JP4872354B2 - 膜厚測定装置 - Google Patents
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(1)式より、帯電電流Idc=d/dt(C・Vp)…(2)
が得られる。ここで、dC/dt=ε・ε0・L・PS/dであることより、帯電電流Idc=ε・ε0・L・PS・Vp/d…(3)
(3)式より、感光体の膜厚d=ε・ε0・L・PS・Vp/d…(4)
が得られる。
しかしながら、実際は、図1に示すように除電電位0V〜数10Vの付近は直線にのっておらず数10V以上になってはじめて直線状に変化することが観察されている。感光体2を帯電させる時に流れるDC電流が膜厚の逆数に比例するのは、この除電電圧に対する除電電流が直線にのっている領域でのみ成り立ち、除電電圧0V〜数10V付近の直線状に無い点で測定した電荷量で膜厚を求めようとすると検知誤差を生じる。
このように本発明は、被帯電体に供給する直流電圧が、被帯電体の基材と所定電位差を有し、かつ被帯電体表面電位を直流電圧で決めているので、被帯電体の膜厚に比例した電荷量を求めることができる。従って、被帯電体の膜厚を精度よく求めることができる。
また、積分開始時と終了時で被帯電体の内部の電界強度を一定に保つことで膜内のキャリアを吐き出させて弱電界時に残留する膜内の電荷の影響を排除し、被帯電体の膜厚を精度よく求めることができる。
また、被帯電体を帯電させる際にリーク電流が発生している場合であっても、被帯電体の膜厚を精度よく算出することができる。
感光体2は、アルミニウムドラムの外周にOPC感光体膜を塗工形成したものであり、この感光体膜は電荷発生層の上に所定の厚みの電荷輸送層(Carrier Transfer Layer)を配置したものである。なお、以下では、感光体膜の下地となっているアルミニウムを感光体の基材と呼ぶ。感光体膜への電界は、この基材と感光体表面の帯電電位との電位差で決定される。
なおここで電圧または電流と言っているのは、実際にはDC電圧にAC電圧を重畳して印加し、そのとき流れるAC電流が一定となるように制御していることによりこのように表現している。
DC電源16はタイミング制御部14によって感光体2の基材と電位差を有する二つの電位V1,V2に切り替えられる。まず、感光体2に印加するDC電圧をV1(=−100V)に設定し、これにAC電流を重畳して感光体2に供給する。感光体2からはDC電流が流れ除電が行われる。除電が終了すると(ステップS1/YES)、DC電流の積分を開始する(ステップS2)。電荷量を算出するための積分開始タイミングはV1,V2切り替えに同期して必ずV1が印加されている状態で開始し、V2が印加されている状態で終了する。V1及びV2は感光体2の基材と電位差が30V以上あるように設定されている。タイミング制御部14は、感光体2に印加しているDC電圧をV1からV2(−700V)に切り換える(ステップS3)。
3 帯電ロール 4 露光器
5 現像器 6 転写ロール
7 クリーニングブレード 8 除電ランプ
9 定着器 10 膜厚測定装置
11 電源部 12 DC電流検知部
13 膜厚検出部 14 タイミング制御部
15 DC電源 16 AC電源
Claims (1)
- 被帯電体に接触又は近接して配置され、前記被帯電体を帯電又は除電する接触部材と、
前記被帯電体に供給する直流電圧を、前記被帯電体の基材と所定電位差を有する第1直流電圧と第2直流電圧とで切り換える切換手段と、
前記切換手段で切り換えられた直流電圧に交流電流又は交流電圧を重畳して前記被帯電体に供給し、前記被帯電体に流れる直流電流を測定する測定手段と、
前記測定手段で測定された直流電流を積分して電荷量を求め、該電荷量から前記被帯電体の膜厚を求める膜厚算出手段とを有し、
前記切換手段は、積分開始時と積分終了時とで電圧が異なるように直流電圧を切り換え、
前記被帯電体の基材と、前記第1直流電圧及び前記第2直流電圧との電位差が30V以上で、前記第1直流電圧及び前記第2直流電圧が前記接触部材への直流電圧であり、
前記膜厚算出手段は、前記接触部材に前記第1直流電圧を供給して帯電状態にある前記被帯電体を除電した際に算出された第1電荷量と、前記接触部材に第2直流電圧を供給して除電状態にある前記被帯電体を帯電した際に算出された第2電荷量との差によりリーク電流が発生しているか否かを判定し、前記リーク電流が発生していないと判定される場合には、前記第2電荷量により前記被帯電体の膜厚を算出し、前記リーク電流が発生していると判定される場合には、前記接触部材に前記第1直流電圧を供給して前記被帯電体を帯電し、前記被帯電体の帯電の際に前記測定手段で測定される直流電流から前記被帯電体の1周当たりのリーク電流量を算出し、前記接触部材に前記第1直流電圧を供給して帯電状態にある前記被帯電体を除電し、除電の際に前記測定手段で測定される電流量に前記リーク電流量を加算した電流量から電荷量を求めて、前記被帯電体の膜厚を算出することを特徴とする膜厚測定装置。
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