为止；以及

控制器，其根据所述电荷量来计算所述感光体的膜厚。

10、一种图像形成装置，其包括：

旋转的感光体；

充电组件，其被设置为与所述感光体接触或紧邻，以对所述感光体进行充电；

具有已知电容的电容器，其与所述充电组件并联连接；

电流检测组件，其检测第一电流量和第二电流量，该第一电流量流入到所述电容器中，该第二电流量从所述充电组件流经所述感光体；

控制器，其根据所述第一电流量与所述第二电流量的比率来检测所述充电组件和所述感光体之间的电容；以及

存储器部分，其存储所述感光体的第一膜厚以及所述感光体和所述充电组件之间的第一电容，该第一膜厚是在使用所述感光体之前获得的，该第一电容是在使用所述感光体之前由所述控制器检测的，

其中，所述控制器根据与所述第一电容进行了相乘的所述第一膜厚与所述感光体和充电组件之间的第二电容的比率，来计算所述感光体的第二膜厚，该第二膜厚度是在使用所述感光体之后的当前膜厚，该第二电容是在使用所述感光体之后由所述控制器检测的。

Images